JP6796016B2 - 分光分析装置及び分光分析方法 - Google Patents

分光分析装置及び分光分析方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6796016B2
JP6796016B2 JP2017070551A JP2017070551A JP6796016B2 JP 6796016 B2 JP6796016 B2 JP 6796016B2 JP 2017070551 A JP2017070551 A JP 2017070551A JP 2017070551 A JP2017070551 A JP 2017070551A JP 6796016 B2 JP6796016 B2 JP 6796016B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
concentration
axis
predetermined component
relational expression
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017070551A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017194458A (ja
Inventor
克美 西村
克美 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Publication of JP2017194458A publication Critical patent/JP2017194458A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6796016B2 publication Critical patent/JP6796016B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0297Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/26Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0027General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
    • G01N33/0036General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector specially adapted to detect a particular component
    • G01N33/0037NOx
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0027General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
    • G01N33/0036General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector specially adapted to detect a particular component
    • G01N33/004CO or CO2
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N2021/3595Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/127Calibration; base line adjustment; drift compensation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/002D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/20Drawing from basic elements, e.g. lines or circles
    • G06T11/206Drawing of charts or graphs
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02ATECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
    • Y02A50/00TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE in human health protection, e.g. against extreme weather
    • Y02A50/20Air quality improvement or preservation, e.g. vehicle emission control or emission reduction by using catalytic converters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Description

本発明は、例えばフーリエ変換赤外分光法などの赤外分光法を用いた分光分析装置に関するものである。
従来、例えば排ガス等の試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定するものとして、例えばFTIR(フーリエ変換赤外分光)法を用いたものがある(特許文献1)。
このFTIR法を用いた分析装置では、測定セルの上流側にポンプが設けられており、測定セルにおける試料ガスの圧力は大気圧又はその近傍の圧力となる。つまり、試料ガスの測定時の圧力は、大気圧又はその近傍の圧力である。
ここで、所定成分の濃度は、複数の既知のガス濃度と吸光度との関係から求めた検量線を用いて濃度計算した後、試料ガスの測定時の圧力に影響を受けているため、試料ガスの圧力による補正が行われる。
上述したように、試料ガスの測定時の圧力は、大気圧又はその近傍の圧力であるため、前記検量線は、大気圧下で作成されたものが用いられている。この場合、圧力による濃度の補正は、圧力と濃度の関係が単純な比例関係にあると想定して、原点を通る直線関係式を用いて行われている。なぜならば、従来は測定時の圧力が大気圧付近であったため、圧力ブロードニングの影響が少なく、ガスの分圧に比例して吸光度が変化すると考え、切片なしの直線関係式で補正できていたからである。具体的には、以下の式を用いて圧力補正を行っている。
ここで、Cx_pressは、成分xの圧力補正後の濃度である。
xは、成分xの圧力補正係数(通常はax=P:基準圧力)である。
Pは、測定セル内の圧力[kPa]である。
xは、成分xの圧力補正前の濃度である。
特開平9−101257号公報
ところで、測定セルの上流側にポンプを配置して排ガスを圧送する構成では、排ガスに含まれる水分の結露を防止するためにポンプが高温に加熱されており、その加熱温度により排ガス流量が変動するため、流量コントロールが難しいという問題がある。
そこで、本願発明者は、測定セルの下流側にポンプを配置して排ガスを吸引する構成にすることで、ポンプの加熱を不要又はその加熱温度を下げる構成を考えている。
しかしながら、測定セルの下流側にポンプを配置する構成では、測定セル内の試料ガスが減圧状態となってしまい、従来の切片なしの直線関係式では正確に圧力補正ができないという知見を得た。これは減圧下で圧力を僅かに変化させて圧力補正していない濃度をプロット(図4参照)すると、圧力を2kPa程度上げて測定した際には、従来の直線関係式で求められる濃度値よりも高めになり、逆に2kPa程度下げて測定した際には、従来の直線関係式で求められる濃度値よりも低めになっていたため、規格のFS(Full Scale)の1%以内に入らないことが判明したことによる。この問題は特に、高濃度のCO成分、CO成分の測定時に顕著に表れた。
そこで本発明は、上記問題点を一挙に解決すべくなされたものであり、大気圧よりも減圧した状態で試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定した場合に、所定成分の濃度を精度良く求めることをその主たる課題とするものである。
すなわち本発明に係る分光分析装置は、試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定する分光分析装置であって、大気圧よりも減圧した状態で前記試料ガスに含まれる所定成分の吸光度を測定するとともに、前記所定成分の吸光度と前記所定成分の濃度との関係を示す検量線と、測定時の試料ガスの圧力と前記所定成分の濃度との関係式とを用いて、前記所定成分の濃度を算出するものであり、一方の軸を圧力軸とし、他方の軸を濃度軸としたグラフおいて、前記関係式は、前記圧力軸とゼロ以外の交点を有するものであることを特徴とする。
また、本発明に係る分光分析方法は、試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定する分光分析方法であって、大気圧よりも減圧した状態で前記試料ガスに含まれる所定成分の吸光度を測定するとともに、前記所定成分の吸光度と前記所定成分の濃度との関係を示す検量線と、測定時の試料ガスの圧力と前記所定成分の濃度との関係式とを用いて、前記所定成分の濃度を算出するものであり、一方の軸を圧力軸とし、他方の軸を濃度軸としたグラフおいて、前記関係式は、前記圧力軸とゼロ以外の交点を有するものであることを特徴とする。
ここで、X軸を圧力軸とし、Y軸を濃度軸としたグラフにおいて、前記関係式は、直線関係にあるものであることが望ましい。また、X軸を圧力軸とし、Y軸を濃度軸としたグラフにおいて、前記関係式は、2次式関係にあるものであることが望ましい。
このように構成した本発明によれば、大気圧よりも減圧した条件下で測定した場合の所定成分の濃度の圧力補正を、測定時の試料ガスの圧力と所定成分の濃度とが直線関係にあり、且つ、圧力軸とゼロ以外の交点を有する関係式を用いているので、大気圧よりも減圧した状態で試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定した場合に、所定成分の濃度を精度良く求めることができる。
本実施形態の赤外分光分析装置の構成を示す模式図である。 同実施形態における圧力と補正前の濃度との関係式のグラフである。 変形実施形態における関係式の演算ソフトウェアによる画面表示を示す図である。 従来の赤外分光分析装置の圧力と補正前の濃度との関係式のグラフである。
以下に本発明に係る赤外分光分析装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態の赤外分光分析装置100は、例えば自動車などの内燃機関から排出される試料ガスである排ガスに含まれる複数の成分の濃度を時系列データとして測定する排ガス分析装置である。
具体的にこの赤外分光分析装置100は、図1に示すように、例えば自動車のテールパイプから出る排ガスの一部又は全部を試料採取部2により採取して、当該試料採取部2により採取された排ガスを希釈することなく測定セル3に導入して、FTIR法により排ガス中の例えば一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(CO)、一酸化窒素(NO)、二酸化窒素(NO)、窒素酸化物(NOx)、水(HO)等の複数の成分について各濃度を測定するものである。
また、赤外分光分析装置100において、測定セル3が設けられた排ガスラインL1には、測定セル3の下流側に、排ガスを測定セル3に導入するための吸引ポンプ4が設けられている。その他、排ガスラインL1には、排ガスの流量を調整するバルブ5、オリフィス51、排ガスの流量を測定する流量計6、排ガス中の塵埃を除去するフィルタ7等が設けられている。また、排ガスラインL1又は測定セル3には、光検出器9の校正を行うためのゼロガス、スパンガスを測定セル3に供給する基準ガス供給ラインL2、及び、排ガスラインL1又は測定セル3を清浄するためのパージガスラインL3が接続されている。
さらに、赤外分光分析装置100は、測定セル3に向かって干渉させた赤外光を照射する干渉計部8と、測定セル3を通過して射出された光の強度を検出する光検出器9とを備えている。そして、赤外分光分析装置100は、光検出器9により得られた光強度信号を用いて排ガスの赤外吸収スペクトルを算出して、この赤外吸収スペクトルの吸光度から、複数の成分の濃度を算出する。
ここで、測定セル3に導入される試料ガスは、吸引ポンプ4により吸引されているため、大気圧よりも小さい圧力(75kPa〜85kPa)に減圧された状態である。そのため、赤外分光分析装置100は、所定成分の吸光度と所定成分の濃度との関係を示す検量線データを格納する検量線データ格納部10と、赤外吸収スペクトルの吸光度と検量線データが示す検量線とから、所定成分の濃度を算出する濃度算出部11と、測定時の試料ガスの圧力と所定成分の濃度との関係を示す関係式データを格納する関係式データ格納部12と、測定時の試料ガスの圧力と関係式データが示す関係式とから成分の濃度を補正する圧力補正部13とを備えている。
ここで、検量線データ格納部10は、所定の圧力(例えば基準圧力)下で作成された検量線データを格納している。この検量線は、各成分の濃度(複数の代表値であり、例えばCOの場合には、濃度2%、4%、6%、8%等である。)とそれぞれの吸光度の関係を定めたものである。
また、関係式データ格納部12は、測定時の試料ガスの圧力と所定成分の濃度との関係を示す関係式データを格納している。この関係式は、直線であり、且つ、圧力軸とゼロ以外の交点(以下、本実施形態の圧力係数)を有するものである。つまり、この関係式は、原点を通らない直線である。なお、関係式データ格納部12は、関係式の圧力係数を示すデータを格納するものであっても良い。
図2には、CO濃度が既知の標準ガスを用いて、80kPa、82kPa及び84kPaの減圧下においてCO濃度4水準を測定した際の圧力と圧力補正していない濃度との関係を示している。なお、図2のグラフは、X軸を圧力とし、Y軸をCO濃度としたものである。
図2のグラフから分かるように、各CO濃度水準における関係式は、何れも直線であり、且つ、X切片を有する(原点を通らない)ものとなっている。また、各CO濃度水準における関係式は、何れもCO濃度ゼロにおいて交わっており、各濃度水準における関係式のX切片は、ほぼ同じ値を取ることが分かった。
圧力補正部13は、濃度算出部11から圧力補正前の濃度を取得するとともに、測定セル3内の試料ガスの圧力を測定する圧力センサ14からの測定時の圧力を取得する。さらに、圧力補正部13は、関係式データ格納部12から関係式データを取得する。なお、圧力センサ14は、測定セル3内の試料ガスの圧力を測定できる部分に設けられており、測定セル3に設けられている。
そして、圧力補正部13は、以下の式により、濃度算出部11により得られた濃度を圧力補正する。
ここで、Cx_pressは、成分xの圧力補正後の濃度である。
xは、成分xの圧力補正定数(通常はax=P:基準圧力)である。
Pは、測定セル内の圧力[kPa]である。
xは、成分xの圧力補正前の濃度である。
Px_cは、成分xの圧力係数[kPa](関係式のX切片)である。
なお、Px_cは、各成分の検量線毎に設定され、その値が関係式データ格納部12に格納されている。そのデフォルト値は0である。検量線作成時の各スペクトルの換算濃度の計算は、Px_c=0で従来通りの計算とする。Px_cは、検量線作成後にスパンガスを流しながら、圧力補正無しで圧力をいくつか変えて測定した指示値から求める。
次に、このように構成した赤外分光分析装置100において、圧力補正前の濃度(以下の表1)に対して圧力補正を行った後の濃度(以下の表2)を示す。なお、以下のデータは、CO濃度が既知(10%)の標準ガス(スパンガス)を10分割して、各ガス(1/10(濃度1%)、2/10(濃度2%)、・・・、10/10(濃度10%))におけるCO濃度の測定結果である。また、検量線は、80kPaで検量線スペクトルを測定し、基準圧力100kPaで作成したものである。
以下の、表1(補正前の濃度)及び表2(補正後の濃度)を比較すると、表2から分かるように、80kPa、82kPa、84kPaでは、ほぼ濃度演算結果は一致しており、圧力補正が精度良く行えていることが分かる。なお、表2(補正後の濃度)の10/10のデータについては、82kPa、84kPaの測定時に何らかの異常があったため、補正値が一致していないと考えられる。また、表2(補正後の濃度)において補正値は、100kPaの基準圧力のボンベ濃度(標準ガスのCO濃度)と一致していないが、これは圧力補正後の測定値でスパン感度校正をしていないためであり、スパン感度校正をすることで合わせ込むことができる。
このように構成した本実施形態の赤外分光分析装置100によれば、大気圧よりも減圧した条件下で測定した場合の所定成分の濃度の圧力補正を、測定時の試料ガスの圧力と所定成分の濃度とが直線関係にあり、且つ、圧力軸とゼロ以外の交点を有する関係式を用いているので、大気圧よりも減圧した状態で試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定した場合に、所定成分の濃度を精度良く求めることができる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
前記実施形態では、COにおける関係式を例示したが、その他、CO、NO、NO、HO等の排ガスに含まれる各成分についても同様に関係式を作成して圧力補正できることは言うまでも無い。
また、前記実施形態の関係式は、厳密な直線関係が成立する必要はない。また、圧力の全範囲に亘って圧力軸とゼロ以外の交点を有する関係が成立する必要はなく、測定時の圧力が変動する所定範囲(例えば75〜85kPa)において、圧力軸とゼロ以外の交点を有する直線関係が成立すれば良い。さらに、測定時の圧力の変動範囲を小さくするために、測定セル3の上流側にレギュレータ等の圧力変動防止機構を設けても良い。
前記実施形態により圧力変動影響を補正することができるが、新しい圧力係数を設定した状態で検量線の直線性を確認すると、濃度に比例して誤差が大きくなり規格から外れる場合がある。このため、前記実施形態の圧力補正に加えて、圧力補正部13は、以下の式により、濃度算出部11により得られた濃度を圧力補正する。
ここで、Cx_pressは、成分xの圧力補正後の濃度である。
xは、成分xの圧力補正定数(通常はax=P:基準圧力)である。
Pは、測定セル内の圧力[kPa]である。
xは、成分xの圧力補正前の濃度である。
Px_cは、成分xの圧力係数[kPa](関係式のX切片)である。
Px_aは、直線性補正用係数である。
なお、Px_cは、各成分の検量線毎に設定され、その値が関係式データ格納部12に格納されている。そのデフォルト値は0である。検量線作成時の各スペクトルの換算濃度の計算は、Px_c=0で従来通りの計算とする。Px_cは、検量線作成後にスパンガスを流しながら、圧力補正無しで圧力をいくつか変えて測定した指示値から求める。
また、Px_aは、各成分の検量線毎に設定され、その値が関係式データ格納部12に格納されている。そのデフォルト値は1である。検量線作成時にPx_cが0の場合には1とし、Px_cが0以外の場合には、以下の方法によって算出する。なお、通常は自動で算出するが、任意の値をセットすることもできる。
<Px_aの算出方法について>
検量線の作成において、検量線マトリックス作成後に、Px_aの算出処理を追加する。測定成分の代表スペクトルを使って以下の式により算出する。なお、Px_cが0の場合又は圧力補正が無効な場合には、Px_a=1として、演算は行わない。
ここで、Cx_origは、測定成分xの代表スペクトルの濃度(ボンベ値)である。
xは、測定成分xの代表スペクトルを入力として算出した濃度である。
※圧力補正ではPx_a=1として算出する。
なお、代表スペクトルとは、検量線マトリックスの算出に使用する測定スペクトルであり、二種類以上の濃度のデータが存在する場合には、二番目に高濃度のデータを指す。
次に、このように構成した赤外分光分析装置100において、CO濃度が既知(10%)の標準ガス(スパンガス)について基準圧力80kPaで検量線作成時にPx_cをセットした場合及びPx_aで補正した場合の直線性の結果を以下の表に示す。
Px_a=1.0、Px_c=37.9の場合には、高分割点で規格(±1%FS)から外れてしまっているが、Px_a=1.0146として検量線の直線性を補正することにより、高分割点においても規格(±1%FS)内に収まっていることが分かる。
また、赤外分光分析装置100は、測定成分xの圧力係数[kPa]を複数の関係式データから自動で算出する圧力係数算出部を有するものであっても良い。なお、この場合の赤外線分光分析装置100は、ディスプレイ上に図3に示す画面を表示する。
この圧力係数算出部は、複数の濃度の校正ガスそれぞれに対して、圧力補正無しで圧力をいくつか変えて測定した測定濃度から求める。つまり、圧力係数算出部は、第1濃度の校正ガスに対して圧力を変更して得られた測定結果データ(「Group1」)、第2濃度の校正ガスに対して圧力を変更して得られた測定結果データ(「Group2」)、第3濃度の校正ガスに対して圧力を変更して得られた測定結果データ(「Group3」)といった複数の測定結果グループのデータを取得して読み込む(図3の左の表参照)。なお、この測定結果グループのデータは、入力手段を用いてユーザが設定することができる。
そして、圧力係数算出部は、それらの測定結果グループのデータからそれぞれの関係式を作成する(図3の右のグラフ参照)。その結果、圧力係数算出部は、複数の関係式それぞれに対して圧力係数を算出する。なお、測定結果グループのデータを読み込むと自動的に関係式が計算され右のグラフ上に表示される。
その上で、圧力係数算出部は、複数の圧力係数から所定の演算をして、代表の圧力係数(例えばそれらの平均値等)を算出する。その代表の圧力係数は、図3のグラフ下に示される算出結果欄に表示される。また、この算出結果欄に示される「Apply」ボタンを押すなど、ユーザの所定の入力に応じて、この代表の圧力係数が、上述した数2又は数3のPx_aとして用いられる。
前記実施形態では、関係式は直線関係を用いたが、2次式の関係式を用いて補正しても良い。この場合、2次式の関係式は、圧力軸とゼロ以外の交点を有する。また、圧力係数は、関係式の変曲点の圧力となる。
ここで、Cx_pressは、成分xの圧力補正後の濃度である。
xは、成分xの圧力補正定数(通常はax=P:基準圧力)である。
Pは、測定セル内の圧力[kPa]である。
xは、成分xの圧力補正前の濃度である。
Px_cは、成分xの圧力係数[kPa](関係式の変曲点の圧力)である。
Px_aは、直線性補正用係数である。
前記実施形態では、検量線を用いた濃度計算と、圧力補正の関係式を用いた圧力補正とを別々に行うものであったが、それらを1つの関係式を用いて行うものであっても良い。
また、関係式は、3次以上の関係式を用いても良い。
前記実施形態では、FTIR法を用いた分析装置について説明したが、NDIR法を用いた分析装置であっても良い。
また、本発明の分光分析装置は、赤外光を用いたものに限られず、紫外光又は可視光を用いたものであっても良い。
また、前記実施形態では、内燃機関から排出される排ガスを分析する排ガス分析装置に適用した場合について説明したが、工場や発電施設から排出される排ガスを分析するものであっても良いし、その他の試料ガスを分析するものであっても良い。
その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
100・・・赤外分光分析装置
3 ・・・測定セル
4 ・・・ポンプ
8 ・・・干渉計部
9 ・・・光検出部
10 ・・・検量線データ格納部
11 ・・・濃度算出部
12 ・・・関係式データ格納部
13 ・・・圧力補正部
14 ・・・圧力センサ

Claims (5)

  1. 試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定する分光分析装置であって、
    大気圧よりも減圧した状態で前記試料ガスに含まれる所定成分の吸光度を測定するものであり、
    前記所定成分の吸光度と前記所定成分の濃度との関係を示す検量線を用いて、前記所定成分の濃度を算出する濃度算出部と、
    測定時の試料ガスの圧力と前記所定成分の濃度との関係式とを用いて、前記濃度算出部で算出した前記所定成分の濃度を圧力補正する圧力補正部とを有し、
    一方の軸を圧力軸とし、他方の軸を濃度軸としたグラフおいて、前記関係式は、前記圧力軸とゼロ以外の交点を有するものである分光分析装置。
  2. X軸を圧力軸とし、Y軸を濃度軸としたグラフにおいて、前記関係式は、直線関係にあるものである請求項1記載の分光分析装置。
  3. X軸を圧力軸とし、Y軸を濃度軸としたグラフにおいて、前記関係式は、2次式関係にあるものである請求項1記載の分光分析装置。
  4. 前記試料ガスが、内燃機関から排出される排ガスである請求項1記載の分光分析装置。
  5. 試料ガスに含まれる所定成分の濃度を測定する分光分析方法であって、
    大気圧よりも減圧した状態で前記試料ガスに含まれる所定成分の吸光度を測定測定した吸光度から、前記所定成分の吸光度と前記所定成分の濃度との関係を示す検量線を用いて前記所定成分の濃度を算出し、算出した前記所定成分の濃度を、測定時の試料ガスの圧力と前記所定成分の濃度との関係式とを用いて圧力補正するものであり、
    一方の軸を圧力軸とし、他方の軸を濃度軸としたグラフおいて、前記関係式は、前記圧力軸とゼロ以外の交点を有するものである分光分析方法。
JP2017070551A 2016-04-18 2017-03-31 分光分析装置及び分光分析方法 Active JP6796016B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016083015 2016-04-18
JP2016083015 2016-04-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017194458A JP2017194458A (ja) 2017-10-26
JP6796016B2 true JP6796016B2 (ja) 2020-12-02

Family

ID=58544857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017070551A Active JP6796016B2 (ja) 2016-04-18 2017-03-31 分光分析装置及び分光分析方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10345230B2 (ja)
EP (1) EP3236240B1 (ja)
JP (1) JP6796016B2 (ja)
CN (1) CN107367469B (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6888089B2 (ja) * 2017-07-14 2021-06-16 株式会社堀場製作所 ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法
JP6985893B2 (ja) 2017-11-06 2021-12-22 株式会社堀場製作所 ガス分析装置の校正方法、ガス分析システム、及び、圧力変動装置
JP7286271B2 (ja) 2018-05-22 2023-06-05 株式会社堀場製作所 光学セル及びガス分析装置
US11288750B1 (en) * 2018-10-31 2022-03-29 United Services Automobile Association (Usaa) Method and system for automatically detecting vehicle collisions for insurance claims
EP3667315A1 (en) 2018-12-12 2020-06-17 HORIBA, Ltd. Exhaust gas analysis apparatus, exhaust gas analysis method, and correction expression creation method
CN109738385B (zh) * 2019-01-21 2021-08-17 安徽养和医疗器械设备有限公司 基于碳十三红外光谱仪的高原自适应标准曲线的检测方法
KR102154671B1 (ko) * 2019-03-27 2020-09-10 주식회사 이엘 반도체 및 디스플레이 공정배출 온실가스 저감시설의 저감효율 자동측정분석시스템
CN114235730A (zh) * 2022-02-21 2022-03-25 中国科学院烟台海岸带研究所 一种海水营养盐在线监测系统及海水营养盐检测方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH055483Y2 (ja) * 1987-05-06 1993-02-12
JPH0282137A (ja) * 1988-09-19 1990-03-22 Fujitsu Ltd レーザ方式ガスセンサ
JP3268966B2 (ja) 1995-10-05 2002-03-25 株式会社堀場製作所 多重反射型ガスセル
JP3210942B2 (ja) * 1995-11-24 2001-09-25 株式会社堀場製作所 ガス濃度検出方法
JP3726691B2 (ja) * 2001-03-09 2005-12-14 株式会社日本自動車部品総合研究所 赤外線ガス分析装置
JP2003014632A (ja) * 2001-06-28 2003-01-15 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 紫外線吸収等によるガス濃度モニターのガス圧補正方法及び補正システム
US20030230716A1 (en) * 2002-04-12 2003-12-18 Infrared Industries, Inc. Multi-gas analyzer
CN101105446B (zh) * 2007-01-19 2010-09-15 华南理工大学 差分吸收光谱空气质量检测系统
JP5030629B2 (ja) * 2007-03-20 2012-09-19 大塚電子株式会社 ガス濃度の定量分析方法及び装置
JP5161012B2 (ja) * 2008-09-12 2013-03-13 矢崎総業株式会社 濃度測定装置
CN102213673B (zh) * 2010-04-09 2013-03-20 中国科学院微电子研究所 一种mems红外发射式气敏传感器
JP5667912B2 (ja) * 2010-05-18 2015-02-12 株式会社堀場製作所 吸着性ガス分析装置
US20120078532A1 (en) * 2010-09-24 2012-03-29 David Edward Forsyth Non-dispersive infrared sensor measurement system and method
US9651488B2 (en) * 2010-10-14 2017-05-16 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh High-accuracy mid-IR laser-based gas sensor
JP5519596B2 (ja) * 2011-08-08 2014-06-11 日本特殊陶業株式会社 ガスセンサ装置およびガスセンサを用いた濃度測定方法
CN105422326A (zh) * 2015-12-30 2016-03-23 广西玉柴机器股份有限公司 一种集成燃气和egr的混合器

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017194458A (ja) 2017-10-26
EP3236240B1 (en) 2021-05-26
CN107367469A (zh) 2017-11-21
EP3236240A1 (en) 2017-10-25
US10345230B2 (en) 2019-07-09
CN107367469B (zh) 2021-04-20
US20170299505A1 (en) 2017-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6796016B2 (ja) 分光分析装置及び分光分析方法
CN104568836B (zh) 基于多种光谱技术融合的低浓度、多组分气体检测方法
CN102980870B (zh) 一种高精度微流红外气体传感器及其测量方法
JP6981817B2 (ja) 分光分析装置及び分光分析方法
US9194797B2 (en) Method and system for detecting moisture in a process gas involving cross interference
US8408056B2 (en) EGR ratio measuring device
JP6985893B2 (ja) ガス分析装置の校正方法、ガス分析システム、及び、圧力変動装置
JP2009162667A (ja) 分光吸収測定方法及び分光吸収測定装置
KR101842799B1 (ko) Ndir의 보정계수 산출방법 및 산출된 보정계수를 이용한 ndir의 가스농도 측정방법
CN103149171A (zh) 燃烧排气分析装置
JP2003521706A (ja) ガス混合物の安全性を決定する方法
KR20000029101A (ko) 분석하고자 하는 가스 샘플 내 불순물의 양을 측정하는방법 및 장치
Gvakharia et al. Testing and evaluation of a new airborne system for continuous N 2 O, CO 2, CO, and H 2 O measurements: the Frequent Calibration High-performance Airborne Observation System (FCHAOS)
EP2668478A1 (en) Method of absorbance correction in a spectroscopic heating value sensor
US20140104613A1 (en) Spectral calibration method
JP7192602B2 (ja) ガス濃度測定装置の較正方法
JP2012068164A (ja) 赤外線ガス分析計
JP2007248330A (ja) 水分率計
JP5045871B2 (ja) 分光分析装置における機体差の補正方法
CN108106732B (zh) 拉曼光谱仪波数分辨率的标定方法及装置
JP2003014632A (ja) 紫外線吸収等によるガス濃度モニターのガス圧補正方法及び補正システム
JP2018100902A (ja) 分析装置、分析システム、分析方法、及び、プログラム
CN117147475B (zh) 气体分析仪的多目标气体分析方法、系统及可读介质
Fratini et al. Eddy-covariance flux errors due to biases in gas concentration measurements: origins, quantification and correction.
CN115931759A (zh) 一种烟气排放的分析系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200825

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201007

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6796016

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250