JP6759699B2 - 被検査物の外観検査方法および外観検査装置 - Google Patents

被検査物の外観検査方法および外観検査装置 Download PDF

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Description

本発明は、外観が立体形状を呈する被検査物の周面あるいは側面における欠陥の有無を検査する被検査物の外観検査方法、およびこれに用いる外観検査装置に関する。
例えば、被検体である導体パターンの平坦な表面(上面)に対し、可視光と赤外光とを照射し、該2つの光が反射した前記被検体の表面を撮影する撮像素子の手前の光路上に、可視光カットフィルタと赤外光カットフィルタとを進退可能に設けた画像検査装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
上記画像検査装置によれば、結像光学系と撮像光学系を変えずに、被検体で反射された2種類の波長光の何れかを選択的に撮像できるので、被検体からの光を複数の波長帯域に分けた画像を得て行う画像検査を、簡単な構成にして高精度により行える。
更に、検査対象物であるプリント基板の平坦な表面(上面)に対し、斜め上方向から白色光を照射して色情報画像を取得し、且つ前記プリント基板の表面に対し垂直方向から赤外光を照射して赤外光画像を取得した後、前記色情報画像に基づく領域分離処理により、金色領域と茶色領域とを含む統合色領域を表す画像を得ると共に、該画像と上記赤外光画像途とを用いることにより、前記金色領域を茶色領域から識別可能とした検査対象物の表面検査方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。
上記検査対象物の表面検査方法によれば、前記2種類の光の反射光により得られた2つの画像に基づいて、特定の色領域を識別するので、検査対象物における特定の色領域を画像処理により認識でき、これを利用して表面検査を容易に行うことが可能となる。
しかし、前記特許文献1,2に開示された技術は、何れも平板状の被検査物における平坦な表面の検査を行うものであり、例えば、全体が円柱形状または多角柱形状などの立体形状を呈する被検査物の周面あるいは側面の全体を、漏れなく正確且つ迅速に検査して、表面疵などの欠陥の有無を正確に検出するには、不向きであった。
特開2011−123019号公報(第1〜14頁、図1〜4) 特開2003−172711号公報(第1〜18頁、図1〜18)
本発明は、背景技術で説明した問題点を解決し、立体形状を呈する被検査物の周面または側面の全体を、漏れなく正確且つ迅速に検査して、表面疵などの欠陥の有無を正確に検出できる被検査物の外観検査方法、およびこれに用いる外観検査装置を提供する、ことを課題とする。
課題を解決するための手段および発明の効果
本発明は、前記課題を解決するため、互いに波長が異なる2種類のカラー光を回転テーブルに支持された被検査物の周面または側面に対して複数回にわたり照射し、該周面などを撮影した画像を前記カラー光ごとに分光することで、画像ごとの検査領域および欠陥の有無を検出する、ことに着層して成されものである。
即ち、本発明による被検査物の外観検査方法(請求項1)は、外観が立体形状を呈する被検査物の周面または側面における欠陥の有無を検査する外観検査方法であって、前記被検査物が載置された回転テーブルを断続的に回転させ、該回転テーブルが停止した都度、当該テーブルの回転軸と平行な上記被検査物の周面あるいは側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、一方のカラー光を、その光軸が直交状となるように照射し、上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、他方のカラー光を、上記回転テーブルの回転軸の斜め方向または軸方向から照射した状態で、上記回転テーブルの周囲に配置したカラーカメラにより、上記被検査物の周面あるいは側面を撮影する第1ステップと、該第1ステップで撮影された画像を、上記2種類のカラー光ごとに分光し、かかる分光により得られた一方のカラー光の画像により検査領域を検出すると共に、上記分光により得られた他方のカラー光の画像に基づいて欠陥の有無を検出する第2ステップと、を備えている、ことを特徴とする。
前記外観検査方法によれば、以下の効果(1)を確実に奏することができる。
(1)前記第1ステップによって、立体形状を呈する被検査物の周面または側面を、前記2種類のカラー光(可視光)が反射して得られる複数の画像によって、漏れなく撮影できると共に、前記第2ステップによって、得られた前記画像を上記2種類のカラー光ごとに分光することにより、一方のカラー画像に基づいて検査領域を検出でき、且つ他方のカラー画像に基づいて表面疵などの欠陥の有無を検出できる。従って、被検査物における任意形状の周面または側面について、比較的少なく且つ簡素な方法によって、表面疵などの欠陥を漏れなく正確且つ迅速に検出することが可能となる。
尚、前記被検査物は、外観が円柱形状、多角柱形状、あるいは、不規則な立体などの立体形状を呈し、その周面または側面に疵などの欠陥の有無を検査する必要がある物であり、例えば、精密鋳造品、鍛造成形品、ボンド磁石などが挙げられる。上記周面は、例えば、円柱形の全ての外側面であり、上記側面は、例えば、四角柱形における四つの側面と、隣接する側面間に挟まれた角部付近とである。上記周面や側面には、当該周面の一部分、あるいは何れかの側面に設けられた凹凸や段部なども含まれる。
また、前記カラー光は、可視光のうち、白色光を除いた有彩色の光である。
更に、前記2種類のカラー光の波長は、例えば、青色光および赤色光のように、両者間の波長が約200nm程度が相違している。
加えて、前記回転テーブルは、一定の角度(例えば、30度、45度、60度など)のピッチで回転した都度、停止して前記第1ステップを行いつつ、前記被検査物の全周面または全側面に対し、上記第1ステップが行えるように少なくとも360度(1回転)回転する。尚、前記カメラの撮影視野(角度)は、上記ピッチ角度よりも広いため、撮影漏れの領域を生じるおそれはない。
また、本発明には、前記第1ステップにおいて、前記被検査物の周面または側面に照射され且つ波長が異なる2種類のカラー光は、一方が青色光であり、且つ他方が赤色光である、被検査物の外観検査方法(請求項2)も含まれる。
これによれば、前記2種類のカラー光が、波長が約200nm程度異なる青色光と赤色光とからなり、両光間の波長−相対感度における各光ごとの領域同士の重複範囲が比較的小さいので、前記分光による検査領域の検出と、欠陥の有無を検出するための画像の2値化処理と、を容易で迅速に且つ精度良く行うことができる。従って、前記効果(1)を一層確実に発揮することができる。
更に、本発明には、前記第2ステップにおいて、前記他方のカラー光の画像に基づいて欠陥の有無を検出する基準は、前記カラー光の反射光における輝度または明度の差に基づいている、被検査物の外観検査方法(請求項3)も含まれる。
これによれば、前記他方のカラー光の画像を光−電気変換処理して得られた信号画像における前記検査領域内において、係る信号画像中における前記他方のカラーに起因する色の輝度あるいは明度を、予め設定したしきい値によって2値化することにより、前記周面または側面における表面疵などの欠陥の有無を、精度良く確実に検出することが可能となる。従って、前記効果(1)を確実に発揮することができる。
一方、本発明による被検査物の外観検査装置(請求項4)は、外観が立体形状を呈する被検査物の周面または側面における欠陥の有無を検査する外観検査装置であって、前記被検査物をその周面または側面が回転軸と平行となるように載置して断続的に回転する回転テーブルと、該回転テーブルの周囲に円環状または円弧状で、且つ同心状に配置され、上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、一方のカラー光を、その光軸が直交状となるように照射する一方の発光手段と、上記回転テーブルの回転軸に対し斜め方向または同軸状に配置され、上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、他方のカラー光を、斜め方向または軸方向に沿って照射する他方の発光手段と、上記回転テーブルの周囲に配置され、上記被検査物の周面または側面を撮影するカラーカメラと、該カラーカメラにより撮影された上記被検査物の周面または側面の画像を、上記2種類のカラー光ごとに分光する分光手段と、該分光により得られた一方のカラー画像により検査領域を検出し、且つ前記分光により得られた他方のカラー画像に基づいて欠陥の有無を検出する画像解析手段と、を備えている、ことを特徴とする。
前記外観検査装置によれば、前記ステップ1,2を行って、前記効果(1)を奏する前記外観検査方法を、比較的少ない装置構成によって、正確で確実且つ迅速に実行することができる(効果(2))。
しかも、前記一方の発光手段(源)は、例えば、前記回転テーブル上に載置された被検査物の周面または側面に対し、上記回転テーブルの中心および被検査物のほぼ中心と、中心が一致する円環(リング)状または円弧(カーブ)状に配置した複数の青色光照明(例えば、複数の青色LED(以下、発光ダイオードをLEDと記する))を配置している。その結果、該青色光照明から発光される前記青色光を、上記被検査物の周面または側面に対し、常に同様な条件で確実に発光することができる。一方、前記他方の発光手段は、例えば、単一の赤色光照明(例えば、1つの赤色LED)で済むので、前記回転テーブルの上方側あるいは下方側(ほぼ軸方向)に配置することによって、上記一方の発光手段から照射される複数の青色光との無用な干渉を確実に防ぐことができる(効果(4))。
尚、前記回転テーブルの移動方向は、例えば、該回転テーブルが水平姿勢である場合には、上方あるいは下方に沿って上昇ないし降下する方向である。
また、前記カラー(撮影)カメラには、例えば、電荷チャージ(CCD)カメラが用いられる。
更に、前記分光手段は、例えば、青色光と赤色光のように、これらの光同士の間における分光感度領域が比較的小さいことを利用したもので、例えば、青色除去フィルタと赤色除去フィルタとを備えた分光装置や、光−電気変換処理後における画像信号を分光処理するためのソフトウェアなどが用いられる。
また、前記画像解析手段は、画像領域検出ソフトや輝度などの判別ソフトなどを格納したもので、例えば、光学分析装置あるいはパソコンが例示される。
加えて、前記回転テーブルへの被検査物への載置および該被検査物の搬出は、例えば、多関節ロボットまたは人工知能ロボットにより行うことが望ましい。
また、本発明には、前記回転テーブルは、該回転テーブルに載置した前記被検査物の周面または側面の軸方向に沿って移動可能とされている、被検査物の外観検査装置(請求項5)も含まれる。
これによれば、例えば、水平姿勢の回転テーブルに載置された前記被検査物の周面または側面が、係る周面または側面の軸方向に沿って平行(垂直)でなく、斜め上向き、あるいは斜め下向きに傾斜していても、上記回転テーブルを上方あるいは下方に昇降させて移動することによって、前記2つの発光手段から照射される2種類のカラー光を、上記被検査物の周面または側面に対し、確実に照射することが可能となる(効果(3))。
更に、本発明には、前記一方の発光手段は、青色光照明であり、前記他方の発光手段は、赤色光照明である、被検査物の外観検査装置(請求項6)も含まれる。
、複数の青色LEDを平面視で円弧状に配置する形態の場合、前記他方の発光手段やカラーカメラは、平面視で上記円弧形状のほぼ中間に配置される。

加えて、本発明には、前記赤色光照明である前記他方の発光手段は、前記回転テーブルに載置した前記被検査物の周面または側面の軸方向に比較的近い発光位置に配置されると共に、前記カラーカメラは、前記被検査物の周面または側面の径方向に比較的近い発光位置に配置されている、被検査物の外観検査装置(請求項7)も含まれる。
これによれば、前記他方の発光手段と前記カラーカメラとが、互いの光路を阻害したり、撮像視野を狭めたりしないと共に、これらと前記一方の発光手段の照射光路との不用意な干渉も確実に予防することができる(効果(5))。
本発明による一形態の被検査物の外観検査装置を示す斜視図。 一部に垂直断面を含む上記外観検査装置の側面図。 上記外観検査装置の平面図。 (A)、(B)は一形態の被検査物を異なる角度で示す斜視図。 上記外観検査装置におけるカラーカメラ以降の構成を示す概略図。 本発明による被検査物の外観検査方法の第1ステップを示す模擬的図面。 本発明による被検査物の外観検査方法の第2ステップを示す模擬的図面。 異なる形態の被検査物の外観検査装置の概略を示す平面図。 更に異なる形態の被検査物の外観検査装置の概略を示す側面図。
以下において、本発明を実施するための形態について説明する。
図1は、一形態の被検査物の外観検査装置1を示す斜視図、図2は、該外観検査装置1の側面図、図3は、上記外観検査装置1の平面図である。
上記外観検査装置1は、図1〜図3に示すように、被検査物Wを載置し且つ断続的に水平回転する回転テーブル5と、該回転テーブル5の外周側に同心状に配置された一方の発光手段9と、上記回転テーブル5の斜め上方に配置された他方の発光手段7と、上記回転テーブル5のやや斜め上方で且つ比較的外周側に配置されたカラー(撮影)カメラ10と、を備えている。
前記回転テーブル5は、図2に示すように、ベース(定盤)2の表面に固定した支持台3に公知の昇降機構UDおよび回転機構Rtを介して、昇降自在および回転自在に支持された回転軸4の上端に取り付けられている。
尚、上記昇降機構UDは、例えば、ピニオンとラック、ウォームギア、あるいは流体圧シリンダなどであり、上記回転機構Rtは、減速ギア列、ボールベアリング、チェーンおよびスプロケットの組合せなどである。これらを駆動する動力源には、例えば、サーボモータやステッピングモータなどが用いられる。
上記回転テーブル5は、図3中の複数の矢印で示すように、平面視で時計方向に沿って、例えば、30度ずつの回転と、その間の停止とを順次行うように、設定されている。かかる停止中ごとに、前記一方および他方の発光手段7,9から所定のカラー光が、前記被検査物Wの周面wsに照射される。
また、前記一方の発光手段9は、上記回転テーブル5の回転軸CLと同心状に配置された平面視が円環状で且つ内周側に開口する断面チャンネル形状のリング枠8に、求心状に取り付けられた複数(数10個)の青色LED(青色発光照明)である。係る青色LEDは、青色光L2を発光する。上記リング枠8は、図示しない支持手段によって上記の位置に配置されている。尚、一方の発光手段9である複数の青色LEDの位置は、被検査物Wの周面wsの横方向の位置、あるいは若干下側の位置となるように、前記回転テーブル5を昇降させて調整される。
更に、前記他方の発光手段7は、例えば、単一の赤色LED(赤色発光照明)からなるスポット照明であり、図示しない支持手段によって、前記回転テーブル5の回転軸CLに対し、斜め上方の位置に配置されている。上記赤色LEDは、赤色光L1を発光する。
加えて、前記カラーカメラ10は、例えば、CCDカメラであり、図示しない支持手段によって、記回転テーブル5の回転軸CLに対し、やや斜め上方で且つ前記他方の発光手段7よりも平面視で比較的外周側の位置に配置されている。
尚、前記回転テーブル5が30度ずつ回転する間ごとの停止時に撮影される複数の画像は、直前の画像および直後の画像との間で、水平(左右)方向の両側で互いに重複している。そのため、撮影漏れは皆無となる。
尚、前記他方の発光手段7、一方の発光手段9、およびカラーカメラ10は、前記回転テーブル5の回転には関係せず、回転(移動)不能とされている。
また、前記図3では、前記他方の発光手段7とカラーカメラ10とを、理解を容易にするため、平面視で若干ずらして示したが、両者の機能に支障がなければ、平面視で両者が重複するように配置していても良い。
図4(A)、(B)は、互いに水平(円周)方向に沿って互いに90度ずらして示した被検査物Wの斜視図である。係る被検査物Wは、図示のように、扁平な円柱形の本体w1と、その周面wsから径方向に沿って対称に突出した一対の凸部w2とからなる。該被検査物Wは、例えば、上記本体w1の直径が約20mmの鍛造品あるいは鋳造品である。尚、本発明において、検査すべき被検査物Wの周面wsには、上記一対の凸部w2も含まれている。
図5は、前記外観検査装置1において、前記カラーカメラ10とこれ以降の画像処理に関する装置構成を示す概略図である。
上記カラーカメラ10内に入った前記赤色光L1および青色光L2は、該カメラ10内の水平な矢印で示す光路中に遮蔽可能に配置した赤色光除去フィルタ(分光手段)11および青色光除去フィルタ(分光手段)12を透過する。その結果、透過後の光は、赤色光L1のみ、青色光L2のみ、あるいは、赤色光L1および青色光L2の双方の何れかの3種類となる。
尚、上記2つのフイルタ11,12は、図示しないスライド機構などによって、何れか一方が前記光路を遮断するか、あるいは、双方が該光路から除去される。
前記フイルタ11,12を透過した前記赤色光L1および青色光L2は、カラーカメラ10内に配置された撮像面14から撮像素子13内に取り込まれ、そのカラー光画像を光−電気変換された画像信号となる。係る画像信号は、上記カラーカメラ10から画像処理部(画像解析手段)15に送信される。
上記画像処理部15において、前記青色光L2による画像信号は、後述する検査領域Eaとして検出するのに利用されると共に、前記赤色光L1による画像信号は、該画像中の輝度あるいは明度によって2値化され、前記一対の凸部w2を含む被検査物Wの周面wsにおける表面疵などの後述する欠陥Dfの有無を検出するのに利用される。
上記検査領域Eaおよび欠陥Dfは、前記回転テーブル5が停止した度ごとの撮影画像として、モニター16の画面に表示される。尚、該モニター16に表示された映像は、図示しないカラープリンターによって、カラー印刷しても良い。
以上のような被検査物Wの外観検査装置1によれば、後述する外観検査方法を正確且つ迅速に行えると共に、前記効果(2)〜(5)を発揮することができる。
尚、前記カラーカメラ10に内蔵した2つのフィルタ11,12を省略し、前記画像処理部15において、電気信号に変換された前記赤色光L1および青色光L2の画像信号を、個別に除去するフィルタ用ソフトウェアを用いても良い。
また、前記回転テーブル5上への被検査物Wの載置(搬入)および外観検査後の搬出は、例えば、図示しない多関節ロボットによって行うことにより、多数の被検査物Wを対象とする外観検査の効率を一層高めることができる。
更に、前記カラーカメラ10で撮影された赤色光L1などの光画像を、該カメラ10に付属している小型モニター(図示せず)で直に表示しても良い。
加えて、前記画像処理部15には、例えば、CPU、メモリ、入出力インターフェース、外部HDなどを備えたパソコンが用いられる。
以下において、前記外観検査装置1を用いた被検査物Wの外観検査方法について説明する。
先ず、図1〜図3で示したように、被検査物Wを回転テーブル5の上に、両者が同心となるように載置する。尚、被検査物Wの軸心が、回転テーブル5の中心CLから若干ずれた位置にあっても、所定の許容範囲内にあれば、回転テーブル5が1回転する間に平面視で若干偏心して回転する上記被検査物Wの周面wsかを撮影した複数の画像に大小が生じても、前記画像処理には支障を生じない。
次に、上記被検査物Wに対して、第1ステップS1を行う。
前記一方の発光手段9である複数の青色LEDと、前記他方の発光手段7である赤色LEDとを発光させて、被検査物Wの周面wsに対し、複数の青色光L2全体を求心状に照射し、且つ単一の赤色光L1をスポット光として照射する。
前記赤色光L1と青色光L2とが照射された前記被検査物Wの周面wsでは、係る赤色光L1と青色光L2とが反射する。係る2つのカラー光L1,L2が反射した前記被検査物Wの周面wsを、前記カラーカメラ10により撮影する。
上記カラーカメラ10により撮影された画像を、図6に示すように、前記モニター16の画面に表示する。この際、前記カメラ10内の光路から前記2つのフィルタ11,12を外してある。図6に示すように、上記被検査物Wの周面wsと凸部w2の側面とには、主に青色光L2が反射しており、一方、該被検査物Wの本体w1の上面と凸部w2の上面とには、主に赤色光L1が反射している。尚、図6と次術する図7とは、前記図4(A)とほぼ同じ視覚による画像である。
次いで、前記被検査物Wに対して、第2ステップS2を行う。
先ず、前記第1ステップS1で撮影されたカラー光L1,L2に対し、それらの光路を前記赤色光除去フィルタ11により遮断して、前記赤色光L1を除去する。その結果、上記撮影光は、複数の青色光L2のみが反射した光となる。係る撮影光を前記撮像素子13で光−電気変換して画像信号にした後、前記画像処理部15において前記青色光L2による画像信号群のうち、画像で最外側に位置する複数の画像信号による輪郭を検査領域Eaとして検出する。
