JP6688105B2 - 液晶ポリマー粒子の製造方法 - Google Patents
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Description
前記固定砥石と対向する回転砥石、及び
前記固定砥石と前記回転砥石の対向距離を調整するクリアランス調整機構
を少なくとも備える摩砕機を用いて、液晶ポリマーを粉砕する工程を含む、平均粒子径が0.1〜500μmである液晶ポリマー粒子の製造方法に関する。
<2>本発明のさらなる一態様は、固定砥石と回転砥石の対向距離が150μm以下である、上記製造方法に関する。
<3>本発明のさらなる一態様は、固定砥石及び回転砥石が、粒度が#80〜#120のSiC粒子を含む、上記製造方法に関する。
<4>本発明のさらなる一態様は、固定砥石及び回転砥石の砥石表面温度が、液晶ポリマーの融点よりも60℃以上低い温度に温度制御されている、上記製造方法に関する。
<5>本発明のさらなる一態様は、液晶ポリマーとともに20℃での比熱が2J/g・K以上の液体を流しながら、液晶ポリマーを粉砕する、上記製造方法に関する。
<6>本発明のさらなる一態様は、前記液体が水である、上記製造方法に関する。
<7>本発明の更なる一態様は、得られる液晶ポリマー粒子の嵩密度が0.08〜1.2g/mLである、上記製造方法に関する。
本実施形態に係る液晶ポリマー粒子の製造方法は、対向する2つの砥石を備える摩砕機を用いて液晶ポリマーを摩砕する工程を含む。
次に、本実施形態において原料として用いられる液晶ポリマーについて説明する。
液晶ポリマー(液晶性ポリマー又は液晶性樹脂とも言う)とは、光学異方性溶融相を形成し得る性質を有する溶融加工性ポリマーを指す。異方性溶融相の性質は、直交偏光子を利用した慣用の偏光検査法により確認することが出来る。より具体的には、異方性溶融相の確認は、Leitz偏光顕微鏡を使用し、Leitzホットステージに載せた溶融試料を窒素雰囲気下で40倍の倍率で観察することにより実施できる。本発明に適用できる液晶ポリマーは直交偏光子の間で検査したときに、たとえ溶融静止状態であっても偏光は通常透過し、光学的に異方性を示す。
(1)主として芳香族ヒドロキシカルボン酸及びその誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位からなるポリエステル;
(2)主として(a)芳香族ヒドロキシカルボン酸及びその誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(b)芳香族ジカルボン酸、脂環族ジカルボン酸、及びそれらの誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(c)芳香族ジオール、脂環族ジオール、脂肪族ジオール、及びそれらの誘導体の少なくとも1種又は2種以上に由来する繰り返し単位、とからなるポリエステル;
(3)主として(a)芳香族ヒドロキシカルボン酸及びその誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(b)芳香族ヒドロキシアミン、芳香族ジアミン、及びそれらの誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(c)芳香族ジカルボン酸、脂環族ジカルボン酸、及びそれらの誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位、とからなるポリエステルアミド;
(4)主として(a)芳香族ヒドロキシカルボン酸及びその誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(b)芳香族ヒドロキシアミン、芳香族ジアミン、及びそれらの誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(c)芳香族ジカルボン酸、脂環族ジカルボン酸、及びそれらの誘導体の1種又は2種以上に由来する繰り返し単位と、(d)芳香族ジオール、脂環族ジオール、脂肪族ジオール、及びそれらの誘導体の少なくとも1種又は2種以上に由来する繰り返し単位、とからなるポリエステルアミド等が挙げられる。更に上記の構成成分に必要に応じ分子量調整剤を併用してもよい。
上述の実施形態に係る製造方法によれば、所望の粒径を有する液晶ポリマー粒子を簡便な方法で製造することができる。
・液晶性ポリエステルアミド樹脂
(製造例1)
重合容器に下記の原料を仕込んだ後、反応系の温度を140℃に上げ、140℃で1時間反応させた。その後、更に340℃まで4.5時間かけて昇温し、そこから15分かけて10Torr(即ち1330Pa)まで減圧にして、酢酸、過剰の無水酢酸、及びその他の低沸分を留出させながら溶融重合を行った。撹拌トルクが所定の値に達した後、窒素を導入して減圧状態から常圧を経て加圧状態にして、重合容器の下部からポリマーを排出し、ストランドをペレタイズしてペレットを得た。得られたペレットについて、窒素気流下、300℃で2時間の熱処理を行って、目的のポリマー(ポリエステルA)のペレットを得た。得られたポリマーの融点は334℃、溶融粘度は14.0Pa・sであった。なお、上記ポリマーの溶融粘度は、キャピラリー式レオメーター(東洋精機製キャピログラフ1D:ピストン径10mm)により、シリンダー温度350℃、せん断速度1000sec−1の条件での見かけの溶融粘度をISO 11443に準拠して測定した。測定には、内径1mm、長さ20mmのオリフィスを用いた。
(I)4−ヒドロキシ安息香酸;188.4g(60モル%)
(II)2−ヒドロキシ−6−ナフトエ酸;21.4g(5モル%)
(III)テレフタル酸;66.8g(17.7モル%)
(IV)4,4’−ジヒドロキシビフェニル;52.2g(12.3モル%)
(V)4−アセトキシアミノフェノール;17.2g(5モル%)
金属触媒(酢酸カリウム触媒);15mg
アシル化剤(無水酢酸);226.2g
(実施例1)
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを、石臼型摩砕機(増幸産業株式会社製、MKZA10−15JM)を用いて表1に示す条件で粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。粉砕は、原料投入量:400g、粉砕速度:60g/hr、水流し込み(30L/min)で行った。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を、株式会社堀場製作所製、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置LA920を用いて測定した。結果を表1に示す。また、製造した液晶ポリマー粒子を走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて観察したところ、略球状の粒子を主体とする混合物であった。また、50mLのメスシリンダーに、液晶ポリマー粒子を、メスシリンダーの底面から15cmの高さから自然落下させることにより50mLのメモリまで充填し、その重量を測定することにより嵩密度を算出したところ、0.10g/mLであった。
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを表1に示す条件とした以外は実施例1と同様に粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
実施例2で得られた液晶ポリマー粒子を、表1に示す条件とした以外は実施例1と同様に粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを表1に示す条件とした以外は実施例1と同様に粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを、ロッキングミキサー(愛知電機株式会社製RM−300EC)により粉砕し、JIS標準ふるいにて粗大粒を取り除き、平均粒子径2000μmの粗粉を得た。得られたポリエステルAの粗粉を表1に示す条件とした以外は実施例1と同様に粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを、メッシュミル型粉砕機(株式会社ホーライ製、HA−2542)を用いて以下の条件で粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。走査型電子顕微鏡(SEM)で観察したところ、得られた液晶ポリマー粒子はフィブリル状であり、実施例1と同様にして算出した嵩密度は0.06g/mLであった。
原料:ポリエステルAのペレット(平均粒子径:3mm)
原料投入量:10kg
粉砕速度:10kg/hr
製造例1で製造したポリエステルAのペレットを、ボールミル型凍結粉砕機(日本分析工業株式会社製、JFC−1500)を用いて以下の条件で凍結粉砕し、液晶ポリマー粒子を製造した。製造した液晶ポリマー粒子の平均粒子径を実施例1と同様にして測定した。結果を表1に示す。走査型電子顕微鏡(SEM)で観察したところ、得られた液晶ポリマー粒子は略球状の粒子を主体とする混合物であり、実施例1と同様にして算出した嵩密度は0.12g/mLであった。
原料:ポリエステルAのペレット(平均粒子径:3mm)
原料投入量:5g
予備凍結時間:30min
凍結粉砕時間:20min
2:上蓋
3:固定砥石
4:回転砥石
5:回転盤
6:押え金具
7:筒体
8:スプラインシャフト
9:支持部材
10:ロックハンドル
11:クリアランス調整ハンドル
12:筒体
13:メーター
14:支持軸
15:レバー
16:供給ホッパー
17:排出部
Claims (3)
- 固定砥石、
前記固定砥石と対向する回転砥石、及び
前記固定砥石と前記回転砥石の対向距離を調整するクリアランス調整機構
を少なくとも備える摩砕機を用いて、液晶ポリマーを粉砕する工程を含み、
前記固定砥石と前記回転砥石の対向距離が、150μm以下であり、
前記固定砥石及び前記回転砥石が、粒度が#80〜#120のSiC粒子を含み、
前記回転砥石の回転数が、800〜2000rpmであり、
前記粉砕する工程が、前記液晶ポリマーとともに水を流しながら、前記液晶ポリマーを粉砕することを含む、
平均粒子径が0.1〜100μmである液晶ポリマー粒子の製造方法。 - 前記固定砥石及び前記回転砥石の砥石表面温度が、液晶ポリマーの融点よりも60℃以上低い温度に温度制御されている、請求項1に記載の製造方法。
- 得られる液晶ポリマー粒子の嵩密度が0.08〜1.2g/mLである、請求項1又は2に記載の製造方法。
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