JP6906331B2 - 基板処理装置 - Google Patents
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Description
最初に、図1を参照しながら、実施形態に係る基板処理システム1の概略構成について説明する。図1は、実施形態に係る基板処理システム1の概略構成を示す図である。以下では、位置関係を明確にするために、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸を規定し、Z軸正方向を鉛直上向き方向とする。
次に、図2を参照しながら、洗浄処理ユニット16の概略構成について説明する。図2は、実施形態に係る洗浄処理ユニット16の構成を示す断面図である。洗浄処理ユニット16は、たとえば、スピン洗浄によりウェハWを1枚ずつ洗浄する枚葉式の洗浄処理ユニットとして構成される。
以下においては、乾燥処理ユニット17の構成について説明する。図3は、実施形態に係る乾燥処理ユニット17の構成を示す外観斜視図である。
つづいて、図4Aおよび図4Bを参照しながら、実施形態に係る乾燥処理ユニット17の詳細について説明する。図4Aは、実施形態に係る乾燥処理ユニット17の内部構成の一例を示す断面図であり、図4Bは、実施形態に係る乾燥処理ユニット17の内部構成の一例を示す平面図である。また、図4Aに示す断面図のうち、流体供給ヘッダー38および保持部32については、図4Bに示すA−A線で切断した場合における断面図である。
つづいて、図5〜図7を参照しながら、実施形態に係る乾燥処理ユニット17の各種変形例について説明する。図5は、実施形態の変形例1に係る乾燥処理ユニット17の内部構成の一例を示す断面図である。なお、以降の説明においては、上述の実施形態における各構成要素と同じ構成要素には同じ符号を付し、実施形態と同様の点については説明を省略する場合がある。
Wa 上面
Wb 下面
Wc 側面
1 基板処理システム
4 制御装置
16 洗浄処理ユニット
17 乾燥処理ユニット
19 制御部
31 本体
31a 処理空間
32 保持部
33 蓋部材
34 開口部
38 流体供給ヘッダー
38a 供給口
38a1 第1供給口
38a2 第2供給口
41 支持部
42 ずれ抑制部
43 整流板
70 処理流体
71 IPA液体
Claims (7)
- 超臨界状態の処理流体を用いてパターンを有する上面に液膜が形成された基板を乾燥させる乾燥処理が行われる基板処理装置であって、
前記基板を保持する保持部と、
処理空間内に前記処理流体を供給する供給部と、
前記供給部と前記基板の側面との間に設けられる整流板と、
を備え、
前記保持部は、
上方に突出し、前記基板の下面と当接して前記基板を支持する支持部を有し、前記基板を保持した場合に、前記支持部によって前記基板の前記下面の少なくとも一部を前記処理空間に露出させ、
前記供給部は、水平方向に沿って並んで設けられる複数の供給口を有し、
前記整流板は、前記複数の供給口と向かい合うように水平方向に延在する
基板処理装置。 - 前記整流板は、断面視で前記基板に近づくにしたがい末広がり状になるように形成される
請求項1に記載の基板処理装置。 - 前記供給部は、
前記保持部に保持される前記基板の側方に設けられる
請求項1または2に記載の基板処理装置。 - 前記保持部は、
前記基板を保持した場合に、前記支持部によって前記下面の外周部を前記処理空間に露出させる
請求項1〜3のいずれか一つに記載の基板処理装置。 - 前記供給部から吐出される前記処理流体の向きが、前記保持部に保持される前記基板の側面を向いている
請求項1〜4のいずれか一つに記載の基板処理装置。 - 超臨界状態の処理流体を用いてパターンを有する上面に液膜が形成された基板を乾燥させる乾燥処理が行われる基板処理装置であって、
前記基板を保持する保持部と、
処理空間内に前記処理流体を供給する供給部と、
前記供給部と前記基板の側面との間に設けられる整流板と、
を備え、
前記保持部は、
上方に突出し、前記基板の下面と当接して前記基板を支持する支持部を有し、前記基板を保持した場合に、前記支持部によって前記基板の前記下面の少なくとも一部を前記処理空間に露出させ、
前記供給部は、前記基板の上面側に向けて前記処理流体を吐出する第1供給口と、前記基板の下面側に向けて前記処理流体を吐出する第2供給口とを有し、
前記整流板は、前記第1供給口から吐出される前記処理流体と前記第2供給口から吐出される前記処理流体との間に配置される
基板処理装置。 - 前記保持部は、
上方に突出して前記基板の側面に隣接し、前記供給部から吐出される前記処理流体により前記基板がずれることを抑制するずれ抑制部をさらに有する
請求項1〜6のいずれか一つに記載の基板処理装置。
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