ほぼ同時に、前記第1ステップS1で撮影さたカラー光L1,L2に対し、その光路を前記青色光除去フィルタ12により遮断して、前記青色光L2を除去した。その結果、上記撮影光は、赤色光L2のみが反射した光となる。係る撮影光を前記撮像素子13で光−電気変換して画像信号とした後、前記画像処理部15において前記赤色光L1による画像信号群と、予め、設定された輝度あるいは明度のしきい値と比較する。例えば、該しきい値以上である信号の部分が、前記検査物Wの周面wsにおける表面疵(欠陥)Dfであると判定される。尚、上記しきい値は、前記画像信号の明度についてものとしても良い。
更に、前記検査領域Eaと表面疵Dfとを前記モニター16の画面に重ねて表示すると、図7に示すようになる。即ち、図7中において、前記検査物Wの周面wsの外形に沿った明るい(図示で白い)円弧形で且つ帯状の枠内が検査対象の検査領域Eaを示す。一方、係る検査領域Ea内において、明るい(図示で白い)散点状のパターンの部分が表面疵Dfを示している。
引き続いて、前記回転テーブル5を30度ずつ回転し、停止した度ごとに、前記第1ステップS1と第2ステップS2とを行う。上記回転テーブル5を360度回転(1回転)させた後、得られた複数の検査画像に基づいて、前記検査物Wの周面ws全体における表面疵(欠陥)Dfの有無を確認する。
以上のような被検査物Wの外観検査方法によれば、前記効果(1)を確実に奏することができる。
図8は、異なる形態の被検査物の外観検査装置1aの概略を示す平面図である。
係る外観検査装置1aは、前記同様の回転テーブル5、単一の赤色LED(他方の発光手段)7、およびカラーカメラ10を有し、更に、図8に示すように、前記回転テーブル5に載置された被検査物Wの周面wsに対し、複数の青色光L2を照射し、且つ平面視で上記回転テーブル5の中心CLと同心状で円弧状に配置された複数の青色LED(一方の発光手段)9と、該複数の青色LED9を内側で保持し、平面視が円弧状で且つ断面がチャンネル形状のカーブ枠8aとを備えている。
以上のような外観検査装置1aも前記効果(2)〜(5)を奏すると共に、前記効果(1)を発揮する前記外観検査方法を正確に且つ迅速に行うことがてきる。
図9は、更に異なる形態の被検査物の外観検査装置1bの概略を示す側面図である。係る外観検査装置1bは、前記同様の回転テーブル5、単一の赤色LED(他方の発光手段)7、およびカラーカメラ10を有し、更に、図9に示すように、前記回転テーブル5に載置された被検査物Wの周面wsに対し、複数の青色光L2を照射し、且つ垂直方向に沿って積み重ねた複数段の前記リング枠8ごとに保持された複数の青色LED9を備えている。尚、上記リング枠8に替えて、複数段の前記カーブ枠8aを積み重ねた形態としても良い。また、前記リング枠8やカーブ枠8aは、垂直方向の断面において、全体が略く字形状、あるいは略J字形状を呈するように積層しても良い。
上記のような外観検査装置1bも前記効果(2)〜(5)を奏し得、且つ前記効果(1)を発揮する前記外観検査方法を正確に且つ迅速に行うことができる。
本発明は、以上において説明した各形態に限定されるものではない。
例えば、前記2種類のカラー光L1,L2は、前記赤色光および青色光の組合せに限らず、互いの波長がある程度異なる2つの光を組合わせたものでも良い。
また、前記赤色光L1を発光する発光手段7は、通常の赤色灯や、ルビーを用いたレーザー光としても良い。
更に、前記回転テーブル5は、回転のみを可能とし、且つ前記2つの発光手段7,9とカラーカメラ10とを上記回転テーブル5の軸心(中心CL)に沿って昇降可能に支持する形態として、前記外観検査方法を行っても良い。
加えて、前記回転テーブル5の表面(上面)は、前記被検査物Wの底面よりも小径としたが、該被検査物Wの底面と同等であるか、あるいは、上記テーブル5の表面からの反射光を防ぐことができれば、それよりも大きくても良い。
本発明によれば、立体形状を呈する被検査物の周面または側面の全体を、漏れなく正確且つ迅速に検査して、表面疵などの欠陥の有無を正確に検出できる被検査物の外観検査方法、およびこれに用いる外観検査装置を確実に提供することができる。
1,1a,1b…外観検査装置
5…………………回転テーブル
7…………………赤色LED(赤色光の発光手段/赤色発光照明)
8…………………円環状のリング枠
8a………………円弧状のカーブ枠
9…………………青色LED(青色光の発光手段/青色発光照明)
10………………カラーカメラ
11………………赤色除去フィルタ(分光手段)
12………………青色除去フィルタ(分光手段)
15………………画像処理部(画像解析手段)
W…………………被検査物
ws………………被検査物の周面
L1………………赤色光(カラー光)
L2………………青色光(カラー光)
Ea………………検査領域
Df………………表面疵(欠陥)
CL………………回転テーブルの中心軸

Claims (7)

  1. 外観が立体形状を呈する被検査物の周面または側面における欠陥の有無を検査する外観検査方法であって、
    上記被検査物が載置された回転テーブルを断続的に回転させ、該回転テーブルが停止した都度、当該テーブルの回転軸と平行な上記被検査物の周面あるいは側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、一方のカラー光を、その光軸が直交状となるように照射し、
    上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、他方のカラー光を、上記回転テーブルの回転軸の斜め方向または軸方向から照射した状態で、
    上記回転テーブルの周囲に配置したカラーカメラにより、上記被検査物の周面あるいは側面を撮影する第1ステップと、
    上記第1ステップで撮影された画像を、上記2種類のカラー光ごとに分光し、かかる分光により得られた一方のカラー光の画像により検査領域を検出すると共に、上記分光により得られた他方のカラー光の画像に基づいて欠陥の有無を検出する第2ステップと、を備えている、
    ことを特徴とする被検査物の外観検査方法。
  2. 前記第1ステップにおいて、前記被検査物の周面または側面に照射され且つ波長が異なる2種類のカラー光は、一方が青色光であり、且つ他方が赤色光である、
    ことを特徴とする請求項1に記載の被検査物の外観検査方法。
  3. 前記第2ステップにおいて、前記他方のカラー光の画像に基づいて欠陥の有無を検出する基準は、前記カラー光の反射光における輝度または明度の差に基づいている、
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の被検査物の外観検査方法。
  4. 外観が立体形状を呈する被検査物の周面または側面における欠陥の有無を検査する外観検査装置であって、
    上記被検査物をその周面または側面が回転軸と平行となるように載置して断続的に回転する回転テーブルと、
    上記回転テーブルの周囲に円環状または円弧状で、且つ同心状に配置され、上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、一方のカラー光を、その光軸が直交状となるように照射する一方の発光手段と、
    上記回転テーブルの回転軸に対し斜め方向または同軸状に配置され、上記被検査物の周面または側面に対し、波長が異なる2種類のカラー光のうち、他方のカラー光を、斜め方向または軸方向に沿って照射する他方の発光手段と、
    上記回転テーブルの周囲に配置され、上記被検査物の周面または側面を撮影するカラーカメラと、
    上記カラーカメラにより撮影された上記被検査物の周面または側面の画像を、上記2種類のカラー光ごとに分光する分光手段と、
    上記分光により得られた一方のカラー画像により検査領域を検出し、且つ前記分光により得られた他方のカラー画像に基づいて欠陥の有無を検出する画像解析手段と、を備えている、
    ことを特徴とする被検査物の外観検査装置。
  5. 前記回転テーブルは、該回転テーブルに載置した前記被検査物の周面または側面の軸方向に沿って移動可能とされている、
    ことを特徴とする請求項4に記載の被検査物の外観検査装置。
  6. 記一方の発光手段は、青色光照明であり、前記他方の発光手段は、赤色光照明である、
    ことを特徴とする請求項4または5に記載の被検査物の外観検査装置。
  7. 前記赤色光照明である前記他方の発光手段は、前記回転テーブルに載置した前記被検査物の周面または側面の軸方向に比較的近い発光位置に配置されると共に、前記カラーカメラは、前記被検査物の周面または側面の径方向に比較的近い発光位置に配置されている、
    ことを特徴とする請求項6に記載の被検査物の外観検査装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220065545A (ko) * 2020-11-13 2022-05-20 주식회사 트윔 비정형적 외형을 갖는 제품의 불량을 검사하는 장치

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6954142B2 (ja) * 2018-01-17 2021-10-27 オムロン株式会社 画像検査装置および照明装置
CN108528958B (zh) * 2018-04-14 2019-10-25 安徽工程大学 一种雷达罩底材运输箱
CN108896556A (zh) * 2018-06-22 2018-11-27 北京领邦智能装备股份公司 一种多色彩组合检测装置
KR102320026B1 (ko) * 2019-12-26 2021-11-01 윈텍주식회사 마이크로 칩 검사용 광학 시스템 및 이를 이용한 마이크로 칩 검사 방법
CN111537518A (zh) * 2020-05-25 2020-08-14 珠海格力智能装备有限公司 电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器
CN112858332A (zh) * 2021-02-22 2021-05-28 菲特(珠海横琴)智能科技有限公司 基于机器视觉的同步器齿毂表面缺陷检测方法、系统、终端
KR20230162338A (ko) * 2022-05-20 2023-11-28 주식회사 윈텍오토메이션 초경인서트 측면 코너부 검사를 위한 영상 획득시스템

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01165940A (ja) * 1987-12-23 1989-06-29 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JPH0643107A (ja) * 1992-07-23 1994-02-18 Suzuki Motor Corp 円筒物検査方法及び装置
US7394937B2 (en) * 2004-05-19 2008-07-01 Applied Vision Company, Llc Vision system and method for process monitoring
JP2007292576A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の外観検査装置
JP2008082900A (ja) * 2006-09-27 2008-04-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 外観検査装置
JP5734104B2 (ja) * 2011-06-06 2015-06-10 倉敷紡績株式会社 ボトル缶の口金部検査装置
JP6650223B2 (ja) * 2015-07-22 2020-02-19 倉敷紡績株式会社 物品検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220065545A (ko) * 2020-11-13 2022-05-20 주식회사 트윔 비정형적 외형을 갖는 제품의 불량을 검사하는 장치
KR102558404B1 (ko) * 2020-11-13 2023-07-24 주식회사 트윔 비정형적 외형을 갖는 제품의 불량을 검사하는 장치

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