JP6637812B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、発熱する半導体素子を備えた半導体装置に関する。
例えば電気自動車などに搭載されるインバータは、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)と呼ばれる一種の半導体素子が実装されている。駆動力を得るためのパワー系統の回路では、IGBTをON/OFFすることで回路内の平滑コンデンサの電荷を使用し、モータを駆動させている。モータの駆動時において、大電流がIGBTのON/OFF動作によって流れるため、IGBTが発熱する。
このため、インバータにはIGBTの発熱による過熱を抑制するために、インバータ冷却装置が備えられている。インバータ冷却装置としては、冷却水を用いた水冷方式を採用しており、水冷方式のインバータ冷却装置は、冷却回路内にラジエータやポンプ等を備えている。このような水冷方式のインバータ冷却装置を備えた電気自動車に関する技術として、例えば特許文献1に記載された技術が知られている。
特許文献1に示される技術は、インバータに温度センサが取り付けられ、インバータECUは温度センサからの入力に基づきインバータの温度を検出する。インバータの温度が急激に上昇する場合、すなわち温度変化率が大きい場合に、インバータECUはインバータへのトルク指令値を調整して半導体のスイッチング素子の発熱量を小さくする。
一方、水冷方式のインバータ冷却装置では、冷却水がインバータ冷却装置から漏れる冷却水抜けや、冷却水を循環させるポンプが故障して冷却水が循環していない、いわゆる水抜けが発生する虞があるため、何らかの手段で水抜けによる異常を検知できれば好ましい。
この対策としては、例えば特許文献2のように、IGBT用の温度センサとは別にインバータ冷却装置の冷却水管中に水温センサを設け、水温から冷却水抜けを検知するものが知られている。
しかし、特許文献2の技術のように、温度センサとは別に水温センサを設けて水抜けを検知していたのではセンサが複数になるため、装置が複雑になる上、装置のコストが高くなる。
そのため、半導体素子からの熱を放熱するインバータ冷却装置のような放熱部材を備えた半導体装置であって、冷却配管中に水温センサを用いることなく、簡易で且つ廉価な構成で正確に水温を検出することができる技術が求められる。
特開平10−210790号公報 特許第5378264号公報
本発明は、冷却配管中に水温センサを用いることなく、簡易で且つ廉価な構成で正確に水温を検出することができる技術を提供することを課題とする。
請求項1に係る発明は、発熱する半導体素子と、該半導体素子を一方の面に実装する絶縁基板と、該絶縁基板の他方の面に設けられ前記半導体素子からの熱を放熱する放熱部材とを備える半導体装置であって、前記絶縁基板の一方の面に実装される温度センサと、前記絶縁基板上に実装された前記半導体素子及び前記温度センサとの間に、前記半導体素子から発熱の熱伝導を防止する熱伝導防止部とを備えており、前記熱伝導防止部は、前記絶縁基板の両面に形成されたスリットであることを特徴とする。
請求項1に係る発明では、半導体装置は、発熱する半導体素子と、該半導体素子を一方の面に実装する絶縁基板と、該絶縁基板の他方の面に設けられ半導体素子からの熱を放熱する放熱部材とを備える。絶縁基板の一方の面に温度センサが実装され、半導体素子と温度センサとの間に半導体素子から発熱の熱伝導を防止する熱伝導防止部とを備えているので、温度センサは、絶縁基板に実装されていても半導体素子の熱ではなく、放熱部材の温度を検知することができる。結果、放熱部材をウォータージャケットとした場合に、従来技術のように冷却装置の冷却配管中に水温センサを用いることなく、廉価な構成で正確に水温を検出することができ、冷却水を循環させるポンプの故障や冷却水抜けなどによって発生する冷却水の循環異常であるインバータ冷却装置の冷却異常を検知できる。
加えて、熱伝導防止部は、絶縁基板に形成されたスリットであるので、余分な部品を必要とせず、簡易な構成とすることができる。
本発明に係る半導体装置の回路図である。 本発明に係る半導体装置の要部を説明する概略図である。 図2の3−3線断面図である。 インバータ冷却装置及び水抜け検知装置の構成を示すブロック図である。
本発明の実施の形態を添付図に基づいて以下に説明する。
図1は半導体装置の回路図及びインバータ冷却装置の構成を示すブロック図であり、駆動システムとしての半導体装置10のインバータ20に、インバータ冷却装置30が設けられている。
半導体装置10は、電気自動車又はいわゆるハイブリット車に搭載され、モータ11により車輪を駆動させるものである。半導体装置10は、電源12と、電源12からの電力を直流から交流に変換するインバータ20と、インバータ20からの電力により駆動するモータ11と、インバータ20のスイッチング時のゲート電圧を制御するゲートドライバ13と、ゲートドライバ13を制御するモータECU14とを備えている。
モータ11には、インバータ20が導電線15で接続されている。インバータ20には、電源12が導電線16を介して接続されている。また、導電線16には、電路を開閉するコンタクタ17が設けられ、このコンタクタ17よりもインバータ20側に導電線16間を接続するように導電線18が設けられ、導電線18上に平滑コンデンサ19が設けられている。
インバータ20は、複数の半導体スイッチング素子としてのIGBT(以下、半導体素子という)21と、各々の半導体素子21の位置におけるウォータージャケット31の水温を検出する複数の温度センサ22(図2参照)と、DC/DCコンバータ等の構成部品(不図示)を備えている。また、半導体素子21のゲートは、導線23でゲートドライバ13に接続されている。なお、半導体素子21は、IGBTと還流ダイオードを含むものとしてもよい。
インバータ冷却装置30は、インバータ20を冷却水により冷却するウォータージャケットとしての放熱部材31と、インバータ20の外方に配置され冷却水の熱交換を行うラジエータ32と、インバータ20の外方に配置され冷却水を循環させるポンプ33とを備えている。
放熱部材31には、冷却水が入る冷却水入口34と、冷却水が出る冷却水出口35とが設けられている。ポンプ33から延びる第1配管36が冷却水入口34に接続され、冷却水出口35から延びる第2配管37がラジエータ32に接続され、ラジエータ32から延びる第3配管38がポンプ33に接続されている。
冷却水は、ポンプ33から第1配管34に送り出され、冷却水入口34から放熱部材31内に入って半導体素子21を冷却し、温度が上昇する。温度が上昇した冷却水は、冷却水出口35から排出され第2配管37を通ってラジエータ32に送られる。ラジエータ32で熱交換されることで冷却水の温度が低下し、温度の低下した冷却水は第3配管38を通ってポンプ33に送られる。
図2に示すように、ゲートドライバ13には、半導体素子21のゲートを制御する導線23と、半導体素子21の過電流を検出する導線51と、半導体素子21の温度を検出する感温ダイオード29から延びる導線52と、ウォータージャケット31の水温を検出する温度センサ22から延びる導線53とが接続されている。
制御部としてのゲートドライバ13は、半導体素子21の温度を電圧値として検出する検出部でもあり、温度センサ22の基準電圧を半導体素子21のエミッタ電位と同電位にすることで、ゲートドライバ13で半導体素子21の温度を検出することができる。
図2、図3に示すように、半導体素子21は半田24を介して絶縁基板25の一方の面25aに実装され、この絶縁基板25の他方の面25bには半田26を介して放熱部材31が接合されている。また、絶縁基板25には、放熱部材31の水温を検出する温度センサ22が実装されている。絶縁基板25は、セラミックから構成される絶縁層25cと、銅によって絶縁層25cを挟むように形成される上側の銅層25d及び下側の銅層25eとを備えている。
詳細には、上側の銅層25dに半田24を介して半導体素子21及び温度センサ22が実装されている。上側の銅層25dには、半導体素子21及び温度センサ22との間に、半導体素子21からの発熱の熱伝導を防止する熱伝導防止部27が形成されている。また、下側の銅層25eには、半導体素子21及び温度センサ22との間に、半導体素子21からの発熱に熱伝導を防止する熱伝導防止部28が形成されている。
熱伝導防止部27、28は、絶縁基板25に形成されたスリット27、28である。熱伝導防止部27、28は、絶縁基板25にスリット27、28を形成するだけであるので、余分な部品を必要とせず、簡易な構成とすることができる。
絶縁基板25の一方の面25aに温度センサ22が実装され、半導体素子21と温度センサ22との間に熱伝導防止部としてのスリット27とを備えているので、半導体素子21が発熱した場合でも、スリット27によって熱が半導体素子21側の銅層25bから温度センサ21側の銅層25bへ伝わりにくくなるため、温度センサ22側の銅層25bの温度はウォータージャケット31の温度と同じになる。よって、温度センサ22は、絶縁基板25に実装されていても半導体素子21の熱が伝わらず、放熱部材31の温度を検知することができる。結果、放熱部材31をウォータージャケット31とした場合に、インバータ冷却装置30の冷却配管中に水温センサを用いることなく、廉価な構成で正確にウォータージャケット31内の水温を検出することができ、水温を検出することで冷却水がウォータージャケット31から抜ける水抜けを検知できる。
なお、絶縁基板25の構成は、セラミック、銅に限らず、他の一般的な材料によって構成しても差し支えない。
図4に示すように、放熱部材31には、複数の絶縁基板25が設けられている。絶縁基板25は、半導体素子21と、温度センサ22とを備えている。温度センサ22は、導線53を介して水抜けを検知する検知部43に接続されている。なお、検知部43は、ゲートドライバ13(図2参照)内に設けられているが、検知部43をゲートドライバ13と独立して設けてもよい。
インバータ冷却装置30の水抜け検知装置40は、発熱する半導体素子21と、この半導体素子21を冷却する放熱部材31と、各々の半導体素子21の位置における温度を検出する温度センサ22と、放熱部材31の冷却水の水抜けを検知する検知部43とを備えている。
また、ウォータージャケット31内では、上流側と下流側とで冷却水の温度が異なる。冷却水入口34の近傍に配置される温度センサ22aと、冷却水出口35の近傍に配置される温度センサ22bによって、ウォータージャケット31の上流側の水温と下流側の水温を検知できる。温度センサ22a、22bによって冷却水入口34近傍と冷却水出口35近傍の温度差を検知することが可能となる。
インバータ冷却装置30が正常な状態では、冷却水出口35近傍の温度センサ22bで検知される水温は、冷却水入口34近傍の温度センサ22aで検知される水温よりも高く、冷却水出口35近傍の温度センサ22b及び冷却水入口34近傍の温度センサ22aで検知される水温は、水温及び温度差が一定に保たれた状態となる。
一方、ポンプの故障や水漏れなどが発生し、インバータ冷却装置30の冷却が異常になった場合は、冷却水出口35の水温が上昇し、冷却水出口35近傍の温度センサ22bで検知される温度と冷却水入口34近傍の温度センサ22aで検知される水温との温度差Δtが大きくなる。
検知部43は、冷却水出口35近傍の温度センサ22bで検知される温度と冷却水入口34近傍の温度センサ22aで検知される水温との温度差Δtが、所定のしきい値ΔT1を超える場合に、適切に冷却されていないとし、冷却水が放熱部材31から抜ける水抜けが発生していると判断する。
パワーモジュール(感温ダイオード29(図2参照))の発熱量をPpmとし、インバータ冷却装置30の流量をQとし、任意の係数をAとすると、しきい値ΔT1は次式で求められる。
ΔT1=(Ppm/Q)×A
また、感温ダイオード29(図2参照)から検出される温度に基づいて、しきい値ΔT1を変更することで、水抜け検知の精度を向上させることができる。さらに、複数の半導体素子21の検出温度の平均温度に基づいて、しきい値ΔT1を変更することで、温度変化のノイズが除去され水抜け検知の精度をより向上させることができる。
尚、実施例では、絶縁基板25の上側の銅層25d及び下側の銅層25eの両方に熱伝導防止部(スリット)27を設けたが、これに限定されず、上側の銅層25dのみに伝導防止部(スリット)27を設けても差し支えない。また、下側の銅層25eのみに伝導防止部(スリット)27を設けても差し支えない。さらに、実施例では、半導体素子21と温度センサ22の間に熱伝導防止部(スリット)27を1つ設けたか、これに限定されず、熱伝導防止部(スリット)27を2つ、3つ等、複数重なるように設けても差し支えない。
また、実施例では、放熱部材31をウォータージャケットとしたが、これに限定されず、放熱部材31をヒートシンクとしても差し支えない。
また、半導体装置10は、電動車両や、いわゆるハイブリット車両に搭載される他、舶用や一般産業用に供することもできる。
本発明は、車両に搭載される半導体装置に好適である。
10...半導体装置(駆動システム)、21...半導体素子(IGBT)、22...温度センサ、22a...冷却水入口近傍の温度センサ、22b...冷却水出口近傍の温度センサ、25...絶縁基板、25a...一方の面、25b...他方の面、25c...絶縁層、25d...上側の銅層、25e...下側の銅層、27、28...熱伝導防止部(スリット)、31...放熱部材(ウォータージャケット)。

Claims (1)

  1. 発熱する半導体素子と、
    該半導体素子を一方の面に実装する絶縁基板と、
    該絶縁基板の他方の面に設けられ前記半導体素子からの熱を放熱する放熱部材とを備える半導体装置であって、
    前記絶縁基板の一方の面に実装される温度センサと、
    前記絶縁基板上に実装された前記半導体素子及び前記温度センサとの間に、前記半導体素子から発熱の熱伝導を防止する熱伝導防止部とを備えており、
    前記熱伝導防止部は、前記絶縁基板の両面に形成されたスリットであることを特徴とする半導体装置。
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