JP5505247B2 - 外観検査方法および外観検査装置 - Google Patents
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Description
被検査体の欠陥部に蛍光剤を浸透させ、被検査体の欠陥部に蛍光剤によるマーキングを施した後、
前記被検査体に紫外線を照射して被検査体を撮像し、得られた蛍光発光画像の画像データに基づいて欠陥部を検査する外観検査方法であって、
前記被検査体を連続回転させた状態で撮像を行い、欠陥部の発光を被検査体の回転移動の軌跡として記録した蛍光発光画像の画像データを取得し、該画像データの画像処理を行い被検査体の欠陥部を検査することを要旨とするものである。
被検査体の欠陥部に蛍光剤を浸透させ、被検査体の欠陥部に蛍光剤によるマーキングを施した後、
前記被検査体に紫外線を照射して被検査体を撮像し、得られた蛍光発光画像の画像データに基づいて欠陥部を検査するために用いられる外観検査装置であって、
前記被検査体を連続回転させるためのワーク回転装置と、
連続回転している前記被検査体に紫外線を照射するための紫外線照射装置と、
紫外線が照射された連続回転している被検査体を撮像して、前記欠陥部の発光を被検査体の回転移動の軌跡として記録された蛍光発光画像の画像データを取得するための撮像装置と、
前記撮像装置により取得した蛍光発光画像の画像データの画像処理を行い欠陥部を検査するための画像処理装置と、
を備えることを要旨とするものである。
2 羽部
3 軸部
4a 欠陥部
5b 点状の発光部
5c 線状の発光部(発光部の移動軌跡)
8 羽根車の輪郭画像
10 外観検査装置
20 ワーク回転装置
30 撮像装置
31〜33 CCDカメラ
40 紫外線照射装置
41〜46 紫外線LED
60 制御ユニット
71 赤色LED照明
Claims (10)
- 被検査体の欠陥部に蛍光剤を浸透させ、被検査体の欠陥部に蛍光剤によるマーキングを施した後、
前記被検査体に紫外線を照射して被検査体を撮像し、得られた蛍光発光画像の画像データに基づいて欠陥部を検査する外観検査方法であって、
前記被検査体を連続回転させた状態で撮像を行い、欠陥部の発光を被検査体の回転移動の軌跡として記録した蛍光発光画像の画像データを取得し、該画像データの画像処理を行い被検査体の欠陥部を検査することを特徴とする外観検査方法。 - 前記撮像の際の撮像時間が、前記被検査体の周回時間と同じか、或いは周回時間よりも長いことを特徴とする請求項1記載の外観検査方法。
- 前記撮像は、複数のカメラを用いて異なる位置から同時に被検査体を撮像して、異なる位置から撮像した複数の被検査体の蛍光発光画像の画像データを取得することを特徴とする請求項1又は2に記載の外観検査方法。
- 前記被検査体を回転させずに静止した状態で赤色可視光を照射して撮像し、得られた画像データから被検査体の輪郭画像を検出し、前記蛍光発光画像と前記輪郭画像とを重ね合わせて欠陥部の位置を決定する画像処理を行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の外観検査方法。
- 連続回転する被検査体の回転軸を傾けながら撮像を行うことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の外観検査方法。
- 被検査体の欠陥部に蛍光剤を浸透させ、被検査体の欠陥部に蛍光剤によるマーキングを施した後、
前記被検査体に紫外線を照射して被検査体を撮像し、得られた蛍光発光画像の画像データに基づいて欠陥部を検査するために用いられる外観検査装置であって、
前記被検査体を連続回転させるためのワーク回転装置と、
連続回転している前記被検査体に紫外線を照射するための紫外線照射装置と、
紫外線が照射された連続回転している被検査体を撮像して、前記欠陥部の発光を被検査体の回転移動の軌跡として記録された蛍光発光画像の画像データを取得するための撮像装置と、
前記撮像装置により取得した蛍光発光画像の画像データの画像処理を行い欠陥部を検査するための画像処理装置と、
を備えることを特徴とする外観検査装置。 - 前記紫外線照射装置は、複数のスポット型紫外線LEDが被検査体の周囲に放射状に配置されたものであることを特徴とする請求項6記載の外観検査装置。
- 前記撮像装置が、回転軸の一端部側に配置された一台のカメラと、前記回転軸と交差する方向に前記被検査体を挟んで対向する位置に配置された二台のカメラとを有することを特徴とする請求項6又は7記載の外観検査装置。
- 前記被検査体に赤色可視光を照射するための照明装置を備えることを特徴とする請求項6〜8のいずれか1項に記載の外観検査装置。
- 前記ワーク回転装置が、被検査体の回転軸を任意の角度に傾けながら連続回転可能であることを特徴とする請求項6〜9のいずれか1項に記載の外観検査装置。
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Families Citing this family (9)
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---|---|---|---|---|
JP6603265B2 (ja) * | 2017-05-19 | 2019-11-06 | 電子磁気工業株式会社 | 蛍光磁粉液の濃度測定方法、蛍光磁粉液の濃度測定装置 |
CN108447798B (zh) * | 2018-04-28 | 2024-05-10 | 杭州利珀科技有限公司 | 硅晶电池蓝膜检测系统及其图像采集装置 |
CN109211930A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-01-15 | 胜科纳米(苏州)有限公司 | 电子显示屏封装材料的缺陷检测方法 |
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DE102019132585B4 (de) * | 2019-12-02 | 2022-06-09 | Schaeffler Technologies AG & Co. KG | Prüfsystem zur optischen Oberflächenprüfung eines Prüfkörpers |
CN111812110A (zh) * | 2020-08-06 | 2020-10-23 | 东方蓝天钛金科技有限公司 | 一种荧光渗透探伤视觉识别系统 |
JP2022167220A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | ウシオライティング株式会社 | 金型監視装置及び金型監視方法 |
CN117686504B (zh) * | 2023-11-29 | 2024-05-14 | 无锡市宜欣科技有限公司 | 一种芯片表面瑕疵检测方法及系统 |
Family Cites Families (5)
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JPS6388431A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-19 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 異物検出方法並びにその装置 |
JP3492509B2 (ja) * | 1998-02-04 | 2004-02-03 | 株式会社神戸製鋼所 | 表面欠陥探傷装置及び蛍光磁粉探傷方法 |
JP4618502B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2011-01-26 | 株式会社Ihi | 蛍光探傷装置および蛍光探傷方法 |
JP5218723B2 (ja) * | 2007-06-14 | 2013-06-26 | 株式会社Ihi | 蛍光探傷方法および蛍光探傷装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102558404B1 (ko) * | 2020-11-13 | 2023-07-24 | 주식회사 트윔 | 비정형적 외형을 갖는 제품의 불량을 검사하는 장치 |
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