JP6914666B2 - エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 - Google Patents

エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6914666B2
JP6914666B2 JP2017021166A JP2017021166A JP6914666B2 JP 6914666 B2 JP6914666 B2 JP 6914666B2 JP 2017021166 A JP2017021166 A JP 2017021166A JP 2017021166 A JP2017021166 A JP 2017021166A JP 6914666 B2 JP6914666 B2 JP 6914666B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
sector magnet
energy filter
plane
crossover
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017021166A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018129171A (ja
Inventor
和也 應本
和也 應本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2017021166A priority Critical patent/JP6914666B2/ja
Priority to US15/890,585 priority patent/US10546714B2/en
Publication of JP2018129171A publication Critical patent/JP2018129171A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6914666B2 publication Critical patent/JP6914666B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/05Electron or ion-optical arrangements for separating electrons or ions according to their energy or mass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/1472Deflecting along given lines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/05Arrangements for energy or mass analysis
    • H01J2237/057Energy or mass filtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/15Means for deflecting or directing discharge
    • H01J2237/152Magnetic means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/24485Energy spectrometers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/26Electron or ion microscopes
    • H01J2237/28Scanning microscopes
    • H01J2237/2802Transmission microscopes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置に関する。
電子エネルギー損失分光法(Electron Energy Loss Spectroscopy、EELS)は、試料に電子線を照射し、試料を透過した電子の損失エネルギー強度をスペクトルとして得る分析手法である。試料内で電子が損失するエネルギーは、試料を構成する元素や原子間の結合状態などに依存する。したがって、そのスペクトルを調べることで、試料に含まれる元素の種類や結合状態等を知ることができる。
透過電子顕微鏡法(Transmission Electron Microscopy、TEM)におけるエネルギーフィルタの基本的な機能は、分光とイメージングである。
分光モードでは、エネルギーフィルタのエネルギー分散面をスクリーンに結像して、エネルギースペクトルを取得することができる。特に、透過電子顕微鏡法にエネルギーフィルタに組み合わせた手法をTEM−EELS、走査透過電子顕微鏡法(Scanning
Transmission Electron Microscopy、STEM)にエネルギーフィルタを組み合わせた手法をSTEM−EELSという。走査透過電子顕微鏡法では、原子分解能が透過電子顕微鏡法に比べて容易に得られる。そのため、近年、走査透過電子顕微鏡法を用いた原子分解能をもつ元素分布観察法が注目されている。
イメージングモードでは、エネルギーフィルタのアクロマティック面をスクリーンに結像して、TEM像を取得することができる。さらに、エネルギー分散面にエネルギー選択スリットを置き、特定の損失エネルギーを持った電子のみを選択した状態にすることで、その損失エネルギーに対応するTEM像を得ることができる。また、元素に特有の損失エネルギーを選択することで、その元素の分布像を得ることもできる。このような手法を、Energy Filtering TEM(EF−TEM)という。
エネルギーフィルタには、インカラム方式とポストカラム方式がある。インカラム方式では、エネルギーフィルタが透過電子顕微鏡の中間レンズと投影レンズとの間に置かれる。これに対し、ポストカラム方式では、エネルギーフィルタが投影レンズの後段(鏡筒の下)に置かれる。
インカラム方式の利点としては、エネルギーフィルタの構造の対称性によってエネルギーフィルタそのものから発生するいくつかの収差がキャンセルされるため、これらの収差に対する収差補正を行わなくてもよいこと、投影レンズによって像観察モードとスペクトル観察モードを容易に切り替えられること、投影レンズによって拡大される前にエネルギーフィルタによるフィルタリングが行われるため、低倍率から高倍率までの、広視野での観察に対応できることが挙げられる。インカラム方式の欠点としては、中間レンズと投影レンズとの間に配置されるため、装置(鏡筒)の高さが増し、耐震性の低下、振動による装置性能の低下を招く可能性があること、また、汎用の透過電子顕微鏡に後付けして拡張することが容易ではないこと等が挙げられる。
ポストカラム方式の利点としては、汎用の透過電子顕微鏡に後付けで装着することが容易であり、その際、装置の高さを変える必要がないことが挙げられる。ポストカラム方式の欠点としては、収差補正のための構成要素が多く必要であり、軸調整が単純ではなく、
かつ、コストが高くなること、透過電子顕微鏡と接続する際の光学的制約によって、低倍観察に不向きであること等が挙げられる。
インカラム方式では、収差補正のための構成要素を追加することが難しい。収差補正のための構成要素を配置するための空間を設けることによって、基本光学系の設計が制約を受けてしまうためである。収差補正のための構成要素を追加した収差補正Ωフィルタは、特許文献1および特許文献2に開示されている。
また、インカラム方式では、上記のように、装置の高さが増大してしまう問題がある。これに対して、特許文献3には、エネルギーフィルタによる電子線の偏向角度の合計を180°として、装置の高さの増大を抑制した180°反転型の収差補正Ωフィルタが開示されている。
特開2000−30645号公報 特開平7−37536号公報 特開2001−243910号公報
インカラム型エネルギーフィルタとしては、Ω型の他に、α型、γ型、マンドリン型など、種々のものが知られている。また、Ωフィルタの中でも、光学系の違いによりA−type、B−typeに分けられるが、以下で説明する技術内容はエネルギーフィルタ全般に共通であるため、ΩフィルタのB−typeを例にとり説明する。
図27は、従来のインカラム型エネルギーフィルタ(Ωフィルタ)を模式的に示す図である。図27では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。なお、電子の進行方向をZ方向、偏向磁場による電子の偏向方向をX方向、偏向磁場の磁力線の方向をY方向とする。
図28は、従来のインカラム型エネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図である。図28では、ゼロロスビームBの軌道、および分散ビームBの軌道を図示している。
エネルギーフィルタの光学系には、入射側クロスオーバー面S1、入射側像面A1、射出側クロスオーバー面(エネルギー分散面)S2、射出側像面(アクロマティック面)A2が存在する。エネルギーフィルタの光学系は、この4つの重要な面によって特徴づけられる。
エネルギーフィルタの性能を発揮させるためには、入射側クロスオーバー面S1にクロスオーバーをフォーカスし、入射側像面A1に像をフォーカスするように電子を入射させなければならない。エネルギーフィルタの射出側には、エネルギー分散を生じる面(エネルギー分散面S2)が入射側クロスオーバー面S1に対して鏡映対称の位置に形成され、エネルギー分散の無い面(アクロマティック面A2)が入射側像面A1に対して鏡映対称の位置に形成される。Ωフィルタのエネルギー分散能は、例えば、加速電圧200kVの電子線に対して1μm/eVである。
図29および図30は、従来のインカラム型エネルギーフィルタとその前後の光学系の一例を示す図である。なお、図29は、スクリーン1022にアクロマティック面A2を
結像している状態を示し、図30は、スクリーン1022にエネルギー分散面S2を結像している状態を示している。
Ωフィルタ1011と対物レンズ1002との間には、通常、4段の中間レンズ1004,1006,1008,1010が配置される。この4段の中間レンズ1004,1006,1008,1010は、倍率、像回転、像フォーカス、クロスオーバーフォーカスの4つの自由度を持つ系を調整する。4段の中間レンズ1004,1006,1008,1010は、入射側クロスオーバー面S1にクロスオーバーを結び(フォーカスし)、かつ、入射側像面A1に像を結ぶ(フォーカスする)ように調整される。
Ωフィルタ1011の後段には、3段の投影レンズ1016,1018,1020が配置される。3段の投影レンズ1016,1018,1020の励磁を調整してスクリーン1022に結像される面を切り替えることによって、エネルギーロス像とエネルギースペクトルとを得ることができる。具体的には、エネルギーロス像を観察するためには、図29に示すように、3段の投影レンズ1016,1018,1020によってアクロマティック面A2をスクリーン1022に結像する。エネルギースペクトルを取得するためには、図30に示すように、3段の投影レンズ1016,1018,1020によってエネルギー分散面S2をスクリーン1022に結像する。なお、ここでは、Ωフィルタ1011の後段に3段の投影レンズ1016,1018,1020が配置される場合について説明したが、投影レンズは2段であってもよい。
エネルギースリット1014は、特定の損失エネルギーを持った電子のみを選択するために用いられる。エネルギースリット1014で特定の損失エネルギーを持った電子のみを選択することにより、その損失エネルギーに対応するTEM像を得ることできる(EF−TEM)。
入射絞り1012は、Ωフィルタ1011に入射する視野を制限するために用いられる。入射絞り1012でΩフィルタ1011に入射する視野を制御することにより、収差の影響の少ないスペクトルを得ることができる。
ここで、EF−TEMの性能を決めるのは、Ωフィルタの収差とΩフィルタの前後の光学系である。
図31は、クロスオーバー面Sと像面Aとの間の距離Lを説明するための図である。なお、以下では、入射側クロスオーバー面S1とエネルギー分散面S2とを区別する必要がない場合にはクロスオーバー面Sと記載する。同様に、入射側像面A1とアクロマティック面A2とを区別する必要がない場合には像面Aと記載する。
距離Lが大きい場合、開き角α,βを小さくできるので、像面の収差を小さくするために有利である。しかしながら、距離Lを大きくすればいくらでも高性能になるかというと、次の理由で、単純にはそうならない。
与えられた距離Lに対して、Ωフィルタのマグネットの形状および配置を決定することで、Ωフィルタの収差係数が決まる。しかし、マグネットの形状および配置と収差係数との相関は複雑であり(複雑さはマグネットの数に比例する)、多くの場合、上述のメリットを相殺するか、またはそれ以上の収差係数の増大を生じる。
また、像面の収差が小さくなるように設計すると通常はエネルギー分散面の収差は悪化する傾向にある。また、その逆も言える。
他の方法として、エネルギーフィルタそのもののサイズを大きくすることで、距離Lを大きくすることが考えられる。この場合は、エネルギー分散も比例して大きくできるメリットがある。しかしながら、収差係数もエネルギーフィルタのサイズに比例して大きくなるため、上述の像面の収差に関するメリットは相殺され、期待されるほどには効果が得られない。また、装置サイズの増大、装置の重量の増大、コストの増大等の弊害が生ずる。加えて、エネルギー分散が大きすぎると、数千eVのエネルギーレンジのEELSを取得するためには低倍結像をしなければならず、スペクトルに歪みが生じてしまう場合がある。
このように、Ωフィルタの設計では、機械的なサイズ、クロスオーバー面Sと像面Aの2次収差のバランス、前後の光学系との接続を考慮して計算が行われ、装置が最適化される。Ωフィルタの2次収差は対称性によっていくつかがキャンセルされるが、残りの収差は、歪みやボケとなってクロスオーバー面S、像面Aの両方に現れる。図32は、エネルギーフィルタの像面Aに現れる収差を示す図である。図33は、エネルギーフィルタのクロスオーバー面S(スリット面)に現れる収差を示す図である。
図32および図33に示す収差をキャンセルするための収差補正Ωフィルタは、上述した特許文献1および特許文献2に開示されている。しかしながら、これらの収差補正Ωフィルタでは、収差補正のための構成要素を追加しなければならず、構造が複雑になってしまう。
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できるエネルギーフィルタを提供することにある。また、本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、上記エネルギーフィルタを含む荷電粒子線装置を提供することにある。
(1)本発明に係るエネルギーフィルタは、
荷電粒子線を偏向させる偏向磁場を発生させる第1セクターマグネットおよび第2セクターマグネットを含み、
前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、対称面に関して鏡映対称に構成され、
前記第1セクターマグネットの極性と前記第2セクターマグネットの極性は、同じであり、
前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、クロスオーバーおよび像を結像する光学系を構成し、
荷電粒子線の進行方向をZ方向、前記偏向磁場による荷電粒子線の偏向方向をX方向、前記偏向磁場の磁力線の方向をY方向とした場合、
クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は、最初の入射側クロスオーバー面の結像を除いて1回であり、
最初の入射側クロスオーバー面を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面であり、
像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、最初の入射側像面の結像を除いて2回であり、
最初の入射側像面を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、前記対称面とアクロマティック面であり、
像のX方向の結像およびY方向の結像において、前記対称面の位置には実像が形成され、
入射側クロスオーバー面とエネルギー分散面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にあり、
入射側像面とアクロマティック面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にある。
このようなエネルギーフィルタでは、収差補正装置を用いることなく、低収差を実現できる。したがって、このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(2)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、90°以上210°以下であってもよい。
このようなエネルギーフィルタでは、装置の高さの増大を抑制することができる。
(3)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、180°であり、
前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、それぞれ互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
前記第1セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
前記第2セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.6Rを満たしてもよい。
このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(4)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、90°であり、
前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、それぞれ互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
前記第1セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
前記第2セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.2Rを満してもよい。
このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(5)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記第1セクターマグネットは、複数に分割され、
前記第2セクターマグネットは、複数に分割されていてもよい。
(6)本発明に係るエネルギーフィルタは、
荷電粒子線を偏向させる偏向磁場を発生させるセクターマグネットを含み、
前記セクターマグネットは、対称面に関して鏡映対称に構成され、
前記セクターマグネットは、クロスオーバーおよび像を結像する光学系を構成し、
荷電粒子線の進行方向をZ方向、前記偏向磁場による荷電粒子線の偏向方向をX方向、前記偏向磁場の磁力線の方向をY方向とした場合、
クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は、最初の入射側クロスオーバー面の結像を除いて1回であり、
最初の入射側クロスオーバー面を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面であり、
像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、最初の入射側像面の結像を除いて2回であり、
最初の入射側像面を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、前記対称面とアクロマティック面であり、
像のX方向の結像およびY方向の結像において、前記対称面の位置には実像が形成され、
入射側クロスオーバー面とエネルギー分散面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にあり、
入射側像面とアクロマティック面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にある。
このようなエネルギーフィルタでは、収差補正装置を用いることなく、低収差を実現できる。したがって、このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(7)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記セクターマグネットは、互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
前記セクターマグネットの2つの磁極対向面の傾斜角度は、平行ではなく、かつ、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしていてもよい。
(8)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度は、180°であり、
前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.5Rを満たしてもよい。
このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(9)本発明に係るエネルギーフィルタにおいて、
前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度は、90°であり、
前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.3Rを満たしてもよい。
このようなエネルギーフィルタでは、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
(10)本発明に係る荷電粒子線装置は、
本発明に係るエネルギーフィルタを含む。
このような荷電粒子線装置では、本発明に係るエネルギーフィルタを含むため、低コストで高性能な荷電粒子線装置を実現できる。
(11)本発明に係る荷電粒子線装置において、
中間レンズと、
投影レンズと、
を含み、
前記エネルギーフィルタは、前記中間レンズと前記投影レンズとの間に配置されていてもよい。
このような荷電粒子線装置では、エネルギーフィルタの構造の対称性によってエネルギーフィルタそのものから発生するいくつかの収差がキャンセルされるため、これらの収差に対する収差補正を行わなくてもよい。さらに、このような荷電粒子線装置では、投影レンズによって像観察モードとスペクトル観察モードを容易に切り替えられることができる。さらに、このような荷電粒子線装置では、投影レンズによって拡大される前にエネルギーフィルタによるフィルタリングが行われるため、低倍率から高倍率までの、広視野での観察に対応できる。
(12)本発明に係る荷電粒子線装置において、
前記中間レンズは、
前記エネルギーフィルタの入射側クロスオーバー面に試料の回折パターンをフォーカスし、
前記エネルギーフィルタの入射側像面に試料の像をフォーカスしてもよい。
(13)本発明に係る荷電粒子線装置において、
前記中間レンズは、
前記エネルギーフィルタの入射側クロスオーバー面に試料の像をフォーカスし、
前記エネルギーフィルタの入射側像面に試料の回折パターンをフォーカスしてもよい。
本実施形態に係るエネルギーフィルタが搭載された電子顕微鏡を模式的に示す図。 本実施形態に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 Ωフィルタ(B−type)における電子線の軌道を示す図。 本実施形態に係るエネルギーフィルタの第2セクターマグネットを模式的に示す図。 本実施形態に係るエネルギーフィルタの第2セクターマグネットを模式的に示す断面図。 本実施形態に係るエネルギーフィルタの第2セクターマグネットを模式的に示す断面図。 距離Lに対するフォーカスパラメータを示すグラフ。 U−typeおよびΩB−typeの収差係数を計算した結果を示す表。 U−typeおよびΩB−typeの収差の光学的な計算条件と、収差を計算した結果を示す表。 U−typeにおける、アクロマティック面とエネルギー分散面のスポットダイアグラムのシミュレーション結果を示す図。 ΩB−typeにおける、アクロマティック面とエネルギー分散面のスポットダイアグラムのシミュレーション結果を示す図。 距離Lに対する、エネルギー分散面の分散方向の幾何収差ΔEx、および色収差ΔExcを示すグラフ。 距離Lに対する、最終結像面に換算したアクロマティック面の幾何収差Δf、および色収差Δcfを示すグラフ。 第1変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第1変形例に係るエネルギーフィルタの第2セクターマグネットを模式的に示す断面図。 第2変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第2変形例に係るエネルギーフィルタの第2セクターマグネットを模式的に示す断面図。 第3変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第4変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第5変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第5変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第5変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第5変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第6変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 第6変形例に係るエネルギーフィルタのセクターマグネットを模式的に示す断面図。 第6変形例に係るエネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 従来のインカラム型エネルギーフィルタを模式的に示す図。 従来のインカラム型エネルギーフィルタにおける電子線の軌道を示す図。 従来のインカラム型エネルギーフィルタとその前後の光学系の一例を示す図。 従来のインカラム型エネルギーフィルタとその前後の光学系の一例を示す図。 クロスオーバー面と像面との間の距離Lを説明するための図。 エネルギーフィルタの像面に現れる収差を示す図。 エネルギーフィルタのクロスオーバー面に現れる収差を示す図。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
また、以下では、本発明に係る荷電粒子線装置として、電子線を照射して試料の観察を行う電子顕微鏡を例に挙げて説明するが、本発明に係る荷電粒子線装置は電子線以外の荷電粒子線(イオン等)を照射して試料の観察を行う装置であってもよい。本発明に係る荷電粒子線装置としては、例えば、透過電子顕微鏡(TEM)、走査透過電子顕微鏡(STEM)などが挙げられる。
1. エネルギーフィルタおよび電子顕微鏡
まず、本実施形態に係るエネルギーフィルタについて、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係るエネルギーフィルタ100が搭載された電子顕微鏡1を模式的に示す図である。電子顕微鏡1は、透過電子顕微鏡(TEM)である。
電子顕微鏡1は、図1に示すように、電子源2と、照射レンズ3と、対物レンズ4と、中間レンズ5と、エネルギーフィルタ100と、投影レンズ6と、撮像装置7と、を含んで構成されている。
電子源2は、電子を発生させる。電子源2は、例えば、陰極から放出された電子を陽極で加速し電子線を放出する電子銃である。
照射レンズ3は、電子源2から放出された電子線を集束して試料9に照射する。照射レンズ3は、例えば、複数の電子レンズで構成されている。
対物レンズ4は、試料9を透過した電子線で透過電子顕微鏡像(TEM像)を結像するための初段のレンズである。対物レンズ4は、試料9に強い磁場を与えるためのポールピースを有し、試料9はポールピースの中に配置される。
ここで、電子顕微鏡像(TEM像)とは、「試料の像」もしくは「試料の回折パターン」を含む。なお、TEM像を試料の像とする場合、クロスオーバーは、試料の回折パター
ンとなる。また、TEM像を試料の回折パターンとする場合、クロスオーバーは試料の像となる。以下、TEM像(もしくは単に「像」)、およびクロスオーバーという用語を上記意味で用いる。
中間レンズ5は、対物レンズ4とエネルギーフィルタ100との間に4段設けられている。4段の中間レンズ5によって、倍率、像回転、像フォーカス、クロスオーバーフォーカスを調整することができる。4段の中間レンズ5は、エネルギーフィルタ100の入射側クロスオーバー面S1にクロスオーバーを結び(フォーカスし)、かつ、入射側像面A1に像を結ぶ(フォーカスする)。
電子顕微鏡1において試料像を観察する場合(試料像観察モード)、中間レンズ5は、エネルギーフィルタ100の入射側クロスオーバー面S1に試料9の回折パターンをフォーカスし、エネルギーフィルタ100の入射側像面A1に試料9の像をフォーカスする。また、電子顕微鏡1において試料9の回折パターンを観察する場合(電子回折観察モード)、中間レンズ5は、エネルギーフィルタ100の入射側クロスオーバー面S1に試料9の像をフォーカスし、エネルギーフィルタ100の入射側像面A1に試料9の回折パターンをフォーカスする。
エネルギーフィルタ100は、中間レンズ5と投影レンズ6との間に配置されている。図示はしないが、電子顕微鏡1は、エネルギーフィルタ100に入射する視野を制限するための入射絞りを有していてもよい。エネルギーフィルタ100は、インカラム型エネルギーフィルタ(イメージングエネルギーフィルタ)である。エネルギーフィルタ100を通る電子の軌道は、U字型(すなわち、電子線の偏向角度の合計は180°)である。
エネルギーフィルタ100の光学系には、入射側クロスオーバー面S1、入射側像面A1、エネルギー分散面(射出側クロスオーバー面)S2、アクロマティック面(射出側像面)A2が存在する。
入射側クロスオーバー面S1には、中間レンズ5によってクロスオーバーがフォーカスされる。入射側像面A1には、中間レンズ5によって像がフォーカスされる。エネルギーフィルタ100は電子レンズと同様の結像作用を有しており、入射側クロスオーバー面S1はエネルギー分散面S2に投影され、入射側像面A1はアクロマティック面A2に投影される。
エネルギー分散面S2は、エネルギー分散を生じる面である。エネルギー分散面S2には、クロスオーバーが結像される。エネルギー分散面S2は、対称面Mに関し、入射側クロスオーバー面S1に対して鏡映対称の位置に形成される。
アクロマティック面A2は、エネルギー分散の無い面である。アクロマティック面A2には、像が結像される。アクロマティック面A2は、対称面Mに関し、入射側像面A1に対して鏡映対称の位置に形成される。図示はしないが、エネルギー分散面S2には、エネルギースリットが配置される。エネルギースリットで特定の損失エネルギーを持った電子のみを選択することにより、その損失エネルギーに対応するTEM像を得ることできる(EF−TEM)。
エネルギーフィルタ100は、第1セクターマグネット10と、第2セクターマグネット20と、を含んで構成されている。エネルギーフィルタ100では、第1セクターマグネット10の後段(後方、電子線の流れの下流側)に第2セクターマグネット20が配置されている。第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20は、それぞれ電子線を偏向させる偏向磁場を発生させる。第1セクターマグネット10および第2セ
クターマグネット20は、クロスオーバーおよび像を結像する光学系を構成する。
第1セクターマグネット10と第2セクターマグネット20とは、対称面Mに関して対称に構成されている。すなわち、第1セクターマグネット10がつくる偏向磁場と第2セクターマグネット20がつくる偏向磁場とは、対称面Mに関して対称である。
第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20は、湾曲している。第1セクターマグネット10の形状は、図1に示すように、中心O10を中心とした扇型であり、中心角は90°である。同様に、第2セクターマグネット20の形状は、図1に示すように、中心O20を中心とした扇型であり、中心角は90°である。
第1セクターマグネット10によって電子線の進行方向は90°回転する。同様に第2セクターマグネット20によって電子線の進行方向は90°回転する。すなわち、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度は、90°である。同様に、第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度は、90°である。
第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネットにおける電子線の偏向角度との和は、180°である。したがって、エネルギーフィルタ100に入射した電子線は、180°反転されて射出される。すなわち、エネルギーフィルタ100に入射する電子線の中心軌道(光軸)とエネルギーフィルタ100から射出する電子線の中心軌道(光軸)とは、平行である。
第1セクターマグネット10の極性と第2セクターマグネット20の極性は、同じである。ここで、極性とは、偏向磁場の磁力線の向き(磁界の向き)をいう。すなわち、第1セクターマグネット10がつくる偏向磁場の磁力線の向きと第2セクターマグネット20がつくる偏向磁場の磁力線の向きとは、同じである。
後述する図5に示す例では、第2セクターマグネット20の磁力線の方向(磁場の方向)はY方向であり、磁力線の向きは+Y方向である。また、第1セクターマグネット10の極性と第2セクターマグネットの極性とは同じであるため、第1セクターマグネット10の磁力線の向きも+Y方向である。なお、図5に示す例では、磁極対向面22はS極であり、磁極対向面23はN極である。
第1セクターマグネット10の入口には、シャント30が設けられている。また、第1セクターマグネット10の出口には、シャント32が設けられている。同様に、第2セクターマグネット20の入口には、シャント32が設けられている。また、第2セクターマグネット20の出口には、シャント34が設けられている。図示の例では、第1セクターマグネット10の出口と第2セクターマグネット20の入口には、共通のシャント32が設けられている。シャント30,32,34は、セクターマグネット10,20が発生させる偏向磁場を減衰させて、セクターマグネット10,20の外に偏向磁場が漏れることを防ぐ。
投影レンズ6は、エネルギーフィルタ100の後段(後方、電子線の下流側)に3段設けられている。3段の投影レンズ6の励磁を調整することによって、撮像装置7に結像される面を切り替えることができる。これにより、エネルギーロス像とエネルギースペクトルとを得ることができる。具体的には、エネルギーロス像を観察するためには、3段の投影レンズ6によってエネルギーフィルタ100のアクロマティック面A2を撮像装置7に結像する。また、エネルギースペクトルを取得するためには、3段の投影レンズ6によってエネルギーフィルタ100のエネルギー分散面S2を撮像装置7に結像する。
なお、ここでは、エネルギーフィルタ100の後段に3段の投影レンズ6が配置される場合について説明したが、投影レンズ6は2段であってもよい。
撮像装置7は、投影レンズ6によって結像されたエネルギーロス像やエネルギースペクトル、TEM像等を撮影する。撮像装置7は、例えば、CCDカメラ、CMOSカメラ等のデジタルカメラである。
電子顕微鏡1は、2つの鏡筒8a,8bを有している。鏡筒8aには電子源2、照射レンズ3、対物レンズ4、中間レンズ5が収容されている。鏡筒8bには投影レンズ6が収容されている。鏡筒8aと鏡筒8bとは、架台(図示せず)上に平行に並んで配置されている。電子顕微鏡1では、2つの鏡筒8a,8bをつなぐ部分にエネルギーフィルタ100が配置されている。
電子顕微鏡1では、電子源2から放出された電子線は、照射レンズ3によって集束されて試料9に照射される。試料9に照射された電子線は、試料9を透過して対物レンズ4によって結像される。そして、中間レンズ5によって入射側クロスオーバー面S1にクロスオーバーがフォーカスされ、入射側像面A1に像がフォーカスされる。エネルギーフィルタ100において、入射側クロスオーバー面S1にフォーカスされたクロスオーバーはエネルギー分散面S2に投影され、入射側像面A1にフォーカスされた像はアクロマティック面A2に投影される。投影レンズ6でアクロマティック面A2を撮像装置7に結像することによってエネルギーロス像を観察することができる。また、投影レンズ6でエネルギー分散面S2を撮像装置7に結像することによってエネルギースペクトルを取得することができる。
次に、本実施形態に係るエネルギーフィルタ100について、より詳細に説明する。図2は、本実施形態に係るエネルギーフィルタ100における電子線の軌道を示す図である。図3は、比較例として、Ωフィルタ(B−type)における電子線の軌道を示す図である。なお、エネルギーフィルタの中心の軸(光軸)は湾曲しているが、図2および図3では、便宜上、直線として描いている。
図2および図3には、エネルギーフィルタにおける電子線の4つの基本軌道xα,yβ,xγ,yδを示している。軌道xα、軌道yβは、像面の中心を通る軌道である。また、軌道xγ、軌道yδは、クロスオーバー面の中心を通る軌道である。なお、xchiは、エネルギー分散した電子の軌道である。
図2に示すエネルギーフィルタ100では、軌道xγにおいて、中間レンズ5によって入射側クロスオーバー面S1に結像されたクロスオーバーは、エネルギー分散面S2に結像される。また、軌道yδにおいて、中間レンズ5によって入射側クロスオーバー面S1に結像されたクロスオーバーは、軌道xγと同様に、エネルギー分散面S2に結像される。
すなわち、エネルギーフィルタ100では、クロスオーバーのX方向の結像回数は最初の入射側クロスオーバー面S1の結像を除いて1回であり、クロスオーバーのY方向の結像回数は最初の入射側クロスオーバー面S1の結像を除いて1回である。また、最初の入射側クロスオーバー面S1を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面S2である。
また、エネルギーフィルタ100では、軌道xαにおいて、中間レンズ5によって入射側像面A1に結像された像は、対称面Mとアクロマティック面A2とに結像される。また、軌道yβにおいて、中間レンズ5によって入射側像面A1に結像された像は、対称面M
とアクロマティック面A2とに結像される。
すなわち、エネルギーフィルタ100では、像のX方向の結像回数は最初の入射側像面A1の結像を除いて2回であり、像のY方向の結像回数は最初の入射側像面A1の結像を除いて2回である。また、最初の入射側像面A1を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、対称面Mおよびアクロマティック面A2である。なお、像のX方向の結像およびY方向の結像において、対称面Mの位置には実像が形成される。また、入射側像面A1およびアクロマティック面A2に結像される像は虚像であり、結像位置は、軌道xα、軌道yβにおいて、破線で示す電子の軌道を延長した直線と光軸とが交わる位置である。
これに対して、図3に示すΩフィルタ(B−type)では、クロスオーバーのX方向の結像回数は3回である(軌道xγ参照)。クロスオーバーのX方向の結像位置は、軌道xγとフィルタの光軸との3つの交点である。また、Ωフィルタ(B−type)では、像のX方向の結像回数は2回である(軌道xα参照)。像のX方向の結像位置は、対称面Mおよびアクロマティック面A2である。また、クロスオーバーのY方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、それぞれX方向と比べて、1回少ない(軌道yδ、軌道yβ参照)。
このように、Ωフィルタ(B−type)では、クロスオーバーのY方向の結像回数および像のY方向の結像回数が、それぞれX方向と比べて、1回少ない。そのため、Ωフィルタ(B−type)では、像が反転する。また、Ωフィルタ(B−type)では、Y方向のフォーカス回数を少なくすることで、フォーカスに必要な磁極端面の角度(端面角度)の増大を抑え、それによって生じる収差を抑制している。
これに対して、エネルギーフィルタ100では、上述したように、X方向およびY方向において、結像回数が同じであるため、Ωフィルタ(B−type)で生じる像の反転が生じない。
以下では、図4〜図6を参照して第2セクターマグネット20の構成について説明するが、第1セクターマグネット10と第2セクターマグネット20とは対称に構成されているため、第1セクターマグネット10の構成も同様である。
図4〜図6は、本実施形態に係るエネルギーフィルタ100の第2セクターマグネット20を模式的に示す図である。なお、図5は、図4に示す第2セクターマグネット20のV−V線断面図である。また、図6は、第2セクターマグネット20の変形例を図示している。
具体的には、図5では、第2セクターマグネット20の磁極対向面(Y方向に対向する面)22,23が傾斜していない状態(すなわち傾斜角度θ=0°の場合)を図示している。また、図6では、第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23が傾斜している状態(すなわち傾斜角度θ≠0°の場合)を図示している。
図4〜図6には、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。電子の進行方向をZ方向とし、偏向磁場による電子の偏向方向をX方向とし、偏向磁場の磁力線の方向をY方向とする。
クロスオーバーと像を、それぞれX方向とY方向とでフォーカスさせるためには、自由度が4つ必要である。ここでは、クロスオーバー面S(エネルギー分散面S2)と像面(アクロマティック面A2)との間の距離L、または等価であるが入射側クロスオーバー面
S1と入射側像面A1との間の距離L(図1参照)が与えられたときの、フォーカスパラメータ(距離L1、距離L2、端面角度T1、端面角度T2)を計算する。エネルギーフィルタ100は、構造が単純であるため、この4つ(距離L1、距離L2、端面角度T1、端面角度T2)以外にフォーカスパラメータはない。よって、与えられた距離Lに対して、距離L1、距離L2、端面角度T1、端面角度T2は、一意に定まる。なお、磁極対向面22,23の傾斜角度θもフォーカスパラメータになり得るがここでは考慮しない。
ここで、距離L1は、対称面Mと第2セクターマグネット20の入口との間の距離である。第2セクターマグネット20の入口は、電子線の中心軌道上における第2セクターマグネット20の入口側の端面とシャント32との中間点である。
距離L2は、第2セクターマグネット20の出口とクロスオーバー面S(エネルギー分散面S2)との間の距離である。第2セクターマグネット20の出口は、電子線の中心軌道上における第2セクターマグネット20の出口側の端面とシャント34との中間点である。
端面角度T1は、第2セクターマグネット20の入口側の端面の角度である。端面角度T2は、第2セクターマグネット20の出口側の端面の角度である。端面角度T1および端面角度T2は、X軸を0°として、反時計まわりを正とする。端面角度T1,T2をつけることで、Y方向の集束作用を与えることができる。しかし、端面角度T1,T2が大きくなると、収差の増大を招きやすい。
図7は、与えられた距離Lに対するフォーカスパラメータ(距離L1、距離L2、端面角度T1、端面角度T2)を示すグラフである。図7に示すグラフは、偏向半径R=150mm、偏向角Θ=90°、傾斜角度θ=0°として、与えられた距離Lに対する距離L1、距離L2、端面角度T1、端面角度T2を計算した結果をプロットしたものである。
なお、偏向半径Rは、第2セクターマグネット20における電子線の中心軌道の半径である。また、偏向角Θは、第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度である。また、傾斜角度θ(図6参照)は、第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23の傾斜角度である。ここでは、傾斜角度θ=0°であるため、図5に示すように磁極対向面22,23は平行である。
図7に示すグラフより、偏向半径R=150mm、偏向角Θ=90°、傾斜角度θ=0°とした場合に、エネルギーフィルタ100において、上述した図2に示すようにクロスオーバーと像とをX方向およびY方向とでフォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=538mm以上である。すなわち、距離Lは、L>3.6Rの範囲で設定可能である(表1参照)。
また、図7に示すグラフにより、偏向半径R=150mm、偏向角Θ=90°、傾斜角度θ=0°とした場合に、距離L2は80mm以上90mm以下の範囲であり、端面角度T1は24°以上26°以下の範囲であり、端面角度T2は−25°以上−18°以下の範囲であり、距離L1は、0mmより大きく距離L2を超えない範囲である。
図6に示すように、第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23が傾斜している場合(傾斜角度θ≠0°の場合)、もしくは第2セクターマグネット20の入口および出口の少なくとも一方に磁場4極子を配置した場合(後述する図16、図18参照)、Y方向の集束作用を持たせることができる。そのため、端面角度T1,T2を小さくすることができる。よって、端面角度T1,T2は、上記の範囲に限定されない。
端面角度T1,T2を最も小さくできるのは、第2セクターマグネット20がX方向およびY方向ともに常に同じ集束作用を持つ場合、すなわち、ラウンドレンズフォーカス(Round Lens Focus)の場合である。このとき、距離X=2Rを満たす。すなわち、tanθ=s/4Rを満たす。このときの偏向角Θの範囲は理論的に決まっており、磁場のみの場合、2Θ<254°であり、電場のみの場合、2Θ<180°である。なお、ラウンドレンズフォーカスの場合、端面角度T1=T2=0°である。また、フォーカス可能である距離Lの範囲は、上記の範囲に限定されない(表1参照)。
ここで、距離Xは、図6に示すようにZ方向から見て、磁極対向面22を含む平面と磁極対向面23を含む平面とが交わる位置と、第2セクターマグネット20における電子線の中心軌道と、の間の距離である。また、距離sは、YZ平面における磁極対向面22と磁極対向面23との間の距離である。
第2セクターマグネット20においてX方向およびY方向の集束作用は、最終結像面で一致すれば途中は異なっていてもよい。これをスティグマティックフォーカス(Stigmttic Focus)という。
距離Lの範囲は、偏向角Θと磁極対向面22,23の傾斜角度θに依存する。後述する変形例(図20〜図23)に示す、2Θ=90°、2Θ=135°、2Θ=180°、2Θ=210°の場合、クロスオーバーと像とをX方向およびY方向とでフォーカス可能である距離Lの最小値は、次表1のようになる。なお、偏向半径R=150mmとした。
Figure 0006914666
表1に示すように、スティグマティックフォーカス(R/Xc=0)では、2Θ=90°、傾斜角度θ=0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=478.4mm以上である。すなわち、距離Lは、L>3.2Rを満たす。また、2Θ=135°、傾斜角度θ=0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=415.0mm以上であり、距離Lは、L>2.8Rを満たす。また、2Θ=180°、傾斜角度θ=0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=538.4mm以上であり、距離Lは、L>3.6Rを満たす。また、2Θ=210°、傾斜角度θ=0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=1018.0mm以上であり、距離Lは、L>6.8Rを満たす。
また、ラウンドレンズフォーカス(R/Xc=1/2)では、2Θ=90°、傾斜角度θ≠0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=490.9mm以上であり、距離Lは、L>3.3Rを満たす。また、2Θ=135°、傾斜角度θ≠0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=430.6mm以上であり、距離Lは、L>2.9Rを満たす。また、2Θ=180°、傾斜角度θ≠0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=526.2mm以上であり、距離Lは、L>3.5Rを満たす。また、2Θ=210°、傾斜角度θ≠0°とした場合、フォーカス可能である距離Lの範囲は、距離L=780.4mm以上であり、距離Lは、L>
5.2Rを満たす。
上記では、第2セクターマグネット20の構成について説明したが、上述したように、上記の内容は、第1セクターマグネット10にも当てはまる。すなわち、例えば、第1セクターマグネット10においても、クロスオーバー面S(入射側クロスオーバー面S1)と像面A(入射側像面A1)との間の距離Lは、L>3.6Rを満たす。また、第1セクターマグネット10において、距離L1は、対称面Mと第1セクターマグネット10の出口との間の距離に対応する。また、距離L2は、第1セクターマグネット10の入口とクロスオーバー面S(入射側クロスオーバー面S1)との間の距離に対応する。また、端面角度T1は、第1セクターマグネット10の出口側の端面の角度に対応する。また、端面角度T2は、第1セクターマグネット10の入口側の端面の角度に対応する。
エネルギーフィルタ100、およびエネルギーフィルタ100を含む電子顕微鏡1は、例えば、以下の特徴を有する。
エネルギーフィルタ100では、クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は最初の入射側クロスオーバー面S1の結像を除いて1回であり、最初の入射側クロスオーバー面S1を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置はエネルギー分散面S2であり、像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は最初の入射側像面A1の結像を除いて2回であり、最初の入射側像面A1を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、対称面Mとアクロマティック面A2である。そのため、エネルギーフィルタ100では、後述する実施例に示すように、収差補正装置を用いることなく、低収差を実現できる。したがって、エネルギーフィルタ100では、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
また、エネルギーフィルタ100では、第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20が、対称面Mに関して鏡映対称に構成されている。そのため、エネルギーフィルタ100では、いくつかの収差(幾何収差の2次収差の一部等)をキャンセルすることができる。
エネルギーフィルタ100では、第2セクターマグネット20における電子線の中心軌道の半径をRとし、偏向角Θ=90°、傾斜角度θ=0°とした場合に、エネルギー分散面S2とアクロマティック面A2との間の距離Lは、L>3.6Rを満たす。同様に、第1セクターマグネット10における電子線の中心軌道の半径をRとした場合に、入射側クロスオーバー面S1と入射側像面A1との間の距離Lは、L>3.6Rを満たす。すなわち、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度の和は、180°であり、距離Lは、L>3.6Rを満たす。そのため、エネルギーフィルタ100では、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
エネルギーフィルタ100では、第2セクターマグネット20における電子線の中心軌道の半径をRとし、偏向角Θ=45°、傾斜角度θ=0°とした場合に、エネルギー分散面S2とアクロマティック面A2との間の距離Lは、L>3.2Rを満たす。同様に、第1セクターマグネット10における電子線の中心軌道の半径をRとした場合に、入射側クロスオーバー面S1と入射側像面A1との間の距離Lは、L>3.2Rを満たす。すなわち、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度の和は、90°であり、距離Lは、L>3.2Rを満たす。そのため、エネルギーフィルタ100では、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
エネルギーフィルタ100では、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度の和は、180°である。そのため、電子顕微鏡1において、図1に示すように、2つの鏡筒8a,8bをつなぐ部分にエネルギーフィルタ100を配置することができ、電子顕微鏡(鏡筒)の高さの増大を抑制することができる。
電子顕微鏡1は、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できるエネルギーフィルタ100を含むため、低コストで高性能な電子顕微鏡を実現できる。また、電子顕微鏡1では、エネルギーフィルタ100が低収差であるため、収差補正の必要がなく、軸調整が容易である。
電子顕微鏡1では、エネルギーフィルタ100が、中間レンズ5と投影レンズ6との間に配置されている。そのため、電子顕微鏡1では、エネルギーフィルタの構造の対称性によってエネルギーフィルタそのものから発生するいくつかの収差がキャンセルされるため、これらの収差に対する収差補正を行わなくてもよい。さらに、電子顕微鏡1では、投影レンズ6によって像観察モードとスペクトル観察モードを容易に切り替えられることができる。さらに、電子顕微鏡1では、投影レンズによって拡大される前にエネルギーフィルタによるフィルタリングが行われるため、低倍率から高倍率までの、広視野での観察に対応できる。
2. 実施例
以下、実施例を挙げて本実施形態をさらに詳細に説明するが、本発明はこれによって制限されるものではない。
本実施例では、エネルギーフィルタ100の偏向半径R=150mm、距離L=700mmとしたモデルを用いて、収差係数を計算した。以下では、計算に用いたエネルギーフィルタ100のモデルを「U−type」ともいう。
また、比較例として、Ωフィルタ(B−type)の収差係数を計算した。比較例としてのΩフィルタ(B−type)は、距離L=95mmの典型的なモデルを用いた。以下では、計算に用いたΩフィルタ(B−type)のモデルを「ΩB−type」ともいう。
図8は、U−typeおよびΩB−typeの収差係数を計算した結果を示す表である。なお、図8に示す表において、収差係数は、図32および図33に示す収差係数に対応している。例えば、「A_AAG」は「A_ααγ」を表している。すなわち、アンダーバー(_)の後では、「A」は「α」に対応し「G」は「γ」に対応している。また、「B」は「β」に対応し、「D」は「δ」に対応している。
図8に示すように、U−typeの収差係数は、ΩB−typeと比較して、大きいものや小さいものが混在しており、概して同程度であるといえる。
次に、U−typeとΩB−typeの収差(幾何収差と色収差)について比較する。色収差成分は、エネルギーロス幅ΔE=50eVとして計算した。
図9は、U−typeおよびΩB−typeの収差の光学的な計算条件と、収差を計算した結果を示す表である。
電子顕微鏡の全体倍率を100kと仮定する。なお、「M」は、試料面からアクロマテ
ィック面までの倍率である。「Mp」は、アクロマティック面からスクリーン(撮像装置)までの倍率(すなわち投影レンズの倍率)である。ここでは、電子顕微鏡全体の倍率が100kであるため、「M」×「Mp」は100kとなる。
また、「Ri」は、アクロマティック面上の像半径である。「Di」は、エネルギー分散面上の像半径である。「γ」、「δ」は、クロスオーバーの開き角であり、「α」、「β」は、像の開き角である(図31参照)。
また、「ΔEx」はエネルギー分散面の分散方向の幾何収差であり、「ΔExc」はエネルギー分散面の分散方向の色収差である。「Δ」はアクロマティック面の幾何収差であり、「Δc」はアクロマティック面の色収差である。「Δf」は最終結像面に換算したアクロマティック面の幾何収差であり、「Δcf」は最終結像面に換算したアクロマティック面の色収差である。
図9に示す表から、U−typeの性能は、アクロマティック面の収差に関して、ΩB−typeに比べて二桁近く向上することがわかる。図9に示すように、U−typeにおいて、最終結像面におけるアクロマティック面の収差(ボケ)は10μm以下である。電子顕微鏡に撮像装置として搭載されるCCDカメラの画素サイズは、一般的に10μm程度である。したがって、U−typeでは、電子顕微鏡の分解能に影響しない程度まで収差(ボケ)を小さくできるといえる。これにより、U−typeでは、収差補正を必要としない。
さらに、U−typeでは、エネルギー分散面における収差はΩB−typeと同程度に抑えられている。これは、以下に示すU−typeとΩB−typeの、スポットダイアグラムの比較で明瞭に示されている。
図10は、U−typeにおける、アクロマティック面(最終結像面)とエネルギー分散面のスポットダイアグラム(収差図形)のシミュレーション結果を示す図である。図11は、ΩB−typeにおける、アクロマティック面(最終結像面)とエネルギー分散面のスポットダイアグラム(収差図形)のシミュレーション結果を示す図である。なお、図10および図11では、エネルギーロス幅ΔE=50eVとして計算した。
図10および図11で示す収差は、エネルギーフィルタに起因する成分のみを示しており、他の結像レンズによる成分を含まない。また、比較しやすくするために、アクロマティック像は、最終的に結像されるスクリーン(φ100mm)上に換算し、かつ、スポットの大きさを100倍拡大して示している。
図10および図11に示すアクロマティック面(Achromatic image)では、二つの異なるエネルギーをもつ電子線(分散した電子線)のスポット形状を、それぞれ円周上において45°間隔で示している。
収差がない場合にはそれぞれのスポットは理想的な点となるが、幾何収差および色収差がある場合にはぼけたスポットとなる。ΩB−typeは、Y(縦)方向のボケが特に大きい。U−typeは、ΩB−typeに比べて、ボケが小さく、ほぼ点として示されている。
図10および図11に示すエネルギー分散面(Spectrum image)では、二つの異なるエネルギーをもつ電子線(分散した電子線)のスポット形状を示している。収差がない場合にはそれぞれのスポットは半径Di=0.01mmの丸いビームとなるが、幾何収差および色収差がある場合には三角形状のぼけたスポットとなる。
エネルギー分散面において、U−typeにおけるスポットのボケは、ΩB−typeにおけるスポットのボケと同程度であり、ボケは小さく抑えられている。
U−typeとΩB−typeとで、収差係数を比べてみると、同程度である。そのため、U−typeには、ΩB−typeに対してメリットが無いように見えるが、U−typeとΩB−typeとの本質的な違いは、U−typeは、ΩB−typeと比べて、距離Lが一桁大きいことである。
例えば、ΩB−typeを距離L=100mmに設定し、U−typeを距離L=1000mmに設定したとする。収差係数が同じであれば、U−typeでは像の開き角α,βを一桁小さくできるため、アクロマティック面の収差は一桁小さくなる。U−typeとΩB−typeとで全体倍率を同じとすると、U−typeでは中間レンズの倍率が大きくなるため、投影レンズの倍率は小さくなる。そのため、U−typeではアクロマティック面の収差が最終結像面で増大することを抑制できる。すなわち、投影レンズの倍率が小さくなることにより、収差はさらに一桁小さくなる。したがって、U―typeでは、ΩB−typeと比べて、トータルとして収差を二桁程度小さくできる。
距離Lを大きくすると、それに合わせて、クロスオーバーの開き角γ,βを変えることなく、入射側像面を大きくする必要があるが、そのように中間レンズ結像系を設定することはきわめて容易である。なぜなら、中間レンズの励磁を変えることによって、像面のフォーカス位置を変えるだけだからである。これにより、射出側像面も大きくなるが、同様の理由で、投影レンズ結像系を設定することも容易である。
図12は、与えられた距離Lに対する、エネルギー分散面の分散方向の幾何収差ΔEx、および色収差ΔExcを示すグラフである。図13は、与えられた距離Lに対する、最終結像面に換算したアクロマティック面の幾何収差Δf、および色収差Δcfを示すグラフである。
図12および図13に示すグラフから、U−typeでは、アクロマティック面の幾何収差Δfおよび色収差Δcfが10μm以下となる距離L=700mm以上5000mm以下の範囲がバランスのとれた性能を発揮できる。
3. 変形例
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。以下、本実施形態の変形例に係るエネルギーフィルタ200,300,400,500,600,700,800において、上述したエネルギーフィルタ100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
3.1. 第1変形例
図14は、第1変形例に係るエネルギーフィルタ200における電子線の軌道を示す図である。なお、図14では、ゼロロスビームBの軌道、および分散ビームBの軌道を図示している。図15は、第1変形例に係るエネルギーフィルタ200の第2セクターマグネット20を模式的に示す断面図である。
エネルギーフィルタ200では、X方向およびY方向ともに常に同じ集束作用を有している。すなわち、エネルギーフィルタ200では、ラウンドレンズフォーカスが形成されている。
エネルギーフィルタ200では、第1セクターマグネット10の磁極対向面の傾斜角度θおよび第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23の傾斜角度θを所定の値(ただし傾斜角度θ≠0°)とすることで、ラウンドレンズフォーカスを実現している。
エネルギーフィルタ200では、第1セクターマグネット10の端面角度T1=0°、端面角度T2=0°、および第2セクターマグネット20の端面角度T1=0°、端面角度T2=0°である。
本変形例に係るエネルギーフィルタ200では、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
3.2. 第2変形例
図16は、第2変形例に係るエネルギーフィルタ300における電子線の軌道を示す図である。図17は、第2変形例に係るエネルギーフィルタ300の第2セクターマグネット20を模式的に示す断面図である。
エネルギーフィルタ300では、上述したエネルギーフィルタ100と同様に、スティグマティックフォーカスが形成されている。
エネルギーフィルタ300では、第1セクターマグネット10の入口および出口、第2セクターマグネット20の入口および出口に、それぞれ磁場4極子310を配置している。磁場4極子310は、電子線に対してY方向の集束作用を与えることができる。これにより、エネルギーフィルタ300では、スティグマティックフォーカスを実現している。
エネルギーフィルタ300では、第1セクターマグネット10の端面角度T1=0°、端面角度T2=0°、および第2セクターマグネット20の端面角度T1=0°、端面角度T2=0°である。
エネルギーフィルタ300では、図17に示すように、第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23は傾斜していない(傾斜角度θ=0°)。同様に、第1セクターマグネット10の磁極対向面は傾斜していない。
本変形例に係るエネルギーフィルタ300では、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
3.3. 第3変形例
図18は、第3変形例に係るエネルギーフィルタ400における電子線の軌道を示す図である。
エネルギーフィルタ400では、上述したエネルギーフィルタ100と同様に、スティグマティックフォーカスが形成されている。
エネルギーフィルタ400では、第1セクターマグネット10の出口および第2セクターマグネット20の入口において、端面角度T1=0°として、磁場4極子310を配置している。さらに、第1セクターマグネット10の入口および第2セクターマグネット20の出口において、端面角度T2≠0°としている。これにより、エネルギーフィルタ400では、スティグマティックフォーカスを実現している。
また、例えば、図示はしないが、第1セクターマグネット10の入口および第2セクターマグネット20の出口において、端面角度T2=0°として、磁場4極子310を配置
し、かつ、第1セクターマグネット10の出口の端面角度および第2セクターマグネット20の入口において端面角度T1≠0°としてもよい。
なお、図示はしないが、エネルギーフィルタ400では、第2セクターマグネット20の磁極対向面22,23は傾斜していない(傾斜角度θ=0°)。同様に、第1セクターマグネット10の磁極対向面は傾斜していない。
本変形例に係るエネルギーフィルタ400では、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
3.4. 第4変形例
図19は、第4変形例に係るエネルギーフィルタ500における電子線の軌道を示す図である。
エネルギーフィルタ500では、図19に示すように、第1セクターマグネット10が複数に分割されており、同様に、第2セクターマグネット20が複数に分割されている。
図示の例では、第1セクターマグネット10は、第1部分10aと第2部分10bとに分割されている。同様に、第2セクターマグネット20は、第1部分20aと第2部分20bとに分割されている。第1セクターマグネット10の第1部分10aおよび第2部分10b、第2セクターマグネット20の第1部分20aおよび第2部分20bは、それぞれ同一の極性を有している。
第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20は、分割されていても、分割されていない場合と同様の機能を有する。
なお、第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20の分割数は特に限定されない。
本変形例に係るエネルギーフィルタ500では、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
3.5. 第5変形例
図20〜図23は、第5変形例に係るエネルギーフィルタ600における電子線の軌道を示す図である。なお、図20は、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネットにおける電子線の偏向角度との和が、90°の場合を図示している。図21は、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネットにおける電子線の偏向角度との和が、135°の場合を図示している。図22は、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネットにおける電子線の偏向角度との和が、180°の場合を図示している。図23は、第1セクターマグネット10における電子線の偏向角度と第2セクターマグネットにおける電子線の偏向角度との和が、210°の場合を図示している。
図20〜図23に示すように、第5変形例によれば、第1セクターマグネットにおける電子線の偏向角度と第2セクターマグネット20における電子線の偏向角度の和は、90°以上210°以下の範囲であることができる。これにより、電子顕微鏡1において、2つの鏡筒8a,8bをつなぐ部分にエネルギーフィルタ600を配置することができ、電子顕微鏡の高さの増大を抑制することができる。
図20〜図23に示すエネルギーフィルタ600において、クロスオーバーと像とをX
