JP2011259016A - 固体撮像素子及び撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】簡明な構成で、カウント動作時のピーク電流を抑制可能な固体撮像素子を提供する。
【解決手段】AD変換部が各列に対応して並列に設けられた複数のAD変換部30aからなるカラムAD変換方式の固体撮像素子において、各AD変換部30aは、画素11から出力された画素信号Vxとランプ信号Rampとを比較して比較信号を出力する比較器32と、ランプ信号に同期してクロック信号CLKのカウントを開始し比較信号が反転するまでのクロック信号CLKのパルス数を計測するカウンタを備えて構成される。複数のAD変換部のうち、一部のAD変換部は、カウンタがポジティブエッジトリガのカウンタであり、残りのAD変換部は、ネガティブエッジトリガのカウンタであるように固体撮像素子を構成する。
【選択図】図1

Description

本発明は、光電変換素子を有する画素が行列状に複数配置された画素アレイ部と、画素から出力されたアナログ信号を並列にAD変換する複数のAD変換部からなるAD変換部群とを備えて構成される固体撮像素子に関するものである。
上記のような固体撮像素子として、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが広く知られている。CMOSイメージセンサは、デジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラ、携帯電話用の撮像デバイスとして広く用いられている。
CMOSイメージセンサには、列並列AD変換方式若しくはカラムADC方式と称されるイメージセンサがある。この方式のイメージセンサは、概要構成を図15に示すように、画素11,11…が行列状に配置された画素アレイ部10と、各列の画素に対応して設けられたAD変換部130a,130a…からなるAD変換部群130とを備えて構成される。画像の読出しは、行走査回路20により任意の一行を選択し、列方向に並ぶ一行分の画素を同時にアクセスして、各画素から列信号線31にアナログ信号を同時に出力させ、同時並列的に一行分の各画素からアナログ信号を読み出す。読み出されたアナログ信号は各列のAD変換部130aで各々AD変換され、デジタル化された一行分の信号が信号処理回路70に出力される。この処理を画素アレイ部10の撮像領域全体について行い、信号処理回路70が各行の信号を合成処理して画像データを生成するように構成される。
AD変換部130aは、画素11から出力されたアナログ信号と参照信号生成回路60で生成されたランプ信号とを比較する比較器32、スロープ状に変化するランプ信号に同期して比較器出力が反転するまでのクロック数をカウントするカウンタ135を備える。すなわち、画素から出力されたアナログ信号と、スロープ状に変化するランプ信号とが交差するまでのクロックのカウント数を計測することにより、アナログ信号をデジタル信号に変換して出力するように構成される(例えば、特許文献1を参照)。
ここで、AD変換部群130におけるカウンタの構成は図16に例示するように、各列のカウンタ(カウンタカラム)135,135…及びカウンタ制御回路136が基板上に並んで形成され、カウンタブロックが構成される。カウンタブロックの各カウンタ135は、同図中に示すように、デジタル信号のビット数に応じた複数のフリップフロップ回路(以下、「FF回路」と略記することがある)1370,1371,1372…により構成される。図17は、カウンタ135の具体的な構成例を示したものであり、各カウンタ135はデジタル信号のビット数に応じた段数のFF回路1370,1371,1372…を直列接続して構成される。
このように、カラムAD変換方式の固体撮像素子は、選択された行の多数の画素から一斉にアナログ信号が読み出され、各列のAD変換部130aで同時並列的にAD変換される。
特開2010−45544号公報
上記のような従来のカラムAD変換方式の固体撮像素子では、全てのカウンタ135,135…が同時に同じカウント動作を行う。具体的には、図17に例示したカウンタ135において、各列の1段目(第0ビット)のFF回路1370、各列の2段目(第1ビット)のFF回路1371、各列の3段目(第2ビット)のFF回路1372、…が各々同時に同一動作する。すなわち、個々のカウンタ135において1段目,2段目,3段目のFF回路の出力信号Q0,Q1,Q2は変化タイミングが異なるが、各列のカウンタの段同士で見ると、同一段のFF回路は全列同時に出力信号が変化する。
そのため、カウント動作時のピーク電流が大きくなるという課題があった。またピーク電流が大きいと電源ラインのIRドロップ量が大きくなり、電源回路の動作マージンに余裕がなくなるという課題があった。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、簡明な構成で、カウント動作時のピーク電流を抑制可能な固体撮像素子を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、光電変換素子(例えば、実施形態におけるフォトダイオード12)を有し受光量に応じたアナログ信号を出力する画素が行列状に複数配置された画素アレイ部と、この画素アレイ部における画素の各列に対応して設けられた複数のAD変換部からなり画素アレイ部における各列の画素から出力されたアナログ信号(例えば、実施形態における画素信号Vx)を複数のAD変換部により並列にAD変換して出力するAD変換部群とを備える。上記の各AD変換部は、信号レベルが時間とともに変化するランプ信号と画素から出力されたアナログ信号とを比較して比較信号を出力する比較器と、ランプ信号のレベル変化に同期してクロック信号のカウントを開始し、比較信号が反転するまでのクロック信号のカウント数(パルス数)を計測することによりアナログ信号をデジタル信号に変換するカウンタを備えて構成される。そして、前記複数のAD変換部のうち、一部のAD変換部は、カウンタがクロック信号の立ち上がりでカウント動作(カウンタ出力が変化)するポジティブエッジトリガのカウンタであり、残りのAD変換部は、カウンタがクロック信号の立ち下がりでカウント動作(同上)するネガティブエッジトリガのカウンタであるように固体撮像素子を構成する。
なお、前記AD変換部群を構成する複数のAD変換部のうち、半数が前記一部のAD変換部であり、残りの半数が前記残りのAD変換部であるように構成することが好ましい。この場合において、AD変換部群は、ポジティブエッジトリガのカウンタと、ネガティブエッジトリガのカウンタとが交互に配置されるように構成することが望ましい。
また、前記カウンタは各々複数のフリップフロップ回路を直列接続して構成され、各フリップフロップ回路は、その出力端子に接続された第1のラッチ回路(例えば、実施形態における第1のラッチ回路L1)と、前記出力端子の状態に応じた値をラッチする第2のラッチ回路(例えば、実施形態における第1のラッチ回路L2)と、第1のラッチ回路の入力と第2のラッチ回路の出力との間に配置されるスイッチ回路(例えば、実施形態におけるスイッチ素子5)と、を有し、第1のラッチ回路及び第2のラッチ回路のうち一方は、当該フリップフロップ回路への入力信号がローレベルになったときに動作し、他方は、当該フリップフロップ回路への入力信号がハイレベルになったときに動作するように構成され、前記スイッチ回路は、第1のラッチ回路が動作状態のときに動作するように構成され、前記ポジティブエッジトリガのカウンタと前記ネガティブエッジトリガのカウンタとは、第1のラッチ回路の動作極性及び第2のラッチ回路の動作極性とをそれぞれ逆転することにより構成されるように構成されることが好ましい。
また、前記ポジティブエッジトリガのカウンタ及び前記ネガティブエッジトリガのカウンタのいずれか一方がアップカウンタであり、他方がダウンカウンタであるように構成することも好ましい。
なお、以上いずれかに記載の固体撮像素子と、この固体撮像素子に被写体像を結像する光学系と、固体撮像素子の変換部群から出力された行ごとの信号を処理して被写体像の画像信号を生成する信号処理部とを備えて撮像装置を構成することは好ましい態様である。
本発明に係る固体撮像素子によれば、画素の各列に対応して設けられた複数のAD変換部のうち、一部のAD変換部はポジティブエッジトリガのカウンタであり、残りのAD変換部はネガティブエッジトリガのカウンタで構成される。そのため、カウント動作時に全てのカウンタが同時に同じ動作をするようなことがなく、カウント動作時のピーク電流を抑制した固体撮像素子を提供することができる。
本発明に係る固体撮像素子の一例として示すカラムADC方式のCMOSイメージセンサのブロック図である。 画素(単位画素)の代表的な構成例を示す回路図である。 固体撮像素子の動作例を説明するためのタイミングチャートである。 AD変換部群におけるカウンタブロックの構成を示す模式図である。 (a)ポジティブエッジトリガのアップカウンタの構成例と、(b)そのタイミングチャートである。 (a)ネガティブエッジトリガのアップカウンタの構成例と、(b)そのタイミングチャートである。 (a)ネガティブエッジトリガのダウンカウンタの構成例と、(b)そのタイミングチャートである。 ネガティブエッジトリガのアップカウンタを構成するFF回路の論理回路図である。 図8に示すFF回路の動作状態を示すタイミングチャートであり、(a)は1段目のFF回路、(b)は2段目のFF回路のタイミングチャートである。 ポジティブエッジトリガのダウンカウンタを構成するFF回路の論理回路図である。 図10に示すFF回路の動作状態を示すタイミングチャートであり、(a)は1段目のFF回路、(b)は2段目のFF回路のタイミングチャートである。 図10に示すアップカウンタと、図8に示すダウンカウンタの動作タイミングと出力値との関係を示した説明図である。 (a)はアップカウンタによるカウントの様子、(b)はダウンカウンタによるカウントの様子を示す概念図である。 撮像装置の概要構成を例示するブロック図である。 従来のカラムADC方式の固体撮像素子の概要構成図である。 従来のAD変換部群におけるカウンタブロックの概要構成図である。 従来のカウンタの構成例である。
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明に係る固体撮像素子の一例として示す、カラムADC方式のCMOSイメージセンサのブロック図である。この図面を参照しながら、まず、固体撮像素子1の全体構成について説明する。
[1.固体撮像素子の全体構成 ]
固体撮像素子1は、画素アレイ部10、行走査回路20、AD変換部群30、列走査回路40、タイミング制御回路50、参照信号生成回路60、信号処理回路70などを有して構成される。
画素アレイ部10は、光電変換によって電荷を生成する画素11が、複数の行H及び列Vに沿ってマトリクス状に配置されて構成され、多数の画素11,11,11…からなる二次元平面の撮像部を形成する。
行走査回路20は、画素アレイ部10を構成する画素11,11,11…に行信号線21,21,21…を介して接続されており、タイミング制御回路50から出力される走査信号に基づいて行アドレスH0,H1…の指定や行走査を制御する。行信号線21は水平信号線、行走査回路20は垂直走査回路とも称される。
列走査回路40は、列信号線31,31,31…、及び列信号線ごとに設けられたAD変換部30a,30a…を介して、画素アレイ部10を構成する各画素11,11…に接続される。列走査回路40は、タイミング制御回路50から出力される走査信号に基づいて列アドレスV0,V1…の指定や列走査を制御する。列信号線31は垂直信号線、列走査回路40は水平走査回路とも称される。
AD変換部群30は、画素アレイ部10の複数の画素列(カラム)に対応して設けられた複数のAD変換部30a,30a…を有して構成される。各AD変換部30aは、画素11から出力されたアナログ信号を、撮像条件を考慮したうえで、信号レベルに応じたデジタル信号に変換して出力する。すなわち、AD変換部30aはカラムADC方式(列並列AD変換方式)のAD変換部を構成する。AD変換部30aの構成については後述するが、各AD変換部30aは各画素11から出力されるアナログ信号を、ランプ信号Rampを使用したAD変換及び相関二重サンプリング(CDS)によりデジタル信号に変換して出力する。
タイミング制御回路50は、行走査回路20、AD変換部群30、列走査回路40の動作を制御し、画素アレイ部10から読み出されAD変換部群30でAD変換されたデジタル信号を、水平出力線71を介して信号処理回路70に出力させる。
次に、このように概要構成される固体撮像素子1にあって、画素アレイ部10に設けられた画素11、及びAD変換部群30に設けられたAD変換部30aの構成について説明する。
[2.画素の構成 ]
図2に、画素(単位画素)11の代表的な構成例を示す。この画素11は、光電変換素子と4つのトランジスタで構成される、いわゆる4トランジスタ形態の画素である。
画素11は、光電変換素子としてのフォトダイオード12と、転送トランジスタ13、増幅トランジスタ14、選択トランジスタ15、及びリセットトランジスタ16の4つのトランジスタを能動素子として有する。これらのトランジスタは、行走査回路20により制御される。
フォトダイオード12は、入射する光を、その光量に応じた電荷に光電変換する。転送トランジスタ13は、フォトダイオード12とフローティング拡散層(Floating Diffusion)FDとの間に接続され、フォトダイオード12の電荷をFDに転送する。転送トランジスタ13のゲートに転送制御線を通じて行走査回路20から転送信号TRが与えられることで、フォトダイオード12で光電変換された電荷がFDに転送される。
FDには、増幅トランジスタ14のゲートが接続されている。増幅トランジスタ14は、選択トランジスタ15を介して列信号線31に接続され、選択トランジスタ15と共に、画素11外の定電流源17とソースフォロアを構成している。選択制御線を通して選択信号SELが選択トランジスタ15のゲートに与えられて選択トランジスタ15がオンすると、増幅トランジスタ14はFDの電位を増幅してその電位に応じた電圧を列信号線31に出力する。各画素11から出力された信号電圧は、列信号線31を通じて、各列のAD変換部30aに出力される。
リセットトランジスタ16は、電源ラインVDDとFDとの間に接続される。このリセットトランジスタ16のゲートに、リセット制御線を通して行走査回路20からリセット信号RSTが与えられることで、FDの電位が電源ラインVDDの電位にリセットされる。
より具体的には、画素11をリセットするときは、転送信号TRにより転送トランジスタ13をオン(活性化)してフォトダイオード12に溜まったノイズ成分の電荷をFDに掃き捨てる。次いで転送トランジスタ13をオフ、リセットトランジスタ16をオンして電源ラインVDDから基準電位を導入し、リセットトランジスタ16をオフする。これにより、FDは基準電位からノイズ成分の電位を差し引いたリセットレベルの電圧となる。そして、このときのFDの電圧を増幅トランジスタ14、選択トランジスタ15を通してアナログ信号として列信号線31に出力する。この出力が画素11のリセット時の画素信号、すなわちリセットレベルの画素信号(リセット成分)であり、FDをプリチャージするP相期間の出力であることからP相出力とも呼ばれる(図3を参照)。
次に、上記P相期間で転送トランジスタ13がオフとなった後、画素にはフォトダイオード12により光電変換された電荷が蓄積される。そこで、転送トランジスタ13をオンしてフォトダイオード12に蓄積された電荷をFDに転送する。このときFDがリセットレベルの電位であれば、FDはリセットレベルからさらに受光量に応じた電位が低下した電圧となる。そして、このときのFDの電圧を増幅トランジスタ14、選択トランジスタ15を通してアナログ信号として列信号線31に出力する。この出力が画素11の撮像時の画素信号(データ成分)であり、データ成分を取得するD相期間の出力であることからD相出力とも呼ばれる(図3を参照)。
そして、D相出力とP相出力との差分をとることにより、画素11ごとの出力のDC成分のばらつきだけでなく、FDリセットノイズ等も画像信号から除去することができる。これらの動作は、転送トランジスタ13、選択トランジスタ15及びリセットトランジスタ16の各ゲートが行単位で接続されていることから、一行分の各画素11について同時に並列的に行われる。D相出力とP相出力の差分を算出しデジタル信号化する処理は、AD変換部30aによって実行される。D相出力及びP相出力は、画素から読み出された原始的な信号であることから、以下では便宜的に原始画素信号と呼ぶことがある。
なお、図2では、全てのトランジスタをNチャンネルトランジスタとした構成を例示したが、一部または全部をPチャンネルトランジスタとしても同様の構成が可能である。また、転送トランジスタ13が無い構成、選択トランジスタ15を無くして電源全体で選択制御を行う構成、複数の画素で任意の構成要素を共有する構成等としてもよい。
[3.AD変換部の構成 ]
AD変換部30aは、比較器32とカウンタ35とを有し、画素11から出力されたリセットレベルのノイズ成分を含むアナログの画素信号を、ノイズ成分を除去した所定ビット数のデジタル信号に変換して出力する。なお、カウンタ35は、後に詳述するカウンタ35a及びカウンタ35bからなるが、これらを総称してカウンタ35と表記する。
比較器32には、画素11から出力された画素信号Vxが列信号線31を介して入力され、参照信号生成回路60で生成されたランプ信号Rampがランプ信号線61を介して入力される。ランプ信号Rampは、時間的に所定の傾きを持って線形に変化するスロープ波形の信号である。比較器32は、画素11から出力された画素信号Vxと、参照信号生成回路60で生成されたランプ信号Rampとを比較し、これらの信号の電圧レベルの大小に応じて、H(High)レベルまたはL(Low)レベルの比較信号を出力する回路である。そのため、画素信号Vxとランプ信号Rampの大小関係が入れ替わったときに、カウンタ35に出力される比較信号が反転する。
カウンタ35には、上記の比較器32から比較信号Compが入力され、タイミング制御回路50からクロック信号線66を介してクロック信号CLKが入力される。カウンタ35は、ランプ信号Rampの変動開始に同期してクロック信号CLKのパルスカウントを開始し、比較信号Compが反転するまでにカウントされたクロック信号CLKのパルス数を計測することによりアナログの画素信号Vxをデジタル信号に変換する。具体的な動作は次述するが、画素信号Vxとランプ信号Rampとの大小関係が入れ替わるまでの時間量(比較時間)を、タイミング制御回路50から出力されるクロック信号CLKのパルス数をカウントすることでデジタル値に変換する。これにより、カウンタ35は、リセットレベル等のノイズを含んだアナログの画素信号Vx(原始画素信号)を、ノイズを除去したデジタルの画素信号Vxに変換して出力する機能を有している。
なお、カウンタ35によりカウントされた比較時間のカウント値を保持するメモリ手段(例えばnビットのラッチ回路)を設けることは好ましい構成形態である。このような構成によれば、比較器32による比較及びカウントと、カウント値の出力との並列動作ができ、高速並列動作が可能となる。
カウンタ35は、アップカウンタ、ダウンカウンタ、アップダウンカウンタのいずれを用いても上記機能を実現することができる。ここでは、まず基本的な作用を説明するため、アップダウンカウンタを用いた場合を例として説明する。
図3に、固体撮像素子1の動作例を説明するためのタイミングチャートを示す。この図において、(a)は画素11から比較器32に出力される画素信号(原始画素信号)Vx、(b)は参照信号生成回路60から比較器32に供給されるランプ信号Rampを示す。また(c)は比較器32からカウンタ35に出力される比較信号Comp、(d)はタイミング制御回路50からカウンタ35に供給されるクロック信号CLKを示す。
各画素11から出力される画素信号Vxは、図3(a)に示すように、フローティング拡散層FDをプリチャージするP相期間では、基準電位からわずかに低下したリセットレベルの画素信号(リセット成分)が出力される。リセット成分は、電源ラインVDDから基準電位の導入後、通常では短時間で一定レベルになる。また、画像データを取得するD相期間では、画素11のフォトダイオード12に蓄積された電荷がFDに転送され、受光量に応じた画素信号(データ成分)が出力される。データ成分は、受光量に応じて転送開始とともに大きく変化し、その後時間の経過に伴ってほぼ一定レベルになる。
参照信号生成回路60から供給されるランプ信号Rampは、図3(b)に示すように、リセットレベルの画素信号を基準として設定された所定の初期電圧から一定の傾きで電圧が降下するスロープ状の信号である。ランプ信号Rampは、画素信号の電圧変化が小さいP相の期間よりも、電圧変化が大きいD相の期間が長くなっている。なお、参照信号生成回路60は、P相期間とD相期間の切替え時に一旦リセットされ、P相期間及びD相期間の開始時には、オートゼロ処理により調整された上記初期値の一定電圧のランプ信号が出力される。
比較器32は、画素11から出力される画素信号Vxと、参照信号生成回路60から供給されるランプ信号Rampとを比較し、比較結果を比較信号Compとして出力する。図示する構成例においては、画素信号Vxの電圧がランプ信号Rampの電圧以下であるときにHレベル、画素信号Vxの電圧がランプ信号Rampの電圧を超えているときにLレベルの比較信号を出力する。すなわち、比較器32は、単位時間当たり一定の傾きで降下するランプ信号の電圧が画素信号の電圧と同一になり、さらにランプ信号の電圧が低下して画素信号の電圧未満になると、図3(c)に示すようにHレベルからLレベルに遷移する比較信号を出力する。
タイミング制御回路50は、図3(d)に示すような所定周波数のクロック信号CLK、例えば、500MHzのクロック信号を生成し、クロック信号線66を介して各列のカウンタ35に供給する。
カウンタ35は、ランプ信号Rampのレベル変化(減少スロープ開始)に同期して、タイミング制御回路50から供給されるクロック信号CLKのパルスカウントを開始し、ランプ信号Rampとカウント値が時間的に一対一の対応関係で変化する。そして、比較器32から入力される比較信号が反転するまでクロック信号CLKのパルスカウントを実行し、カウント開始から比較信号Compが反転するまでにカウントされたクロック信号CLKのパルス数を計測する。すなわち、ランプ信号の変動開始からランプ信号Rampと画素信号Vxとの大小関係が逆転するまでの時間量(アナログ値)を、クロック信号のパルス数をカウントすることによってカウント値というデジタル値に変換する。
カウンタ35によるカウントは、図3(e)に示すように、P相期間にリセット成分を計測する第1回目のカウントと、D相期間にデータ成分を計測する第2回目のカウントの二回実行される。ここで、カウンタ35が、アップカウンタまたはダウンカウンタのようにP相及びD相とも一方向にカウントするカウンタである場合には、第1回目のカウント終了後にカウント値の反転が行われ、第2回目のカウントの初期値となる。例えば(e)に示すように、第1回目のカウントのカウント値がCpであった場合に、P相期間が終了すると図示省略するカウンタ制御回路によりカウント値の反転が行われ、D相期間の第2回目のカウントは初期値が−Cpから開始される。
第2回目のカウントは第1回目のカウントと同様に行われる。すなわち、カウンタ35はランプ信号Rampの電圧降下開始に同期してクロック信号CLKのパルスカウントを開始し、比較器32から出力される比較信号Compが反転するまでのクロック信号CLKのパルス数をカウントする。そして、カウント開始から比較信号Compが反転するまでにカウントされたクロック信号CLKのパルス数を計測する。
このようにして計測されたカウント値は、図3(e)において明らかなように、リセット成分を含んだデータ成分のカウント値から、リセット成分のカウント値を差し引いたクロック信号CLKのパルス数である。すなわち、画素11により得られた原始画素信号からリセットレベルのノイズ成分を除去し、かつアナログ信号である原始画素信号を所定ビット数のデジタル信号にAD変換して、デジタル化した画素信号が出力される。
以上は、カウンタ35をアップカウンタとした場合を例に説明したが、カウンタ35がダウンカウンタの場合についても同様である。なお、カウンタ35がアップダウンカウンタの場合には、P相期間の第1回目のカウントをダウンカウントとし、D相期間の第2回目のカウントをアップカウントとするものであり、行われる処理(差分処理及びデジタル化)は同様である。
ここで、図16,図17に示したように、従来の固体撮像素子では、AD変換部群130を構成するカウンタ135,135…が全て同じ動作形態のカウンタで構成されていた。そのため、デジタル信号のビット数に応じて直列接続されたFF回路における、同一ビットのFF回路が全列同時に動作し、カウント動作時のピーク電流が大きくなるという課題があった。またピーク電流が大きいと寄生抵抗により電源ラインのIRドロップ量が大きくなり、電源回路の動作マージンに余裕がなくなるという課題があった。
本発明においては、これらの課題を解決するため、以下のようにAD変換部群30を構成している。以下、AD変換部群30の詳細構成について説明する。
[4.AD変換部群の詳細構成]
固体撮像素子1においては、AD変換部群30を構成する複数のAD変換部30a,30a…のうち、一部のAD変換部は、カウンタ35がクロック信号CLKの立ち上がりでカウント動作するポジティブエッジトリガのカウンタ35aである。そして、残りのAD変換部は、カウンタがクロック信号CLKの立ち下がりでカウント動作するネガティブエッジトリガのカウンタ35bで構成される。
すなわち、並列に並んだ多数のカウンタのうち一部のAD変換部のカウンタ35aがクロック信号CLKの立ち上がりでカウント動作(カウント出力が変化)し、残りのAD変換部のカウンタ35bがクロック信号CLKの立ち下がりでカウント動作する。このため、固体撮像素子1では全てのカウンタが一斉に同一動作することがなく、ピーク電流を抑制することができる。以下、ポジティブエッジトリガを「Pエッジトリガ」、ネガティブエッジトリガを「Nエッジトリガ」と略記する。
この場合において、AD変換部30aの半数がPエッジトリガのカウンタ35aを備えたAD変換部、残りの半数がNエッジトリガのカウンタ35bを備えたAD変換部とすれば、ピーク電流値を半減し電源回路の動作マージンを確保できる。また、Pエッジトリガのカウンタ35aと、Nエッジトリガのカウンタ35bとが交互に配置されるような構成(例えばカウンタ35aを奇数列、カウンタ35bを偶数列に配置する構成)によれば、駆動電流の分布を均一化することができる。
図4に、AD変換部群30におけるカウンタブロックの構成を例示する。カウンタブロックは、画素11の各列に対応するカウンタ(カウンタカラム)35a,35b…及びカウンタ制御回路36が基板上に並んで一体的に形成される。カウンタブロックにおけるPエッジトリガのカウンタ35aと、Nエッジトリガのカウンタ35bとは、カウンタブロックを構成するカウンタ総数の半分ずつ、交互に並んで配置される。各カウンタ35は、同図中に示すように、デジタル信号のビット数(変換ビット数)に応じた複数のFF回路により構成される。
以降では、Pエッジトリガのカウンタ35a、及びNエッジトリガのカウンタ35bについて詳細に説明する。
[4−1.PエッジトリガのカウンタとNエッジトリガのカウンタ]
(1)Pエッジトリガのカウンタ
まず、Pエッジトリガのカウンタ35aとNエッジトリガのカウンタ35bの、具体的な構成及び作用について、図5及び図6を併せて参照しながら説明する。本実施形態は、Pエッジトリガのカウンタ35a及びNエッジトリガのカウンタ35bともにアップカウンタとした構成を例示する。ここで、図5は、(a)Pエッジトリガのカウンタ35aの構成例と、(b)そのタイミングチャートである。図6は、(a)Nエッジトリガのカウンタ35bの構成例と、(b)そのタイミングチャートである。両図(b)の波形は、上段からクロック信号CLK、1段目のFF回路の出力Q0、2段目のFF回路の出力Q1、3段目のFF回路の出力Q2である。
図5(a)に示すPエッジトリガのカウンタ35aは、PエッジトリガのD−FF(Delay-Flip Flop)を利用したT−FF(Toggle-Flip Flop)37a0,37a1,37a2…を、デジタル信号のビット数に応じた段数分接続した構成例である。すなわち、カウンタ35aは、1段目のFF回路37a0,2段目のFF回路37a1,3段目のFF回路37a2…が直列接続されて構成される。
1段目のFF回路37a0では、クロック端子C0にクロック信号線66が接続されており(図1を参照)、タイミング制御回路50から出力されたクロック信号CLKが入力される。また、FF回路37a0の反転出力端子Q0バーとデータ端子D0とが接続され、出力端子Q0から1段目(第0ビット)のカウント値が出力される。
2段目のFF回路37a1では、クロック端子C1に1段目のFF回路37a0の反転出力端子Q0バーが接続され、1段目のFF回路37a0の反転出力が入力される。また、FF回路37a1の反転出力端子Q1バーとデータ端子D1が接続され、出力端子Q1から2段目(第1ビット)のカウント値が出力される。
3段目のFF回路37a2では、クロック端子C2に2段目のFF回路37a1の反転出力端子Q1バーが接続され、2段目のFF回路37a1の反転出力が入力される。また、FF回路37a2の反転出力端子Q2バーとデータ端子D2が接続され、出力端子Q2から3段目(第2ビット)のカウント値が出力される。4段目(第3ビット)以降のFF回路37a3…は、2段目,3段目のFF回路37a1,37a2と同様に接続され、同様に動作する。
このように構成されるPエッジトリガのカウンタ35aは、図5(b)に示すように動作する。各段のFF回路の出力端子Q0,Q1,Q2,…から出力される初期の出力(カウント値)は全ビットとも0である。
まず、1段目のFF回路37a0は、入力されたクロック信号CLKの1つ目のパルスP1の立ち上がりで時刻tに出力が0から1(LレベルからHレベル)に遷移し、2つ目のパルスP2の立ち上がりで時刻t3に出力が1から0に遷移する。3つ目以降のパルスP3…についても同様であり、クロック信号CLKのパルスの立ち上がりごとにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。
2段目のFF回路37a1は、クロック端子C1に1段目のFF回路37a0の反転出力端子Q0バーが接続されており、1段目のFF回路37a0の反転出力が入力される。このため、2段目のFF回路37a1は、1段目のFF回路37a0の反転出力が0から1に変化したとき(出力が1から0に変化したとき)に、出力が変化する。具体的には、2段目のFF回路37a1は、カウント開始後に1段目のFF回路37a0の出力が最初に1から0に変化する時刻t3に出力が0から1に遷移し、2回目に変化する時刻t7に1から0に遷移する。3回目以降も同様であり、1段目のFF回路37a0の出力が1から0に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作は、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち上がりのタイミングである。
3段目のFF回路37a2は、クロック端子C1に2段目のFF回路37a1の反転出力端子Q1バーが接続されており、2段目のFF回路37a1の反転出力が入力される。このため、3段目のFF回路37a2は、2段目のFF回路37a1の反転出力が0から1(出力が1から0)に変化したときに、出力が変化する。具体的には、カウント開始後に2段目のFF回路37a1の出力が最初に1から0に変化する時刻t7に出力が0から1に遷移し、2回目に変化する時刻t15に1から0に遷移する。3回目以降も同様であり、2段目のFF回路37a1の出力が1から0に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち上がりタイミングである。
4段目以降のFF回路37a3…についても、各クロック端子に前段のFF回路の反転出力端子が接続されており、前段のFF回路の反転出力が入力される。従って、4段目以降のFF回路の動作は、2段目,3段目のFF回路の動作と同様であり、前段のFF回路の反転出力が0から1(出力が1から0)に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち上がりタイミングである。なお、同期式のFF回路を用いた場合には遅れを生じることなく、全段のFF回路がクロック信号CLKのパルスの立ち上がりのタイミングに同期して動作する。
(2)Nエッジトリガのカウンタ
図6に示すNエッジトリガのカウンタ35bは、NエッジトリガのD−FFを利用したT−FF37b0,37b1,37b2…を、デジタル信号のビット数に応じた段数分接続した構成例である。すなわち、カウンタ35bは、1段目のFF回路37b0,2段目のFF回路37b1,3段目のFF回路37b2…が直列接続されて構成される。
1段目のFF回路37b0では、クロック端子C0にクロック信号線66が接続されており、タイミング制御回路50から出力されたクロック信号CLKが入力される。また、FF回路37b0の出力端子Q0とデータ端子D0とが接続され、出力端子Q0から1段目(第0ビット)のカウント値が出力される。
2段目のFF回路37b1では、クロック端子C1に1段目のFF回路37b0の出力端子Q0が接続され、1段目のFF回路37b0の出力が入力される。また、FF回路37b1の出力端子Q1とデータ端子D1が接続され、出力端子Q1から2段目(第1ビット)のカウント値が出力される。
3段目のFF回路37b2では、クロック端子C2に2段目のFF回路37b1の出力端子Q1が接続され、2段目のFF回路37b1の出力が入力される。また、FF回路37b2の出力端子Q2とデータ端子D2が接続され、出力端子Q2から3段目(第2ビット)のカウント値が出力される。以下、4段目(第3ビット)以降のFF回路37b3…は、2段目,3段目のFF回路37b1,37b2と同様に接続され、同様に動作する。
このように構成されるNエッジトリガのカウンタ35bは、図6(b)に示すように動作する。各段のFF回路の出力端子Q0,Q1,Q2,…から出力される初期の出力(カウント値)は全ビットとも0である。
まず、1段目のFF回路37b0は、入力されたクロック信号CLKの1つ目のパルスP1の立ち下がりで時刻t2に出力が0から1(HレベルからLレベル)に遷移し、2つ目のパルスP2の立ち下がりで時刻t4に出力が1から0に遷移する。3つ目の以降のパルスP3…についても同様であり、クロック信号CLKのパルスの立ち下がりごとにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。
2段目のFF回路37b1は、クロック端子C1に1段目のFF回路37b0の出力端子Q0が接続されており、1段目のFF回路37b0の出力が入力される。このため、2段目のFF回路37b1は、1段目のFF回路37b0の出力が1から0に変化したときに、出力が変化する。具体的には、2段目のFF回路37b1は、カウント開始後に1段目のFF回路37b0の出力が最初に1から0に変化する時刻t4に出力が0から1に遷移し、2回目変化する時刻t8に1から0に遷移する。3回目以降についても同様であり、1段目のFF回路37b0の出力が1から0に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作は、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち下がりのタイミングである。
3段目のFF回路37b2は、クロック端子C1に2段目のFF回路37b1の出力端子Q1が接続されており、2段目のFF回路37b1の出力が入力される。このため、3段目のFF回路37b2は、2段目のFF回路37b1の出力が1から0に変化したときに、出力が変化する。具体的には、3段目のFF回路37b2は、カウント開始後に2段目のFF回路37b1の出力が最初に1から0に変化する時刻t8に出力が0から1に遷移し、2回目に変化する時刻t16に1から0に遷移する。3回目以降も同様であり、2段目のFF回路37b1の出力が1から0に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち下がりタイミングである。
4段目以降のFF回路37b3…についても、各クロック端子に前段のFF回路の出力端子が接続されており、前段のFF回路の出力が入力される。従って、4段目以降のFF回路の動作は、2段目,3段目のFF回路37b1の動作と同様であり、前段のFF回路の出力が1から0に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち下がりタイミングである。なお、同期式のカウンタを用いた場合には遅れを生じることなく、各段のカウンタともクロック信号CLKのパルスの立ち下がりのタイミングに同期して動作する。
以上のような動作の結果、図5(b)及び図6(b)から明らかなように、これらのPエッジトリガのカウンタ35a及びNエッジトリガのカウンタ35bは、ともにアップカウンタとして機能する。両カウンタの動作時期についてまとめると、Pエッジトリガのカウンタ35aは、カウンタを構成する各段のFF回路37a0,37a1,37a2…が、いずれもクロック信号の立ち上がりタイミング、すなわち時刻t,t3,t5,t7…に動作する。一方、Nエッジトリガのカウンタ35bは、このカウンタを構成する各段のFF回路37b0,37b1,37b2…が、いずれもクロック信号CLKの立ち下がりタイミング、すなわち時刻t2,t4,t6,t8…に動作する。つまり、図5(b)と図6(b)とを対比して明らかなように、Pエッジトリガのカウンタ35aとNエッジトリガのカウンタ35bとは、対応する各段のFF回路が、クロック信号CLKのパルス周期の半周期分(半クロック分)ずれて動作する。
このため、カウンタを駆動する駆動電流が時間的に分散され、ピーク電流を抑制することができ、電源ラインのIRドロップ量を抑制し、電源回路の動作マージンを確保することができる。特に、固体撮像素子1では、Pエッジトリガのカウンタ35aとNエッジトリガのカウンタ35bとを半数ずつ交互に並べて配置しているため、カウンタ動作時のピーク電流を従来比1/2に減少させることができ、且つ電流分布を均一化できる。
以上では、Pエッジトリガのカウンタ35a及びNエッジトリガのカウンタ35bを共にアップカウンタとした構成を例示したが、上記説明から明らかなように、両カウンタをダウンカウンタまたはアップダウンカウンタとすることもできる。また、説明簡明化のため、両カウンタともD−FFを利用した構成を例示したが、適宜他のFFを利用して構成してもよい。例えば、PエッジトリガのJK−FFとNエッジトリガのJK−FFを利用して同様に構成することができ、D−FFとJK−FFとを組み合わせて同様の構成を得ることができる。
[4−2.アップカウンタとダウンカウンタ]
次に、Pエッジトリガのカウンタ35a及びNエッジトリガのカウンタ35bのうち、一方をアップカウンタとし、他方をダウンカウンタとする構成について説明する。説明を簡明化するため、図5に示したPエッジトリガのカウンタ35aをアップカウンタとし、図7に示すNエッジトリガのカウンタ35b’をダウンカウンタとする形態について説明する。
なお、図6に示したNエッジトリガのカウンタ(アップカウンタ)35bとの混同を避けるため、図7に示すNエッジトリガのカウンタ(ダウンカウンタ)については符号を35b’とし、FF回路についても同様に符号「’」を付して表記する。また、本項においては、説明の便宜上から、図5のPエッジトリガのカウンタ35aをアップカウンタ、図7のNエッジトリガのカウンタ35b’をダウンカウンタと表記する。
図7は、(a)ダウンカウンタ35b’の構成例と、(b)そのタイミングチャートであり、(b)に示す各波形は、上段からクロック信号CLK、1段目のFF回路の出力Q0、2段目のFF回路の出力Q1、3段目のFF回路の出力Q2である。
図7(a)に示すダウンカウンタ35b’は、NエッジトリガのD−FFを利用したT−FF37b0’,37b1’,37b2’…を、デジタル信号のビット数に応じた段数分接続した構成例である。すなわち、ダウンカウンタ35b’は、1段目のFF回路37b0’,2段目のFF回路37b1’,3段目のFF回路37b2’…が直列接続されて構成される。
1段目のFF回路37b0’では、クロック端子C0にクロック信号線66が接続されており、タイミング制御回路50から出力されたクロック信号CLKが入力される。また、FF回路37b0’の反転出力端子Q0バーとデータ端子D0とが接続され、出力端子Q0から1段目(第0ビット)のカウント値が出力される。
2段目のFF回路37b1’においては、クロック端子C1に1段目のFF回路37b0’の反転出力端子Q0バーが接続され、1段目のFF回路37b0’の反転出力が入力される。また、FF回路37b1’の反転出力端子Q1バーとデータ端子D1が接続され、出力端子Q1から2段目(第1ビット)のカウント値が出力される。
3段目のFF回路37b2’においては、クロック端子C2に2段目のFF回路37b1’の反転出力端子Q1バーが接続され、2段目のFF回路37b1’の反転出力が入力される。また、FF回路37b2’の反転出力端子Q2バーとデータ端子D2が接続され、出力端子Q2から3段目(第2ビット)のカウント値が出力される。4段目(第3ビット)以降のFF回路37b3’…は、2段目,3段目のFF回路37b1’,37b2’と同様に接続され、同様に動作する。
このように構成されるNエッジトリガのダウンカウンタ35b’は、図7(b)に示すように動作する。各段のFF回路の出力端子Q0,Q1,Q2,…から出力される初期の出力(カウント値)は全ビットとも0である。
まず、1段目のFF回路37b0’は、入力されたクロック信号CLKの1つ目のパルスP1の立ち下がりで時刻t2に出力が0から1(LレベルからHレベル)に遷移し、2つ目のパルスP2の立ち下がりで時刻t4に出力が1から0に遷移する。3つ目以降のパルスP3…についても同様であり、クロック信号CLKのパルスの立ち下がりごとにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。
2段目のFF回路37b1’は、クロック端子C1に1段目のFF回路37b0’の反転出力端子Q0バーが接続されており、1段目のFF回路37b0’の反転出力が入力される。このため、2段目のFF回路37b1は、1段目のFF回路37b0’の反転出力が1から0に変化したとき(出力が0から1に変化したとき)に、出力が変化する。具体的には、2段目のFF回路37b1’は、カウント開始後に1段目のFF回路37b0’の出力が最初に0から1に変化する時刻t2に出力が0から1に遷移し、2回目に変化する時刻t6に1から0に遷移する。3回目以降も同様であり、1段目のFF回路37b0’の出力が0から1に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作は、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち下がりのタイミングである。
3段目のFF回路37b2’は、クロック端子C1に2段目のFF回路37b1’の反転出力端子Q1バーが接続されており、2段目のFF回路37b1’の反転出力が入力される。このため、3段目のFF回路37b2’は、2段目のFF回路37b1’の反転出力が1から0(出力が0から1)に変化したときに、出力が変化する。具体的には、3段目のFF回路37b2’は、カウント開始後に2段目のFF回路37b1’の出力が最初に0から1に変化する時刻t2に出力が0から1に遷移し、2回目に変化する時刻t10に1から0に遷移する。3回目以降も同様であり、2段目のFF回路37b1’の出力が0から1に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち下がりタイミングである。
4段目以降のFF回路37b3’…についても、各クロック端子に前段のFF回路の反転出力端子が接続されており、前段のFF回路の反転出力が入力される。従って、4段目以降のFF回路の動作は、2段目,3段目のFF回路の動作と同様であり、前段のFF回路の反転出力が1から0(出力が0から1)に変化するたびにカウント値が1,0,1,0…のように変化する。この動作も、微小な遅れを無視すると、いずれもクロック信号CLKのパルスの立ち上がりタイミングである。なお、同期式のFF回路を用いた場合には遅れを生じることなく、全段のFF回路がクロック信号CLKのパルスの立ち下がりのタイミングに同期して動作する。
以上のような動作の結果、図7(b)から明らかなように、このNエッジトリガのカウンタ35b’はダウンカウンタとして機能する。そのうえで、図5(b)に示すアップカウンタ35aと図7(b)に示すダウンカウンタ35b’の動作時期についてまとめると、以下のようになる。まず、アップカウンタ35aは、このカウンタを構成する各段のFF回路37a0,37a1,37a2…が、いずれもクロック信号CLKの立ち上がりタイミングすなわち時刻t,t3,t5,t7…に動作する。一方、ダウンカウンタ35b’は、このカウンタを構成する各段のFF回路37b0,37b1,37b2…が、いずれもクロック信号CLKの立ち下がりタイミング、すなわち時刻t2,t4,t6,t10…に動作する。つまり、図5(b)及び図7(b)から明らかなように、アップカウンタ35aとダウンカウンタ35b’とは、各段のFF回路の動作点がクロック信号のパルス周期の半周期分(半クロック分)以上ずれており、3段目以降では大きく離れて動作する。
このため、カウンタを駆動する駆動電流が時間的に分散され、ピーク電流を抑制することができ、電源ラインのIRドロップ量を抑制し、電源回路の動作マージンを確保することができる。特に、固体撮像素子1では、アップカウンタ35aとダウンカウンタ35b’とを半数ずつ交互に並べて配置しているため、カウンタ動作時のピーク電流を従来比1/2以下に減少させることができ、且つ電流分布を均一化することができる。
以上では、Pエッジトリガのカウンタ35aをアップカウンタとし、Nエッジトリガのカウンタ35b’をダウンカウンタとした構成を例示したが、これらを逆転した構成とすることもできる。また、説明簡明化のため、両カウンタともD−FFを利用した構成を例示したが、適宜他のFF回路を利用して構成してもよい。例えば、JK−FFを利用したアップカウンタとダウンカウンタを利用して同様に構成することができ、D−FFとJK−FFとを組み合わせて同様の構成を得ることができる。
[4−3.FF回路の具体的な構成例]
次に、Nエッジトリガのアップカウンタを構成するFF回路と、Pエッジトリガのダウンカウンタを構成するFF回路の具体的な構成例及び作用について、図8〜図11を参照して説明する。なお、以上説明した各カウンタ及びFF回路との混乱を避けるため、Nエッジトリガのアップカウンタ及びこれを構成するFF回路を、それぞれアップカウンタ350a及びFF回路370aと表記する。同様に、Pエッジトリガのダウンカウンタ及びこれを構成するFF回路を、それぞれダウンカウンタ350b及びFF回路370bと表記する。
図8は、アップカウンタ350aを構成するFF回路370aの論理回路図、図9(a)(b)は、それぞれ1段目,2段目のFF回路の各部の動作状態を示すタイミングチャートである。また、図10は、ダウンカウンタ350bを構成するFF回路370bの論理回路図、図11(a)(b)は、それぞれ1段目,2段目のFF回路の各部の動作状態を示すタイミングチャートである。なお、図9,図11における波形は、それぞれ上段から、クロック信号CLK、各FF回路におけるノードA,ノードB,ノードCの各位置の信号、及び各FF回路から出力されるカウンタ出力である。なお、図9及び図11中に付記した一点鎖線は、各段の対応する動作タイミングを示すものである。
(1)Nエッジトリガのアップカウンタを構成するFF回路
アップカウンタを構成するFF回路370aは、図8に示すように7つの素子(論理ゲート)を配線接続して構成される。素子1,2,3,6,7はインバータ、素子4はNORゲート、素子5はスイッチ素子(スイッチ回路)である。
FF回路370aでは、素子6及び素子7が環状に接続されて第1のラッチ回路L1が形成され、素子3及び素子4が環状に接続されて第2のラッチ回路L2が形成され、第2のラッチ回路の出力が素子5を介して第1のラッチ回路に接続される。素子7の出力(第1のラッチ回路L1の出力)は、カウンタ出力としてFF回路370aから出力されるとともに、素子2を介して第2のラッチ回路L2に入力される。
素子2の出力及び素子3の出力が一方の入力に接続される素子4(NORゲート)の他方の入力には、カウンタ制御回路から制御信号が供給され、カウント動作のオンオフが制御される。具体的には、カウント時に制御信号が0(Lレベル)になり、素子2または素子3の出力レベルに応じて素子4の出力が0または1に変化する。カウント停止時には制御信号が1(Hレベル)になり、素子2及び素子3の出力レベルにかかわらず素子4の出力(第2のラッチ回路L2の出力)が0になる。
素子2,3,5,6にはイネーブル回路が付設されており、FF回路370aの入力信号、及び素子1により反転された反転入力信号により活性化される。具体的には、素子2及び素子6は、入力信号が1(Hレベル)のときに活性化され、素子3及び素子5は、入力信号が0(Lレベル)のときに活性化される。素子5は、例えばNMOSトランジスタとPMOSトランジスタの互いのドレイン−ソースが接続されて構成される。
1段目のFF回路にはタイミング制御回路50から出力されたクロック信号(クロック)CLKが入力され、2段目以降は前段のFF回路の出力(カウンタ出力)が入力される。
このように構成されるFF回路370aは、図9に示すように動作する。図9の(a)(b)は、それぞれ1段目,2段目のFF回路の各部の動作状態を示すタイミングチャートである。なお各段のFF回路の初期の出力(カウント値)は全段とも0である。
まず、1段目のFF回路370aのクロックのノードに、クロック信号CLKの1つ目のパルスP1が入る。このとき、時刻t1のパルスの立ち上がりで素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。
そのため、素子6及び素子7からなる第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の初期出力値0が素子2で反転されてノードAの信号値が1(Hレベル)になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が0(Lレベル)になる。このとき、素子3及び素子5はディセーブルであるため、素子4の出力が素子5によって遮断され、素子7から出力されるカウント値(カウンタ出力)は、素子6及び素子7による第1のラッチ回路L1にラッチされた信号値0が維持される。
次に、時刻t2のパルスP1の立ち下がりで、素子2及び素子6がディセーブルになり、代わりに素子3及び素子5がイネーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて最初のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、素子4の出力値0が素子5を通ってノードCの信号値が0になり、これが素子7により反転されて、1段目のFF回路のカウント値が時刻t2に0から1(LレベルからHレベル)に遷移する。
時刻t3には、2つ目のパルスP2が立ち上がり、素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。そのため、素子6及び素子7からなる第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値(カウント値)1が素子2で反転されてノードAの信号値が0になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が1になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値1が1段目のFF回路の出力として維持される。
時刻t4には、2つ目のパルスP2が立ち下がり、素子2及び素子6がディセーブルになり、素子3及び素子5がイネーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて先のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、素子4の出力値1が素子5を通ってノードCの信号値が1になり、これが素子7により反転されて、1段目のFF回路のカウント値が時刻t4に1から0(HレベルからLレベル)に遷移する。
以降、クロック信号CLKのパルスが入るたびに上記動作が行われ、カウンタ出力値が0,1,0,1…と次のビットのカウンタへ伝わりカウント動作が行われる。
2段目のFF回路370aは、FF回路の入力信号がクロック信号CLKでなく、1段目のFF回路のカウント出力である点を除き、上記1段目のFF回路の動作と同様である。すなわち、1段目のFF回路から出力されるカウント値のパルスをS1,S2,S3…としたときに、2段目のFF回路では、クロック信号CLKのパルスP1,P2,P3…に代えてカウント値のパルスS1,S2,S3…を入力信号とすることで同様に動作する。
例えば、時刻tに1つ目のカウント値のパルスS1が立ち上がり、素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。そのため、素子6及び素子7からなる第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の初期出力値0が素子2で反転されてノードAの信号値が1になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が0になる。このとき、素子3及び素子5はディセーブルであるため、素子4の出力が素子5によって遮断され、素子7から出力されるカウント値は、第1のラッチ回路L1にラッチされた信号値0が維持される。
次に、時刻t4のパルスS1の立ち下がりで、素子2及び素子6がディセーブルになり、代わりに素子3及び素子5がイネーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて最初のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、素子4の出力値0が素子5を通ってノードCの信号値が0になり、これが素子7により反転されて、2段目のFF回路のカウント値が時刻t4に0から1に遷移する。
時刻t7には、2つ目のパルスS2が立ち上がり、素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。そのため第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値(カウント値)1が素子2で反転されてノードAの信号値が0になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が1になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値1が2段目のFF回路の出力として維持される。
時刻t8には、2つ目のパルスS2が立ち下がり、素子2及び素子6がディセーブルになり、素子3及び素子5がイネーブルになる。そのため第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて先のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、素子4の出力値1が素子5を通ってノードCの信号値が1になり、これが素子7により反転されて、2段目のFF回路のカウント値が時刻t8に1から0に遷移する。
以降、1段目のFF回路からカウント値のパルスが入るたびに上記動作が行われ、カウンタ出力値が0,1,0,1…と次のビットのカウンタへ伝わりカウント動作が行われる。
以上説明した動作、及び図9(a)(b)から理解されるように、このFF回路370aを直列接続したカウンタ回路350aは、入力信号のパルスの立下りでカウント動作するアップカウンタ、すなわちNエッジトリガのアップカウンタであることが分かる。
(2)Pエッジトリガのダウンカウンタを構成するFF回路
次に、ダウンカウンタを構成するFF回路370bは、図10に示すように7つの素子(論理ゲート)を配線接続して構成される。素子1,2,3,6,7はインバータ、素子4はNORゲート、素子5はスイッチ素子である。
第2のFF回路370bにおいても、素子6及び素子7により第1のラッチ回路L1が形成され、素子3及び素子4により第2のラッチ回路L2が形成されて、第2のラッチ回路L2の出力が素子5を介して第1のラッチ回路L1に接続される。素子7の出力(第1のラッチ回路L1の出力)は、カウンタ出力としてFF回路370bから出力されるとともに、素子2を介して第2のラッチ回路L2に入力される。
また、素子2の出力及び素子3の出力が一方の入力に接続される素子4(NORゲート)の他方の入力には、カウンタ制御回路から制御信号が供給され、カウント動作のオンオフが制御される。この制御は第1のFF回路370aと同様である。
素子2,3,5,6にはイネーブル回路が付設されており、FF回路370bの入力信号、及び素子1により反転された反転入力信号により活性化される。具体的には、素子2及び素子6は、入力信号が0(Lレベル)のときに活性化され、素子3及び素子5は、入力信号が1(Hレベル)のときに活性化される。1段目のFF回路にはタイミング制御回路50から出力されたクロック信号(クロック)CLKが入力され、2段目以降は前段のFF回路の出力(カウンタ出力)が入力される。
以上の構成(図8及び図10)から明らかなように、第1のFF回路370aと、第2のFF回路370bとは、素子2,3,5,6に付設されたイネーブル回路の極性が正負反対である点を除き、同一かつ同数の論理ゲートを用いて構成される。
そして、第1のラッチ回路L1、第2のラッチ回路L2及びスイッチ回路(素子5)に含まれるイネーブル回路の極性が反転された第2のFF回路370bは、図11に示すように動作する。図11の(a)(b)は、図9(a)(b)と同様に、それぞれ1段目,2段目のFF回路の各部の動作状態を示すタイミングチャートである。なお、各段のFF回路の初期の出力(カウント値)は全段とも0である。
まず、1段目のFF回路370bのクロックのノードに、クロック信号CLKの1つ目のパルスP1が入る。このとき、時刻t1のパルスの立ち上がりで素子3及び素子5がイネーブルになり、素子2及び素子6がディセーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされたノードBの信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて最初のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、ノードBの信号値0が素子5を通ってノードCの信号値が0になり、これが素子7により反転されて、時刻t1に1段目のFF回路のカウント値が0から1(LレベルからHレベル)に遷移する。
次に、時刻t2のパルスP1の立ち下がりで、素子3及び素子5がディセーブルになり、代わりに素子2及び素子6がイネーブルになる。そのため、素子6及び素子7からなる第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値1が素子2で反転されてノードAの信号値が0になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が1になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値1が1段目のFF回路の出力として維持される。
時刻t3には、2つ目のパルスP2が立ち上がり、素子3及び素子5がイネーブルになり、素子2及び素子6がディセーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされたノードBの信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、これが素子7により反転されて初期のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、ノードBの信号値1が素子5を通ってノードCの信号値が1になり、これが素子7により反転されて、1段目のFF回路のカウント値が時刻t3に1から0に遷移する。このとき、素子2及び素子6はディセーブルであるため、第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値の反転出力0が1段目のFF回路のカウント値として出力される。
時刻t4には、2つ目のパルスP2が立ち下がり、素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。そのため第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値(カウント値)0が素子2で反転されてノードAの信号値が1になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が0になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値0が1段目のFF回路の出力として維持される。
以降、クロック信号CLKのパルスが入るたびに上記動作が行われ、カウンタ出力値が1,0,1,0…と次のビットのカウンタへ伝わりカウント動作が行われる。
2段目のFF回路370bは、FF回路の入力信号がクロック信号CLKでなく、1段目のFF回路のカウント出力である点を除き、上記1段目のFF回路の動作と同様である。すなわち、1段目のFF回路から出力されるカウント値のパルスをS1,S2,S3…としたときに、2段目のFF回路では、クロック信号CLKのパルスP1,P2,P3…に代えてカウント値のパルスS1,S2,S3…を入力信号とすることで同様に動作する。
例えば、時刻tの1つ目のカウント値のパルスS1の立ち上がりで、素子3及び素子5がイネーブルになり、素子2及び素子6がディセーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされたノードBの信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、素子7で反転されて最初のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、ノードBの信号値0が素子5を通ってノードCの信号値が0になり、これが素子7により反転されて、時刻t2に2段目のFF回路のカウント値が0から1に遷移する。
次に、時刻t4のパルスS1の立ち下がりで、素子3及び素子5がディセーブルになり、代わりに素子2及び素子6がイネーブルになる。そのため、素子6及び素子7からなる第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値1が素子2で反転されてノードAの信号値が0になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が1になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値1が2段目のFF回路の出力として維持される。
時刻t6には、2つ目のパルスS2が立ち上がり、素子3及び素子5がイネーブルになり、素子2及び素子6がディセーブルになる。そのため、素子3及び素子4からなる第2のラッチ回路L2にラッチされたノードBの信号値が素子5を通ってノードCに伝わり、これが素子7により反転されて初期のカウンタ値の反転信号が出力される。具体的には、ノードBの信号値1が素子5を通ってノードCの信号値が1になり、これが素子7により反転されて、1段目のFF回路のカウント値が時刻t3に1から0に遷移する。このとき、素子2及び素子6はディセーブルであるため、第2のラッチ回路L2にラッチされた信号値の反転出力0が2段目のFF回路のカウント値として出力される。
時刻t8には、2つ目のパルスS2が立ち下がり、素子2及び素子6がイネーブルになり、素子3及び素子5がディセーブルになる。そのため第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値が素子2で反転されてノードAに伝わり、ノードAの反転信号がノードBに伝わる。具体的には、素子7の出力値(カウント値)0が素子2で反転されてノードAの信号値が1になり、これが素子4により反転されてノードBの信号値が0になる。このとき、素子5がディセーブルのためノードCの信号値は変わらず、第1のラッチ回路L1にラッチされたカウント値0が2段目のFF回路の出力として維持される。
以降、クロック信号CLKのパルスが入るたびに上記動作が行われ、カウンタ出力値が1,0,1,0…と次のビットのカウンタへ伝わりカウント動作が行われる。
以上説明した動作、及び図11(a)(b)から理解されるように、このFF回路370bを直列接続したカウンタ回路350bは、入力信号のパルスの立ち上がりでカウント動作するダウンカウンタ、すなわちPエッジトリガのダウンカウンタであることが分かる。
そして、図9と図11とを対比して明らかなように、FF回路370aを直列接続したアップカウンタと、FF回路370bを直列接続したダウンカウンタとは、カウント動作する動作時期が異なっている。すなわち、FF回路370aを直列接続したアップカウンタにおいては、カウント動作のタイミングが時刻t2,t4,t6,t8…であるのに対し、FF回路370bを直列接続したダウンカウンタにおいては、カウント動作のタイミングが時刻t,t3,t5,t7…である。つまり、FF回路370aを直列接続したアップカウンタと、FF回路370bを直列接続したダウンカウンタとは、各段のFF回路の動作点が、クロック信号CLKのパルス周期の半周期分以上ずれており、3段目以降では大きく離れて動作する。
このため、カウンタを駆動する駆動電流が時間的に分散され、ピーク電流を抑制することができ、電源ラインのIRドロップ量を抑制し、電源回路の動作マージンを確保することができる。特に、固体撮像素子1では、カウンタ回路350aとカウンタ回路350bを半数ずつ交互に並べて配置しているため(図4を参照)、カウンタ動作時のピーク電流を従来比1/2以下に減少させることができ、且つ電流分布を均一化できる。さらに、本構成によれば、二つのFF回路370a,370bについて、同一かつ同数の論理ゲートを用いつつ、奇数列または偶数列のFF回路の配線接続(極性)を変更する簡明な構成で、上記効果を達成することができる。
以上の説明により本実施形態に係る固体撮像素子1の構成、作用、及び効果について十分理解できると解するが、念のため、図8〜図11に示したアップカウンタとダウンカウンタとを組み合わせた場合の、出力信号の処理について説明する。
[5.出力信号の処理について]
FF回路370aを直列接続したNエッジトリガのアップカウンタと、FF回路370bを直列接続したPエッジトリガのダウンカウンタとは、カウンタの動作時期及びカウント方向が異なっている。そこで、これらを組み合わせた場合に、両者の出力信号をどのように処理するかについて、図12〜図14を参照して簡潔に説明する。なお、以降では、FF回路370aを直列接続したNエッジトリガのアップカウンタを、端的に「アップカウンタ」と称し、FF回路370bを直列接続したPエッジトリガのダウンカウンタを、同様に「ダウンカウンタ」として説明する。
図12は、アップカウンタとダウンカウンタの動作タイミングと出力値との関係を示したものである。この図において、上段はダウンカウンタ、中段はアップカウンタであり、クロック信号CLKに対する第0ビット(1段目のFF回路)、第1ビット(2段目のFF回路)の出力信号を示す。また、上記二つのビットの出力値から求められるカウント値を、2進数と10進数で表記した表を付記している。そして、下段には前述した比較器(コンパレータ)32の出力信号(比較信号)と、比較信号が反転してラッチされるダウンカウンタ及びアップカウンタのカウント値を示している。
既述したところであるが、ダウンカウンタは、カウント動作のタイミングが時刻t,t3,t5,t7…であり、カウント値が10進数で3,2,1,0…のように変化する(図11を参照)。アップカウンタにおいては、カウント動作のタイミングが時刻t2,t4,t6,t8…であり、カウント値が10進数で0,1,2,3…のように変化する(図9を参照)。
アップカウンタ及びダウンカウンタは、比較器32から出力される比較信号Compが反転したときにカウントを停止し、そのカウント値がラッチされる。図示する例では、アップカウンタ及びダウンカウンタは、比較信号Compが反転した後にクロック信号CLKがLレベルとなったときにカウント動作を停止するようにした構成を示している。このように、比較信号Compが反転した後にクロック信号CLKのLレベル(またはHレベル)になったときにカウント動作を停止することにより、アップカウンタのカウント値とダウンカウンタのカウント値との相対関係が一定になる。図示する例では、ダウンカウンタのカウント値が10進数の1(−1)、アップカウンタのカウント値が10進数の3でラッチされる。
ところで、アップカウンタによるカウント、及びダウンカウンタによるカウントは、いずれも1回のカウント動作で取得される値ではなく、P相期間に行われるP相カウントとD相期間に行われるD相カウントの差分として算出される。そのため、両カウンタで得られた任意時刻のカウント値が図12に示したように異なっていても何ら影響を与えるものではなく、差分として算出されるカウント値は同一となる。図13は、このことを概念的に示したものである。
図13(a)は、アップカウンタによるカウントの様子を示したものである。図示するように、P相期間にダウンカウントされたP相カウントのカウント値は、P相期間の終了後に反転されてD相カウントの初期値となり、そこからダウンカウントされたD相カウントのカウント値が反転されてカウンタ出力となる。
図13(b)は、ダウンカウンタによるカウントの様子を示したものである。図示するように、P相期間にアップカウントされたP相カウントのカウント値は、P相期間の終了後に反転されてD相カウントの初期値となり、そこからアップカウントされたD相カウントのカウント値がカウンタ出力となる。
従って、P相期間のあるタイミングでラッチされたカウント値が、異なっていても何ら影響を与えるものではなく、差分として算出されるカウント値は同一となるのである。
[6.撮像装置]
以上説明した固体撮像素子1は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ、携帯電話等の撮像装置に好適に適用することができる。以下、本発明に係る固体撮像素子1を適用した撮像装置の構成例につい簡潔に説明する。図14に、撮像装置80の概要構成を例示するブロック図を示す。
撮像装置80は、レンズを含む光学系81、撮像デバイス82、信号処理部83及びシステムコントローラ84等によって構成される。
光学系81は、被写体からの像光をレンズ(レンズ群)によって撮像デバイス82の撮像面に結像する。撮像デバイス82は、光学系81によって撮像面に結像された像光を画素単位で電気信号に変換して得られる画像信号を出力する。この撮像デバイス82として、既述した実施形態に係るカラムAD変換方式の固体撮像素子(CMOSイメージセンサ)1が用いられる。
信号処理部83は、撮像デバイス82から出力される画像信号に対して種々の画像処理を行い被写体の画像を生成する。システムコントローラ84は、撮像デバイス82や信号処理部83に対して制御信号を出力し撮像装置80全体の動作を制御する。
このような撮像装置80によれば、固体撮像素子1におけるAD変換部群30のピーク電流を抑制することができるため、電源回路の動作マージンに余裕を持たせることができる。
以上、本発明の実施の形態のいくつかを図面に基づいて説明したが、これらは例示であり、いわゆる当業者の知識に基づいて、種々の変形、改良を施した他の形態で本発明を実施することが可能である。
1 固体撮像素子(CMOSイメージセンサ)
10 画素アレイ部
11 画素
12 フォトダイオード(光電変換素子)
30 AD変換部群
30a AD変換部
32 比較器
35 カウンタ
35a ポジティブエッジトリガのカウンタ(アップカウンタ)
35b ネガティブエッジトリガのカウンタ(アップカウンタ)
35b’ ネガティブエッジトリガのカウンタ(ダウンカウンタ)
37a0〜37a2 アップカウンタ35aを構成するFF回路
37b0〜37b2 ダウンカウンタ35bを構成するFF回路
37b0’〜37b2’ ダウンカウンタ35b’を構成するFF回路
80 撮像装置
81 光学系
82 撮像デバイス
83 信号処理部
350a ネガティブエッジトリガのカウンタ(アップカウンタ)
350b ポジティブエッジトリガのカウンタ(ダウンカウンタ)
370a アップカウンタ350aを構成するFF回路
370b ダウンカウンタ350bを構成するFF回路
素子1,2,3,6,7 インバータ(論理ゲート)
素子4 NORゲート(論理ゲート)
素子5 スイッチ素子(論理ゲート)
,P2,P3,P4… クロック信号のパルス
1,S2,S3… カウント値のパルス
CLK クロック信号
Comp 比較信号
Ramp ランプ信号
Vx 画素信号(アナログ信号)

Claims (6)

  1. 光電変換素子を有し受光量に応じたアナログ信号を出力する画素が行列状に複数配置された画素アレイ部と、
    前記画素アレイ部における前記画素の各列に対応して設けられた複数のAD変換部からなり、前記画素アレイ部における各列の前記画素から出力された前記アナログ信号を前記複数のAD変換部により並列にAD変換して出力するAD変換部群とを備え、
    各前記AD変換部は、信号レベルが時間とともに変化するランプ信号と前記画素から出力された前記アナログ信号とを比較して比較信号を出力する比較器、及び前記ランプ信号のレベル変化に同期してクロック信号のカウントを開始し、前記比較信号が反転するまでの前記クロック信号のカウント数を計測することにより前記アナログ信号をデジタル信号に変換するカウンタを備えて構成されるとともに、
    前記複数のAD変換部のうち一部のAD変換部は、前記カウンタが前記クロック信号の立ち上がりでカウント動作するポジティブエッジトリガのカウンタであり、残りのAD変換部は、前記カウンタが前記クロック信号の立ち下がりでカウント動作するネガティブエッジトリガのカウンタである
    固体撮像素子。
  2. 前記AD変換部群を構成する前記複数のAD変換部の半数が前記一部のAD変換部であり、残りの半数が前記残りのAD変換部である
    請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記AD変換部群は、前記ポジティブエッジトリガのカウンタと前記ネガティブエッジトリガのカウンタとが交互に配置されて構成される
    請求項2に記載の固体撮像素子
  4. 前記カウンタは各々複数のフリップフロップ回路を直列接続して構成され、
    各前記フリップフロップ回路は、その出力端子に接続された第1のラッチ回路と、前記出力端子の状態に応じた値をラッチする第2のラッチ回路と、前記第1のラッチ回路の入力と前記第2のラッチ回路の出力との間に配置されるスイッチ回路と、を有し、前記第1のラッチ回路及び前記第2のラッチ回路のうち一方は、当該フリップフロップ回路への入力信号がローレベルになったときに動作し、他方は、当該フリップフロップ回路への入力信号がハイレベルになったときに動作するように構成され、前記スイッチ回路は、前記第1のラッチ回路が動作状態のときに動作するように構成されており、
    前記ポジティブエッジトリガのカウンタと前記ネガティブエッジトリガのカウンタとは、前記第1のラッチ回路の動作極性及び前記第2のラッチ回路の動作極性とをそれぞれ逆転することにより構成される
    請求項1〜3のいずれか一項に記載の固体撮像素子。
  5. 前記ポジティブエッジトリガのカウンタ及び前記ネガティブエッジトリガのカウンタのいずれか一方がアップカウンタであり、他方がダウンカウンタである
    請求項1〜4のいずれか一項に記載の固体撮像素子。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の固体撮像素子と、
    前記固体撮像素子に被写体像を結像する光学系と、
    前記固体撮像素子の前記変換部群から出力された行ごとの信号を処理して前記被写体像の画像信号を生成する信号処理部と
    を備えた撮像装置。
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