JP6645933B2 - データラッチ回路および半導体装置 - Google Patents
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Description
<1.1.構成(構造)>
図1は、第1実施形態の半導体記憶装置1の機能ブロックを示す。図1に示されるように、記憶装置1は、メモリコントローラ2と通信し、メモリコントローラ2の制御に従って動作する。
次に、セルアレイ11の詳細の例が図2を参照して記述される。図2は、一実施形態のセルアレイ11の一部の要素および接続の例を示す。図2は、特に1つのブロックBLK0の詳細、および関連する要素を示す。複数の(例えば全ての)ブロックBLKは、みな同様に接続された同様の要素を含む。
データラッチ19は、図3に示される要素および接続を有する。図3は、第1実施形態のデータラッチ19の要素および関連する要素ならびにこれらの接続を示す。図3に示されるように、データラッチ19は、例えばk(kは自然数)個のデータラッチ回路カラムLCを含む。各データラッチ回路カラムLCは、複数のデータラッチ回路DLCを含む。各データラッチ回路カラムLCは、例えば2カラム分の計16個のラッチ回路DLC0〜DLC15を含む。以下の記述は、この例に基づく。各γ(γはk以下の自然数のいずれか)について、データラッチ回路DLC0<γ>〜DLC15<γ>は、カラム2γおよびカラム2γ+1のために設けられている。
各データラッチ回路DLCは、図4に示される要素および接続を有する。図4は、第1実施形態のデータラッチ回路DLCの要素および接続を示す。
図5は、第1実施形態のデータラッチ回路DLCのレイアウトおよびデータラッチ回路DLCを制御するための信号を伝送する配線の配置を示す。図5において、x軸およびy軸は、互いに直交する。x軸およびy軸はxy面を構成し、xy面は記憶装置1が形成される半導体基板の表面に沿う。すなわち、記憶装置1は半導体基板の表面上に形成され、図5は半導体基板の表面に沿った様子を示す。z軸は、xy面と直交する。図5では、図3に描かれているデータバスXBUSおよびDBUSは省略されている。
データラッチ回路DLCは、上記のように、みな、同じ要素および接続を有し、よって、供給される信号XNL、XPL、XTI、およびXLLの論理(レベル)の同じ組み合わせに基づいて、同じ動作を行う。以下、1つのデータラッチ回路DLCの動作が記述される。
図6に示されるように、選択データラッチ回路DLCによるデータのラッチのために、データのラッチの間、制御回路14は、信号XPL、XTI、およびXLLをローレベルに維持し、信号XNLをハイレベルに維持する。ハイレベルは、pチャネルMOSFETをオフし、nチャネルMOSFETをオンする大きさを有し、例えば電源電位VDDを有する。ローレベルは、pチャネルMOSFETをオンし、nチャネルMOSFETをオフする大きさを有し、例えば接地電位VSSを有する。
データバスDBUSからのデータの入力の開始の時点では、データラッチ回路DLCは、図6の状態にある。
データバスXBUSへのデータの出力の開始の時点では、選択データラッチ回路DLCは、図6の状態にある。
データバスDBUSからのデータの入力の開始の時点では、データラッチ回路DLCは、図6の状態にある。また、データバスDBUSからのデータの入力の開始の時点で、データバスDBUSは、データラッチ回路DLCに転送されるべきデータに基づく電位を既に有している。すなわち、制御回路14は、信号DPCをローレベルにしてデータバスDBUSをハイレベルにプリチャージし、その後、信号DPCをハイレベルに戻す。次いで、転送されるべきデータを保持しているラッチ回路(例えばデータバスDBUSと接続された、センスアンプ17中のラッチ回路)がデータバスDBUSと接続される。この結果、転送されるべきデータがハイレベルであれば、データバスDBUSの電位はハイレベルに維持され、他方、転送されるべきデータがローレベルであれば、データバスDBUSの電位はローレベルに変化する。
データバスDBUSへのデータの出力の開始の時点では、選択データラッチ回路DLCは、図6の状態にある。
図11は、選択データラッチ回路DLCの種々の動作の間の信号XLLの電位の波形を時間に沿って示す。図11は、例として、データバスXBUSからのデータの入力、データバスXBUSへのデータの出力、データバスDBUSからのデータの入力、およびデータバスDBUSへのデータの出力の間の順に、波形を示す。すなわち、図11の波形は、図11において、データバスXBUSからデータを受け取り、データバスXBUSへデータを出力し、データバスDBUSからデータを受け取り、データバスDBUSへデータを出力するデータラッチ回路DLCに関して示す。
図12は、実施形態のデータラッチ回路DLCとの比較のためのデータラッチ回路DLCAの要素および接続を示す。図12に示されるように、データラッチ回路DLCAは、図10を参照して記述されているように接続されているトランジスタTP1、TP2、TP3、TP4、TN1、TN2、TN3、およびTN4を含む。データラッチ回路DLCAは、また、トランジスタTP3と電源電位ノードVDDとの間のpチャネルMOSFET TP21、およびトランジスタTN3と接地電位ノードVSSとの間のnチャネルMOSFET TN21を含む。データラッチ回路DLCAは、さらに、ノードINVと1つのデータバスDBUSとの間に並列接続されたpチャネルMOSFET TP22およびnチャネルMOSFET TN22を含む。
第2実施形態は、データラッチ回路DLCの詳細の点で、第1実施形態と異なる。
図14は、第2実施形態のデータラッチ19の要素および関連する要素ならびにこれらの接続を示す。図14に示されるように第2実施形態では、各データバスXBUSは、スイッチ回路として機能するnチャネルMOSFET TN31を介して1つのデータバスDBUSと接続されている。よって、各データラッチ回路ロウLRは、トランジスタTN31を介して1つのデータバスDBUSと接続されている。相違するトランジスタTN31は、それぞれのゲート電極において、相違する信号XTIを受け取る。このような第2実施形態での要素の接続に基づいて、第2実施形態のデータラッチ回路DLCは、第1実施形態でのものと相違する要素および接続を有する。
データの保持、データバスXBUSからのデータの入力、およびデータバスXBUSへのデータの出力については、トランジスタTN5と同じ動作をトランジスタTN31が行うことを除いて、第1実施形態と同じである。すなわち、データの保持の間、制御回路14は、トランジスタTP1、TN1、およびTN31をオフに維持し、トランジスタTP4およびTN4をオンに維持する。これにより、クロス接続されたインバータ回路XIVは、電源電位ノードVDDおよび接地電位ノードVSSに接続されて、ノードLATの電位を保持し、また、ノードLATにおいてデータバスXBUSおよびDBUSの両方とも接続されない。
第2実施形態のデータラッチ回路DLCは、8個のトランジスタを含む。このため、第2実施形態によれば、データラッチ回路DLCの面積は、第1実施形態でのものよりもさらに小さい。また、第2実施形態のデータラッチ回路DLCが第1実施形態のトランジスタTN5を含まないことによって、各データラッチ回路ロウLRにおいて、第1実施形態の配線LXTIは設けられておらず、配線LXLLのみ設けられている。よって、データラッチ19でのデータラッチ回路DLCの制御のための配線の配置は第1実施形態よりさらに容易であり、さらに微細な記憶装置1においても、データラッチ回路DLCの制御のための配線の配置が可能である。
Claims (8)
- 第1入力および第1出力を有し、第1ノードおよび第2ノードを有する第1インバータ回路と、
第1電位を有する第1電位ノードと前記第1電位より低い第2電位を有する第2電位ノードとの間に接続され、前記第1出力と接続された第2入力と、前記第1入力と接続された第2出力と、を有する、第2インバータ回路と、
前記第1ノードと、前記第1電位ノードとの間に接続された第1トランジスタと、
前記第2ノードと、前記第2電位ノードとの間に接続され、ゲート電極を含む第2トランジスタと、
前記第1出力と第3ノードとの間に接続され、第3トランジスタおよび第4トランジスタを含む第1スイッチ回路と、
を備え、
前記第3トランジスタは、前記第1出力と接続された第1端子、前記第3ノードと接続された第2端子、およびゲート電極を含み、
前記第4トランジスタは、前記第1出力と接続された第3端子、前記第3ノードと接続された第4端子、およびゲート電極を含み、
前記第2トランジスタの前記ゲート電極および前記第4トランジスタの前記ゲート電極は共通の制御信号を受け取ることを特徴とするデータラッチ回路。 - 前記第1出力と第4ノードとの間に接続された第2スイッチ回路をさらに備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のデータラッチ回路。 - 前記第3ノードと第4ノードとの間に接続された第2スイッチ回路をさらに備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のデータラッチ回路。 - 前記第2スイッチ回路は、第1導電型の第5トランジスタを備える、
ことを特徴とする請求項2または請求項3に記載のデータラッチ回路。 - 前記第1トランジスタは、前記第1導電型と異なる第2導電型であり、
前記第2トランジスタは、前記第1導電型である、
ことを特徴とする請求項4に記載のデータラッチ回路。 - 前記第3トランジスタは前記第1導電型であり、
前記第4トランジスタは前記第2導電型である、
ことを特徴とする請求項5に記載のデータラッチ回路。 - 前記第1トランジスタのゲート電極は、前記第1電位、前記第2電位、および前記第1トランジスタの閾値電圧より低い第3電位を選択的に受け取る、
ことを特徴とする請求項6に記載のデータラッチ回路。 - 第1軸および第2軸に沿って行列状に配置された複数の請求項1に記載の前記データラッチ回路と、
前記第1軸に沿って延び、前記複数のデータラッチ回路のうちの前記第1軸に沿って並ぶ複数の第1データラッチ回路の各々の前記第1トランジスタのゲート電極と接続された第1配線と、
前記第2軸に沿って延び、前記複数のデータラッチ回路のうちの前記第2軸に沿って並ぶ複数の第2データラッチ回路の各々の前記第2トランジスタの前記ゲート電極および前記第4トランジスタの前記ゲート電極と接続された第2配線と、
前記第2軸に沿って延び、前記複数の第2データラッチ回路の各々の前記第3トランジスタの前記ゲート電極と接続された第3配線と、
を備える半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016161068A JP6645933B2 (ja) | 2016-08-19 | 2016-08-19 | データラッチ回路および半導体装置 |
US15/442,685 US10103716B2 (en) | 2016-08-19 | 2017-02-26 | Data latch circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016161068A JP6645933B2 (ja) | 2016-08-19 | 2016-08-19 | データラッチ回路および半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018029301A JP2018029301A (ja) | 2018-02-22 |
JP6645933B2 true JP6645933B2 (ja) | 2020-02-14 |
Family
ID=61192282
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016161068A Active JP6645933B2 (ja) | 2016-08-19 | 2016-08-19 | データラッチ回路および半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10103716B2 (ja) |
JP (1) | JP6645933B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10825526B1 (en) * | 2019-06-24 | 2020-11-03 | Sandisk Technologies Llc | Non-volatile memory with reduced data cache buffer |
JP2021039806A (ja) | 2019-09-02 | 2021-03-11 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2022051338A (ja) * | 2020-09-18 | 2022-03-31 | キオクシア株式会社 | 半導体装置 |
JP2023045647A (ja) | 2021-09-22 | 2023-04-03 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
US11798631B2 (en) | 2021-10-21 | 2023-10-24 | Sandisk Technologies Llc | Transfer latch tiers |
US11915769B2 (en) | 2022-05-16 | 2024-02-27 | Sandisk Technologies Llc | Non-volatile memory with isolation latch shared between data latch groups |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5711526A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-21 | Nec Corp | Latch circuit |
JPS594316A (ja) | 1982-06-30 | 1984-01-11 | Matsushita Electric Works Ltd | デ−タラツチ回路 |
JPS6125321A (ja) | 1984-07-16 | 1986-02-04 | Nec Corp | デ−タラツチ回路 |
JPH0275219A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-14 | Fujitsu Ltd | ラッチ回路 |
JPH03235411A (ja) * | 1990-02-09 | 1991-10-21 | Nec Corp | ラッチ回路及びフリップ・フロップ回路 |
JPH0877781A (ja) * | 1994-06-29 | 1996-03-22 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6184722B1 (en) | 1998-09-02 | 2001-02-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Latch-type sense amplifier for amplifying low level differential input signals |
JP3940544B2 (ja) * | 2000-04-27 | 2007-07-04 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリのベリファイ方法 |
JP2007280505A (ja) * | 2006-04-06 | 2007-10-25 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US7573744B2 (en) * | 2006-09-29 | 2009-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device having different capacity areas |
JP2011129176A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US8514636B2 (en) * | 2010-09-21 | 2013-08-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor storage device |
KR101901907B1 (ko) * | 2012-05-21 | 2018-09-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 래치 회로 및 이를 포함하는 플립플롭 회로 |
JP2014149889A (ja) | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
-
2016
- 2016-08-19 JP JP2016161068A patent/JP6645933B2/ja active Active
-
2017
- 2017-02-26 US US15/442,685 patent/US10103716B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018029301A (ja) | 2018-02-22 |
US10103716B2 (en) | 2018-10-16 |
US20180054190A1 (en) | 2018-02-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A977 | Report on retrieval |
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