方向およびY方向とでフォーカス可能である距離Lの最小値は、上述した通りである(表1参照)。
本変形例に係るエネルギーフィルタ600によれば、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
3.6. 第6変形例
図24は、第6変形例に係るエネルギーフィルタ700における電子線の軌道を示す図である。なお、図24では、ゼロロスビームBの軌道、および分散ビームBの軌道を図示している。図25は、第6変形例に係るエネルギーフィルタ700のセクターマグネット710を模式的に示す断面図である。
エネルギーフィルタ700では、上述したエネルギーフィルタ200と同様に、ラウンドレンズフォーカスが形成されている。
上述したエネルギーフィルタ200では、図1に示すように、対称面Mに関して鏡映対称な第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20を含んで構成されていたが、エネルギーフィルタ700では、図24に示すように、1つの(単体の)セクターマグネット710で構成されている。言い換えると、エネルギーフィルタ700では、第1セクターマグネット10および第2セクターマグネット20が分離されておらず、一体に構成されている。
セクターマグネット710は、対称面Mに関して鏡映対称に構成されている。セクターマグネット710における電子線の偏向角度は、180°(Θ=180°)である。
エネルギーフィルタ700の光学条件は、上述したエネルギーフィルタ200の光学条件と同様である。具体的には、エネルギーフィルタ700は、上述したエネルギーフィルタ200と同様に、クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は、最初の入射側クロスオーバー面S1の結像を除いて1回であり、最初の入射側クロスオーバー面S1を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面S2である。また、像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、最初の入射側像面A1の結像を除いて2回であり、最初の入射側像面A1を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、対称面Mとアクロマティック面A2である。また、像のX方向の結像およびY方向の結像において、対称面Mの位置には実像が形成される。また、入射側クロスオーバー面S1と、エネルギー分散面S2(射出側クロスオーバー面)は、対称面Mに関して鏡映対称の位置にあり、入射側像面A1とアクロマティック面A2(射出側像面)は、対称面Mに関して鏡映対称の位置にある。
セクターマグネット710の磁極対向面22,23の傾斜角度θは、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしている。すなわち、セクターマグネット710の磁極対向面22,23の傾斜角度θは、ラウンドレンズフォーカスが実現できる角度(傾斜角度θ≠0°)になっている。セクターマグネット710の磁極対向面22,23の傾斜角度θは、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしているため、端面角度T1=T2=0°である。
図25に示すように、セクターマグネット710の磁極対向面22,23は、傾斜している(すなわち傾斜角度θ≠0°)。すなわち、セクターマグネット710の磁極対向面22,23は、平行でない。
また、距離L(図1参照)は、フォーカス可能である範囲の最小値をとる。このとき、
距離L1=0mmである。
図24に示す例では、偏向角Θ=180°であり、クロスオーバーと像とをX方向およびY方向とでフォーカス可能である距離L、距離L≒526mmである。すなわち、距離Lは、L≒3.5Rでフォーカス可能である範囲の最小値である(ただし偏向半径R=150mm)。
本変形例に係るエネルギーフィルタ700によれば、上述したエネルギーフィルタ100と同様の作用効果を奏することができる。
また、本変形例に係るエネルギーフィルタ700では、セクターマグネット710における電子線の偏向角度は180°であり、セクターマグネット710は対称面Mで分離していない単体であり、セクターマグネット710の磁極対向面22,23の傾斜角度は、θ≠0°であり、かつ、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしており、距離Lは、L≒3.5Rである。そのため、エネルギーフィルタ700では、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
なお、上記では、単体のセクターマグネット710における電子線の偏向角度が180°(Θ=180°)の場合について説明したが、単体のセクターマグネットにおける電子線の偏向角度は180°に限定されない。
例えば、図26に示すエネルギーフィルタ800は、1つの(単体の)セクターマグネット810を含んで構成されており、セクターマグネット810における電子線の偏向角度は90°(Θ=90°)である。図26に示す例では、偏向角Θ=90°であり、クロスオーバーと像とをX方向およびY方向とでフォーカス可能である距離Lは、距離L≒491mmである。すなわち、距離Lは、L≒3.3Rでフォーカス可能である範囲の最小値である(ただし偏向半径R=150mm)。なお、セクターマグネット810のその他の構成は、セクターマグネット710と同様であり、その説明を省略する。
本変形例に係るエネルギーフィルタ800によれば、上述したエネルギーフィルタ700と同様の作用効果を奏することができる。
また、本変形例に係るエネルギーフィルタ800では、セクターマグネット810における電子線の偏向角度は90°であり、セクターマグネット810は対称面Mで分離していない単体であり、セクターマグネット810の磁極対向面の傾斜角度は、θ≠0°であり、かつ、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしており、距離Lは、L≒3.3Rである。そのため、エネルギーフィルタ800では、構造を単純化でき、かつ、低収差を実現できる。
なお、上述した実施形態及び変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば各実施形態及び各変形例は、適宜組み合わせることが可能である。
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
1…電子顕微鏡、2…電子源、3…照射レンズ、4…対物レンズ、5…中間レンズ、6…投影レンズ、7…撮像装置、8a…鏡筒、8b…鏡筒、9…試料、10…第1セクターマグネット、10a…第1部分、10b…第2部分、20…第2セクターマグネット、20a…第1部分、20b…第2部分、22…磁極対向面、23…磁極対向面、30…シャント、32…シャント、34…シャント、100…エネルギーフィルタ、200…エネルギーフィルタ、300…エネルギーフィルタ、310…磁場4極子、400…エネルギーフィルタ、500…エネルギーフィルタ、600…エネルギーフィルタ、700…エネルギーフィルタ、710…セクターマグネット、800…エネルギーフィルタ、810…セクターマグネット、1002…対物レンズ、1004…中間レンズ、1006…中間レンズ、1008…中間レンズ、1010…中間レンズ、1011…Ωフィルタ、1012…入射絞り、1014…エネルギースリット、1016…投影レンズ、1018…投影レンズ、1020…投影レンズ、1022…スクリーン

Claims (13)

  1. 荷電粒子線を偏向させる偏向磁場を発生させる第1セクターマグネットおよび第2セクターマグネットを含み、
    前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、対称面に関して鏡映対称に構成され、
    前記第1セクターマグネットの極性と前記第2セクターマグネットの極性は、同じであり、
    前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、クロスオーバーおよび像を結像する光学系を構成し、
    荷電粒子線の進行方向をZ方向、前記偏向磁場による荷電粒子線の偏向方向をX方向、前記偏向磁場の磁力線の方向をY方向とした場合、
    クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は、最初の入射側クロスオーバー面の結像を除いて1回であり、
    最初の入射側クロスオーバー面を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面であり、
    像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、最初の入射側像面の結像を除いて2回であり、
    最初の入射側像面を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、前記対称面とアクロマティック面であり、
    像のX方向の結像およびY方向の結像において、前記対称面の位置には実像が形成され、
    入射側クロスオーバー面とエネルギー分散面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にあり、
    入射側像面とアクロマティック面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にある、エネルギーフィルタ。
  2. 請求項1において、
    前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、90°以上210°以下である、エネルギーフィルタ。
  3. 請求項1または2において、
    前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、180°であり、
    前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、それぞれ互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
    前記第1セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
    前記第2セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
    前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
    エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.6Rを満たす、エネルギーフィルタ。
  4. 請求項1または2において、
    前記第1セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度と前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度の和は、90°であり、
    前記第1セクターマグネットおよび前記第2セクターマグネットは、それぞれ互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
    前記第1セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
    前記第2セクターマグネットの2つの磁極対向面は平行であり、
    前記第2セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
    エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.2Rを満たす、エネルギーフィルタ。
  5. 請求項1ないし4のいずれか1項において、
    前記第1セクターマグネットは、複数に分割され、
    前記第2セクターマグネットは、複数に分割されている、エネルギーフィルタ。
  6. 荷電粒子線を偏向させる偏向磁場を発生させるセクターマグネットを含み、
    前記セクターマグネットは、対称面に関して鏡映対称に構成され、
    前記セクターマグネットは、クロスオーバーおよび像を結像する光学系を構成し、
    荷電粒子線の進行方向をZ方向、前記偏向磁場による荷電粒子線の偏向方向をX方向、前記偏向磁場の磁力線の方向をY方向とした場合、
    クロスオーバーのX方向の結像回数およびクロスオーバーのY方向の結像回数は、最初の入射側クロスオーバー面の結像を除いて1回であり、
    最初の入射側クロスオーバー面を除いた場合、クロスオーバーのX方向の結像位置およびクロスオーバーのY方向の結像位置は、エネルギー分散面であり、
    像のX方向の結像回数および像のY方向の結像回数は、最初の入射側像面の結像を除いて2回であり、
    最初の入射側像面を除いた場合、像のX方向の結像位置および像のY方向の結像位置は、前記対称面とアクロマティック面であり、
    像のX方向の結像およびY方向の結像において、前記対称面の位置には実像が形成され、
    入射側クロスオーバー面とエネルギー分散面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にあり、
    入射側像面とアクロマティック面は、前記対称面に関して鏡映対称の位置にある、エネルギーフィルタ。
  7. 請求項6において、
    前記セクターマグネットは、互いに対向する2つの磁極対向面を有し、
    前記セクターマグネットの2つの磁極対向面の傾斜角度は、平行ではなく、かつ、ラウンドレンズフォーカス条件を満たしている、エネルギーフィルタ。
  8. 請求項7において、
    前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度は、180°であり、
    前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
    エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.5Rを満たす、エネルギーフィルタ。
  9. 請求項7において、
    前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の偏向角度は、90°であり、
    前記セクターマグネットにおける荷電粒子線の中心軌道の半径をRとした場合に、
    エネルギー分散面とアクロマティック面との間の距離Lは、L>3.3Rを満たす、エネルギーフィルタ。
  10. 請求項1ないし9のいずれか1項に記載のエネルギーフィルタを含む荷電粒子線装置。
  11. 請求項10において、
    中間レンズと、
    投影レンズと、
    を含み、
    前記エネルギーフィルタは、前記中間レンズと前記投影レンズとの間に配置されている、荷電粒子線装置。
  12. 請求項11において、
    前記中間レンズは、
    前記エネルギーフィルタの入射側クロスオーバー面に試料の回折パターンをフォーカスし、
    前記エネルギーフィルタの入射側像面に試料の像をフォーカスする、荷電粒子線装置。
  13. 請求項11において、
    前記中間レンズは、
    前記エネルギーフィルタの入射側クロスオーバー面に試料の像をフォーカスし、
    前記エネルギーフィルタの入射側像面に試料の回折パターンをフォーカスする、荷電粒子線装置。
JP2017021166A 2017-02-08 2017-02-08 エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 Active JP6914666B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017021166A JP6914666B2 (ja) 2017-02-08 2017-02-08 エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置
US15/890,585 US10546714B2 (en) 2017-02-08 2018-02-07 Energy filter and charged particle beam system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017021166A JP6914666B2 (ja) 2017-02-08 2017-02-08 エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018129171A JP2018129171A (ja) 2018-08-16
JP6914666B2 true JP6914666B2 (ja) 2021-08-04

Family

ID=63174310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017021166A Active JP6914666B2 (ja) 2017-02-08 2017-02-08 エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10546714B2 (ja)
JP (1) JP6914666B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6808772B2 (ja) 2019-04-08 2021-01-06 日本電子株式会社 エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置
CN112439131B (zh) * 2019-08-27 2023-04-07 胡逸民 X-射线笔形束扫描调强治疗直线加速器装置
EP4002420A1 (en) * 2020-11-12 2022-05-25 FEI Company Method of determining an energy width of a charged particle beam

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4310559A1 (de) 1993-03-26 1994-09-29 Zeiss Carl Fa Abbildendes Elektronenenergiefilter
US6140645A (en) * 1997-10-20 2000-10-31 Jeol Ltd. Transmission electron microscope having energy filter
DE19828741A1 (de) 1998-06-27 1999-12-30 Leo Elektronenmikroskopie Gmbh Elektronenmikroskop mit einem abbildenden magnetischen Energiefilter
DE10005347A1 (de) 2000-02-08 2001-08-09 Leo Elektronenmikroskopie Gmbh Elektronenenergiefilter mit magnetischen Umlenkbereichen

Also Published As

Publication number Publication date
US20180301314A1 (en) 2018-10-18
JP2018129171A (ja) 2018-08-16
US10546714B2 (en) 2020-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6490772B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置
US6924488B2 (en) Charged-particle beam apparatus equipped with aberration corrector
JP5899033B2 (ja) 歪みのないtemの非点収差補正
US7807965B2 (en) Corrector for axial and off-axial beam paths
US9543053B2 (en) Electron beam equipment
JP6914666B2 (ja) エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置
JP4204902B2 (ja) 収差補正装置を備えた荷電粒子ビーム装置
JP6843794B2 (ja) 収差補正装置および荷電粒子線装置
JP2007128656A (ja) 収差補正装置を備えた荷電粒子ビーム装置
JP4357530B2 (ja) 荷電粒子ビーム系用の2段式荷電粒子ビームエネルギー幅低減系
JP6868480B2 (ja) 歪み補正方法および電子顕微鏡
JP3896043B2 (ja) 電子顕微鏡の球面収差補正装置
JP6808772B2 (ja) エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置
JP5452722B2 (ja) 収差補正装置およびそれを用いた荷電粒子線装置
JP5934517B2 (ja) 色収差補正装置及び色収差補正装置の制御方法
JP2004235062A (ja) 静電レンズユニット及びそれを用いた荷電粒子線装置
JP6339734B2 (ja) 荷電粒子線応用装置、及び、収差補正器
JP6914993B2 (ja) モノクロメーターおよび荷電粒子線装置
JP4607558B2 (ja) 荷電粒子光学装置及び収差補正方法
JP2007242490A (ja) 荷電粒子線光学系用の収差補正光学装置及び光学系
US11276549B1 (en) Compact arrangement for aberration correction of electron lenses
JP2004241235A (ja) 荷電粒子光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191021

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200924

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201027

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210706

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210714

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6914666

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150