JP6675359B2 - 記録制御装置、記録制御方法、及び記録テープカートリッジ - Google Patents

記録制御装置、記録制御方法、及び記録テープカートリッジ Download PDF

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Description

本開示は、記録制御装置、記録制御方法、及び記録テープカートリッジに関する。
従来、テープカセットに収納された磁気テープに対する記録又は再生を行うテープドライブにおいてエラーが発生した場合に、所定のエラー情報を生成する技術が提案されている（特許文献１参照）。この技術では、生成したエラー情報をテープカセットの管理情報が記憶されるメモリに記憶する。
また、磁気テープが収納されたテープカセットのテープ種別情報及び使用回数情報を用いて、磁気テープの劣化判定を行う技術が提案されている（特許文献２参照）。
また、記録領域又は非記録領域の一部に、寿命検査及びメンテナンスを行うべき期日情報が記録される光記録媒体が提案されている（特許文献３参照）。
また、寿命を検知するための寿命検知情報が書き込まれた記録領域を有する情報記録媒体が提案されている（特許文献４参照）。
特開２０００−２３５７７４号公報 特開２０００−１００１５１号公報 特開平３−２０３８３４号公報 特開平３−２０３８３２号公報
ところで、記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みは、時間が経過するに従って、経年による状態の変化に起因して失敗する可能性が高くなる。この点に関し、記録テープカートリッジの寿命を推定することができると、推定した寿命が比較的短い、もしくは寿命が過ぎた記録テープカートリッジを交換する等の対応が可能となり、好ましい。そして、この対応が可能となる結果、記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みの失敗の発生が抑制可能となる。
しかしながら、上記特許文献１〜特許文献４に記載の技術では、記録テープカートリッジの寿命を推定することについては考慮されていない。
本開示は、以上の事情を鑑みて成されたものであり、記録テープカートリッジの寿命を推定することができる記録制御装置、記録制御方法、及び記録テープカートリッジを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本開示の記録制御装置は、記録テープカートリッジが有する記録媒体に記録された、記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレートに相関する情報である磁気テープに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベル、及び信号レベルの測定日を読み取る読取部と、読取部により読み取られた信号レベル及び測定日と、記録テープカートリッジを使用する際に測定された信号レベル及び測定日とを用いて、記録テープカートリッジの寿命を推定する推定部と、を備える。
なお、本開示の記録制御装置は、推定部が、記録媒体に記録された信号レベル及び測定日と、記録テープカートリッジを使用する際に測定された信号レベル及び測定日とを用いて、サーボ信号の信号レベルの経時に伴う変化度合いを算出し、算出した変化度合いを用いて、サーボ信号の信号レベルが閾値未満となる保存期間を記録テープカートリッジの寿命と推定してもよい。
また、本開示の記録制御装置は、記録媒体に、記録テープカートリッジの製造工程において測定された信号レベル及び測定日が記録されてもよい。
また、本開示の記録制御装置は、推定部が、現時点から遡った所定期間内に複数回記録テープカートリッジを使用する際に各々測定された信号レベル及び測定日を用いて、記録テープカートリッジの寿命を推定してもよい。
また、本開示の記録制御装置は、記録媒体が、ＲＦＩＤタグであってもよい。
一方、上記目的を達成するために、本開示の記録制御方法は、記録テープカートリッジが有する記録媒体に記録された、記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレートに相関する情報である磁気テープに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベル、及び信号レベルの測定日を読み取り、読み取った信号レベル及び測定日と、記録テープカートリッジを使用する際に測定された信号レベル及び測定日とを用いて、記録テープカートリッジの寿命を推定するものである。
本開示によれば、記録テープカートリッジの寿命を推定することができる。
実施形態に係る記録テープカートリッジの一例を示す斜視図である。 実施形態に係る記録システムの構成の一例を示すブロック図である。 実施形態に係る記録制御装置の電気系の要部構成の一例を示すブロック図である。 実施形態に係る寿命推定処理の一例を示すフローチャートである。 実施形態に係る寿命推定処理を説明するためのグラフである。 実施形態に係る第１警告表示画面の一例を示す図である。 実施形態に係る第２警告表示画面の一例を示す図である。
以下、図面を参照して、本開示の技術を実施するための形態例を詳細に説明する。
まず、図１を参照して、本実施形態に係る記録テープカートリッジ１０の構成を説明する。なお、図１において、説明の便宜上、記録テープカートリッジ１０のテープドライブ３８（図２参照）への装填方向を矢印ＦＲで示す。また、以下では、矢印ＦＲが示す方向を記録テープカートリッジ１０の前方向（前側）とする。また、以下では、矢印ＦＲと直交する矢印ＲＨが示す方向を記録テープカートリッジ１０の右方向（右側）とし、矢印ＦＲ及び矢印ＲＨと直交する矢印ＵＰが示す方向を記録テープカートリッジ１０の上方向（上側）とする。
図１に示すように、本実施形態に係る記録テープカートリッジ１０は、ポリカーボネート（ＰＣ）等の樹脂材により略矩形の箱状に形成されたケース１２を備える。ケース１２の内部には、情報記録再生媒体としての磁気テープ等の記録テープＴが巻かれて装着された樹脂製のリール２０が回転可能に収容される。
また、本実施形態に係る記録テープＴは、データが記録されるデータトラックと、データトラックに対するデータの読み込み又は書き込みを行う記録素子の位置決めに用いられるサーボ信号が記録されるサーボトラックとを有する。すなわち、本実施形態に係る記録テープカートリッジ１０を使用する際には、タイミングベースサーボ方式と呼ばれる方式によって、記録素子の位置決めが行われる。
ケース１２の右壁における前部には、記録テープＴを引き出すための開口１４が形成される。そして、開口１４から引き出される記録テープＴの自由端部には、テープドライブ３８の引出部材（図示省略）によって係止されつつ引き出し操作されるリーダー部材としてのリーダーピン１６が固着される。リーダーピン１６の軸方向の両側には、環状溝１６Ａが形成されており、環状溝１６Ａが、引出部材のフック等に係止される。
また、ケース１２の開口１４の内側には、ケース１２内において、リーダーピン１６を位置決めして保持する上下一対のピン保持部１３が形成される。ピン保持部１３は、記録テープＴを引き出す側が開放された略半円形状とされており、直立状態のリーダーピン１６の軸方向の両端部１６Ｂが、ピン保持部１３の開放側からピン保持部１３内に出入可能とされる。
また、ケース１２の開口１４は、ドア１８によって開閉される。ドア１８は、開口１４を閉塞可能な大きさの略矩形の板状に形成される。開口１４の内側には、ドア１８の上下の端部を摺動可能に挿入させる溝部１５が形成されており、ドア１８がケース１２の右壁に沿って移動可能とされる。
また、ドア１８の前端部には、開閉操作用の凸部１８Ａが右方に向かって突設されている。凸部１８Ａが、記録テープカートリッジ１０のテープドライブ３８への装填に伴い、テープドライブ３８の係合部材（図示省略）と係合することにより、ドア１８が開放される構成とされる。
また、ケース１２には、記録された情報を、無線通信等によって非接触で読み取り可能な記録媒体の一例としてのＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentifier）タグ２２が内蔵される。なお、図１では、ＲＦＩＤタグ２２が、ケース１２内の右後部に配置された例を示しているが、ＲＦＩＤタグ２２のケース１２内における配置位置は、特に限定されない。ＲＦＩＤタグ２２のケース１２内における配置位置は、例えば、後述する読取部４０によってＲＦＩＤタグ２２から非接触で情報が読み取り可能な位置であればよい。
また、本実施形態に係るＲＦＩＤタグ２２は、ＲＦＩＤリーダー等の読取装置により発信された電波に応じて、記録された情報を読取装置に送信する方式（所謂パッシブ方式）のＲＦＩＤタグとされる。
また、本実施形態に係るＲＦＩＤタグ２２には、記録テープカートリッジ１０が有する記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレート（以下、単に「エラーレート」という）に相関する情報が記録されている。本実施形態では、エラーレートに相関する情報として、記録テープカートリッジ１０の製造工程において測定された、記録テープＴのサーボトラックに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベルがＲＦＩＤタグ２２に記録されている。なお、このサーボ信号の信号レベル（以下、単に「信号レベル」という）が低くなるに従って、前述した記録素子の位置決めの精度が低下する結果、エラーレートが高くなる。
また、本実施形態に係るＲＦＩＤタグ２２には、信号レベルの測定日（以下、単に「測定日」という）が更に記録されている。また、本実施形態に係るＲＦＩＤタグ２２には、予め定められた環境温度Ｔ１の環境において記録テープカートリッジ１０が保管された場合の信号レベルの経時に伴う変化度合い（以下、単に「変化度合い」という）が更に記録されている。なお、本実施形態では、上記予め定められた環境温度Ｔ１として、記録テープカートリッジ１０の仕様に従って定められた記録テープカートリッジ１０の保管に適した温度（例えば、２０℃）を適用している。
次に、図２を参照して、本実施形態に係る記録システム３０の構成を説明する。図２に示すように、記録システム３０は、記録制御装置３２及びテープライブラリ３４を備える。
本実施形態に係るテープライブラリ３４は、複数のスロット３６、及びテープドライブ３８を備える。スロット３６には、記録テープカートリッジ１０が格納される。記録テープカートリッジ１０の記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みを行う場合、不図示の移動機構によって、記録テープカートリッジ１０がスロット３６から取り出される。そして、移動機構によって、取り出された記録テープカートリッジ１０がテープドライブ３８にロードされる。
また、テープドライブ３８にロードされた記録テープカートリッジ１０の記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みが終了した後、テープドライブ３８から記録テープカートリッジ１０がアンロードされる。そして、移動機構によって、アンロードされた記録テープカートリッジ１０がスロット３６に格納される。
また、本実施形態に係るテープドライブ３８には、読取部４０及びヘッド４２が内蔵される。記録制御装置３２と読取部４０及びヘッド４２の各々とは互いに通信可能に接続される。記録制御装置３２の例としては、パーソナル・コンピュータ、及びサーバ・コンピュータ等の情報処理装置が挙げられる。
本実施形態に係る読取部４０は、記録制御装置３２による制御によって、記録テープカートリッジ１０に内蔵されたＲＦＩＤタグ２２に記録された信号レベル、測定日、及び変化度合いを非接触で読み取る。そして、読取部４０は、読み取った信号レベル、測定日、及び変化度合いを記録制御装置３２に出力する。具体的には、読取部４０は、記録制御装置３２による制御によって、電波をＲＦＩＤタグ２２に発信する。読取部４０から発信された電波をＲＦＩＤタグ２２が受信すると、ＲＦＩＤタグ２２は、ＲＦＩＤタグ２２に記録された信号レベル、測定日、及び変化度合いを読取部４０に送信する。読取部４０は、ＲＦＩＤタグ２２から送信された信号レベル、測定日、及び変化度合いを受信し、受信した信号レベル、測定日、及び変化度合いを記録制御装置３２に出力する。読取部４０の例としては、ＲＦＩＤリーダーが挙げられる。
本実施形態に係るヘッド４２は、記録テープＴのデータトラックに対するデータの読み込み又は書き込みを行う記録素子４４、及び記録テープＴのサーボトラックに記録されたサーボ信号を読み取る再生素子４６を備える。テープドライブ３８は、記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みを行う場合、再生素子４６により記録テープＴのサーボトラックに記録されたサーボ信号を読み取らせる。そして、テープドライブ３８は、再生素子４６による読み取り結果に従ってヘッド４２を記録テープＴの幅方向に沿って移動させることによって、記録素子４４の位置決めを行う。また、この際、再生素子４６は、読み取ったサーボ信号の信号レベルを測定し、測定した信号レベルを記録制御装置３２に出力する。
次に、図３を参照して、本実施形態に係る記録制御装置３２の電気系の要部構成を説明する。図３に示すように、記録制御装置３２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）５０、及び各種プログラムや各種パラメータ等が予め記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）５２を備える。また、記録制御装置３２は、ＣＰＵ５０による各種プログラムの実行時のワークエリア等として用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）５４、及びＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の不揮発性の記憶部５６を備える。
また、記録制御装置３２は、液晶ディスプレイ等の表示部５８、キーボードとマウス等の入力部６０、及び入出力Ｉ／Ｆ（InterFace）６２を備える。そして、ＣＰＵ５０、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ５４、記憶部５６、表示部５８、入力部６０、及び入出力Ｉ／Ｆ６２の各部が、バス６４を介して互いに接続される。
記録制御装置３２の入出力Ｉ／Ｆ６２は、テープライブラリ３４の入出力Ｉ／Ｆ６８に接続される。そして、テープライブラリ３４の入出力Ｉ／Ｆ６８には、読取部４０及びヘッド４２が接続される。以上の構成により、ＣＰＵ５０は、入出力Ｉ／Ｆ６２及び入出力Ｉ／Ｆ６８を介して、読取部４０及びヘッド４２を各々制御することができる。
次に、図４を参照して、本実施形態に係る記録システム３０の作用を説明する。記録制御装置３２のＣＰＵ５０が寿命推定プログラムを実行することによって、図４に示す寿命推定処理が実行される。なお、この寿命推定プログラムは、記録制御装置３２のＲＯＭ５２に予めインストールされている。また、図４に示す寿命推定処理は、例えば、ユーザにより入力部６０を介して、記録テープカートリッジ１０の記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みを行う実行指示が入力された場合に実行される。
図４のステップＳ１０で、ＣＰＵ５０は、移動機構を制御し、記録テープカートリッジ１０をスロット３６から取り出し、取り出した記録テープカートリッジ１０をテープドライブ３８にロードする。次のステップＳ１２で、ＣＰＵ５０は、読取部４０に対し、ステップＳ１０でロードされた記録テープカートリッジ１０のＲＦＩＤタグ２２に記録された信号レベル、測定日、及び変化度合いを読み取らせる制御を行う。そして、ＣＰＵ５０は、読取部４０により読み取られた信号レベル、測定日、及び変化度合いを、入出力Ｉ／Ｆ６２、６８を介して取得する。なお、以下では、錯綜を回避するために、ステップＳ１２で取得された信号レベル、測定日、及び変化度合いを、各々、「第１の信号レベル」、「第１の測定日」、及び「第１の変化度合い」という。
次のステップＳ１４で、ＣＰＵ５０は、ヘッド４２に対し、再生素子４６により記録テープカートリッジ１０の記録テープＴのサーボトラックに記録されたサーボ信号を読み取らせる制御を行う。そして、ＣＰＵ５０は、この制御によってサーボ信号を読み取る際に再生素子４６により測定されたサーボ信号の信号レベルを取得する。なお、以下では、錯綜を回避するために、ステップＳ１４で取得された信号レベルを「第２の信号レベル」という。
次のステップＳ１６で、ＣＰＵ５０は、現時点の日付、すなわち、第２の信号レベルの測定日からステップＳ１２で取得された第１の測定日を減算し、減算して得られた値を時間単位に換算することによって、記録テープカートリッジ１０の保存期間を算出する。また、ＣＰＵ５０は、第２の信号レベルから第１の信号レベルを減算することによって、信号レベルの変化量を算出する。そして、本実施形態では、ＣＰＵ５０は、算出した信号レベルの変化量を、算出した保存期間の常用対数で除算することによって、信号レベルの経時に伴う変化度合いを算出する。なお、以下では、錯綜を回避するために、ステップＳ１６で算出された変化度合いを「第２の変化度合い」という。
ステップＳ１６で算出された第２の変化度合いは、一例として図５に示す直線Ｌの傾きに相当する。なお、図５における三角印はステップＳ１０で取得された第１の信号レベルを示し、丸印はステップＳ１４で取得された第２の信号レベルを示す。
次のステップＳ１８で、ＣＰＵ５０は、図５に示すように、第１の信号レベル及び第２の変化度合いを用いて、信号レベルが閾値ＴＨ１未満となる保存期間を算出し、算出した保存期間を記録テープカートリッジ１０の寿命と推定する。なお、この場合の閾値ＴＨ１としては、例えば、記録テープカートリッジ１０が有する記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレートが、許容される所定値以上となる信号レベルの上限値等を適用することができる。また、この閾値ＴＨ１はユーザにより設定されてもよい。
次のステップＳ２０で、ＣＰＵ５０は、第１の変化度合い及び第２の変化度合いを用いて、現時点での記録テープカートリッジ１０が保管されている環境の環境温度Ｔ２を推定する。本実施形態では、ＣＰＵ５０は、上記環境温度Ｔ１に対し、第２の変化度合いに対する第１の変化度合いの比を乗算し、乗算して得られた温度を環境温度Ｔ２と推定する。
次のステップＳ２２で、ＣＰＵ５０は、ステップＳ２０で推定された環境温度Ｔ２が、予め定められた温度範囲内であるか否かを判定する。この判定が肯定判定となった場合は、処理はステップＳ２６に移行し、否定判定となった場合は、処理はステップＳ２４に移行する。なお、この場合の温度範囲としては、記録テープカートリッジ１０の仕様に従って定められた記録テープカートリッジ１０の保管に適した温度の下限値以上で、かつ上限値以下の温度範囲（例えば、１５℃以上２５℃以下の範囲）を適用することができる。
ステップＳ２４で、ＣＰＵ５０は、環境温度Ｔ２が上記環境温度範囲外であることをユーザに報知する第１警告表示画面を表示部５８に表示する。図６に、第１警告表示画面の一例を示す。図６に示すように、本実施形態に係る第１警告表示画面には、環境温度Ｔ２が上記温度範囲外である旨を示すメッセージ、推定された環境温度Ｔ２、及び上記温度範囲が表示される。ステップＳ２４の処理が終了すると、処理はステップＳ２６に移行する。
ステップＳ２６で、ＣＰＵ５０は、ステップＳ１８で推定された寿命までの残り期間が予め定められた閾値ＴＨ２未満であるか否かを判定する。この判定が否定判定となった場合は、処理はステップＳ３０に移行し、肯定判定となった場合は、処理はステップＳ２８に移行する。なお、この場合の閾値ＴＨ２としては、例えば、ユーザにより指定された値を適用することができる。
ステップＳ２８で、ＣＰＵ５０は、寿命までの残り期間が閾値ＴＨ２未満であることをユーザに報知する第２警告表示画面を表示部５８に表示する。図７に、第２警告表示画面の一例を示す。図７に示すように、本実施形態に係る第２警告表示画面には、寿命までの残り期間、及び記録テープカートリッジ１０の交換等の対応を促すメッセージが表示される。ステップＳ２８の処理が終了すると、処理はステップＳ３０に移行する。
ステップＳ３０で、ＣＰＵ５０は、ヘッド４２に対し、ステップＳ１４でのサーボ信号の読み取り結果に従って、記録素子４４を位置合わせする制御を行う。そして、ＣＰＵ５０は、記録素子４４の位置合わせの終了後に、記録テープカートリッジ１０に対するデータの読み込み又は書き込みを行う。次のステップＳ３２で、ＣＰＵ５０は、ステップＳ１０でテープドライブ３８にロードされた記録テープカートリッジ１０を、テープドライブ３８からアンロードする。そして、ＣＰＵ５０は、移動機構を制御し、アンロードした記録テープカートリッジ１０をスロット３６に戻す。ステップＳ３２の処理が終了すると、本寿命推定処理が終了する。
以上説明したように、本実施形態によれば、読取部４０により読み取られたエラーレートに相関する情報及び測定日と、記録テープカートリッジ１０を使用する際に測定された情報及び測定日とを用いて、記録テープカートリッジ１０の寿命を推定している。従って、記録テープカートリッジの寿命を精度良く推定することができる。
また、本実施形態によれば、エラーレートに相関する情報として、サーボ信号の信号レベルを適用している。一般的に、記録テープＴのサーボトラックに記録されるサーボ信号の波長は比較的長い場合が多い。比較的波長が長いサーボ信号の経時に伴う状態の変化は、熱によって変化度合いが比較的大きく変わるため、記録テープカートリッジ１０の寿命に対する影響も比較的大きい。従って、本実施形態によれば、記録テープカートリッジの寿命を精度良く推定することができる。
なお、上記実施形態では、第１の信号レベル、第１の測定日、及び第１の変化度合いがＲＦＩＤタグ２２に記録される場合について説明したが、これに限定されない。例えば、第１の信号レベル、第１の測定日、及び第１の変化度合いは、記録テープＴの先頭部分に記録されてもよいし、ケース１２の外周面の所定の位置に貼られたバーコードラベルに記録されてもよい。
また、上記実施形態において、現時点から遡った所定期間内に複数回記録テープカートリッジ１０を使用する際に各々測定された第２の信号レベル及び第２の測定日を用いて、記録テープカートリッジ１０の寿命を推定する形態としてもよい。この場合、複数回測定された第２の信号レベル及び第２の測定日を用いて、第２の変化度合いを算出し、算出した第２の変化度合いから記録テープカートリッジ１０の寿命を推定する形態が例示される。
また、上記実施形態では、エラーレートに相関する情報として、記録テープＴに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベルを適用した場合について説明したが、これに限定されない。エラーレートに相関する情報として、エラーレートそのものを適用してもよい。この場合のエラーレートは、記録制御装置３２により、記録テープＴに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーが発生した回数を、記録テープカートリッジ１０の使用回数で除算することによって算出することができる。
また、上記実施形態において、記録制御装置３２が、記録テープカートリッジ１０を使用する際に、ＲＦＩＤタグ２２から読み取った第１の信号レベル、第１の測定日、及び第１の変化度合いを記憶部５６に記憶する形態としてもよい。この場合、次回以降に記録テープカートリッジ１０を使用する場合に、第１の信号レベル、第１の測定日、及び第１の変化度合いを記憶部５６から読み出す形態が例示される。
また、上記実施形態では、記録された情報を非接触で読み取り可能な記録媒体として、ＲＦＩＤタグ２２を適用した場合について説明したが、これに限定されない。例えば、記録された情報を非接触で読み取り可能な記録媒体として、無線通信機能を搭載したメモリカードを適用する形態としてもよい。
また、上記実施形態では、ＲＦＩＤタグ２２として、パッシブ方式のＲＦＩＤタグを適用した場合について説明したが、これに限定されない。例えば、ＲＦＩＤタグ２２として、電波を発信する方式（所謂アクティブ方式）のＲＦＩＤタグを適用する形態としてもよい。
また、上記実施形態でＣＰＵがソフトウェア（プログラム）を実行することにより実行した寿命推定処理を、ＣＰＵ以外の各種のプロセッサが実行してもよい。この場合のプロセッサとしては、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等の製造後に回路構成を変更可能なＰＬＤ（Programmable Logic Device）、及びＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が例示される。また、寿命推定処理を、これらの各種のプロセッサのうちの１つで実行してもよいし、同種又は異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡ、及びＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ等）で実行してもよい。また、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造は、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路である。
また、上記実施形態では、寿命推定プログラムがＲＯＭ５２に予め記憶（インストール）されている態様を説明したが、これに限定されない。寿命推定プログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disk Read Only Memory）、及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ等の記録媒体に記録された形態で提供されてもよい。また、寿命推定プログラムは、ネットワークを介して外部装置からダウンロードされる形態としてもよい。
１０ 記録テープカートリッジ
１２ ケース
１３ ピン保持部
１４ 開口
１５ 溝部
１６ リーダーピン
１６Ａ 環状溝
１６Ｂ 両端部
１８ ドア
１８Ａ 凸部
２０ リール
２２ ＲＦＩＤタグ
３０ 記録システム
３２ 記録制御装置
３４ テープライブラリ
３６ スロット
３８ テープドライブ
４０ 読取部
４２ ヘッド
４４ 記録素子
４６ 再生素子
５０ ＣＰＵ
５２ ＲＯＭ
５４ ＲＡＭ
５６ 記憶部
５８ 表示部
６０ 入力部
６２、６８ 入出力Ｉ／Ｆ
６４ バス
ＦＲ 矢印
Ｌ 直線
ＲＨ 矢印
Ｔ 記録テープ
ＵＰ 矢印

Claims (6)

  1. 記録テープカートリッジが有する記録媒体に記録された、前記記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレートに相関する情報である前記磁気テープに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベル、及び前記信号レベルの測定日を読み取る読取部と、
    前記読取部により読み取られた信号レベル及び測定日と、前記記録テープカートリッジを使用する際に測定された前記信号レベル及び測定日とを用いて、前記記録テープカートリッジの寿命を推定する推定部と、
    を備えた記録制御装置。
  2. 前記推定部は、前記記録媒体に記録された前記信号レベル及び前記測定日と、前記記録テープカートリッジを使用する際に測定された前記信号レベル及び測定日とを用いて、前記サーボ信号の信号レベルの経時に伴う変化度合いを算出し、算出した変化度合いを用いて、前記サーボ信号の信号レベルが閾値未満となる保存期間を前記記録テープカートリッジの寿命と推定する、
    請求項１に記載の記録制御装置。
  3. 前記記録媒体には、前記記録テープカートリッジの製造工程において測定された前記信号レベル及び測定日が記録される、
    請求項１又は請求項２に記載の記録制御装置。
  4. 前記推定部は、現時点から遡った所定期間内に複数回前記記録テープカートリッジを使用する際に各々測定された前記信号レベル及び測定日を用いて、前記記録テープカートリッジの寿命を推定する、
    請求項１から請求項３の何れか１項に記載の記録制御装置。
  5. 前記記録媒体は、ＲＦＩＤタグである、
    請求項１から請求項４の何れか１項に記載の記録制御装置。
  6. 記録テープカートリッジが有する記録媒体に記録された、前記記録テープカートリッジが有する磁気テープに対するデータの読み込み又は書き込みのエラーレートに相関する情報である前記磁気テープに記録されたサーボ信号が読み取られた際の信号レベル、及び前記信号レベルの測定日を読み取り、
    読み取った信号レベル及び測定日と、前記記録テープカートリッジを使用する際に測定された前記信号レベル及び測定日とを用いて、前記記録テープカートリッジの寿命を推定する、
    記録制御方法。
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