JP6743728B2 - 半導体パワーモジュール及び電力変換装置 - Google Patents

半導体パワーモジュール及び電力変換装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6743728B2
JP6743728B2 JP2017039396A JP2017039396A JP6743728B2 JP 6743728 B2 JP6743728 B2 JP 6743728B2 JP 2017039396 A JP2017039396 A JP 2017039396A JP 2017039396 A JP2017039396 A JP 2017039396A JP 6743728 B2 JP6743728 B2 JP 6743728B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate electrode
semiconductor
power module
substrate
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017039396A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018147958A (ja
Inventor
正一 久我
正一 久我
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2017039396A priority Critical patent/JP6743728B2/ja
Priority to US15/790,088 priority patent/US10468314B2/en
Priority to DE102017221961.0A priority patent/DE102017221961B4/de
Priority to CN201810176053.7A priority patent/CN108538793B/zh
Publication of JP2018147958A publication Critical patent/JP2018147958A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6743728B2 publication Critical patent/JP6743728B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/06Containers; Seals characterised by the material of the container or its electrical properties
    • H01L23/08Containers; Seals characterised by the material of the container or its electrical properties the material being an electrical insulator, e.g. glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/13Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4803Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
    • H01L21/481Insulating layers on insulating parts, with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • H01L23/057Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads being parallel to the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • H01L23/18Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
    • H01L23/24Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device solid or gel at the normal operating temperature of the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3121Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3135Double encapsulation or coating and encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49827Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/003Constructional details, e.g. physical layout, assembly, wiring or busbar connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/291Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/91Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
    • H01L2224/92Specific sequence of method steps
    • H01L2224/922Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
    • H01L2224/9222Sequential connecting processes
    • H01L2224/92242Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
    • H01L2224/92247Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1511Structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P27/00Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage
    • H02P27/04Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage using variable-frequency supply voltage, e.g. inverter or converter supply voltage
    • H02P27/06Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage using variable-frequency supply voltage, e.g. inverter or converter supply voltage using dc to ac converters or inverters
    • H02P27/08Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage using variable-frequency supply voltage, e.g. inverter or converter supply voltage using dc to ac converters or inverters with pulse width modulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Description

本発明は、半導体パワーモジュール及び電力変換装置に関する。
半導体パワーモジュールは高電圧で電流のオン・オフを長期間において連続で行うため、高い信頼性が要求されている。耐圧に対する信頼性を向上させるために、絶縁樹脂で基板電極を覆うことで電流リークを抑えている。例えば、セラミック絶縁基板上の基板電極表面にポリイミド系又はポリアミドイミド系の絶縁樹脂を薄く塗布して硬化させて、耐圧に対する信頼性を向上させている(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−32617号公報
ポッティング法を用いて厚み5μm〜100μmの絶縁樹脂を塗布するが、塗布後の樹脂の表面張力又は樹脂を硬化させる時の体積収縮により、基板電極の上端部は絶縁樹脂で覆われない。そのため、基板電極間で電流がリークして基板電極の上端部で異常放電が発生し、基板電極が破壊されるという問題があった。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は耐圧に対する信頼性を向上させることができる半導体パワーモジュール及び電力変換装置を得るものである。
本発明に係る半導体パワーモジュールは、上面に凹部が形成された絶縁基板と、前記凹
部に埋め込まれ、前記凹部の底面にはんだ又はろう材で接合された基板電極と、前記基板電極の上に接合された半導体素子と、前記基板電極の上端部を覆い、前記基板電極の上面の前記上端部よりも内側の領域及び前記半導体素子を覆わない絶縁樹脂とを備えることを特徴とする。
本発明では、基板電極は絶縁基板の凹部に埋め込まれている。これにより、絶縁基板と基板電極との間に段差ができないため、基板電極の表面に均一に絶縁樹脂を形成して基板電極の上端部を確実に絶縁樹脂で覆うことができる。従って、耐圧に対する信頼性を向上させることができる。
本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。 本発明の実施の形態1に係る絶縁基板と基板電極を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 比較例に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。 図8の破線で囲った部分を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。 本発明の実施の形態2に係る絶縁基板と基板電極を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態3に係る電力変換装置を適用した電力変換システムの構成を示すブロック図である。
本発明の実施の形態に係る半導体パワーモジュール及び電力変換装置について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。セラミックなどの絶縁基板1の上面に凹部2が形成されている。基板電極3がはんだ4を介して凹部2に埋め込まれている。図2は、本発明の実施の形態1に係る絶縁基板と基板電極を拡大した断面図である。基板電極3の厚みhは200μm〜800μmであり、凹部2の深さd以下である。
半導体素子5が基板電極3の上にはんだ6を介して接合されている。厚み5μm〜100μmのポリイミド系又はポリアミドイミド系の絶縁樹脂7が基板電極3の上端部を覆う。半導体素子5の上面に電圧を印加するためのワイヤ配線8が接続されている。シリコンゲル9が基板電極3及び半導体素子5を覆っている。
続いて、本実施の形態に係る半導体パワーモジュールの製造方法を説明する。図3〜7は、本発明の実施の形態1に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。まず、図3に示すように、絶縁基板1の上面に凹部2を形成する。次に、図4に示すように、凹部2の底面にはんだ4を形成する。
次に、図5に示すように、凹部2にアルミ箔板、銅箔板又はそれらの金属ペースなどの導電性の金属をはんだ4を使って高温接合させて基板電極3を形成する。なお、はんだ4の代わりにろう材を用いてもよく、基板電極3をスパッタで形成してもよい。
次に、図6に示すように、基板電極3の上端部を覆うように絶縁樹脂7をポッティング法により薄く塗布して硬化させる。次に、図7に示すように、基板電極3の上面にはんだ6を介して半導体素子5を接合させる。その後、半導体素子5へのワイヤ接続などを実施する。
続いて、本実施の形態の効果を比較例と比較して説明する。図8は、比較例に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。図9は図8の破線で囲った部分を拡大した断面図である。比較例では、絶縁基板1の上面に凹部2が形成されておらず、平坦な上面に基板電極3が形成されている。従って、絶縁基板1と基板電極3の間に高い段差がある。塗布後の絶縁樹脂7の表面張力又は絶縁樹脂7を硬化させる時の体積収縮により、基板電極3の上端部は絶縁樹脂7で覆われない。そのため、基板電極3間で電流がリークして基板電極3の上端部で異常放電が発生し、基板電極3が破壊されてしまう。
これに対して、本実施の形態では、基板電極3は絶縁基板1の凹部2に埋め込まれており、基板電極3の上面の高さは絶縁基板1の上面の高さ以下である。これにより、絶縁基板1と基板電極3との間に段差ができないため、基板電極3の表面に均一に絶縁樹脂7を形成して基板電極3の上端部を確実に絶縁樹脂7で覆うことができる。従って、基板電極3間で電流がリークせず、基板電極3の上端部で異常放電は発生しないため、耐圧に対する信頼性を向上させることができる。また、絶縁性が高まることで基板電極3間の距離を短く設計することができるため、モジュールを小型化することができる。モジュールの小型化によりモジュールの冷却性能が高くなり、電力損失が少なくなり性能が向上する。
実施の形態2.
図10は、本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールを示す断面図である。図11は、本発明の実施の形態2に係る絶縁基板と基板電極を拡大した断面図である。実施の形態1とは異なり、基板電極3の幅w2が凹部2の幅w1よりも小さい。絶縁樹脂7は基板電極3の上端部及び側面も覆う。絶縁樹脂7の厚みは(w1−w2)/2よりも小さい。その他の構成は実施の形態1と同様である。
続いて、本実施の形態に係る半導体パワーモジュールの製造方法を説明する。図12〜14は、本発明の実施の形態2に係る半導体パワーモジュールの製造方法を示す断面図である。まず、実施の形態1と同様に図3及び図4の工程を実施する。次に、図12に示すように、凹部2内に、凹部2よりも幅が狭い基板電極3を形成する。次に、図13に示すように、基板電極3の上端部及び側面を覆うように絶縁樹脂7をポッティング法により薄く塗布して硬化させる。次に、図14に示すように、基板電極3の上面にはんだ6を介して半導体素子5を接合させる。その後の工程は実施の形態1と同様である。
本実施の形態では、絶縁樹脂7は基板電極3の上端部だけでなく側面も覆う。これにより、基板電極3の側面に対して横方向のリーク電流を抑えることができ、横方向の絶縁耐圧が高まるため、更にデバイスの信頼性が向上する。
なお、半導体素子5は、珪素によって形成されたものに限らず、珪素に比べてバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体によって形成されたものでもよい。ワイドバンドギャップ半導体は、例えば、炭化珪素、窒化ガリウム系材料、又はダイヤモンドである。このようなワイドバンドギャップ半導体によって形成された半導体素子は、耐電圧性と許容電流密度が高いため、小型化できる。この小型化された半導体素子を用いることで、この半導体素子を組み込んだ半導体パワーモジュールも小型化・高集積化できる。また、半導体素子の耐熱性が高いため、ヒートシンクの放熱フィンを小型化でき、水冷部を空冷化できるので、半導体パワーモジュールを更に小型化できる。また、半導体素子の電力損失が低く高効率であるため、半導体パワーモジュールを高効率化できる。
実施の形態3.
本実施の形態は、上述した実施の形態1又は2に係る半導体パワーモジュールを電力変換装置に適用したものである。本発明は特定の電力変換装置に限定されるものではないが、以下、実施の形態3として、三相のインバータに本発明を適用した場合について説明する。
図15は、本発明の実施の形態3に係る電力変換装置を適用した電力変換システムの構成を示すブロック図である。電力変換システムは、電源100、電力変換装置200、負荷300を有する。電源100は、直流電源であり、電力変換装置200に直流電力を供給する。電源100は種々のもので構成することが可能であり、例えば、直流系統、太陽電池、蓄電池で構成でき、交流系統に接続された整流回路やAC/DCコンバータで構成してもよい。また、電源100を、直流系統から出力される直流電力を所定の電力に変換するDC/DCコンバータによって構成してもよい。
電力変換装置200は、電源100と負荷300の間に接続された三相のインバータであり、電源100から供給された直流電力を交流電力に変換し、負荷300に交流電力を供給する。電力変換装置200は、直流電力を交流電力に変換して出力する主変換回路201と、主変換回路201を制御する制御信号を主変換回路201に出力する制御回路203とを備えている。
負荷300は、電力変換装置200から供給された交流電力によって駆動される三相の電動機である。なお、負荷300は特定の用途に限られるものではなく、各種電気機器に搭載された電動機であり、例えば、ハイブリッド自動車や電気自動車、鉄道車両、エレベーター、又は、空調機器向けの電動機として用いられる。
以下、電力変換装置200の詳細を説明する。主変換回路201は、スイッチング素子と還流ダイオードを備えており(図示せず)、スイッチング素子がスイッチングすることによって、電源100から供給される直流電力を交流電力に変換し、負荷300に供給する。主変換回路201の具体的な回路構成は種々のものがあるが、本実施の形態にかかる主変換回路201は2レベルの三相フルブリッジ回路であり、6つのスイッチング素子とそれぞれのスイッチング素子に逆並列された6つの還流ダイオードから構成することができる。主変換回路201の各スイッチング素子と各還流ダイオードは、上述した実施の形態1又は2に相当する半導体パワーモジュール202によって構成する。6つのスイッチング素子は2つのスイッチング素子ごとに直列接続され上下アームを構成し、各上下アームはフルブリッジ回路の各相(U相、V相、W相)を構成する。そして、各上下アームの出力端子、すなわち主変換回路201の3つの出力端子は、負荷300に接続される。
また、主変換回路201は、各スイッチング素子を駆動する駆動回路(図示なし)を備えているが、駆動回路は半導体パワーモジュール202に内蔵されていてもよいし、半導体パワーモジュール202とは別に駆動回路を設けてもよい。駆動回路は、主変換回路201のスイッチング素子を駆動する駆動信号を生成し、主変換回路201のスイッチング素子の制御電極に供給する。具体的には、後述する制御回路203からの制御信号に従い、スイッチング素子をオン状態にする駆動信号とスイッチング素子をオフ状態にする駆動信号とを各スイッチング素子の制御電極に出力する。スイッチング素子をオン状態に維持する場合、駆動信号はスイッチング素子の閾値電圧以上の電圧信号(オン信号)であり、スイッチング素子をオフ状態に維持する場合、駆動信号はスイッチング素子の閾値電圧以下の電圧信号(オフ信号)となる。
制御回路203は、負荷300に所望の電力が供給されるように主変換回路201のスイッチング素子を制御する。具体的には、負荷300に供給すべき電力に基づいて主変換回路201の各スイッチング素子がオン状態となるべき時間(オン時間)を算出する。例えば、出力すべき電圧に応じてスイッチング素子のオン時間を変調するPWM制御によって主変換回路201を制御することができる。そして、各時点においてオン状態となるべきスイッチング素子にはオン信号を、オフ状態となるべきスイッチング素子にはオフ信号が出力されるよう、主変換回路201が備える駆動回路に制御指令(制御信号)を出力する。駆動回路は、この制御信号に従い、各スイッチング素子の制御電極にオン信号又はオフ信号を駆動信号として出力する。
本実施の形態に係る電力変換装置では、主変換回路201のスイッチング素子と還流ダイオードとして実施の形態1又は2にかかる半導体パワーモジュールを適用するため、耐圧に対する信頼性を向上させることができる。
本実施の形態では、2レベルの三相インバータに本発明を適用する例を説明したが、本発明は、これに限られるものではなく、種々の電力変換装置に適用することができる。本実施の形態では、2レベルの電力変換装置としたが3レベル又はマルチレベルの電力変換装置でも構わないし、単相負荷に電力を供給する場合には単相のインバータに本発明を適用しても構わない。また、直流負荷等に電力を供給する場合にはDC/DCコンバータ又はAC/DCコンバータに本発明を適用することもできる。
また、本発明を適用した電力変換装置は、上述した負荷が電動機の場合に限定されるものではなく、例えば、放電加工機やレーザー加工機、誘導加熱調理器又は非接触器給電システムの電源装置として用いることもでき、さらには太陽光発電システム又は蓄電システム等のパワーコンディショナーとして用いることも可能である。
1 絶縁基板、2 凹部、3 基板電極、5 半導体素子、7 絶縁樹脂、100 電源、200 電力変換装置、201 主変換回路、202 半導体パワーモジュール、203 制御回路、300 負荷

Claims (6)

  1. 上面に凹部が形成された絶縁基板と、
    前記凹部に埋め込まれ、前記凹部の底面にはんだ又はろう材で接合された基板電極と、
    前記基板電極の上に接合された半導体素子と、
    前記基板電極の上端部を覆い、前記基板電極の上面の前記上端部よりも内側の領域及び
    前記半導体素子を覆わない絶縁樹脂とを備えることを特徴とする半導体パワーモジュール
  2. 前記絶縁樹脂はポリイミド系又はポリアミドイミド系の材料からなることを特徴とする
    請求項1に記載の半導体パワーモジュール。
  3. 前記基板電極及び前記半導体素子を覆うシリコンゲルを更に備えることを特徴とする請
    求項1又は2に記載の半導体パワーモジュール。
  4. 前記基板電極の上面の高さは前記絶縁基板の前記上面の高さ以下であることを特徴とす
    る請求項1〜3の何れか1項に記載の半導体パワーモジュール。
  5. 上面に凹部が形成された絶縁基板と、
    前記凹部に埋め込まれた基板電極と、
    前記基板電極の上に接合された半導体素子と、
    前記基板電極の上端部を覆い、前記基板電極の上面の前記上端部よりも内側の領域及び
    前記半導体素子を覆わない絶縁樹脂とを備え、
    前記基板電極の幅は前記凹部の幅よりも小さく、
    前記絶縁樹脂は前記基板電極の側面も覆うことを特徴とする半導体パワーモジュール。
  6. 請求項1〜5の何れか1項に記載の半導体パワーモジュールを有し、入力される電力を
    変換して出力する主変換回路と、
    前記主変換回路を制御する制御信号を前記主変換回路に出力する制御回路とを備えるこ
    とを特徴とする電力変換装置。
JP2017039396A 2017-03-02 2017-03-02 半導体パワーモジュール及び電力変換装置 Active JP6743728B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017039396A JP6743728B2 (ja) 2017-03-02 2017-03-02 半導体パワーモジュール及び電力変換装置
US15/790,088 US10468314B2 (en) 2017-03-02 2017-10-23 Semiconductor power module and power conversion apparatus
DE102017221961.0A DE102017221961B4 (de) 2017-03-02 2017-12-05 Halbleiterleistungsmodul und leistungsumrichtervorrichtung
CN201810176053.7A CN108538793B (zh) 2017-03-02 2018-03-02 半导体功率模块及电力变换装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017039396A JP6743728B2 (ja) 2017-03-02 2017-03-02 半導体パワーモジュール及び電力変換装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018147958A JP2018147958A (ja) 2018-09-20
JP6743728B2 true JP6743728B2 (ja) 2020-08-19

Family

ID=63171133

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017039396A Active JP6743728B2 (ja) 2017-03-02 2017-03-02 半導体パワーモジュール及び電力変換装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10468314B2 (ja)
JP (1) JP6743728B2 (ja)
CN (1) CN108538793B (ja)
DE (1) DE102017221961B4 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7045978B2 (ja) 2018-12-07 2022-04-01 三菱電機株式会社 半導体装置および電力変換装置
JP7034105B2 (ja) * 2019-01-18 2022-03-11 三菱電機株式会社 電力用半導体装置の製造方法、電力用半導体装置および電力変換装置
US10796998B1 (en) * 2019-04-10 2020-10-06 Gan Systems Inc. Embedded packaging for high voltage, high temperature operation of power semiconductor devices
US11342248B2 (en) 2020-07-14 2022-05-24 Gan Systems Inc. Embedded die packaging for power semiconductor devices

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5710748U (ja) 1980-06-18 1982-01-20
JP2748895B2 (ja) 1995-08-11 1998-05-13 日本電気株式会社 印刷配線板の製造方法
JP2001057409A (ja) * 1999-08-17 2001-02-27 Hitachi Ltd 半導体装置
JP4319591B2 (ja) 2004-07-15 2009-08-26 株式会社日立製作所 半導体パワーモジュール
JP2006041029A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 配線基板及びその製造方法ならびに電子装置
JP5280014B2 (ja) * 2007-04-27 2013-09-04 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及びその製造方法
TWI426206B (zh) * 2008-12-25 2014-02-11 Au Optronics Corp 發光二極體裝置
TW201103170A (en) * 2009-07-08 2011-01-16 Paragon Sc Lighting Tech Co LED package structure with concave area for positioning heat-conducting substance and method for manufacturing the same
JP5601079B2 (ja) * 2010-08-09 2014-10-08 三菱電機株式会社 半導体装置、半導体回路基板および半導体回路基板の製造方法
KR20130141559A (ko) * 2010-11-03 2013-12-26 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 열 관리를 위한 가요성 led 디바이스 및 제조 방법
WO2013054408A1 (ja) 2011-10-12 2013-04-18 日本碍子株式会社 大容量モジュールの周辺回路用の回路基板、及び当該回路基板を用いる周辺回路を含む大容量モジュール
JP2013161951A (ja) 2012-02-06 2013-08-19 Fujikura Ltd 配線板及びその製造方法
JP2015076442A (ja) * 2013-10-07 2015-04-20 ローム株式会社 パワーモジュールおよびその製造方法
JP6333693B2 (ja) * 2014-09-30 2018-05-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP6453625B2 (ja) * 2014-11-27 2019-01-16 新光電気工業株式会社 配線基板及びその製造方法と電子部品装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE102017221961A1 (de) 2018-09-06
CN108538793B (zh) 2022-01-07
JP2018147958A (ja) 2018-09-20
CN108538793A (zh) 2018-09-14
US10468314B2 (en) 2019-11-05
DE102017221961B4 (de) 2023-12-21
US20180254228A1 (en) 2018-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10546800B2 (en) Semiconductor module, method for manufacturing the same and electric power conversion device
JP6705393B2 (ja) 半導体装置及び電力変換装置
US11322432B2 (en) Semiconductor module and power conversion apparatus
JP6743728B2 (ja) 半導体パワーモジュール及び電力変換装置
CN109860159B (zh) 半导体模块、其制造方法以及电力变换装置
CN111211060B (zh) 半导体装置、电力变换装置及半导体装置的制造方法
JP7091878B2 (ja) パワーモジュール、電力変換装置、及びパワーモジュールの製造方法
US11127603B2 (en) Semiconductor module and power conversion device
JP2020107666A (ja) 半導体モジュール、その製造方法及び電力変換装置
CN111293087B (zh) 半导体装置以及电力变换装置
JP6827404B2 (ja) 半導体装置および電力変換装置
US11211355B2 (en) Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and power conversion device
JP7268760B2 (ja) 半導体モジュール、電力変換装置及び移動体
US11887904B2 (en) Integrally bonded semiconductor device and power converter including the same
JP2023077817A (ja) 半導体装置及び電力変換装置
JP2024038575A (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法、および電力変換装置
CN116601764A (zh) 半导体装置、电力变换装置及移动体
CN111448653A (zh) 半导体装置及电力转换装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190523

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200304

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200310

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200406

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200512

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200515

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200617

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200630

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200713

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6743728

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250