JP6743795B2 - 電気加熱式触媒 - Google Patents

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Description

本発明は、カーボン電極を有する電気加熱式触媒に関する。
従来、例えば車両分野では、触媒を備えるハニカム基材をSiC等の抵抗発熱体より構成し、通電加熱によってハニカム基材を発熱させる電気加熱式触媒が知られている。
例えば、特許文献1には、SiCからなるハニカム基材に、基材と同種の材料であるSiC−Siよりなる電極が接合剤により接合された電気加熱式触媒が開示されている。以下、ハニカム基材のことを基材ということがある。
特開2013−198887号公報
ところが、SiCは、電気抵抗が比較的高いため、基材通電時における消費電力が増大する。その結果、例えば車両用の電気加熱式触媒においては燃費が低下する。そこで、SiCよりも電気抵抗が低い抵抗発熱体により構成されたハニカム基材の開発が望まれる。
一方、基材の材質が変更されると、その基材に適した電極や、電極を基材に接合するためのろう材の開発が必要となる。このような電極やろう材としては、導電性に優れるという観点から金属電極や金属ろう材が想定される。
しかしながら、金属は例えば高温環境下で酸化されやすい。したがって、金属電極や金属ろう材には金属酸化物からなる絶縁膜が形成されるおそれがある。絶縁膜の形成は、例えば局所的な電気抵抗の増大を招くおそれがある。
その結果、ハニカム基材全体を十分に通電させることができなくなり、ハニカム基材の発熱が不十分になる。つまり、通電によりハニカム基材を均一に発熱させることが困難になり、電気加熱式触媒に温度分布が発生する。その結果、電気加熱式触媒における触媒活性にばらつきが発生するおそれがある。また、基材の温度分布が発生すると電極との接合部等に熱膨張差に起因する割れが発生するおそれもある。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、金属ろう材の酸化を抑制して、ハニカム基材における温度分布の発生を抑制できる電気加熱式触媒を提供しようとするものである。
本発明の一態様は、SiCよりも電気抵抗の小さい抵抗発熱体からなるハニカム基材(2)と、
上記ハニカム基材に形成されたカーボン電極(3)と、
上記ハニカム基材と上記カーボン電極とを接合する、金属ろう材からなる接合部(4)と、を有する、電気加熱式触媒(1)にある。
上記電気加熱式触媒は、ハニカム基材とカーボン電極と両者を接合する金属ろう材からなる接合部とを有する。このような構成の電気加熱式触媒においては、カーボン電極中のカーボンが還元剤として役割を果たすことができる。つまり、カーボン電極中のカーボンが接合部周囲の酸素を奪うため、金属ろう材が酸化されて金属酸化物からなる絶縁膜が形成されることを抑制できる。
その結果、接合部の電気抵抗が増大することを抑制でき、カーボン電極への通電によりハニカム基材を十分に通電させることができる。そのため、電気加熱式触媒に温度分布が発生することを抑制できる。つまり、通電加熱時に、ハニカム基材全体の均一な加熱が可能になる。その結果、触媒活性にばらつきが発生することを防止できる。さらに、熱膨張差の発生を抑制でき、接合部における割れの発生を防止できる。
また、ハニカム基材は、SiCよりも電気抵抗の低い抵抗発熱体からなる。ハニカム基材の電気抵抗が小さいと、一般には、絶縁膜による抵抗増大による影響を受けやすくなる。しかし、上記構成の電気加熱式触媒においては、カーボン電極が絶縁膜の形成を抑制するため、低電気抵抗のハニカム基材への悪影響を十分に緩和できる。
一方、金属ろう材の酸化防止に使われたカーボンは酸化され、昇華により二酸化炭素が生成する。二酸化炭素は大気中へ拡散するため、電気加熱式触媒に悪影響を及ぼすこともない。
また、上記構成の電気加熱式触媒においては、ハニカム基材よりもカーボン電極の電気抵抗を低くすることが可能になる。これにより、カーボン電極への通電によりハニカム基材が発熱し易くなる。
以上のごとく、上記態様によれば、金属ろう材の酸化を抑制して、ハニカム基材における温度分布の発生を抑制できる電気加熱式触媒を提供することができる。
なお、特許請求の範囲及び課題を解決する手段に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであり、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
実施形態1の電気加熱式触媒の斜視図。 実施形態1の電気加熱式触媒の部分断面図。 実施形態1における気孔率の低いハニカム基材を有する電気加熱式触媒の要部拡大断面図。 実施形態1における気孔率の高いハニカム基材を有する電気加熱式触媒の要部拡大断面図。 実施形態2におけるハニカム基材を構成するPTC抵抗発熱体の微構造を示す模式図。 比較形態1における気孔率の低いハニカム基材を有する電気加熱式触媒の要部拡大断面図。 比較形態2における気孔率の高いハニカム基材を有する電気加熱式触媒の要部拡大断面図。
(実施形態1)
電気加熱式触媒に係る実施形態について、図1〜図4を参照して説明する。なお、本明細書中の電気加熱式触媒は、ハニカム基材に触媒が担持された状態であっても、触媒が担持されていない状態(つまり、担体)であってもよい。電気加熱式触媒は、EHCといわれることがある。図1及び図2に例示されるように、電気加熱式触媒1は、ハニカム基材2とカーボン電極3と接合部4とを有する。
ハニカム基材2は、所謂ハニカム構造体からなり、例えば、筒状の外皮21と外皮21内を区画する多数のセル壁22とから形成することができる。ハニカム基材2はセル壁22に囲まれて軸方向に伸びる多数のセル23を有する。ハニカム基材2の形状は、特に限定されることはないが、図1、図2に例示されるように例えば円柱状であり、外皮21は例えば円筒状である。セル23の断面形状は、特に限定されないが、例えば四角形状にすることができる。ハニカム基材2としては、例えば公知の構造を適用することができる。
カーボン電極3は、ハニカム基材2の例えば外皮21に形成される。通常、ハニカム基材2への通電のため一対のカーボン電極3を外皮21に形成することができる。一対のカーボン電極3は、例えば相互に対向する位置関係で外皮21上に形成することができる。図1及び図2の例示においては、カーボン電極3として瓦状のカーボン電極31と棒状のカーボン電極32とが形成されており、瓦状のカーボン電極31同士、及び棒状のカーボン電極32同士がそれぞれ相互に対向する位置関係で形成されている。
図2及び図3に例示されるように、ハニカム基材2と瓦状のカーボン電極31との接合には金属ろう材が用いられ、金属ろう材からなる接合部4が形成されている。同様に、瓦状のカーボン電極31と棒状のカーボン電極32とも金属ろう材よりなる接合部4により接合される。以下、電気加熱式触媒1の実施形態についてさらに詳細に説明する。
ハニカム基材2は、SiCよりも電気抵抗の小さい抵抗発熱体からなる。電気抵抗の大小は25℃における抵抗値で比較する。
ハニカム基材2は、気孔率20%未満の多孔体又は緻密体であることが好ましい。この場合には、上述のカーボン電極3による絶縁膜の形成抑制効果が顕著になり、電気抵抗の増大抑制効果が顕著になる。この点について以下説明する。
20%未満という気孔率が低いハニカム基材2では、金属ろう材がハニカム基材2に含浸されにくい。そのため、図3に例示されるように金属ろう材からなる接合部4と基材2との界面51が、外観上、基材2の外皮21上に配置されやすい。つまり、接合部4と基材2との界面51が大きく入り込んでおらず、平滑になる。
このような平滑な界面51を有する場合において、金属ろう材が酸化されて界面に絶縁膜が形成されると、絶縁膜が基材2の外皮上に沿って連続的に形成されることとなる(比較形態1参照)。その結果、界面51において電気的な迂回経路がなくなるため、界面抵抗が増加して電気抵抗が大幅に増大してしまう。このような界面51を有する場合であっても、本実施形態のようにカーボン電極3を形成することにより、図3に例示されるように界面における絶縁膜の形成を抑制できる。そのため、大幅な電気抵抗の増大をも防止できる。
一方、図4に例示されるように、気孔率が20%以上の場合には、金属ろう材がハニカム基材2に含浸されやすい。そのため、金属ろう材からなる接合部4と基材2との界面52が、外観上、入り込んだ形状になりすい。この場合には、界面52において金属ろう材が酸化されて界面に絶縁膜が形成されても、絶縁膜が分断された状態で形成されやすい(比較形態2参照)。そのため、界面52には電気的な迂回経路が生じやすい。したがって、絶縁膜の形成によって電極の電気抵抗は大きくなるものの、その影響は上述の気孔率が20%未満の場合ほど大きくはない。この場合であっても、図4に例示されるように、カーボン電極3の形成により絶縁膜の形成を抑制できる。そのため、電気抵抗の局所的な増大を防止し、電極の全体の電気抵抗の増大を防止できる。
上述のように、気孔率20%未満の基材2に対してカーボン電極3を形成することより、電気抵抗の大幅な増大を防止することができる。このような電気抵抗の大幅な増大防止効果がさらに顕著になるという観点からは、ハニカム基材2の気孔率は15%以下がより好ましい。また、気孔率が小さくなると熱容量が大きくなるため、基材2が加熱されやすくなるという利点もある。
また、圧力損失を小さくするという観点から、ハニカム基材2の気孔率は5%以上であることが好ましく、10%以上であることがより好ましい。
気孔率は、水銀圧入法の原理を用いた水銀ポロシメータにより測定される。水銀ポロシメータとしては、(株)島津製作所製のオートポアIV9500を用いる。なお、廃番により入手不可能になった場合には、これと同等の測定を行うことが可能な水銀ポロシメータにより測定される。測定条件は、以下の通りである。
まず、ハニカム基材2から試験片を切り出す。試験片は、ハニカム基材2の軸方向と直交方向の寸法が縦15mm×横15mmであり、軸方向の長さが20mmである直方体である。軸方向はハニカム基材2のセル23の伸長方向である。次いで、水銀ポロシメータの測定セル内に試験片を収納し、測定セル内を減圧する。その後、測定セル内に水銀を導入して加圧し、加圧時の圧力と試験片の気孔内に導入された水銀の体積より、気孔径と気孔容積を測定することができる。
測定は、圧力0.5〜20000psiaの範囲で行う。なお、0.5psiaは、0.35×10-3kg/mm2に相当し、20000psiaは14kg/mm2に相当する。気孔率は、次の関係式より算出した。
気孔率(%)=総気孔容積/(総気孔容積+1/ハニカム基材を構成する材料の真比重)×100
ハニカム基材2は、PTC抵抗発熱体からなることが好ましい。この場合には、SiCなどのNTC抵抗発熱体のように高温環境下でハニカム基材2の電気抵抗が低下しない。そのため、高温環境下における通電加熱時の電流集中を回避することが可能となる。そのため、高温環境下においても基材2に温度分布が生じ難い。なお、ハニカム基材2の材質として用いられるPTC抵抗発熱体の実施形態については、実施形態2において後述する。
ハニカム基材2には、所望の目的に応じた触媒などを担持することができる。電気加熱式触媒1を例えば車両の排ガスの浄化用途に用いる場合には、例えば三元触媒を担持することができる。三元触媒としては、特に限定されるものではないが、Pt、Pd、Rhなどの貴金属触媒を用いることができる。触媒としては、排ガス浄化用の貴金属触媒に限定されず、遷移金属酸化物、ペロブスカイト酸化物等を担持することも可能である。
好ましくは、電気加熱式触媒1は、車両の排ガスの浄化に用いられることがよく、ハニカム基材2に担持される触媒は、排ガス浄化用の触媒であることがよい。排ガスの浄化に使用される電気加熱式触媒1においては、冷熱サイクルに曝され、特に高温環境下における性能向上が求められている。上記構成の電気加熱式触媒1においては、カーボン電極3の存在により、高温環境下における金属ろう材の酸化を抑制することができる。そのため、電気抵抗増大に伴う温度分布の発生を抑制できる。したがって、高温環境下においても、通電発熱により所望の浄化性能を発揮できる。
カーボン電極3は、カーボンを主成分とする電極である。「カーボンを主成分とする」とは、電極構成成分中のカーボンの含有量が50質量%以上であることを意味する。カーボン電極3中のカーボンの含有量は80質量%以上であることが好ましく、90質量%以上であることがより好ましく、95質量%以上であることがさらに好ましい。カーボン電極3中のカーボン量が多いほど、カーボン電極3による上述の金属ろう材の酸化抑制効果がより高まる。最も好ましくは、カーボン電極3は実質的にカーボンからなることがよい。「実質的にカーボンからなる」とは、不可避的不純物や表面被覆物等を除いてカーボンより構成されていることを意味する。
カーボン電極3の形状は、特に限定されるものではなく、瓦状、板状、棒状等が例示される。カーボン電極3は、例えば成形後に金属ろう材によりハニカム基材2に接合される。
図1〜図4に例示されるように、カーボン電極3は、接合部4によってハニカム基材2の外皮21などに接合される。接合部4は金属ろう材からなる。
金属ろう材の材質は、特に限定されるものではないが、少なくともAlを含有するFe合金からなることが好ましい。この場合には、金属ろう材からなる接合部4の接合強度を高めることができる。また、Alは酸化により酸化アルミニウムからなる絶縁膜を形成しやすいが、上述のカーボン電極3の存在によってAlの酸化を防止できる。つまり、この場合には、カーボン電極3による金属ろう材の酸化抑制効果が顕著になる。
金属ろう材はFe−Si−Al系合金からなることが好ましい。この場合には、接合部4とハニカム基材2との電気的接合の耐久性が向上する。
電気加熱式触媒1は、例えば次のようにして製造される。本形態においては、図1に例示される電気加熱式触媒1の製造例について説明するが、製造方法は、以下の説明に限定されるものではない。
まず、抵抗発熱体からなるハニカム基材2を製造する。ハニカム基材2の製造方法については、後述の実施形態2において説明する。また、予め所望の形状にて製造されたカーボン電極3を準備する。具体的には、例えば、瓦状のカーボン電極31、棒状のカーボン電極32である。
また、FeSiAl粒子などの金属ろう材成分粒子を含有する導電性接合ペーストを準備する。導電性接合ペーストは、金属ろう材成分粒子40〜50質量%とSi粒子等の熱膨張率調整剤50〜60質量%を混合し、さらにシリカゾル等の増粘剤、バインダ、分散剤、水などの液体を含有することができる。
次に、瓦状のカーボン電極31に導電性接合ペーストを塗布し、このカーボン電極31の塗布面をハニカム基材2に貼り付ける。その後、例えば80℃の恒温槽で十分乾燥させる。
次いで、棒状のカーボン電極32に導電性接合ペーストを塗布し、このカーボン電極32の塗布面を上述の瓦状のカーボン電極31に貼り付ける。その後恒温槽で十分乾燥させる。
カーボン電極31、32が貼り付けられたハニカム基材2をArガス等の不活性雰囲気にて焼成し、バインダ及び水などを蒸発あるいは焼失させると共に導電性接合ペーストを焼結させる。焼成温度はハニカム焼成温度より低く設定し、具体的な温度は1000℃〜1300℃、焼成時間は0.1〜30時間で焼成し、基材焼成とは別焼成を行っている。ただし、一体焼成することも可能である。焼結後には、金属ろう材を含有する接合部4が形成され、この接合部4により、カーボン電極3がハニカム基材2に接合される。以上のようにして電気加熱式触媒1を製造することができる。
本実施形態の電気加熱式触媒1は、ハニカム基材2とカーボン電極3と両者を接合する接合部4とを有する。接合部4は金属ろう材を含有する。このような構成の電気加熱式触媒1においては、カーボン電極3中のカーボンが還元作用を示し、接合部4の周囲の酸素を奪うことができる。そのため、接合部4の金属ろう材の酸化を抑制し、接合部4の表面などに金属酸化物からなる絶縁膜が形成されることを抑制できる。その結果、接合部4の電気抵抗が増大し、ハニカム基材2への通電抵抗が増大することを抑制できる。
したがって、カーボン電極3への通電によりハニカム基材2の全体を十分に通電させることができる。そのため、電気加熱式触媒1における温度分布の発生を抑制できる。つまり、ハニカム基材2の全体を均一に加熱することができる。その結果、電気加熱式触媒の触媒活性にばらつきが発生することを防止できる。さらに、熱膨張差の発生を抑制でき、接合部4における割れの発生を防止できる。
また、ハニカム基材2はSiCよりも電気抵抗の低い抵抗発熱体からなる。ハニカム基材2の電気抵抗が小さいと、一般には、絶縁膜の形成による電気抵抗の増大の影響を受けやすくなるが、カーボン電極3が絶縁膜の形成を抑制できるため、低電気抵抗のハニカム基材2への悪影響を十分に緩和できる。また、金属ろう材の酸化防止に使われたカーボン自体は酸化され、カーボンの昇華により二酸化炭素が生成する。二酸化炭素は、大気中へ拡散するため、電気加熱式触媒1の性能に悪影響を及ぼすこともない。
(実施形態2)
次に、ハニカム基材の材質として用いられるPTC抵抗発熱体の実施形態について図5を参照して説明する。なお、実施形態2以降において用いた符号のうち、既出の実施形態において用いた符号と同一のものは、特に示さない限り、既出の実施形態におけるものと同様の構成要素等を表す。
ハニカム基材2に用いられるPTC抵抗発熱体20は、特に限定されるものではないが、図5に例示されるようにホウケイ酸塩を含有するマトリックス201を有することができる。また、PTC抵抗発熱体20は、さらに導電性フィラー202を含有することができる。導電性フィラー202は、マトリックス201中に例えば粒子状で分散される。
このような構成のPTC抵抗発熱体20においては、通電加熱時に電気抵抗を支配する領域が母材であるマトリックス201となる。マトリックス201は、非晶質であってもよいし、結晶質であってもよい。マトリックス201自体の電子伝導性を高めるという観点から、マトリックス201は、少なくともホウケイ酸塩を含有することが好ましい。
マトリックス201は、例えばSiCに比べ、電気抵抗率の温度依存性が小さく、かつ、電気抵抗率がPTC特性を示す。そのため、マトリックス201中に含まれる導電性フィラー202の電気抵抗率がPTC特性を示す場合には、ハニカム基材2の電気抵抗率は、温度依存性が小さく、かつ、PTC特性を示すことができる。一方、導電性フィラー202の電気抵抗率がNTC特性を示す場合には、PTC特性を示すマトリックス201の電気抵抗率とNTC特性を示す導電性フィラー202の電気抵抗率との足し合わせにより、ハニカム基材2の電気抵抗率を、温度依存性が小さく、かつ、PTC特性を示す、または、温度依存性がほとんどないように設計することができる。したがって、ハニカム基材2は、通電加熱時に、基材内部に温度分布が生じ難く、熱膨張差による割れが生じ難い。また、ハニカム基材2は、通電加熱時により低温で早期に発熱させることができる。
ホウケイ酸塩は、アルカリ金属原子及びアルカリ土類金属原子の少なくとも一方を含有することができる。つまり、ホウケイ酸塩には、アルカリ金属原子及びアルカリ土類金属原子の少なくとも一方がドープされていてもよい。アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子としては、Na、Mg、K、Ca、Li、Be、Rb、Sr、Cs、Ba、Fr、および、Raからなる群より選択される少なくとも1つの原子を用いることが好ましい。この場合には、マトリックス201の低電気抵抗化を図ることができる。そのため、導電性フィラー202として電気抵抗率の低いものを選択し、かつ、その含有量を増加させることで、ハニカム基材2の電気抵抗率を低下させやすい。
ホウケイ酸塩は、ハニカム基材の低電気抵抗化を図りやすいなどの観点から、好ましくは、Na、Mg、K、および、Caからなる群より選択される少なくとも1つを含むことができる。より好ましくは、ホウケイ酸塩は、Na、K、または、NaおよびKの双方を少なくとも含むことができる。なお、ホウケイ酸塩は、具体的には、アルミノホウケイ酸塩などとすることもできる。
ホウケイ酸塩は、アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子を合計で0.1質量%以上10質量%以下含むことができる。この場合には、マトリックス201の低電気抵抗化を確実なものとすることができる。また、この場合には、SiCに比べ、電気抵抗率の温度依存性が小さく、かつ、電気抵抗率がPTC特性を示すマトリックス201を確実なものとすることができる。なお、「アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子を合計で」とは、ホウケイ酸塩がアルカリ金属原子またはアルカリ土類金属原子を1つ含む場合には、その1つのアルカリ金属原子またはアルカリ土類金属原子の質量%を意味する。また、ホウケイ酸塩がアルカリ金属原子を複数含む場合、ホウケイ酸塩がアルカリ土類金属原子を複数含む場合、ホウケイ酸塩がアルカリ金属原子とアルカリ土類金属原子との両方を含む場合等には、その複数の各原子の各質量%を足し合わせた合計の質量%を意味する。
アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子の合計含有量は、アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子の添加による効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、0.2質量%以上、より好ましくは、0.5質量%以上、さらに好ましくは、0.8質量%以上とすることができる。また、アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子の合計含有量は、マトリックス201の軟化点低下による形状変化の抑制などの観点から、好ましくは、8質量%以下、より好ましくは、5質量%以下、さらに好ましくは、3質量%以下とすることができる。
ホウケイ酸塩は、Si原子を15質量%以上40質量%以下含むことができる。この場合には、アルカリ金属原子、アルカリ土類金属原子を含むホウケイ酸塩の電気抵抗率がPTC特性を示しやすくなる。
Si原子の含有量は、上記効果を確実なものとする、マトリックス201の軟化点を上昇させるなどの観点から、好ましくは、5質量%以上、より好ましくは、10質量%以上、さらに好ましくは、15質量%以上とすることができる。また、Si原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、30質量%以下、より好ましくは、25質量%以下、さらに好ましくは、22質量%以下とすることができる。
ホウケイ酸塩は、B原子を0.1質量%以上15質量%以下含むことができる。この構成によれば、PTC特性を発現させやすくなるなどの利点がある。
B原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、0.5質量%以上、より好ましくは、1質量%以上、さらに好ましくは、1.5質量%以上とすることができる。また、B原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、12質量%以下、より好ましくは、10質量%以下、さらに好ましくは、8質量%以下とすることができる。
ホウケイ酸塩は、O原子を40質量%以上80質量%以下含むことができる。この構成によれば、PTC特性を発現させやすくなるなどの利点がある。
O原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、45質量%以上、より好ましくは、50質量%以上、さらに好ましくは、60質量%以上、さらにより好ましくは、70質量%以上とすることができる。また、O原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、82質量%以下、より好ましくは、80質量%以下、さらに好ましくは、78質量%以下とすることができる。
なお、上述したホウケイ酸塩における各原子の含有量は、合計で100質量%となるように上述した範囲から選択することができる。また、ホウケイ酸塩が上述したアルカリ金属原子・アルカリ土類金属原子の合計含有量、Si原子の含有量、B原子の含有量、および、O原子の含有量の範囲を全て同時に満たす場合には、電気抵抗率の温度依存性が小さく、かつ、電気抵抗率がPTC特性を示す、または、電気抵抗率の温度依存性がほとんどないPTC抵抗発熱体20を確実なものとすることができる。また、マトリックス201を構成するホウケイ酸塩に含まれうる原子としては、上記以外に、例えば、Al、Fe、Cなどを例示することができる。
ホウケイ酸塩がAlを含む場合、Al原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、1質量%以上、より好ましくは、2質量%以上、さらに好ましくは、3質量%以上とすることができる。また、Al原子の含有量は、上記効果を確実なものとするなどの観点から、好ましくは、8質量%以下、より好ましくは、6質量%以下、さらに好ましくは、5質量%以下とすることができる。なお、上述した各原子の含有量は、電子線マイクロアナライザ(つまり、EPMA)分析装置(日本電子社製、「JXA−8500F」、なお、廃番により入手不可能になった場合にはこれと同等の測定を行うことが可能な電子線マイクロアナライザ分析装置)により測定される。
PTC抵抗発熱体20は、さらに導電性フィラー202を含有することができる。この場合には、マトリックス201と導電性フィラー202との複合化により、マトリックス201の電気抵抗率と導電性フィラー202の電気抵抗率との足し合わせによってPTC抵抗発熱体全体の電気抵抗率が決定される。そのため、導電性フィラー202の導電性、導電性フィラー202の含有量を調整することで、PTC抵抗発熱体の電気抵抗率の制御が可能になる。なお、導電性フィラー202の電気抵抗率は、PTC特性、NTC特性のいずれを示してもよいし、電気抵抗率の温度依存性がなくてもよい。また、PTC抵抗発熱体20は、図5に例示されるように、マトリックス201を海状部、導電性フィラー202を島状部とする海島構造の微構造を有することができる。
導電性フィラー202としては、電子伝導性を有する粒子であれば特に限定されないが、Si原子を含有する電子伝導性の粒子であることが好ましい。Si原子を含有する導電性の粒子のことを以下Si含有粒子という。
Si含有粒子としては、具体的には、Si粒子、Fe−Si系粒子、Si−W系粒子、Si−C系粒子、Si−Mo系粒子、および、Si−Ti系粒子などを例示することができる。これらはPCT抵抗発熱体中に1種または2種以上含まれていてもよい。
PTC抵抗発熱体20が導電性フィラー202としてSi含有粒子を含有する場合には、Si含有粒子の周囲のホウケイ酸塩にSi含有粒子からSi原子を拡散させて母材の軟化点を上昇させやすくなる。そのため、この場合には、PTC抵抗発熱体20からなるハニカム基材2の形状保持性を向上させることが可能となる。その結果、高温環境下においてもセル壁などが変形しにくく、構造安定性に優れたハニカム基材2を実現できる。Si含有粒子としては、Si原子のホウケイ酸塩への拡散性などの観点から、Si粒子、Fe−Si系粒子などであることが好ましい。
PTC抵抗発熱体20がマトリックス201と導電性フィラー202とを有する場合、PTC抵抗発熱体20は、具体的には、マトリックス201と導電性フィラー202とを合計で50vol%以上含有する構成とすることができる。特に、アルカリ金属原子及びアルカリ土類金属原子の少なくとも一方を含むホウケイ酸塩を含有するPTC抵抗発熱体20では、マトリックス201の低電気抵抗化が図られ、マトリックス201も電子を通すことができる。したがって、マトリックス201と導電性フィラー202とを合計で50vol%以上にすることにより、公知のパーコレーション理論により、PTC抵抗発熱体20からなるハニカム基材2の導電性確保をより確実なものとすることができる。マトリックス201と導電性フィラー202との合計含有量は、パーコレーションの形成による導電性などの観点から、好ましくは、52vol%以上、より好ましくは、55vol%以上、さらに好ましくは、57vol%以上、さらにより好ましくは、60vol%以上とすることができる。
なお、PTC抵抗発熱体20がマトリックス201と導電性フィラー202とを有する場合、電子は、導電性フィラー202とマトリックス201とを伝いながら流れる。なお、PTC抵抗発熱体20がPTC特性を示す理由は、PTC抵抗発熱体20中を移動する電子が格子振動の影響を受けるためであると推測される。具体的には、NaxWO3の物質等で報告されているラージポーラロンが、PTC抵抗発熱体20においても発生していると推測される。4価のシリコン原子の位置を3価のホウ素が置き換えることにより、原子の骨格が負に帯電し、アルカリ金属原子および/またはアルカリ土類金属原子の電子が閉じ込め効果を受け、ラージポーラロンが発生するものと推測される。
PTC抵抗発熱体20は、25℃〜500℃までの温度範囲において、電気抵抗率が0.0001Ω・m以上1Ω・m以下、かつ、電気抵抗上昇率が0.01×10-6/K以上5.0×10-4/K以下の範囲にある構成とすることができる。また、PTC抵抗発熱体20は、25℃〜500℃までの温度範囲において、電気抵抗率が0.0001Ω・m以上1Ω・m以下、かつ、電気抵抗上昇率が0以上0.01×10-6/K未満の範囲にある構成とすることができる。これらの構成によれば、通電加熱時に内部に温度分布が生じ難く、熱膨張差による割れが生じ難いPTC抵抗発熱体20を確実なものとすることができる。また、上記構成によれば、通電加熱時に、PTC抵抗発熱体20を、より低温で早期に発熱させることができるので、触媒の早期活性化のために早期に温めることが求められるハニカム基材の材料として有用である。なお、電気抵抗上昇率が0以上0.01×10-6/K未満の範囲にある場合には、電気抵抗率の温度依存性がほとんどないとみなすことができる。
PTC抵抗発熱体20の低電気抵抗化などの観点から、例えば、PTC抵抗発熱体20の電気抵抗率は、好ましくは、0.5Ω・m以下、より好ましくは、0.3Ω・m以下、さらに好ましくは、0.1Ω・m以下、さらにより好ましくは、0.05Ω・m以下、さらに一層好ましくは、0.01Ω・m以下、さらにより一層好ましくは、0.01Ω・m未満、もっとも好ましくは、0.005Ω・m以下とすることができる。PTC抵抗発熱体20の電気抵抗率は、通電加熱時の発熱量増大などの観点から、好ましくは、0.0002Ω・m以上、より好ましくは、0.0005Ω・m以上、さらに好ましくは、0.001Ω・m以上とすることができる。この構成によれば、電気加熱式触媒に用いられるハニカム基材として好適になる。
PTC抵抗発熱体20の電気抵抗上昇率は、通電加熱による温度分布の抑制を図りやすくなるなどの観点から、好ましくは、0.001×10-6/K以上、より好ましくは、0.01×10-6/K以上、さらに好ましくは、0.1×10-6/K以上とすることができる。PTC抵抗発熱体20の電気抵抗上昇率は、電気回路において通電加熱に最適な電気抵抗値が存在するという観点からは、電気抵抗上昇率は変化しないことが理想的であり、好ましくは、100×10-6/K以下、より好ましくは、10×10-6/K以下、さらに好ましくは、1×10-6/K以下とすることができる。
なお、PTC抵抗発熱体20の電気抵抗率は、四端子法により測定される測定値(n=3)の平均値である。また、PTC抵抗発熱体20の電気抵抗上昇率は、上記方法によりPTC抵抗発熱体20の電気抵抗率を測定した後、次の計算方法によって算出することができる。先ず、50℃、200℃、400℃の3点で電気抵抗率を測定する。400℃の電気抵抗率から50℃の電気抵抗率を引き算して導出した値を、400℃と50℃の温度差350℃で割り算して電気抵抗上昇率を算出する。
図5に例示されるように、PTC抵抗発熱体20は、さらに骨材203を含有することが好ましい。この場合には、ハニカム基材2の強度を高めることができる。骨材203としては、ムライト、コーディエライト、アノーサイト、スピネル、サフィリン、アルミナ等が例示できる。
PTC抵抗発熱体20よりなるハニカム基材2は、例えば、以下のようにして製造することができるが、この方法に限定されるものではない。
まず、ホウケイ酸ガラス又はホウケイ酸塩と、アルカリ金属原子・アルカリ土類金属原子含有物質と、Si原子含有物質とを混合する。アルカリ金属原子・アルカリ土類金属原子含有物質としては、例えば、Na2CO3、Na2SiO3等のNa含有化合物、MgCO3、MgSiO3等のMg含有化合物、K2CO3、K2SiO3等のK含有化合物、CaCO3、CaSiO3等のCa含有化合物、Li2CO3、Li2SiO3等のLi含有化合物などを例示することができる。これらは1種または2種以上併用することができる。また、アルカリ金属原子・アルカリ土類金属原子含有物質は、1種類のアルカリ金属原子および/またはアルカリ土類金属原子を含有していてもよいし、2種以上のアルカリ金属原子および/またはアルカリ土類金属原子を含有していてもよい。なお、ホウケイ酸ガラス、ホウケイ酸塩がすでに必要なアルカリ金属原子および/またはアルカリ土類金属原子を含有している場合には、アルカリ金属原子・アルカリ土類金属原子含有物質の混合を省略することもできる。また、Si含有物質としては、上述したSi原子を含む導電性フィラーなどを例示することができる。また、カオリン、シリカ、ベントナイトなどの骨材原料をさらに混合することもできる。
次いで、この混合物にバインダ、水を加える。バインダとしては、例えば、メチルセルロール等の有機バインダを用いることができる。また、バインダの含有量は、例えば、2質量%程度とすることができる。
次いで、得られた混合物を押出成形等により、所望のハニカム形状に成形する。
次いで、得られた成形体を焼成する。焼成条件は、具体的には、例えば、不活性ガス雰囲気下または大気雰囲気下、大気圧以下、焼成温度1150℃〜1350℃、焼成時間0.1〜50時間とすることができる。なお、焼成雰囲気は、例えば、不活性ガス雰囲気、焼成時圧力は、常圧などとすることができる。
PTC抵抗発熱体20の低電気抵抗化を図る場合には、酸化防止の観点から残存酸素の低減を図ることが好ましく、焼成時の雰囲気内を1.0×10-4Pa以上の高真空にした後に不活性ガスをパージして焼成するとよい。不活性ガス雰囲気としては、N2ガス雰囲気、ヘリウムガス雰囲気、アルゴンガス雰囲気などを例示することができる。また、上記焼成の前に、必要に応じて、上記成形体を仮焼することもできる。仮焼条件は、具体的には、大気雰囲気下または不活性ガス雰囲気下、仮焼温度500℃〜700℃、仮焼時間1〜50時間とすることができる。以上により、PTC抵抗発熱体20からなるハニカム基材2を得ることができる。
本実施形態のハニカム基材2を構成するPTC抵抗発熱体20は、電気抵抗率の温度依存性が小さく、かつ、電気抵抗率がPTC特性を示す、または、電気抵抗率の温度依存性をほとんどなくすことができる。また、PTC抵抗発熱体20は、電気抵抗率がNTC特性とならないように構成することができることから、通電加熱時の電流集中を回避することが可能となる。そのため、PTC抵抗発熱体20からなるハニカム基材2は、内部に温度分布が生じ難く、熱膨張差による割れが生じ難い。さらに、ハニカム基材2を構成するPTC抵抗発熱体20が導電性フィラー202を含有する場合には、バルク全体が上記マトリックスからなる抵抗発熱体やSiC等からなるハニカム基材に比べ、低電気抵抗で、かつ、電気抵抗率の温度依存性を小さくすることができる利点がある。
(比較形態1)
次に、カーボン電極を有していない電気加熱式触媒の比較形態について説明する。図6に例示されるように、本形態の電気加熱式触媒8は、カーボン電極を有していない。その代わりに、金属電極6等の電極が形成されている。その他は、上述の実施形態と同様の構成にすることができる。なお、図6は、ハニカム基材2と金属ろう材からなる接合部4との界面付近の拡大断面図であり、ハニカム基材2が例えば気孔率20%未満の比較的緻密な材料からなる場合を示す。
この場合には、金属ろう材がハニカム基材2の例えば外皮21に含浸されにくい。そのため、図6に例示されるように金属ろう材からなる接合部4と基材2との界面51が平滑になる。図6においては、界面51を平坦な線で示しているが、実際にはハニカム基材2の外周形状と同様になだらかにカーブしている。
カーボン電極を有していない場合には、金属ろう材が酸化されて界面51に絶縁膜49が形成されやすい。したがって、本形態のように界面51が平滑である場合には、図6に例示されるように、絶縁膜49は基材2の外皮21上に沿って連続的に形成されることとなる。
また、金属電極6などのカーボン電極以外の電極が形成されている場合には、その電極6と金属ろう材からなる接合部4との界面53も平滑になり、この平滑な界面53において絶縁膜49が連続的に形成される。
その結果、連続的に形成された平滑な絶縁膜49の存在により、ハニカム基材2と金属ろう材からなる接合部4との界面51、及び接合部4と金属電極6などの電極との界面53のいずれの界面51、53においても電気的な迂回経路がなくなる。そのため、界面抵抗が増加して電気抵抗が大幅に増大してしまう。したがって、ハニカム基材2に十分に通電させることができなくなる。その結果、温度分布の発生や、触媒の活性化が困難になるという不具合を生じうる。
(比較形態2)
次に、多孔質のハニカム基材に対してカーボン電極以外の電極が形成された電気加熱式触媒の比較形態について説明する。図7に例示されるように、本形態の電気加熱式触媒9は、比較形態1と同様にカーボン電極を有しておらず、その代わりに、金属電極6などからなる電極が形成されている。その他は、上述の実施形態と同様の構成にすることができる。なお、図7は、ハニカム基材2と金属ろう材からなる接合部4との界面付近の拡大断面図であり、ハニカム基材2が例えば気孔率20%以上の比較的気孔率の高い材料からなる場合を示す。
この場合には、金属ろう材がハニカム基材2に含浸されやすいため、図7に例示されるように、金属ろう材からなる接合部4と基材2との界面52が、外観上、入り込んだ形状になりすい。
本形態のようにカーボン電極を有していない場合には、界面52において金属ろう材が酸化されて界面52に絶縁膜49が形成されやすい。上記のように入り込んだ形状の界面52を有する場合においては、絶縁膜49は、比較形態1のように連続的ではなく、図7に例示されるように分断された状態で形成されやすい。そのため、ハニカム基材2と金属ろう材からなる接合部4との界面52には電気的な迂回経路を生じうる。したがって、絶縁膜49の形成によって電極の電気抵抗は大きくなるものの、その影響は比較形態1のような気孔率が20%未満の場合ほど大きくはない。
一方、電極として例えば金属電極6のような電極を形成すると、金属電極6と金属ろう材からなる接合部4との界面53が平滑になる。したがって、この平滑な界面53に連続的で平滑な絶縁膜49が形成され易くなる。その結果、接合部4と金属電極6などとの界面53では電気的な迂回経路がなくなりやすく、電気抵抗が大幅に増加することとなる。
本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の実施形態に適用することが可能である。例えば、ハニカム基材に複数の電極を形成する場合には、それらの内、少なくとも1つをカーボン電極にすることにより、上述の金属ろう材からなる接合部の酸化抑制効果を発揮できる。実施形態1における瓦状の電極のように、少なくともハニカム基材に当接又は最も近くに位置する電極にはカーボン電極を用いることが好ましい。
1 電気加熱式触媒
2 ハニカム基材
3 カーボン電極
4 接合部

Claims (9)

  1. SiCよりも電気抵抗の小さい抵抗発熱体からなるハニカム基材(2)と、
    上記ハニカム基材に形成されたカーボン電極(3)と、
    上記ハニカム基材と上記カーボン電極とを接合する、金属ろう材からなる接合部(4)と、を有する、電気加熱式触媒(1)。
  2. 上記ハニカム基材の気孔率が20%未満である、請求項1に記載の電気加熱式触媒。
  3. 上記ハニカム基材がPTC抵抗発熱体(20)からなる、請求項1又は2に記載の電気加熱式触媒。
  4. 上記PTC抵抗発熱体がホウケイ酸塩を含むマトリックス(201)と、導電性フィラー(202)とを含有する、請求項3に記載の電気加熱式触媒。
  5. 上記ホウケイ酸塩がアルカリ金属原子及びアルカリ土類金属原子の少なくとも一方を含有する、請求項4に記載の電気加熱式触媒。
  6. 上記アルカリ金属原子及び上記アルカリ土類金属原子が、Na、Mg、K、Ca、Li、Be、Rb、Sr、Cs、Ba、Fr、および、Raからなる群より選択される少なくとも1種からなる、請求項5に記載の電気加熱式触媒。
  7. 上記PTC抵抗発熱体がさらに骨材(203)を含有する、請求項4〜6のいずれか1項に記載の電気加熱式触媒。
  8. 上記金属ろう材が少なくともAlを含有するFe合金からなる、請求項1〜7のいずれか1項に記載の電気加熱式触媒。
  9. 上記金属ろう材がFe−Si−Al系合金からなる、請求項1〜8のいずれか1項に記載の電気加熱式触媒。
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