JP2022120687A - 磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】磁気テープに対して適切な制御を行うための情報を得ることが可能な磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法を提供する。【解決手段】磁気テープカートリッジは、磁気テープが収容されるケースと、ケースに設けられたカートリッジメモリのＮＶＭとを備える。ＮＶＭは、磁気テープの使用時の温湿度の許容範囲、磁気テープの保存期間の上限、および磁気テープの使用回数の上限に関する識別ＩＤを含むカートリッジ情報を記憶する。【選択図】図１６

Description

本開示の技術は、磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法に関する。

磁気テープが収容される磁気テープカートリッジには、情報を記憶するカートリッジメモリが搭載されている。特許文献１には、磁気テープドライブによる磁気テープへのデータの記録時の情報をカートリッジメモリに記憶しておき、データの読み取り時にカートリッジメモリから情報を読み出して参照することが記載されている。情報は、データの記録時の温湿度の情報、データの記録時に走行中の磁気テープに掛けられた張力の情報等を含む。

また、磁気テープカートリッジではなく磁気テープカセットであるが、特許文献２および３には、磁気テープの使用回数および／または使用累積時間を記憶しておくことが記載されている。

特許第６６６９３２６号 特開２０００－２８５６３４号公報 特開平０５－２９０４４５号公報

磁気テープは各メーカーから多くの種類がリリースされており、これら複数種の磁気テープはそれぞれ特性が異なる。例えば、磁気テープの使用時の温湿度の許容範囲が、磁気テープＡは１５℃２０％～３５℃８０％、磁気テープＢは１０℃１０％～４０℃９０％、等である。あるいは、磁気テープの保存期間の上限および使用回数の上限が、磁気テープＣは１０００００時間および１００００回、磁気テープＤは１５００００時間および１５０００回、等である。こうした様々な特性を有する磁気テープに対して、特性に応じた適切な制御が行われないと、データの書き込みおよび／または読み取りに支障を来すおそれがある。

本開示の技術に係る１つの実施形態は、磁気テープに対して適切な制御を行うための情報を得ることが可能な磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法を提供する。

本開示の磁気テープカートリッジは、磁気テープが収容されるケースと、ケースに設けられた記憶媒体と、を備え、記憶媒体は、磁気テープの使用時の温湿度の許容範囲に関する温湿度許容範囲関連情報、磁気テープの保存期間の上限に関する保存期間上限関連情報、および磁気テープの使用回数の上限に関する使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを記憶する。

温湿度許容範囲関連情報は、温湿度の許容範囲を表す数値自体、または温湿度の許容範囲を表す数値に対応する第１識別情報であることが好ましい。

保存期間上限関連情報は、保存期間の上限を表す数値自体、または保存期間の上限を表す数値に対応する第２識別情報であることが好ましい。

使用回数上限関連情報は、使用回数の上限を表す数値自体、または使用回数の上限を表す数値に対応する第３識別情報であることが好ましい。

記憶媒体は、非接触式読み書き装置により情報の読み出しおよび書き込みが行われる非接触式通信媒体に内蔵された内蔵メモリを含むことが好ましい。

温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つは、内蔵メモリの記憶ブロックであって、情報の書き換えが不可とされる記憶ブロックに記憶されていることが好ましい。

記憶媒体は、磁気テープの一部の領域を含むことが好ましい。

記憶媒体は、磁気テープに掛けられる張力の許容範囲に関する張力許容範囲関連情報も記憶することが好ましい。この場合、張力許容範囲関連情報は、張力の許容範囲を表す数値自体、または張力の許容範囲を表す数値に対応する第４識別情報であることが好ましい。

本開示の磁気テープドライブは、上記のいずれかに記載の磁気テープカートリッジが装填される磁気テープドライブであって、記憶媒体に記憶されている、温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出す読出装置と、温湿度センサが検出した温湿度を取得する温湿度取得部、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または磁気テープにデータを記録してからの経過時間を取得する経過時間取得部、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数を取得する使用回数取得部のうちの少なくとも１つと、温湿度取得部が取得した温湿度と温湿度の許容範囲、経過時間取得部が取得した経過時間と保存期間の上限、および使用回数取得部が取得した使用回数と使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行う制御部と、を備える。

制御部は、温湿度取得部が取得した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、経過時間取得部が取得した経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、および使用回数取得部が取得した使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合は、磁気テープの使用を許可する制御を行い、温湿度取得部が取得した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、経過時間取得部が取得した経過時間が保存期間の上限以上であった場合、および使用回数取得部が取得した使用回数が使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合は、磁気テープの使用を禁止する制御、および磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つを行うことが好ましい。

記憶媒体に張力許容範囲関連情報も記憶される場合、制御部は、張力付与機構の動作を制御することで、張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を磁気テープに付与させることが好ましい。

本開示の磁気テープドライブの作動方法は、上記のいずれかに記載の磁気テープカートリッジに含まれる記憶媒体に記憶されている、温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出すこと、および、温湿度センサが検出した温湿度と温湿度の許容範囲、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または磁気テープにデータを記録してからの経過時間と保存期間の上限、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数と使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行うこと、を含む。

制御は、温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、および使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合に、磁気テープの使用を許可する制御と、温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、経過時間が保存期間の上限以上であった場合、および使用回数が使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合に、磁気テープの使用を禁止する制御、および磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つとを含むことが好ましい。

記憶媒体に張力許容範囲関連情報も記憶される場合、制御は、張力付与機構の動作を制御することで、張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を磁気テープに付与させることを含むことが好ましい。

本開示の磁気テープシステムは、上記のいずれかに記載の磁気テープカートリッジと、記憶媒体に記憶されている、温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出す読出装置と、温湿度センサが検出した温湿度と温湿度の許容範囲、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または磁気テープにデータを記録してからの経過時間と保存期間の上限、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数と使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行う制御装置と、を備える。

制御装置は、温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、および使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合は、磁気テープの使用を許可する制御を行い、温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、経過時間が保存期間の上限以上であった場合、および使用回数が使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合は、磁気テープの使用を禁止する制御、および磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つを行うことが好ましい。

記憶媒体に張力許容範囲関連情報も記憶される場合、制御装置は、張力付与機構の動作を制御することで、張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を磁気テープに付与させることが好ましい。

本開示の技術によれば、磁気テープに対して適切な制御を行うための情報を得ることが可能な磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法を提供することができる。

磁気テープカートリッジの外観の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジの下ケースの内側の右後端部の構造の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジの下ケースの内面に設けられた支持部材の一例を示す側面視断面図である。 磁気テープドライブのハードウェア構成の一例を示す概略構成図である。 磁気テープカートリッジの下側から非接触式読み書き装置によって磁界が放出されている態様の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリに対して非接触式読み書き装置から磁界が付与されている態様の一例を示す概念図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの基板の裏面の構造の一例を示す概略底面図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの基板の表面の構造の一例を示す概略平面図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの回路構成の一例を示す概略回路図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリに搭載されているＩＣチップのコンピュータのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 カートリッジ情報が記憶された記憶ブロックの一例を示す図である。 使用回数情報が記憶された記憶ブロックの一例を示す図である。 記憶ブロックにカートリッジ情報を書き込む態様の一例を示す図である。 カートリッジ情報が記憶された記憶ブロックに対してロック処理を行う態様の一例を示す図である。 制御装置の詳細構成の一例を示すブロック図である。 記憶ブロックからカートリッジ情報を読み出して、カートリッジ情報に対応する温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限をＡＳＩＣに入力する様子の一例を示す図である。 ＡＳＩＣの詳細構成の一例を示すブロック図である。 温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合の制御の一例を示す図である。 温湿度センサが検出した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合の制御の一例を示す図である。 磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合の制御の一例を示す図である。 磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間が保存期間の上限以上であった場合の制御の一例を示す図である。 磁気テープのそれまでの使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合の制御の一例を示す図である。 磁気テープのそれまでの使用回数が使用回数の上限以上であった場合の制御の一例を示す図である。 カートリッジメモリのＣＰＵの動作手順の一例を示すフローチャートである。 磁気テープドライブの動作手順の一例を示すフローチャートである。 温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報の別の例を示す図である。 温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限に加えて、張力の許容範囲が情報テーブルに登録された態様の一例を示す図である。 記憶ブロックから張力許容範囲関連情報を読み出して、読み出した張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を磁気テープに付与する態様の一例を示す図である。 温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、使用回数上限関連情報、および張力許容範囲関連情報の別の例を示す図である。 張力許容範囲関連情報が磁気テープのＢＯＴ領域に書き込まれる態様の一例を示す図である。 張力許容範囲関連情報が磁気テープのＢＯＴ領域に書き込まれる態様の別の例を示す図である。 磁気テープにデータを記録してからの経過時間を取得する例を示す図である。 経過時間が保存期間の上限に近付いた場合の制御の一例を示す図である。 磁気テープのそれまでの使用回数が使用回数の上限に近付いた場合の制御の一例を示す図である。

以下、添付図面に従って本開示の技術に係る磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、並びに磁気テープドライブの作動方法の実施形態の一例について説明する。

先ず、以下の説明で使用される文言について説明する。

ＣＰＵとは、“Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ”の略称を指す。ＲＡＭとは、“Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＤＲＡＭとは、“Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＳＲＡＭとは、“Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＮＶＭとは、“Ｎｏｎ－Ｖｏｌａｔｉｌｅ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＲＯＭとは、“Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＥＥＰＲＯＭとは、“Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ ａｎｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ”の略称を指す。ＡＳＩＣとは、“Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ”の略称を指す。ＰＬＤとは、“Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ”の略称を指す。ＦＰＧＡとは、“Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ”の略称を指す。ＳｏＣとは、“Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ”の略称を指す。ＩＣとは、“Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ”の略称を指す。ＲＦＩＤとは、“Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｅｒ”の略称を指す。ＬＴＯとは、“Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ－Ｏｐｅｎ”の略称を指す。ＩＢＭとは、“Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｂｕｓｉｎｅｓｓ Ｍａｃｈｉｎｅｓ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ”の略称を指す。ＩＤとは、“Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｄａｔａ”の略称を指す。ＢＯＴとは、“Ｂｅｇｉｎｎｉｎｇ Ｏｆ Ｔａｐｅ”の略称を指す。ＥＯＴとは、“Ｅｎｄ Ｏｆ Ｔａｐｅ”の略称を指す。ＩＳＯとは、“Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｏｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ ｆｏｒ Ｓｔａｎｄａｒｄｉｚａｔｉｏｎ”の略称を指す。ＥＣＭＡとは、“Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒｓ Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ”の略称を指す。

［第１実施形態］
図１～図３を参照しながら、磁気テープカートリッジ１０の構成の一例について説明する。以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、磁気テープカートリッジ１０の磁気テープドライブ３０（図４参照）への装填方向を矢印Ａで示し、矢印Ａ方向を磁気テープカートリッジ１０の前方向とし、磁気テープカートリッジ１０の前方向の側を磁気テープカートリッジ１０の前側とする。以下に示す構造の説明において、「前」とは、磁気テープカートリッジ１０の前側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、矢印Ａ方向と直交する矢印Ｂ方向を右方向とし、磁気テープカートリッジ１０の右方向の側を磁気テープカートリッジ１０の右側とする。以下に示す構造の説明において、「右」とは、磁気テープカートリッジ１０の右側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、矢印Ａ方向および矢印Ｂ方向と直交する方向を矢印Ｃで示し、矢印Ｃ方向を磁気テープカートリッジ１０の上方向とし、磁気テープカートリッジ１０の上方向の側を磁気テープカートリッジ１０の上側とする。以下に示す構造の説明において、「上」とは、磁気テープカートリッジ１０の上側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、磁気テープカートリッジ１０の前方向と逆の方向を磁気テープカートリッジ１０の後方向とし、磁気テープカートリッジ１０の後方向の側を磁気テープカートリッジ１０の後側とする。以下に示す構造の説明において、「後」とは、磁気テープカートリッジ１０の後側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、磁気テープカートリッジ１０の右方向と逆の方向を磁気テープカートリッジ１０の左方向とし、磁気テープカートリッジ１０の左方向の側を磁気テープカートリッジ１０の左側とする。以下に示す構造の説明において、「左」とは、磁気テープカートリッジ１０の左側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図１～図３において、磁気テープカートリッジ１０の上方向と逆の方向を磁気テープカートリッジ１０の下方向とし、磁気テープカートリッジ１０の下方向の側を磁気テープカートリッジ１０の下側とする。以下に示す構造の説明において、「下」とは、磁気テープカートリッジ１０の下側を指す。

また、以下の説明では、磁気テープカートリッジ１０の仕様としてＬＴＯを例に挙げて説明するが、これはあくまでも一例に過ぎず、ＩＢＭ３５９２等の仕様に準じていてもよい。

一例として図１に示すように、磁気テープカートリッジ１０は、平面視略矩形であり、かつ、箱状のケース１２を備えている。ケース１２には、磁気テープＭＴが収容される。ケース１２は、ポリカーボネート等の樹脂製であり、上ケース１４および下ケース１６を備えている。上ケース１４および下ケース１６は、上ケース１４の下周縁面と下ケース１６の上周縁面とを接触させた状態で、溶着（例えば、超音波溶着）およびビス止めによって接合されている。接合方法は、溶着およびビス止めに限らず、他の接合方法であってもよい。

ケース１２の内部には、カートリッジリール１８が回転可能に収容されている。カートリッジリール１８は、リールハブ１８Ａ、上フランジ１８Ｂ１、および下フランジ１８Ｂ２を備えている。リールハブ１８Ａは、円筒状に形成されている。リールハブ１８Ａは、カートリッジリール１８の軸心部であり、軸心方向がケース１２の上下方向に沿っており、ケース１２の中央部に配置されている。上フランジ１８Ｂ１および下フランジ１８Ｂ２の各々は円環状に形成されている。リールハブ１８Ａの上端部には上フランジ１８Ｂ１の平面視中央部が固定されており、リールハブ１８Ａの下端部には下フランジ１８Ｂ２の平面視中央部が固定されている。リールハブ１８Ａの外周面には、磁気テープＭＴが巻き回されており、磁気テープＭＴの幅方向の端部は上フランジ１８Ｂ１および下フランジ１８Ｂ２によって保持されている。なお、リールハブ１８Ａと上フランジ１８Ｂ１および／または下フランジ１８Ｂ２とが一体成型されていてもよい。

ケース１２の右壁１２Ａの前側には、開口１２Ｂが形成されている。磁気テープＭＴは、開口１２Ｂから引き出される。

一例として図２に示すように、下ケース１６の右後端部には、カートリッジメモリ１９が収容されている。カートリッジメモリ１９は、本開示の技術に係る「非接触式通信媒体」の一例である。本実施形態では、いわゆるパッシブ型のＲＦＩＤタグがカートリッジメモリ１９として採用されている。

カートリッジメモリ１９には、磁気テープＭＴに関する情報が記憶されている。磁気テープＭＴに関する情報とは、例えば、磁気テープカートリッジ１０を管理する管理情報を指す。管理情報には、例えば、カートリッジメモリ１９に関する情報、磁気テープカートリッジ１０を特定可能な情報、磁気テープＭＴの記録容量、磁気テープＭＴに記録されているデータの概要、データの項目、およびデータの記録形式等を示す情報が含まれている。

カートリッジメモリ１９は、非接触式読み書き装置との間で非接触通信を行う。非接触式読み書き装置としては、例えば、磁気テープカートリッジ１０の生産工程で使用される非接触式読み書き装置（例えば、図１３に示す非接触式読み書き装置５０Ｂ）、および、磁気テープドライブ（例えば、図４に示す磁気テープドライブ３０）内で使用される非接触式読み書き装置（例えば、図４～図６、および図１６に示す非接触式読み書き装置５０Ａ）が挙げられる。

非接触式読み書き装置は、カートリッジメモリ１９に対して、非接触式で各種情報の読み書きを行う。詳しくは後述するが、カートリッジメモリ１９は、非接触式読み書き装置から与えられた磁界ＭＦ（図５等参照）に対して電磁的に作用することで電力を生成する。そして、カートリッジメモリ１９は、生成した電力を用いて作動し、磁界ＭＦを介して非接触式読み書き装置と通信を行うことで非接触式読み書き装置との間で各種情報の授受を行う。なお、非接触式読み書き装置とカートリッジメモリ１９との通信方式としては、例えば、ＩＳＯ１４４４３、またはＩＳＯ１８０９２等の公知の規格に準じる方式を採用することができる。あるいは、ＥＣＭＡ３１９といったＬＴＯの仕様に準じる方式を採用することができる

一例として図２に示すように、下ケース１６の右後端部の底板１６Ａの内面には、支持部材２０が設けられている。支持部材２０は、カートリッジメモリ１９を傾斜させた状態で下方から支持する一対の傾斜台である。一対の傾斜台は、第１傾斜台２０Ａおよび第２傾斜台２０Ｂである。第１傾斜台２０Ａおよび第２傾斜台２０Ｂは、ケース１２の左右方向に間隔を隔てて配置されており、下ケース１６の後壁１６Ｂの内面および底板１６Ａの内面に一体化されている。第１傾斜台２０Ａは、傾斜面２０Ａ１を有しており、傾斜面２０Ａ１は、後壁１６Ｂの内面から底板１６Ａの内面に向けて下り傾斜している。また、第２傾斜台２０Ｂは、傾斜面２０Ｂ１を有しており、傾斜面２０Ｂ１も、後壁１６Ｂの内面から底板１６Ａの内面に向けて下り傾斜している。

支持部材２０の前方側には、一対の位置規制リブ２２が左右方向に間隔を隔てて配置されている。一対の位置規制リブ２２は、底板１６Ａの内面に立設されており、支持部材２０に配置された状態のカートリッジメモリ１９の下端部の位置を規制する。

一例として図３に示すように、底板１６Ａの外面には基準面１６Ａ１が形成されている。基準面１６Ａ１は、平面である。ここで、平面とは、底板１６Ａを下側にして下ケース１６を水平面に置いた場合において、水平面に対して平行な面を指す。ここで、「平行」とは、完全な平行の他に、本開示の技術が属する技術分野で一般的に許容される誤差であって、本開示の技術の趣旨に反しない程度の誤差を含めた意味合いでの平行を指す。支持部材２０の傾斜角度θ、すなわち、傾斜面２０Ａ１および傾斜面２０Ｂ１（図２参照）の傾斜角度は、基準面１６Ａ１に対して４５度である。なお、４５度は、あくまでも一例に過ぎず、“０度＜傾斜角度θ＜４５度”であってもよいし、“４５度≦傾斜角度θ”であってもよい。

カートリッジメモリ１９は、基板２６を備えている。基板２６は、基板２６の裏面２６Ａを下側に向けて支持部材２０上に置かれ、支持部材２０は、基板２６の裏面２６Ａを下方から支持する。基板２６の裏面２６Ａの一部は、支持部材２０の傾斜面、すなわち、傾斜面２０Ａ１および２０Ｂ１（図２参照）に接触しており、基板２６の表面２６Ｂは、上ケース１４の天板１４Ａの内面１４Ａ１側に露出している。

上ケース１４は、複数のリブ２４を備えている。複数のリブ２４は、ケース１２の左右方向に間隔を隔てて配置されている。複数のリブ２４は、上ケース１４の天板１４Ａの内面１４Ａ１から下側に突設されており、各リブ２４の先端面２４Ａは、傾斜面２０Ａ１および２０Ｂ１（図２参照）に対応した傾斜面を有する。すなわち、各リブ２４の先端面２４Ａは、基準面１６Ａ１に対して４５度に傾斜している。

カートリッジメモリ１９が支持部材２０に配置された状態で、上述したように上ケース１４が下ケース１６に接合されると、各リブ２４の先端面２４Ａは、基板２６に対して表面２６Ｂ側から接触し、基板２６は、各リブ２４の先端面２４Ａと支持部材２０の傾斜面２０Ａ１および２０Ｂ１（図２参照）とで挟み込まれる。これにより、カートリッジメモリ１９の上下方向の位置がリブ２４によって規制される。

一例として図４に示すように、磁気テープドライブ３０は、搬送装置３４、磁気ヘッド３６、および制御装置３８を備えている。磁気テープドライブ３０には、磁気テープカートリッジ１０が装填される。磁気テープドライブ３０は、磁気テープカートリッジ１０から磁気テープＭＴを引き出し、引き出した磁気テープＭＴに磁気ヘッド３６を用いてデータを記録し、かつ、引き出した磁気テープＭＴから磁気ヘッド３６を用いてデータをリニア・サーペンタイン方式で読み取る装置である。なお、本実施形態において、データの読み取りとは、換言すると、データの再生を指す。

制御装置３８は、磁気テープドライブ３０の全体の動作を制御する。本実施形態において、制御装置３８は、ＡＳＩＣ１２０（図１５参照）によって実現されているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、制御装置３８は、ＦＰＧＡによって実現されるようにしてもよい。また、制御装置３８は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、およびＲＡＭを含むコンピュータによって実現されるようにしてもよい。また、ＡＳＩＣ１２０、ＦＰＧＡ、およびコンピュータのうちの２つ以上を組み合わせて実現されるようにしてもよい。すなわち、制御装置３８は、ハードウェア構成とソフトウェア構成との組み合わせによって実現されるようにしてもよい。

搬送装置３４は、磁気テープＭＴを順方向および逆方向に選択的に搬送する装置であり、送出モータ４０、巻取リール４２、巻取モータ４４、複数のガイドローラＧＲ、および制御装置３８を備えている。なお、ここで、順方向とは、磁気テープＭＴの送り出し方向を指し、逆方向とは、磁気テープＭＴの巻き戻し方向を指す。

送出モータ４０は、制御装置３８の制御下で、磁気テープカートリッジ１０内のカートリッジリール１８を回転させる。制御装置３８は、送出モータ４０を制御することで、カートリッジリール１８の回転方向、回転速度、および回転トルク等を制御する。

磁気テープＭＴが巻取リール４２によって巻き取られる場合（ロードされる場合）には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが順方向に走行するように送出モータ４０を回転させる。送出モータ４０の回転速度および回転トルク等は、巻取リール４２によって巻き取られる磁気テープＭＴの速度に応じて調整される。

巻取モータ４４は、制御装置３８の制御下で、巻取リール４２を回転させる。制御装置３８は、巻取モータ４４を制御することで、巻取リール４２の回転方向、回転速度、および回転トルク等を制御する。

磁気テープＭＴが巻取リール４２によって巻き取られる場合には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが順方向に走行するように巻取モータ４４を回転させる。巻取モータ４４の回転速度および回転トルク等は、巻取リール４２によって巻き取られる磁気テープＭＴの速度に応じて調整される。このようにして送出モータ４０および巻取モータ４４の各々の回転速度および回転トルク等が調整されることで、磁気テープＭＴに張力が付与される。すなわち、送出モータ４０および巻取モータ４４は、本開示の技術に係る「張力付与機構」の一例である。

なお、磁気テープＭＴをカートリッジリール１８に巻き戻す場合（アンロードする場合）には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが逆方向に走行するように送出モータ４０および巻取モータ４４を回転させる。

本実施形態では、送出モータ４０および巻取モータ４４の回転速度および回転トルク等が制御されることにより磁気テープＭＴに掛けられる張力が制御されているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、磁気テープＭＴに掛けられる張力は、ダンサローラを用いて制御されるようにしてもよいし、バキュームチャンバに磁気テープＭＴを引き込むことによって制御されるようにしてもよい。

複数のガイドローラＧＲの各々は、磁気テープＭＴを案内するローラである。磁気テープＭＴの走行経路は、複数のガイドローラＧＲが磁気テープカートリッジ１０と巻取リール４２との間において磁気ヘッド３６を跨ぐ位置に分けて配置されることによって定められている。

磁気ヘッド３６は、記録読取素子４６およびホルダ４７を備えている。記録読取素子４６は、走行中の磁気テープＭＴに接触するようにホルダ４７によって保持されており、搬送装置３４によって搬送される磁気テープＭＴにデータを記録し、かつ磁気テープＭＴからデータを読み取る。

磁気テープドライブ３０は、非接触式読み書き装置５０を備えている。非接触式読み書き装置５０は、磁気テープカートリッジ１０が装填された状態の磁気テープカートリッジ１０の下側にてカートリッジメモリ１９の裏面２６Ａに正対するように配置されている。なお、磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填された状態とは、例えば、磁気ヘッド３６による磁気テープＭＴに対するデータの読み取りを開始する位置として事前に定められた位置に、磁気テープカートリッジ１０が到達した状態を指す。

図４に示す例では、非接触式読み書き装置５０が磁気テープドライブ３０に搭載されている態様例が示されているが、本開示の技術はこれに限定されない。非接触式読み書き装置５０は、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階においても使用される。この場合、例えば、据え置き型または携帯型の非接触式読み書き装置５０が用いられる。なお、以下の説明では、区別する必要がある場合に限り、磁気テープドライブ３０に搭載された非接触式読み書き装置５０を非接触式読み書き装置５０Ａと表記し、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階において使用される据え置き型または携帯型の非接触式読み書き装置５０を非接触式読み書き装置５０Ｂと表記する。

制御装置３８には、温湿度センサ４８および表示部４９が接続されている。温湿度センサ４８は、磁気テープドライブ３０内の温湿度を検出する。温湿度センサ４８は、検出した温湿度を制御装置３８に出力する。表示部４９は、例えば液晶ディスプレイ等であり、制御装置３８の制御下で、磁気テープドライブ３０の動作状態を表示する。

一例として図５に示すように、非接触式読み書き装置５０Ａは、磁気テープカートリッジ１０の下側からカートリッジメモリ１９に向けて磁界ＭＦを放出する。磁界ＭＦは、カートリッジメモリ１９を貫通する。

一例として図６に示すように、非接触式読み書き装置５０Ａは、制御装置３８に接続されている。制御装置３８は、カートリッジメモリ１９を制御する制御信号を非接触式読み書き装置５０Ａに出力する。非接触式読み書き装置５０Ａは、制御装置３８から入力された制御信号に従って、磁界ＭＦをカートリッジメモリ１９に向けて放出する。磁界ＭＦは、カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａ側から表面２６Ｂ側に貫通する。

非接触式読み書き装置５０Ａは、カートリッジメモリ１９との間で非接触通信を行うことで、制御信号に応じたコマンド信号をカートリッジメモリ１９に与える。より詳しく説明すると、非接触式読み書き装置５０Ａは、制御装置３８の制御下で、コマンド信号をカートリッジメモリ１９に空間伝送する。詳しくは後述するが、コマンド信号は、カートリッジメモリ１９に対する指令を示す信号である。

なお、ここでは、制御装置３８の制御下で、非接触式読み書き装置５０Ａがコマンド信号をカートリッジメモリ１９に空間伝送する形態例を挙げて説明しているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階では、非接触式読み書き装置５０Ｂが、制御装置３８とは異なる制御装置の制御下で、コマンド信号をカートリッジメモリ１９に空間伝送する。

コマンド信号が非接触式読み書き装置５０Ａからカートリッジメモリ１９に空間伝送される場合、磁界ＭＦには、非接触式読み書き装置５０Ａによって、制御装置３８からの指示に応じたコマンド信号が含まれる。換言すると、磁界ＭＦには、非接触式読み書き装置５０Ａによってコマンド信号が重畳される。すなわち、非接触式読み書き装置５０Ａは、制御装置３８の制御下で、磁界ＭＦを介してコマンド信号をカートリッジメモリ１９に送信する。

カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂには、ＩＣチップ５２およびコンデンサ５４が搭載されている。ＩＣチップ５２およびコンデンサ５４は、表面２６Ｂに接着されている。また、カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂにおいて、ＩＣチップ５２およびコンデンサ５４は封止材５６によって封止されている。ここでは、封止材５６として、紫外線に反応して硬化する紫外線硬化樹脂が採用されている。なお、紫外線硬化樹脂は、あくまでも一例に過ぎず、紫外線以外の波長域の光に反応して硬化する光硬化樹脂を封止材５６として使用してもよいし、熱硬化性樹脂を封止材５６として使用してもよいし、他の接着剤を封止材５６として使用してもよい。

一例として図７に示すように、カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａには、コイル６０がループ状に形成されている。ここでは、コイル６０の素材として、銅箔が採用されている。銅箔は、あくまでも一例に過ぎず、例えば、アルミニウム箔等の他種類の導電性素材であってもよい。コイル６０は、非接触式読み書き装置５０から与えられた磁界ＭＦ（図５および図６参照）が作用することで誘導電流を誘起する。

カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａには、第１導通部６２Ａおよび第２導通部６２Ｂが設けられている。第１導通部６２Ａおよび第２導通部６２Ｂは、はんだを有しており、表面２６ＢのＩＣチップ５２（図６および図８参照）およびコンデンサ５４（図６および図８参照）に対してコイル６０の両端部を電気的に接続している。

一例として図８に示すように、カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂにおいて、ＩＣチップ５２およびコンデンサ５４は、ワイヤ接続方式で互いに電気的に接続されている。具体的には、ＩＣチップ５２の正極端子および負極端子のうちの一方の端子が配線６４Ａを介して第１導通部６２Ａに接続されており、他方の端子が配線６４Ｂを介して第２導通部６２Ｂに接続されている。また、コンデンサ５４は、一対の電極を有する。図８に示す例では、一対の電極は、電極５４Ａおよび５４Ｂである。電極５４Ａは、配線６４Ｃを介して第１導通部６２Ａに接続されており、電極５４Ｂは、配線６４Ｄを介して第２導通部６２Ｂに接続されている。これにより、コイル６０に対して、ＩＣチップ５２およびコンデンサ５４は並列に接続される。

一例として図９に示すように、ＩＣチップ５２は、内蔵コンデンサ８０、電源回路８２、コンピュータ８４、クロック信号生成器８６、および信号処理回路８８を備えている。ＩＣチップ５２は、磁気テープカートリッジ１０以外の用途にも使用可能な汎用タイプのＩＣチップである。

カートリッジメモリ１９は、電力生成器７０を備えている。電力生成器７０は、非接触式読み書き装置５０から与えられた磁界ＭＦがコイル６０に対して作用することで電力を生成する。具体的には、電力生成器７０は、共振回路９２を用いて交流電力を生成し、生成した交流電力を直流電力に変換して出力する。

電力生成器７０は、共振回路９２および電源回路８２を有する。共振回路９２は、コンデンサ５４、コイル６０、および内蔵コンデンサ８０を備えている。内蔵コンデンサ８０は、ＩＣチップ５２に内蔵されているコンデンサであり、電源回路８２もＩＣチップ５２に内蔵されている回路である。内蔵コンデンサ８０は、コイル６０に対して並列に接続されている。

コンデンサ５４は、ＩＣチップ５２に対して外付けされたコンデンサである。ＩＣチップ５２は、本来、磁気テープカートリッジ１０とは異なる用途でも用いることが可能な汎用のＩＣチップである。そのため、内蔵コンデンサ８０の容量は、磁気テープカートリッジ１０で用いられるカートリッジメモリ１９で要求される共振周波数を実現するには不足する場合がある。そこで、カートリッジメモリ１９では、磁界ＭＦが作用することで共振回路９２を予め定められた共振周波数で共振させる上で必要な容量値を有するコンデンサとして、ＩＣチップ５２に対してコンデンサ５４が後付けされている。内蔵コンデンサ８０が、磁気テープカートリッジ１０で用いられるカートリッジメモリ１９で要求される共振周波数を実現するために十分な容量を有していた場合は、当然ながらコンデンサ５４は不要である。なお、予め定められた共振周波数は、磁界ＭＦの周波数に相当する周波数（例えば１３．５６ＭＨｚ）であり、カートリッジメモリ１９および／または非接触式読み書き装置５０の仕様等によって適宜決定されればよい。また、コンデンサ５４の容量は、内蔵コンデンサ８０の容量の実測値に基づいて定められている。また、ここでは、コンデンサ５４が外付けされている形態例を挙げているが、本開示の技術はこれに限定されず、ＩＣチップ５２に対してコンデンサ５４が事前に組み込まれていてもよい。

共振回路９２は、磁界ＭＦがコイル６０を貫通することでコイル６０によって誘起された誘導電流を用いて、予め定められた共振周波数の共振現象を発生させることで交流電力を生成し、生成した交流電力を電源回路８２に出力する。

電源回路８２は、整流回路および平滑回路等を有する。整流回路は、複数のダイオードを有する全波整流回路である。全波整流回路は、あくまでも一例に過ぎず、半波整流回路であってもよい。平滑回路は、コンデンサおよび抵抗を含んで構成されている。電源回路８２は、共振回路９２から入力された交流電力を直流電力に変換し、変換して得た直流電力（以下、単に「電力」とも称する）をＩＣチップ５２内の各種の駆動素子に供給する。各種の駆動素子としては、コンピュータ８４、クロック信号生成器８６、および信号処理回路８８が挙げられる。このように、電力生成器７０によってＩＣチップ５２内の各種の駆動素子に対して電力が供給されることで、ＩＣチップ５２は、電力生成器７０によって生成された電力を用いて動作する。

コンピュータ８４は、カートリッジメモリ１９の全体の動作を制御する。クロック信号生成器８６は、クロック信号を生成して信号処理回路８８等に出力する。信号処理回路８８等は、クロック信号生成器８６から入力されたクロック信号に従って動作する。クロック信号生成器８６は、コンピュータ８４の指示に従って、クロック信号の周波数を変更する。

信号処理回路８８は、共振回路９２に接続されている。信号処理回路８８は、復号回路（図示省略）および符号化回路（図示省略）を有する。信号処理回路８８の復号回路は、コイル６０によって受信された磁界ＭＦからのコマンド信号を抽出して復号し、コンピュータ８４に出力する。コンピュータ８４は、コマンド信号に対する応答信号を信号処理回路８８に出力する。すなわち、コンピュータ８４は、信号処理回路８８から入力されたコマンド信号に応じた処理を実行し、処理結果を応答信号として信号処理回路８８に出力する。コンピュータ８４から応答信号が入力されると、信号処理回路８８の符号化回路は、応答信号を符号化することで変調して共振回路９２に出力する。共振回路９２は、信号処理回路８８の符号化回路から入力された応答信号を、磁界ＭＦを介して非接触式読み書き装置５０に送信する。

一例として図１０に示すように、コンピュータ８４は、ＣＰＵ９４、ＮＶＭ９６、およびＲＡＭ９８を備えている。ＣＰＵ９４、ＮＶＭ９６、およびＲＡＭ９８は、バス１００に接続されている。

ＣＰＵ９４は、コンピュータ８４の動作を制御する。ＮＶＭ９６は、本開示の技術に係る「記憶媒体」および「内蔵メモリ」の一例である。ＮＶＭ９６の一例としては、ＥＥＰＲＯＭが挙げられる。ＥＥＰＲＯＭは、これはあくまでも一例に過ぎず、例えば、ＥＥＰＲＯＭに代えて強誘電体メモリであってもよく、ＩＣチップ５２に搭載可能な不揮発性メモリであれば如何なるメモリであってもよい。ＮＶＭ９６は、複数の記憶ブロック１０４を有する。複数の記憶ブロック１０４には、管理情報等が記憶されている。ＲＡＭ９８は、各種情報を一時的に記憶し、ワークメモリとして用いられる。ＲＡＭ９８の一例としては、ＤＲＡＭまたはＳＲＡＭ等が挙げられる。

ＣＰＵ９４は、信号処理回路８８から入力されたコマンド信号に応じて、ポーリング処理、読出処理、書込処理、およびロック処理等を選択的に行う。ポーリング処理は、非接触式読み書き装置５０との間で通信を確立する処理であり、例えば、読出処理および書込処理の前段階の準備処理として行われる。読出処理は、ＮＶＭ９６から管理情報等を読み出す処理である。書込処理は、ＮＶＭ９６に管理情報等を書き込む処理である。ロック処理は、記憶ブロック１０４をロックする処理、換言すると、記憶ブロック１０４に記憶されている情報の書き換えを不可にする処理である。ここで、「情報の書き換え」の意味には、「情報の消去」の意味も含まれる。

一例として図１１に示すように、複数の記憶ブロック１０４のうちの１つである記憶ブロック１０４Ａには、カートリッジ情報１１０が記憶されている。カートリッジ情報１１０は、磁気テープカートリッジ１０の種類を一意に識別するための識別ＩＤと、磁気テープＭＴの製造年月日とを含む。識別ＩＤは、例えば、「ＦＳ」等の磁気テープカートリッジ１０の製造メーカーを表すアルファベットと、「１０００」等の磁気テープカートリッジ１０の製造番号あるいは型番を表す数字との組み合わせである。

一例として図１２に示すように、記憶ブロック１０４Ａとは別の記憶ブロック１０４Ｂには、使用回数情報１１２が記憶されている。使用回数情報１１２は、磁気テープＭＴの使用回数を含む。使用回数は、磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填されて、磁気テープＭＴが使用される度に、非接触式読み書き装置５０Ａによってインクリメントされる。

一例として図１３に示すように、非接触式読み書き装置５０Ｂは、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階のいずれかのタイミングで、カートリッジ情報１１０の書込指令を、コマンド信号としてカートリッジメモリ１９に空間伝送する。ＣＰＵ９４は、非接触式読み書き装置５０Ｂからのコマンド信号に応じて、カートリッジ情報１１０を記憶ブロック１０４Ａに記憶する書込処理を行う。これにより、カートリッジ情報１１０が記憶ブロック１０４Ａに記憶される。

一例として図１４に示すように、ＣＰＵ９４は、カートリッジ情報１１０が記憶された記憶ブロック１０４Ａに対してロック処理を行う。こうして記憶ブロック１０４Ａにロック処理が行われることで、カートリッジ情報１１０が書き換え不可となる。すなわち、記憶ブロック１０４Ａは、本開示の技術に係る「情報の書き換えが不可とされる記憶ブロック」の一例である。なお、ロック処理は、記憶ブロック１０４Ａにカートリッジ情報１１０が記憶された直後でもよいし、磁気テープカートリッジ１０が最初に磁気テープドライブ３０に装填され、磁気テープＭＴが初期化された場合でもよい。

一例として図１５に示すように、制御装置３８は、ＡＳＩＣ１２０およびストレージ１２２を有する。ＡＳＩＣ１２０およびストレージ１２２は、バス１２４に接続されている。

ストレージ１２２には、情報テーブル１２６が記憶されている。情報テーブル１２６には、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに対応する磁気テープＭＴの使用時の温湿度の許容範囲、磁気テープＭＴの保存期間の上限、および磁気テープＭＴの使用回数の上限が登録されている。温湿度の許容範囲は、具体的には、１６℃および３２℃等の温度の上下限値（温度下限および温度上限）と、２０％および８０％等の湿度の上下限値（湿度下限および湿度上限）である。保存期間の上限は、１２００００時間等の時間で表される数値である。使用回数の上限は、１００００回等の回数で表される数値である。情報テーブル１２６は、磁気テープカートリッジ１０の新製品がリリースされる度に更新される。なお、ここでいう湿度とは、相対湿度のことである。

識別ＩＤは、温湿度の許容範囲を表す数値、保存期間の上限を表す数値、および使用回数の上限を表す数値に対応する。つまり、識別ＩＤは、本開示の技術に係る「温湿度許容範囲関連情報」、「保存期間上限関連情報」、および「使用回数上限関連情報」の一例である。また、識別ＩＤは、本開示の技術に係る「第１識別情報」、「第２識別情報」、および「第３識別情報」の一例である。

温湿度の許容範囲は、磁気ヘッド３６によるデータの記録および／または読み取りを問題なく行うことが可能な温湿度の範囲として、コンピュータ・シミュレーションおよび／または実機による試験等により得られた範囲である。保存期間の上限と使用回数の上限も同様に、磁気ヘッド３６によるデータの記録および／または読み取りを問題なく行うことが可能な保存期間の上限と使用回数の上限として、コンピュータ・シミュレーションおよび／または実機による試験等により得られた値である。

一例として図１６に示すように、非接触式読み書き装置５０Ａは、磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填されたタイミングで、カートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２の読出指令を、コマンド信号としてカートリッジメモリ１９に空間伝送する。ＣＰＵ９４は、非接触式読み書き装置５０Ａからのコマンド信号に応じて、カートリッジ情報１１０を記憶ブロック１０４Ａから読み出す読出処理、並びに使用回数情報１１２を記憶ブロック１０４Ｂから読み出す読出処理を行う。そして、ＣＰＵ９４は、読み出したカートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２を、応答信号として非接触式読み書き装置５０Ａに空間伝送する。非接触式読み書き装置５０Ａは、本開示の技術に係る「読出装置」の一例である。また、この非接触式読み書き装置５０Ａと、磁気テープカートリッジ１０および制御装置３８等とは、磁気テープシステム５１を構成する（図４参照）。

非接触式読み書き装置５０Ａは、カートリッジメモリ１９からのカートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２を制御装置３８に出力する。制御装置３８のＡＳＩＣ１２０は、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに対応する温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限を情報テーブル１２６から読み出す。また、ＡＳＩＣ１２０には、カートリッジメモリ１９からのカートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２が入力される。

図１６は、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに「ＦＳ－１０００」が記憶されていた場合を例示している。この場合、ＡＳＩＣ１２０は、識別ＩＤ「ＦＳ－１０００」に対応する温湿度の許容範囲の１６℃および３２℃と２０％および８０％、保存期間の上限の１２００００時間、並びに使用回数の上限の１００００回を情報テーブル１２６から読み出す。なお、図１６では、バス１２４の図示を省略している。

一例として図１７に示すように、ＡＳＩＣ１２０は、温湿度取得部１３０、経過時間算出部１３２、経過時間取得部１３４、使用回数取得部１３６、および制御部１３８として機能する。

温湿度取得部１３０は、温湿度センサ４８が検出した温湿度の情報である温湿度情報１４０を取得する。温湿度取得部１３０は、取得した温湿度情報１４０を制御部１３８に出力する。

経過時間算出部１３２には、カートリッジ情報１１０と時計情報１４２が入力される。時計情報１４２は、制御装置３８に内蔵された時計機能により計時された現在の日付を含む。経過時間算出部１３２は、カートリッジ情報１１０に含まれる磁気テープカートリッジ１０の製造年月日と、時計情報１４２に含まれる現在の日付とから、磁気テープカートリッジ１０の製造年月日からの経過時間を算出する。経過時間算出部１３２は、算出した経過時間の情報である経過時間情報１４４を経過時間取得部１３４に出力する。経過時間取得部１３４は、経過時間算出部１３２からの経過時間情報１４４を取得する。経過時間取得部１３４は、取得した経過時間情報１４４を制御部１３８に出力する。図１７においては、磁気テープカートリッジ１０の製造年月日が２０１５．１１．１１、現在の日付が２０２０．１１．１１で、経過時間が４３８００時間（＝５年）であった場合を例示している。なお、図１７においては、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤを省略している。

使用回数取得部１３６は、使用回数情報１１２を取得する。使用回数取得部１３６は、取得した使用回数情報１１２を制御部１３８に出力する。

制御部１３８は、温湿度取得部１３０からの温湿度情報１４０、経過時間取得部１３４からの経過時間情報１４４、および使用回数取得部１３６からの使用回数情報１１２と、情報テーブル１２６から読み出した温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限とに基づいて、磁気ヘッド３６、送出モータ４０、巻取モータ４４、および表示部４９の動作を制御する。

一例として図１８に示すように、温湿度センサ４８が検出した温湿度、すなわち温湿度取得部１３０が温湿度情報１４０として取得した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、制御部１３８は、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。具体的には、制御部１３８は、送出モータ４０および巻取モータ４４の動作を制御することで、磁気テープＭＴを磁気ヘッド３６に向けて搬送させる。また、制御部１３８は、磁気ヘッド３６の動作を制御することで、磁気テープＭＴへのデータの記録および／または磁気テープＭＴからのデータの読み取りを行わせる。

対して、一例として図１９に示すように、温湿度センサ４８が検出した温湿度、すなわち温湿度取得部１３０が温湿度情報１４０として取得した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、制御部１３８は、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御を行う。具体的には、制御部１３８は、送出モータ４０および巻取モータ４４と、磁気ヘッド３６とを動作させない。また、制御部１３８は、磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を表示部４９に表示する。なお、図１８および図１９においては、温度の上下限値が１６℃および３２℃、湿度の上下限値が２０％および８０％の場合を例示している。

一例として図２０に示すように、経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、制御部１３８は、図１８の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。対して、一例として図２１に示すように、経過時間が保存期間の上限以上であった場合、制御部１３８は、図１９の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御を行う。また、制御部１３８は、磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を表示部４９に表示する。なお、図２０および図２１においては、保存期間の上限が１２００００時間の場合を例示している。

一例として図２２に示すように、磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合、制御部１３８は、図１８および図２０の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。対して、一例として図２３に示すように、磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限以上であった場合、制御部１３８は、図１９および図２１の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御を行う。また、制御部１３８は、磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を表示部４９に表示する。なお、図２２および図２３においては、使用回数の上限が１００００回である場合を例示している。

警告表示の方法としては、例えば、「温湿度が許容範囲外であるため、磁気テープを使用できません。」、「保存期間を過ぎているため、磁気テープを使用できません。」、あるいは「使用回数の上限を超えているため、磁気テープを使用できません。」といったメッセージを表示部４９に表示する方法を採用することができる。また、「ＮＧ」または「ＥＲＲＯＲ」といった文字を赤字で点滅させて表示部４９に表示する方法等も採用することができる。さらに、ビープ音等の音声、あるいは警告灯等で警告を報知してもよい。

次に、上記構成による作用について、図２４および図２５のフローチャートを参照して説明する。まず、一例として図２４に示すように、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階のいずれかのタイミングで、図１３で示したように、ＣＰＵ９４により、非接触式読み書き装置５０Ｂからのカートリッジ情報１１０がカートリッジメモリ１９の記憶ブロック１０４Ａに書き込まれる（ステップＳＴ１００）。次いで、図１４で示したように、ＣＰＵ９４により、カートリッジ情報１１０が記憶された記憶ブロック１０４Ａに対してロック処理が行われる（ステップＳＴ１１０）。これによりカートリッジ情報１１０が書き換え不可とされる。

磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填されたタイミング（ステップＳＴ１２０でＹＥＳ）で、図１６で示したように、ＣＰＵ９４により、カートリッジ情報１１０が記憶ブロック１０４Ａから読み出され、使用回数情報１１２が記憶ブロック１０４Ｂから読み出される。そして、ＣＰＵ９４により、カートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２が非接触式読み書き装置５０Ａに空間伝送される（ステップＳＴ１３０）。

一例として図２５に示すように、カートリッジ情報１１０および使用回数情報１１２は、図１６で示したように、非接触式読み書き装置５０Ａから制御装置３８に出力される（ステップＳＴ２００）。続いて、ＡＳＩＣ１２０により、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに対応する温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限が情報テーブル１２６から読み出される（ステップＳＴ２１０）。

図１７で示したように、ＡＳＩＣ１２０においては、温湿度センサ４８からの温湿度情報１４０が温湿度取得部１３０で取得される。また、カートリッジ情報１１０および時計情報１４２に基づいて、経過時間算出部１３２により経過時間が算出され、その結果である経過時間情報１４４が経過時間取得部１３４に出力される。さらに、使用回数情報１１２が使用回数取得部１３６で取得される。温湿度情報１４０、経過時間情報１４４、および使用回数情報１１２は、制御部１３８に出力される。

温湿度センサ４８が検出した温湿度が温湿度の許容範囲内で、かつ経過時間が保存期間の上限を下回っており、さらに磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合（ステップＳＴ２２０、ＳＴ２３０、およびＳＴ２４０でともにＹＥＳ）、制御部１３８により磁気テープＭＴの使用が許可される（ステップＳＴ２５０）。具体的には、制御部１３８の制御下で送出モータ４０および巻取モータ４４が回転され、磁気テープＭＴが順方向または逆方向に搬送される（ステップＳＴ２６０）。また、制御部１３８の制御下で磁気ヘッド３６が動作され、走行中の磁気テープＭＴにデータが記録される、および／または、走行中の磁気テープＭＴに記録されたデータが読み取られる（ステップＳＴ２７０）。

温湿度センサ４８が検出した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合（ステップＳＴ２２０でＮＯ）、経過時間が保存期間の上限以上であった場合（ステップＳＴ２３０でＮＯ）、および磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限以上であった場合（ステップＳＴ２４０でＮＯ）は、制御部１３８により磁気テープＭＴの使用が禁止される（ステップＳＴ２８０）。また、制御部１３８の制御下で、磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告が表示部４９に表示される（ステップＳＴ２９０）。

以上説明したように、磁気テープカートリッジ１０は、磁気テープＭＴが収容されるケース１２と、ケース１２に設けられたカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６とを備える。ＮＶＭ９６は、磁気テープＭＴの使用時の温湿度の許容範囲、磁気テープＭＴの保存期間の上限、および磁気テープＭＴの使用回数の上限に関する識別ＩＤを含むカートリッジ情報１１０を記憶する。従って、磁気テープＭＴに対して適切な制御を行うための情報を得ることが可能となる。

図１５で示したように、識別ＩＤは、温湿度の許容範囲を表す数値、保存期間の上限を表す数値、および使用回数の上限を表す数値に対応している。このため、温湿度の許容範囲を表す数値自体、保存期間の上限を表す数値自体、および使用回数の上限を表す数値自体をＮＶＭ９６に記憶する場合に比べて、これらの数値の秘匿性を高めることができる。

本実施形態においては、記憶媒体としてＮＶＭ９６が用いられている。ＮＶＭ９６は、非接触式読み書き装置５０により情報の読み出しおよび書き込みが行われるカートリッジメモリ１９に内蔵されている。このため、カートリッジ情報１１０、ひいては識別ＩＤの読み出しおよび書き込みを簡単に行うことができる。

カートリッジ情報１１０、ひいては識別ＩＤは、情報の書き換えが不可とされる記憶ブロック１０４Ａに記憶されている。このため、不用意な識別ＩＤの書き換えを防止することができる。

磁気テープドライブ３０は、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に記憶されている、識別ＩＤを含むカートリッジ情報１１０を読み出す非接触式読み書き装置５０Ａと、温湿度センサ４８が検出した温湿度を取得する温湿度取得部１３０、装填された磁気テープカートリッジ１０の製造年月日からの経過時間を取得する経過時間取得部１３４、および装填された磁気テープカートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴのそれまでの使用回数を取得する使用回数取得部１３６を備える。また、磁気テープドライブ３０は、温湿度取得部１３０が取得した温湿度と温湿度の許容範囲、経過時間取得部１３４が取得した経過時間と保存期間の上限、および使用回数取得部１３６が取得した使用回数と使用回数の上限に基づく制御を行う制御部１３８を備える。このため、磁気テープＭＴに対して適切な制御を行うことができる。

図１８、図２０、および図２２で示したように、制御部１３８は、温湿度取得部１３０が取得した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、経過時間取得部１３４が取得した経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、および使用回数取得部１３６が取得した使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合は、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。対して、図１９、図２１、および図２３で示したように、制御部１３８は、温湿度取得部１３０が取得した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、経過時間取得部１３４が取得した経過時間が保存期間の上限以上であった場合、および使用回数取得部１３６が取得した使用回数が使用回数の上限以上であった場合は、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御、および磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を報知する制御を行う。従って、磁気テープＭＴへのデータの記録および／または磁気テープＭＴに記録されたデータの読み取りに支障を来すおそれを低減することができる。

磁気テープシステム５１は、磁気テープカートリッジ１０と、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に記憶されている、識別ＩＤを含むカートリッジ情報１１０を読み出す非接触式読み書き装置５０Ａと、温湿度センサ４８が検出した温湿度と温湿度の許容範囲、装填された磁気テープカートリッジ１０の製造年月日からの経過時間と保存期間の上限、および装填された磁気テープカートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴのそれまでの使用回数と使用回数の上限に基づく制御を行う制御装置３８とを備える。このため、磁気テープＭＴに対して適切な制御を行うことができる。

図１８、図２０、および図２２で示したように、制御装置３８は、温湿度センサ４８が検出した温湿度が温湿度の許容範囲内であった場合、経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、および使用回数が使用回数の上限を下回っていた場合は、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。対して、図１９、図２１、および図２３で示したように、制御装置３８は、温湿度センサ４８が検出した温湿度が温湿度の許容範囲外であった場合、経過時間が保存期間の上限以上であった場合、および使用回数が使用回数の上限以上であった場合は、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御、および磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御を行う。従って、磁気テープＭＴへのデータの記録および／または磁気テープＭＴに記録されたデータの読み取りに支障を来すおそれを低減することができる。

温湿度の許容範囲の表現方法は、例示の上下限値に限らない。許容範囲の中央値と、中央値に対する許容範囲の上下限値の差とのペアであってもよい。例えば温度の許容範囲が１６℃～３２℃で合った場合は、中央値の２４℃と差の±８℃とで表現する。

温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報は、例示の識別ＩＤに限らない。一例として図２６の温湿度許容範囲関連情報１５０、保存期間上限関連情報１５２、および使用回数上限関連情報１５４に示すように、温湿度の許容範囲を表す数値自体、保存期間の上限を表す数値自体、および使用回数の上限を表す数値自体であってもよい。こうすれば、制御装置３８のストレージ１２２に情報テーブル１２６を用意しなくて済む。

［第２実施形態］
図２７～図２９に示す第２実施形態では、磁気テープＭＴに掛けられる張力の許容範囲に関する張力許容範囲関連情報も記憶する。

一例として図２７に示すように、第２実施形態の情報テーブル１６０には、温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限に加えて、張力の許容範囲が識別ＩＤ毎に登録されている。張力の許容範囲は、具体的には、０．６Ｎおよび１．２Ｎ等の張力の上下限値（張力下限および張力上限）である。この場合、識別ＩＤは、温湿度の許容範囲を表す数値、保存期間の上限を表す数値、および使用回数の上限を表す数値に加えて、張力の許容範囲を表す数値に対応する。つまり、識別ＩＤは、本開示の技術に係る「張力許容範囲関連情報」の一例である。また、識別ＩＤは、本開示の技術に係る「第４識別情報」の一例である。

一例として図２８に示すように、制御装置３８のＡＳＩＣ１２０は、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに対応する温湿度の許容範囲、保存期間の上限、使用回数の上限、および張力の許容範囲を情報テーブル１６０から読み出す。温湿度の許容範囲、保存期間の上限、使用回数の上限、および張力の許容範囲は、制御部１３８に入力される。制御部１３８は、送出モータ４０および巻取モータ４４の動作を制御することで、許容範囲内の張力を磁気テープＭＴに付与させる。制御部１３８は、例えば、許容範囲の中央値の張力を磁気テープＭＴに付与させる。

図２８は、カートリッジ情報１１０の識別ＩＤに「ＦＳ－１０００」が記憶されていた場合を例示している。この場合、ＡＳＩＣ１２０は、識別ＩＤ「ＦＳ－１０００」に対応する張力の許容範囲の上下限値の０．６Ｎおよび１．２Ｎを情報テーブル１６０から読み出す。制御部１３８は、送出モータ４０および巻取モータ４４の動作を制御することで、０．６Ｎ～１．２Ｎ内の張力、例えば０．６Ｎ～１．２Ｎの中央値の０．９Ｎの張力を磁気テープＭＴに付与させる。なお、図２８では、図１６と同じくバス１２４の図示を省略している。また、図２８においては、カートリッジ情報１１０の製造年月日を省略している。さらに、情報テーブル１６０の温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限を省略している。

このように、第２実施形態では、磁気テープＭＴに掛けられる張力の許容範囲に関する張力許容範囲関連情報も記憶する。従って、温湿度の許容範囲、保存期間の上限、および使用回数の上限に加えて、磁気テープＭＴに掛けられる張力の許容範囲に関する情報を得ることも可能となる。

制御部１３８は、送出モータ４０および巻取モータ４４の動作を制御することで、張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を磁気テープＭＴに付与させる。このため、許容範囲の上限値を上回る張力が磁気テープＭＴに掛けられ、塑性変形といった不可逆的なダメージが磁気テープＭＴに与えられるおそれがない。また、許容範囲の下限値を下回る張力が磁気テープＭＴに掛けられ、走行中の磁気テープＭＴがばたつくおそれもない。従って、安定した磁気テープＭＴへのデータの記録および／または磁気テープＭＴに記録されたデータの読み取りが可能となる。

識別ＩＤは、温湿度の許容範囲を表す数値、保存期間の上限を表す数値、および使用回数の上限を表す数値に加えて、張力の許容範囲を表す数値に対応している。このため、張力の許容範囲を表す数値自体をＮＶＭ９６に記憶する場合に比べて、張力の許容範囲を表す数値の秘匿性を高めることができる。

張力の許容範囲の表現方法は、温湿度の許容範囲の場合と同様に、例示の上下限値に限らない。許容範囲の中央値と、中央値に対する許容範囲の上下限値の差とのペアであってもよい。例えば張力の許容範囲が０．６Ｎ～１．２Ｎで合った場合は、中央値の０．９Ｎと差の±０．３Ｎとで表現する。

張力許容範囲関連情報は、温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報の場合と同様に、例示の識別ＩＤに限らない。一例として図２９の張力許容範囲関連情報１６５に示すように、張力の許容範囲を表す数値自体であってもよい。こうすれば、制御装置３８のストレージ１２２に情報テーブル１６０を用意しなくて済む。

［第３実施形態］
上記各実施形態では、記憶媒体としてカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６を例示したが、これに限らない。

一例として図３０に示すように、磁気テープカートリッジ１０が最初に装填された場合、または磁気テープＭＴが初期化された場合のいずれかのタイミングで、制御装置３８のＡＳＩＣ１２０（制御部１３８）は、磁気ヘッド３６の動作を制御することで、カートリッジ情報１１０を磁気テープＭＴの先頭に設けられたＢＯＴ領域１７０に書き込む。また、図示は省略したが、ＡＳＩＣ１２０は、磁気ヘッド３６の動作を制御することで、ＢＯＴ領域１７０からカートリッジ情報１１０を読み取る。この場合、カートリッジ情報１１０は、例えば図示省略した操作入力部を介して、ユーザにより入力される。ＢＯＴ領域１７０は、本開示の技術に係る「磁気テープの一部の領域」の一例である。

このように、第２実施形態では、記憶媒体として、磁気テープＭＴのＢＯＴ領域１７０が用いられる。このため、カートリッジメモリ１９を用意したり、記憶ブロック１０４Ａにカートリッジ情報１１０を記憶したりといった手間を省くことができる。

なお、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、または磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階のいずれかのタイミングで、工場に配置された磁気テープドライブの磁気ヘッドにより、カートリッジ情報１１０をＢＯＴ領域１７０に記憶してもよい。

また、一例として図３１に示すように、非接触式読み書き装置５０Ａによりカートリッジメモリ１９から読み出したカートリッジ情報１１０が、ＡＳＩＣ１２０（制御部１３８）によりＢＯＴ領域１７０に書き込まれる態様でもよい。この場合、記憶ブロック１０４ＡとＢＯＴ領域１７０の両方にカートリッジ情報１１０が記憶されることになる。このため、記憶ブロック１０４Ａに記憶されたカートリッジ情報１１０と、ＢＯＴ領域１７０に記憶されたカートリッジ情報１１０とを突き合わせて、カートリッジ情報１１０の信頼性を確かめることができる。また、記憶ブロック１０４ＡとＢＯＴ領域１７０のいずれか一方に不具合が生じたとしても、他方からカートリッジ情報１１０を得ることができる。ＢＯＴ領域１７０に代えて、あるいは加えて、磁気テープＭＴの後尾に設けられたＥＯＴ領域（図示省略）にカートリッジ情報１１０を記憶してもよい。なお、図３０および図３１においては、カートリッジ情報１１０の製造年月日を省略している。

上記各実施形態では、磁気テープカートリッジ１０の製造年月日からの経過時間を取得する例を記載したが、これに限らない。一例として図３２に示すように、磁気テープＭＴにデータを記録してからの経過時間を取得してもよい。

図３２においては、磁気テープＭＴにデータを記録した年月日であるデータ記録年月日を含むカートリッジ情報１８０を用いる。上記第１実施形態の場合と同様に、経過時間算出部１３２は、カートリッジ情報１８０に含まれるデータ記録年月日と、時計情報１４２に含まれる現在の日付とから、データ記録年月日からの経過時間を算出する。経過時間算出部１３２は、算出した経過時間の情報である経過時間情報１４４を経過時間取得部１３４に出力する。経過時間取得部１３４は、経過時間算出部１３２からの経過時間情報１４４を取得する。経過時間取得部１３４は、取得した経過時間情報１４４を制御部１３８に出力する。

経過時間が保存期間の上限を下回っていた場合、制御部１３８は、図２０の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を許可する制御を行う。対して、経過時間が保存期間の上限以上であった場合、制御部１３８は、図２１の場合と同様に、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御を行う。また、制御部１３８は、磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を表示部４９に表示する。

このように、磁気テープＭＴにデータを記録してからの経過時間と保存期間の上限に基づく制御を行ってもよい。磁気テープカートリッジ１０自体の寿命ではなく、記録したデータが無事かどうかという基準で磁気テープＭＴの使用可否を判断するので、磁気テープカートリッジ１０の製造年月日からの経過時間に基づく制御を行う場合と比べて、磁気テープに対してより適切な制御を行うことができる。

なお、一例として図３３に示すように、経過時間が保存期間の上限に達するまでの時間が１００時間を切った場合等、経過時間が保存期間の上限に近付いた場合に、制御部１３８が、磁気テープＭＴの使用を許可するとともに、経過時間が保存期間の上限に近付いた旨の警告を表示部４９に表示してもよい。また、一例として図３４に示すように、磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限に達するまでの回数が１０回を切った場合等、磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限に近付いた場合に、制御部１３８が、磁気テープＭＴの使用を許可するとともに、磁気テープＭＴのそれまでの使用回数が使用回数の上限に近付いた旨の警告を表示部４９に表示してもよい。こうすれば、磁気テープＭＴの寿命が迫っていることをユーザが知ることができ、データを新品の磁気テープカートリッジ１０の磁気テープＭＴに移し替える等の対応をとることができる。

カートリッジメモリ１９は、ケース１２に内蔵される例示の態様に限らない。カートリッジメモリ１９は、ケース１２の外面に貼り付けられていてもよい。

第１～第４識別情報は、例示の識別ＩＤに限らない。磁気テープカートリッジ１０の製品名自体を識別情報としてもよい。また、記憶媒体は、例示のカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６、および磁気テープＭＴのＢＯＴ領域１７０に限らない。例えば二次元バーコード等を記憶媒体として用いてもよい。

上記各実施形態では、温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報を記憶媒体に記憶する態様を例示したが、これに限らない。温湿度許容範囲関連情報、保存期間上限関連情報、および使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つが記憶媒体に記憶されていればよい。

また、上記各実施形態では、磁気テープＭＴの使用を禁止する制御、および磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を報知する制御の両方の制御を行っているが、これに限らない。磁気テープＭＴの使用を禁止する制御、および磁気テープＭＴが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つを行えばよい。

制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源としては、次に示す各種のプロセッサを用いることができる。プロセッサとしては、例えば、ソフトウェア、すなわち、プログラムを実行することで処理を実行するハードウェア資源として機能する汎用的なプロセッサであるＣＰＵが挙げられる。また、プロセッサとしては、例えば、ＦＰＧＡ、ＰＬＤ、または例示のＡＳＩＣ１２０等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路が挙げられる。いずれのプロセッサにもメモリが内蔵または接続されており、いずれのプロセッサもメモリを使用することで処理を実行する。

制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源は、これらの各種のプロセッサのうちの１つで構成されてもよいし、同種または異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡの組み合わせ、またはＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ）で構成されてもよい。また、制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源は１つのプロセッサであってもよい。

１つのプロセッサで構成する例としては、第１に、１つ以上のＣＰＵとソフトウェアの組み合わせで１つのプロセッサを構成し、このプロセッサが処理を実行するハードウェア資源として機能する形態がある。第２に、ＳｏＣ等に代表されるように、処理を実行する複数のハードウェア資源を含むシステム全体の機能を１つのＩＣチップで実現するプロセッサを使用する形態がある。このように、制御装置３８の処理は、ハードウェア資源として、上記各種のプロセッサの１つ以上を用いて実現される。

更に、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造としては、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路を用いることができる。また、上記の制御装置３８の処理はあくまでも一例である。従って、主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりしてもよいことは言うまでもない。

カートリッジメモリ１９についても同様に、例示のＣＰＵ９４に代えて、あるいは加えて、ＦＰＧＡ、ＰＬＤ、またはＡＳＩＣ等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路を用いてもよい。

本開示の技術は、上述の種々の実施形態および／または種々の変形例を適宜組み合わせることも可能である。また、上記実施形態に限らず、要旨を逸脱しない限り種々の構成を採用し得ることはもちろんである。さらに、本開示の技術は、プログラムに加えて、プログラムを非一時的に記憶する記憶媒体にもおよぶ。

以上に示した記載内容および図示内容は、本開示の技術に係る部分についての詳細な説明であり、本開示の技術の一例に過ぎない。例えば、上記の構成、機能、作用、および効果に関する説明は、本開示の技術に係る部分の構成、機能、作用、および効果の一例に関する説明である。よって、本開示の技術の主旨を逸脱しない範囲内において、以上に示した記載内容および図示内容に対して、不要な部分を削除したり、新たな要素を追加したり、置き換えたりしてもよいことはいうまでもない。また、錯綜を回避し、本開示の技術に係る部分の理解を容易にするために、以上に示した記載内容および図示内容では、本開示の技術の実施を可能にする上で特に説明を要しない技術常識等に関する説明は省略されている。

本明細書において、「Ａおよび／またはＢ」は、「ＡおよびＢのうちの少なくとも１つ」と同義である。つまり、「Ａおよび／またはＢ」は、Ａだけであってもよいし、Ｂだけであってもよいし、ＡおよびＢの組み合わせであってもよい、という意味である。また、本明細書において、３つ以上の事柄を「および／または」で結び付けて表現する場合も、「Ａおよび／またはＢ」と同様の考え方が適用される。

本明細書に記載された全ての文献、特許出願および技術規格は、個々の文献、特許出願および技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。

１０ 磁気テープカートリッジ
１２ ケース
１２Ａ 右壁
１２Ｂ 開口
１４ 上ケース
１４Ａ 天板
１４Ａ１ 内面
１６ 下ケース
１６Ａ 底板
１６Ａ１ 基準面
１６Ｂ 後壁
１８ カートリッジリール
１８Ａ リールハブ
１８Ｂ１ 上フランジ
１８Ｂ２ 下フランジ
１９ カートリッジメモリ
２０ 支持部材
２０Ａ 第１傾斜台
２０Ａ１、２０Ｂ１ 傾斜面
２０Ｂ 第２傾斜台
２２ 位置規制リブ
２４ リブ
２４Ａ 先端面
２６ 基板
２６Ａ 裏面
２６Ｂ 表面
３０ 磁気テープドライブ
３４ 搬送装置
３６ 磁気ヘッド
３８ 制御装置
４０ 送出モータ
４２ 巻取リール
４４ 巻取モータ
４６ 記録読取素子
４７ ホルダ
４８ 温湿度センサ
４９ 表示部
５０、５０Ａ、５０Ｂ 非接触式読み書き装置
５１ 磁気テープシステム
５２ ＩＣチップ
５４ コンデンサ
５４Ａ、５４Ｂ 電極
５６ 封止材
６０ コイル
６２Ａ 第１導通部
６２Ｂ 第２導通部
６４Ａ、６４Ｂ、６４Ｃ、６４Ｄ 配線
７０ 電力生成器
８０ 内蔵コンデンサ
８２ 電源回路
８４ コンピュータ
８６ クロック信号生成器
８８ 信号処理回路
９２ 共振回路
９４ ＣＰＵ
９６ ＮＶＭ
９８ ＲＡＭ
１００、１２４ バス
１０４、１０４Ａ、１０４Ｂ 記憶ブロック
１１０、１８０ カートリッジ情報
１１２ 使用回数情報
１２０ ＡＳＩＣ
１２２ ストレージ
１２６、１６０ 情報テーブル
１３０ 温湿度取得部
１３２ 経過時間算出部
１３４ 経過時間取得部
１３６ 使用回数取得部
１３８ 制御部
１４０ 温湿度情報
１４２ 時計情報
１４４ 経過時間情報
１５０ 温湿度許容範囲関連情報
１５２ 保存期間上限関連情報
１５４ 使用回数上限関連情報
１６５ 張力許容範囲関連情報
１７０ ＢＯＴ領域
ＧＲ ガイドローラ
ＭＦ 磁界
ＭＴ 磁気テープ
ＳＴ１００、ＳＴ１１０、ＳＴ１２０、ＳＴ１３０、ＳＴ２００、ＳＴ２１０、ＳＴ２２０、ＳＴ２３０、ＳＴ２４０、ＳＴ２５０、ＳＴ２６０、ＳＴ２７０、ＳＴ２８０、ＳＴ２９０ ステップ
θ 傾斜角度

Claims (18)

1. 磁気テープが収容されるケースと、
   前記ケースに設けられた記憶媒体と、
   を備え、
   前記記憶媒体は、前記磁気テープの使用時の温湿度の許容範囲に関する温湿度許容範囲関連情報、前記磁気テープの保存期間の上限に関する保存期間上限関連情報、および前記磁気テープの使用回数の上限に関する使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを記憶する、
   磁気テープカートリッジ。
2. 前記温湿度許容範囲関連情報は、前記温湿度の許容範囲を表す数値自体、または前記温湿度の許容範囲を表す数値に対応する第１識別情報である請求項１に記載の磁気テープカートリッジ。
3. 前記保存期間上限関連情報は、前記保存期間の上限を表す数値自体、または前記保存期間の上限を表す数値に対応する第２識別情報である請求項１または請求項２に記載の磁気テープカートリッジ。
4. 前記使用回数上限関連情報は、前記使用回数の上限を表す数値自体、または前記使用回数の上限を表す数値に対応する第３識別情報である請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジ。
5. 前記記憶媒体は、非接触式読み書き装置により情報の読み出しおよび書き込みが行われる非接触式通信媒体に内蔵された内蔵メモリを含む請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジ。
6. 前記温湿度許容範囲関連情報、前記保存期間上限関連情報、および前記使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つは、前記内蔵メモリの記憶ブロックであって、情報の書き換えが不可とされる記憶ブロックに記憶されている請求項５に記載の磁気テープカートリッジ。
7. 前記記憶媒体は、前記磁気テープの一部の領域を含む請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジ。
8. 前記記憶媒体は、前記磁気テープに掛けられる張力の許容範囲に関する張力許容範囲関連情報も記憶する請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジ。
9. 前記張力許容範囲関連情報は、前記張力の許容範囲を表す数値自体、または前記張力の許容範囲を表す数値に対応する第４識別情報である請求項８に記載の磁気テープカートリッジ。
10. 請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジが装填される磁気テープドライブであって、
    前記記憶媒体に記憶されている、前記温湿度許容範囲関連情報、前記保存期間上限関連情報、および前記使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出す読出装置と、
    温湿度センサが検出した温湿度を取得する温湿度取得部、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または前記磁気テープにデータを記録してからの経過時間を取得する経過時間取得部、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数を取得する使用回数取得部のうちの少なくとも１つと、
    前記温湿度取得部が取得した温湿度と前記温湿度の許容範囲、前記経過時間取得部が取得した前記経過時間と前記保存期間の上限、および前記使用回数取得部が取得した前記使用回数と前記使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行う制御部と、
    を備える磁気テープドライブ。
11. 前記制御部は、
    前記温湿度取得部が取得した温湿度が前記温湿度の許容範囲内であった場合、
    前記経過時間取得部が取得した前記経過時間が前記保存期間の上限を下回っていた場合、
    および前記使用回数取得部が取得した前記使用回数が前記使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合は、前記磁気テープの使用を許可する制御を行い、
    前記温湿度取得部が取得した温湿度が前記温湿度の許容範囲外であった場合、
    前記経過時間取得部が取得した前記経過時間が前記保存期間の上限以上であった場合、
    および前記使用回数取得部が取得した前記使用回数が前記使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合は、前記磁気テープの使用を禁止する制御、および前記磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つを行う請求項１０に記載の磁気テープドライブ。
12. 前記記憶媒体に前記張力許容範囲関連情報も記憶される場合、
    前記制御部は、
    張力付与機構の動作を制御することで、前記張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を前記磁気テープに付与させる請求項１０または請求項１１に記載の磁気テープドライブ。
13. 請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジに含まれる前記記憶媒体に記憶されている、前記温湿度許容範囲関連情報、前記保存期間上限関連情報、および前記使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出すこと、および、
    温湿度センサが検出した温湿度と前記温湿度の許容範囲、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または前記磁気テープにデータを記録してからの経過時間と前記保存期間の上限、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数と前記使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行うこと、
    を含む磁気テープドライブの作動方法。
14. 前記制御は、
    前記温湿度センサが検出した温湿度が前記温湿度の許容範囲内であった場合、
    前記経過時間が前記保存期間の上限を下回っていた場合、
    および前記使用回数が前記使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合に、前記磁気テープの使用を許可する制御と、
    前記温湿度センサが検出した温湿度が前記温湿度の許容範囲外であった場合、
    前記経過時間が前記保存期間の上限以上であった場合、
    および前記使用回数が前記使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合に、前記磁気テープの使用を禁止する制御、および前記磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つとを含む請求項１３に記載の磁気テープドライブの作動方法。
15. 前記記憶媒体に前記張力許容範囲関連情報も記憶される場合、
    前記制御は、
    張力付与機構の動作を制御することで、前記張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を前記磁気テープに付与させることを含む請求項１３または請求項１４に記載の磁気テープドライブの作動方法。
16. 請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の磁気テープカートリッジと、
    前記記憶媒体に記憶されている、前記温湿度許容範囲関連情報、前記保存期間上限関連情報、および前記使用回数上限関連情報のうちの少なくとも１つを読み出す読出装置と、
    温湿度センサが検出した温湿度と前記温湿度の許容範囲、装填された磁気テープカートリッジの製造年月日からの経過時間、または前記磁気テープにデータを記録してからの経過時間と前記保存期間の上限、および装填された磁気テープカートリッジに収容された磁気テープのそれまでの使用回数と前記使用回数の上限のうちの少なくとも１つに基づく制御を行う制御装置と、
    を備える磁気テープシステム。
17. 前記制御装置は、
    前記温湿度センサが検出した温湿度が前記温湿度の許容範囲内であった場合、
    前記経過時間が前記保存期間の上限を下回っていた場合、
    および前記使用回数が前記使用回数の上限を下回っていた場合のうちの少なくとも１つの場合は、前記磁気テープの使用を許可する制御を行い、
    前記温湿度センサが検出した温湿度が前記温湿度の許容範囲外であった場合、
    前記経過時間が前記保存期間の上限以上であった場合、
    および前記使用回数が前記使用回数の上限以上であった場合のうちの少なくとも１つの場合は、前記磁気テープの使用を禁止する制御、および前記磁気テープが使用不可である旨の警告を報知する制御のうちの少なくとも１つを行う請求項１６に記載の磁気テープシステム。
18. 前記記憶媒体に前記張力許容範囲関連情報も記憶される場合、
    前記制御装置は、
    張力付与機構の動作を制御することで、前記張力許容範囲関連情報で表される許容範囲内の張力を前記磁気テープに付与させる請求項１６または請求項１７に記載の磁気テープシステム。

Images