JP6861304B1 - 電解銅箔、電解銅箔を含む電極および電解銅箔を含む銅張積層板 - Google Patents

電解銅箔、電解銅箔を含む電極および電解銅箔を含む銅張積層板 Download PDF

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Abstract

【課題】しわの発生を緩和または防止することができ、それにより、後続の用途の生産歩留まりを改善することができる電解銅箔を提供する。【解決手段】電解銅箔と、電解銅箔を含む電極、および電解銅箔を含む銅張積層板が提供される。電解銅箔は、ドラム面および析出面を有するベース銅層を含み、電解銅箔は、0.4J/mm2〜5.8J/mm2のシャルピー衝撃強さを有する。【選択図】図2

Description

1.発明の分野
本発明は、電解銅箔、より具体的には、リチウムイオン電池またはプリント回路基板用の電解銅箔に関する。さらに、本発明はまた、その電解銅箔を含む電極およびその電解銅箔を含む銅張積層板にも関する。
2.先行技術の説明
銅箔は、優れた導電性を有し、銀などの貴金属よりも低コストであり、したがって、銅箔は、基礎産業だけでなく、先端技術産業の重要な原料として広く使用されている。例えば、銅箔は、回路基板の個々の部品を電気的に接続するための材料として、また、銅張積層板の基本材料として使用され、その双方ともスマートフォンやノートブックコンピュータなどの電子産業分野に適用されている。さらに、銅箔はまた、ポータブル電子機器(PED)および電気自動車(EV)に適用されるリチウムイオン電池(LiB)の電極の材料としても使用することができる。
電子および電気デバイスの小型化および軽量化に対する増大する要求に伴い、電子および電気デバイスに含まれる銅箔の厚さを低減する要求も高まってきている。したがって、銅箔の特性と品質は、電子および電気デバイスの性能により大きな影響を与える。例えば、銅箔にしわがある場合、後続の製造プロセスまたは用途において、銅箔の折り目に不均一なコーティングや破損などのいくつかの状況が発生する傾向がある。前述のしわのある銅箔がリチウムイオン電池に利用された場合、銅箔と活物質との間の良好な結合が失われるため、リチウムイオン電池の充放電プロセスを繰り返す過程で、銅箔上に付着された活物質が銅箔の表面から剥がれることがある。前述したしわを有する銅箔がプリント回路基板(PCB)に利用される場合、エッチング溶液が銅箔の折り目に浸透し、回路の切断を引き起こすことがある。
特開2017−014608号公報
従来の銅箔が技術的な欠陥を有することを考慮して、本発明の目的は、電解銅箔の表面のしわの発生を低減または回避し、それにより、後続の工程におけるその生産歩留まりを改善することである。
上記の目的を達成するために、本発明は、ベース銅層を含む電解銅箔であって、電解銅箔のシャルピー衝撃強さが、0.4J/mm〜5.8J/mmの範囲である、電解銅箔を提供する。
電解銅箔のシャルピー衝撃強さの範囲を制御することにより、電解銅箔では、機械的特性が特に改善され、優れたしわ耐性を得ることができ、それにより、電解銅箔のしわおよび破損の発生を低減または回避することができ、電解銅箔の生産歩留まりが改善される。
衝撃強さとは、衝撃力を受ける物体の抵抗を指し、破壊直前の単位面積当たりの吸収エネルギー量で表される。当業者は、本発明の衝撃強さが引張強度および降伏強度などの他の機械的特性とは異なることを認識するであろう。電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、従来の電解銅箔の引張強度および/または降伏強度から推定され得ない。
本発明によれば、電解銅箔の衝撃強さは、ノッチのない試験片を使用したシャルピー衝撃試験によって測定される。好ましくは、電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、0.5J/mm〜5.3J/mmの範囲である。より好ましくは、電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、0.6J/mm〜4.9J/mmの範囲である。さらにより好ましくは、電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、1.0J/mm〜4.5J/mmの範囲である。特には、電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、1.5J/mm〜4.0J/mmの範囲であるか、または電解銅箔のシャルピー衝撃強さは、2.0J/mm〜3.5J/mmの範囲とすることができる。
本発明によれば、電解銅箔のベース銅層は、銅イオンを含む電解液をアノードとカソードドラムとの間に供給し、アノードとカソードドラムとの間に直流電流を印加し、カソードドラムの表面に電解液の銅イオンを電着させることによって通常製造される裸銅箔とすることができる。電解液は、硫酸と硫酸銅とを主成分として含み、アノードは、不溶性金属から作製され、寸法安定アノード(DSA)と呼ばれ、カソードドラムは、研磨された表面を有するチタン製ドラムである。ベース銅層が所定の厚さまで蓄積すると、ベース銅層は、カソードドラムの表面から剥がされ、連続プロセスで巻き取られる。ベース銅層の、カソードドラムに接触する側の面をドラム面と表記し、ベース銅層の反対側の面を析出面と表記する。
耐食性、導電率の維持、活物質または誘電体への接着性、耐熱性および耐薬品性などの電解銅箔の機能を改善するために、電解銅箔のベース銅層に、少なくとも1つの適切な表面処理を施すことができ、それによって、電解銅箔は、ベース銅層のドラム面および析出面の少なくとも一方に形成された少なくとも1つの表面処理層を含む。一実施形態において、電解銅箔が1つの表面処理層(すなわち、第1の表面処理層)を含む場合、表面処理層は、ドラム面または析出面のいずれかに堆積される。他の実施形態において、電解銅箔が2つの表面処理層(すなわち、第1の表面処理層および第2の表面処理層)を含む場合、それらの表面処理層は、ドラム面および析出面の両方にそれぞれ堆積される。
具体的には、ベース銅層の片面又は両面に、ノジュール処理(粗化処理とも呼ばれる)、銅被覆処理、不動態化処理、耐食処理およびシランカップリング処理などの、任意の1つまたは2つ以上の表面処理を施すことができる。したがって、得られた表面処理層は、ノジュール処理層、銅被覆層、ニッケル層、亜鉛層、耐食層、およびシランカップリング層を含み得るが、これらに限定されるものではない。いくつかの実施形態では、得られた表面処理層は、ノジュール処理層を含み、さらに、ノジュール処理層上に形成された少なくとも1つのサブ層を含み、少なくとも1つのサブ層は、銅被覆層、ニッケル層、亜鉛層、クロム層、およびシランカップリング層からなる群から選択される。
ノジュール処理に関し、ベース銅層のドラム面および析出面の少なくとも一方にノジュール処理を施し、または、他の表面処理層の外面に、ノジュール処理を施すことができる。ノジュール処理後の表面は、多くの微細な起伏(凹凸)を有し、微細な起伏の形状は、球形、針状、または板状であるが、これらに限定されるものではない。
ノジュール処理は、単層構造のノジュール層を形成するために、銅、ニッケル、クロム、および亜鉛などの金属カチオンを使用することによる1つの電着プロセスとすることができる。または、ノジュール処理は、多層構造のノジュール層を形成するために、銅、ニッケル、クロム、および亜鉛などの異なる金属カチオンを連続して使用することによる一連の電着プロセスとすることができる。さらに、ノジュール処理はまた、機械的摩耗または化学的マイクロエッチングによって実施することもできるが、これらに限定されるものではない。
いくつかの実施形態では、ノジュール処理層の外面は、必要に応じてノジュール処理に続いて銅被覆処理によって処理されてもよく、したがって、表面処理層は、さらに、銅被覆層を含む。
不動態化処理に関し、ベース銅層のドラム面および析出面の少なくとも一方に不動態化処理を施し、または、他の表面処理層の外面に、不動態化処理を施すことができる。例えば、ノジュール層または銅被覆層の外面に、不動態化処理を施すことができる。具体的には、不動態化処理に亜鉛金属単体または亜鉛合金が採用された場合、表面処理層に含まれる亜鉛層が得られる。さらに、不動態化処理にニッケル金属単体またはニッケル合金が採用された場合、表面処理層に含まれるニッケル層が得られる。得られた不動態化層は、不動態化層を含む電解銅箔の耐薬品性を改善することができる。
耐食処理に関し、ベース銅層のドラム面および析出面の少なくとも一方に耐食処理を施し、または、他の表面処理層の外面に、耐食処理を施すことができる。例えば、ノジュール層、銅被覆層または不動態化層の外面に耐食処理を施してもよい。耐食処理は、アゾール化合物などを使用した有機耐食処理であってもよく、得られた耐食層は、有機耐食層となる。耐食処理はまた、クロム含有材料などを使用した無機耐食処理であってもよく、得られた耐食層は、無機耐食層となる。具体的には、耐食処理は、任意の従来の方法によって適用でき、例えば、この方法は、ディップコーティング、スプレー、メッキなどであり、これにより、耐食成分は、所望の表面に付着する。
アゾール化合物の例は、トリアゾール、ベンゾトリアゾール、トリルトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、クロロ置換ベンゾトリアゾール、3−アミノ−1,2,4−トリアゾール、4−アミノ−1,2,4−トリアゾール、またはそれらの誘導体などのトリアゾール系化合物;チアゾール、イソチアゾール、2−アミノ−4−メチルチアゾール、またはそれらの誘導体などのチアゾール系化合物;またはイミダゾール、2−メルカプト−1−メチルイミダゾール、1−(2−ヒドロキシエチル)−2−メチルイミダゾール、1−(2−クロロエチル)−2−メチルイミダゾール、2−アミノベンズイミダゾール、またはそれらの誘導体などのイミダゾール系化合物を含む。有機耐食処理は、前述のアゾール化合物のうちの少なくとも1種を使用することができる。
クロム含有材料の例は、三価のCr(III)または六価のCr(VI)を提供することができる、クロム(VI)酸、酸化クロム、クロム酸塩、または二クロム酸塩(VI)を含む。いくつかの実施形態では、クロム含有材料は、三酸化クロム(CrO)とすることができる。
シランカップリング処理に関し、ベース銅層のドラム面および析出面の少なくとも一方にシランカップリング処理を施し、または、他の表面処理層の外面に、シランカップリング処理を施すことができる。例えば、ノジュール層、銅被覆層、不動態化層、または耐食層の外面に、シランカップリング処理を施すことができる。したがって、表面処理層のシランカップリング層が得られる。
シランカップリング処理は、シランカップリング剤を採用している。シランカップリング剤は、限定されるものではないが、化学式:Y−(R’)−Si(OR)によって表される化合物を含むことができ、Yは、グリシジル基(すなわち、エポキシ基)、アミノ基、エポキシシクロヘキシル基、ウラミノ基(すなわち、カルバミド基、HNCONH−)、カルバメート基、マロン酸エステル基、カルボキシル基、メルカプト基、シアノ基、アセトキシ基、アクリロキシ基、メチルアクリロキシ基、クロロメチルフェニル基、ピリジル基、ビニル基、ジアルキルアミノ基、フェニルアルキルアミノ基、およびイミダゾリル基からなる群から選択され、nは、0または1の整数であり、R’は、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、およびエチル基もしくはプロピル基によって置換されたフェニレン基からなる群から選択され、フェニレン基は、Yに結合しており、Rは、メチル基、エチル基、および直鎖または分岐鎖のC3からC6アルキル基からなる群から選択される。具体的には、シランカップリング剤は、エポキシ系シラン、アミノ系シラン、メタクリロキシ系シラン、ビニル系シラン、またはメルカプト系シランとすることができる。シランカップリング処理は、1種以上のシランカップリング剤を使用することによって実施できる。
好ましくは、表面処理前に、ベース銅層に、その後の表面処理プロセスを促進する、ベース銅層のドラム面および析出面を洗浄するための酸洗ステップを施すことができる。
本発明によれば、電解銅箔の表面モルフォロジーは、電解銅箔と活物質または誘電体材料を含む他の層との間の結合強度に影響を及ぼす重要な因子の1つである。好ましくは、電解銅箔の2つの表面の少なくとも一方は、14〜693の表面プロファイルのアスペクト比を有し、表面プロファイルのアスペクト比は、粗さプロファイル要素の平均長さ(RSm)と粗さプロファイルの二乗平均平方根高さ(Rq)の比であり、RSmおよびRqは、JIS B 0601−2013の標準法にしたがって得られる。電解銅箔の2つの表面は、電解銅箔の最も外側の2つの表面を指すと定義される。一実施形態において、電解銅箔のベース銅層が何ら表面処理されていない場合、電解銅箔の2つの表面は、ベース銅層のドラム面および析出面を指す。他の実施形態において、ベース銅層のドラム面および析出面それぞれに1つの表面処理が施されている場合、電解銅箔の2つの表面は、得られた2つの表面処理層の外面を指す。他の実施形態において、ベース銅層のドラム面のみに1つの表面処理が施され、ベース銅層の析出面には何ら表面処理を施していない場合、電解銅箔の2つの表面は、得られた表面処理層の外面とベース銅層の析出面とを指す。
表面プロファイルのアスペクト比の前述の範囲では、好ましくは、RSmは、9μm〜523μmの範囲であり、好ましくは、Rqは、0.14μmから1.34μmの範囲である。表面プロファイルのアスペクト比が前述の範囲にある場合、電解銅箔の表面は、活物質または樹脂層を収容するための適切な空間を提供することができ、その結果、表面はより良好なアンカー効果を有し、それにより、電解銅箔は、より良好な接着力を有することができる。より好ましくは、RSmは、10μm〜400μmの範囲であり、より好ましくは、Rqは、0.16μm〜1.25μmの範囲である。
電解銅箔がリチウムイオン電池の電極に利用される場合、表面プロファイルのアスペクト比は、上述した範囲とすることができ、好ましくは、表面プロファイルのアスペクト比は、45〜600の範囲であり、より好ましくは、表面プロファイルのアスペクト比は、65〜510の範囲である。表面プロファイルのアスペクト比の前述の範囲では、好ましくは、RSmは、18μm〜400μmの範囲であり、より好ましくは、RSmは、26μm〜350μmの範囲であり、好ましくは、Rqは、0.23μm〜1.00μmの範囲であり、より好ましくは、Rqは、0.24μm〜0.86μmの範囲である。
電解銅箔が銅張積層板(CCL)に利用される場合、表面プロファイルのアスペクト比は、上述した範囲とすることができ、好ましくは、表面プロファイルのアスペクト比は、30〜400の範囲であり、より好ましくは、表面プロファイルのアスペクト比は、35〜370の範囲である。表面プロファイルのアスペクト比の前述の範囲では、好ましくは、RSmは、20μm〜200μmの範囲であり、より好ましくは、RSmは、21μm〜100μmの範囲であり、好ましくは、Rqは、0.15μm〜1.32μmの範囲であり、より好ましくは、Rqは、0.16μm〜0.80μmの範囲である。
電解銅箔の結晶構造または表面特性を制御するために、本発明は、例えば、電解液組成、電流密度、またはカソードドラムの表面の粒度を調整することによって達成され得るが、明細書に例示されている特定のプロセスに限定されるものではない。
一般に、銅イオンの供給源に加えて、電解液に含まれる他の有機添加剤または使用される電流密度は、アノードとカソードドラムとの間の電流分布および電解中の裸銅箔の堆積厚さ分布に影響を与える可能性があり、それにより、いくつかの裸銅箔の表面特性が影響を受ける。
例えば、ポリビニルピロリドン(PVP)または第四級アンモニウム基を有する化合物が電解液に添加されてレベラーとして作用する場合、レベラーの吸着挙動は、電流分布の影響を受ける。レベラーは、電流分布の密領域に優先的に吸着されるため、電流分布の密領域への銅イオンの過剰な堆積が抑制され、それにより、表面がより滑らかな裸銅箔が得られる。さらに、メルカプト基、ジスルフィド部分、またはスルホネート基を有する化合物は、銅イオンの堆積を促進するアクセラレータとして作用し得る。アクセラレータの例は、ビス(3−スルホプロピル)ジスルフィド(SPS)、3−メルカプト−1−プロパンスルホン酸ナトリウム塩(MPS)、3−N,N−ジメチルアミノジチオカルバモイル−1−プロパンスルホン酸ナトリウム塩(DPS)、および3−(アミジノチオ)−1−プロパンスルホン酸(UPS)を含むことができるが、これらに限定されるものではない。
さらに、カソードドラムの表面の結晶密度は、裸銅箔の表面プロファイルのアスペクト比に関係している。カソードドラムの表面の結晶密度は、粒度によって定量化することができ、粒度が大きいほど、表面の結晶密度が高くなる。粒度は、JIS G0552の標準法にしたがって測定することができる。
本発明は、さらに、前述の電解銅箔、少なくとも1種のバインダおよび少なくとも1種の活物質を含むリチウムイオン電池用の電極を提供する。電解銅箔は、集電体に適している。電解銅箔の片面または両面は、電極を形成するために、活物質および接着剤を含む活物質の1つ以上の層によって被覆されている。電極は、リチウムイオン電池の負極および正極として使用されることができる。好ましくは、電極は負極である。
具体的には、バインダは、ポリ−1,1−ジフルオロエテン(PVDF)、ポリ(アクリル酸)、カルボキシメチルセルロース(CMC)、スチレンブタジエンゴム(SBR)、ポリイミド(PI)、ポリビニルアルコール(PVA)、またはそれらの任意の組み合わせとすることができるが、これらに限定されない。
活物質は、電極に良好なサイクル性能を持たせる。例えば、活物質は、炭素含有物質、ケイ素含有物質、炭化ケイ素複合体(SiC複合体)、金属、金属酸化物、金属合金、ポリマー、またはそれらの任意の組み合わせを含むことができる。好ましくは、活物質は、炭素含有物質またはケイ素含有物質であるが、これらに限定されない。
具体的には、炭素含有物質は、非黒鉛化炭素、コークス、グラファイト、ガラス状炭素、炭素繊維、活性炭、カーボンブラック、または高分子焼成物質とすることができるが、これらに限定されない。さらに、コークスは、ピッチコークス、針状コークス、または石油コークスなどを含む。高分子焼成物質は、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂またはフラン樹脂などの高分子を、高分子の炭化に適した温度で燃焼させることによって得られる。
ケイ素含有物質は、リチウムイオンと合金を形成する優れた能力を有し、リチウム合金からリチウムイオンを抽出する優れた能力を有する。したがって、ケイ素含有物質がリチウムイオン電池に利用された場合、得られるリチウムイオン電池は、高エネルギー密度を得ることができる。ケイ素含有物質は、コバルト(Co)、鉄(Fe)、スズ(Sn)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、マンガン(Mn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ゲルマニウム(Ge)、ビスマス(Bi)、アンチモン(Sb)、クロム(Cr)、ルテニウム(Ru)、モリブデン(Mo)、またはそれらの任意の組み合わせと合金を形成することができる。
具体的には、金属または金属合金の元素は、コバルト(Co)、鉄(Fe)、スズ(Sn)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、マンガン(Mn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ゲルマニウム(Ge)、ビスマス(Bi)、アンチモン(Sb)、クロム(Cr)、ルテニウム(Ru)、およびモリブデン(Mo)からなる群から選択され得るが、それらに限定されない。金属酸化物の例は、酸化鉄(III)(Fe)、酸化鉄(II,III)(Fe)、酸化ルテニウム(IV)(RuO)、酸化モリブデン(IV)(MoO)、または酸化モリブデン(VI)(MoO)が挙げられるが、これらに限定されない。
具体的には、ポリマーとしては、ポリアセチレンまたはポリピロールが挙げられるが、これらに限定されない。
さらに、電極は、必要に応じて、本発明の電極の機能に影響を及ぼすことがない補助添加剤を含んでもよい。補助添加剤としては、水酸化リチウム(LiOH)またはシュウ酸(H)が挙げられるが、これらに限定されない。
本発明によれば、本発明の電極は、リチウムイオン電池、および、本発明の電極を用いて作製されたリチウムイオン電池を含む、モバイル電源、スマートフォン、ノートブックコンピュータ、電気自動車などの電子機器に利用することができる。
本発明は、さらに、前述の電解銅箔および樹脂基材を含む銅張積層板を提供する。銅張積層板は、リジッド銅箔基板、フレキシブル銅箔基板、またはIC基板などのプリント回路基板の分野に利用することができるが、これらに限定されない。
具体的には、基材の材料としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、またはポリエチレンテレフタレート(PET)樹脂が挙げられるが、これらに限定されない。
本発明の他の目的、利点および新規な特徴は、添付の図面と併せて以下の詳細な説明からより明らかになるであろう。
実施例1の電解銅箔の製造工程の概略斜視図である。 実施例1の電解銅箔の概略側面図である。 実施例10の電解銅箔の製造工程の概略斜視図である。 実施例10の電解銅箔の概略側面図である。 実施例14の電解銅箔の概略側面図である。
以下、当業者は、以下の実施例から本発明の利点および効果を容易に理解することができる。したがって、本明細書で提案される説明は、例示のみを目的とした好ましい例に過ぎず、本発明の範囲を限定することを意図するものではないことが理解されるべきである。本発明の精神および範囲から逸脱することなく、本発明を実施または適用するために、様々な変更および変形を行うことができる。
<電解銅箔>
実施例1〜9:
実施例1〜9は、図1に示す製造装置を使用し、電着ステップおよび表面処理ステップなど同様のプロセスを順次行って、実施例1から9の電解銅箔を得た。実施例1〜9の間の主な相違点は、電解液の組成およびカソードドラムの表面の粒度である。
図1に示すように、電解銅箔40の製造装置は、電着装置10と、一連のガイドローラ20と、表面処理装置30とを備えている。電着装置10は、カソードドラム11、アノード板12、銅電解液13、および供給管14を備えている。カソードドラム11は、回転可能であり、アノード板12は、カソードドラム11の下方に設置され、カソードドラム11の下半分を取り囲んでいる。供給管14を介して銅電解液13が導入されることを可能にするように、カソードドラム11とアノード板12との間に空間が存在している。表面処理装置30は、耐食処理槽31と、耐食処理槽31の内部に配置された2組の第1の電極板311aおよび311bとを備えている。一連のガイドローラ20は、第1のガイドローラ211と、第2のガイドローラ212と、第3のガイドローラ213と、一組のエアナイフ22と、巻取ローラ23とを備えている。一連のガイドローラ22は、裸銅箔、表面処理銅箔および製品の輸送に使用され、最終的に、得られた電解銅箔40は、巻取ローラ23に巻き取られる。
図1に示す製造装置を用いて実施例1〜9の電解銅箔40を製造する方法を以下に説明する。
まず、電着ステップのために銅電解液13が調製され、その組成は、以下のとおりである。
1.必須溶液:
(1)硫酸銅(CuSO・5HO):315g/L;および
(2)硫酸:95g/L
2.添加物:
(1)塩化物イオン(RCI Labscan Ltd.から購入したHCl由来):35mg/L;
(2)鉛イオン(Pb2+):5ppm;
(3)PVP:2.5mg/L〜5.0mg/L;および
(4)UPS:2.5mg/L
これらのうち、実施例1〜9の電解銅箔40を製造するための銅電解液13中のレベラー(すなわち、PVP)およびアクセラレータ(すなわち、UPS)の含有率を表1に示す。さらに、実施例1〜9の電解銅箔40を製造するためのカソードドラム11の粒度も、表1に示す。
電着ステップでは、銅電解液13を52℃の温度に制御した。40A/dmの電流密度の電流をカソードドラム11とアノード板12との間に流し、銅電解液13中の銅イオンをカソードドラム11の表面に電着させ、裸銅箔を形成した。続いて、裸銅箔をカソードドラム11から剥がし、第1のガイドローラ211に案内した。
第1の表面処理
続いて、裸銅箔を、第1のガイドローラ211を介して表面処理装置30に搬送し、第1の表面処理を施した。裸銅箔を、クロメート溶液で満たされた耐食処理槽31に浸漬し、2組の第1の電極板311aおよび311bを使用することによる電着ステップによって、2つの表面処理層42を裸銅箔の両面にそれぞれ付着させた。
クロメート溶液の組成および第1の表面処理の製造パラメータを以下に示す。
1.クロメート溶液の組成:クロム酸(CrO):1.5g/L
2.製造パラメータ:
(1)クロメート溶液の温度:25℃;
(2)電流密度:0.5A/dm;および
(3)処理時間:2秒
第1の表面処理の終了後、耐食処理が施された裸銅箔は、第2のガイドローラ212に案内された後、エアナイフ22によって乾燥された。その後、前述の銅箔は、第3のガイドローラ213を介して巻取ローラ23に案内され、前述の銅箔は巻き取られ、電解銅箔40が得られた。
前述のプロセスにしたがって、実施例1〜9の電解銅箔がそれぞれ得られた。図2に示すように、各実施例の電解銅箔40は、ベース銅層41(すなわち、裸銅箔が耐食処理によって処理されていない)および2つの表面処理層42を備えていた。ベース銅層41は、析出面411と、析出面411の反対側のドラム面412とを備えていた。表面処理層42は、第1の表面処理層42a(すなわち、第1のクロム層)および第2の表面処理層42b(すなわち、第2のクロム層)を備えていた。第1の表面処理層42aは、ベース銅層41の析出面411を直接被覆し、第2の表面処理層42bは、ベース銅層41のドラム面412を直接被覆していた。
比較例1〜4:
比較例1〜4の電解銅箔を、実施例1〜9の電解銅箔の対照として使用し、比較例1〜4の電解銅箔は、実施例1〜9の電解銅箔を製造するために使用したのと同様のプロセスによって製造した。実施例と比較例のプロセスの主な相違点は、銅電解液中のレベラーとアクセラレータとの間の含有率(PVP:2.0mg/L〜8.25mg/LおよびUPS:2.5mg/L)および使用するカソードドラムの表面の粒度である。上記パラメータを全て表1に示した。さらに、比較例1〜4の電解銅箔の構造は、図2に示された構造であった。
実施例10〜14:
実施例10〜14は、図3に示す製造装置を使用し、電着ステップおよび複数の表面処理ステップなどの実質的に同じプロセスを順次行って、実施例10から14の電解銅箔を得た。実施例10〜14の間の主な相違点は、複数の表面処理ステップのパラメータおよび処理されるべき所望の表面である。
図3に示すように、電解銅箔40の製造装置は、電着装置10と、一連のガイドローラ20と、表面処理装置30とを備えている。電着装置10は、カソードドラム11、アノード板12、銅電解液13、および供給管14を備えている。アノード板12は、カソードドラム11の下方に設置され、カソードドラム11の下半分を取り囲んでいる。供給管14を介して銅電解液13が導入されることを可能にするように、カソードドラム11とアノード板12との間に空間が存在している。表面処理装置30は、酸洗処理槽32と、ノジュール処理槽33と、ノジュール処理槽33の中に配置された1組の第2の電極板331と、銅被覆処理槽34と、銅被覆処理槽34の中に配置された1組の第3の電極板341と、ニッケルメッキ槽35と、ニッケルメッキ槽35の中に配置された1組の第4の電極板351と、亜鉛メッキ槽36と、亜鉛メッキ槽36の中に配置された2組の第5の電極板361aおよび361bと、クロムメッキ槽37と、クロムメッキ槽37の中に配置された2組の第6の電極板371aおよび371bと、シランカップリング剤噴霧装置38と、乾燥機39とを備えている。一連のガイドローラ20は、第1のガイドローラ211と、第2のガイドローラ212と、第3のガイドローラ213と、第4のガイドローラ214と、第5のガイドローラ215と、第6のガイドローラ216と、第7のガイドローラ217と、巻取ローラ23とを備えている。一連のガイドローラ22は、裸銅箔、各表面処理が施された銅箔、および製品を搬送するために使用され、最終的に、電解銅箔40は、巻取ローラ23に巻き取られることによって得られる。
図3に示す製造装置を用いて実施例10〜14の電解銅箔40を製造する方法を以下に説明する。
電着ステップ
実施例10〜14には、全て同じ電着ステップを施した。電着ステップでは、銅電解液13を52℃の温度に制御し、40A/dmの電流密度を有する電流をカソードドラム11とアノード板12との間に流し、銅電解液13中の銅イオンをカソードドラム11の表面に電着させ、裸銅箔を形成した。続いて、裸銅箔をカソードドラム11から剥がし、第1のガイドローラ211に案内した。前述の銅電解液13の組成は、実施例7で使用した銅電解液と同一であり、前述のカソードドラム11の表面もまた、実施例7で使用したカソードドラムと同じ粒度を有していた。
表面処理ステップ
実施例10〜14の表面処理ステップは、いくつかの相違点を有していたため、実施例で用いた表面処理ステップをそれぞれ以下で説明する。
第2の表面処理によって得られた実施例10の電解銅箔
第2の表面処理は、以下の7つの表面処理手順を含み、各表面処理手順におけるそれらのパラメータは、以下のとおりである。
I.酸洗処理:
実施例10の裸銅箔を、第1のガイドローラ211を介して酸洗槽32に搬送し、前述の裸銅箔を酸洗液に浸漬して裸銅箔の両面を洗浄した。酸洗液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.酸洗液の組成:
(1)硫酸銅(CuSO・5HO):200g/L;および
(2)硫酸:100g/L
2.製造パラメータ:
(1)酸洗液の温度:25℃;および
(2)処理時間:5秒
以上の手順が完了した後、酸洗処理が施された裸銅箔は、第2のガイドローラ212に案内された後、ノジュール処理槽33に搬送された。図4Aに示すように、この実施例では、酸洗処理後の裸銅箔は、析出面411と析出面411の反対側のドラム面412とを備える本開示のベース銅箔41に対応する。
II.ノジュール処理:
酸洗処理後の裸銅箔を、ノジュール処理槽33の粗化液に浸漬し、析出面411に第2の電極板331による電着処理を施し、析出面411上にノジュール処理層421を付着形成させた。粗化液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.粗化液の組成:
(1)硫酸銅(CuSO・5HO):200g/L;および
(2)硫酸:100g/L
2.製造パラメータ:
(1)粗化液の温度:25℃;
(2)電流密度:40A/dm;および
(3)処理時間:5秒
以上の手順が完了した後、ノジュール処理が施された銅箔は、第3のガイドローラ213に案内され、その後、銅被覆処理槽34に搬送された。
III.銅被覆処理:
ノジュール処理後の銅箔を銅被覆処理槽34の銅被覆溶液に浸漬し、ノジュール処理層421に第3の電極板341による電着処理を施して、ノジュール処理層421上に銅被覆層422を付着形成させた。銅被覆溶液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.銅被覆溶液の組成:
(1)硫酸銅(CuSO・5HO):320g/L;および
(2)硫酸:100g/L
2.製造パラメータ:
(1)銅被覆溶液の温度:40℃;
(2)電流密度:20A/dm;および
(3)処理時間:5秒
以上の手順が完了した後、銅被覆処理が施された銅箔は、第4のガイドローラ214に案内され、その後、ニッケルメッキ槽35に搬送された。
IV.ニッケルメッキ:
銅被覆処理後の銅箔をニッケルメッキ槽35のニッケル電解液に浸漬し、銅被覆層422に第4の電極板351による電着処理を施して、銅被覆層422上にニッケル層423を付着形成させた。ニッケル電解液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.ニッケル電解液の組成:
(1)硫酸ニッケル(II)(NiSO・6HO):170g/L〜200g/L;および
(2)ホウ酸:20g/L〜40g/L
2.製造パラメータ:
(1)ニッケル電解液の温度:20℃;
(2)電流密度:0.5A/dm;および
(3)処理時間:10秒
以上の手順が完了した後、ニッケルメッキが施された銅箔は、第5のガイドローラ215に案内された後、亜鉛メッキ槽36に搬送された。
V.亜鉛メッキ:
ニッケルメッキ後の銅箔を亜鉛メッキ槽36の亜鉛電解液に浸漬し、2組の第5の電極板361aおよび361bによってニッケル層423およびドラム面412にそれぞれ電着処理を施し、ニッケル層423上に第1の亜鉛層424aを、ドラム面412上に第2の亜鉛層424bを付着形成させた。亜鉛電解液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.亜鉛電解液の組成:
(1)硫酸亜鉛(ZnSO・7HO):5g/L〜15g/L;および
(2)トリオキソバナジン酸アンモニウム(V):0.1g/L〜0.4g/L
2.製造パラメータ:
(1)亜鉛電解液の温度:20℃;
(2)電流密度:0.5A/dm;および
(3)処理時間:10秒
以上の手順が完了した後、亜鉛メッキが施された銅箔は、第6のガイドローラ216に案内され、その後、クロムメッキ槽37に搬送された。
VI.クロムメッキ:
亜鉛メッキ後の銅箔をクロムメッキ槽37のクロム電解液に浸漬し、2組の第6の電極板371aおよび371bによって第1の亜鉛層424aおよび第2の亜鉛層424bにそれぞれ電着処理を施し、第1の亜鉛層424a上に第1のクロム層425aを、第2の亜鉛層424b上に第2のクロム層425bを付着形成させた。クロム電解液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.クロム電解液の組成:
(1)クロム酸(CrO):1.6g/L〜1.8g/L
2.製造パラメータ:
(1)クロム電解液の温度:45℃;
(2)電流密度:2.7A/dm;および
(3)処理時間:10秒
以上の手順が完了した後、クロムメッキが施された銅箔は、第7のガイドローラ217に案内された。
VII.シランカップリング処理:
クロムメッキ後の銅箔を、第7のガイドローラ217を介して巻取ローラ23に導入する途中で、シランカップリング剤を含む溶液を、シランカップリング剤噴霧装置38によって第1のクロム層425aの表面に噴霧し、第1のクロム層425a上にシランカップリング層426を付着形成させた。シランカップリング剤を含む溶液の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.シランカップリング剤を含む溶液の組成:
(1)3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(製品名:KBM 403):0.25重量%の水溶液。
2.製造パラメータ:
(1)処理時間:10秒。
第2の表面処理が完了した後、シランカップリング処理された銅箔を乾燥機39に案内した。その後、前述の銅箔は、巻取ローラ23に案内され、前述の銅箔を巻き取って電解銅箔40を得た。
第3の表面処理によって得られた実施例11の電解銅箔
実施例11の電解銅箔の製造に使用したプロセスは、実施例10で使用した第2の表面処理を実施例11で使用した第3の表面処理に置き換えたことを除いて、実施例10の電解銅箔の製造に使用したプロセスと同様であった。第2の表面処理と第3の表面処理の相違点は、ノジュール処理手順におけるそれぞれの電流密度であり、第3の表面処理のノジュール処理における電流密度は、35A/dmであった。
第4の表面処理によって得られた実施例12の電解銅箔
実施例12の電解銅箔の製造に使用したプロセスは、実施例10で使用した第2の表面処理を実施例12で使用した第4の表面処理に置き換えたことを除いて、実施例10の電解銅箔の製造に使用したプロセスと同様であった。第2の表面処理と第4の表面処理の相違点は、ノジュール処理手順におけるそれぞれの電流密度であり、第4の表面処理のノジュール処理における電流密度は、20A/dmであった。
第5の表面処理によって得られた実施例13の電解銅箔
実施例13の電解銅箔の製造に使用したプロセスは、実施例10で使用した第2の表面処理を実施例13で使用した第5の表面処理に置き換えたことを除いて、実施例10の電解銅箔の製造に使用したプロセスと同様であった。第2の表面処理と第5の表面処理の相違点は、ノジュール処理手順におけるそれぞれの電流密度であり、第5の表面処理のノジュール処理における電流密度は、55A/dmであった。
第6の表面処理によって得られた実施例14の電解銅箔
実施例14の電解銅箔の製造に使用したプロセスは、実施例10で使用した第2の表面処理を実施例14で使用した第6の表面処理に置き換えたことを除いて、実施例10の電解銅箔の製造に使用したプロセスと同様であった。第2の表面処理と第6の表面処理の相違点は、ノジュール処理手順におけるそれぞれの電流密度と、ノジュール処理手順が施される表面であり、第6の表面処理のノジュール処理における電流密度は、30A/dmであり、第6の表面処理のノジュール処理手順が施される表面は、ドラム面412であった。したがって、ニッケル層423および析出面411には、それぞれ、第6の表面処理の亜鉛メッキが施された。
前述のプロセスにしたがって、実施例10〜14の電解銅箔がそれぞれ得られた。
図4Aを参照すると、実施例10〜13の電解銅箔40は、それぞれ、ベース銅層41と、第1の表面処理層42aと、第2の表面処理層42bとを備えていた。ベース銅層41は、析出面411と、析出面411の反対側のドラム面412とを備えていた。表面処理層42aは、ベース銅層41の析出面411に堆積され、析出面411上のノジュール処理層421と、銅被覆層422と、ニッケル層423と、第1の亜鉛層424aと、第1のクロム層425aと、シランカップリング層426とをこの順で備えていた。第2の表面処理層42bは、ベース銅層41のドラム面412上に堆積され、ドラム面412上の第2の亜鉛層424bと第2のクロム層425bとをこの順で備えていた。
さらに、図4Bに示すように、実施例14の電解銅箔40は、ベース銅層41と、第1の表面処理層42aと、第2の表面処理層42bとを備えていた。ベース銅層41は、析出面411と、析出面411の反対側のドラム面412とを備えていた。表面処理層42aは、ベース銅層41のドラム面412に堆積され、ドラム面412上のノジュール処理層421と、銅被覆層422と、ニッケル層423と、第1の亜鉛層424aと、第1のクロム層425aと、シランカップリング層426とをこの順で備えていた。第2の表面処理層42bは、ベース銅層41の析出面411に堆積され、第2の亜鉛層424bと第2のクロム層425bとをこの順で備えていた。
分析1:電解銅箔の単位面積当たりの重量および平均厚さ
実施例1〜14(E1〜E14と表記)および比較例1〜4(C1〜C4と表記)の電解銅箔それぞれを、長さおよび幅が100mmのサンプルに切断し、マイクロバランスAG−204(Mettler Toledo International Inc.から購入)によって各サンプルの重量を測定し、さらに、各サンプルの測定重量値をその面積で除し、単位をg/mに変換して、各電解銅箔の単位面積当たりの重量を得た。
さらに、IPC−TM−650 2.4.18の標準試験法によれば、各電解銅箔の密度は、約8.909×10g/mであった。そして、下記式(I)により、E1〜E14およびC1〜C4の電解銅箔のそれぞれの平均厚さをそれぞれ算出した。E1〜E14およびC1〜C4の各電解銅箔の単位面積当たりの重量および平均厚さを表1に示した。
電解銅箔の平均厚さ(μm)=電解銅箔の単位面積当たりの重量/密度 (I)
分析2:電解銅箔のシャルピー衝撃強さ
E1〜E14およびC1〜C4の各電解銅箔を、ノッチを有しないサンプルに切断した。
サンプルを、3層のテープによって衝撃試験機のステージの側壁に垂直に接着した後、衝撃試験機の振り子を所定の高さから落とし、サンプルの中心に衝撃を与えた。サンプルのシャルピー衝撃強さは、破壊直前の単位面積当たりの吸収エネルギー量で表される。結果を表1に示した。関連する試験条件を以下に示す。
1.衝撃試験機:Toyo Seiki Seisaku−sho,Ltd製、No.611;
2.テープ:Yem Chio Co.,Ltdから購入した幅18mmのBOPP Packing Tape;
3.各サンプルのサイズ:長さ83mm×幅15mm;
4.温度:25±5℃;
5.振り子の質量(W):0.938kg;
6.振り子の重心から回転中心までの長さ(R):0.20157m;および
7.落下角(α):125.58°
分析3:電解銅箔のしわ試験
スリッタ機を使用して張力をかけた後にしわが発生したかどうか、E1〜E14およびC1〜C4の電解銅箔の表面をそれぞれ検査した。
幅1380mmを有する各サンプルをスリッタ機の2つの水平固定ロール(距離:700mm)の間に供給した後、2つの水平固定ロールを回転させて、サンプルに異なる張力を加えた。10kgの張力をかけたときに、サンプルの表面にしわが目視で観察された。表1に示された検査結果として、「合格」は表面にしわがないことを意味し、「不合格」は表面にしわがあったことを意味する。
Figure 0006861304
電解銅箔の特性に関する検討
表1の分析結果から、特定の適切な範囲のシャルピー衝撃強さを有するE1〜E14の電解銅箔は、改善されたしわ耐性を有し、電解銅箔の表面にしわの発生を回避することが実証され、電解銅箔の生産歩留まりが改善される。電解銅箔の厚さに関係なく、例えば、E9〜E14の電解銅箔などのより厚い電解銅箔、またはE8の電解銅箔などのより薄い電解銅箔に関係なく、電解銅箔の表面のしわの発生は、全て軽減され、さらには回避され得る。対照的に、特定の適切な範囲内にシャルピー衝撃強さが制御されていないC1〜C4の電解銅箔を参照すると、C1〜C4の電解銅箔は、しわを有し、その後の用途にとって不利である。
分析4:電解銅箔の表面プロファイル
E1〜E14およびC1〜C4の電解銅箔を、表面粗さ計によって電解銅箔の表面プロファイルについてさらに分析した。JIS B 0601−2013の標準法にしたがって、E1〜E9およびC1〜C4の電解銅箔の第1の表面処理層のRqおよびRSmを測定し、表2に示す。E10〜E14の電解銅箔の第1の表面処理層のRqおよびRSmを測定し、表3に示す。関連する試験条件を以下に示す。
1.表面粗さ計:Kosaka Laboratory製のSE600モデル;
2.スタイラス先端の半径:2μm;
3.スタイラス先端の角度:90°;
4.走査速度:0.5mm/秒;
5.フィルタのカットオフ:0.8mm(λc)および2.5μm(λs);および
6.評価長さ:4mm
さらに、得られたRSmおよびRq、ならびに下記式(II)にしたがって、E1およびE14ならびにC1〜C4の電解銅箔の表面プロファイルのアスペクト比を算出した。結果を表2および3に示す。
表面プロファイルのアスペクト比=RSm(μm)/Rq(μm) (II)
<リチウムイオン電池用電極>
E1〜E9およびC1〜C4のそれぞれの電解銅箔の第1の表面処理層上に、それぞれ、負極スラリーを被覆した。被覆が完了した後、被覆された電解銅箔を乾燥し、次いでプレス機によって圧延して、実施例1−Aから9−A(E1−A〜E9−Aとして表記)および比較例1−A〜4−A(C1−A〜C4−Aとして表記)の電極であるリチウムイオン電池用負極を得た。負極スラリーは、負極活物質100重量部と、1−メチル−2−ピロリドン(NMP)60重量部とから構成されている。負極活物質の組成および関連する製造パラメータを以下に示す。
1.負極活物質の組成:(負極活物質の総重量に基づく)
(1)メソフェーズグラファイトパウダー(MGP):93.9重量%;
(2)導電性添加剤:1重量%の導電性カーボンブラック(Super P(登録商標));
(3)溶剤ベースのバインダ:5重量%のポリ−1,1−ジフルオロエテン(PVDF 6020);および
(4)シュウ酸:0.1重量%
2.製造パラメータ:
(1)被覆速度:5m/分;
(2)被覆厚さ:200μm;
(3)乾燥温度:160℃;
(4)プレス機のローラの材質、サイズおよび硬度:高炭素クロム軸受鋼(SUJ2)製;直径250mm;およびロックウェル硬度(HRC)62〜65;および
(5)圧延の速度および圧力:1m/分の速度;3000ポンド/平方インチ(psi)の圧力
分析5:電極の剥離強度の分析(剥離強度試験I)
E1−A〜E9−AおよびC1−A〜C4−Aの各電極をサンプルに切断した。サンプルの両面をそれぞれテープに接着し、万能試験機によって電解銅箔の第1の表面処理層と各サンプルの負極活物質との間の剥離強度を分析し、分析結果を表2に示した。電解銅箔の第1の表面処理層と負極活物質とが分離されなかった場合、その結果を「合格」と表記し、電解銅箔の第1の表面処理層と負極活物質とが分離された場合、その結果を「不合格」と表記した。関連する試験条件を以下に示す。
1.万能試験機:IMADA CO.,LTD.製TKS−20N;
2.サンプルサイズ:100mm×50mm;
3.テープ:3M Company製の810 D;
4.実施温度:15℃〜35℃;
5.剥離角度:90°;および
6.剥離速度:50mm/分
Figure 0006861304
表1および表2に示す分析結果のように、E1〜E9の電解銅箔にはしわがないため、それらを使用したE1−A〜E9−Aの電極は、剥離強度試験Iに合格することができた。すなわち、E1〜E9の電解銅箔を含む電極は、実際に、より良好な接着性を有することが実証され、このことは、より長い電池寿命を有することを意味し、リチウムイオン電池の電極にとって有利である。
<銅張積層板>
E10〜E14の各電解銅箔は、その第1の表面処理層が樹脂基材に面しており、その後、積層ステップに供された。その後、E10〜E14の電解銅箔にそれぞれ10mm幅の回路を形成して、実施例10−A〜14−Aの銅張積層板(E10−A〜E14−Aと表記)を得た。関連する製造パラメータを以下に示す。
1.樹脂基材:誘電性熱硬化性樹脂層を含むプリプレグ(Chang Chun Plastics Co.,Ltd.から製造されたCCP−609G);および
2.積層ステップの温度、圧力および時間:200℃、400psi、および120分
分析6:銅張積層板の剥離強度の分析(剥離強度試験II)
IPC−TM−650 2.4.8.5の標準法にしたがって、E10−A〜E14−Aの銅張積層板のそれぞれの剥離強度を分析した。剥離強度とは、電解銅箔と基材との間の接着性を指す。分析結果を表3に示す。銅張積層板の剥離強度が1.0kg/cmを超える場合、結果を「◎」で表し、銅張積層板の剥離強度が0.6kg/cm以上1.0kg/cm以下の場合、結果を「○」で表し、銅張積層板の剥離強度が0.1kg/cm以上0.6kg/cm未満の場合、結果を「△」で表した。
Figure 0006861304
表1および表3に示す分析結果のように、E10〜E14の電解銅箔にはしわがないため、それらを含む銅張積層板は、全て剥離強度試験IIに合格することができた。すなわち、E10〜E14の電解銅箔を含む銅張積層板は、実際に、樹脂基材の誘電体材料に対して良好な接着性を有することが実証された。
さらにまた、実施例10−A〜14−Aの剥離強度の比較結果から、電解銅箔10、11および14の表面プロファイルのアスペクト比は、30〜400の範囲内であり、さらに、電解銅箔10および11の表面プロファイルのアスペクト比は、35〜100の範囲内であり、得られた実施例10−A、11−Aおよび14−Aの銅張積層板は、より高い剥離強度を有していた。電解銅箔の表面が上記範囲内の表面プロファイルのアスペクト比を有する場合、その表面は、より良好なアンカー効果を提供することができ、それにより、誘電体材料への電解銅箔の表面のより高い接着性を提供することができると説明できる。一方で、表面プロファイルのアスペクト比が低すぎる場合(例えば、14)、その表面は、より深い谷を有する可能性があり(すなわち、Rqが高すぎる)、それにより、樹脂基材などの付着材料がその谷に充填されないことがある。結果として、接着性の改善は、それほど明白ではないであろう。一方で、表面プロファイルのアスペクト比が高すぎる場合((例えば、693)、その表面の凹凸の程度は浅く(すなわち、Rqが小さすぎる)、それにより、接着性の改善もそれほど明白ではなかった。
表1〜表3における上記結果に基づいて、本発明の技術的手段は、電解銅箔のシャルピー衝撃強さの範囲を制御することにより、電解銅箔の表面のしわの発生を効果的に低減またはさらには回避することができ、それにより、電解銅箔の生産歩留まりの改善を実現する。さらに、本発明の技術的手段は、電解銅箔に、その後の用途におけるより良好な接着性を提供することができ、それにより、得られる製品の寿命を延ばすことができる。
本開示の構造および特徴の詳細とともに、本開示の多数の特徴および利点が前述の説明に記載されているが、その開示は例示にすぎない。特に、添付の特許請求の範囲が表現される用語の広い一般的意味によって示される全範囲まで、本開示の原理内の部品の形状、サイズ、および配置に関して、詳細に変更を加えることができる。

Claims (15)

  1. ベース銅層を含む電解銅箔であって、
    前記電解銅箔のシャルピー衝撃強さが、0.4J/mm〜5.8J/mmの範囲であり、前記電解銅箔の前記シャルピー衝撃強さは、25±5℃の温度で、ノッチのない試験片を使用したシャルピー衝撃試験によって測定され、前記試験片は、83mmの長さと15mmの幅のサイズを有する、
    電解銅箔。
  2. 前記電解銅箔の前記シャルピー衝撃強さは、0.5J/mm〜5.3J/mmの範囲である、請求項1に記載の電解銅箔。
  3. 前記電解銅箔は2つの対向する表面を有し、前記電解銅箔の2つの表面の少なくとも一方は、14〜693の表面プロファイルのアスペクト比を有し、前記表面プロファイルのアスペクト比は、粗さプロファイルの二乗平均平方根高さ(Rq)に対する粗さプロファイル要素の平均長さ(RSm)の比である、請求項1または2に記載の電解銅箔。
  4. 前記表面プロファイルのアスペクト比は、37〜506の範囲である、請求項3に記載の電解銅箔。
  5. 前記RSmは、9μm〜523μmの範囲である、請求項3または4に記載の電解銅箔。
  6. 前記Rqは、0.14μm〜1.34μmの範囲である、請求項3から5のいずれか一項に記載の電解銅箔。
  7. 前記Rqは、0.16μm〜1.25μmの範囲である、請求項3から6のいずれか一項に記載の電解銅箔。
  8. 前記ベース銅層は、ドラム面と前記ドラム面の反対側の析出面とを有し、前記電解銅箔は、さらに、前記ベース銅層のドラム面および析出面のうちの少なくとも一方の上に形成された少なくとも1つの表面処理層を含む、請求項1から7のいずれか一項に記載の電解銅箔。
  9. 前記少なくとも1つの表面処理層は、耐食層を含む、請求項8に記載の電解銅箔。
  10. 前記少なくとも1つの表面処理層は、ノジュール処理層を含む、請求項8に記載の電解銅箔。
  11. 前記少なくとも1つの表面処理層は、さらに、前記ノジュール処理層上に形成された少なくとも1つのサブ層を含み、前記少なくとも1つのサブ層は、銅被覆層、ニッケル層、亜鉛層、クロム層、およびシランカップリング層からなる群から選択される、請求項10に記載の電解銅箔。
  12. 前記少なくとも1つの表面処理層は、前記ベース銅層のドラム面または析出面に形成された第1の表面処理層である、請求項8に記載の電解銅箔。
  13. 前記少なくとも1つの表面処理層は、前記ベース銅層のドラム面および析出面にそれぞれ形成される第1の表面処理層および第2の表面処理層を含む、請求項8に記載の電解銅箔。
  14. 請求項1から13のいずれか一項に記載の電解銅箔と、少なくとも1種のバインダと、少なくとも1種の活物質とを含むリチウムイオン電池用電極。
  15. 請求項1から13のいずれか一項に記載の電解銅箔と、樹脂基材と、を含む銅張積層板。
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