JP6590882B2 - 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 - Google Patents
信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6590882B2 JP6590882B2 JP2017176569A JP2017176569A JP6590882B2 JP 6590882 B2 JP6590882 B2 JP 6590882B2 JP 2017176569 A JP2017176569 A JP 2017176569A JP 2017176569 A JP2017176569 A JP 2017176569A JP 6590882 B2 JP6590882 B2 JP 6590882B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- attenuation
- unit
- attenuator
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
10,20 ATT
11 周波数変換部
12 局部発振器
13 周波数混合器
14 IFフィルタ
15 IF増幅器
21 ADC
22 信号解析部
22a 直交復調部
22b 解析処理部
23 信号レベル測定部
24 オーバーフロー検出部
28 減衰量設定部
29 減衰量調整部
100 信号解析装置
Claims (4)
- 被試験対象(1)から出力される無線信号を被測定信号として受信し、当該被測定信号に対して解析処理を行う信号解析装置(100)であって、
前記被試験対象から出力された変調信号を減衰させる第1の減衰器(10)と、
前記第1の減衰器により減衰された前記変調信号を局部発振器(12)の出力と混合して中間周波数信号に変換する周波数変換部(11)と、
前記中間周波数信号を減衰させる第2の減衰器(20)と、
前記第2の減衰器により減衰された前記中間周波数信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するA/D変換器(21)と、
前記A/D変換器から出力された前記ディジタルデータに対して解析処理を行う信号解析部(22)と、
前記被試験対象から出力された前記変調信号の信号レベルを測定する、前記信号解析部に含まれる解析処理部(22b)を構成する信号レベル測定部(23)と、
前記信号レベル測定部により測定された前記信号レベルに応じて、前記第1及び第2の減衰器の減衰量をあらかじめ定められた値に設定して前記信号解析装置のダイナミックレンジを粗設定する減衰量設定部(28)と、
前記第1及び第2の減衰器が前記減衰量設定部によってそれらの減衰量が設定された状態で、前記第1の減衰器から前記A/D変換器までを経由した前記被測定信号が入力されて前記A/D変換器のオーバーフロー状態を検出する、前記信号レベル測定部と同じく前記解析処理部を構成するオーバーフロー検出部(24)と、
前記オーバーフロー検出部によりオーバーフロー状態が検出された場合に、前記第2の減衰器の減衰量を増加させる減衰量調整部(29)と、を備え、
前記第2の減衰器の減衰量が自動調整されて前記ダイナミックレンジが最適化されることを特徴とする信号解析装置。 - 前記オーバーフロー検出部は、前記A/D変換器から出力された前記ディジタルデータが前記A/D変換器の出力の上限値に到達したか否かに基づいて、前記A/D変換器のオーバーフロー状態を検出することを特徴とする請求項1に記載の信号解析装置。
- 前記被試験対象から出力される前記変調信号がOFDM変調信号であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の信号解析装置。
- 請求項1から請求項3のいずれかに記載の信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法であって、
被試験対象(1)から出力された変調信号の信号レベルを測定する信号レベル測定ステップ(S1)と、
前記信号レベル測定ステップで測定された前記信号レベルに応じて、第1及び第2の減衰器(10,20)の減衰量をあらかじめ定められた値に設定する減衰量設定ステップ(S2)と、
前記被試験対象から出力された前記変調信号を前記第1の減衰器により減衰させる第1の減衰ステップ(S3)と、
前記第1の減衰ステップで減衰された前記変調信号を局部発振器(12)の出力と混合して中間周波数信号に変換する周波数変換ステップ(S4)と、
前記中間周波数信号を前記第2の減衰器により減衰させる第2の減衰ステップ(S5)と、
前記A/D変換器により、前記第2の減衰ステップで減衰された前記中間周波数信号をサンプリングしてディジタルデータに変換するA/D変換ステップ(S6)と、
前記A/D変換器のオーバーフロー状態が検出されたか否かを判定するオーバーフロー判定ステップ(S7)と、
前記オーバーフロー判定ステップでオーバーフロー状態が検出されたと判定された場合に、前記第2の減衰器の減衰量を増加させる減衰量調整ステップ(S8)と、を含むことを特徴とする信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017176569A JP6590882B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017176569A JP6590882B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019052906A JP2019052906A (ja) | 2019-04-04 |
JP6590882B2 true JP6590882B2 (ja) | 2019-10-16 |
Family
ID=66014004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017176569A Active JP6590882B2 (ja) | 2017-09-14 | 2017-09-14 | 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6590882B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110704797B (zh) * | 2019-10-29 | 2023-01-31 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 实时频谱分析仪和信号处理方法、可读存储介质 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5467362A (en) * | 1977-11-08 | 1979-05-30 | Standard Kogyo Kk | Pcm system |
JPS5799010A (en) * | 1980-12-11 | 1982-06-19 | Fujitsu Ltd | High dynamic range digital agc system |
JPS62225964A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-10-03 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
JP2887394B2 (ja) * | 1989-06-30 | 1999-04-26 | アンリツ株式会社 | ネットワークアナライザ |
JPH1164405A (ja) * | 1997-08-20 | 1999-03-05 | Advantest Corp | 変調解析装置及びスペクトラムアナライザ |
JP3548953B2 (ja) * | 2000-06-05 | 2004-08-04 | 日本電気エンジニアリング株式会社 | 信号強度検出器 |
JP4235043B2 (ja) * | 2003-06-16 | 2009-03-04 | アンリツ株式会社 | 信号解析装置 |
JP4704384B2 (ja) * | 2007-03-20 | 2011-06-15 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
JP4516975B2 (ja) * | 2007-04-06 | 2010-08-04 | アンリツ株式会社 | デジタイザ |
JP5148581B2 (ja) * | 2009-10-09 | 2013-02-20 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
JP5186474B2 (ja) * | 2009-12-17 | 2013-04-17 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び周波数切替方法 |
JP5771641B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2015-09-02 | アンリツ株式会社 | 信号解析装置及び信号解析方法 |
JP6275084B2 (ja) * | 2015-07-15 | 2018-02-07 | アンリツ株式会社 | ノイズフロアレベル低減装置及びノイズフロアレベル低減方法 |
JP6302969B2 (ja) * | 2016-09-13 | 2018-03-28 | 東芝電波プロダクツ株式会社 | レーダ試験システム、及びレーダ試験方法 |
-
2017
- 2017-09-14 JP JP2017176569A patent/JP6590882B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019052906A (ja) | 2019-04-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6646449B2 (en) | Intermodulation detector for a radio receiver | |
CN106405235A (zh) | 一种频谱分析仪及其数据处理方法 | |
MX2010013967A (es) | Metodo para probar un receptor de frecuencia de radio (rf) para proporcionar datos de correccion de energia. | |
CN106443122B (zh) | 一种宽频带大动态信号高精度测量装置及方法 | |
KR100809947B1 (ko) | 측정장치, 방법 및 기록매체 | |
EP2418500B1 (en) | Multi-channel frequency domain test and measurement instrument | |
CN106886002B (zh) | 一种频谱分析仪的校准方法 | |
US9140730B2 (en) | Signal analysis apparatus and signal analysis method | |
US11336379B2 (en) | Mobile terminal test device and mobile terminal test method | |
JP6590882B2 (ja) | 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法 | |
US20080205557A1 (en) | Systems and Methods for Performing External Correction | |
US11463285B2 (en) | Signal analysis apparatus and signal analysis method | |
US11965921B2 (en) | Measurement system and measurement method | |
JP2018194344A (ja) | 信号分析装置及び信号分析方法 | |
CN114545078A (zh) | 中频信号处理系统及处理方法 | |
JP2019158418A (ja) | 測定システム及び測定方法 | |
JP6959315B2 (ja) | 信号解析装置及び信号解析方法 | |
JP2016186473A (ja) | 信号解析装置及び方法 | |
Rivera et al. | Spectrum analyzer by software defined radio | |
JP7174793B2 (ja) | 信号解析装置及び信号解析方法 | |
JP2007081731A (ja) | 隣接チャンネル漏洩電力比測定装置及び測定方法 | |
US11463183B2 (en) | Signal analysis apparatus and signal analysis method | |
JP7316397B1 (ja) | 信号解析装置および信号解析方法 | |
US20240106551A1 (en) | Automatic attenuation of analog-digital-converter (adc) input signal based on error vector magnitude (evm) performance | |
JP4395463B2 (ja) | デジタル放送信号評価装置およびデジタル放送信号評価方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190320 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20190423 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190722 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20190729 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190917 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190917 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6590882 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |