JP6695088B1 - 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 - Google Patents
金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6695088B1 JP6695088B1 JP2020508065A JP2020508065A JP6695088B1 JP 6695088 B1 JP6695088 B1 JP 6695088B1 JP 2020508065 A JP2020508065 A JP 2020508065A JP 2020508065 A JP2020508065 A JP 2020508065A JP 6695088 B1 JP6695088 B1 JP 6695088B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- standard solution
- sample
- solution
- metal fine
- specific element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 150
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 143
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 title claims abstract description 112
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000001095 inductively coupled plasma mass spectrometry Methods 0.000 title claims description 35
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 19
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 claims abstract description 233
- 239000006199 nebulizer Substances 0.000 claims abstract description 66
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims abstract description 47
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 45
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 105
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 86
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 claims description 61
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 54
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 19
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 claims description 19
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002309 gasification Methods 0.000 claims description 2
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 claims 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 16
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 10
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 10
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001728 carbonyl compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000475481 Nebula Species 0.000 description 1
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 1
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 235000019504 cigarettes Nutrition 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021654 trace metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/105—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation, Inductively Coupled Plasma [ICP]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
- G01N27/623—Ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/626—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas
- G01N27/628—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas and a beam of energy, e.g. laser enhanced ionisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
Description
試料用標準溶液信号強度1カウント当たりの特定元素重量である試料導入部感度値は、50ag/countとなる。そして、検証1で示したように、標準溶液感度値を試料導入部感度値で割る(5.72/50=0.114と試料溶液用スプレーチャンバーの透過効率(11.4%)が得られる。
101 試料貯蔵部
102 試料溶液用ネブライザー
103 試料溶液用スプレーチャンバー
104 トーチ部
105 インターフェース部
106 質量分析部
107 検出器
108 光センサー
109 空気注入弁
110 流路
2 標準溶液導入装置
201 標準溶液貯蔵容器
202 シリンジポンプ
203 標準溶液用ネブライザー
204 標準溶液用スプレーチャンバー
205 廃棄容器
206 標準溶液導入路
301 ガス置換器
302 金属標準ガス発生装置
303 金属標準ガス導入路
Claims (4)
- 測定対象となる試料溶液を貯蔵する試料貯蔵部と、試料用ネブライザーと試料用スプレーチャンバーとを有する試料導入部と、プラズマを形成して試料をイオン化するトーチ部と、イオンをプラズマから取り入れるためのインターフェース部と、イオンを分離する質量分析部と、分離したイオンを検出する検出部とを備える誘導結合プラズマ質量分析装置を用いた、液体中の金属微粒子の分析方法であって、
当該誘導結合プラズマ質量分析装置に、
既知濃度の特定元素を含む標準溶液を貯蔵する標準溶液貯蔵手段と、標準溶液を吸引および吐出するシリンジポンプと、標準溶液が供給される標準溶液用ネブライザーと標準溶液用スプレーチャンバーとを有する溶液導入手段と、から構成された標準溶液導入装置を設け、
試料導入部とトーチ部とを接続する流路に、標準溶液用スプレーチャンバーから流出する標準溶液を導入させるための標準溶液導入路を接続し、
3μL/min以下の流量で標準溶液を標準溶液用ネブライザーに直接供給することにより、溶液導入手段からトーチ部に標準溶液を導入して、検出器より得られた標準溶液信号強度と導入した特定元素の物理量に基づき、標準溶液信号強度1カウント当たりの特定元素重量である標準溶液感度値を求め、
試料溶液の導入により検出器から得られる、特定元素による1個の金属微粒子の試料溶液信号カウント数と、前記標準溶液感度値とから、特定元素による金属微粒子の粒径値を算出することを特徴とする、液体中の金属微粒子の分析方法。 - 請求項1に記載の液体中の金属微粒子の分析方法における標準溶液感度値を用いるものであり、
既知濃度の特定元素を含む試料用標準溶液を試料導入部からトーチ部に導入して、検出器より得られた試料用標準溶液信号強度より、試料用標準溶液信号強度1カウント当たりの特定元素重量である試料導入部感度値を算出し、
前記標準溶液感度値と試料導入部感度値とから試料用スプレーチャンバーの透過効率を算出し、
測定対象である試料溶液を試料導入部からトーチ部に一定時間導入して検出器により得られる特定元素の金属微粒子数と、試料用スプレーチャンバーの透過効率とから、試料溶液に含まれる特定元素の金属微粒子数を算出し、試料溶液の導入により検出器から得られた特定元素の金属微粒子信号強度の総積算値と標準溶液感度値と、スプレーチャンバーの透過効率とから、試料溶液に含まれる特定元素の金属微粒子総重量を算出し、
試料貯蔵部と試料導入部との間に設けた流量検出手段から得られる試料溶液の導入量と、算出された特定元素の金属微粒子総重量とから、試料溶液の金属微粒子濃度を算出する、ことを特徴とする金属微粒子数および金属微粒子濃度の誘導結合プラズマ質量分析方法。 - 測定対象の固体試料にレーザ光を照射して試料を蒸発、微粒化するレーザーアブレーション器、または測定対象を含む試料ガスのガス成分をアルゴンガスに置換するガス置換器のいずれかにより生成した試料ガスを導入するガス化試料導入部と、
プラズマを形成して試料をイオン化するトーチ部と、イオンをプラズマから取り入れるためのインターフェース部と、イオンを分離する質量分析部と、分離したイオンを検出する検出部とを備える誘導結合プラズマ質量分析装置を用いた、気体中の金属微粒子の分析方法であって、
当該誘導結合プラズマ質量分析装置に、既知濃度の特定元素を含む標準溶液を貯蔵する貯蔵手段と、標準溶液を吸引および吐出するシリンジポンプと、標準溶液が供給される標準溶液用ネブライザーと標準溶液用ネブライザーが組み合わされた標準溶液用スプレーチャンバーとを有する溶液導入手段と、から構成された標準溶液導入装置を設け、
ガス化試料導入部とトーチ部とを接続する流路に、標準溶液用スプレーチャンバーから流出する標準溶液を導入させるための標準溶液導入路を接続し、
3μL/min以下の流量で標準溶液を標準溶液用ネブライザーに直接供給することにより、溶液導入手段からトーチ部に標準溶液を導入して、検出器より得られた標準溶液信号強度と導入した特定元素の物理量に基づき、標準溶液信号強度1カウント当たりの特定元素重量である標準溶液感度値を求め、
試料ガスの導入により検出器から得られる、特定元素による1個の金属微粒子の信号強度カウント数と、前記標準溶液感度値とから、特定元素による金属微粒子の粒径値を算出することを特徴とする、気体中の金属微粒子の分析方法。 - 請求項3に記載の気体中の金属微粒子の分析方法における標準溶液感度値を用いるものであり、
測定対象である試料ガスを試料導入部からトーチ部に一定時間導入して検出器により得られる特定元素の金属微粒子数を測定し、
試料ガスの導入により検出器から得られた特定元素の金属微粒子信号強度の総積算値と標準溶液感度値および試料ガスの導入量から、試料ガスの金属微粒子濃度を算出する、ことを特徴とする金属微粒子数および金属微粒子濃度の誘導結合プラズマ質量分析方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2019/033880 WO2020027345A1 (ja) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6695088B1 true JP6695088B1 (ja) | 2020-05-20 |
JPWO2020027345A1 JPWO2020027345A1 (ja) | 2020-08-06 |
Family
ID=69231926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020508065A Active JP6695088B1 (ja) | 2019-08-29 | 2019-08-29 | 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11569081B2 (ja) |
EP (1) | EP3739329B1 (ja) |
JP (1) | JP6695088B1 (ja) |
KR (1) | KR102181778B1 (ja) |
CN (1) | CN112823282B (ja) |
TW (1) | TWI711821B (ja) |
WO (1) | WO2020027345A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12085497B1 (en) | 2023-04-12 | 2024-09-10 | Elemental Scientific, Inc. | Nanoparticle analysis for ultra-low level concentrations of nanoparticles in fluid samples |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6695088B1 (ja) * | 2019-08-29 | 2020-05-20 | 株式会社 イアス | 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 |
CN114019047A (zh) * | 2021-11-04 | 2022-02-08 | 国家海洋局南海环境监测中心(中国海监南海区检验鉴定中心) | 一种高盐水直接进样测定多种元素的icp-ms法 |
US20230298879A1 (en) * | 2022-03-15 | 2023-09-21 | Elemental Scientific, Inc. | Atmospheric purge system and method for laser ablation sample processing |
CN114894881A (zh) * | 2022-05-16 | 2022-08-12 | 中国计量科学研究院 | 一种用于质谱仪性能检定校准的多元素混合标准溶液 |
WO2023248273A1 (ja) * | 2022-06-20 | 2023-12-28 | 株式会社 イアス | 元素の定量分析方法 |
CN115753962A (zh) * | 2022-11-22 | 2023-03-07 | 河南省地质矿产勘查开发局第一地质矿产调查院 | 一种土壤中氯离子各形态和总量的计算方法 |
CN118392975A (zh) * | 2024-05-06 | 2024-07-26 | 中国地质科学院地质研究所 | 一种方解石微区U-Pb年龄和微量元素同时测定的方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007057420A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Ias Inc | 溶液供給装置 |
JP2009210435A (ja) * | 2008-03-04 | 2009-09-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 三重管構造を有するネブライザーとそれを用いた分析システム |
JP2016040537A (ja) * | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 株式会社 イアス | レーザーアブレーションicp分析方法及び分析装置 |
WO2017033796A1 (ja) * | 2015-08-21 | 2017-03-02 | 株式会社 イアス | オンライン移送した分析試料の分析システム |
JP2017511882A (ja) * | 2014-02-14 | 2017-04-27 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. | 単一粒子誘導結合プラズマ質量分析における出力および類似データセットの自動化された分析のためのシステムおよび方法 |
JP2017528707A (ja) * | 2014-08-19 | 2017-09-28 | エレメンタル・サイエンティフィック・インコーポレイテッドElemental Scientific, Inc. | 質量分析のためのシリンジ供給を有する超清浄オートサンプラ |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03108246A (ja) | 1989-09-22 | 1991-05-08 | Yokogawa Electric Corp | Icp―ms用検量線作成方法 |
FR2886871B1 (fr) * | 2005-06-09 | 2008-10-17 | Centre Nat Rech Scient | Nebuliseur a debit nanometrique d'un effluent liquide et installation de nebulisation comportant un tel nebuliseur |
JP4815915B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2011-11-16 | 味の素株式会社 | 誘導結合プラズマ分析法およびそのための装置 |
JP4822346B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2011-11-24 | アジレント・テクノロジーズ・インク | 誘導結合プラズマ質量分析装置のための診断及び較正システム |
DE102011017332A1 (de) | 2011-04-16 | 2012-10-18 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Datenkommunikation in einem Fahrzeug und Datenkommunikationsvorrichtung |
JP6345934B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2018-06-20 | アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc. | 質量分析メソッドの自動生成方法 |
US9406490B1 (en) | 2014-05-02 | 2016-08-02 | Elemental Scientific, Inc. | Determination of metal and metalloid concentrations using ICPMS |
JP2016061574A (ja) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 株式会社島津製作所 | Icp分析装置 |
JP2016111063A (ja) * | 2014-12-02 | 2016-06-20 | 株式会社サクラクレパス | 変色層として金属酸化物微粒子を使用したプラズマ処理検知インジケータ |
KR20160121456A (ko) * | 2015-04-09 | 2016-10-19 | 단국대학교 산학협력단 | 유도결합 플라즈마 질량분석법을 이용한 금 나노 입자의 밀도 분석 방법 |
JP2016211854A (ja) * | 2015-04-28 | 2016-12-15 | 三菱マテリアル株式会社 | 微量元素分析方法 |
CN104897621B (zh) * | 2015-05-14 | 2017-08-25 | 上海应用技术学院 | 一种用于环境水样多元素分析的进样装置和测量金属元素浓度的方法 |
JP6734061B2 (ja) * | 2016-01-29 | 2020-08-05 | アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc. | プラズマ分光分析装置 |
JP7015101B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2022-02-02 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 分析方法および液体電極プラズマ発光分析装置 |
JP2018136190A (ja) | 2017-02-21 | 2018-08-30 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | La−icp−ms装置を用いた定量分析方法およびla−icp−ms装置 |
JP6695088B1 (ja) * | 2019-08-29 | 2020-05-20 | 株式会社 イアス | 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 |
-
2019
- 2019-08-29 JP JP2020508065A patent/JP6695088B1/ja active Active
- 2019-08-29 EP EP19845065.2A patent/EP3739329B1/en active Active
- 2019-08-29 WO PCT/JP2019/033880 patent/WO2020027345A1/ja unknown
- 2019-08-29 KR KR1020207024420A patent/KR102181778B1/ko active IP Right Grant
- 2019-08-29 CN CN201980017883.8A patent/CN112823282B/zh active Active
- 2019-08-29 US US17/043,406 patent/US11569081B2/en active Active
-
2020
- 2020-02-19 TW TW109105313A patent/TWI711821B/zh active
-
2022
- 2022-12-20 US US18/084,978 patent/US20230335387A1/en active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007057420A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Ias Inc | 溶液供給装置 |
JP2009210435A (ja) * | 2008-03-04 | 2009-09-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 三重管構造を有するネブライザーとそれを用いた分析システム |
JP2017511882A (ja) * | 2014-02-14 | 2017-04-27 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. | 単一粒子誘導結合プラズマ質量分析における出力および類似データセットの自動化された分析のためのシステムおよび方法 |
JP2016040537A (ja) * | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 株式会社 イアス | レーザーアブレーションicp分析方法及び分析装置 |
JP2017528707A (ja) * | 2014-08-19 | 2017-09-28 | エレメンタル・サイエンティフィック・インコーポレイテッドElemental Scientific, Inc. | 質量分析のためのシリンジ供給を有する超清浄オートサンプラ |
WO2017033796A1 (ja) * | 2015-08-21 | 2017-03-02 | 株式会社 イアス | オンライン移送した分析試料の分析システム |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12085497B1 (en) | 2023-04-12 | 2024-09-10 | Elemental Scientific, Inc. | Nanoparticle analysis for ultra-low level concentrations of nanoparticles in fluid samples |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI711821B (zh) | 2020-12-01 |
CN112823282A (zh) | 2021-05-18 |
WO2020027345A1 (ja) | 2020-02-06 |
US20210148858A1 (en) | 2021-05-20 |
EP3739329A4 (en) | 2021-03-31 |
CN112823282B (zh) | 2022-02-15 |
KR102181778B1 (ko) | 2020-11-24 |
JPWO2020027345A1 (ja) | 2020-08-06 |
EP3739329B1 (en) | 2023-10-04 |
EP3739329C0 (en) | 2023-10-04 |
US20230335387A1 (en) | 2023-10-19 |
EP3739329A1 (en) | 2020-11-18 |
TW202109042A (zh) | 2021-03-01 |
US11569081B2 (en) | 2023-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6695088B1 (ja) | 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法 | |
US8866075B2 (en) | Apparatus preparing samples to be supplied to an ion mobility sensor | |
Hendriks et al. | Single-particle ICP-MS with online microdroplet calibration: toward matrix independent nanoparticle sizing | |
Košler et al. | Chemical and phase composition of particles produced by laser ablation of silicate glass and zircon—implications for elemental fractionation during ICP-MS analysis | |
Tuoriniemi et al. | Improving the accuracy of single particle ICPMS for measurement of size distributions and number concentrations of nanoparticles by determining analyte partitioning during nebulisation | |
Slade et al. | Heterogeneous OH oxidation of biomass burning organic aerosol surrogate compounds: assessment of volatilisation products and the role of OH concentration on the reactive uptake kinetics | |
Hinz et al. | Laser-induced mass analysis of single particles in the airborne state | |
JP3660279B2 (ja) | 試料イオン化装置及び質量分析計 | |
Voisin et al. | Thermal desorption chemical ionization mass spectrometer for ultrafine particle chemical composition | |
Layman et al. | New, computer-controlled microwave discharge emission spectrometer employing microarc sample atomization for trace and micro elemental analysis | |
Kawaguchi et al. | Investigation of airborne particles by inductively coupled plasma emission spectrometry calibrated with monodisperse aerosols | |
CN109073618A (zh) | 分析电子香烟烟雾的方法 | |
JP2020068202A (ja) | 単一粒子誘導結合プラズマ質量分析(sp−icp−ms)を用いたナノ粒子の自動検出 | |
Zhao et al. | An electrospray chemical ionization source for real-time measurement of atmospheric organic and inorganic vapors | |
Tauber et al. | Humidity effects on the detection of soluble and insoluble nanoparticles in butanol operated condensation particle counters | |
Aeschliman et al. | Spatially-resolved analysis of solids by laser ablation-inductively coupled plasma-mass spectrometry: trace elemental quantification without matrix-matched solid standards | |
Bufková et al. | Generation of tellurium hydride and its atomization in a dielectric barrier discharge for atomic absorption spectrometry | |
Greda et al. | Determination of Ag, Bi, Cd, Hg, Pb, Tl, and Zn by inductively coupled plasma mass spectrometry combined with vapor generation assisted by solution anode glow discharge–A preliminary study | |
Coedo et al. | Evaluation of different sample introduction approaches for the determination of boron in unalloyed steels by inductively coupled plasma mass spectrometry | |
Almagro et al. | Flow focusing pneumatic nebulizer in comparison with several micronebulizers in inductively coupled plasma atomic emission spectrometry | |
TWI823529B (zh) | 元素的定量分析方法 | |
CN106769750A (zh) | 一种测试及计算剑桥滤片对电子烟气溶胶的数量截留效率的方法 | |
JP2004347473A (ja) | La−icp−ms装置を用いた定量分析方法および有機物含有成形体の製造方法 | |
Haupt et al. | Preparation of quartz fibre filter standards for x‐ray fluorescence analysis of aerosol samples | |
KR20100054937A (ko) | 대기중 유해 물질의 검출 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200225 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20200225 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20200327 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200407 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6695088 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |