JP6861888B2 - 放射線画像撮影装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 80
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 129
- 230000006335 response to radiation Effects 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 55
- 239000000463 material Substances 0.000 description 47
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 38
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 20
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 15
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 15
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 4
- -1 Polyethylene Terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920000052 poly(p-xylylene) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000012463 white pigment Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/702—SSIS architectures characterised by non-identical, non-equidistant or non-planar pixel layout
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20188—Auxiliary details, e.g. casings or cooling
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2978—Hybrid imaging systems, e.g. using a position sensitive detector (camera) to determine the distribution in one direction and using mechanical movement of the detector or the subject in the other direction or using a camera to determine the distribution in two dimensions and using movement of the camera or the subject to increase the field of view
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2964—Scanners
Description
本例示的実施形態の放射線画像撮影装置は、撮影対象である被写体を透過した放射線を検出して被写体の放射線画像を表す画像情報を出力することにより、撮影対象の放射線画像を撮影する機能を有する。
図6には、本例示的実施形態の放射線画像撮影装置1の一例を、基材14の第1の面14Aの側からみた平面図を示す。また、図7には、駆動基板202の一例の平面図を示す。
Claims (12)
- 可撓性の基材、及び放射線に応じて発生した電荷を蓄積する複数の画素を含むセンサ基板と、
前記センサ基板の予め定められた辺に設けられた接続領域に、一端が電気的に接続された可撓性の第1ケーブルと、
前記第1ケーブルの他端に電気的に接続され、かつ前記複数の画素に蓄積された電荷を読み出す場合に駆動する回路部のうちのデジタル信号の処理に用いられる第1部品が搭載された第1回路基板と、
前記センサ基板の前記予め定められた辺と異なる辺に設けられた接続領域に、一端が電気的に接続された可撓性の第2ケーブルと、
前記第2ケーブルの他端に電気的に接続され、かつ前記回路部のうちのアナログ信号の処理に用いられる第2部品が搭載された第2回路基板と、
を備えた放射線画像撮影装置。 - 前記第1部品は、前記複数の画素から電荷を読み出させる駆動部の部品を含む、請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第2部品は、前記複数の画素に蓄積された電荷に応じた電気信号が入力され、入力された前記電気信号に応じた画像データを生成して出力する信号処理部の部品を含む、請求項1または請求項2に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1回路基板は可撓性の基板である、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1ケーブルは、前記センサ基板に熱圧着により電気的に接続されている、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1ケーブルは、前記第1回路基板に熱圧着により電気的に接続されている、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第2回路基板は、非可撓性の基板である、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第2ケーブルは、前記センサ基板に熱圧着により電気的に接続されている、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第2ケーブルは、前記第2回路基板にコネクタにより電気的に接続されている、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記予め定められた辺は、前記センサ基板の最長の辺である、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1回路基板は、複数の前記第1部品を搭載し、さらに前記第1部品よりも少ない数の第2部品を搭載する、請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第2回路基板は、複数の前記第2部品を搭載し、さらに前記第2部品よりも少ない数の第1部品を搭載する、請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018058966 | 2018-03-26 | ||
JP2018058966 | 2018-03-26 | ||
PCT/JP2019/007502 WO2019187921A1 (ja) | 2018-03-26 | 2019-02-27 | 放射線画像撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019187921A1 JPWO2019187921A1 (ja) | 2020-12-03 |
JP6861888B2 true JP6861888B2 (ja) | 2021-04-21 |
Family
ID=68061521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020510471A Active JP6861888B2 (ja) | 2018-03-26 | 2019-02-27 | 放射線画像撮影装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11520057B2 (ja) |
JP (1) | JP6861888B2 (ja) |
CN (1) | CN111954830B (ja) |
WO (1) | WO2019187921A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3770641A4 (en) * | 2018-03-19 | 2021-04-28 | FUJIFILM Corporation | RADIATION DETECTOR, RADIOLOGICAL IMAGING DEVICE AND PRODUCTION PROCESS |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10136756C2 (de) * | 2001-07-27 | 2003-07-31 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem flexiblen Festkörper-Röntgendetektor |
JP4052631B2 (ja) | 2002-05-17 | 2008-02-27 | 株式会社東芝 | アクティブマトリクス型表示装置 |
KR100765399B1 (ko) | 2005-02-15 | 2007-10-11 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 이동체의 표시 모듈과, 이것에 사용되는 패널 유닛 및 화상제어 유닛 |
CN101129101B (zh) * | 2005-02-28 | 2010-07-14 | 联邦科学和工业研究组织 | 柔性电子装置 |
TWI300544B (en) | 2005-07-01 | 2008-09-01 | Au Optronics Corp | Liquid crystal display panel module and gate driver thereof |
JP2008116652A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Seiko Epson Corp | 配線基板およびその製造方法、並びに電子機器 |
JP2008122116A (ja) * | 2006-11-09 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 放射線検出器およびx線断層撮影装置 |
JP5142943B2 (ja) | 2007-11-05 | 2013-02-13 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム |
JP2010085259A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置及び放射線撮影システム |
JP2010085266A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置及び放射線撮影システム |
WO2010070735A1 (ja) * | 2008-12-16 | 2010-06-24 | 株式会社島津製作所 | 光マトリックスデバイス |
JP2011075327A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
KR101450920B1 (ko) | 2009-12-17 | 2014-10-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치와 그 소프트웨어 업데이트 방법 |
JP2012018017A (ja) * | 2010-07-06 | 2012-01-26 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP2012032644A (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-16 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP5647581B2 (ja) * | 2010-11-29 | 2015-01-07 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置 |
JP2013013513A (ja) * | 2011-07-01 | 2013-01-24 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置、バッテリユニット、給電ユニット、放射線画像撮影システム及びプログラム |
KR101326989B1 (ko) | 2011-12-21 | 2013-11-13 | 엘지이노텍 주식회사 | 이미지 센서 및 그 구동 방법 |
BR112014015663A8 (pt) * | 2011-12-27 | 2017-07-04 | Koninklijke Philips Nv | módulo do detector de radiação, digitalizador de pet, e método de montagem de uma matriz do detector de radiação |
TWI457575B (zh) | 2012-04-06 | 2014-10-21 | Ind Tech Res Inst | 具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法 |
JP2014066671A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-17 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置 |
JP5840588B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2016-01-06 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、補正用データ取得方法およびプログラム |
JP6099620B2 (ja) * | 2014-03-03 | 2017-03-22 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
US9689997B2 (en) * | 2014-09-04 | 2017-06-27 | General Electric Company | Systems and methods for modular imaging detectors |
DE102015209267A1 (de) * | 2015-05-21 | 2016-11-24 | Robert Bosch Gmbh | Bauteil mit einem MECS-Bauelement auf einem Montageträger |
JP6731757B2 (ja) * | 2016-03-14 | 2020-07-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
-
2019
- 2019-02-27 CN CN201980021595.XA patent/CN111954830B/zh active Active
- 2019-02-27 WO PCT/JP2019/007502 patent/WO2019187921A1/ja active Application Filing
- 2019-02-27 JP JP2020510471A patent/JP6861888B2/ja active Active
-
2020
- 2020-09-23 US US17/029,977 patent/US11520057B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11520057B2 (en) | 2022-12-06 |
TW201941385A (zh) | 2019-10-16 |
US20210003719A1 (en) | 2021-01-07 |
JPWO2019187921A1 (ja) | 2020-12-03 |
CN111954830A (zh) | 2020-11-17 |
WO2019187921A1 (ja) | 2019-10-03 |
CN111954830B (zh) | 2024-03-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200415 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210309 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210330 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6861888 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |