KR20170135630A - 안전 검사 시스템 - Google Patents

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KR20170135630A
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지강 안
펭 콩
신쳉 샹
리타오 리
젠타오 왕
얀민 장
지안민 통
웨이동 추
춘밍 탄
이빈 황
쟈오징 궈
리창 왕
지안 젱
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Abstract

본 발명은 안전 검사 기기의 기술 영역에 관한 것이며, 제1 방사선 방출 장치, 방사선 접수 장치, 및 이동 프레임을 포함하는, 하나 또는 복수 개의 검사 기기를 포함하는 안전 검사 시스템에 있어서, 상기 제1 방사선 방출 장치는, 제1 검사 방사선을 발생하는 제1 방사선원을 포함하고, 상기 제1 검사 방사선이 아래로부터 피검사체를 투과하도록 상기 이동 프레임의 밑부분에 설치되며, 상기 방사선 접수 장치는, 상기 피검사체를 투과한 상기 제1 검사 방사선을 접수하는 방사선 탐지기를 포함하고, 상기 이동 프레임위에 설치되며, 상기 이동 프레임은, 상기 제1 방사선 방출 장치와 상기 방사선 접수 장치를 상기 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 이동시키는 방향으로 운동한다. 본 발명에 의하여 제공된 안전 검사 시스템은, 포틀 프레임이 방사선 방출 장치와 탐지기를 전동하여 이동시킬수 있으므로, 차량을 끌 필요가 없이 검사를 실행할 수 있으며, 방사선원이 이동가능하게 피검사체의 밑부분에 설치되어 있으므로, 피검사체의 영상을 전개하는데 유리하다.

Description

안전 검사 시스템 {SAFETY INSPECTION SYSTEM}
본 발명은 안전 검사 기기의 기술 분야에 관한 것이며, 구체적으로는, 안전 검사 시스템에 관한 것이다.
컨테이너 화물 및 차량의 검사 시스템은 세관에 필요한 주요 검사 기기 이다.
현재 통상적으로 응용되는 검사 기기는 단일 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템이다. 그러나, 단일 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템의 정보양은 단일하고, 한계가 있다. 또한, 단일 방사선원에 의한 방사 이미징은 하나의 물체에 대하여, 한 방향으로만 방사선 검사를 할 수 있으므로, 피검사체의 구체적인 외형 사이즈와 물체의 밀도를 입체적으로 표시할 수 없어, 물체의 종류를 정확하고 빠르게 식별할 수 없다. 그러므로, 단일 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템은, 물체에 대한 검사 이미징 식별도가 비교적 낮으므로, 컨테이너 화물 또는 차량에 대한 안전 검사 효과를 감소시킨다.
두 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템이 이미 알려져 있다. 일반적으로, 두 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템은, 그중 하나의 방사선원을 물체의 상방에 배치하고, 다른 하나의 방사선원을 물체의 측면에 배치한다. 이러한 구조에 의해, 검사 시스템은, 물체의 두 방향에서의 투영 정보를 검출할 수 있어, 단일 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템의 결점을 보완하였다. 그러나, 위 촬영 시스템이 얻은 이미지는 방사선원에 대한 개방 각도가 작기에, 차량를 더욱 넓은 폭으로 이미징하는 탐지기에 전개하는데 불리하다. 또한, 컨테이너 화물 및 차량은 그 자체의 사이즈가 비교적 크기 때문에, 수요되는 두 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템의 사이즈도 비교적 크므로, 두 방사선원에 의한 방사 이미징 검사 시스템의 무게가 너무 무거워 이동시 킬 수 없다. 그러므로, 이러한 구조의 검사 시스템은, 일반적으로, 거대한 트레일러로 몇십 톤의 컨테이너 화물 및 차량을 끌어, 컨테이너 화물 및 차량이 검사 시스템을 통과하게 해야 하므로, 검사 시스템이 복잡하고, 조작을 번거로우며, 코스트가 높다.
본 발명은 방사선원이 이동할 수 있는 안전 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 하는 바, 차량을 끌어 움직일 필요가 없이 검사를 할 수 있고, 피검사체의 영상을 전개하는데도 유리하다.
상술한 목적을 실현하기 위하여, 본 발명은 아래와 같은 기술안을 사용한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제1 방사선 방출 장치, 방사선 접수 장치, 및 이동 프레임을 포함하는, 하나 또는 복수 개의 검사 기기를 포함하는 안전 검사 시스템에 있어서, 제1 방사선 방출 장치는, 제1 검사 방사선을 발생하는 제1 방사선원을 포함하고, 제1 검사 방사선이 아래로부터 피검사체를 투과하도록 이동 프레임의 밑부분에 설치되며, 방사선 접수 장치는, 피검사체를 투과한 제1 검사 방사선을 상응하게 접수하는 방사선 탐지기를 포함하고, 이동 프레임위에 설치되며, 이동 프레임은, 제1 방사선 방출 장치와 방사선 접수 장치를 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 이동시키는 방향으로 운동하는 안전 검사 시스템을 제공한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제1 방사선원은 동위원소 방사선원이다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 동위원소 방사선원은 60Co, 137Cs, 192Ir, 75Se을 포함한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제2 검사 방사선을 발생하는 제2 방사선원을 포함하고, 제2 검사 방사선이 측면으로부터 피검사체를 투과하도록 이동 프레임에 설치되는 제2 방사선 방출 장치를 더 포함하고, 방사선 접수 장치는, 피검사체를 투과한 제2 검사 방사선을 상응하게 접수하고, 이동 프레임은, 제2 방사선 방출 장치를 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제2 방사선원은 동위원소 방사선원 또는, X선 방출기이다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 동위원소 방사선원 60Co, 137Cs, 192Ir, 75Se을 포함하고, X선 방출기는 X선기와 전자 가속기를 포함한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선은 모두 부채형 평면으로 분포되어 있다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제1 방사선 방출 장치와 제2 방사선 방출 장치는, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선이 상이한 평면에 위치하도록 설치되고, 방사선 접수 장치는 제1 검사 방사선를 접수하는 제1 탐지기 모듈과 제2 검사 방사선을 접수하는 제2 탐지기 모듈을 포함한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 제1 방사선 방출 장치와 제2 방사선 방출 장치는, 교체적으로 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선을 방출하며, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선이 동일한 평면에 위치하도록 설치되고, 방사선 접수 장치는 교체적으로 방출되는 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선을 접수한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 이동 프레임은 방사선 접수 장치와 제1 방사선 방출 장치 사이의 거리를 조정할 수 있다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 방사선 탐지기는 기체 전리함, 섬광 검출기, 또는 반도체 검출기를 포함한다.
본 발명의 일 양태에 의하면, 이동 프레임의 운동을 가이드하는 가이드 기구를 더 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 안전 검사 시스템을 사용하면, 제1 방사선 방출 장치를 피검사체의 아래쪽에 설치하고, 아래로부터 위로 피검사체를 향해 제1 검사 방사선을 방출하는 바, 차량 내부에 놓인 물체와의 거리가 차량의 위쪽부분에 설치된 방사선 방출 장치보다 더 가까우므로, 피검사체의 영상을 전개하는데 유리하다. 그러나, 만약 피검사체의 아래쪽에 제1 방사선 방출 장치를 고정하고, 트레일러로 피검사체를 끌어 이동시켜 스캔하는 경우, 트레일러도 앙시투영에 스캔하여 넣게 되므로, 이미징 효과에 영향을 준다. 따라서, 본 발명의 실시예의 포틀 프레임은 제1 방사선 방출 장치와 탐지기가 전동하여 동기적으로 가이드 기구를 따라 이동하도록 설치되어, 제1 방사선 방출 장치와 탐지기가 피검사체의 한끝으로부터 다른 한끝으로 운동하게 한다. 이로써, 트레일러로 피검사체를 끌 필요가 없이 이동 스캔을 할 수 있고, 피검사체에 대한 검사를 할수 있어, 운영 비용을 절감하고, 검사효과를 향상시킨다.
아래에, 도면을 참조하여 본 발명의 예시적인 실시예의 특징, 우점과 기술 효과를 설명한다.
도1은 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 축측 투상도이다.
도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 정면도이다.
도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 좌측면도이다.
도4는 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 평면도이다.
도5는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 축측 투상도이다.
도6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 접수 모듈의 구조 개략도이다.
도7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 방사선 접수 모듈의 구조 개략도이다.
도8은 도7중의 실시예의 방사선 접수 모듈의 정면 개략도이다.
도면에서, 동일한 부호는 동일한 소자를 나타낸다.
아래에 도면와 실시예를 결합하여, 본 발명의 실시 형태에 대하여 더욱 상세히 설명한다. 아래의 실시예의 상세한 설명과 도면은 본 발명의 원리를 예시적으로 설명하기 위한 것인 바, 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니다. 즉, 본 발명은 기재된 바람직한 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 범위는 특허청구범위에 의하여 한정된다.
본 발명의 기재에 있어서, 특별한 설명이 없는한, "위", "아래", "좌", "우"등 용어가 나타내는 방향 또는 위치 관계는 도면에 도시된 방향 또는 위치 관계에 따른 것이고, 본 발명을 쉽고 간단하게 설명하기 위한 것 일뿐, 장치 또는 소자가 반드시 특정된 방향으로 배치되고, 특정된 방향의 구조를 가지거나 특정된 방향으로 조작되는 것을 나태내거나 암시하는 것이 아니므로, 본 발명에 대한 한정으로 이해하여서는 안된다. 또한, "제1 ", "제2 "등 용어는 설명하기 위한 것 일뿐, 상대적인 중요성을 나타내거나 암시하는 것이 아님을 이해해야 한다.
본 발명의 설명에 있어서, 명확한 규정과 한정이 없는한, "장착", "연결"은 넓은 의미로 이해하여야 한다. 예로 들어, 고정 연결될 수도 있고, 착탈 가능하게 연결될 수도 있고, 일체로 연결될 수도 있다. 또한, 기계적 연결일 수도 있고, 전기적 연결일 수도 있다. 또한 직접 연결될 수도 있고, 중간 매체를 통해 간접적으로 연결될 수도 있다. 당업자들은, 구체적인 상황에 따라 본 발명에서의 상기 용어의 구체적인 뜻을 이해해야 한다.
본 발명의 실시예에 따른 안전 검사 시스템은 대형 컨테이너 화물, 차량과 같은 피검사체에 대하여 안전 검사를 하는데 사용되며, 방사선 방출 장치를 이동시키는 방식으로 피검사체을 스캔한다. 물론, 당해 안전 검사 시스템은 대형 컨테이너 화물, 차량에 대한 검사에 한정되지 않으며, 소형 차량 및 소포 등에 대한 검사에도 사용될 수 있다.
본 발명을 더 용이하게 이해하도록 하기 위하여, 도1 내지 도8을 참조하여, 본 발명의 실시예의 대형 컨테이너 화물, 차량에 대하여 검사를 실행하는 안전 검사 시스템을 상세히 설명하기로 한다.
도1은 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 축측 투상도이다. 도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 정면도이다. 도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 좌측면도이다. 도4는 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 평면도이다. 도면에 도시된 바와 같은 화물차의 안전 검사 시스템에 있어서, 검사 기기는, 제1 방사선 방출 장치(4), 방사선 접수 장치, 및 이동 프레임을 포함한다. 그중에서, 제1 방사선 방출 장치(4)는, 제1 검사 방사선을 발생하는 제1 방사선원(15)을 포함하고, 당해 제1 방사선 방출 장치(4)는 이동 프레임의 밑부분에 설치되어 있으며, 제1 검사 방사선이 아래로부터 피검사체를 투과하게 한다. 방사선 접수 장치는, 피검사체를 투과한 제1 검사 방사선를 접수하는 방사선 탐지기를 포함하고, 당해 방사선 접수 장치는 이동 프레임에 설치되어 있으며, 이동 프레임은 제1 방사선 방출 장치(4)와 방사선 접수 장치를 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 이동시키는 방향으로 운동하며, 제1 방사선 방출 장치(4)와 탐지기를 피검사체의 한끝으로부터 다른 한끝으로 이동시킴으로서, 피검사체에 대하여 검사를 실행한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 이동 프레임은 포틀 프레임(1) 이고, 포틀 프레임(1)은 윗 기둥(2)와 두 측 기둥(3)을 포함하고, 윗 기둥(2)와 두 측 기둥(3)은 문틀 구조를 구성하며, 그중, 포틀 프레임(1)의 높이는 피검사체의 높이보다 높아, 형성된 공간내에서 피검사체가 통과할 수 있도록 한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 제1 방사선 방출 장치(4)는 방출된 제1 검사 방사선의 방향이 수직 위방향을 향하도록 피검사체의 아래쪽에 설치되고, 제1 검사 방사선이 아래부터 위로 피검사체를 향하여 방출되도록 확보하여, 탐지기 모듈(6)이 앙시 투영을 접수하게 한다. 일 실시예에 있어서, 제1 방사선원(15)은 동위원소 방사선원이다. 그중, 동위원소는 60Co, 137Cs, 192Ir, 75Se일 수 있다. 본 실시예에서, 동위원소는 60Co이다. 당해 동위원소 방사선원이 방출하는 제1 검사 방사선의 개방 각도는 60도 또는 60도이상으로서, 종래기술에서 사용하는 가속기보다 더 큰 개방 각도를 가지고 있어, 제1 방사선 방출 장치(4)를 차량에 대해 더 가까운 거리에 위치하게 할 수 있다. 따라서, 제1 방사선 방출 장치(4)가 차량의 아래쪽에 설치되었을 경우, 지면과의 거리를 크게 단축시킬 수 있어, 시공 난이도를 감소시킨다. 또한, 차량에 대한 제1 방사선 방출 장치(4)의 거리가 더 가까우므로, 피검사체의 영상을 전개하는데 유리하여, 검사 인원이 투영이미지에 대하여 식별하고 분석을 진행하는데 편리를 도모할 수 있다.
또한, 종래 기술에 있어서, 방사선 방출 장치를 프레임의 위쪽부분에 설치할 경우, 가속기를 사용하므로, 개방 각도이 작다. 따라서 포틀 프레임(1)에 있어서 가속기에 연결된 윗 기둥의 높이를 제일 높은 물체의 높이 보다 훨씬 높게 하거나 또는, 포틀 프레임(1)에 가속기를 연결하는 연결 부품을 충분히 높게 설치하여, 검사 방사선이 피검사체를 완정하게 커버하여 스캔할 수 있도록 하여야 한다. 또한, 종래기술에 있어서는, 방사선 방출 장치를 프레임의 위쪽부분에 설치할 경우, 그에 대응하여, 탐지기 모듈(6)은 차량의 아래쪽에 설치된다. 일반적으로, 탐지기 모듈(6)은 지하에 매입시킴으로, 피검사체를 끌어 이동시키면서 스캔할 수 밖에 없으며, 가속기와 탐지기 모듈(6)을 이동시켜 피검사체를 스캔할 수 없다. 따라서, 제1 방사선 방출 장치(4)를 피검사체의 아래쪽에 설치하면, 포틀 프레임(1)의 높이를 대폭 절감할 수 있어, 포틀 프레임(1) 및 안전 검사 시스템의 전체 사이즈를 감소시킬 수 있다. 제1 방사선 방출 장치(4)는 동위원소 방사선원이므로, 체적과 중량이 상대적으로 작아, 제1 방사선 방출 장치(4)에 의한 피검사체에 대한 스캔 검사를 더 용이하게 할 수 있다.
도1 내지 도4에 도시된 일 실시예에 있어서, 제1 방사선 방출 장치(4)는 피검사체의 아래쪽의 중심 위치에 설치되어 있다. 그러나, 제1 방사선 방출 장치(4)의 위치는 이에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면, 제1 방사선 방출 장치(4)의 위치는 피검사체의 아래쪽의 왼쪽에 기울려 위치할 수 있으며, 피검사체의 아래쪽의 오른쪽에 기울려 위치할 수도 있다. 다만 제1 검사 방사선이 수직 위방향으로 방출되고 피검사체의 앙시 투영을 얻을 수 있는 위치이면 된다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 제1 방사선 방출 장치(4)는 지하에 매입시킬 수 있다. 이럴 경우, 포틀 프레임(1)의 임의의 일측 측 기둥의 밑부분에는 수평으로 설치된 연결 기둥(12)을 설치하고, 지면의 밑부분에 임의의 방식으로 이동 통로(11)을 설치하여, 이동 통로(11)의 지면위에 차량를 주차시키거나 차량이 이동 통로(11)의 지면위를 통과하도록 하고, 또한 차량에 대한 그곳의 지지력을 확보해야 한다. 연결 기둥(12)은 지면밑의 이동 통로(11)내에 설치되어, 포틀 프레임(1)를 따라 이동할 수 있다. 제1 방사선 방출 장치(4)는 당해 연결 기둥(12)에 고정되어 있고, 위쪽부분의 높이는 지면의 높이보다 높지 않다. 구체적으로, 연결 기둥(12)에, 제1 홈을 개설하고, 제1 방사선 방출 장치(4)는 임의의 방식으로 당해 제1 홈의 내부에 고정될 수 있다. 도5는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 축측 투상도이다. 도5에 도시된 실시예에 있어서, 지면위에 피검사체를 지지하기 위한 검사 통로(14)를 가설할 수 있고, 당해 검사 통로(14)는 아치형 다리 형식으로 설치될 수 있다. 이럴 경우, 당해 연결 기둥(12)은 아치형 다리의 밑부분과 지면 사이의 공간에 설치될 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 제2 방사선 방출 장치(5)를 더 포함한다. 제2 방사선 방출 장치(5)는 제2 검사 방사선을 발생하는 제2 방사선원(16)을 포함하고, 제2 방사선 방출 장치(5)는 피검사체의 측면에 설치되며, 방출한 제2 검사 방사선의 방향이 수평 방향을 향하도록 설치되어, 제2 검사 방사선이 피검사체의 일측으로부터 다른 일측으로 방출되도록 확보하여, 측면 투영을 형성한다. 제1 방사선 방출 장치(4)는 제2 방사선 방출 장치(5)와 함께 작용하여, 시스템이 측면투영과 앙시투영이 결합된 입체 방사선 이미지를 형성하여, 입체적으로 피검사체의 구체적인 외형 사이즈와 물체의 밀도를 표시할 수 있도록 함으로, 물체의 종류를 정확하고 빠르게 식별할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 방사선 방출 장치(5)는 동위원소 방사선원일 수 있고, 다른 일 실시예에 있어서, 제2 방사선원(16)은 X 선 방출기일 수 있는바, 당해 X 선 방출기는 X선기와 전자 가속기를 포함한다.
도2에 되시된 일 실시예에 있어서, 제2 방사선 방출 장치(5)는 피검사체의 오른쪽 밑부분의 위치에 설치되고, 포틀 프레임(1)에 고정된다. 그러나, 제2 방사선 방출 장치(5)의 위치는 이에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면, 제2 방사선 방출 장치(5)의 위치는 피검사체의 오른쪽 임의의 위치에 위치될 수도 있고, 피검사체의 왼쪽 임의의 위치에 위치될 수도 있다. 다만 제2 검사 방사선이 피검사체의 일측으로부터 다른 일측으로 방출되고, 피검사체의 측면투영을 얻을 수 있는 위치이면 된다.
예를 들어, 본 발명의 실시예에 의하면, 제2 방사선 방출 장치(5)는 포틀 프레임(1)의 오른쪽 측 기둥(3)의 밑부분에 설치되어, 제2 검사 방사선이 형성한 부채형 평면의 원심이 지면에 위치하도록 확보한다. 다른 실시예에 있어서, 제2 검사 방사선이 형성한 부채형 평면의 원심은 차 바퀴의 높이와 수평될 수 있으며, 그 위치는 구체적인 상황에 따라 조정할 수 있다. 구체적으로, 포틀 프레임(1)의 오른쪽 측 기둥(3)의 밑부분에 제2 홈을 개설하고, 제2 방사선 방출 장치(5)를 임의의 형식으로 상기 제2 홈의 내부에 고정할 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선은 각각 부채형 평면으로 분포되어 있다. X선 방출기를 방사선 방출 장치로 이용하는 경우, X선 방출기가 방출하는 방사선은 원추형의 방사선 빔이므로, X선 방출기의 방사선 방출측에 전면 콜리메이터(13)를 추가하여, 원추형의 방사선 빔을 검사에 수요되는 부채형 평명의 검사 방사선으로 변경시킨다. 동위원소 방사선원을 방사선 방출 장치로 이용하는 경우, 그 구조는 차폐 하우징과 차폐 하우징내에 설치된 동위원소를 포함하고, 차폐 하우징에는 슬롯형의 방출구가 설치되어 있기에, 동위원소 방사선원으로부터 방출된 방사선은 검사에 수요되는 부채형 평면의 검사 방사선으로 직접 형성될 수 있다. 동위원소 방사선원이 더 정밀한 부채형 평면의 검사 방사선을 방출할 것을 요구하는 경우, 차폐 하우징의 방출구에 전면 콜리메이터(13)를 더 설치할 수 있다. 즉, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)는 전면 콜리메이터(13)을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 방사선 접수 모듈은 방사선 탐지기를 포함한다. 방사선 탐지기는 포틀 프레임(1)의 위쪽부분과 사이드 프레임에 설치되어, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)가 방출한 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선를 접수하는데 사용된다. 방사선 탐지기는, 전리함, 비례 계수기, 가이거-뮬러 계수기, 섬광 계수기, 반도체 검출기 등 중의 임의의 하나 일 수 있다. 제1 검사 방사선의 접수를 예로 하면, 방사선 탐지기의 배치 위치에 따라, 방사선 탐지기가 접수한 피검사체를 투과한 모든 제1 검사 방사선의 신호를 제어 장치로 전송하여, 제1 방사선 방출 장치(4)가 있는 위치에서의 피검사체의 앙시투영을 얻을 수 있다. 피검사체의 한끝으로부터 다른 한끝으로의 전부의 앙시투영을 조합하여, 피검사체 전체의 앙시투영을 얻는다. 제2 검사 방사선을 접수하여 측면투영을 획득하는 것은, 제1 검사 방사선과 유사하므로, 여기에서 중복하여 설명하지 않는다. 피검사체의 앙시투영과 측면투영을 각각 획득한 후, 제어 유닛은 앙시투영과 측면투영에 대하여 필터링을 실행하고, 앙시투영과 측면투영의 이미지 정보에 대하여 결합처리를 실행하여, 피검사체의 모양, 위치, 구조, 및 밀도 등 물리적 성질을 얻어, 결합한 후의 이미지를 표시 장치를 통하여 검사 인원에게 나타낼 수 있다.
도6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 접수 모듈의 구조 개략도이다. 도6에 도시된 실시예에 있어서, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선은 상이한 평면에 위치한다. 즉, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)는 일정한 거리만큼 엇갈려 설치되고, 또한, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선은 서로 평행되는 두 평면에 형성된다. 이럴 경우, 방사선 탐지기는 제1 검사 방사선을 접수하는 한 세트의 제1 탐지기 모듈(7)과 제2 검사 방사선을 접수하는 한 세트의 제2 탐지기 모듈(8)를 포함한다. 제1 탐지기 모듈(7)과 제2 탐지기 모듈(8)은 포틀 프레임(1)의 윗 프레임과 사이드 프레임에 평행되게 설치되며, 제1 탐지기 모듈(7)은 제1 방사선 방출 장치(4)에 대응되도록 설치하고, 제2 탐지기 모듈(8)은 제2 방사선 방출 장치(5)에 대응되도록 설치한다. 이에 따라, 제2 탐지기가 제1 검사 방사선을 접수하거나, 또는 제1 탐지기가 제2 검사 방사선을 접수하는 것를 방지한다. 이럴 경우, 제1 탐지기 모듈(7)의 길이는 제1 검사 방사선을 전부 접수할 수 있는 길이이면 되고, 마찬가지로, 제2 탐지기 모듈(8)의 길이는 제2 검사 방사선을 전부 접수할 수 있는 길이이면 된다. 다른 일 실시예에 있어서, 제1 탐지기와 제2 탐지기 사이에 납덩이 등 차폐 작용을 하는 차폐 장치를 설치하여, 제1 탐지기와 제2 탐지기가 교란 신호를 접수하는 것을 진일보 방지하고, 안전 검사 시스템의 정확성을 향상시킬 수 있다.
다른 실시예에 있어서, 제1 탐지기 모듈(7)과 제2 탐지기 모듈(8)의 선단에는 각각 후면 콜리메이터를 더 설치할 수 있는바, 대응되는 방사선원으로부터 방출되는 검사 방사선의 투사 방사선만이 방사선 탐지기에 입력되도록 하여, 난반사 방사선 및 다른 방사선원으로부터 방출된 검사 방사선의 투사 방사선과 난반사 방사선이 당해 방사선 탐지기내에 입력되는 것을 방지하여, 이미지의 품질을 향상시킨다. 제1 방사선원(15)의 선단 과/또는 제2 방사선원(16)의 선단에 전면 콜리메이터(13)를 추가 설치하여도, 부채형 방사선 빔의 스캔 방향에서의 폭을 절감할 수 있고, 제1 탐지기와 제2 탐지기가 대응하는 검사 방사선 신호만을 검출하도록 확보하여, 제1 탐지기와 제2 탐지기 사이의 신호 누화를 감소시켜, 이미지의 품질을 향상시키고, 환경에 대한 방사선량을 절감할 수 있다.
도7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 방사선 접수 모듈의 구조 개략도이다. 도8은 도7중의 실시예의 방사선 접수 모듈의 정면 개략도이다. 도7 내지 도8에 도시된 실시예에 있어서, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선은 동일한 평면에 위치하고, 방사선 탐지기는 한 세트의 탐지기 모듈(6)만 포함하여 교체적으로 방출된 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선을 접수한다. 즉, 당해 안전 검사 시스템은 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)가 교체적으로 검사 방사선을 방출하도록 함으로서, 탐지기가 동시에 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선을 접수하는 것을 방지하고, 탐지기가 교란 신호를 검출하는 것을 방지하여, 안전 검사 시스템의 이미징 정확성을 향상시킨다. 또한, 탐지기 모듈(6) 중의 적어도 일부분의 탐지기 모듈은 상이한 타이밍에 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선을 접수하도록 구성되므로, 탐지기의 코스트를 절감한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)가 모두 동위원소 방사선원일 경우, 제1 검사 방사선과 제2 검사 방사선이 교체적으로 방출되는 방법은 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 방출구의 위치를 변경하거나, 또는, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 동위원소의 위치를 변경하는 것을 포함하여, 동위원소로부터 방출되는 방사선이 방출구로부터 사출될 수 있는지의 여부를 제어하는 것을 통하여, 상기 제1 방사선 방출 장치(4)와 상기 제2 방사선 방출 장치(5)가 검사 방사선을 교체적으로 방출하는 것을 실현한다.
예를 들면, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 방출구의 위치를 변경한다는 것은, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 차폐 하우징을 회전시켜, 방출구가 회전되도록 하는 것를 포함하는 바, 동위원소의 위치는 고정되어 변하지 않으므로, 방출구와 동위원소의 상대적인 위치가 변경된다. 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 동위원소의 위치를 변경한다는 것은, 동위원소를 회전 또는 왕복운동 시키는 방식으로 이동시키는 것를 포함하는 바, 제1 방사선 방출 장치(4)와 제2 방사선 방출 장치(5)의 차폐 하우징이 고정되어 변하지 않으므로, 방출구와 동위원소의 상대적인 위치가 변경된다.
다른 실시예에 있어서, 예를 들어, 제2 방사선 방출 장치(5)가 X선 방출기일 경우, 디지털 제어를 통하여, 제2 방사선 방출 장치(5)가 검사 방사선을 방출하는 트리거 신호를 제어하여, 트리거 신호가 간헐적으로 방출되도록 한다. 즉, 검사 방사선이 간헐적으로 방출되도록 한다.
본 발명의 실시예에 의하면, 탐지기 모듈(6)는 방사선 탐지기이고, 기체 전리함, 섬광 검출기, 또는 반도체 검출기이다. 탐지기 모듈(6)이 섬광 검출기 또는 반도체 검출기일 경우, 지향성이 없기에, 포틀 프레임(1)의 측 기둥(3)이 탐지기의 아래쪽에 놓이는 부분은, 높이가 조정될 수 있는 구조로 구성되어, 즉, 신축 구조로 설치하여, 탐지기 모듈(6)이, 제1 방사선 방출 장치(4)로부터 멀어지거나, 제1 방사선 방출 장치(4)에 접근하게 할 수 있다. 체적이 비교적 큰 피검사체일 경우, 탐지기 모듈(6)의 높이를 상승시키고, 체적이 비교적 작은 피검사체일 경우, 탐지기 모듈(6)의 높이를 하강시켜, 탐지기 모듈(6)이 접수하는 방사선 강도를 높이고, 이미징 품질를 향상시킨다.
도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 정면도이다. 도3은 본 발명의 일 실시예에 따른 안전 검사 시스템의 좌측면도이다. 도2와 도3에는 본 발명의 실시예중의 가이드 기구가 도시되었는 바, 본 실시예에 있어서, 가이드 기구는 직선 가이드 레일(9)이다. 포틀 프레임(1)은 이동가능하게 당해 직선 가이드 레일(9)에 연결되고, 전동 기구(10)을 통하여 포틀 프레임(1)의 이동을 제어한다. 전동 기구(10)는 후프와 구동 모터를 포함하거나, 또는, 포틀 프레임(1)이 제1 방사선 방출 장치(4), 제2 방사선 방출 장치(5), 및 탐지기 모듈(6)을 전동하여, 동기적으로 운동하도록 하는 임의의 구조일 수 있다.
본 발명의 실시예에 의하면, 포틀 프레임(1)은 제1 방사선 방출 장치(4), 제2 방사선 방출 장치(5), 및 탐지기를 전동하여 동기적으로 가이드 기구를 따라 이동하도록 하므로, 제1 방사선 방출 장치(4), 제2 방사선 방출 장치(5) 및 탐지기가 피검사체의 한끝으로부터 다른 한끝으로, 트레일러로 검사체를 끌 필요가 없이 검사를 실행할 수 있어, 운용 비용을 절감하고, 검사 효율를 향상시킬 수 있다.
다른 일 실시예에 있어서, 검사 기기의 수량은 2개일 수 있다. 이럴 경우, 포틀 프레임(1)의 수량은 2개일 수 있다. 2개의 포틀 프레임(1)은 병렬되게 설치되어 동기적으로 운동할 수 있는 바, 포틀 프레임(1)을 한번 이동시켜 2개의 피검사체를 동시에 검사할 수 있다. 또는, 포틀 프레임(1)을 한번 이동시켜 각각 피검사체의 앞부분과 뒤부분을 검사할 수 있으므로, 검사 효율을 향상시킨다. 물론, 검사 기기의 수량은 더 많을 수도 있고 복수개의 검사 기기들이 동기적으로 운동하도록 확보함으로서, 포틀 프레임(1)이 한번 이동하면, 더 많은 피검사체를 동시에 검사할 수 있어, 검사 효율을 더 한층 향상시킬 수 있다.
예를 들어, 포틀 프레임(1)의 수량이 2개일 경우, 2개의 포틀 프레임(1)을 좌우에 병렬하여 설치한다. 2개의 포틀 프레임(1)에서 서로 근접한 프레임은 하나의 사이드 프레임으로 합병할 수도 있고, 2개의 사이드 프레임을 고정적으로 연결할 수도 있으므로, 2개의 포틀 프레임(1)이 동기적으로 운동하게 할 수 있다. 각 포틀 프레임(1)의 밑부분에는 각기 하나의 제1 방사선 방출 장치(4)가 설치되고, 2개의 포틀 프레임(1)은 하나의 제2 방사선 방출 장치(5)를 공동으로 사용하며, 당해 제2 방사선 방출 장치(5)는 2개의 포틀 프레임(1) 사이의 사이드 프레임에 설치되어 있다. 이럴 경우, 제2 방사선 방출 장치(5)의 방출구는 2개 설치되고, 각각 좌우 양측으로 동시에 제2 검사 방사선을 방출하여, 2개의 포틀 프레임(1)이 당해 제2 방사선 방출 장치(5)를 사용하여 동시에 측면투영의 검사를 할 수 있으므로, 포틀 프레임(1)의 한번 이동을 통해, 2개의 피검사체를 동시에 검사할 수 있고, 검사 효율를 향상시킬 수 있다.
또한, 예를 들어, 포틀 프레임(1)의 수량이 2개일 경우, 2개의 포틀 프레임(1)을 앞뒤로 병렬되도록 설치하여, 2개의 포틀 프레임(1)이 동일한 방향으로 동기적으로 운동할 수 있다. 이럴 경우, 각 포틀 프레임(1)에는 하나의 제1 방사선 방출 장치(4)와 하나의 제2 방사선 방출 장치(5)가 대응되게 설치되어, 포틀 프레임(1)의 한번 이동을 통해, 피검사체의 앞부분과 뒤부분을 동시에 검사할수 있어, 검사 효율을 향상시킨다. 하지만, 당업자는, 2개의 포틀 프레임(1)이 동일한 속도로 반대 방향으로 운동하는 경우를 쉽게 생각해 낼 수 있다. 구체적으로, 포틀 프레임(1)의 운동방식은, 2개의 포틀 프레임(1)이 피검사체의 두 끝부분으로부터 동시에 중간부분으로 이동하거나, 2개의 포틀 프레임(1)이 피검사체의 중간부분으로부터 두 끝부분으로 운동할 수도 있다. 다만 포틀 프레임(1)의 한번 운동을 통해, 피검사체의 부동한 부분을 각각 검사할 수 있고, 최종적으로, 포틀 프레임(1)이 검사한 투영을 피검사체의 투영으로 조합할 수 있으면 된다.
본 발명에 기재하고 설명된 실시예는, 본 발명이 보호하고자 하는 내용를 해석하기 위한 것이지, 제한하는 것은 아니므로, 상기 실시예는 본 발명의 바람직한 기술안을 기재한 것에 불과한 바, 특허청구범위에 의하여 한정된 범위내의 모든 수정예와, 균등한 구성은 모두 본 발명이 보호하려는 내용에 포함된다.
1：포틀 프레임
2：윗 기둥
3：측 기둥
4：제1 방사선 방출 장치
5：제2 방사선 방출 장치
6：탐지기 모듈
7：제1 탐지기 모듈
8：제2 탐지기 모듈
9：직선 가이드 레일
10：전동 기구
11：이동 통로
12：연결 기둥
13：전면 콜리메이터（front collimator）
14：검사 통로
15：제1 방사선원
16：제2 방사선원.

Claims (12)

  1. 제1 방사선 방출 장치, 방사선 접수 장치, 및 이동 프레임을 포함하는, 하나 또는 복수 개의 검사 기기를 포함하는 안전 검사 시스템에 있어서,
    상기 제1 방사선 방출 장치는, 제1 검사 방사선을 발생하는 제1 방사선원을 포함하고, 상기 제1 검사 방사선이 아래로부터 피검사체를 투과하도록 상기 이동 프레임의 밑부분에 설치되며,
    상기 방사선 접수 장치는, 상기 피검사체를 투과한 상기 제1 검사 방사선을 접수하는 방사선 탐지기를 포함하고, 상기 이동 프레임위에 설치되며,
    상기 이동 프레임은, 상기 제1 방사선 방출 장치와 상기 방사선 접수 장치를 상기 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 이동시키는 방향으로 운동하는 안전 검사 시스템.
  2. 청구항1에 있어서,
    상기 제1 방사선원은 동위원소 방사선원인 안전 검사 시스템.
  3. 청구항2에 있어서,
    상기 동위원소 방사선원은 60Co, 137Cs, 192Ir, 75Se을 포함하는 안전 검사 시스템.
  4. 청구항1에 있어서,
    제2 검사 방사선을 발생하는 제2 방사선원을 포함하고, 상기 제2 검사 방사선이 측면으로부터 피검사체를 투과하도록 상기 이동 프레임에 설치되는 제2 방사선 방출 장치를 더 포함하고,
    상기 방사선 접수 장치는, 상기 피검사체를 투과한 상기 제2 검사 방사선을 접수하고,
    상기 이동 프레임은, 상기 제2 방사선 방출 장치를 상기 피검사체의 검사 영역을 경과하도록 이동시키는 안전 검사 시스템.
  5. 청구항4에 있어서,
    상기 제2 방사선원은 동위원소 방사선원 또는, X선 방출기인 안전 검사 시스템.
  6. 청구항5에 있어서,
    상기 동위원소 방사선원은 60Co, 137Cs, 192Ir, 75Se을 포함하고, 상기 X선 방출기는 X선기와 전자 가속기를 포함하는 안전 검사 시스템.
  7. 청구항4에 있어서,
    상기 제1 검사 방사선과 상기 제2 검사 방사선은 모두 부채형 평면으로 분포되어 있는 안전 검사 시스템.
  8. 청구항4에 있어서,
    상기 제1 방사선 방출 장치와 상기 제2 방사선 방출 장치는, 상기 제1 검사 방사선과 상기 제2 검사 방사선이 상이한 평면에 위치하도록 설치되고, 상기 방사선 접수 장치는 상기 제1 검사 방사선를 접수하는 제1 탐지기 모듈과 상기 제2 검사 방사선을 접수하는 제2 탐지기 모듈을 포함하는 안전 검사 시스템.
  9. 청구항4에 있어서,
    상기 제1 방사선 방출 장치와 상기 제2 방사선 방출 장치는, 교체적으로 상기 제1 검사 방사선과 상기 제2 검사 방사선을 방출하며, 상기 제1 검사 방사선과 상기 제2 검사 방사선이 동일한 평면에 위치하도록 설치되고, 상기 방사선 접수 장치는 교체적으로 방출되는 상기 제1 검사 방사선과 상기 제2 검사 방사선을 접수하는 안전 검사 시스템.
  10. 청구항1에 있어서,
    상기 이동 프레임은 상기 방사선 접수 장치와 상기 제1 방사선 방출 장치 사이의 거리를 조정할 수 있는 안전 검사 시스템.
  11. 청구항2에 있어서,
    상기 방사선 탐지기는 기체 전리함, 섬광 검출기, 또는 반도체 검출기를 포함하는 안전 검사 시스템.
  12. 청구항1에 있어서,
    상기 이동 프레임의 운동을 가이드 하는 가이드 기구를 더 포함하는 안전 검사 시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106596599B (zh) * 2016-12-23 2023-09-26 清华大学 安全检测系统
CN106680301A (zh) * 2016-12-23 2017-05-17 清华大学 用于汽车辐射成像检测系统的装置及辐射成像检测系统
CN106908849B (zh) * 2017-03-30 2021-01-29 北京华力兴科技发展有限责任公司 大巴车行李舱的检测装置
CN107065024B (zh) * 2017-06-12 2023-08-18 上海瑞示电子科技有限公司 一种双视角x射线安全检查系统
CN107300721B (zh) * 2017-08-10 2023-12-15 苏州曼德克光电有限公司 一种基于射线的载货车辆三维成像检测系统
CN107390279A (zh) * 2017-08-23 2017-11-24 安徽启路达光电科技有限公司 一种安检装置
CN107479103B (zh) * 2017-09-19 2020-01-14 北京君和信达科技有限公司 辐射检查系统
CN107765320A (zh) * 2017-11-24 2018-03-06 同方威视技术股份有限公司 检查系统
CN108614301A (zh) * 2018-07-11 2018-10-02 同方威视技术股份有限公司 辐射检查系统
CN115236757A (zh) * 2019-08-09 2022-10-25 同方威视技术股份有限公司 检查系统
CN110793984A (zh) * 2019-10-14 2020-02-14 艾偲睿科技(厦门)有限责任公司 一种多源检测设备和检测方法
CN113834832A (zh) * 2020-06-23 2021-12-24 同方威视技术股份有限公司 移动式检测装置及检测方法
CN115793079B (zh) * 2021-09-09 2024-04-09 同方威视技术股份有限公司 辐射检查设备
FR3138002A1 (fr) * 2022-07-12 2024-01-19 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Dispositif optoélectronique

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6088423A (en) 1998-06-05 2000-07-11 Vivid Technologies, Inc. Multiview x-ray based system for detecting contraband such as in baggage
US7072440B2 (en) * 2001-10-19 2006-07-04 Control Screening, Llc Tomographic scanning X-ray inspection system using transmitted and Compton scattered radiation
US7963695B2 (en) * 2002-07-23 2011-06-21 Rapiscan Systems, Inc. Rotatable boom cargo scanning system
US6928141B2 (en) 2003-06-20 2005-08-09 Rapiscan, Inc. Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers
US7606348B2 (en) * 2006-02-09 2009-10-20 L-3 Communications Security and Detection Systems Inc. Tomographic imaging systems and methods
DE102006051087A1 (de) * 2006-04-13 2007-10-18 Christoph Clemens Grohmann Durchstrahlungsscanner
US7526064B2 (en) * 2006-05-05 2009-04-28 Rapiscan Security Products, Inc. Multiple pass cargo inspection system
CN101051029A (zh) * 2007-05-11 2007-10-10 清华大学 移动式轿车辐射成像检测系统
US7732772B1 (en) * 2007-08-29 2010-06-08 Raytheon Company System and method for detecting explosive materials
DE102010026674B4 (de) * 2010-07-09 2012-09-27 Siemens Aktiengesellschaft Bildgebungsvorrichtung und Strahlentherapiegerät
CN202256704U (zh) * 2011-08-19 2012-05-30 上海世鹏实验室科技发展有限公司 一种航空货柜检测设备
US9176253B2 (en) * 2012-01-11 2015-11-03 Ko Khee Tay Portable inspection apparatus
CN203324492U (zh) * 2013-07-04 2013-12-04 苏州奥德克光电有限公司 一种可移动x射线透射式绿色通道检测系统
CN105346975B (zh) * 2014-08-22 2017-12-22 清华大学 车辆拖动系统和车辆检查系统
CN205808968U (zh) * 2016-05-30 2016-12-14 清华大学 安全检测系统

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