JP6724054B2 - 印刷回路基板の製造方法 - Google Patents
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Description
従来のシールドフィルムとしては、ベースフィルム(base film)とその上に積層した導電層が基本構成となっているものが広く知られている。通常、この基本構成のベースフィルム側には、作業性のための補強フィルムを使用し、導電層には、保護フィルムを使用し、製品化して使用されている。
しかし、電磁波遮蔽フィルムをキャリアフィルムと金属層が合紙された状態で、金属層上に導電性接着層を塗布及び乾燥して、導電性接着層に保護フィルムをラミネートして製造した場合には、前記キャリアフィルムと金属層の結合力が金属層と導電性接着層の結合力に比べて相対的に堅固であるため、キャリアフィルムを剥離する過程で金属層がキャリアフィルムに付着した状態で導電性接着層から剥離したり、金属層と導電性接着層との間が離隔する浮きが発生する問題がある。
のみならず、最近生産される電子機器は、精密かつ軽薄短小型で製作されており、このような傾向により回路パターンの線幅と間隔が狭くなりながら、グラウンド(Ground)を広く確保することができないため、印刷回路基板の製造時に別途のグラウンドフィルムを使用しなければならないという問題がある。
また、本発明の目的は、酸化防止特性と高い耐熱性特性を有する高速伝送用電磁波遮蔽フィルム、印刷回路基板の製造方法及び電磁波遮蔽フィルムの製造方法を提供することができる。
そして、導電性接着層を半硬化させた状態で、キャリアフィルムを剥離することによって、キャリアフィルムの剥離過程で金属層が導電性接着層から任意に分離することを防止することができる電磁波遮蔽フィルム、印刷回路基板の製造方法及び電磁波遮蔽フィルムの製造方法を提供することができる。
また、前記導電性フィラーは、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、金、亜鉛または鉄の粒子を含み、前記粒子は、板状(flake)、球状(spherical)、樹枝状(dendrite)または顆粒状(granule)の形態を有することが好ましい。
また、前記粒子は、3μm〜20μmの大きさを有することが好ましい。
また、前記バインダー樹脂は、ポリビニルブチラール、セルロース、ポリウレタン、ポリエステル、エポキシ、フェノキシ、ノボラック、アールキド、アミド、イミド樹脂またはこれらの変性物のうちの少なくとも1つであることが好ましい。
また、前記金属層と導電性接着層との間には、導電層が介在することが好ましい。
また、前記導電層は、前記金属層に比べて相対的に電気伝導率に優れた物質からなることが好ましい。
また、前記導電層は、銀(Silver)インクを金属層上にコーティングして形成されることが好ましい。
また、前記金属層は、ニッケル、銅、アルミニウム、亜鉛またはこれらの合金から1種以上選択されることが好ましい。
また、前記金属層は、2μm〜10μmの厚さを有するホイル(foil)からなることが好ましい。
また、前記絶縁層形成段階においては、開口部が形成された絶縁フィルムを前記金属層上に貼り付け、絶縁層を形成することが好ましい。
また、前記絶縁層形成段階は、キャリアフィルム、絶縁層、接着層及び保護フィルムが順に積層されたカバーレイを準備するカバーレイ準備段階と、前記カバーレイを打抜して、前記印刷回路基板のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部を形成する打抜き段階と、前記カバーレイの保護フィルムを除去する保護フィルム除去段階、及び前記遮蔽フィルムの金属層とカバーレイの接着層を合紙する合紙段階を含むことが好ましい。
また、前記絶縁層の開口部を介して露出した金属層にメッキ層を形成するメッキ層形成段階をさらに含むことが好ましい。
また、前記メッキ層形成段階に先立ち、前記絶縁層の開口部を介して露出した金属層を厚さ方向に一部除去する金属層一部除去段階をさらに含むことが好ましい。
また、前記キャリアフィルム除去段階に先立ち、前記導電性接着層を半硬化させる導電性接着層半硬化段階を遂行することが好ましい。
また、前記キャリアフィルム除去段階以後、前記導電性接着層を完全硬化させる段階を遂行することが好ましい。
また、前記合紙段階以後、前記カバーレイのキャリアフィルムを除去するカバーレイキャリアフィルム除去段階を遂行することが好ましい。
また、前記カバーレイキャリアフィルム除去段階に先立ち、前記カバーレイの接着層を半硬化させる接着層半硬化段階を遂行することが好ましい。
また、前記カバーレイキャリアフィルム除去段階以後、前記カバーレイの接着層を完全硬化させる接着層完全硬化段階を遂行することが好ましい。
また、前記遮蔽フィルム準備段階においては、前記金属層と導電性接着層との間には、前記金属層に比べて相対的に電気伝導率に優れた材質の導電層を形成することが好ましい。
また、前記導電性接着層形成段階に先立ち、前記金属層の一面に導電層を形成する導電層形成段階を遂行することが好ましい。
また、前記導電層は、前記金属層に比べて相対的に電気伝導率に優れた物質からなることが好ましい。
また、前記導電層は、銀(Silver)インクを金属層上にコーティングして形成されることが好ましい。
また、酸化防止特性と高い耐熱性特性を有する高速伝送用電磁波遮蔽フィルムが適用された印刷回路基板を製造することができる。
そして、導電性接着層を半硬化させた状態で、キャリアフィルムを剥離することによって、キャリアフィルムの剥離過程で金属層が導電性接着層から任意に分離することを防止することができるようになる。
以下、添付した図面を参照して本発明の第1実施例に係る電磁波遮蔽フィルムについて詳細に説明する。
添付図面のうち、図1は、本発明の第1実施例に係る電磁波遮蔽フィルムの断面図である。
本発明の第1実施例に係る電磁波遮蔽フィルム10は、キャリアフィルム11と、前記キャリアフィルム11の一面に形成された金属層(導電性金属層)12と、前記金属層12上に形成された導電性接着層13及び前記導電性接着層13上に形成された保護フィルム14を含む。
ここで、前記バインダー樹脂は、耐熱性と耐酸性、耐アルカリ性に優れなければならず、特に接着力に優れ、バインダーの特性で導電性フィラーの導電性に影響を低く与えることが好ましい。
樹脂の耐熱性が低い場合には、印刷回路基板製造の必須工程であるはんだ工程で表面がわれる不良が現れたり、熱による抵抗上昇の原因となる。また、印刷回路基板の製造時に回路の抵抗を下げたり、腐食防止のために銅メッキまたは金メッキを行うことができ、このとき、メッキ液が強酸または強アルカリ性であるため、優れた耐薬品性と耐アルカリ性が要求される。また、はんだの前と後に表面洗浄及びフラックス(Flux)除去のために、アルカリ溶液で洗浄作業が行われることができる。場合によっては、ソフトエッチング(Soft Etching)を行い、メッキの均一性と付着力を向上させる工程を遂行することができる。
導電性接着層13は、半硬化(B−Stage)状態で印刷回路基板に仮接着(Pre−Fix)された後、本接着工程に提供されなければならない。したがって、バインダー樹脂の半硬化状態の室温維持性が必要であり、本接着工程で完全硬化(C−Stage)されなければならない。
前記導電性接着層13のバインダー樹脂としては、ポリビニルブチラール(PVB;Polyvinyl Butyral)、セルロース(Cellulose)、ポリウレタン(Polyurethane)、ポリエステル(Polyester)、エポキシ(Epoxy)、フェノキシ(Phenoxy)、ノボラック(Novolac)、アールキド(Alkyd)、アミド(Amide)、イミド(Imide)樹脂またはこれらの変性物を使用することができる。本実施例においては、ポリエステル樹脂の変性物と耐熱性向上のためにクレゾールノボラック樹脂を混用した。
また、前記導電性フィラー(Conductive Filler)は、銀(Silver)、銅(Copper)、アルミニウム(Aluminum)、ニッケル(Nikel)、金(Gold)、亜鉛(Zinc)、鉄(Iron)などの導電性金属とこれらのコーティング形態を使用することができる。また、これらの形状は、板状(Flake)、球状(Spherical)、樹枝状(Dendrite)、顆粒状(Granule)のような形態からなることができる。
前記導電性フィラーの粒子サイズは、30μm以下のものを使用することができる。より適切には、3μm以上〜20μm以下のものが好ましい。3μm未満の導電性フィラーを使用する場合には、樹脂による抵抗上昇により、さらに多くの金属粒子を使用しなければならず、抵抗も高く形成される問題がある。また、20μmを超過する大きさの粒子は、コーティング工程で塗布方向に未コーティング(行抜け)が現れ、乾燥した塗膜が不均一でピンホール(Pin−hole)が発生する問題がある。
本実施例の電磁波遮蔽フィルム10は、83μm厚さのキャリアフィルム11、3μm厚さの金属層12、6μm厚さの導電性接着層13及び75μm厚さの保護フィルム14からなることができる。
このように、前記構成を有する電磁波遮蔽フィルム10の場合、金属層12が形成されたキャリアフィルム11に導電性接着剤をコーティングして、導電性接着層13を形成した後、保護フィルム14を付着して製造することもでき、または保護フィルム14に導電性接着剤をコーティングして、導電性接着層13を形成した後、金属層12が形成されたキャリアフィルム11を合紙する方法によって、製造することもできる。
添付図面のうち、図2は、本発明の第2実施例に係る印刷回路基板の製造方法の工程別断面図である。
本発明の第2実施例に係る印刷回路基板の製造方法は、遮蔽フィルム準備段階S110、遮蔽フィルム打抜き段階S120、保護フィルム除去段階S130、接合段階S140、導電性接着層半硬化段階S150、キャリアフィルム除去段階S160、導電性接着層完全硬化段階S170、絶縁層形成段階S180、金属層一部除去段階S190及びメッキ層形成段階S200を含む。
一方、本実施例においては、金属層12上に絶縁性ペーストをプリントすることの他に、印刷回路基板(PCB)のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部22aが形成されるように、絶縁フィルム(Coverlay)を打抜した後、金属層12に貼り付けて、絶縁層22を形成することも可能である。
遮蔽フィルム10の金属層12が導電性接着層13を介して、印刷回路基板(PCB)のグラウンド回路と電気的に連結されると、前記絶縁層22の開口部22aを介して露出する金属層12が印刷回路基板(PCB)のグラウンド拡張端子として活用されることができる。
前記絶縁性ペーストは、バインダー樹脂、難燃剤、着色剤、硬化剤などを含むことができる。
前記絶縁層22のバインダー樹脂は、コーティングが可能であり、硬化後に柔軟性が高くなければならず、印刷回路基板の外部に位置するため、耐スクラッチ性(2H以上)を持たなければならない。
絶縁層22は、印刷回路基板の製造工程で露出する部位であるため、耐熱性、耐薬品性、耐アルカリ性、耐酸性に優れていなければならない。
特に、熱に直接露出する部位であるため、耐熱性(300℃)に優れていなければならず、製造工程で表面汚染がある場合、アルコール(Isopropyl alcohol)で除去したりするので、耐薬品性も優れていなければならない。
また、絶縁層22上に、他の補強板付着及びマーキングをしなければならないので、付着力に優れるように設計されなければならない。表面がポリイミドである場合、積層付着力に問題があって、プラズマ(Plasma)工程を追加する場合もある。
添付図面のうち、図3は、本発明の第3実施例に係る印刷回路基板の製造方法の工程別断面図である。
本発明の第3実施例に係る印刷回路基板の製造方法は、遮蔽フィルム準備段階S110、遮蔽フィルム打抜き段階S120、保護フィルム除去段階S130、接合段階S140、導電性接着層半硬化段階S150、キャリアフィルム除去段階S160、絶縁層形成段階S180'、金属層一部除去段階S190及びメッキ層形成段階S200を含む。
本発明の第3実施例において、前記絶縁層形成段階S180'を除いた残りの段階は、第2実施例と同一であるため、同一段階についての具体的な説明は省略する。
本実施例においては、前記カバーレイ20は、55μm厚さのキャリアフィルム21、7μm厚さの絶縁層22、8μm厚さの接着層23及び75μm厚さの保護フィルム24からなることができる。前記カバーレイ20のキャリアフィルム21は、セミマットPET(semi−matt PET)の形態で提供されることができ、前記絶縁層22及び接着層23は、光吸収物質を含むことができる。
一方、本実施例においては、前記接着層完全硬化段階S187を遂行する過程で、前記遮蔽フィルム10の導電性接着層13を完全硬化させることができるので、第2実施例における導電性接着層完全硬化段階S170を省略することができる。このために、前記カバーレイ20の接着層23は、前記遮蔽フィルム10の導電性接着層13と同一の条件で完全硬化されるように構成することが好ましい。
上記のように、遮蔽フィルム10の金属層12上側に合紙されたカバーレイ20の絶縁層22には、印刷回路基板(PCB)のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部22aが形成されている。すなわち、遮蔽フィルム10の金属層12は、導電性接着層13を介して印刷回路基板(PCB)のグラウンド回路と電気的に連結され、グラウンド回路と連結された金属層12は、前記絶縁層22の開口部22aを介して露出するので、露出した金属層12を印刷回路基板(PCB)のグラウンド拡張端子として活用することができる。
一方、前記カバーレイ20の絶縁層22は、第2実施例の絶縁層22と同一材質で構成することが好ましい。
上記のように、遮蔽フィルム10の上側に絶縁層22を積層した以後には、図3の(k)及び(l)に示すように、金属層一部除去段階S190及びメッキ層形成段階S200を遂行して、絶縁層22の開口部22aを介して露出した金属層12にメッキ層30を形成する。
このように、カバーレイ20を使用した場合、本実施例のように、遮蔽フィルム準備段階S110〜絶縁層形成段階S180'まで順次的に進行することもでき、前記順序とは関係なく、遮蔽フィルム10及びカバーレイ20をそれぞれ積層プレスして製作することもできる。
添付図面のうち、図4は、本発明の第4実施例に係る電磁波遮蔽フィルムの断面図である。
本発明の第4実施例に係る電磁波遮蔽フィルム10’は、キャリアフィルム11と、前記キャリアフィルム11の一面に形成された金属層(導電性金属層)12と、前記金属層12上に形成された導電層15と、前記導電層15上に形成された導電性接着層13及び前記導電性接着層13上に形成された保護フィルム14を含む。
一方、前記導電層15を除いた残りの構成は、図1に示した第1実施例の電磁波遮蔽フィルムと同一であるため、同一構成についての具体的な説明は省略する。
添付図面のうち、図5は、本発明の第5実施例に係る印刷回路基板の製造方法の工程別断面図である。
図5に示された本発明の第5実施例に係る印刷回路基板の製造方法は、本発明の第4実施例の電磁波遮蔽フィルム10’を用いる点で、第2実施例の印刷回路基板の製造方法との差異がある。
具体的には、図5に示された本発明の第5実施例に係る印刷回路基板の製造方法は、遮蔽フィルム準備段階S110’、遮蔽フィルム打抜き段階S120、保護フィルム除去段階S130、接合段階S140、導電性接着層半硬化段階S150、キャリアフィルム除去段階S160、絶縁層形成段階S180、金属層一部除去段階S190及びメッキ層形成段階S200を含む。
前記導電層15は、前記金属層12上に金属層12より相対的に電気伝導率に優れた銀(Silver)インクをコーティングしたものであって、前記銀インクは、グラビアコーティング、スクリーンプリンティング、スロットダイ、スピンコーティングなどによって、金属層12上にコーティングされることができる。
本実施例において、前記遮蔽フィルム準備段階S110’を除いた残りの段階は、図2に示された第2実施例の印刷回路の製造方法と同一であるため、同一段階についての具体的な説明は省略する。
本発明の第6実施例に係る印刷回路基板の製造方法は、遮蔽フィルム準備段階S110’、遮蔽フィルム打抜き段階S120、保護フィルム除去段階S130、接合段階S140、導電性接着層半硬化段階S150、キャリアフィルム除去段階S160、絶縁層形成段階S180’、金属層一部除去段階S190及びメッキ層形成段階S200を含む。
本実施例において、前記遮蔽フィルム準備段階S110’は、図5に示された第5実施例の遮蔽フィルム準備段階S110’と同一であり、前記遮蔽フィルム準備段階S110’を除いた残りの段階は、図3に示された第3実施例の遮蔽フィルム打抜き段階S120〜メッキ層形成段階S200と同一であるため、同一段階についての具体的な説明は省略する。
添付図面のうち、図7は、本発明の第7実施例に係る電磁波遮蔽フィルムの製造方法を示した工程別断面図である。
本発明の第7実施例に係る電磁波遮蔽フィルムの製造方法は、金属層準備段階S210と、前記金属層12の一面に導電性接着層13を形成する導電性接着層形成段階S220と、前記導電性接着層13上に第1保護フィルム14を合紙する第1保護フィルム形成段階S230と、前記金属層12の他面に絶縁層22を形成する絶縁層形成段階S240及び前記絶縁層22上に第2保護フィルム14’を形成する第2保護フィルム形成段階S250を含む。
前記導電性接着層形成段階S220では、図7の(b)に示すように、前記金属層12の一面に導電性接着剤をコーティングした後、乾燥させて導電性接着層13を形成する。ここで、前記導電性接着層13は、導電性フィラー及びバインダー樹脂、硬化剤、難燃剤及び添加剤などを含むことができ、導電性接着組成物を金属層12に塗布する方法で導電性接着層13を形成することができる。
すなわち、導電性接着層13を半硬化させた状態では、導電性接着層13と金属層12の結合力が増大するため、第2保護フィルム14’の剥離過程中で金属層12と導電性接着層13の接合面または導電性接着層13と印刷回路基板の接合面が分離することを防止することができる。
本発明の第8実施例に係る電磁波遮蔽フィルムの製造方法は、金属層準備段階S210と、金属層12の一面に導電層15を形成する導電層形成段階S211と、前記導電層15上に導電性接着層13を形成する導電性接着層形成段階S220と、前記導電性接着層13上に第1保護フィルム14を合紙する第1保護フィルム形成段階S230と、前記金属層12の他面に絶縁層22を形成する絶縁層形成段階S240及び前記絶縁層22上に第2保護フィルム14’を形成する第2保護フィルム形成段階S250を含む。
一方、本発明の第8実施例において、前記導電層形成段階S211を除いた残りの段階は、前述した第7実施例と同一であるため、同一段階についての具体的な説明は省略する。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して、異方性導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して、異方性導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ6μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して、異方性導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ10μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−180、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた樹枝状の平均粒径7μmであるAgCu(ACBY−2F、三井金属)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して等方性導電性(Isotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した等方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ7μmの等方導電性接着剤層を形成した。以後、アクリル粘着処理された50μm厚さのPET保護フィルムを等方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
キャリアフィルムが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にシルバーインク(TEC−CO−021、インクテック社)をマイクログラビアコータでコーティングした後、150℃で4分間加温、焼結して、厚さ0.5μmの銀金属層を製造した。
また、攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して異方導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して、異方性導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
また、ポリイミド変性樹脂(HPC−9000−21、Hitachi chemical)50重量部に難燃性フィラー水酸化アルミニウム(OSDH−3、オソン企業)3重量部と分散剤(BYK−167、バイエル社)2重量部を入れて、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)45重量部を入れて、20分間攪拌した。攪拌した混合溶液をジルコニアビーズ5μmを入れたバスケットミル(DWS−25、DAEWONSTECH CO.LTD.)に入れて、1,500rpmで10分間分散した後、常温で冷却した。
この分散液100重量部に変性エポキシ樹脂(Arakid−9201N、荒川化学社)5重量部を入れて、1時間低速攪拌した後、SUS1000meshで濾過して絶縁層組成物を得た。
前記に製造した異方導電性電磁波遮蔽フィルムのキャリアフィルムを除去した後、絶縁層組成物をスロットダイを用いてコーティングし、150℃で5分間加熱して、乾燥厚さ5μm絶縁層を形成して、実施例6の電磁波遮蔽フィルムを製造した。
攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−180、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた樹枝状の平均粒径7μmであるAgCu(ACBY−2F、三井金属)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して等方性導電性(Isotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した等方性導電性接着剤組成物をキャリアが付着した銅箔(Copper foil、銅厚さ3μm)の表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ7μmの等方導電性接着剤層を形成した。以後、アクリル粘着処理された50μm厚さのPET保護フィルムを等方導電性接着剤層にラミネートして製造した。
また、ポリイミド変性樹脂(HPC−9000−21、Hitachi chemical)50重量部に難燃性フィラー水酸化アルミニウム(OSDH−3、オソン企業)3重量部と分散剤(BYK−167、バイエル社)2重量部を入れて、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)45重量部を入れて、20分間攪拌した。攪拌した混合溶液をジルコニアビーズ5μmを入れたバスケットミル(DWS−25、DAEWONSTECH CO.LTD.)に入れて、1,500rpmで10分間分散した後、常温で冷却した。
この分散液100重量部に変性エポキシ樹脂(Arakid−9201N、荒川ケミカル社)5重量部を入れて、1時間低速攪拌した後、SUS1000meshで濾過して絶縁層組成物を得た。
前記に製造した異方導電性電磁波遮蔽フィルムのキャリアフィルムを除去した後、絶縁層組成物をスロットダイを用いてコーティングし、150℃で5分間加熱して、乾燥厚さ5μm絶縁層を形成して、実施例7の電磁波遮蔽フィルムを製造した。
ポリイミド変性樹脂(HPC−9000−21、Hitachi chemical)50重量部に難燃性フィラー水酸化アルミニウム(OSDH−3、オソン企業)3重量部と分散剤(BYK−167、バイエル社)2重量部を入れて、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)45重量部を入れて、20分間攪拌した。攪拌した混合溶液をジルコニアビーズ5μmを入れたバスケットミル(DWS−25、DAEWONSTECH CO.LTD.)に入れて、1,500rpmで10分間分散した後、常温で冷却した。
この分散液100重量部に変性エポキシ樹脂(Arakid−9201N、荒川ケミカル社)5重量部を入れて、1時間低速攪拌した後、SUS1000meshで濾過して絶縁層組成物を得た。
絶縁層組成物をシリコン離型処理された50μm厚さのPETフィルムに塗布し、150℃で2分間乾燥して、乾燥厚さ7μmの塗膜を得た。
この絶縁層上に銀(Silver)をスパッタリング方式で厚さ0.2μmのシルバーメタル層を形成した。
また、攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−5000、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた球形の平均粒径4μmであるAgCu(S−403、JBカルテック社)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して、異方性導電性(Anisotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した異方性導電性接着剤組成物をシルバーメタル層表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で2分間加熱して、乾燥厚さ3μmの異方導電性接着剤層を形成した。以後、シリコン離型処理された50μm厚さのPET保護フィルムを異方導電性接着剤層にラミネートして製造し、比較例1を製造した。
ポリイミド変性樹脂(HPC−9000−21、Hitachi chemical)50重量部に難燃性フィラー水酸化アルミニウム(OSDH−3、オソン企業)3重量部と分散剤(BYK−167、バイエル社)2重量部を入れて、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)45重量部を入れて、20分間攪拌した。攪拌した混合溶液をジルコニアビーズ5μmを入れたバスケットミル(DWS−25、DAEWONSTECH CO.LTD.)に入れて、1,500rpmで10分間分散した後、常温で冷却した。
この分散液100重量部に変性エポキシ樹脂(Arakid−9201N、荒川ケミカル社)5重量部を入れて、1時間低速攪拌した後、SUS1000meshで濾過して絶縁層組成物を得た。
絶縁層組成物をシリコン離型処理された50μm厚さのPETフィルムに塗布し、150℃で2分間乾燥して、乾燥厚さ7μmの塗膜を得た。
また、攪拌機にウレタン変性ポリエステル樹脂(IT−180、ノル・ペイント)67重量部とMIBK(Methyl isobutyl ketone)に70%固形分で溶解したクレゾールノボラック樹脂溶液10重量部と、溶媒としてシクロヘキサノン(Cyclohexanone)9重量部を入れて、2時間攪拌した後、導電性フィラーとして銀コーティングされた樹枝状の平均粒径7μmであるAgCu(ACBY−2F、三井金属)を14重量部入れて、1時間追加攪拌した。
製造した導電性接着剤をSUS1000meshのフィルターで濾過して等方性導電性(Isotropy conductive)接着剤組成物を得た。
製造した等方性導電性接着剤組成物をシリコン離型処理されたPET離型フィルムの表面にスロットダイを用いてコーティングし、150℃で3分間加熱して、乾燥厚さ12μmの等方導電性接着剤層を形成した後、シリコン離型PETフィルムに絶縁層を形成したフィルムと等方導電性接着剤層を温度100℃、圧力7barでロールラミネートして、比較例2を製造した。
また、製造した電磁波遮蔽フィルムを以下の方法で評価試料を製作し、その結果を表1に示した。
1)電磁波遮蔽フィルムの層間付着力
測定試料を幅25.4mm、長さ25cmの大きさに切断した後、導電性接着剤層の保護フィルムを除去し、その一面に25μm厚さのPIフィルム(Kapton、デュポン社)を置いて仮接着機を用いて(温度150℃、圧力3bar、20秒)貼り付けた後、キャリアフィルムを除去した銅表面または絶縁層面に厚さ25μmボンディングシート(Bonding sheet)を積層して、Hot Press(プレス条件:温度150℃、圧力40kgf/cm2、時間60分)で加温、加圧して、接着剤層を完全硬化(C−stage)させた。25℃、50%RH雰囲気下で引張速度58.8M/min、180度引張強度を測定した。同一試料を3回実験して、その平均値を表記した。
図10の段差積層図のように、電磁波遮蔽フィルムの保護フィルムを除去し、25μm厚さのPIフィルム(Kapton、デュポン社)を仮接着機を用いて(温度150℃、圧力3bar、20秒)貼り付けた後、実施例1〜4は、キャリアを除去して絶縁フィルム(BT−012、インクテック社)を積層し、Hot Press(プレス条件:温度150℃、圧力40kgf/cm2、時間60分)で加温加圧して、接着剤層を完全硬化(C−stage)させた。硬化した試料を295℃はんだ(Solder)に1分間、2回ずつ浮かべて肉眼観察して、気泡、浮き及び外観の色変化の有無を評価した。各試料を5個ずつ試験して、外観不良の発生数を表記した。
図11の段差積層図のように、段差として使用するFRP棒(幅5mm、長さ25cm)を厚さ100μm、200μm、300μm、400μmを25μm厚さのPIフィルム(Kapton、デュポン社)の上にのせて、両端を耐熱テープで固定し、その上に遮蔽フィルムの離型フィルムを除去して置き、仮接着機を用いて(温度150℃、圧力3bar、20秒)貼り付けた後、実施例1〜4は、キャリアを除去して絶縁フィルム(BT−012、インクテック社)を積層し、Hot Press(プレス条件:温度150℃、圧力40kgf/cm2、時間60分)で加温加圧して、接着剤層を完全硬化(C−stage)させた。
試料の絶縁層表面をハンドマイクロスコープ(Hand Microscope)で段差部位のクラックを観察した.(図11の表面写真参照)評価試料を5個ずつ製造して、段差厚さ別にクラックの発生数を表記した。
電磁波遮蔽フィルムの保護フィルムを除去し、抵抗テストクーポン(図12、インクテック社)に仮接着機を用いて(温度150℃、圧力3bar、20秒)貼り付けた後、実施例1〜4は、キャリアを除去して絶縁フィルム(BT−012、インクテック社)を積層し、Hot Press(プレス条件:温度150℃、圧力40kgf/cm2、時間60分)で加温加圧して、接着剤層を完全硬化(C−stage)させた。
製造した試料を85℃、湿度85%RHチャンバーに72時間放置した後、外観及び抵抗変化を測定した。
電磁波遮蔽フィルムの保護フィルムを除去し、25μm厚さのPIフィルム(Kapton、デュポン社)をホットプレートで120℃で2秒間押し付けた後、実施例1〜4は、キャリアを除去して絶縁フィルム(BT−012、インクテック社)を積層し、Hot Press(プレス条件:温度150℃、圧力40kgf/cm2、時間60分)で加温加圧して、接着剤層を完全硬化(C−stage)させた。
試料をASTM D4935(平面材料の遮蔽効果標準測定試験方法)規格に準じてテストした。
本発明の権利範囲は、前述した実施例に限定されるものではなく、添付した特許請求の範囲内で様々な形態の実施例で具現することができる。特許請求の範囲で請求する本発明の要旨を逸脱することなく、当該発明の属する技術分野における通常の知識を有する者であれば誰でも変形可能な多様な範囲まで本発明の請求範囲の記載の範囲内にあるものとみなす。
11:キャリアフィルム
12:金属層
13:導電性接着層
14:保護フィルム
15:導電層
20:カバーレイ
21:キャリアフィルム
22:絶縁層
22a:開口部
23:接着層
24:保護フィルム
30:メッキ層
PCB:印刷回路基板
Claims (10)
- キャリアフィルム、金属層、導電性接着層及び保護フィルムが順に積層された遮蔽フィルムを準備する遮蔽フィルム準備段階と、
前記遮蔽フィルムの保護フィルムを除去する保護フィルム除去段階と、
前記遮蔽フィルムの導電性接着層を印刷回路基板に接合する接合段階と、
前記遮蔽フィルムのキャリアフィルムを除去するキャリアフィルム除去段階、及び
前記印刷回路基板のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部が形成された絶縁層を前記遮蔽フィルムの金属層上に形成する絶縁層形成段階を含み、
前記絶縁層形成段階においては、開口部が形成された絶縁フィルムを前記金属層上に貼り付け、絶縁層を形成する印刷回路基板の製造方法。 - キャリアフィルム、金属層、導電性接着層及び保護フィルムが順に積層された遮蔽フィルムを準備する遮蔽フィルム準備段階と、
前記遮蔽フィルムの保護フィルムを除去する保護フィルム除去段階と、
前記遮蔽フィルムの導電性接着層を印刷回路基板に接合する接合段階と、
前記遮蔽フィルムのキャリアフィルムを除去するキャリアフィルム除去段階、及び
前記印刷回路基板のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部が形成された絶縁層を前記遮蔽フィルムの金属層上に形成する絶縁層形成段階を含み、
前記絶縁層形成段階は、
キャリアフィルム、絶縁層、接着層及び保護フィルムが順に積層されたカバーレイを準備するカバーレイ準備段階と、
前記カバーレイを打抜して、前記印刷回路基板のグラウンド拡張端子が形成される領域に開口部を形成する打抜き段階と、
前記カバーレイの保護フィルムを除去する保護フィルム除去段階、及び
前記遮蔽フィルムの金属層とカバーレイの接着層を合紙する合紙段階を含む印刷回路基板の製造方法。 - 前記絶縁層の開口部を介して露出した金属層にメッキ層を形成するメッキ層形成段階をさらに含む請求項1または2に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記メッキ層形成段階に先立ち、前記絶縁層の開口部を介して露出した金属層を厚さ方向に一部除去する金属層一部除去段階をさらに含むことを特徴とする請求項3に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記キャリアフィルム除去段階に先立ち、前記導電性接着層を半硬化させる導電性接着層半硬化段階を遂行することを特徴とする請求項1または2に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記キャリアフィルム除去段階以後、前記導電性接着層を完全硬化させる導電性接着層完全硬化段階を遂行することを特徴とする請求項5に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記合紙段階以後、前記カバーレイのキャリアフィルムを除去するカバーレイキャリアフィルム除去段階を遂行することを特徴とする請求項2に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記カバーレイキャリアフィルム除去段階に先立ち、前記カバーレイの接着層を半硬化させる接着層半硬化段階を遂行することを特徴とする請求項7に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記カバーレイキャリアフィルム除去段階以後、前記カバーレイの接着層を完全硬化させる接着層完全硬化段階を遂行することを特徴とする請求項8に記載の印刷回路基板の製造方法。
- 前記遮蔽フィルム準備段階においては、前記金属層と導電性接着層との間には、前記金属層に比べて相対的に電気伝導率に優れた材質の導電層を形成することを特徴とする請求項1に記載の印刷回路基板の製造方法。
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