JP6746691B2 - 行間適応電磁ｘ線走査を用いた後方散乱特性評価 - Google Patents

行間適応電磁ｘ線走査を用いた後方散乱特性評価 Download PDF

Info

Publication number
JP6746691B2
JP6746691B2 JP2018512980A JP2018512980A JP6746691B2 JP 6746691 B2 JP6746691 B2 JP 6746691B2 JP 2018512980 A JP2018512980 A JP 2018512980A JP 2018512980 A JP2018512980 A JP 2018512980A JP 6746691 B2 JP6746691 B2 JP 6746691B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
snout
ray
opening
anode
rays
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2018512980A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018528586A (ja
Inventor
グロッドジンズ、リー
ディンカ、ダン−クリスティアン
ロンメル、マーティン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
American Science and Engineering Inc
Original Assignee
American Science and Engineering Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by American Science and Engineering Inc filed Critical American Science and Engineering Inc
Publication of JP2018528586A publication Critical patent/JP2018528586A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6746691B2 publication Critical patent/JP6746691B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/24—Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof
    • H01J35/30—Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof by deflection of the cathode ray
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K5/00—Irradiation devices
    • G21K5/10—Irradiation devices with provision for relative movement of beam source and object to be irradiated
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153—Spot position control
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/639—Specific applications or type of materials material in a container

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Description

本出願は、２０１５年９月１０日に出願された米国仮特許出願第６２/２１６，７８３号に基づく優先権を主張する。この出願は、本明細書に参照として組み込まれる。
本発明は、透過放射線を用いた物品の検査のためのシステム及び方法に関し、より詳細には、透過放射線の特性が１回の走査のコースの間に変化する検査に関する。
後方散乱放射線を画像化することによる車両およびコンテナの検査は、過去に、対象を走査するＸ線ビームを作成するための機械的手段を使用してきた。Ｘ線ビームを電磁的に走査する様々な機構も同様に周知であり、例えば、米国特許第６，２４９，５６７号（Rothschild、２００１年）では、車両の車台を走査するために、電磁的に走査されるＸ線ビームの使用を教示する。
図１は、従来のＸ線後方散乱システム１００を示す。このシステムにおいて、Ｘ線源１０２と、Ｘ線後方散乱検出機１０４のセットとは、対象１０８に対して移動している検査車両１０６内に封入されている。なお、対象１０８は、本明細書では、「検査対象」、「検査される対象」、「対象車両」または「検査される車両」（場合によっては「車」または「トラック」）として称される。相対移動の典型的な方向は、矢印１１６で示され、検査車両１０６または対象車両１０８、またはその両方が周囲に対して移動している。図１に示す後方散乱システムの基本構成要素は、Ｘ線ビーム成形機２０（図２に示す）、１つ以上の後方散乱Ｘ線検出機１０４、信号プロセッサ１１０、およびユーザーインターフェース１１２を含む。Ｘ線源１０２は、Ｘ線をペンシルビーム２０１（図２に示す）に形成するビーム成形機２０（本明細書では「メカニカルスキャナ」とも呼ばれる）を含む。ペンシルビーム２０１は、大抵垂直面内にある走査パターン１１４でスイープされる。先行技術のビーム成形機は、図２に示され、一般的に参照符号２０で示され、米国特許第９，０１４，３３９号（以下、「Grodzins'３３９」）に詳細に記載されている。当該特許は、本明細書に参照によって組み込まれている。ビーム成形機２０は、Ｘ線管２０３からなる。Ｘ線管２０３において、負の高電圧でフィラメント２０７によって放射された電子２０５の一定ビームが、反射アノード２０９上のスポットに集束される。Ｘ線は、コリメータ２１１による制約を受けて扇状ビームになり、Ｎ個の等間隔の開口２１５（図２ではＮ＝４）を有する回転フープ２１３に入射する。この開口は、Ｘ線のペンシルビーム２０１を生成し、ペンシルビーム２０１は、フープ２１３の１回転毎に対象（図１の車両１０８）を横切るようにＮ回の掃引を行う。車（すなわち、対象車両１０８）が走査ペンシルビーム２０１の中を移動するときに、対象車両１０８におけるコンプトン相互作用によって後方散乱されたＸ線は、大面積後方散乱検出機によって検出され、検出機の信号は、画像へと処理される。
走査ペンシルビーム２０１の強度、掃引速度、掃引角度、解像度などの仕様は、Ｘ線管２０３およびメカニカルスキャナ２０のパラメータによって決定される。検査バン１０６に配置されると共に車両１０８を検査するために使用される後方散乱システムの場合には、図１に示すように、メカニカルスキャナ（本明細書では用語「ビーム成形機」および「チョッパー」と同意語で使用される）２０を設計することが標準的な実務である。メカニカルスキャナは、検査バンから、特定のドライブ・バイ・スピードおよび特定の距離で移動する特定の高さの車両に対して、最適な画質を与える。他の高さまたは異なる距離または異なる速度の車両は、最適条件よりも低い条件で検査される。
図３は、検査中の特定の車両に対するビーム走査システムの最適ではないマッチングの従来技術の例を示す。図３に示す従来技術のシナリオでは、静止検査バン（図示せず）は、チョッパー２０から５フィート（１．５２４ｍ）の距離で時速５キロメートルで移動する自動車（検査車両１０８）を検査する。図２の従来技術のチョッパーフープ２１３は、２４インチ（０．６０９６ｍ）のホイール直径を有し、直径がそれぞれ１.５ｍｍの４つの開口２１５を有し、毎秒４０回転で回転し、連続する９０°のスイープを生成し、それぞれが６.２５ミリ秒要する。Ｘ線源から１２インチ（０．３０４８ｍ）の距離にある１．５ｍｍの開口は、検査車両１０８までの最小距離である５フィート（１．５２４ｍ）のところに、９ｍｍ幅の画素を生成する。ビームの各スイープの間に、検査車両は８.７ｍｍの距離を移動したので、連続する掃引が隣接して重なりあり、車両が完全に走査される。
図４（Ａ）は、図２のフープが回転するときに、互いに続く連続するビームスイープのビームカバレッジプロットである。このパラグラフのポイントを作成する実践的な単純化のために、画素幅は９ｍｍであり、スイープの間は変更されないと仮定する。実際には、スイープは砂時計を形成し、９０°スイープの上下で画素幅が４０％広くなる。図４（Ａ）〜図４（Ｃ）の各々における走査帯域の均一な幅は、ビーム成形機上のスイープの典型的な表現である。しかし、この均一性は、後述するように、Ｘ線検査の用途に望ましくない制限を課す。
デモンストレーションの目的で既に議論した値を使用すると、画素幅は、検査中に自動車が移動する８.７ｍｍの距離（図４（Ａ）では９ｍｍに四捨五入）より常に大きい。車は完全にスキャンされる。例えば、時速８キロメートルという速い速度では、車は、各スイープの間に約１３ｍｍ移動するので、図４（Ｂ）に示す画素パターンは、隙間を有する。車の調査はかなり不完全である。図４（Ｃ）は、時速２.５キロメートルのバン速度に対するパターンを示す（図示されているスキャンの垂直方向のオフセットは、説明的な目的のみである）。後者の場合、ビーム幅は、車両が１回のスイープで移動した距離の少なくとも２倍であり、連続するスキャンは完全に重なり合う。オーバーサンプリングを２倍にすると、測定強度の統計は改善されるが、検査時間が２倍になる。車が時速５キロメートルで移動して、検査バンにより近くまたはより遠くにあるときに、調査不測又はオーバーサンプリングは発生する。
図３の９０°走査ビームは、５フィート（１．５２４ｍ）の距離にある１２フィート（３．６５７６ｍ）のトラックに対する最適なカバレッジとして設計されたことに留意すべきである。５フィート（１．５２４ｍ）の距離にある車は完全にスキャンされるが、ビームの５０％以上が、空気をスキャンして無駄になる。
連続的な検査の間でスキャンパラメータを変更して、全Ｘ線ビームを対象Ｌにズームする機械的方法が提案されており、Grodzins‘３３９に記載されている。しかし、機械的手段は、検査コースの間にビームパラメータを変更することはできない。検査コースの間にビームパラメータを変更する手段が実際に存在しない限りにおいて、本明細書に記載され、クレームされる技術は、タイムリーな発明を構成する。
Ｘ線ビームが制動放射ターゲットに衝突するときに、電子ビームの形状を電子的に変化させることによってＸ線ビームの形状を変化させる手段は、長期に亘り周知であり、米国特許第５，８２２，３９５号（Schardt、１９９７年）などの文献に記載されている。この場合、電子ビームの断面は、オフ・センター角度、選択可能なターゲット角度およびビームパワーレベルに対する見かけの焦点スポット歪みを最小にするように成形される。出現Ｘ線ビームの伝搬方向が電磁気的に変化する様々な電磁走査システムも教示されている。１つの例は、米国特許第６，２８２，２６０号（Grodzins）である。
Ｘ線ビームを発生する過程における電子ビームの電磁的操作は、以下に説明するように、本発明の一態様を構成する。先行技術は、マルチアノードＸ線管の複数のアノード間の電子ビームの不連続な切り替え、以下に説明する本発明の目的を達成しない態様を記載する。
常にＸ線イメージングの分野に対する周知の全ての参考文献において、１回の走査の間に対象の複数のＸ線画像を取得するには、米国特許出願公開第２０１１/０２０６１７９号（Bendahan）に提案されているように、複数のＸ線源が、電子ビームを一連の放射生成ターゲットに分割するか、或いは、米国公開出願第２０１３/０１３６２３０号（Arodzero）に提案されているように、高速ビームキッカーを使用して、電子ビームを高速で複数の個々のターゲットに対してシフトすることの何れかを必要とする。
しかし、本発明に先立って、誰も、孤立制動放射ターゲットを備えた孤立線源を使用して、検査物体に対する検査システムの単一パスのコースの間に、単一の対象とのＸ線相互作用の複数の画像を得る方法を考案できなかった。
本発明の実施の形態によれば、Ｘ線は、電子ビームを放出するカソードと、アノードに対する前記電子ビームの方向を変えるビームコントローラと、Ｘ線を透過しないスナウトであって、スナウトの頂点に配置された第１開口によって特徴付けられ、且つ可変スナウト長によって特徴付けられるスナウトとを有する。さらに、Ｘ線源は、アノード上の所定パスにおいて電子ビームを走査するように、前記ビームコントローラに信号を印加するスイープコントローラを備え、Ｘ線ビームを、時間の関数として変化する方向に、前記開口から放出させる。
本発明の他の実施の形態では、以下に定義されるように、前記開口は、ロンメル開口である。前記ロンメル開口は、可変ロンメル開口である。前記開口は、前記アノードに対して再配置されるように構成されている。さらに、Ｘ線源は、スナウト長コントローラを含む。
本発明のさらなる実施の形態において、Ｘ線源は、Ｘ線ビームを放出する第２開口を備え、Ｘ線は、前記アノード上の電子ビームの配置に基づいて、前記第１開口または前記第２開口から放射される。フィルタが、前記アノードと前記第２開口との間に配置されたチャネル内に配置される。
本発明のさらなる概念により、Ｘ線ビームを被検査体を横切るようにスイープする方法が提供される。この方法は、
電子ビームが衝突するアノードに対する電子ビームの方向を変える工程と、
スナウトの長さによって特徴づけられる前記スナウトの頂点に配置された開口を介して前記アノードで生成されたＸ線を結合させることによって、時間の関数として、走査される方向によって特徴付けられるＸ線ビームを生成する工程と、
前記被検査体の寸法に基づいて前記スナウトの長さを調整する工程と
を含む。
本発明の他の実施の形態により、方法は、前記スナウトの２つの開口を通って放出されるＸ線を区別してフィルタ処理する工程を含む。方法は、前記被検査体の第１部分を走査する工程と、その後に前記被検査体の第２部分を走査する工程とをさらに含む。後者の場合、前記被検査体の前記第２部分は、前記第１部分と少なくとも部分的に重なる。
前記被検査体の前記第２部分を走査する工程は、前記第１部分が走査された第１サンプリングレートとは異なる第２サンプリングレートで走査する工程を含む。前記第２サンプリングレートは、走査のコースで得られる測定値に、少なくとも部分的に基づいている。
本発明のさらなる概念により、Ｘ線源は、電子ビームを放出するカソードと、第１アノード及び第２アノードに対する電子ビームの方向を変えるビームコントローラとを備えている。Ｘ線源は、Ｘ線を透過しない第１スナウトであって、前記第１スナウトの１つの頂点に配置された第１開口によって特徴付けられる第１スナウトと、Ｘ線を透過しない第２スナウトであって、前記第２スナウトの１つの頂点に配置された第２開口によって特徴付けられる第２スナウトとの両方を有する。スイープコントローラが、前記第１および第２アノード上の所定パス内で電子ビームを走査するように、信号をビームコントローラに印加するように設けられ、故に、第１Ｘ線ビームを、時間の第１関数として変化する方向に前記第１開口から放出させると共に、第２Ｘ線ビームを、時間の第２関数として変化する方向に前記第２開口から放出させる。
この場合、前記第１開口は、ロンメル開口であり、特に、可変ロンメル開口である。同様に、前記第２開口は、ロンメル開口であり、可変であっても良い。前記第１開口部および前記第２開口部は、別々の開口を有しても良い。Ｘ線源は、前記第１スナウトの長さを制御するスナウト長コントローラも備える。
本発明の他の概念により、複数の車両を同時に検査するシステムが提供される。このシステムは、複数の開口を備え、各開口が複数の車両のうちの１台の車両を収容するポータルを有する。システムは、前記複数の開口のうちの２つの開口の間の垂直部材内に配置され、前記複数の開口のうちの第１開口に向けられる第１Ｘ線ビームと、前記複数の開口のうちの第２開口に向けられる第２Ｘ線ビームとを生成する少なくとも１つの電磁スキャナを有する。そして、システムは、前記複数の車両のうちの第１車両によって前記第１Ｘ線ビームから散乱されたＸ線を検出し、第１散乱信号を生成する第１検出器と、前記複数の車両のうちの第２車両によって前記第２Ｘ線ビームから散乱されたＸ線を検出し、第２散乱信号を生成する第２検出器とを有する。最後に、システムは、前記第１および第２散乱信号の画像を表示するためのディスプレイを有する。
本発明のさらに他の概念により、車両と貨物とを同時に検査する移動システムが提供される。移動システムは、搬送パスの内部に配置されて、前記搬送パスの外側の走査パス内で第１Ｘ線ビームを掃引し、前記搬送パスの内部の平面内の第２走査パス内で第２Ｘ線ビームを掃引する両側性走査システムを有する。移動システムは、さらに、貨物を前記第２走査パスの前記平面を通過するように移動させるコンベアと、前記第１Ｘ線ビームから前記車両によって散乱されたＸ線を検出する第１検出器と、前記貨物と相互作用するＸ線を検出する第２検出器とを含む。
本発明の前述の特徴は、添付の図面を参照して以下の詳細な説明を参照することによってより容易に理解される。
図１は、Ｘ線源と、検出器のセットとが検査車両内に配置されている従来のＸ線後方散乱システムを示す。 図２は、従来の走査型Ｘ線ビーム成形機を示す。 図３は、従来技術のＸ線走査システムによる検査中の車両に対するビーム走査システムの最適でないマッチングを示す。 （Ａ）〜（Ｃ）は、検査車両と走査される対象との間の３つの相対速度で従来の走査Ｘ線ビーム成形機を使用する連続するビームスイープのビームカバレッジプロットを示す。 図５Ａは、本発明の一の実施の形態によるＸ線ビームの電磁走査の原理を示す。 図５Ｂは、本発明の一の実施の形態によるＸ線ビームの電磁走査の原理を示す。 図６Ａは、本発明の一の実施の形態による電磁的に走査されるＸ線ビームを用いた車両の走査を示す。 図６Ｂは、本発明の一の実施の形態により、電磁的に走査されるＸ線ビームがインターリーブされた１次および２次スキャンを有する車両の走査を示す。 図７Ａは、本発明の一の実施の形態による可変長のスナウトを有する電磁気スキャナの断面図である。 図７Ｂは、本発明の一の実施の形態によるデュアルエネルギ電磁気スキャナの断面図である。 図７Ｃは、本発明のさらなる実施の形態による、異なる長さのチャネルを備えた電磁気スキャナの断面図である。 図７Ｄは、本発明の一の実施の形態による、異なるサイズの開口を有する電磁気スキャナの断面図である。 （Ａ）は、本発明の一の実施の形態による、別個のＸ線ポインティング角から取られた複数の画像生成のためのスナウトの使用を説明する図であり、（Ｂ）は、断面における係るマルチイメージングスナウトの詳細な概略図である。 図９は、本発明の一の実施の形態による、多方向に放射されるＸ線ビームを生成する電磁気スキャナの断面図である。 図１０は、本発明の一の実施の形態による複数レーンＸ線検査ポータルシステムを示す。 図１１は、本発明のさらなる実施の形態による両側性Ｘ線検査バンを示す。 （Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の一の実施の形態による可動複合貨物および車両スキャナの水平面及び垂直面における断面を示す。 図１３Ａは、本発明の一の実施の形態による、さまざまな相対高さの対象車両の対を同時走査するための走査角度の別の構成を示す。 図１３Ｂは、本発明の一の実施の形態による、さまざまな相対高さの対象車両の対を同時走査するための走査角度の別の構成を示す。 （Ａ）〜（Ｃ）は、本発明の一の実施の形態による、走査されるアノードに対するロンメル開口の相対的配置と、出現Ｘ線の対応する走査角度とのサンプルを示す。
定義：本明細書および添付の特許請求の範囲で使用される場合、以下の用語は、文脈上別途必要とされない限り、示された意味を有するものとする。用語「車両」は、自走式であろうとなかろうと、人や機器を輸送するための乗物を意味する。車両がＸ線検査の対象物である場合、本明細書では「車」と称するが、これに限定するものではない。
用語「ビーム角度」は、角度ビームスパンの中心線に対して測定されるスキャンニング装置からのビームの瞬間的な出射角を示す。（故に、ビーム角は、ビームが走査されるにつれて瞬時に変化する。）
用語「走査角度」は、Ｘ線源によって放出されてアノードに向けられる電子ビームの中心軸などの、基準方向に対してＸ線スキャナから発せられるＸ線ペンシルビームの間で測定される、極値角度として定義される。
本発明を説明したり、または権利範囲を請求する目的で、用語「掃引（スイープ）角」は、用語「走査角」と同一として、さらに、同義として定義される。
掃引されるビームの用語「指向角」は、掃引（スイープ）の中心方向として定義される。
用語「指向方向」は、Ｘ線スキャナから発せられるＸ線ペンシルビームの伝搬方向として定義される。この場合、当該方向は、任意の基準物体または軸に対してよりも、空間内で定義される。
用語「スナウト」は、放射線が放射可能となる１つ以上の画定された開口を別にすれば、問題になっている放射線に対して不透過となるエンクロージャを意味するように定義される。
用語「スナウト長」は、Ｘ線が生成されるアノードと、外部の対象物を走査するためにスナウトからＸ線が発せられるスナウトの開口との間の距離として定義される。これは、「コリメーション長」としても周知である。
本明細書および任意の添付の特許請求の範囲で使用される場合、用語「ロンメルコリメータ」は、米国特許第２０１４／００１０３５１号（Ｒｏｍｍｅｌ、現在は米国特許第９，１１５，５６４号として特許）に記載されているように、ビーム角度とは独立に、所望のサイズおよびフラックスの走査Ｘ線ビームの形成を可能にするＸ線開口、または、その適宜の機能的変更例を指す。用語「ロンメル開口」は、「ロンメルコリメータ」と同義の意味を有する。
用語「可変ロンメル開口」は、パラメータが動作中にユーザによって変更される可能性があるロンメル開口である。
用語「正確なズーム」は、画素単位で測定されるような、一定の画像サイズを維持しながらも、走査システムの視野を変える能力を指す。
用語「走査高さ」は、検査される物体の、スキャナに対する位置で測定される、走査ビームの制限される垂直方向の範囲として定義される。
用語「リアルタイム」は、Ｘ線検査装置に対する検査対象の単一パス内の単一の検査対象を検査する過程の間を意味する。
本発明による実施の形態を、図５Ａおよび図５Ｂに示される電磁気スキャナ（ＥＭＳ）５０を参照して説明する。ＥＭＳ５０は、図１を参照して上述したＸ線検査用途で使用されるとき、図２のビーム成形機２０または他のビーム成形機と置き換えることができる。Ｘ線管２０３（図２に示す）などの線源からの電子ビーム５０１の中の電子は、アノード５０８を横切るようにスイープするために、ビームコントローラ５０５によって集束されて、操作される。アノード５０８は、水冷されてもよい。ビームコントローラ５０５は、電子ビーム５０１を制限して操作するための電場又は磁場、又は両方を印加し、特に、ビームコントローラ５０５は、ビームステアリングコイル５１９を含む。電子源は、大抵、電子ビーム５０１中の電子が放出されるカソード２０７を含む。アノード５０８上への電子ビーム５０１の衝突は、Ｘ線５１１を生成する。Ｘ線５１１は、図５Ｂに示す透過形態において、アノード５０８を通過し、真空空間５１３から出て、頂点５１９に単一出口開口５１７（本明細書では開口５１７と称す）を有するスナウト５１５に入る。開口５１７は、好ましくは、上で定義したようなロンメル開口であり、便宜上、開口５１７は、本明細書では一般性を失うことなく「ロンメル開口」と参照する。電子ビーム５０１がアノード５０８を横切ってスイープされるとき、発生するＸ線ビーム５２０は、角度をなしてスイープされる。スイープコントローラ５１８は、時間の関数として所定のパスにおいて電子ビーム５０１をアノード５０８を横切るように掃引させる信号を印加することによって、ビームコントローラ５０５を駆動する。
図５Ｂは、Ｘ線ビームがアノード５０７を通過するＥＭＳの「透過」形態を示す。なお、アノード５０７は、真空バリアとしても機能する。アノード５０７の向こうで、スナウト５１５は、空気５２１または別の物質で満たされている。
実践的な明瞭さのために、さらなる説明は、用語および用途を説明する目的のために図５Ｂの透過形態を参照する。しかしながら、別の実施の形態は、図５Ａに示すような、「反射」形態を使用することに留意する。図５Ａにおいて、反射アノード５０８は、電子ビーム５０１に対して、大抵は２０°の角度で配置されている。図５Ａに示される反射形態は、特に空間がプレミアムであるときに、しばしば好まれる。図５Ａの反射形態では、Ｘ線５１１は、反射アノード５０８の前面から放出され、真空空間５１３を出て、大抵は電子ビーム５０１に対して９０°の角度を指している開口先端スナウト５１５内に入る。スキャンされるＸ線ビーム５２０は、開口５１７を介して放射される。開口５１７は、透過形態と同様に、好ましくはロンメル開口である。
電子ビーム５０１が反射アノード５０８を下向き（上向き）に走査すると、Ｘ線ビーム５２０は開口から出て、検査対象１０８（図１に示す）を上向き（下向き）に走査する。本発明によって可能となる新規な機能は、長さ５０ｃｍ、幅２ｃｍのＥＭ走査のための比較的小さいアノード領域であると想定される反射アノード５０８によって実現されるが、しかし、図２の従来技術のＸ線管のアノードの活性領域の１０００倍である。電子ビーム５０１は、５０ｃｍ×２ｃｍの反射アノード５０８全体にアドレスでき、最大角度範囲、この場合は９０°×３．４°に亘ってＸ線ビームを生成する。
例として、以下の実用的なパラメータが提供される：０．５ｍｍの焦点スポット、長さ２５ｃｍのスナウトは、可変ロンメル開口で終わり、１ｍｍ×１ｍｍの開口でセットされる。開口からのＸ線ビームは、５フィート（１．５２４ｍ）のところに５ｍｍの画素を生成する。画素サイズは、一定の水平距離で、アノードが画像化される対象平面と平行である限り、Ｘ線ビームが放出される高さの範囲に亘る画素の垂直高さとは独立していることに留意する。画素ストライプの一定の幅は、図４に示すように、ＥＭＳに対する正しい表現である。垂直方向の高さによる画素サイズの均一性は、電磁走査によって有利に達成されるが、一方、Ｘ線ビーム制御の他の手段による係る均一性の達成は面倒である。
本発明の実施の形態によれば、アノード５０７に沿って掃引する電子ビーム５０１内の電子は、連続的である必要はなく、マイクロ秒毎に制御されることができ、１の画素から次の画素への移行中に電子電流が減少またはゼロになる。簡略化のために、アノード５０７に沿った２５０ｍ／ｓの一定電子掃引速度が仮定され、フライバック速度は、少なくとも速くなる。以下の説明では、フライバック時間は無視され、実際には、画素サイズのわずかな増加によって説明される。
パラメータは、限定ではなく、説明目的のみで本明細書に記載されていることを強調する。実際には、ＥＭＳパラメータの詳細は、調整可能範囲を含み、システム設計に依存する。本質的なポイントは、電磁場（ＥＭ）によって制御されるパラメータの位相空間内での変化は、マイクロ秒毎に作られることである。さらに、本発明により記載された全ての技術革新は、図５Ｂに示される透過モード、又は図５Ａに示される反射モードのいずれかに適用され得ることに留意すべきである。
２５０ｍ／ｓ（時速９００キロメートル）の電子ビーム５０１の仮定走査速度は、５０ｃｍのアノードを２ｍｓで走査する。これは、非常に高速の機械的なチョッパ・ホイールの走査速度を見積もる。しかしながら、ＥＭＳ５０は、時速１０，０００キロメートルを超える速度で電子ビームを走査することができる。故に、電子ビーム５０１を、単一のスイープ時間の一部においてアノード５０７の領域内のどこにでも配置することができる。また、電子ビーム５０１の強度もマイクロ秒単位で制御できるので、電子ビームのフライバック時間をビームオフで行うことができる。
図６Ａは、本発明の一実施の形態による電磁スキャナ５０によって検査される車両１０８を示す。電子ビーム５０１は、アノード５０７を横切って走査され、故に、スナウト５１５の開口５１７を介して走査限界６０１、６０２の間の方向に方向付けられ、特に、車両１０８の角度範囲に限定されるＸ線５２５を生成する。したがって、図６に示す走査動作では、走査は、水平軸６１０と下方走査限界６０１との間で最適に制限される。
中心基準軸６０３に対する出現Ｘ線ペンシルビーム５２５の制限角度は、走査角度６０５である。走査角度６０５は、アノード・スナウトの配置によって決定される。スナウト５１５の長さ６０７の変更によって、開口５１７のサイズの変化とともに、ＥＭＳ５０が、車高、速度及び距離の広範囲にわたって最適なズーム及び画素サイズを有することを効果的に可能とする。このスナウト５１５の長さ６０７の変更は、開口５１７のサイズの変化と一緒であり、連続的な検査の間など、どちらも数秒で行うことができる。
スナウト５１５の長さ６０７は、アノード５０７とロンメル開口５１７との間の距離として定義される。対象車両１０８が走査Ｘ線ビーム５２５を横切る前の数秒の間にスナウト５１５の長さ６０７を変更することにより、ビームの全束を異なる高さおよび距離にある対象に焦点を合わせることが効果的に可能になる。
調節可能スナウト７１５の長さ６０７を変化するために提供される本発明の実施の形態を、図７Ａを参照して説明する。反射アノード５０８に対するロンメル開口５１７の変位は、アクチュエータ７０３によって方向７０１に沿って変更される。アクチュエータ７０３は、本発明の範囲内にあり、モータ駆動のメカニカルリニアアクチュエータであり、または、適宜の種類のアクチュエータであってもよい。真空バリア７０７は、真空空間５１３を封止する。プロセッサ７０４は、アクチュエータ７０３を駆動するように機能する。プロセッサ７０４とアクチュエータ７０３との組み合わせは、本明細書ではスナウト長コントローラと称す。
可変長スナウト７１５の動作は、以下の実施例から理解される。ＥＭＳから５フィート（１．５２４ｍ）にある高さ１５フィート（４．５７２ｍ）のトラクタ・トレーラーは、１１７°のスキャン角を生成する１５ｃｍのスナウトの長で最も効果的に走査される。しかし、トラクタ・トレーラがＥＭＳから１０フィート（３．０４８ｍ）の距離であれば、上記に定義されるようなスキャン高さは、３２フィート（９．７５３６ｍ）になり、ビームの５０％が無駄になる。図７ＡのＥＭＳスナウトは、オペレータ（または予めプログラムされたコンピュータ）に、ビームをより効果的に利用するための様々な選択肢を与える。この選択肢には、スナウト長を３５ｃｍに増やすことや、ロンメルの開口５１７を開いたり、またはアノードのより短い長さに亘る走査を含む。
走査を特定範囲に制限することは、本発明のＥＭＳの真正ズーム能力の実例である。図６Ａを参照すると、まず、自動車１０８が毎時５キロメートルの速度でＥＭＳから５フィート（１．５２４ｍ）走行すると仮定する。この例示のために、２５ｃｍのスナウト５１５の端部にあるロンメル開口５１７は、自動車１０８のところで３ｍｍ幅の画素６２０を生成するために、０．６ｍｍの幅に調整される。
２ミリ秒の間に、自動車１０８は、２．８ｍｍ移動した。Ｘ線スイープ６２５は、幅が３ｍｍであり、重なり合い、故に、自動車１０８は完全に走査される。しかしながら、走査高さ（すなわち、アノード５０７の高さ全体が走査されるときの走査の垂直範囲）は、自動車の高さの２倍であるので、図３を参照して上述した従来技術のメカニカルスキャナ２０の場合のように、５０％のビームが、空気を走査するので再び無駄になる。スキャンに先立ち測定できるミスマッチも、速度センサおよび距離センサの使用とともに、対象車両１０８の最初の２、３回のスキャンの結果から数ミリ秒で測定できる。その認識により、ＥＭＳ５０は、電子スイープをアノード５０７の上半分に閉じ込める。現在、自動車のスイープは、わずか１ミリ秒（２ｍｓではなく）しかかからず、その間、車両はわずか１．４ｍｍ移動する。この距離は、車両上のＸ線ビーム５２５の３ｍｍ幅の半分以下である。Ｘ線ビーム５２５の連続的なスイープは、２倍以上にオーバラップし、自動車上のビームの束を２倍に増加し、各画素の信号対ノイズ比を約４０％だけ増加させる。
真正ズームと二度繰り返しスキャン条件は、少なくとも１５フィート（４．５７２ｍ）まで延びる車両の高さ、少なくとも４から１５フィート（１．２１９２から４．５７２ｍ）の車両距離、時速１２キロメートルまでの相対速度の広範囲に亘って容易に作成できる。
特に、連続する掃引から作られる画像は、独立であることを理解すべきである。したがって、例えば、交互掃引の各々は独立していてもよく、奇数番号の掃引から生成された画像は、偶数番号の掃引によって生成された画像とは独立している。インターリーブの掃引の各シリーズは、それ自体の角度の広がり（すなわち、ズーム）、ポインティング角度および画素解像度を有する場合がある。
図７Ｂ〜図７Ｄに示すように、複数のチャネルＡおよびＢを有するスナウト７２０によって、これらのパラメータは、マイクロ秒で、すなわち検査中にリアルタイムで変更可能であり、少なくとも２つの独立した画像を作成する。以下の実施例は、長さ５０ｃｍ×幅２ｃｍの反射アノード５０８を有するＥＭＳ５０の一例を使用する。各実施例において、対象車両１０８の速度、高さおよび距離の情報（knowledge）は、例えば、レーダー、ソナー、および光学カメラなどのセンサによって、対象車両が走査Ｘ線ビーム５２０を通過する前の数秒間の間に、予め決められると推定される。これらの数秒の間に、スナウト長６０７（図６Ａ）およびロンメル開口５１７のサイズなどの機械的に制御されるビームパラメータが、調整されて、対象車両１０８上の画素幅６２０が単一のビーム掃引中に車両が移動する距離の少なくとも２倍になる。
スナウト７２０が複数のチャネルＡおよびＢを有する限り、連続する掃引は、一次スイープ時間ΔΤ（Ρ）および二次スイープ時間ΔΤ（Ｓ）によって特徴付けられる。一次スイープの間に対象１０８によって散乱されるＸ線の検出（後方散乱検出器１０４等の検出器および標準Ｘ線検出技術を使用）は、（標準後方散乱信号処理技術を用いて）一次画像を形成するために処理される信号を形成する。同様に、二次スイープは、一次スイープの時間間隔ΔΤ（Ρ）に嵌まるように、出来るだけ多くの二次画像ΔΤ（Ｓｉ）を形成する。一次スキャンと二次スキャンとは挟み込まれ、二次スキャンは一次スキャンの間に生じる。
実施例１ 特定領域でのセカンダリビューの集中
検査官は、すべてのトラックの特定部分の強化画像を望むかもしれない。図６Ｂは、ＥＭＳが、ＥＭＳ５０のスナウト５１５から７フィート（２．１３３６ｍ）の距離にあり時速１２キロメートルで移動する１４フィート（４．２６７２ｍ）の高さのトラクタ・トレーラをスキャンする様子を示す。トラクタの走査中、ビームの高さ及び強度は、サイズおよび最大線量に適合するように容易に調整される。トレーラの走査中、１回のドライブバイ（drive-by）は、２つの独立したビュー、すなわち、トレーラ全体の一次画像と、トレーラ内部の下半分にある貨物の改良された二次画像とを生成する。この実施例では、セミトレーラは、１４フィート（４．２６７２ｍ）の高さの２ミリ秒のフルスイープ中に３．３ミリメートル移動する。ロンメル開口５１７（図５Ａに図示）は、１ｍｍの直径に設定され、７ｍｍ幅の画素のストライプを生成する。奇数番号のスイープは、一次走査パス６３０に沿った一次スイープと称され、隣り合う。一次スイープ単独で、完全にスキャンされたトレーラの画像を生成する。交互のスイープは、一次スイープと二次スイープに分割され、二次スイープは二次スイープ経路６３２上で行われる。
各一次スイープは２ミリ秒かかり、トラックの高さである１４フィート（４．２６７２ｍ）を完全に走査する。各一次スイープに続く２ミリ秒が、二次スイープに対して使用される。図６Ｂに示すように、二次スイープは、荷物が最も集中するトレーラの床の上の４．５フィート（１．３７１６ｍ）に集束する。４．５フィート（１．３７１６ｍ）スキャンの各々は、０．６４ミリ秒しか要しないため、３つの二次スイープが一次スイープの各々に続く。一次スキャンと二次スキャンとで形成された画像は、正確な登録において、別々に表示され、又は重ね合わせられる。オペレータは、密輸の可能性のある場所で、信号対ノイズ比が大幅に改善された画像を見る。
実施例２ 分解能を向上させるデュアルチャネルスナウトの使用
図７Ｂ〜図７Ｄの各々のスナウト７２０は、２つのチャネルＡおよびＢの各々に別々のロンメルコリメータ５１７を有し、奇数番目のＸ線ビーム７４１がチャネルＡを通過し、偶数番目のＸ線ビーム７４２がチャネルＢを通過するように、電子ビーム５０１の走査を交互に行うことによって、２つの独立したビューを得るために使用され、故に、場合に応じて、様々な画素エネルギ、解像度または画素強度を生成する。係るスナウトは、「デュアルチャネルスナウト」、または「２チャネルスナウト」と称される。複数のチャネルを備えたスナウトは、「マルチチャネルスナウト」と称される。
実施例３ 外部プラスチックからの誤ったアラームの除去
自動車の後方散乱（ＢＸ）検査は、爆発物や薬物の捜査において、自動車の鋼製車体の内側にある可能性のある密輸品を、車両の外側の一部を構成するプラスチックやカーボンファイバなどの軽元素物質から区別する困難に直面する。本発明の実施の形態の１つによるＥＭＳ５０は、図７ＢのチャネルＡを介してΔΤ（Ｐ）ビームを送信し、図７Ｂのフィルタ７５０を有するチャネルＢを介して代替ビームΔΤ（Ｓ）を送信することによって、誤ったアラームを効率的に排除する。フィルタ７５０は、例えば、約７０ｋｅＶ以下のＸ線を強く吸収する。したがって、自動車１０８は、２回走査される。この場合、各走査は完全であり、スペクトル分解能を提供する。チャネルＡを通過するＸ線からなる画像内の画素の強度を、チャネルＢを通過するＸ線からなる画像内の対応する強度と比較すると、軽元素物質が鋼の後ろにあるかどうかを一意的に特定する。
関係する現象の物理的説明は以下の通りである。車体の鋼の後ろにあるプラスチックまたは他の低Ｚ物体を見つけるには、鋼鉄を最初に透過し、次にプラスチック対象物体内でコンプトン後方散乱し、最後に鋼鉄を透過して戻って検出器１０４（図１に図示）に到達するのに十分なエネルギのＸ線が必要である。
ＥＭＳ５０からのＸ線スペクトルの６０ｋｅＶ成分を考慮すると、そのスペクトル成分の強度は、１．５ｍｍの鋼を透過することによって内部に入るとき、ほぼ４分の１に減少する。このビームは、プラスチックによって後方散乱されるコンプトンであり、６０ｋｅＶを４９ｋｅＶに減らすプロセスである。４９ｋｅＶのＸ線は、車両の表面を再度横切るときに吸収され、さらに１０分の１になる。純損失は、車両の１．５ｍｍのスチール壁の吸収により、４０倍である。損失は、６０ｋｅＶのＸ線の場合、９０ｋｅＶの入射Ｘ線に対する強度損失の１０倍である。このように、低エネルギＸ線は、遮蔽されていないプラスチックからの強い信号を生じるので、適度な厚さの鋼によって遮蔽されているプラスチックを検出するには実用的ではない。
ビームから低エネルギーフラックスを除去することで、プラスチックが鋼の後ろにある場合は、２つの画像にわずかな違いが生じるが、プラスチックがシールドされていない場合は、大きな違いが生じる。１．５ｍｍの鋼の後ろ及び正面にある、高密度ポリエチレン製の厚さ２インチのターゲット上で２２０ｋｅＶのＸ線ビームを使用する試験値は、主張がある。表１は、１．５ｍｍの銅製フィルタをビームに挿入した結果を示す。
Figure 0006746691
２．７と１．８との比の値の間の５０％の違いは、自動的に、コンピュータが、軽元素物質の位置を（軽元素物質が車両のスチール製の表面に対し前方または背後にあるかどうかについて）明白に知らせることができるように区別される。図７Ｂに示すフィルタ７５０の厚みは、全走査角にわたって延在し、好ましくは、出射Ｘ線が中心線に対して作る角度のコサインに反比例して変化する。
実施例４．スイープをベースとする基準を満たす
ＥＭＳ５０のパラメータは、特定の基準を満たすすべての領域をオーバーサンプリングするように予めプログラムされる。これは、１回の検査中の二次スキャンの多重変化になる。例えば、走査基準は、一次スキャンにおいて、低Ｚターゲットの存在を示す後方散乱強度を生成するすべての領域をオーバーサンプリングすること、または、一次スキャンの強度における突然の低下が金属コンテナの潜在的な可能性を示すときにオーバーサンプリングすることである。この基準は、１回の一次スイープの強度パターンであり、または連続するスイープからの強度パターンである。前述の基準は、一例として示され、本発明の範囲を制限するものではない。
実施例５．ＰスキャンとＳスキャンとの間の画素解像度の変更
本発明の他の実施の形態によれば、対象１０８上の画素サイズ６２０（図６Ａに示す）は、アノード５０７から開口５１７までの距離６０７を変更することによって、または開口サイズを変更することによって変更される。メカニカルビーム成形機は、数秒で当該行為を行うことができるが、検査中にその変更を行うために必要とされるマイクロ秒単位で行うことはできない。ＥＭＳ５０は、例えば、図７Ｄに示すように、一の幅に対して設定された第１ロンメルコリメータ７１８と、別の幅に対して設定された第２ロンメルコリメータ７１９とを備えた２チャネルスナウトを使用することによって、検査中にこれを行うことができる。又は、または、さらに、アノード７０８と各ロンメルコリメータ７１８、７１９との間の距離は、図７Ｃに示すように、チャネル間で異なってもよい。
実施例６．複数のＢＸビュー角
様々な角度から得られる後方散乱ビューから深さを測定する基本的な概念は、本明細書に参照により組み込まれる米国特許第６，０８１，５８０号（Ｇｒｏｄｚｉｎｓ）に記載されている。一次ビューが、相対移動の方向１１６（図１に示す）に垂直である中心ビームであると仮定すると、２つの二次ビューを、電子ビームを２ｃｍ幅のアノードのいずれかのエッジに沿って走査することによって得ることができる。２５ｃｍのスナウト用の垂直面に対するプラス及びマイナス１．７°の角度差は、ほとんどの用途に対して十分ではなく、より広いアノードが実用的である。本発明の範囲内では、適切な低速で行われる検査は、広いアノードおよび適切なスナウトにより、画像内の物体の深さを知らせる対象の角度画像のシーケンスを生成する。複数の開口が、図８（Ａ）および８（Ｂ）に示されるように、単一のスナウト８０５において使用されて、各々が異なるＸ線指向角から取られた複数の画像を生成して、対象車両１０８内の物体の深さについての情報を与える。さらに、統合システム８００は、後方散乱検出器１０４から得られた後方散乱データを、透過検出器８０２でえられた透過（ＴＸ）データと組み合わせる。なお、透過（ＴＸ）データはセグメント化されず、透過検出器８０２は、送信ビームの強度を測定する。透過Ｘ線の各画像は、適切な後方散乱画像と時間的に同期される。
本発明の他の実施の形態により、両側性走査システムを、符号９００で示し、図９を参照して以下に記載する。電子ビーム５０１は、１回の走査の間に、複数のアノード５０８に交互に入射するように操作される。アノード５０８で放射されたＸ線９０１は、真空バリア７０７を横切り、真空領域９０７を通過して、スナウト９１０、９１２のそれぞれの端部にあるロンメル開口５１７を通過した後に、右方向および左方向のビーム９０３、９０５を形成する。このように、右方向および左方向のビーム９０３、９０５は、互いに独立して走査される。スナウト９１０、９１２は、図７Ａを参照して説明したように、長さが調節可能である。スナウト９１０、９１２の長さの調整可能性は、右方向および左方向ビーム９０３、９０５の一方または両方に対し「真正ズーム」（上述）を提供する。
２つの走査ビーム９０３、９０５の形成は、図９を参照して説明したように、有利なことに多くの用途を可能にする。図１０を参照して説明する実施の形態では、符号１０００で示されるポータル構造が、複数の路面１００２、１００４上のポータル１０００を通過する複数の車両１０８を走査する並行検査のために使用される。Ｘ線ビームは、多くは頂部から、そして２つの側面の両方から、複数の走査パターン１１４内で、各車両１０６に入射する。左方向及び右方向のＸ線ビームを有する検査ポータルの実施は、２つのＸ線源（各側面に１つ）を必要とするが、図９の右方向及び左方向ビーム９０３、９０５は、その発生のために単一の両側性走査システム９００のみを必要とする。係る両側性走査システム９００は、路面１００２、１００４の間の検査柱１０１０内に配置されるので、（Ｎ＋１）台の走査システムが、Ｎ台の車両１０６の右側及び左側を覆うために必要とされる。ポータル構造１０００は、図示されているように固定されていてもよく、又は、ガントリ動作を包囲してもよい。この場合、ポータル構造１０００がレール上またはその他の方法で移動して、貨物コンテナなどの静止した対象を並行して走査する。検査カラム１０１０も、第２検査車両１３０２によって散乱されるＸ線の検出と同時に、第１検査車両１３０１によって散乱されるＸ線放射を検出する第１散乱検出器（図示せず）を含む。第２検査車両１３０２によって散乱されるＸ線の検出は、第２散乱検出器（図示せず）によって行われ、第２散乱検出器も、検査カラム１０１０に含まれている。検出器は、それぞれの後方散乱信号を生成し、これらの信号は処理されて、ディスプレイ１２５０上にてオペレータに対し表示される後方散乱画像を生成する。
図９を参照して説明した固定ポータル両側性スキャンシステムの動作と同様に、両側性スキャンシステム９００は、検査車両１０６上に搭載され、検査車両１０６のそれぞれの側面に１つずつ存在する、２つの検査対象１０８１、１０８２を走査する。検査車両１０６は、Ｘ線の走査パターン１０２５、１０２６を両側に放射して、故に、車両が方向１１１０に進むときに、いずれかの側の車両を走査する。
図１２（Ａ）および１２（Ｂ）を参照すると、モバイル複合貨物および車両スキャナ１２００の水平面および垂直面の断面がそれぞれ示されている。ＥＭＳ５０が、検査車両１２０３内の両側性走査システム９００と共に使用される。なお、検査車両１２０３は、例えば、トレーラであったり、またはトラクタキャブ１２０５によって牽引されてもよい。ＥＭＳ５０は、両側性走査システム９００と共に使用され、２つの走査Ｘ線ビーム１２２０、１２２２を生成する。Ｘ線ビーム１２２０は、外部検査対象１０８を走査するために検査車両１２０３の外側に向けられ、一方、Ｘ線ビーム１２２２は、検査車両１２０３内に配置されたコンテナ１２１０に向けられる。このような構成は、例えば、小型空港で展開され、車両と荷物との両方を検査するための単一の検査車両１２０３の使用を可能にする。このように、コンテナ１２１０は、荷物のアイテムを単独で、または組み合わせて含む。コンテナ１２１０は、機械式コンベヤ１２１１によって、Ｘ線ビーム１２２２の（垂直の）面を横切る方向に搬送される。検査対象１０８によって散乱された後方散乱Ｘ線１２３０は、後方散乱検出器１０４によって検出され、処理されて第１後方散乱画像を生成する。同様に、検査コンテナ１２１０によって散乱された後方散乱Ｘ線１２３２は、後方散乱検出器１２２２によって検出され、或いは透過検出器１２１４、１２１６によって検出される。全ての検出器は、オペレータに表示される１つ以上の画像を生成するために処理された信号を生成する。両方の走査プロセスは、本発明により教示されたＥＭＳプロトコルおよびシステムによって同時に実施される。
図１３Ａおよび図１３Ｂは、本発明によるインターリニア・インターリーブにより、一対の検査車両１３０１、１３０２を同時に走査するために、本発明によりインターリーブされる、走査に対応する走査角１３００の様々な組み合わせを示す。走査角１３００は、検査車両の検知サイズに適合させることができる。又は、走査角１３００は、検査車両１３０１、１３０３が異なる高さを有する図１３Ｂに示す場合のように、検査車両１０６のそれぞれの側面で異なってもよい。
図１４（Ａ）〜図１４（Ｃ）は、本発明の範囲内にあり、ロンメル開口５１７が、アノード５０７に対して垂直な方向だけでなく（図１４（Ａ））、弧状の経路に沿って（図１４（Ｂ））、または、アノード５０７が走査される方向と平行に（図１４（Ｃ））、走査されるアノード５０７に対して移動されることを示している。これは、図示されているように、出現するＸ線の対応する走査角度および中心方向の様々な可能性を開く。
本発明の上記実施の形態は単なる例示であり、多数の変形例および修正例が当業者には明らかである。係る変形例および修正例は、全て添付の特許請求の範囲に規定される本発明の範囲内にあるものとする。
５０ 電磁スキャナ
１０８ 検査車両
５０１ 電子ビーム
５０５ ビームコントローラ
５０７、５０８ アノード
５１５ スナウト
５１７ 開口
５１８ スイープコントローラ
５１９ 頂点
５２５ ビーム
６０７ スナウト長
７０３ アクチュエータ
７０４ プロセッサ
７０７ 真空バリア
７１５ 可変長スナウト
７２０ スナウト
７５０ フィルタ
８０２ 透過検出器
８０５ スナウト
９００ 両側性走査システム
９０３、９０５ 走査ビーム
９１０、９１２ スナウト
１０２５、１０２６ 走査パターン
１０８１、１０８２ 検査対象
１２００ 車両スキャナ
１２５０ ディスプレイ
１３０１、１３０２ 検査車両

Claims (21)

  1. ａ．電子ビームを放出するカソードと、
    ｂ．アノードに対する前記電子ビームの方向を変えるビームコントローラと、
    ｃ．Ｘ線を透過しないスナウトであって、前記スナウトの頂点に配置された第１開口によって特徴付けられ、且つ可変スナウト長によって特徴付けられるスナウトと、
    ｄ．アノード上の所定パスにおいて電子ビームを走査するように前記ビームコントローラに信号を印加することにより、Ｘ線ビームを、時間の関数として変化する方向に、前記第１開口から放出させ、もって、被検査体を横切るように前記Ｘ線ビームをスイープするスイープコントローラと、
    ｅ．前記被検査体の寸法に基づいて前記スナウトの長さを調整するスナウト長コントローラと、を備えることを特徴とするＸ線源。
  2. 前記第１開口は、ロンメル開口であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線源。
  3. 前記ロンメル開口は、可変ロンメル開口であることを特徴とする請求項２に記載のＸ線源。
  4. 前記第１開口は、前記アノードに対する位置が変化するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線源。
  5. 前記ビームコントローラは、ステアリングコイルを含むことを特徴とする請求項１に記載のＸ線源。
  6. さらに、Ｘ線ビームを放出する第２開口を備え、
    Ｘ線は、前記アノード上の電子ビームの配置に基づいて、前記第１開口または前記第２開口から放射されるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線源。
  7. さらに、前記アノードと前記第２開口との間に配置されたチャネル内に配置されたフィルタを備えることを特徴とする請求項６に記載のＸ線源。
  8. Ｘ線ビームを被検査体を横切るようにスイープする方法であって、
    ａ．電子ビームが衝突するアノードに対する電子ビームの方向を変える工程と、
    ｂ．スナウトの長さによって特徴づけられる前記スナウトの頂点に配置された開口を介して前記アノードで生成されたＸ線を結合させることによって、時間の関数として、走査される方向によって特徴付けられるＸ線ビームを生成する工程と、
    ｃ．前記被検査体の寸法に基づいて前記スナウトの長さを調整する工程と
    を含むことを特徴とする方法。
  9. さらに、前記スナウトの２つの開口を通って放出されるＸ線を区別してフィルタ処理する工程をさらに含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
  10. 前記被検査体の第１部分を走査する工程と、
    その後に前記被検査体の第２部分を走査する工程とをさらに含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
  11. 前記被検査体の前記第２部分は、前記第１部分と少なくとも部分的に重なることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
  12. その後に前記被検査体の前記第２部分を走査する工程は、前記第１部分が走査された第１サンプリングレートとは異なる第２サンプリングレートで走査する工程を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
  13. 前記第２サンプリングレートは、走査のコースで得られる測定値に、少なくとも部分的に基づいていることを特徴とする請求項１２に記載の方法。
  14. ａ．電子ビームを放出するカソードと、
    ｂ．第１アノード及び第２アノードに対する電子ビームの方向を変えるビームコントローラと、
    ｃ．Ｘ線を透過しない第１スナウトであって、前記第１スナウトの１つの頂点に配置された第１開口によって特徴付けられる第１スナウトと、
    ｄ．Ｘ線を透過しない第２スナウトであって、前記第２スナウトの１つの頂点に配置された第２開口によって特徴付けられる第２スナウトと、
    ｅ．前記第１および第２アノード上の所定パス内で電子ビームを走査するように、信号をビームコントローラに印加するスイープコントローラと
    を備え、
    第１Ｘ線ビームを、時間の第１関数として変化する方向に前記第１開口から放出させると共に、第２Ｘ線ビームを、時間の第２関数として変化する方向に前記第２開口から放出させることを特徴とするＸ線源。
  15. 前記第１開口は、ロンメル開口であることを特徴とする請求項１４に記載のＸ線源。
  16. 前記第１開口は、可変ロンメル開口であることを特徴とする請求項１４に記載のＸ線源。
  17. 前記第２開口は、ロンメル開口であることを特徴とする請求項１５に記載のＸ線源。
  18. 前記第１開口および前記第２開口は、別々の開口を有することを特徴とする請求項１７に記載のＸ線源。
  19. 前記第１スナウトの長さを制御するスナウト長コントローラをさらに備えることを特徴とする請求項１４に記載のＸ線源。
  20. 複数の車両を同時に検査するシステムであって、
    ａ．複数の開口を備え、各開口が複数の車両のうちの１台の車両を収容するポータルと、
    ｂ．前記複数の開口のうちの２つの開口の間の垂直部材内に配置され、前記複数の開口のうちの第１開口に向けられる第１Ｘ線ビームと、前記複数の開口のうちの第２開口に向けられる第２Ｘ線ビームとを生成する少なくとも１つの電磁スキャナと、
    ｃ．前記複数の車両のうちの第１車両によって前記第１Ｘ線ビームから散乱されたＸ線を検出し、第１散乱信号を生成する第１検出器と、
    ｄ．前記複数の車両のうちの第２車両によって前記第２Ｘ線ビームから散乱されたＸ線を検出し、第２散乱信号を生成する第２検出器と、
    ｅ．前記第１および第２散乱信号の画像を表示するためのディスプレイと
    を含むことを特徴とするシステム。
  21. 車両と貨物とを同時に検査する移動システムであって、
    ａ．搬送パスの内部に配置されて、前記搬送パスの外側の走査パス内で第１Ｘ線ビームを掃引し、前記搬送パスの内部の平面内の第２走査パス内で第２Ｘ線ビームを掃引する両側性走査システムと、
    ｂ．貨物を前記第２走査パスの前記平面を通過するように移動させるコンベアと、
    ｃ．前記第１Ｘ線ビームから前記車両によって散乱されたＸ線を検出する第１検出器と、
    ｄ．前記貨物と相互作用するＸ線を検出する第２検出器と
    を含むことを特徴とする移動システム。
JP2018512980A 2015-09-10 2016-09-07 行間適応電磁ｘ線走査を用いた後方散乱特性評価 Expired - Fee Related JP6746691B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201562216783P 2015-09-10 2015-09-10
US62/216,783 2015-09-10
PCT/US2016/050467 WO2017044441A1 (en) 2015-09-10 2016-09-07 Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic x-ray scanning

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018528586A JP2018528586A (ja) 2018-09-27
JP6746691B2 true JP6746691B2 (ja) 2020-08-26

Family

ID=58239940

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018512980A Expired - Fee Related JP6746691B2 (ja) 2015-09-10 2016-09-07 行間適応電磁ｘ線走査を用いた後方散乱特性評価

Country Status (12)

Country Link
US (1) US10656304B2 (ja)
EP (1) EP3347705A4 (ja)
JP (1) JP6746691B2 (ja)
KR (1) KR20180041763A (ja)
CN (2) CN110824573A (ja)
AU (4) AU2016321158A1 (ja)
BR (1) BR112018004768B1 (ja)
CA (1) CA2998364A1 (ja)
GB (1) GB2559500B (ja)
HK (1) HK1257878A1 (ja)
MX (1) MX2018003016A (ja)
WO (1) WO2017044441A1 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9958569B2 (en) 2002-07-23 2018-05-01 Rapiscan Systems, Inc. Mobile imaging system and method for detection of contraband
US10670740B2 (en) 2012-02-14 2020-06-02 American Science And Engineering, Inc. Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors
KR102105727B1 (ko) 2012-02-14 2020-05-29 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. 파장-편이 섬유-결합 신틸레이션 검출기를 사용한 x-선 검사
EP3271709B1 (en) 2015-03-20 2022-09-21 Rapiscan Systems, Inc. Hand-held portable backscatter inspection system
US10541102B2 (en) * 2016-09-14 2020-01-21 The Boeing Company X-ray back scattering for inspection of part
EP3544678A4 (en) * 2017-03-31 2020-08-12 Sensus Healthcare, Inc. THREE-DIMENSIONAL BEAM SHAPING X-RAY SOURCE
US11045667B2 (en) 2017-07-18 2021-06-29 Sensus Healthcare, Inc. Real-time x-ray dosimetry in intraoperative radiation therapy
CN108227027B (zh) * 2017-12-29 2020-12-01 同方威视技术股份有限公司 车载背散射检查系统
CN108008458B (zh) * 2017-12-29 2020-09-08 同方威视技术股份有限公司 车载背散射检查系统
US11672491B2 (en) 2018-03-30 2023-06-13 Empyrean Medical Systems, Inc. Validation of therapeutic radiation treatment
CN108594317B (zh) * 2018-05-10 2024-07-05 同方威视技术股份有限公司 双通道背散射检测设备
CN108426899B (zh) * 2018-05-10 2024-07-02 同方威视技术股份有限公司 复合检查设备和复合检查方法
EP3811117A4 (en) 2018-06-20 2022-03-16 American Science & Engineering, Inc. SCINTILLATION DETECTORS COUPLED TO WAVELENGTH OFFSET SHEET
US11940395B2 (en) * 2019-08-02 2024-03-26 Videray Technologies, LLC Enclosed x-ray chopper wheel
US11193898B1 (en) 2020-06-01 2021-12-07 American Science And Engineering, Inc. Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system
US11175245B1 (en) 2020-06-15 2021-11-16 American Science And Engineering, Inc. Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity
US20230236141A1 (en) * 2020-06-25 2023-07-27 Joseph Bendahan Systems and methods for real-time configurable backscatter scanners
US11340361B1 (en) 2020-11-23 2022-05-24 American Science And Engineering, Inc. Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner
ES2926001B2 (es) * 2021-04-09 2023-06-22 Gd Energy Services S A U Procedimiento de detección y reparación de defectos en sellados de penetraciones
CN113740359A (zh) * 2021-09-28 2021-12-03 原科辐能(烟台)智能科技有限公司 一种自适应式多x射线源车辆检查装置
US20240310300A1 (en) * 2023-03-17 2024-09-19 Rapiscan Holdings, Inc. Systems and Methods for Monitoring Output Energy of a High-Energy X-Ray Source

Family Cites Families (165)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2569872A (en) 1949-12-24 1951-10-02 Machlett Lab Inc Electron discharge tube
US2825817A (en) 1954-10-28 1958-03-04 Medtronics X-ray apparatus
US3114832A (en) * 1960-07-28 1963-12-17 Radiation Counter Lab Inc X-ray spectroscopic system comprising plural sources, filters, fluorescent radiators, and comparative detectors
US4079259A (en) 1973-07-18 1978-03-14 Blum Alvin S Tomographic apparatus and method
US3894234A (en) 1974-01-28 1975-07-08 Us Navy Radial scanner
US4045672A (en) 1975-09-11 1977-08-30 Nihon Denshi Kabushiki Kaisha Apparatus for tomography comprising a pin hole for forming a microbeam of x-rays
JPS5234689A (en) 1975-09-11 1977-03-16 Jeol Ltd Apparatus to obtain x-ray body axis tomogramic image
JPS5738855Y2 (ja) * 1975-12-10 1982-08-26
JPS5546408A (en) 1978-09-29 1980-04-01 Toshiba Corp X-ray device
US4433427A (en) 1982-01-26 1984-02-21 Elscint, Inc. Method and apparatus for examining a body by means of penetrating radiation such as X-rays
GB2170980B (en) 1985-02-07 1988-05-25 Steve Webb Ct scanner and detector therefor
CN87212001U (zh) * 1987-08-22 1988-07-13 公安部第一研究所 双通道x射线线扫描检查设备
DE3900245A1 (de) 1988-01-06 1989-07-20 Hitachi Ltd Mehrelement-strahlungsdetektor
DE3908966A1 (de) 1989-03-18 1990-09-20 Philips Patentverwaltung Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderbarer lage
GB2235061A (en) * 1989-06-27 1991-02-20 Rosser Roy J Stereo microscopy with single shot x-ray exposure
EP0412189B1 (de) 1989-08-09 1992-10-28 Heimann Systems GmbH & Co. KG Vorrichtung zum Durchstrahlen von Gegenständen mit fächerförmiger Strahlung
CA2014918A1 (en) 1989-09-06 1991-03-06 James A. Mcfaul Scanning mammography system with improved skin line viewing
DE4003757A1 (de) 1990-02-08 1991-08-14 Roentgenanalytik Messtechnik G Vorrichtung zum erzeugen und messen der von einer mit roentgenstrahlung bestrahlten probe ausgehenden sekundaerstrahlung
JPH03257391A (ja) 1990-03-08 1991-11-15 Mitsubishi Atom Power Ind Inc Ｘ線照射分布計測装置
JPH0627249A (ja) 1992-07-13 1994-02-04 Toshiba Corp 放射線検査装置
US5692029A (en) 1993-01-15 1997-11-25 Technology International Incorporated Detection of concealed explosives and contraband
US5493596A (en) 1993-11-03 1996-02-20 Annis; Martin High-energy X-ray inspection system
GB2295266A (en) 1994-11-21 1996-05-22 Secr Defence X-ray generator
US5481584A (en) * 1994-11-23 1996-01-02 Tang; Jihong Device for material separation using nondestructive inspection imaging
CN1161103A (zh) 1995-06-27 1997-10-01 菲利浦电子有限公司 X射线检测器
US5764683B1 (en) 1996-02-12 2000-11-21 American Science & Eng Inc Mobile x-ray inspection system for large objects
USRE39396E1 (en) 1996-02-12 2006-11-14 American Science And Engineering, Inc. Mobile x-ray inspection system for large objects
DE19610538A1 (de) 1996-03-18 1997-09-25 Deutsches Krebsforsch Strahlungsermittlungsvorrichtung
US5910973A (en) 1996-07-22 1999-06-08 American Science And Engineering, Inc. Rapid X-ray inspection system
DE19639918C2 (de) 1996-09-27 2001-02-22 Siemens Ag Röntgengerät mit einer Röntgenröhre mit Variofokus
WO1998020366A1 (en) 1996-11-08 1998-05-14 American Science And Engineering, Inc. Coded aperture x-ray imaging system
JPH10232284A (ja) 1997-02-19 1998-09-02 Toshiba Corp 波長シフト型放射線センサおよび放射線検出装置
JPH10288671A (ja) 1997-04-15 1998-10-27 Toshiba Corp 位置検出型放射線検出装置
AU1060899A (en) 1997-09-09 1999-03-29 American Science And Engineering Inc. A tomographic inspection system
US5968425A (en) 1997-10-28 1999-10-19 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Methods for the continuous production of plastic scintillator materials
WO1999033064A1 (en) 1997-12-19 1999-07-01 American Science And Engineering, Inc. X-ray ambient level safety system
WO1999039189A2 (en) 1998-01-28 1999-08-05 American Science And Engineering, Inc. Gated transmission and scatter detection for x-ray imaging
JPH11271453A (ja) 1998-03-25 1999-10-08 Toshiba Corp 放射線弁別測定方法および放射線弁別測定装置
EP1135700B1 (en) 1998-11-30 2005-03-02 American Science & Engineering, Inc. Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection
US6320933B1 (en) 1998-11-30 2001-11-20 American Science And Engineering, Inc. Multiple scatter system for threat identification
US6453007B2 (en) 1998-11-30 2002-09-17 American Science And Engineering, Inc. X-ray inspection using co-planar pencil and fan beams
US6249567B1 (en) 1998-12-01 2001-06-19 American Science & Engineering, Inc. X-ray back scatter imaging system for undercarriage inspection
US6421420B1 (en) 1998-12-01 2002-07-16 American Science & Engineering, Inc. Method and apparatus for generating sequential beams of penetrating radiation
US6282260B1 (en) * 1998-12-14 2001-08-28 American Science & Engineering, Inc. Unilateral hand-held x-ray inspection apparatus
WO2000037928A2 (en) 1998-12-22 2000-06-29 American Science And Engineering, Inc. Unilateral hand-held x-ray inspection apparatus
US6459764B1 (en) 1999-01-27 2002-10-01 American Science And Engineering, Inc. Drive-through vehicle inspection system
JP2000235078A (ja) 1999-02-15 2000-08-29 Toshiba Corp 放射線検出用構造体と、それを用いた放射線検出器および放射線検査装置
JP2000304865A (ja) 1999-04-23 2000-11-02 Hitachi Ltd 光伝送式放射線計測装置及びその計測システム
US6391434B1 (en) 1999-05-06 2002-05-21 General Electric Company Composite scintillator material and method of manufacture
JP4313895B2 (ja) 1999-06-04 2009-08-12 株式会社東芝 放射線検出装置
EP1206903A2 (en) * 1999-07-30 2002-05-22 American Science & Engineering, Inc. Method for raster scanning an x-ray tube focal spot
US6546072B1 (en) 1999-07-30 2003-04-08 American Science And Engineering, Inc. Transmission enhanced scatter imaging
US7010094B2 (en) 2000-02-10 2006-03-07 American Science And Engineering, Inc. X-ray inspection using spatially and spectrally tailored beams
US6459761B1 (en) 2000-02-10 2002-10-01 American Science And Engineering, Inc. Spectrally shaped x-ray inspection system
US7538325B2 (en) 2000-02-10 2009-05-26 American Science And Engineering, Inc. Single-pulse-switched multiple energy X-ray source applications
US8325871B2 (en) 2000-03-28 2012-12-04 American Science And Engineering, Inc. Radiation threat detection
JP2002071816A (ja) 2000-08-29 2002-03-12 Japan Atom Energy Res Inst ２次元放射線および中性子イメージ検出器
ATE369556T1 (de) 2000-09-27 2007-08-15 Euratom Mikrostrahl-kollimator für hochauflösungs- röntgenstrahl-beugungsanalyse mittels konventionellen diffraktometern
US6735271B1 (en) 2000-11-28 2004-05-11 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Electron beam computed tomographic scanner system with helical or tilted target, collimator, and detector components to eliminate cone beam error and to scan continuously moving objects
JP4552020B2 (ja) 2001-01-29 2010-09-29 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 放射線および中性子イメージ検出器
WO2002091023A2 (en) 2001-05-03 2002-11-14 American Science And Engineering, Inc. Nautical x-ray inspection system
US7072440B2 (en) 2001-10-19 2006-07-04 Control Screening, Llc Tomographic scanning X-ray inspection system using transmitted and Compton scattered radiation
US6870975B1 (en) 2001-11-14 2005-03-22 Fiber Optic Systems Technology, Inc. Fiber optic sensor usable over wide range of gage lengths
US6542580B1 (en) 2002-01-15 2003-04-01 Rapiscan Security Products (Usa), Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting vehicles and containers
US7122804B2 (en) 2002-02-15 2006-10-17 Varian Medical Systems Technologies, Inc. X-ray imaging device
US7110493B1 (en) 2002-02-28 2006-09-19 Rapiscan Security Products (Usa), Inc. X-ray detector system having low Z material panel
US6792077B2 (en) 2002-06-19 2004-09-14 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Collimation system for dual slice EBT scanner
US7369643B2 (en) 2002-07-23 2008-05-06 Rapiscan Security Products, Inc. Single boom cargo scanning system
US7322745B2 (en) * 2002-07-23 2008-01-29 Rapiscan Security Products, Inc. Single boom cargo scanning system
US7103137B2 (en) 2002-07-24 2006-09-05 Varian Medical Systems Technology, Inc. Radiation scanning of objects for contraband
US7505556B2 (en) 2002-11-06 2009-03-17 American Science And Engineering, Inc. X-ray backscatter detection imaging modules
US20090257555A1 (en) 2002-11-06 2009-10-15 American Science And Engineering, Inc. X-Ray Inspection Trailer
US7099434B2 (en) 2002-11-06 2006-08-29 American Science And Engineering, Inc. X-ray backscatter mobile inspection van
US6909098B2 (en) 2002-12-03 2005-06-21 Universities Research Association Inc. Systems and methods for detecting nuclear radiation in the presence of backgrounds
US7313221B2 (en) 2002-12-10 2007-12-25 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization Radiographic equipment
US6937692B2 (en) * 2003-06-06 2005-08-30 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Vehicle mounted inspection systems and methods
JP3819376B2 (ja) 2003-06-16 2006-09-06 株式会社リガク Ｘ線装置およびその散乱防止キャップ
US7299806B2 (en) 2003-11-25 2007-11-27 General Electric Company Compliant probe interface assembly
US20050185757A1 (en) 2004-02-20 2005-08-25 Kresse David E. Apparatus and method for nonintrusively inspecting an object
KR101000182B1 (ko) 2004-04-09 2010-12-10 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. 후방 산란 검사 포털
US7688937B2 (en) 2004-04-28 2010-03-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Three dimensional electron beam computed tomography
US7319738B2 (en) 2004-10-08 2008-01-15 General Electric Company Delivering X-ray systems to pipe installations
US7356118B2 (en) 2004-10-22 2008-04-08 Scantech Holdings, Llc Angled-beam detection system for container inspection
WO2007086886A2 (en) 2005-02-22 2007-08-02 Passport Systems, Inc. Material detection with nrf using tunable photon sources
DE102005011467B4 (de) 2005-03-12 2008-02-28 Smiths Heimann Gmbh Kollimator mit einstellbarer Brennweite, hierauf gerichtetes Verfahren sowie Röntgenprüfanlage
US7141799B1 (en) 2005-03-30 2006-11-28 Ut-Battelle, Llc Fiber optic thermal/fast neutron and gamma ray scintillation detector
US7344304B2 (en) 2005-06-14 2008-03-18 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Self-alignment of radiographic imaging system
DE102005029674B4 (de) 2005-06-20 2008-08-21 BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Blende für eine bildgebende Einrichtung
US7335891B2 (en) 2005-06-27 2008-02-26 General Electric Company Gamma and neutron radiation detector
JP4701038B2 (ja) * 2005-08-12 2011-06-15 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置
DE102005046248A1 (de) 2005-09-27 2007-03-29 Dürr Dental GmbH & Co. KG Vorrichtung zum Auslesen von insbesondere flexiblen Speicherfolien
EP1949139A2 (en) * 2005-10-24 2008-07-30 American Science & Engineering, Inc. X-ray inspection based on scatter detection
CN100582758C (zh) * 2005-11-03 2010-01-20 清华大学 用快中子和连续能谱x射线进行材料识别的方法及其装置
CN1995993B (zh) 2005-12-31 2010-07-14 清华大学 一种利用多种能量辐射扫描物质的方法及其装置
KR100773993B1 (ko) 2006-03-10 2007-11-08 (주)케이디티 광여기 시트
US7379530B2 (en) 2006-04-06 2008-05-27 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Method and apparatus for the safe and rapid detection of nuclear devices within containers
JP2009534669A (ja) 2006-04-21 2009-09-24 アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング，インコーポレイテッド 離散供給源のアレイおよび複数の平行ビームを用いた荷物および人間のｘ線画像化
US7551714B2 (en) 2006-05-05 2009-06-23 American Science And Engineering, Inc. Combined X-ray CT/neutron material identification system
US7526064B2 (en) 2006-05-05 2009-04-28 Rapiscan Security Products, Inc. Multiple pass cargo inspection system
USRE45337E1 (en) 2006-05-18 2015-01-13 Arena Pharmaceuticals, Inc. Ethers, secondary amines and derivatives thereof as modulators of the 5-HT2A serotonin receptor useful for the treatment of disorders related thereto
US7555099B2 (en) 2006-08-11 2009-06-30 American Science And Engineering, Inc. X-ray inspection with contemporaneous and proximal transmission and backscatter imaging
US8842808B2 (en) 2006-08-11 2014-09-23 American Science And Engineering, Inc. Scatter attenuation tomography using a monochromatic radiation source
US7561666B2 (en) 2006-08-15 2009-07-14 Martin Annis Personnel x-ray inspection system
JP4823050B2 (ja) * 2006-12-18 2011-11-24 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置
GB0626055D0 (en) 2006-12-29 2007-11-07 Bae Systems Plc Detection of ionising radiation
US7742568B2 (en) 2007-06-09 2010-06-22 Spectrum San Diego, Inc. Automobile scanning system
CN201060275Y (zh) 2007-07-11 2008-05-14 宋世鹏 一种车载物探测装置
US7593510B2 (en) * 2007-10-23 2009-09-22 American Science And Engineering, Inc. X-ray imaging with continuously variable zoom and lateral relative displacement of the source
US7792249B2 (en) 2007-12-23 2010-09-07 Oraya Therapeutics, Inc. Methods and devices for detecting, controlling, and predicting radiation delivery
US8314399B2 (en) 2008-02-07 2012-11-20 General Electric Company Radiation detector with optical waveguide and neutron scintillating material
GB0803644D0 (en) * 2008-02-28 2008-04-02 Rapiscan Security Products Inc Scanning systems
JP5701616B2 (ja) 2008-03-13 2015-04-15 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 画像診断装置、画像診断方法及び信号処理回路の電力消費を減少させる方法
GB0809107D0 (en) 2008-05-20 2008-06-25 Rapiscan Security Products Inc Scannign systems
US8604416B2 (en) 2008-09-19 2013-12-10 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Method of forming a scintillator device
EP2435955A4 (en) * 2009-05-26 2016-12-21 Rapiscan Systems Inc X-RAY TOMOGRAPHY INSPECTION SYSTEMS FOR IDENTIFICATION OF SPECIFIC TARGET ELEMENTS
US8275092B1 (en) 2009-06-15 2012-09-25 American Science And Engineering, Inc. Three-dimensional mapping based on scattered penetrating radiation
US8824632B2 (en) 2009-07-29 2014-09-02 American Science And Engineering, Inc. Backscatter X-ray inspection van with top-down imaging
EP2459991B1 (en) 2009-07-29 2019-09-11 American Science & Engineering, Inc. Top-down x-ray inspection trailer
WO2011044266A2 (en) 2009-10-07 2011-04-14 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. System and method to detect target radiation
US8315428B2 (en) 2009-10-22 2012-11-20 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Automatic line identification and pairing for nuclear imaging collimator vector map characterization
EP3614131A1 (en) 2009-10-29 2020-02-26 Rapiscan Systems, Inc. Mobile aircraft inspection system
US8199875B2 (en) 2009-12-11 2012-06-12 General Electric Company System and method of acquiring multi-energy CT imaging data
EP2526410B1 (en) 2010-01-19 2021-10-20 Rapiscan Systems, Inc. Multi-view cargo scanner
US9442213B2 (en) 2010-01-19 2016-09-13 Rapiscan Systems, Inc. Method of electron beam transport in an X-ray scanner
GB201001736D0 (en) 2010-02-03 2010-03-24 Rapiscan Security Products Inc Scanning systems
WO2011149566A2 (en) 2010-02-12 2011-12-01 American Science And Engineering, Inc. Disruptor guidance system and methods based on scatter imaging
JP2011227044A (ja) 2010-03-30 2011-11-10 Fujifilm Corp 放射線撮影装置
EP2548207B1 (en) 2010-03-14 2020-02-12 Rapiscan Systems, Inc. Beam forming apparatus
JP2010181412A (ja) 2010-03-15 2010-08-19 Toshiba Corp 放射線弁別測定方法および放射線弁別測定装置
WO2011119629A1 (en) * 2010-03-22 2011-09-29 Xinray Systems Llc Multibeam x-ray source with intelligent electronic control systems and related methods
US8503606B2 (en) 2010-05-25 2013-08-06 American Science And Engineering, Inc. Low-cost position-sensitive X-ray detector
US8637826B2 (en) 2010-06-18 2014-01-28 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Radiation detection system including a scintillating material and an optical fiber and method of using the same
WO2011163108A2 (en) 2010-06-21 2011-12-29 American Science And Engineering, Inc. Detector with active collimators
US8439565B2 (en) 2010-10-15 2013-05-14 American Science And Engineering, Inc. Remotely-aligned arcuate detector array for high energy X-ray imaging
WO2012054381A1 (en) 2010-10-18 2012-04-26 American Science And Engineering, Inc. System and methods for intrapulse multi-energy and adaptive multi-energy x-ray cargo inspection
US9052271B2 (en) 2010-10-27 2015-06-09 American Science and Egineering, Inc. Versatile x-ray beam scanner
PL2633294T3 (pl) 2010-10-27 2020-11-02 American Science & Engineering, Inc. Uniwersalny skaner wiązki promieniowania rentgenowskiego
WO2012106730A2 (en) 2011-01-31 2012-08-09 Rapiscan Systems, Inc. Dual mode x-ray scanning system
SG192265A1 (en) 2011-02-08 2013-09-30 American Science & Eng Inc Backscatter energy analysis for classification of materials based on positional non-commutativity
EP2697630A2 (en) 2011-04-15 2014-02-19 American Science & Engineering, Inc. Methods to perform backscatter inspection of complex targets in confined spaces
US8903045B2 (en) 2011-04-15 2014-12-02 American Science And Engineering, Inc. Backscatter system with variable size of detector array
WO2013016032A2 (en) 2011-07-26 2013-01-31 American Science And Engineering, Inc. Stowable arcuate detector array
WO2013039635A2 (en) 2011-09-12 2013-03-21 American Science And Engineering, Inc. Forward- and variable-offset hoop for beam scanning
DE112012004856B4 (de) * 2011-11-22 2022-01-05 The University Of North Carolina At Chapel Hill Kontrollsystem und Verfahren zur schnellen, platzsparenden Röntgentomografiekontrolle
WO2013082005A1 (en) 2011-11-29 2013-06-06 American Science And Engineering, Inc. System and methods for multi-beam inspection of cargo in relative motion
US9517041B2 (en) * 2011-12-05 2016-12-13 Controlrad Systems Inc. X-ray tube
US9968313B2 (en) 2012-01-11 2018-05-15 Control Rad Systems Inc X-ray tube
US9146201B2 (en) 2012-02-02 2015-09-29 American Science And Engineering, Inc. Convertible scan panel for x-ray inspection
CN104170051B (zh) 2012-02-03 2017-05-31 拉皮斯坎系统股份有限公司 组合散射和透射的多视图成像系统
KR102105727B1 (ko) 2012-02-14 2020-05-29 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. 파장-편이 섬유-결합 신틸레이션 검출기를 사용한 x-선 검사
CA2865077A1 (en) * 2012-03-06 2013-09-12 American Science And Engineering, Inc. Electromagnetic scanning apparatus for generating a scanning x-ray beam
US9099279B2 (en) 2012-04-26 2015-08-04 American Science And Engineering, Inc. X-ray tube with rotating anode aperture
JP6277186B2 (ja) * 2012-07-05 2018-02-07 アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング, インコーポレイテッドAmerican Science and Engineering, Inc. 放射線ビーム生成システムおよび放射線ビーム照射方法
EP2941774B1 (en) * 2013-01-01 2019-07-24 ControlRAD Systems Inc. X-ray reduction system
US9020103B2 (en) 2013-02-15 2015-04-28 American Science And Engineering, Inc. Versatile beam scanner with fan beam
US20140270068A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Zuma Dental, LLC Imaging system and method
JP2016518866A (ja) 2013-03-15 2016-06-30 ズーマ デンタル， エルエルシー イメージングシステム及び方法
CN104244561A (zh) * 2013-06-21 2014-12-24 同方威视技术股份有限公司 驻波电子直线加速器及集装箱/车辆检查系统
US9417060B1 (en) 2013-07-25 2016-08-16 American Science And Engineering, Inc. X-ray theodolite
US9535019B1 (en) 2013-10-04 2017-01-03 American Science And Engineering, Inc. Laterally-offset detectors for long-range x-ray backscatter imaging
CN104749198B (zh) 2013-12-30 2019-08-06 同方威视技术股份有限公司 双通道高能x射线透视成像系统
CN203772764U (zh) * 2013-12-30 2014-08-13 同方威视技术股份有限公司 双通道高能x射线透视成像系统
US9683952B2 (en) * 2014-01-24 2017-06-20 Olympus Scientific Solutions Americas Inc. Test stand for XRF instrument enabling multi-way operation
US10324223B2 (en) * 2014-06-24 2019-06-18 Mohammed Al-Hoshani Method, an apparatus, and a system for automated inspection of motorized vehicles
JP6589461B2 (ja) * 2015-08-26 2019-10-16 株式会社日立ハイテクサイエンス Ｘ線分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10656304B2 (en) 2020-05-19
GB201805702D0 (en) 2018-05-23
GB2559500A (en) 2018-08-08
AU2019210665B2 (en) 2021-01-07
KR20180041763A (ko) 2018-04-24
WO2017044441A1 (en) 2017-03-16
MX2018003016A (es) 2018-08-01
CA2998364A1 (en) 2017-03-16
AU2019213301B2 (en) 2021-04-01
BR112018004768B1 (pt) 2022-03-03
AU2019213301A1 (en) 2019-08-22
GB2559500B (en) 2022-02-23
AU2019210665A1 (en) 2019-08-22
US20180252841A1 (en) 2018-09-06
CN110824573A (zh) 2020-02-21
EP3347705A1 (en) 2018-07-18
HK1257878A1 (zh) 2019-11-01
AU2016321158A1 (en) 2018-04-12
JP2018528586A (ja) 2018-09-27
CN108450030B (zh) 2021-02-26
BR112018004768A2 (ja) 2018-10-02
CN108450030A (zh) 2018-08-24
AU2020277194A1 (en) 2020-12-24
EP3347705A4 (en) 2019-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6746691B2 (ja) 行間適応電磁ｘ線走査を用いた後方散乱特性評価
RU2476863C2 (ru) Устройство определения характеристик материала исследуемого объекта и способ досмотра объекта
US9020100B2 (en) Multiple image collection and synthesis for personnel screening
JP4689663B2 (ja) 一度に１つのみの供給源が放射線を発光することを確実にすることによって、複数の供給源を備える門形の後方散乱検査器におけるクロストークを排除すること
US7010094B2 (en) X-ray inspection using spatially and spectrally tailored beams
CN106053497B (zh) 安全检测系统
US9014339B2 (en) Versatile x-ray beam scanner
US9020103B2 (en) Versatile beam scanner with fan beam
US20060245548A1 (en) X-ray backscatter inspection with coincident optical beam
MXPA05004803A (es) Camioneta de inspeccion movil de retrodispersion de rayos x.
CN205808968U (zh) 安全检测系统
US20230236141A1 (en) Systems and methods for real-time configurable backscatter scanners

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20180511

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7426

Effective date: 20180511

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190517

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200612

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200707

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200805

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6746691

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees