JP6599146B2 - 導電性高分子液、導電性高分子組成物、ならびに電解コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents
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Description
本発明に係る導電性高分子液は、導電性高分子と、ドーパントと、他分子を包摂可能な化合物と、溶媒または分散媒(以下、まとめて「液媒」ともいう。)と、を含む。なお、本明細書において、「導電性高分子液」とは、主溶媒または主分散媒に、導電性高分子が完全に溶解又は分散していることを意味する。導電性高分子液は、溶解状態又は安定な分散状態であることが好ましいが、機械的攪拌により一時的な分散状態にあってもよい。本発明に係る導電性高分子液は、電解コンデンサ用の導電性高分子液として好適である。
導電性高分子液が含有する導電性高分子としては、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアニリンおよびそれらの誘導体等が挙げられる。中でも、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)またはその誘導体が好ましい。導電性高分子は、ホモポリマーでもよく、コポリマーでもよい。また、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
ドーパントとしては、導電性高分子に少なくとも一部がドープして導電性を発現させるものであれば特に限定されない。例えば、無機酸、低分子スルホン酸またはその塩、低分子カルボン酸またはその塩、スルホン酸やカルボン酸を含むポリ酸またはその塩等が挙げられる。これらは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
本明細書において、他分子を包摂可能な化合物とは、自分子以外の他の分子を包摂することができる化合物、と定義する。他分子を包摂可能な化合物としては、自分子以外の他の分子を包摂することができる物質であれば特に限定されない。例えば、シクロデキストリン、クラウンエーテル、カリックスアレーン、カリックスレゾルシンアレーン、カリックスピロール、チアカリックスアレーン、ホモオキサカリックスアレーンまたはこれらの誘導体等の12員環以上の大環状化合物が挙げられる。
溶媒または分散媒としては、導電性高分子を溶解するものであれば特に制限は無く、具体的には、水、メタノール、エタノール、プロパノール、酢酸等のプロトン性極性溶媒;エチレングリコール、N−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、アセトニトリル、アセトン等の非プロトン性極性溶媒等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
本発明の導電性高分子液は、難燃剤を含んでいてもよい。電解コンデンサには、タンタル焼結体や有機溶媒が含まれているため、自己消火性能を有する電解コンデンサが望まれている。難燃剤を添加することにより、電解コンデンサに自己消火性能を付与することができるため好ましい。
本発明に係る導電性高分子組成物は、上記導電性高分子液を乾燥し、液媒を除去することにより得られる。乾燥温度は、導電性高分子の分解温度以下であれば特に制限されないが、300℃以下であることが好ましく、50℃以上200℃以下であることがより好ましい。本発明に係る導電性高分子組成物は、電解コンデンサ用の導電性高分子組成物として好適である。
次に、上記導電性高分子液を用いた電解コンデンサについて説明する。図1に示すように、本発明の一実施形態に係る電解コンデンサは、陽極導体1上に、誘電体層2、固体電解質層3がこの順に形成された構造を有している。さらに詳しくは、陽極導体1と、陽極導体1に繋がる金属リード8、陽極導体1の表面を陽極酸化して得られる誘電体層2と、固体電解質層3と、グラファイト層4と銀層5からなる陰極導体、金属リード8および銀層5と電極7を繋げる導電接着剤6、これらを覆う外装樹脂9から構成されている。
陽極導体1は、弁作用金属の板、箔または線;弁作用金属の微粒子からなる焼結体;エッチングによって拡面処理された多孔質体金属等によって形成される。弁作用金属としては、タンタル、アルミニウム、チタン、ニオブ、ジルコニウムおよびこれらの合金などが挙げられる。中でも、アルミニウム、タンタルおよびニオブから選択される少なくとも1種であることが好ましい。
誘電体層2は、例えば、陽極導体1の表面を電解酸化させることにより形成される層であり、焼結体や多孔質体などの空孔部にも形成される。誘電体層2の厚さは、電解酸化の電圧によって適宜調整することができる。
固体電解質層3は、上記導電性高分子液を乾燥して得られる導電性高分子組成物を固体電解質として含む層である。固体電解質層3は、単層構造でもよく、多層構造でもよい。図1に示す電解コンデンサでは、固体電解質層3が、第一の導電性高分子層3Aおよび第二の導電性高分子層3Bから構成されている。
固体電解質層3の上には陰極導体を形成してもよい。陰極導体としては、導体であれば特に限定されるものではないが、例えば、グラファイト等のカーボン、または銀などの金属が挙げられる。陰極導体は、図1に示すように、グラファイト層などのカーボン層と銀層とからなる2層構造であってもよい。
PEDOT/PSS(ドーパントとしてポリスチレンスルホン酸がドープされたポリエチレンジオキシチオフェン)水分散液(ヘレウス株式会社製、商品名:Clevios(登録商標) P)を、固形分が1質量%となるように調製した。調製したPEDOT/PSS水分散液100gをガラスビーカーに計り取り、α−シクロデキストリンを0.1g加えて十分に攪拌し、導電性高分子液を準備した。陽極導体1として、3×4cmのタンタル平板箔を用い、このタンタル平板箔の表面を電解酸化させて誘電体層2を形成した。誘電体層上に、前記調製した導電性高分子液を滴下して、120℃で10分間予備乾燥を行った後、本乾燥を150℃で60分間行い、固体電解質層3を形成した。この時、デジタルマイクロメーター(株式会社ミツトヨ製)にて測定したところ、導電性高分子膜厚は120μmであった。さらに、グラファイト層4と銀層5を形成して、コンデンサ素子を作製した。作製したコンデンサ素子を、温度20℃湿度80%の恒温槽中に60分間入れて水分を含ませた後、電圧を印加してエージング処理を行った。
α−シクロデキストリンに換えてβ−シクロデキストリンを用いた以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンに換えてγ−シクロデキストリンを用いた以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンに換えてカリックス[4]アレーンを用いた以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンに換えてジベンゾ−18−クラウン−6を用いた以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を0.01gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を0.05gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を0.2gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を0.5gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を0.7gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンの添加量を1gとした以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
α−シクロデキストリンを用いないこと以外は、実施例1と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
特開2003−89724号公報を参考に、分子チューブを作製した。α−シクロデキストリン(α−CD)5gを純水35mlに溶解させてα−CD溶液を調製し、0℃付近まで冷却した。次に、分子量3350の線状高分子であるポリエチレングリコールビスアミン(PEG−BA)300mgを純水10mlに溶解させてPEG−BA溶液を調製した。冷却したままの状態でα−CD溶液に超音波をかけながら、PEG−BA溶液を3回に分けてα−CD溶液に滴下し、よく混合した後、冷蔵庫で一時間放置した。その後、遠心分離によって沈殿物を分離し、真空乾燥することによって、分子ネックレスを得た。得られた分子ネックレスを乾燥させ、粉状に砕き、1−フルオロ−2,4−ジニトロベンゼン(DNFB)を3g加え、よく浸透させたうえで一時間放置した。ここへジメチルホルムアミド(DMF)30mlを加えて室温で一日撹拌した後、80℃に加熱し、4時間撹拌したところ、PEG−BAの両末端がDNFBで置換されて、分子ネックレス(PEG−BA内包分子チューブ:ポリロタキサン)が得られた。この溶液にジエチルエーテルを加え、遠心分離によって沈殿物を分離した。得られた沈殿物をジメチルスルホキシド(DMSO)20mlに溶解させた後、未反応のDNFB、PEG−BA、PEG−BAのジニトロフェニル誘導体を除去するためにメタノールを加え、遠心分離によって沈殿物を分離した。この操作をさらに2回繰り返した。同様に、未反応のα−CDを除去するため、純水を用いて計3回遠心分離を行い、沈殿物を分離した。その後、得られた黄色固体を真空乾燥することにより、純粋なポリロタキサンを得た。
分子チューブの添加量を0.05gとした以外は、実施例12と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
分子チューブの添加量を1gとした以外は、実施例12と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
実施例12と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いたこと、固体電解質層3の導電性高分子膜厚を300μmとした以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
分子量1150のPEG−BAを用いた以外は、実施例12と同様にして、長さ10nmの分子チューブを作製した。この分子チューブを使用した以外は、実施例12と同様にして導電性高分子液を調製した。そして、得られた導電性高分子液を用いたこと、固体電解質層3の導電性高分子膜厚を100μmとした以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
固体電解質層3の導電性高分子膜厚を120μmとした以外は、実施例16と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
固体電解質層3の導電性高分子膜厚を3μmとした以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表1に示す。
温度20℃湿度80%の恒温槽中に入れて水分を含ませるのに換えて、電解液を含浸したこと以外は、実施例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表2に示す。なお、電解液としては、エチレングリコール7質量部、グリセリン3質量部、ホウ酸9質量部、アンモニア水(28%)2.5質量部を混合し、135℃まで温度を昇温して調製した電解液を用いた。
温度20℃湿度80%の恒温槽中に入れて水分を含ませるのに換えて、電解液を含浸したこと以外は、実施例12と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表2に示す。なお、電解液としては、エチレングリコール7質量部、グリセリン3質量部、ホウ酸9質量部、アンモニア水(28%)2.5質量部を混合し、135℃まで温度を昇温して調製した電解液を用いた。
温度20℃湿度80%の恒温槽中に入れて水分を含ませるのに換えて電解液を含浸したこと以外は、実施例15と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表2に示す。なお、電解液としては、エチレングリコール7質量部、グリセリン3質量部、ホウ酸9質量部、アンモニア水(28%)2.5質量部を混合し、135℃まで温度を昇温して調製した電解液を用いた。
温度20℃湿度80%の恒温槽中に入れて水分を含ませるのに換えて電解液を含浸したこと以外は、比較例1と同様にしてコンデンサ素子を作製し、漏れ電流を算出した。結果を表2に示す。なお、電解液としては、エチレングリコール7質量部、グリセリン3質量部、ホウ酸9質量部、アンモニア水(28%)2.5質量部を混合し、135℃まで温度を昇温して調製した電解液を用いた。
トリクレジルホスフェート(難燃剤)1gに、α−シクロデキストリン0.3g、純水5gを加え常温で1昼夜攪拌した後、トリクレジルホスフェートを取り込んだα−シクロデキストリンを含む水層のみを取り出した。この水層をPEDOT/PSS水分散液に加え、さらに純水を加えることで、トリクレジルホスフェートを取り込んだα−シクロデキストリンを含むPEDOT/PSS水分散液100gにおいて、PEDOT/PSS固形分が1質量%となるように調製した。得られた導電性高分子液をガラス繊維濾紙に浸漬し、150℃で乾燥させて燃焼試験用試料を作製した。
トリクレジルホスフェートをシクロホスファゼンオリゴマー(大塚化学株式会社製、商品名SPB−100)に換えた以外は、実施例22と同様に導電性高分子液を製造した。そして、得られた導電性高分子液を用いた以外は、実施例22と同様にして燃焼試験用試料を作製し、自己消火性能を確認した。結果を表3に示す。
α−シクロデキストリンを使用せず、トリクレジルホスフェートを分散していない状態で使用した以外は、実施例22と同様にして燃焼試験用試料を作製し、自己消火性能を確認した。結果を表3に示す。
2:誘電体層
3:固体電解質層
3A:第一の導電性高分子層(固体電解質層)
3B:第二の導電性高分子層(固体電解質層)
4:グラファイト層
5:銀層
6:導電接着剤
7:電極
8:金属リード(弁作用金属)
9:外装樹脂
10:他分子を包摂可能な化合物
11:線状高分子
12:架橋部
Claims (6)
- ドーパントがドープされた導電性高分子と、他分子を包摂可能な化合物と、溶媒または分散媒と、を含む導電性高分子液を乾燥して得られる導電性高分子組成物を含む固体電解質層であって、
前記ドーパントがドープされた導電性高分子がPEDOT/PSS(ドーパントとしてポリスチレンスルホン酸がドープされたポリエチレンジオキシチオフェン)であり、
前記他分子を包摂可能な化合物が、シクロデキストリン、クラウンエーテル、カリックスアレーン、またはそれらの誘導体から選択される一種であり、かつ分子チューブであり、
膜厚(T)と前記他分子を包摂可能な化合物の長さ(L)の比率が、T/L≦10000である固体電解質層。 - 前記導電性高分子液が、さらに難燃剤を含む、請求項1に記載の固体電解質層。
- さらに電解液を含む請求項1又は2に記載の固体電解質層。
- 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の固体電解質層を含む電解コンデンサ。
- 弁作用金属からなる陽極導体の表面に誘電体層を形成する工程と、前記誘電体層上に、導電性高分子液を塗布または含浸する工程と、前記導電性高分子液を乾燥して得られる導電性高分子組成物を含む固体電解質層を形成する工程と、を含む電解コンデンサの製造方法であって、
前記導電性高分子液が、ドーパントがドープされた導電性高分子と、他分子を包摂可能な化合物と、溶媒または分散媒と、を含み、
前記ドーパントがドープされた導電性高分子がPEDOT/PSS(ドーパントとしてポリスチレンスルホン酸がドープされたポリエチレンジオキシチオフェン)であり、
前記他分子を包摂可能な化合物が、シクロデキストリン、クラウンエーテル、カリックスアレーン、またはそれらの誘導体から選択される一種であり、かつ分子チューブであり、
前記固体電解質層の膜厚(T)と前記他分子を包摂可能な化合物の長さ(L)の比率が、T/L≦10000である電解コンデンサの製造方法。 - さらに、水及び/又は電解液を前記固体電解質層に含有させる工程を含む、請求項5に記載の電解コンデンサの製造方法。
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