JP6699553B2 - 信号処理装置、撮像素子、並びに、電子機器 - Google Patents
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Description
1.第1の実施の形態(イメージセンサ・カラムA/D変換部)
2.第2の実施の形態(イメージセンサ・エリアA/D変換部)
3.第3の実施の形態(撮像装置)
<カウンタ駆動による電源変動>
イメージセンサ等に用いられるA/D変換部は、一般的に、シングルスロープA/D変換方式等でA/D変換を行うものであり、カウンタ回路を有している。このようなカウンタ回路は、カウント値の非反転時は電流が流れないが、カウント値の反転時に電流が流れるため、電源変動によりノイズが発生するおそれがあった。特に、カウント値の一斉反転時(全ビット反転時)には大きな電源変動が生じるおそれがあった。
そこで、カウントタイミングが互いに同一で、カウント値の極性が互いに反対である2種類のカウンタの一方を有する第1のA/D変換部と、他方を有する第2のA/D変換部とを、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置するようにする。
このような本技術を適用した撮像素子の一実施の形態であるイメージセンサの主な構成例を、図1に示す。図1に示されるイメージセンサ100は、被写体からの光を光電変換して画像データとして出力するデバイスである。例えば、イメージセンサ100は、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)を用いたCMOSイメージセンサ、CCD(Charge Coupled Device)を用いたCCDイメージセンサ等として構成される。
画素アレイ101の主な構成例を図2に示す。上述したように、画素領域(画素アレイ101)には、複数の単位画素が面状に並べられて配置されている。図2の例の場合、M×N個の単位画素141(単位画素141−11乃至単位画素141−MN)が、M行N列の行列状(アレイ状)に並べられて配置されている(M、Nは任意の自然数)。以下において、単位画素141−11乃至単位画素141−MNを互いに区別して説明する必要が無い場合、単位画素141と称する。単位画素141の並べ方は任意であり、例えば、所謂ハニカム構造等のように、行列状以外の並べ方であってもよい。
図3は、単位画素141の回路構成の主な構成の例を示す図である。図3に示されるように、単位画素141は、フォトダイオード(PD)151、転送トランジスタ152、リセットトランジスタ153、増幅トランジスタ154、およびセレクトトランジスタ155を有する。
次に、図4を参照して、A/D変換部103(図1)の構成例について説明する。図4に示されるように、A/D変換部103は、カラムA/D変換部161−1乃至カラムA/D変換部161−Nを有する。以下において、カラムA/D変換部161−1乃至カラムA/D変換部161−Nを互いに区別して説明する必要が無い場合、カラムA/D変換部161と称する。カラムA/D変換部161は、画素アレイ101のカラム(単位画素列)毎に設けられている。
次に、図5を参照して、アップカウンタ172やダウンカウンタ175の構成例について説明する。アップカウンタ172やダウンカウンタ175として、例えば、バイナリカウンタを用いるようにしてもよい。アップカウンタ172は、例えば図5のAのように組み合わされた複数のJKフリップフロップ(例えば、JKフリップフロップ181−1、JKフリップフロップ181−2、JKフリップフロップ181−3、・・・)を有する非同期式のカウンタにより構成されるようにしてもよい。同様に、ダウンカウンタ175は、例えば図5のBのように組み合わされた複数のJKフリップフロップ(例えば、JKフリップフロップ181−1、JKフリップフロップ181−2、JKフリップフロップ181−3、・・・)を有する非同期式のカウンタにより構成されるようにしてもよい。以下において、これらのJKフリップフロップを互いに区別して説明する必要が無い場合、JKフリップフロップ181と称する。
一般的なイメージセンサのように、全てのカラムA/D変換部において同一のカウンタを用いると、図7に示される例のように、VDDとVSSの両方で電源変動が生じるが、それらの変動タイミングが互いにずれており、それぞれ大きな変動となっている。
このように、アップカウンタ172を有するカラムA/D変換部161とダウンカウンタ175を有するカラムA/D変換部161との両方を有するA/D変換部103と、アップカウンタ172を有するカラムA/D変換部161とダウンカウンタ175を有するカラムA/D変換部161との内の一方のみを有する一般的なA/D変換部とでその周波数特性(AC特性)を比較する。
次に、互いに同一のカウントタイミングを有し、互いにカウント値の極性が反対のアップカウンタとダウンカウンタの両方を用いる場合の、実負荷の特性のシミュレーションについて説明する。
なお、上述したアップカウンタ172およびダウンカウンタ175の構成は、任意であり、図5の例に限定されない。例えば、図5においては、非同期式のアップカウンタおよびダウンカウンタを用いるように説明したが、図14のAに示されるような非同期式のアップダウンカウンタを用いるようにしてもよい。図14のAに示されるように、この非同期式のアップダウンカウンタは、JKフリップフロップ181とセレクタ(セレクタ201−1、セレクタ201−2、・・・)により構成される。各セレクタを互いに区別して説明する必要が無い場合、セレクタ201と称する。
また、図4を参照して、カラムA/D変換部161の構成例について説明したが、カラムA/D変換部161の構成は任意である。また、カラムA/D変換部161のA/D変換の方式も任意であり、シングルスロープA/D変換方式以外の方式でA/D変換を行うようにしてもよい。
なお、以上においては、アップカウンタを有するカラムA/D変換部と、ダウンカウンタを有するカラムA/D変換部とを互いの近傍に配置するように説明したが、それらのカラムA/D変換部の配置位置は、互いの近傍である限り任意である。例えば、図20のAに示されるように、アップカウンタ172を有するカラムA/D変換部161とダウンカウンタ175を有するカラムA/D変換部161とが1つずつ交互に並ぶように1行に配置されるようにしてもよい。また、例えば、図20のBに示されるように、アップカウンタ172を有するカラムA/D変換部161とダウンカウンタ175を有するカラムA/D変換部161とが複数ずつ交互に並ぶように1行に配置されるようにしてもよい。これらの例のように各カラムA/D変換部161を配置することにより、アップカウンタ172とダウンカウンタ175とを互いの近傍に配置することができ、カウンタの駆動による電源変動を抑制することができる。
なお、本技術を適用する撮像素子は、例えば、半導体基板が封止されたパッケージ(チップ)や、そのパッケージ(チップ)が回路基板に設置されたモジュール等として実現することができる。例えば、パッケージ(チップ)として実現する場合、そのパッケージ(チップ)において撮像素子が、単一の半導体基板により構成されるようにしてもよいし、互いに重畳される複数の半導体基板により構成されるようにしてもよい。
<エリアA/D変換部>
例えば、以上においては、A/D変換部103には単位画素列毎にA/D変換部(カラムA/D変換部161)が設けられ、各カラムA/D変換部161が、その単位画素列の各単位画素から読み出される信号をA/D変換するように説明したが、A/D変換部103の構成例はこれに限定されない。例えば、画素アレイ101において、所定数の単位画素毎に画素ユニットが形成され、A/D変換部103にはその画素ユニット毎にA/D変換部(エリアA/D変換部)が設けられ、各エリアA/D変換部が、自身に割り当てられた画素ユニットに属する各単位画素から読み出される信号をA/D変換するようにしてもよい。
このようなエリアA/D変換部341の場合も、第1の実施の形態のカラムA/D変換部161の場合と同様に、アップカウンタ172とダウンカウンタ175とを互いの近傍に配置するようにしてもよい。すなわち、アップカウンタ172を有するエリアA/D変換部341とダウンカウンタ175を有するエリアA/D変換部341とが互いの近傍に配置されるようにしてもよい。例えば、図24のA、図25のA、図26のAに示されるように、アップカウンタ172を有するエリアA/D変換部341とダウンカウンタ175を有するエリアA/D変換部341とが行方向(図中横方向)に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置されるようにしてもよい。また、例えば、図24のB、図25のB、図26のBに示されるように、アップカウンタ172を有するエリアA/D変換部341とダウンカウンタ175を有するエリアA/D変換部341とが行方向および列方向(図中縦方向)に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置されるようにしてもよい。
<撮像装置>
なお、本技術は、撮像素子以外にも適用することができる。例えば、撮像装置のような、撮像素子を有する装置(電子機器等)に本技術を適用するようにしてもよい。図27は、本技術を適用した電子機器の一例としての撮像装置の主な構成例を示すブロック図である。図27に示される撮像装置600は、被写体を撮像し、その被写体の画像を電気信号として出力する装置である。
(1) 所定のカウンタである第1のカウンタを用いてアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一であり、かつ、カウント値の極性が前記第1のカウンタと反対である第2のカウンタを用いて、アナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
信号処理装置。
(2) 前記第1のカウンタは、アップカウンタであり、
前記第2のカウンタは、ダウンカウンタである
(1)に記載の信号処理装置。
(3) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、非同期式のカウンタである
(2)に記載の信号処理装置。
(4) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、同期式のカウンタである
(2)または(3)に記載の信号処理装置。
(5) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、JKフリップフロップにより構成される
(2)乃至(4)のいずれかに記載の信号処理装置。
(6) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、Dフリップフロップにより構成される
(2)乃至(5)のいずれかに記載の信号処理装置。
(7) 前記第1のカウンタは、アップダウンカウンタをアップカウンタとして駆動させたものであり、
前記第2のカウンタは、前記アップダウンカウンタをダウンカウンタとして駆動させたものである
(2)乃至(6)のいずれかに記載の信号処理装置。
(8) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、バイナリカウンタである
(2)乃至(7)のいずれかに記載の信号処理装置。
(9) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、グレイコードカウンタである
(2)乃至(8)のいずれかに記載の信号処理装置。
(10) 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、TDC(Time to Digital Converter)を用いたカウンタである
(2)乃至(9)のいずれかに記載の信号処理装置。
(11) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、シングルスロープA/D変換方式で前記アナログ信号をA/D変換する
(1)乃至(10)のいずれかに記載の信号処理装置。
(12) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、積分型A/D変換方式で前記アナログ信号をA/D変換する
(1)乃至(11)のいずれかに記載の信号処理装置。
(13) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、1つずつ交互に並ぶように1行に配置される
(1)乃至(12)のいずれかに記載の信号処理装置。
(14) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、複数個ずつ交互に並ぶように1行に配置される
(1)乃至(13)のいずれかに記載の信号処理装置。
(15) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換が、行方向に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置される
(1)乃至(14)のいずれかに記載の信号処理装置。
(16) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、行方向および列方向に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置される
(1)乃至(15)のいずれかに記載の信号処理装置。
(17) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、画素領域内の、自身に割り当てられた単位画素列に属する単位画素から読み出された信号をA/D変換する
(1)乃至(16)のいずれかに記載の信号処理装置。
(18) 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、画素領域内の、自身に割り当てられた部分領域内の単位画素から読み出された信号をA/D変換する
(1)乃至(17)のいずれかに記載の信号処理装置。
(19) 複数の単位画素が行列状に配置される画素アレイと、
所定のカウンタである第1のカウンタを用いて、前記画素アレイに配置された前記単位画素から読み出されたアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一であり、かつ、カウント値の極性が前記第1のカウンタと反対である第2のカウンタを用いて、前記画素アレイに配置された前記単位画素から読み出されたアナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
撮像素子。
(20) 被写体を撮像する撮像部と、
前記撮像部による撮像により得られた画像データを画像処理する画像処理部と
を備え、
前記撮像部は、
複数の単位画素が行列状に配置される画素アレイと、
所定のカウンタである第1のカウンタを用いてアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一であり、かつ、カウント値の極性が前記第1のカウンタと反対である第2のカウンタを用いて、アナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
電子機器。
Claims (19)
- 所定のアップカウンタである第1のカウンタを用いてアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一のダウンカウンタである第2のカウンタを用いて、アナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、非同期式のカウンタである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、同期式のカウンタである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、JKフリップフロップにより構成される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、Dフリップフロップにより構成される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタは、アップダウンカウンタをアップカウンタとして駆動させたものであり、
前記第2のカウンタは、前記アップダウンカウンタをダウンカウンタとして駆動させたものである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、バイナリカウンタである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、グレイコードカウンタである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のカウンタおよび前記第2のカウンタは、TDC(Time to Digital Converter)を用いたカウンタである
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、シングルスロープA/D変換方式で前記アナログ信号をA/D変換する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、積分型A/D変換方式で前記アナログ信号をA/D変換する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、1つずつ交互に並ぶように1行に配置される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、複数個ずつ交互に並ぶように1行に配置される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、行方向に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、行方向および列方向に1つずつ交互に並ぶように行列状に配置される
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、画素領域内の、自身に割り当てられた単位画素列に属する単位画素から読み出された信号をA/D変換する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部は、画素領域内の、自身に割り当てられた部分領域内の単位画素から読み出された信号をA/D変換する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 複数の単位画素が行列状に配置される画素アレイと、
所定のアップカウンタである第1のカウンタを用いて、前記画素アレイに配置された前記単位画素から読み出されたアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一のダウンカウンタである第2のカウンタを用いて、前記画素アレイに配置された前記単位画素から読み出されたアナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
撮像素子。 - 被写体を撮像する撮像部と、
前記撮像部による撮像により得られた画像データを画像処理する画像処理部と
を備え、
前記撮像部は、
複数の単位画素が行列状に配置される画素アレイと、
所定のアップカウンタである第1のカウンタを用いてアナログ信号をA/D変換する第1のA/D変換部と、
カウントタイミングが前記第1のカウンタと同一のダウンカウンタである第2のカウンタを用いて、アナログ信号をA/D変換する第2のA/D変換部と
を備え、
前記第1のA/D変換部および前記第2のA/D変換部が、互いの電源変動が影響を及ぼし合う程度に互いの近傍に配置される
電子機器。
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