JP6706728B2 - 生体適合性塗布膜形成用組成物 - Google Patents

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Description

本発明は、生体適合性塗布膜形成用組成物に関する。
近年、生体物質(細胞やたんぱく質)等に無害である生体適合性を有する塗布材料が注目されている。その用途としては、生体物質の付着抑制能を有する塗布膜を形成する塗布材料や、細胞培養効率を向上させる細胞培養基材に使用する塗布材料等が挙げられる。
特許文献1には、アルコール系有機溶剤(S)を含む感光性樹脂組成物を使用することを含む、細胞培養用プレートの作製方法が記載されている。
特開2014−23508号公報
本出願人によって、酸を触媒として架橋構造を形成し得る特定の高分子化合物を含む組成物を用いて、生体適合性を有する繊維等を製造し得ることが既に見出されている(国際特許出願PCT/JP2014/077716)。
上記の組成物を塗布する材料(基材)としては、その用途、ハンドリングの観点から、合成樹脂(プラスチック)製のものが主流となっているが、合成樹脂を侵食せず、かつ上記特定の高分子化合物を溶解できる溶剤は限られている。
本発明の目的は、基材を侵食することなく、生体適合性塗布膜を形成できる塗布膜形成用組成物等を提供することにある。
即ち、本発明は以下の通りである。
[1](A)有機重合体と、溶剤として(D)炭素原子数2〜5のメトキシアルコールとを含む、生体適合性塗布膜形成用組成物。
[2]上記(D)炭素原子数2〜5のメトキシアルコールが、2−メトキシエタノールである、[1]記載の組成物。
[3]上記(A)有機重合体が、ヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基及び炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基から選ばれる少なくとも1種の有機基を側鎖に有する構造単位を含む有機重合体を含む、[1]又は[2]記載の組成物。
[4]上記(A)有機重合体が、
(A1)一般式(1):
〔式中、
は、水素原子又はメチル基を示し、
は、エステル結合又はアミド結合を示し、
は、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基で置換されている炭素原子数1〜10のアルキル基又は炭素原子数6〜10の芳香族炭化水素基を示す。〕
で表される構造単位を含む有機重合体を含む、[1]〜[3]のいずれか1つに記載の組成物。
[5]上記(A1)有機重合体が、
一般式(2):
〔式中、
は、水素原子又はメチル基を示し、
およびRは、同一または異なっていてもよく、水素原子又はヒドロキシ基若しくはカルボキシ基で置換されていてもよい炭素原子数1〜4のアルキル基を示す。〕
で表される構造単位をさらに含む、[4]記載の組成物。
[6]さらに(B)光酸発生剤を含む、[1]〜[5]のいずれか1つに記載の組成物。
[7][1]〜[6]のいずれか1つに記載の組成物で形成された塗布膜を表面に有する基材。
[8]基材がポリスチレンを含む、[7]記載の基材。
[9]基材の表面に、[1]〜[6]のいずれか1つに記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程を含む、表面に塗布膜を有する基材の製造方法。
[10]基材がポリスチレンを含む、[9]記載の製造方法。
[11][6]記載の組成物を用いて形成されたパターンを表面に有する基材。
[12]基材の表面に、[6]記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程、該塗布膜に光を照射する工程、及び露光後の塗布膜を現像する工程を含む、パターン付き基材の製造方法。
[13]基材の表面に、[6]記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程、該塗布膜に光を照射する工程、及び露光後の塗布膜を現像する工程を含む、パターン形成方法。
本発明の生体適合性塗布膜形成用組成物(以下、単に「本発明の組成物」とも称する)を用いれば、基材(特に、樹脂製基材)を侵食することなく、生体適合性塗布膜が形成可能である。
また本発明の組成物は、光酸発生剤を含有する場合、感光性を有する塗布膜を形成し得る。この場合、フォトリソグラフィ法にて生体適合性塗布膜パターンの形成が可能である。また当該特定のパターン付き基材を製造できる。
また本発明の組成物は、例えば、下記一般式(2)で表される構造単位を含む、温度応答性の有機重合体を用いた場合、温度応答性を有する塗布膜を形成し得る。この場合、温度応答性を有する特定のパターン付き基材を製造し提供することができる。
実施例1で得られた塗布膜形成用組成物の感度試験の結果を示すグラフである。縦軸は塗布膜の膜厚(nm)を示し、横軸は露光量(mJ/cm)を示す。 実施例1で得られた塗布膜形成用組成物のパターンニング試験の結果を示すグラフである。縦軸はパターン(塗布膜)がある部分およびパターンが無い部分の厚さ(nm)を示し、横軸はパターン(塗布膜)がある部分およびパターンが無い部分の幅(μm)を示す。
<塗布膜形成用組成物>
本発明の生体適合性塗布膜形成用組成物は、(A)有機重合体と、溶剤として(D)炭素原子数2〜5のメトキシアルコールとを含むことが主たる特徴である。
(成分A)
(A)有機重合体は、塗布膜形成用組成物に使用可能であれば、特に制限されないが、好ましくはヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基及び炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基から選ばれる少なくとも1種の有機基を側鎖に有する構造単位を含む有機重合体である。当該(A)有機重合体としては、例えば、オレフィンが反応したビニル重合ポリマー、ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリウレタン、(メタ)アクリレート化合物を重合させた(メタ)アクリルポリマー等が挙げられるが、これらに制限されない。これらの(A)有機重合体は、ラジカル重合して得られたものが望ましいが、重縮合、重付加反応させたものも使用できる。これらの中でも特にオレフィンが反応したビニル重合ポリマー又は(メタ)アクリレート化合物を重合させた(メタ)アクリルポリマーが望ましい。
なお、本発明では(メタ)アクリレート化合物とは、アクリレート化合物とメタクリレート化合物の両方をいう。例えば(メタ)アクリル酸は、アクリル酸とメタクリル酸をいう。
ここで、「炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基」は、直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、その具体例としては、メトキシメチル基、エトキシメチル基、n−プロポキシメチル基、イソプロポキシメチル基、n−ブトキシメチル基、イソブトキシメチル基、sec−ブトキシメチル基、tert−ブトキシメチル基、n−ペントキシメチル基、イソペントキシメチル基、ネオペントキシメチル基、tert−ペントキシメチル基、1−エチルプロポキシメチル基、2−メチルブトキシメチル基等が挙げられる。該アルコキシメチル基の炭素原子数は、好ましくは1〜4であり、より好ましくは1〜3である。
(成分A1)
(A)有機重合体は、好ましくは、一般式(1):
〔式中、
は、水素原子又はメチル基を示し、
は、エステル結合又はアミド結合を示し、
は、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基で置換されている炭素原子数1〜10のアルキル基又は炭素原子数6〜10の芳香族炭化水素基を示す。〕
で表される構造単位を含む有機重合体(以下、単に「成分A1」とも称する)を含む。より好ましくは、(A)有機重合体は、成分A1である。
一般式(1)における各基の定義について、以下に詳述する。
は、水素原子又はメチル基を示す。
は、エステル結合又はアミド結合を示す。
は、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基で置換されている炭素原子数1〜10のアルキル基又は炭素原子数6〜10の芳香族炭化水素基を示す。
「炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基」は、直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、その具体例としては、上記と同様のものが挙げられ、好適な炭素原子数も上記と同様である。
「炭素原子数1〜10のアルキル基」は、直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、その具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、tert−ペンチル基、1−エチルプロピル基、n−ヘキシル基、イソヘキシル基、1,1−ジメチルブチル基、2,2−ジメチルブチル基、3,3−ジメチルブチル基、2−エチルブチル基、ヘキシル基、ペンチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基等が挙げられる。該アルキル基の炭素原子数は、好ましくは1〜6であり、より好ましくは1〜4である。
また、Rにおける炭素原子数6〜10の芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基等が挙げられる。
は、本発明の組成物に後述の(B)光酸発生剤を含有させ、これを用いて形成された塗布膜に感光性を付与した場合に、本発明の組成物を用いて形成された塗布膜の露光後に、(B)光酸発生剤を触媒として反応性を有する架橋反応部位として作用させる観点から、好ましくは、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基(より好ましくはヒドロキシ基)で置換されている炭素原子数1〜10(より好ましくは1〜6、特に好ましくは1〜4)のアルキル基、又は少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基(より好ましくはヒドロキシ基)で置換されているフェニル基である。
一般式(1)で表される構造単位は、Rが、水素原子又はメチル基であり、Qが、エステル結合であり、Rが、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基で置換されている炭素原子数1〜10(より好ましくは1〜6、特に好ましくは1〜4)のアルキル基であることが好ましい。
一般式(1)で表される構造単位は、好ましくは、一般式(1A)で表される構造単位である。
〔式中、Rは上記Rと同義であり、Rは上記Rと同義である。〕
成分A1は、一般式(1)で表される構造単位を1種単独で含んでもよいし、2種以上含んでもよい。
成分A1は、本発明の目的を損なわない限り、一般式(1)で表される構造単位以外の構造単位を含んでもよく、成分A1の全構造単位に対する、一般式(1)で表される構造単位の含有割合は、架橋反応を効率的に行わせる観点から、5モル%以上が好ましく、15モル%以上がより好ましい。
成分A1は、さらに一般式(2):
〔式中、
は、水素原子又はメチル基を示し、
およびRは、同一または異なっていてもよく、水素原子又はヒドロキシ基若しくはカルボキシ基で置換されていてもよい炭素原子数1〜4のアルキル基を示す。〕
で表される構造単位を含むことが望ましい。
成分A1は、一般式(2)で表される構造単位を1種単独で含んでもよいし、2種以上含んでもよい。
一般式(2)のRおよびRにおける「炭素原子数1〜4のアルキル基」は、直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、その具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基を挙げることができる。
本発明において「ヒドロキシ基若しくはカルボキシ基で置換されていてもよい」とは上記「炭素原子数1〜4のアルキル基」に含まれる水素原子の一部又は全部がヒドロキシ基若しくはカルボキシ基で置換されていてもよいことを示す。
一般式(2)で表される構造単位は、Rが、水素原子又はメチル基であり、RおよびRがともにメチル基であるのがより好ましい。
成分A1の重量平均分子量は、適切な塗布膜厚形成の観点から、好ましくは1,000〜1,000,000の範囲であり、より好ましくは5,000〜500,000の範囲であり、特に好ましくは10,000〜200,000の範囲である。本発明において「重量平均分子量」とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)にて測定される、ポリスチレン換算の分子量をいう。
成分A1は単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
成分A1は、自体公知の方法又はそれに準ずる方法によって製造することができる。例えば、各構造単位に対応する単量体(一般式(1)で表される構造単位に対応する単量体、一般式(1)で表される構造単位以外の構造単位(好ましくは一般式(2)で表される構造単位)に対応する単量体)を、適当な溶媒(例、プロピレングリコールモノエチルエーテル等)中で、適当な重合開始剤(例、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル等)を使用して重合すること等により製造できるが、これに限定されない。また、市販品を使用してもよい。
一般式(1)で表される構造単位に対応する単量体としては、例えば、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート(例えば、CAS番号:868−77−9の化合物)、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート(例えば、CAS番号:923−26−2の化合物)、4−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート(例えば、CAS番号:2478−10−6の化合物)、N−ヒドロキシメチル(メタ)アクリルアミド(例えば、CAS番号:923−02−4の化合物)、N−(2−ヒドロキシエチル)(メタ)アクリルアミド(例えば、CAS番号:5238−56−2の化合物)、N−(2−ヒドロキシプロピル)(メタ)アクリルアミド(例えば、CAS番号:26099−09−2の化合物)、p−ヒドロキシ(メタ)アクリルアニリド(例えば、CAS番号:19243−95−9の化合物)、N−メトキシメチル(メタ)アクリルアミド、N−ブトキシメチル(メタ)アクリルアミド等が挙げられ、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、N−メトキシメチル(メタ)アクリルアミド又はN−ブトキシメチル(メタ)アクリルアミドが好ましく、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートが最も好ましい。
一般式(2)で表される構造単位に対応する単量体としては、例えば、N−イソプロピル(メタ)アクリルアミド、N−(1−メチルプロピル)(メタ)アクリルアミド、N−(1−エチルプロピル)(メタ)アクリルアミド、N−(1−プロピルブチル)(メタ)アクリルアミド、N−(1−ブチルペンチル)(メタ)アクリルアミド、2−カルボキシイソプロピル(メタ)アクリルアミド、2−ヒドロキシイソプロピル(メタ)アクリルアミド等が挙げられ、N−イソプロピル(メタ)アクリルアミド、2−カルボキシイソプロピル(メタ)アクリルアミド又は2−ヒドロキシイソプロピル(メタ)アクリルアミドが最も好ましい。
成分A1が、一般式(2)で表される構造単位を有する場合、本発明の組成物を用いて形成された塗布膜は温度応答性を有する。この場合、成分A1の全構造単位に対する、一般式(2)で表される構造単位の含有割合は、60〜95モル%が好ましい。なお、本発明の組成物を用いて形成された塗布膜は、温度応答性を有することで、例えば、温度に応じて大きさが変化する塗布膜パターンを形成することができ、当該塗布膜及び塗布膜パターンは、例えば(i)水や薬剤等を塗布膜内に留まらせたり、放出したりできるドラッグデリバリーシステム(DDS)や薬剤シートへの応用、(ii)表面の疎水/親水を制御することで、物質の付着性を制御できるデバイス等への応用等が期待される点で有利である。
成分A1は、一般式(1)で表される構造単位及び一般式(2)で表される構造単位に加え、さらに任意の構造単位を含んでいてもよい。かかる任意の構造単位は、本発明の組成物を用いて形成された塗布膜の性能を損なわず、上記一般式(1)で表される構造単位に対応する単量体及び一般式(2)で表される構造単位に対応する単量体と重合することができる単量体由来の構造単位であれば特に制限は無い。このような単量体としては、例えば、アルキル基の炭素原子数が1〜10の(メタ)アクリル酸エステル類、ベンジル(メタ)アクリレート、アクリルアミド類(例、アクリルアミド、N−アルキルアクリルアミド、N−アリールアクリルアミド、N,N−ジアルキルアクリルアミド、N,N−ジアリールアクリルアミド、N−メチル−N−フェニルアクリルアミド、N−2−アセトアミドエチル−N−アセチルアクリルアミド等)、メタクリルアミド類(例、メタクリルアミド、N−アルキルメタクリルアミド、N−アリールメタクリルアミド、N,N−ジアルキルメタクリルアミド、N,N−ジアリールメタクリルアミド、N−メチル−N−フェニルメタクリルアミド、N−エチル−N−フェニルメタクリルアミド等)が挙げられる。これらはいずれか1種を単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
例えば疎水性の側鎖を有する、アルキル基の炭素原子数が1〜10の(メタ)アクリル酸エステル類やベンジル(メタ)アクリレート等を使用した場合、成分A1の親疎水バランスを調整することができる。
本発明の塗布膜形成用組成物における成分Aの含有量は、適度な厚さの塗布膜形成や、本発明の塗布膜形成組成物の保存安定性の観点から、溶剤を除く塗布膜形成用組成物の固形分を基準に、好ましくは60〜95重量%であり、より好ましくは70〜90重量%である。
(成分B)
本発明の塗布膜形成組成物は、(B)光酸発生剤(以下、単に「成分B」とも称する)を含んでいてもよい。成分Bは、露光により直接若しくは間接的に酸を発生する化合物であれば特に制限はなく、例えば、ジアゾメタン化合物、オニウム塩化合物、スルホンイミド化合物、ニトロベンジル化合物、鉄アレーン錯体、ベンゾイントシラート化合物、ハロゲン含有トリアジン化合物、シアノ基含有オキシムスルホナート化合物及びナフタルイミド系化合物等が挙げられる。
ジアゾメタン化合物としては、例えば、ビス(p−トルエンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,1−ジメチルエチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)ジアゾメタン等が挙げられる。
オニウム塩化合物としては、例えば、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート等が挙げられる。
スルホンイミド化合物としては、例えば、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(ノナフルオロ−ノルマルブタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(カンファースルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ナフタルイミド等が挙げられる。
ニトロベンジル化合物としては、例えば、p−トルエンスルホン酸2−ニトロベンジル、p−トルエンスルホン酸2,6−ジニトロベンジル、p−トルエンスルホン酸2,4−ジニトロベンジル等が挙げられる。
鉄アレーン錯体としては、例えば、ビスシクロペンタジエニル−(η6−イソプロピルベンゼン)−鉄(II)ヘキサフルオロホスフェート等が挙げられる。
ベンゾイントシラート化合物としては、例えば、ベンゾイントシラート、α−メチルベンゾイントシラート等が挙げられる。
ハロゲン含有トリアジン化合物としては、例えば、2−(4−メトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−(4−メトキシナフチル)−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−[2−(2−フリル)エテニル]−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン、2−[2−(5−メチル−2−フリル)エテニル]−4,6−ビス(トリクロロメチル)−1,3,5−トリアジン等が挙げられる。
シアノ基含有オキシムスルホナート化合物としては、例えば、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(プロピルスルホニルオキシイミノ)−4−メチルベンジルシアニド等が挙げられる。
ナフタルイミド系化合物としては、例えば、6−(n−ブチルチオ)−2−(パーフルオロブチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオン、6−(n−ブチルチオ)−2−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオンおよび6−(イソプロピルチオ)−2−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオン等が挙げられる。
(B)光酸発生剤は、好ましくはナフタルイミド系化合物であり、より好ましくは6−(n−ブチルチオ)−2−(パーフルオロブチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオン、6−(n−ブチルチオ)−2−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオンおよび6−(イソプロピルチオ)−2−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオンである。
本発明の組成物が(B)光酸発生剤を含有する場合、(B)光酸発生剤の含有量は、本発明の塗布膜形成用組成物が露光による良好なパターニング性能を得るために、溶剤を除く塗布膜形成用組成物の固形分を基準に、好ましくは0.1〜20重量%、より好ましくは0.5〜15重量%、さらに好ましくは1〜13重量%である。
本発明の塗布膜形成用組成物が(B)光酸発生剤を含有する場合、(B)光酸発生剤は1種のみを使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
(成分C)
本発明の塗布膜形成用組成物は、酸存在下で反応性基と反応する(C)架橋剤(以下、単に「成分C」とも称する)を含有することが好ましい。(C)架橋剤は1種のみを使用してもよく、2種以上を併用してもよい。なお、(A)有機重合体中に互いに反応する2種以上の反応性基が存在する場合には、(A)有機重合体は架橋剤無しで架橋することができる(自己架橋)。このような場合には、本発明の塗布膜形成用組成物は(C)架橋剤を含まなくてもよい。
成分Cは、酸存在下で反応性基と反応するものである限り、特に制限は無く、感光性組成物の分野で通常使用されているものを、本発明でも使用することができる。
成分Cとしては、例えば、グリコールウリル化合物、メラミン化合物等が挙げられる。
グリコールウリル化合物としては、例えば、1,3,4,6−テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6−テトラキス(エトキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6−テトラキス(プロポキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6−テトラキス(ブトキシメチル)グリコールウリル等が挙げられる。
メラミン化合物としては、例えば、ヘキサメトキシメチルメラミン、ヘキサエトキシメチルメラミン、ヘキサプロポキシメチルメラミン、ヘキサブトキシメチルメラミン等が挙げられる。
成分Cは、好ましくは、グリコールウリル化合物であり、より好ましくは1,3,4,6−テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6−テトラキス(エトキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6−テトラキス(プロポキシメチル)グリコールウリル、および1,3,4,6−テトラキス(ブトキシメチル)グリコールウリルからなる群から選ばれる少なくとも一つであり、さらに好ましくは1,3,4,6−テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリルである。
成分Cを使用する場合、その含有量は、良好なパターニング特性および充分な温度応答性を得るために、溶剤を除く塗布膜形成用組成物の固形分を基準に、好ましくは0.1〜40重量%、より好ましくは0.5〜30重量%、さらに好ましくは1〜20重量%である。
(成分D)
本発明の塗布膜形成用組成物は、溶剤として、(D)炭素原子数2〜5のメトキシアルコール(以下、単に「成分D」とも称する)を含む。当該成分Dが溶剤として用いられることで、本発明の組成物は、特に樹脂製基材を侵食することなく、生体適合性塗布膜を形成できる。
炭素原子数2〜5のメトキシアルコールの具体例としては、メトキシメタノール(CAS番号;4461−52−3)、2−メトキシエタノール(CAS番号;109−86−4)、2−メトキシ−1−プロパノール(CAS番号;1589−47−5)、3−メトキシ−1−プロパノール(CAS番号;1589−49−7)、2−メトキシ−1−ブタノール(CAS番号;15467−25−1)、3−メトキシ−1−ブタノール(CAS番号;2517−43−3)等が挙げられる。該メトキシアルコールの炭素原子数は、好ましくは2〜4であり、より好ましくは3〜4である。
成分Dは、好ましくは2−メトキシエタノール(CAS番号;109−86−4、別名称としてエチレングリコールモノメチルエーテル、メチルセルソルブ、メチルグリコール)である。
成分Dの含有量は、塗布膜の膜厚をコントロールするため、および本発明の塗布膜形成用組成物が感光性を有する場合、良好なパターニング特性を得るために、塗布膜形成用組成物を基準に、好ましくは50〜99.5重量%、より好ましくは70〜99.5重量%、さらに好ましくは85〜99重量%である。
本発明の塗布膜形成用組成物における成分Aの含有割合(即ち、塗布膜形成用組成物を基準する成分Aの含有量)は、適度な厚さの塗布膜製造や、本発明の塗布膜形成組成物の保存安定性の観点から、0.1〜90重量%が好ましく、0.5〜70重量%がより好ましい。
本発明の塗布膜形成用組成物が成分Bを含有する場合、当該塗布膜形成用組成物における成分Bの含有割合(即ち、塗布膜形成用組成物を基準する成分Bの含有量)は、温度応答性樹脂の特性を保つ観点から、0.01〜50重量%が好ましく、0.05〜40重量%がより好ましく、0.1〜20重量%が特に好ましい。
本発明の塗布膜形成用組成物が成分Bを含有する場合、本発明の塗布膜形成用組成物に含まれる成分Aと成分Bの重量比(成分Aの重量/成分Bの重量)は、成分Aと成分Bとの反応効率の観点から、0.01〜50が好ましく、0.1〜40がより好ましい。
本発明の塗布膜形成用組成物が成分Cを含有する場合、本発明の塗布膜形成用組成物における成分Cの含有割合(即ち、塗布膜形成用組成物を基準する成分Cの含有量)は、成分Aとの反応効率の観点から、0.01〜15重量%が好ましく、0.03〜10重量%がより好ましく、0.05〜5重量%が特に好ましい。
本発明の塗布膜形成組成物は、本発明の目的を著しく損なわない限り、成分A〜D以外に、添加剤を必要に応じて含んでもよい。当該添加剤としては、例えば、界面活性剤、レオロジー調整剤、薬剤、微粒子等が挙げられる。
本発明の塗布膜形成組成物は、成分A及び成分Dを混合し、所望により成分B及び/又は成分Cを混合するか、或いは、これらに上記の添加剤をさらに混合して調製される。混合方法は特に制限されず、自体公知の方法又はそれに準ずる方法によって混合すればよい。
(塗布膜を有する基材、パターン付き基材、該基材の製造方法およびパターン形成方法)
本発明の塗布膜形成用組成物を用いて形成された塗布膜を表面の少なくとも一部に有する基材は、本発明の塗布膜形成用組成物を、例えばスピンコート、スリットコート等の方法で基材の表面の少なくとも一部に塗布した後、溶剤を除去することによって、塗布膜を基材の表面の少なくとも一部に形成することで製造できる。本発明は、このような塗布膜を有する基材も提供する。
本発明のパターン付き基材は、基材の表面の少なくとも一部に、成分A、成分B及び成分Dを少なくとも含有する本発明の塗布膜形成用組成物を用いて塗布膜を形成する工程、フォトリソグラフィ法によるパターニング工程(具体的には、塗布膜に光を照射する工程、及び露光後の塗布膜を現像する工程)を含む製造方法により製造することができる。本発明は、このようなパターン付き基材も提供する。本発明のパターン付き基材は、本発明の塗布膜形成用組成物を1種のみ用いて製造した1種のパターンを有する基材であってもよく、本発明の塗布膜形成用組成物を2種以上用いて製造した2種以上のパターンを有する基材であってもよい。
パターンの形状に特に制限は無く、基材の上側から観察した場合、例えば、四角状、丸状、線状、ラインアンドスペース等が挙げられる。2種以上の応答温度の異なるパターンが存在する場合、それらは隣接して形成されていてもよく、離して形成されていてもよい。上側から観察したパターンの大きさおよびパターン断面から観察した高さに特に制限は無い。パターンの大きさ(すなわち、四角の一辺の幅、丸の直径、線の幅、ラインアンドスペースのライン幅とスペース幅等)は、例えば0.1〜1000μm、パターンの高さは、例えば5nm〜1000μmである。これらパターンの形状は、露光工程時に、透過光の形状が異なる複数のマスクを用いることで制御可能である。
本発明のパターン付き基材は、自体公知の方法、例えば以下に記載するような方法で製造できる。まず、成分A、成分B及び成分Dを少なくとも含有する本発明の塗布膜形成用組成物をスピンコート、スリットコート等の方法で基材に塗布し、溶剤除去することによって、基材の表面の少なくとも一部に塗布膜を形成する。該塗布膜に例えば、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)、i線(波長365nm)、紫外線、深紫外線、電子線、各種レーザー(例、KrFエキシマレーザー(波長248nm)、ArFエキシマレーザー(波長193nm)、F2エキシマレーザー(波長157nm)等のエキシマレーザー等)、水銀ランプ光、LED光等の光を、所望のパターンを得るためにマスクを介して照射すると、露光部分のみで酸が発生し、それによる架橋(硬化)が生ずる。これらの中でも、本発明の塗布膜は、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)、i線(波長365nm)、紫外線、深紫外線、電子線が好ましく用いられる。この後、露光後ベーク(PEB)を行なうことが望ましい。露光後の塗布膜を、現像液等で現像を行い、未露光部(塗膜の未硬化部分)を除去してパターン付き基材を製造することができる。
2種以上のパターンを有する基材は、組成が異なる塗布膜形成用組成物毎に上記操作を繰り返すことによって、製造することができる。
塗布膜を有する基材及びパターン付き基材に用いられる基材の材料としては、例えば、金属、半金属、金属含有化合物、半金属含有化合物、樹脂等が挙げられる。本発明の組成物を用いれば、特に樹脂製基材を侵食することなく、生体適合性塗布膜を形成可能であるため、樹脂製基材を用いる場合に本発明は特に有用である。
金属または半金属としては、例えば、アルミニウム、ニッケルチタン、ステンレス(SUS304、SUS316、SUS316L等)、シリコン等が挙げられる。
金属含有化合物または半金属含有化合物としては、例えば、セラミックス、金属酸化物または半金属酸化物(ガラス、酸化ケイ素、アルミナ等)、金属炭化物または半金属炭化物、金属窒化物または半金属窒化物(窒化ケイ素等)、金属ホウ化物または半金属ホウ化物等が挙げられる。
樹脂は、天然樹脂、変性天然樹脂および合成樹脂のいずれでもよい。天然樹脂としては、例えば、セルロース等が挙げられる。変性天然樹脂として、例えば、三酢酸セルロース(CTA)、デキストラン硫酸を固定化したセルロース等が挙げられる。合成樹脂としては、例えば、ポリアクリロニトリル(PAN)、ポリエステル系ポリマーアロイ(PEPA)、ポリスチレン(PS)、ポリスルホン(PSF)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリウレタン(PU)、エチレンビニルアルコール(EVAL)、ポリエチレン(PE)、ポリエステル(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリ−N−イソプロピルアクリルアミド等が挙げられるが、これらの中でも、例えば生体適合性が必要な細胞培養基材等として一般的に使用される、ポリスチレン(PS)が特に望ましい。
以下、実施例を挙げて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例によって制限を受けるものではなく、上記・下記の趣旨に適合し得る範囲で適当に変更を加えて実施することも勿論可能であり、それらはいずれも本発明の技術的範囲に包含される。
[重量平均分子量の測定]
本実施例において、有機重合体1の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定した。測定に用いた装置、測定条件は次の通りである
装置:TOSOH HLC−8320GPC system
カラム:Shodex(登録商標)KF−803L、KF−802及びKF−801
カラム温度:40℃
溶離液:DMF
流量:0.6ml/分
検出器:RI
標準試料:ポリスチレン
<製造例1:有機重合体1の合成>
N−イソプロピルアクリルアミド20.0g(0.177mol)、2−ヒドロキシエチルアクリレート5.13g(0.044mol)及び2,2’−アゾビスイソブチロニトリル(和光純薬工業株式会社製)0.25gをプロピレングリコールモノメチルエーテル25.1gに溶解させ、窒素雰囲気下80℃で24時間反応させ、有機重合体1を含む溶液を得た。その後、ヘキサンで再沈殿させ、得られた沈殿を真空オーブン下40℃で乾燥させた。仕込み通りに反応が進行しているとすると、有機重合体1の全構造単位に対する、N−イソプロピルアクリルアミドに由来する構造単位の含有割合は80モル%であり、2−ヒドロキシエチルアクリレートに由来する構造単位の含有割合は20モル%である。有機重合体1の重量平均分子量は、ポリスチレン換算で19,000であった。
(塗布膜形成用組成物の調製)
<実施例1>
有機重合体1:0.5gに、架橋剤(1,3,4,6−テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリル)0.035g、光酸発生剤(6−(n−ブチルチオ)−2−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−2−アザ−2H−フェナレン−1,3−ジオン)0.075g、および2−メトキシエタノール50.2gを加え、塗布膜形成用組成物1を得た。
<比較例1〜17>
実施例1の2−メトキシエタノールを表1記載の溶剤に変えた以外は、実施例1と同様にして塗布膜形成用組成物2〜18を得た。
[プラシャーレの溶剤耐性]
ポリスチレン製アズノールシャーレ(φ(ファイ)40×15)(アズワン株式会社製)へ表1記載の溶剤を1mL入れ24時間室温で放置した。その後プラシャーレ内の溶剤を回収した後、プラシャーレの性状を見ることで当該プラシャーレの溶剤耐性を確認した。プラシャーレへの溶剤試験後性状の評価は、変化のなかったもの(白濁、溶解及び割れが確認されなかったもの)を「○」とし、白濁、溶解及び割れの少なくとも一つが確認されたものを「×」として行った。結果を表1に示す。
[塗布膜形成用組成物の各種溶剤に対する溶解性]
実施例1及び比較例1〜17の塗布膜形成用組成物中に含まれる固形分の溶解状態を目視観察した。各塗布膜形成用組成物の溶解性は、下記の基準に従って評価した。
○;沈殿等が発生せず、透明液体状態。
×;組成物中の固形分が完全溶解せず、析出した状態。
結果を表1に示す。
[感度試験]
塗布膜形成用組成物1を、シリコンウェハ上にスピンコーターを用いて塗布し、ホットプレート上で80℃で1分間プリベークしてシリコンウェハ上に塗布膜を形成した。次いで、i線アライナーPLA−501(キヤノン(株)製)を用いて、露光量を変化させて塗布膜を露光した。次いで、オーブン中で80℃で20時間、露光後ベーク(PEB)した。露光後ベークした塗布膜をイソプロピルアルコールで1分間曝露し、その後60℃の水で3分間振とうしながらリンスを行った。その後、塗布膜を60℃で10分間乾燥させ、露光エリアの塗布膜の膜厚を測定した。結果を図1に示す。
なお、露光後ベーク(PEB)の時間を20時間から5時間に変えた以外は上記と同様に行った場合も、上記と同様の結果が得られた。
[パターニング試験]
塗布膜形成用組成物1を、Nunc Thermanoxカバースリップ(ポリエステル製)(Thermo Fisher Scientific, Inc.社製)上にスピンコーターを用いて塗布し、ホットプレート上において80℃で1分間プリベークしてシリコンウェハ上に塗布膜を形成した。次いで、i線アライナーPLA−501(キヤノン(株)製、露光量:2000mJ/cm)を用いて、間隔20μmのラインパターンのマスク(すなわち、開口部幅20μm、マスク部幅20μmのマスク)を介して露光した。次いで、オーブン中で80℃で20時間露光後ベーク(PEB)した。露光後ベークした塗布膜をイソプロピルアルコールで1分間曝露し、その後60℃の水で3分間振とうしながらリンスを行った。その後、60℃で10分間乾燥させ、パターン付き基材を得た。パターン付き基材の表面を原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope、AFM)(ブルカー・エイエックスエス(株)製「Dimension Icon」)を用いて観察し、パターン(塗布膜)がある部分およびパターンが無い部分の厚さ及び幅を測定した。結果を図2に示す。
塗布膜形成用組成物1から、良好なパターン(ライン幅:20μm、スペース幅:20μmのラインアンドスペースのパターン)を有する基材(パターン付き基材)が得られた。
本発明の生体適合性塗布形成用組成物は、樹脂製基材上に生体適合性塗布膜を形成する際に特に有用である。
本出願は、日本で出願された特願2015-32149(出願日:2015年2月20日)を基礎としており、その内容は本明細書に全て包含されるものである。

Claims (6)

  1. (A1)一般式(1):

    〔式中、
    は、水素原子又はメチル基を示し、
    は、エステル結合又はアミド結合を示し、
    は、少なくとも1個の水素原子がヒドロキシ基、ヒドロキシメチル基又は炭素原子数1〜5のアルコキシメチル基で置換されている炭素原子数1〜10のアルキル基又は炭素原子数6〜10の芳香族炭化水素基を示す。〕
    で表される構造単位、及び、一般式(2):

    〔式中、
    は、水素原子又はメチル基を示し、
    およびR は、同一または異なっていてもよく、水素原子又はヒドロキシ基若しくはカルボキシ基で置換されていてもよい炭素原子数1〜4のアルキル基を示す。〕
    で表される構造単位を含む有機重合体と、(B)光酸発生剤と、溶剤として(D)2−メトキシエタノールとを含む、ポリスチレンを含む基材への生体適合性塗布膜形成用組成物。
  2. 請求項1記載の組成物で形成された塗布膜を表面に有する、ポリスチレンを含む基材。
  3. ポリスチレンを含む基材の表面に、請求項1記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程を含む、表面に塗布膜を有する基材の製造方法。
  4. 請求項記載の組成物を用いて形成されたパターンを表面に有する、ポリスチレンを含む基材。
  5. ポリスチレンを含む基材の表面に、請求項記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程、該塗布膜に光を照射する工程、及び露光後の塗布膜を現像する工程を含む、パターン付き基材の製造方法。
  6. ポリスチレンを含む基材の表面に、請求項記載の組成物を用いて塗布膜を形成する工程、該塗布膜に光を照射する工程、及び露光後の塗布膜を現像する工程を含む、パターン形成方法。
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