JP6614105B2

JP6614105B2 - スラブの分塊圧延方法

Info

Publication number: JP6614105B2
Application number: JP2016219979A
Authority: JP
Inventors: 匡将佐藤; 常義南; 正民尾▲崎▼
Original assignee: JFE Steel Corp
Current assignee: JFE Steel Corp
Priority date: 2016-11-10
Filing date: 2016-11-10
Publication date: 2019-12-04
Anticipated expiration: 2036-11-10
Also published as: JP2018075616A

Description

本発明は、スラブから中間製品へ分塊圧延するスラブの分塊圧延方法に関する。

一般に、素材にスラブを用いて分塊圧延する場合、圧延後の中間製品に圧延方向と平行な線状疵（以下、シワ疵という）が発生することが多く、圧延後のシワ疵の手入れをする工程にかかる作業負荷が大きい。このため、従来においては、シワ疵の発生を防ぐために、例えば、特許文献１及び２に示す方法が提案されている。
特許文献１に示す鋼材の加熱圧延方法は、圧延素材を連続的に加熱圧延する方法において、加熱工程を１次加熱と２次加熱に分け、１次加熱は、加熱温度を粒界酸化量が増大を開始する粒界酸化臨界温度よりも少なくとも低い温度として加熱炉を用いて行い、続いて１次加熱された圧延素材を加熱炉より圧延ラインに抽出し、続いて圧延ラインに設置された傾斜圧延機の前方において、誘導加熱装置を用いて、１次加熱された圧延素材を圧延先端側から後端側にかけて高温になるように２次加熱を行うことによって、圧延待機中の圧延素材の温度低下を補償して傾斜圧延機の圧延温度を略一定に保持して圧延するものである。

この特許文献１に示す加熱圧延方法によれば、通常の圧延（粗圧延、中間圧延、仕上圧延）を実施する前に、傾斜圧延を実施するので、圧延素材の表層部が再結晶され、それによって圧延後の製品の表面疵（シワ疵など）を大幅に低減することができる。
また、特許文献２に示す高純度フェライト系ステンレス鋼の分塊圧延方法は、質量％で、Ｃ≦０．０１％、Ｎ≦０．０１％、Ｃｒ：１７〜２０％、Ｎｉ≦０．５％の高純度フェライト系ステンレス鋼製の横断面が円形でない鋳片を、孔型圧延により熱間加工し、横断面が円形のビレットに分塊圧延する際、圧下前の鋳片の横断面の高さｈ_０と幅ｂ_０の比ｈ_０／ｂ_０を２．０以下、鋳片の加熱温度を１０００℃〜１２００℃とし、下記式を満たす圧下率で分塊圧延するものである。

圧下率≦−１０．６１９×（圧下前の鋳片の横断面の高さｈ_０と幅ｂ_０の比ｈ_０／ｂ_０）＋２３．２９８
この特許文献２に示す高純度フェライト系ステンレス鋼の分塊圧延方法によれば、高純度フェライト系ステンレス鋼を、丸ビレットに分塊圧延する時に、捩れや倒れが発生せず、かつ、シワ疵が発生しないようにすることができる。

特開平５−３２９５１９号公報特開２０１２−８１５１０号公報

しかしながら、これら従来の特許文献１及び２に示す方法にあっては、以下の問題点があった。
即ち、特許文献１に示す加熱圧延方法の場合、加熱炉による１次加熱の他に誘導加熱装置を用いて２次加熱を行うため、誘導加熱装置などの専用の設備が必要となるので、コストが高くなるとともに、その専用の設備の設置場所が必要になるという制約を受ける不都合があった。

また、特許文献２に示す高純度フェライト系ステンレス鋼の分塊圧延方法の場合、圧下前の鋳片の横断面の高さｈ_０と幅ｂ_０の比ｈ_０／ｂ_０を２．０以下とするため、アスペクト比（この比ｈ_０／ｂ_０）の大きい素材を圧延する場合に適用できないという問題があった。
従って、本発明はこれら従来の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、アスペクト比を２以上とした素材としてのスラブを中間製品に分塊圧延する際に、加熱炉以外の誘導加熱機などの専用の設備を要せずに、中間製品に発生するシワ疵を低減することができる、スラブの分塊圧延方法を提供することにある。

上記目的を達成するために、本発明の一態様に係るスラブの分塊圧延方法は、幅ｂと厚みｈとの比であるアスペクト比（ｂ／ｈ）が２以上のスラブを素材として、前記スラブの幅を減ずる幅圧下パスと前記スラブの厚みを減ずる厚み圧下パスとを交互に繰り返して、前記アスペクト比がほぼ１の矩形断面の中間製品へ分塊圧延するスラブの分塊圧延方法であって、所定回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_１、前記所定回よりも前である前回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_０とした場合に、前記前回の厚み圧下パスと前記所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ_０’と厚みｈ_０との比であるアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）が１．５以上であるとき、（１）式に示す関係を満たすように調整することを要旨とする。
（ｈ_０−ｈ_１）＋ａ・Δｂ≧ｃ・ｈ_１ …（１）
ここで、ａ＝０．２５、ｃ＝０．１０である。

本発明に係るスラブの分塊圧延方法によれば、アスペクト比を２以上とした素材としてのスラブを中間製品に分塊圧延する際に、加熱炉以外の誘導加熱機などの専用の設備を要せずに、中間製品に発生するシワ疵を低減することができる、スラブの分塊圧延方法を提供できる。

本発明の一実施形態に係るスラブの分塊圧延方法に用いられる分塊圧延設備の一例を示す図である。図１に示される分塊圧延機の孔型ロール間に形成される孔型を示す図である。本発明の一実施形態に係るスラブの分塊圧延方法を説明するための図である。分塊圧延において、前々回の厚み圧下パス直後から所定回の厚み圧下パス直後までの素材としてのスラブの横断面を示し、（ａ）は前々回の厚み圧下パス直後のスラブの横断面、（ｂ）は前回の幅圧下パス直後のスラブの横断面、（ｃ）は前回の厚み圧下パス直後のスラブの横断面、（ｄ）は当該回の幅圧下パス直後のスラブの横断面、（ｅ）は所定回の厚み圧下パス直後のスラブの横断面を示している。本発明例及び比較例によるパススケジュールにてスラブを中間製品としてのブルームに分塊圧延したときのブルームのシワ疵個数を示すグラフである。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
本発明の一実施形態に係るスラブの分塊圧延方法は、図１に示される分塊圧延設備、すなわち素材としてのスラブＳ（図３参照）を加熱する加熱炉１と、加熱炉１で加熱処理されたスラブＳを中間製品としてのブルームＢ（図３参照）に分塊圧延する分塊圧延機２とを備えた分塊圧延設備を用いてスラブを分塊圧延する方法である。

ここで、素材となるスラブＳは、図３に示す幅ｂと厚みｈとの比であるアスペクト比（ｂ／ｈ）が２以上のスラブを対象としている。また、分塊圧延機２は、図２に示すように、上側孔型ロール３と下側孔型ロール４との間に、幅圧下パス用第１孔型５と、幅圧下パス用第２孔型６と、厚み圧下パス用孔型７とを有している。
分塊圧延機２による分塊圧延では、図３に示すように、前述のアスペクト比（ｂ／ｈ）が２以上のスラブＳを素材として、幅圧下パス用第１孔型５又は幅圧下パス用第２孔型６で行うスラブＳの幅ｂを減ずる幅圧下パスと厚み圧下パス用孔型７で行うスラブＳの厚みを減ずる厚み圧下パスとを交互に繰り返して、前述のアスペクト比（ｂ／ｈ）がほぼ１の矩形断面のブルームＢへ分塊圧延する。

ここで、このスラブＳの分塊圧延においては、図３に示すように、幅圧下パス用第１孔型５又は幅圧下パス用第２孔型６で行うスラブＳの幅ｂを減ずる幅圧下パスにおいて、圧延方向（図３において紙面に対して直交する方向）に延びるシワ疵Ｓ１が上側孔型ロール３及び下側孔型ロール４に接触していないスラブＳの両面の幅方向中央部において発生する。シワ疵Ｓ１が発生するのは、上側孔型ロール３及び下側孔型ロール４によってスラブＳの幅圧下を行うことで、スラブＳがドックボーン形状となり、上側孔型ロール３及び下側孔型ロール４に接触していないスラブＳの両面の幅方向中央部に圧縮歪が発生するからである。

スラブＳの両面の幅方向中央部において発生したシワ疵Ｓ１は、幅圧下パス後に行う厚み圧下パスの際に、スラブＳの厚み方向における厚み圧下量が十分大きければ、その厚み圧下により均され延伸される。しかし、厚み圧下量を確保できない場合には、厚み未圧下部が残り、シワ疵が残存することになる。
本実施形態に係るスラブの分塊圧延方法にあっては、スラブＳの厚み圧下パスにおいてシワ疵を十分に圧下してシワ疵を均すために、スラブＳの加熱条件を変更するのではなく分塊圧延のパススケジュールを工夫することで、シワ疵を低減するようにしている。分塊圧延のパススケジュールは、分塊圧延機２に接続された図示しないパススケジュール制御装置によって制御される。

即ち、本実施形態に係るスラブの分塊圧延方法にあっては、所定回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_１（図４（ｅ）参照）、所定回よりも前である前回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_０（図４（ｃ）参照）とした場合に、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを、当該幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ_０’（図４（ｃ）参照）と厚みｈ_０（図４（ｃ）参照）との比であるアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）が１．５以上であるとき、（１）式に示す関係を満たすように調整している。
（ｈ_０−ｈ_１）＋ａ・Δｂ≧ｃ・ｈ_１ …（１）
即ち、Δｂ≧ｃ／ａ・ｈ_１−（ｈ_０−ｈ_１）／ａ …（２）
ここで、ａ＝０．２５、ｃ＝０．１０である。

なお、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂは、前回の幅圧下パス直後の素材の幅ｂ_０（図４（ｂ）参照）と当該回の幅圧下パス直後の素材の幅ｂ_１（図４（ｄ）参照）との差であり、Δｂ＝ｂ_０−ｂ_１で表せる。ここで、当該回の幅圧下パスの前に幅圧下パス及び厚み圧下パスがない場合には、ｂ_０は圧延開始前の素材の幅となる。

また、アスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）について、ｂ_０’は当該回の幅圧下パスの前の素材の幅であり（図４（ｃ）参照）、当該回よりも前の前回の幅圧下パス及び前回の厚み圧下パスがある場合には、ｂ_０’＝前回の幅圧下パス直後の素材の幅ｂ_０（図４（ｂ）参照）＋０．３×（前回の厚み圧下パスの前の素材の厚みｈ_−１’（図４（ｂ）参照）−前回の厚み圧下パス直後の素材の厚みｈ_０（図４（ｃ）参照））で表せる。

また、当該回の幅圧下パスの前の素材の幅ｂ_０’につき、当該回よりも前に幅圧下パスがなく、前回の厚み圧下パスのみがある場合には、ｂ_０’＝圧延開始前の素材の幅＋０．３×（圧延開始前の素材の厚み−前回の厚み圧下パス直後の素材の厚みｈ_０（図４（ｃ）参照））で表せる。
また、当該回の幅圧下パスの前の素材の幅ｂ_０’につき、当該回よりも前に幅圧下パス及び厚み圧下パスがない場合には、ｂ_０’は圧延開始前の素材の幅となる。

次に、前回の厚み圧下パスの前の素材の厚みｈ_−１’につき、前回の厚み圧下パスのさらに前に幅圧下パスのみがある場合には、ｈ_−１’＝圧延開始前の素材の厚み＋０．２５×（圧延開始前の素材の幅−前回の幅圧下パス直後の素材の幅ｂ_０）で表せる。
また、前回の厚み圧下パスの前の素材の厚みｈ_−１’につき、前回の厚み圧下パスのさらに前に幅圧下パス及び厚み圧下パスがある場合には、ｈ_−１’＝前々回の厚み圧下パス直後の素材の厚さｈ_−１（図４（ａ）参照）＋０．２５×（前々回の厚み圧下パス直後の素材の幅ｂ_−１’（図４（ａ）参照）−前回の幅圧下パス直後の素材の幅ｂ_０）で表せる。

また、前回の厚み圧下パスの前の素材の厚みｈ_−１’につき、前回の厚み圧下パスのさらに前に幅圧下パス及び厚み圧下パスがない場合には、ｈ_−１’は圧延開始前の素材の厚みとなる。
一方、前回の厚み圧下パス直後の素材の厚みｈ_０は、前回の厚み圧下パスがある場合にはその直後の素材の厚みｈ_０、前回の厚み圧下パスがない場合（圧延開始前の場合）には、圧延開始前の素材の厚みで表される。

このように、本実施形態に係るスラブの分塊圧延方法によれば、所定回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_１、所定回よりも前である前回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_０とした場合に、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを、（１）式に示す関係を満たすように調整している。
（ｈ_０−ｈ_１）＋ａ・Δｂ≧ｃ・ｈ_１ …（１）
ここで、ａ＝０．２５、ｃ＝０．１０である。

このため、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを十分に大きくとれるため、この当該回の幅圧下パスによる素材の厚みの増厚量（ａ・Δｂ＝０．２５×Δｂ＝ｈ_０’（図４（ｄ）参照−ｈ_０（図４（ｃ）参照））も大きくなり、これにより、所定回の厚み圧下パスにおける厚み圧下量（ｈ_０’（図４（ｄ）参照）−ｈ_１（図４（ｅ）参照）を大きくすることができる。このため、当該回の幅圧下パスの際に素材（スラブＳ）の両面の幅方向中央部において発生したシワ疵Ｓ１（図３参照）を、所定回の厚み圧下パスの際に、その厚み圧下により均し延伸し、低減することができる。このため、アスペクト比（ｂ／ｈ）を２以上とした素材としてのスラブＳを中間製品としてのブルームＢに分塊圧延する際に、加熱炉以外の誘導加熱機などの専用の設備を要せずに、ブルームＢに発生するシワ疵を低減することができる。

なお、本実施形態に係るスラブの分塊圧延方法にあっては、分塊圧延のパススケジュールにおいて、前述の（１）式を適用するのは、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ_０’（図４（ｃ）参照）と厚みｈ_０（図４（ｃ）参照）との比であるアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）が１．５以上であるときである。この理由は、次のとおりである。

当該回の幅圧下パスの圧延前の素材のアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）が１．５未満の場合は、当該回の幅圧下パスにおいて両幅端からの圧下による変形が、素材の幅方向中央部まで生じやすくなるため、当該回の幅圧下パス後に図１に示したようなドックボーン形状になりにくくなる。当該アスペクト比が１に近くなると、幅圧下パス後の形状がむしろ樽型に近くなるので、本発明で問題としている、素材の幅中央部で発生したシワ疵を、後続する厚み圧下パスで減ずるという問題が生じない。このため、本実施形態に係るスラブの分塊圧延方法にあっては、分塊圧延のパススケジュールにおいて、前述の（１）式を適用するのは、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材のアスペクト比が１．５以上であるときとし、当該アスペクト比が１．５未満の場合は前述の（１）式を満足させる必要はないとしている。

以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されずに種々の変更、改良を行うことができる。
例えば、スラブＳから分塊圧延によって製造されるのは、アスペクト比（ｂ／ｈ）がほぼ１の矩形断面のブルームＢに限らず、アスペクト比（ｂ／ｈ）がほぼ１の矩形断面の中間製品としての角ビレットであってもよい。

本発明の効果を検証すべく、素材スラブ（厚み２７５ｍｍ×幅７６０ｍｍ）からブルーム（中間断面２４０ｍｍ角）を本発明例によるパススケジュールと比較例によるパススケジュールとによって分塊圧延した。本発明例によるパススケジュールを表１に、比較例によるパススケジュールを表２にそれぞれ示す。表１及び表２において、幅ｂは当該パスが幅圧下パスである場合の幅圧下後の素材の幅、厚ｈは当該パスが厚み圧下パスである場合の厚み圧下後の素材の厚みである。幅ｂ’は当該パスが幅圧下パスである場合は幅圧下後の素材の幅、当該パスが厚み圧下パスである場合は厚み圧下後の素材の幅であり、厚ｈ’は当該パスが幅圧下パスである場合は幅圧下後の素材の厚み、当該パスが厚み圧下パスである場合は厚み圧下後の素材の厚みである。また、Δｂは、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量、すなわち、前回の幅圧下パス直後の素材の幅と当該回の幅圧下パス直後の素材の幅との差である。また、アスペクト比は、幅ｂ’と厚ｈ’との比である。

なお、アスペクト比（ｂ’／ｈ’）における幅ｂ’と厚ｈ’の算出に際しては、前述のアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）における幅ｂ_０’と厚ｈ_０の算出と同様に行う。

表１を参照すると、本発明例によるパススケジュールで素材スラブを分塊圧延した場合、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ’と厚みｈ’との比であるアスペクト比（ｂ’／ｈ’）が１．５以上のとき、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂについては、前述の（１）式をすべて満たしている。

即ち、パス数１回目と２回目の合計の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは１２０ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２７５ｍｍ、ｈ_１：２７０ｍｍで８となり（１）式を満足している。このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が７６０ｍｍ、厚ｈ’が２７５ｍｍで２．８である。

同様に、パス数４回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは１２０ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２７０ｍｍ、ｈ_１：２７０ｍｍで３となり（１）式を満足している。このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が６５１ｍｍ、厚ｈ’が２７０ｍｍで２．４である。
同様に、パス数６回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは１１０ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２７０ｍｍ、ｈ_１：２７０ｍｍで０．５となり（１）式を満足している。このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が５３０ｍｍ、厚ｈ’が２７０ｍｍで２．０である。

同様に、パス数８回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは１００ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２７０ｍｍ、ｈ_１：２４０ｍｍで３１となり（１）式を満足している。このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が４１９ｍｍ、厚ｈ’が２７０ｍｍで１．６である。
なお、パス数１０回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは７０ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２４０ｍｍ、ｈ_１：２４０ｍｍで−６．５となり（１）式を満足していないが、このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が３２７ｍｍ、厚ｈ’が２４０ｍｍで１．４であり、本発明における（１）式を適用する必要のないパスである。

一方、この本発明例によるパススケジュールで素材スラブを分塊圧延した場合に対し、比較例によるパススケジュールで素材スラブを分塊圧延した場合には、表２を参照すると、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ’と厚みｈ’との比であるアスペクト比（ｂ’／ｈ’）が１．５以上のとき、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂについては、パス数６回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂにつき（１）式を満足していない。

即ち、パス数６回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂは１００ｍｍであり、その際の（１）式を変形した（ｈ_０−ｈ_１）＋０．２５・Δｂ−０．１０・ｈ_１の値はｈ_０：２７０ｍｍ、ｈ_１：２７０ｍｍで−２となり（１）式を満足していない。このときの前述のアスペクト比（ｂ’／ｈ’）は幅ｂ’が５２９ｍｍ、厚ｈ’が２７０ｍｍで２．０である。
なお、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ’と厚みｈ’との比であるアスペクト比（ｂ’／ｈ’）が１．５以上であるパス数２回目、４回目、８回目の幅圧下パスの幅圧下量Δｂについては（１）式を満足している。

図５に、本発明例及び比較例によるパススケジュールにてスラブを中間製品としてのブルームに分塊圧延したときのブルームに形成されるシワ疵個数を示す。ここでいうシワ疵個数とは、漏洩磁束探傷により欠陥深さ０．７ｍｍ以上の欠陥もしくは欠陥深さ０．４ｍｍ以上かつ欠陥長さ３０ｍｍ以上の欠陥と判定された疵の１ｍ当たりの個数である。

本発明例によるパススケジュールにてスラブを分塊圧延したときのブルームに形成されるシワ疵個数が、比較例によるパススケジュールにてスラブを分塊圧延したときのブルームに形成されるシワ疵個数よりも少なくなっていることがわかる。本発明例では、前回の厚み圧下パスと所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを十分に大きくとれるため、この当該回の幅圧下パスによる素材の厚みの増厚量も大きくなり、これにより、所定回の厚み圧下パスにおける厚み圧下量を大きくすることができる。このため、当該回の幅圧下パスの際に素材の両面の幅方向中央部において発生したシワ疵Ｓ１を、所定回の厚み圧下パスの際に、その厚み圧下により均し延伸し、低減することができる。この結果、本発明例では、比較例に対し、シワ疵個数が４４％程度低減することが確認された。これにより、中間製品の手入れ負荷が低減し、処理能率が８．５％向上した。

１加熱炉
２分塊圧延機
３上側孔型ロール
４下側孔型ロール
５幅圧下パス用第１孔型
６幅圧下パス用第２孔型
７厚み圧下パス用孔型
Ｂブルーム
Ｓスラブ
Ｓ１シワ疵

Claims

幅ｂと厚みｈとの比であるアスペクト比（ｂ／ｈ）が２以上のスラブを素材として、前記スラブの幅を減ずる幅圧下パスと前記スラブの厚みを減ずる厚み圧下パスとを交互に繰り返して、前記アスペクト比がほぼ１の矩形断面の中間製品へ分塊圧延するスラブの分塊圧延方法であって、
所定回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_１、前記所定回よりも前である前回の厚み圧下パス後の素材の厚みをｈ_０とした場合に、前記前回の厚み圧下パスと前記所定回の厚み圧下パスとの間に行う当該回の幅圧下パスにおける幅圧下量Δｂを、当該回の幅圧下パスの圧延前の素材の幅ｂ_０’と厚みｈ_０との比であるアスペクト比（ｂ_０’／ｈ_０）が１．５以上であるとき、（１）式に示す関係を満たすように調整することを特徴とするスラブの分塊圧延方法。
（ｈ_０−ｈ_１）＋ａ・Δｂ≧ｃ・ｈ_１ …（１）
ここで、ａ＝０．２５、ｃ＝０．１０である。