JP6563018B2 - ワイヤロープ探傷装置 - Google Patents

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Description

本発明は、エレベータ又は工事用クレーンなどに使用されるワイヤロープの破損や素線の断線箇所(以下、ワイヤロープ損傷部と呼ぶ。)を検出するワイヤロープ探傷装置に関するものである。
従来のロープテスタとも称されるワイヤロープ探傷装置としては、一定速度で走行するワイヤロープに対し、ワイヤロープの軸方向の設定区間(所定区間)を永久磁石で磁化し、当該設定区間に配設された磁気センサ(コイル部)により、ワイヤロープ損傷部より漏洩する磁束を検知するものがある(例えば、特許文献1参照)。
このワイヤロープ探傷装置は、ガイド路、永久磁石、磁気センサ(コイル部)、及び取付部で構成される。ガイド路は、断面が略U字状に形成され、その中をワイヤロープが通過できるようになっている。また、永久磁石は、鋼製のワイヤロープをガイド路に引き付けるとともに、ワイヤロープの軸方向に磁気ループを形成することができるように配設されている。
特許第5420497号(段落0040、図9など)
ワイヤロープ損傷部の検出感度を増加させつつワイヤロープ損傷部の位置に伴う検出感度のばらつきを抑制するためには、ワイヤロープを磁気飽和状態近くまで磁化できる能力を持つ永久磁石又は電磁石により損傷部近傍から漏洩する磁束量を可能な限り増加させ、同時にワイヤロープを可能な限り均一に磁化することが望ましい。
上記の特許文献1では、ワイヤロープ探傷装置を構成する永久磁石が、ガイド路とワイヤロープに対向する位置に配設されているため、永久磁石近傍に位置するワイヤロープ部位が比較的大きく磁化されることになる。この結果、永久磁石から反対側に位置するワイヤロープ部位が比較的小さく磁化される。そのため、ワイヤロープを不均一に磁化することとなり、ワイヤロープ損傷部が存在する位置によっては検出感度やS/Nが異なるという課題があった。
本発明は、斯かる課題を解決するために成されたものであり、ワイヤロープの設定された区間を均一に磁化し、ワイヤロープ損傷部の検出感度やS/Nを均一化して、ワイヤロープ損傷部の検出範囲を拡大したワイヤロープ探傷装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明のワイヤロープ探傷装置は、ストランドを有するワイヤロープの軸方向上の設定区間を含むように主磁束路を形成する磁化器と、前記設定区間内に配置され、前記磁化器により前記ワイヤロープが磁化されるとき、前記ワイヤロープの損傷部から発生する漏洩磁束を検出する磁気センサとを備えたワイヤロープ探傷装置であって、前記磁化器が、前記設定区間を挟んで前記ワイヤロープと接触せずに前記ワイヤロープを円周方向に略1/2周分囲うように断面がU字形状をそれぞれが有する第1及び第2のポールピースを含み、前記第1及び第2のポールピースそれぞれの前記ワイヤロープの軸方向の長さが互いに同じであり、且つ前記ワイヤロープの円周方向において前記ストランドが1/4周分または1/2周分で巻き付けられた前記ワイヤロープの軸方向の長さを有しており、前記第1及び第2のポールピース間の距離は、前記第1及び第2のポールピースそれぞれの前記ワイヤロープの軸方向の長さの奇数倍である。
本発明に係るワイヤロープ探傷装置では、第1及び第2のポールピースそれぞれのワイヤロープの軸方向の長さが、互いに同じであり且つワイヤロープの円周方向において1/4周分以上巻き付けられたストランドを有するワイヤロープの軸方向の長さを有し、第1及び第2のポールピース間の距離が、第1及び第2のポールピースそれぞれのワイヤロープの軸方向の長さの奇数倍となるように構成したので、小さなポールピースの磁化器で製作コストを抑制しつつ、ワイヤロープの設定区間を均一に磁化することができる。これにより、ワイヤロープ損傷部がワイヤロープ内の不特定位置に発生しても均一な漏洩磁束、均一な検出感度を得ることができ、ワイヤロープ損傷部の検出範囲の拡大を図ることができる。
本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置の構成を概略的に示す正面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置の構成を概略的に示す側面図である。 図1A及び図1Bに示すワイヤロープ探傷装置の斜視図である。 図1A及び図1Bに示すワイヤロープ探傷装置においてワイヤロープ損傷部が無い場合の動作を説明する図である。 図1A及び図1Bに示すワイヤロープ探傷装置においてワイヤロープ損傷部が有る場合の検出原理を説明する図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、一定速度で通過するワイヤロープの構成を示す正面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、一定速度で通過するワイヤロープの構成を示す側面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置とワイヤロープとの配置関係を示す正面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、ワイヤロープの軸方向における設定区間が均一に磁化される原理を説明する正面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、ワイヤロープの軸方向における設定区間が均一に磁化される原理を説明する側面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、ワイヤロープの軸方向におけるポールピースの長さをより短くした場合のワイヤロープ探傷装置の構成部品の配置関係を示した正面図である。 図8の配置関係で、ワイヤロープの軸方向におけるワイヤロープの設定区間が均一に磁化される原理を説明する正面図である。 図8の配置関係で、ワイヤロープの軸方向におけるワイヤロープの設定区間が均一に磁化される原理を説明する側面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、ワイヤロープの軸方向におけるポールピースの長さを最短にした場合にワイヤロープの軸方向における設定区間が不均一に磁化される原理を説明する正面図である。 本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置において、ワイヤロープの軸方向におけるポールピースの長さを最短にした場合にワイヤロープの軸方向における設定区間が不均一に磁化される原理を説明する側面図である。 本発明の実施の形態2におけるワイヤロープ探傷装置の構成を概略的に示した正面図である。
実施の形態1.
図1A、図1B及び図2において、本発明の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置は、センサユニット1と磁化器4とで構成されている。磁化器4は、バックヨーク5と、その両端に配設された一対の磁石6a,6bと、その磁石6a,6bに隣接してそれぞれ配設されたポールピース7a,7bとで構成され、ワイヤロープ8の軸方向における設定区間Lを磁化する。なお、図1Bに示すように、磁石6a,6b及びポールピース7a,7bは、それぞれ、磁石6及びポールピース7として総称することがある。
上記の設定区間Lとは、図1A及び図1Bに示すように、ワイヤロープ8の内、磁化器4のバックヨーク5の両端部に配設された磁石6a,6bのN−S極対、すなわちポールピース7a−7b間に挟まれたワイヤロープ8の軸方向における区間である。
ポールピース7としては、金属材料(例えば、S45Cなどの鋼鉄であり、非磁性品は除く。)の中から、精度、耐久性、及びコストを検討し、最も適切なものを選択することができる。ポールピース7は、図1B及び図2に示すように、ワイヤロープ8を概ね半周(1/2周)分囲うように断面がU字形状に成形されている。
磁石6としては、永久磁石又は電磁石を選択することができ、さらに加工コストの点で優れている角形形状とすることができる。従って、特許第5026440号(段落0012、図2など)のように、磁石をU字形状に成形しなくて済む。また、この磁石6は、ポールピース7と隣接させて組み合わせることで、ワイヤロープ8(図3参照。)の設定区間Lを磁化するように働く。
センサユニット1は、図1A及び図1Bで示すように、磁気センサ2、及び磁気センサ2を保持するホルダ3で構成される。磁気センサ2としては、検出コイル、ホール素子、磁気抵抗効果素子(MR、GMR)、磁気インピーダンス素子(MI)等の種々の素子の中から、精度、耐久性、コスト等を検討し最も適切なものを選択することができる。ここでは、検出コイルで構成される磁気センサ2を採用している。図2に示すように、ワイヤロープ損傷部の捕捉範囲を可能な限り広げるために、磁気センサ2も、ポールピース7と同様に、ワイヤロープ8を概ね半周分囲うように断面がU字形状に成形されている。
次に、磁気センサ2の検出範囲について説明する。
図1〜図4に示すように、検出コイルを用いた磁気センサ2では、ワイヤロープ探傷装置側から見て、ワイヤロープ8の断面の約240度の領域をその検知領域とする。ワイヤロープ8がその軸を回転軸として無回転の状態で磁気センサ2を通過するならば、磁気センサ2側から見てワイヤロープ8の反対側に位置するワイヤロープ8の断面の約120度の領域に存在するワイヤロープ損傷部9(図4参照。)を検出できないということが想定される。
しかしながら、実際には、ワイヤロープ8が磁気センサ2を通過する際、ワイヤロープ8がその軸を回転軸として自転しながら磁気センサ2を通過することが知られているので、複数回ワイヤロープ探傷検査を実施することで、ワイヤロープ8の断面の全領域に存在するワイヤロープ損傷部9を検出することができる。
このような理由により、断面がU字形状を有する磁気センサ2は、ワイヤロープ8に検出不可能な領域を生じさせるということがなく、ワイヤロープ8の断面の全領域をその検出範囲とすることができる。
次に、本発明におけるワイヤロープ探傷装置の動作を、図3及び図4を参照して説明する。
図3及び図4に示すように、磁化器4の一方の磁石6aから発生した主磁束10が、ポールピース7aを経由してワイヤロープ8の中を通り磁化器4の他方のポールピース7b及び磁石6bとバックヨーク5を経て磁石6aに戻る磁気回路が形成される。ワイヤロープ8中の磁束密度が凡そ磁気飽和に達し均一になるように磁化器4の起磁力が設定されている。
ここで、図4に示すように、ワイヤロープ8にワイヤロープ損傷部9が存在すると、その近傍では漏洩磁束11が発生する。この漏洩磁束11が磁気センサ2付近を通過するとき、磁気センサ2の両端に誘起電圧が発生する。これによりワイヤロープ損傷部9の存在を検知することができる。
次に、本発明に係るワイヤロープ探傷装置と、探傷対象と成るワイヤロープ8との配置関係と、磁気センサ2に対向するワイヤロープ8の部位(磁極間、すなわちポールピース間の軸方向距離に相当する部分)が均一に磁化されることについて説明する。
図5A、図5B及び図6において、ワイヤロープ8を構成するストランド12の軸方向の周期的長さTに基づきポールピース7の軸方向長さ(幅)Pと磁極間(ポールピース7a−7b間)の軸方向距離Mが設定された長さに設定されることにより、ポールピース7と磁石6が配置され、磁化器4の一対のポールピース7a,7bの中央付近に磁気センサ2を含むセンサユニット1が配置されている。
図5Aに示すように、ワイヤロープ8の上部に、ストランド12の山腹部に相当する位置にストランド12の各々を示す符号a〜hを付し、前記山腹部の位置を明示するために、ワイヤロープ8の軸方向に直交する方向に対して破線を付す。
図5Bには、ワイヤロープ8の軸方向に直交する平面で切断した断面を示す。ワイヤロープ8は、図示の例では、8本のストランド12a〜12hを撚りながら、一般に、繊維材、鋼材等で構成されるコア材13に巻き付けたワイヤロープ8を用いる。なお、ストランドは、一本一本が、一般に、数本〜数10本の素線を単層又は多層により合わせたものである。
図5A及び図5Bに示す上記ワイヤロープ8に基づいて、図6に本発明におけるワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置関係の一例を示す。
この例では、磁化器4を構成する一対のポールピース7a,7bの各々の軸方向における長さPを、一端(一方)のポールピース7aがストランド12a〜12eを覆うようにストランド12の軸方向の周期的長さTの半分とする。この周期的長さTは、図5A及び図6に示すように、例えばストランド12aの山腹部を示す破線位置から前記ストランド12aに最近接する次のストランド12aの山腹部を示す破線位置までの距離を指す。
この時、一対のポールピース7a,7bを、磁極間の軸方向距離Mが上記周期的長さTの半分になるようにする。すなわち、ポールピース7の軸方向の長さPと磁極間の軸方向距離Mとが等しくなるように配置する。これにより、他端(他方)のポールピース7bがストランド12a〜12eを覆うことになる。
図7A及び図7Bに、ワイヤロープ8内を流れる磁束の状態を示し、ワイヤロープ8内を流れる磁束の分布が一対のポールピース7a,7bで挟まれたワイヤロープ8の磁極間部分(図6において、磁極間の軸方向距離Mに相当する部分であり、図1Aの設定区間Lにも相当する部分)において均一になる原理の詳細を説明する。
図7Aに示すように、N極に磁化した一端のポールピース7a(又は一端の磁石6a)から流れ出る主磁束10は、図7Bの断面A−Aにおいて矢印で示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12b、12c、12g、12hに均等に進入することができる。また、主磁束10は、図7Bの断面B−Bに示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12c、12d、12e、12f、12gに均等に進入することができる。すなわち、主磁束10は、ワイヤロープ8を構成するストランド12a〜12hの8本全てに均等に進入することができる。
同様に、図7Bに示すように、一端のポールピース7a(又は一端の磁石6a)から流れ出た主磁束10が、一対のポールピース7a−7b間(図6の距離Mに相当する部位)のストランド12a〜12hを通って、S極に磁化した他端のポールピース7b(又は他端の磁石6b)に進入して行く。
この時、図7Bの断面C−Cに示すように、ストランド12a、12b、12c、12g、12hから他端のポールピース7bに均等に進入することができ、また、図7Bの断面D−Dに示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12c、12d、12e、12f、12gに均等に進入することができる。すなわち、主磁束10は、ワイヤロープ8を構成するストランド12a〜12hの8本全てに均等に進入することができる。
このように、ポールピース7a,7bのU字内面とワイヤロープ8の表面が、ワイヤロープ探傷装置側の半円部分において近接することにより、ポールピース7a,7bのU字内面よりワイヤロープ8を構成するストランド12の表面に向かって主磁束10が均等に進入し、そして、ワイヤロープ8を構成するストランド12の表面からポールピース7bのU字内面に向かって主磁束10が均等に進入することができるという原理を用いた。
従って、一対のポールピース7a−7b間(図6の距離Mに相当する部位)において、ストランド12a〜12hに流れる主磁束10がストランド12a〜12hのいずれでも均一となる。これによって、磁極間の軸方向距離Mにおいて、ワイヤロープ8の磁束の分布が均一な状態となる。
上記の理由により、ワイヤロープ8を構成するストランド12の前記周期的長さTを基準として、ポールピース7の軸方向長さPと磁極間の軸方向距離Mが等しくなるようにワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置が決定され、ワイヤロープ8の前記設定区間L(磁極間の軸方向距離Mに相当する部分)を均一に磁化することができる。
また、磁極間の軸方向距離Mは、ポールピース7の軸方向長さPの奇数倍としてもよい。言い換えると、nを自然数として、M=(2n−1)Pとしても良い。すなわち、図7Aにおいて、S極に磁化した他端のポールピース7bの軸方向位置は、nが変化しても、ストランド12a〜12eの位置となる。従って、S極に磁化した他端のポールピース7bの断面は、断面C−Cおよび断面D−Dとなる。これにより、上述のとおり、一対のポールピース7a−7b間において、ストランド12に流れる主磁束10は、ストランド12a〜12hのいずれでも均一となる。
次に、ワイヤロープ8に基づいて、図8に本発明におけるワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置関係の内、ポールピース7のワイヤロープ8の軸方向の長さが短くなった例を挙げ、磁気センサ2が配置されるワイヤロープ8の部位(磁極間の軸方向距離Mに相当する部分)が均一に磁化されることを説明する。
図5A及び図8に示すように、磁化器4の一対のポールピース7a,7bの軸方向の長さPを、一端のポールピース7aがストランド12c、12d、12eを覆うように、ワイヤロープ8の円周方向に1/4周だけ巻き付けられたストランド12のワイヤロープ8の軸方向に沿った長さとする。この時、一対のポールピース7a,7bを、ポールピース7aの軸方向の長さPと磁極間の軸方向距離Mが等しくなるように配置することにより、他端のポールピース7bがストランド12g、12h、12aを覆うように配置する。
図9A及び図9Bにワイヤロープ8内を流れる磁束の状態を示し、ワイヤロープ8内を流れる磁束の分布が磁化器4の一対のポールピース7a,7bで挟まれたワイヤロープ8の磁極間部分(図8において、磁極間の軸方向距離Mに相当する部分。図1Aの設定区間Lにも相当する部分)において均一になる原理の詳細を説明する。
図9Aに示すように、N極に磁化した一端のポールピース7a(又は一端の磁石6a)から流れ出る主磁束10は、図9Bの断面A−Aに矢印で示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12b、12c、12g、12hに均等に進入することができる。また、主磁束10は、図9Bの断面B−Bに矢印で示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12e、12f、12g、12hに均等に進入することができる。すなわち、主磁束10は、ワイヤロープ8を構成する“ストランド12d”を除くストランド12a〜12c、12e〜12hの7本全てに均等に進入することができる。
ここで、ストランド12dの表面がポールピース7のU字内面から距離があり磁気抵抗が大きくなるため、ストランド12dに進入する主磁束10は、例えばストランド12aなどに進入する主磁束10よりも小さくなる。但し、図9A及び図9Bの断面A−A及び断面B−Bにおいて、主磁束10がポールピース7のU字内面よりストランド12dにそれぞれ約半分の磁束レベルで進入する。
これにより、図9Aの断面A−A及び断面B−Bの両方を合わせてストランド1本分の磁束レベルが確保できる。従って、実用上、ストランド12dに進入する主磁束10はその他のストランド12a〜12c、12e〜12hに進入する主磁束10の大きさと大差無い状態となる。
同様に、図9A及び図9Bに示すように、一端のポールピース7a(又は一端の磁石6a)から流れ出る主磁束10が、一対のポールピース7a−7b間(図8の距離Mに相当する部位)のストランド12a〜12hを通って、S極に磁化した他端のポールピース7b(又は他端の磁石6b)に進入して行く。この時、図9Bの断面C−Cに矢印で示すように、主磁束10は、ストランド12c、12d、12e、12f、12gから他端のポールピース7bに均等に進入することができる。
また、主磁束10は、図9Bの断面D−Dに示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12b、12c、12d、12eから他端のポールピース7bに均等に進入することができる。すなわち、主磁束10は、ワイヤロープ8を構成する“ストランド12h”を除くストランド12a〜12gの7本全てから他端のポールピース7bに均等に進入することができる。
ここで、ストランド12hの表面がポールピース7のU字内面から距離があり磁気抵抗が大きくなるため、ストランド12hからポールピース7のU字内面に進入する主磁束10は、例えばストランド12aからポールピース7のU字内面に進入する主磁束10よりも小さくなる。但し、図9A及び図9Bの断面C−C及び断面D−Dにおいて、主磁束10がストランド12hからポールピース7bのU字内面に約半分の磁束レベルが進入する。これにより、実用上、ストランド12hからポールピース7bのU字内面に進入する主磁束10はその他のストランド12a〜12gからポールピース7のU字内面に進入する主磁束10の大きさと大差無い状態となる。これは、上述した、図9A及び図9Bの断面A−A及び断面B−Bの場合と同様に、断面C−C及び断面D−Dで、約ストランド1本分の磁束レベルが確保できるからである。
従って、一対のポールピース7a−7b間(図6の距離Mに相当する部位)において、ストランド12に流れる主磁束10がストランド12a〜12hのいずれであっても実質的に均一となる。これによって、磁極間の軸方向距離Mにおいて、ワイヤロープ8の磁束の分布が均一な状態となる。
上記の理由により、ワイヤロープ8を構成するストランド12の前記周期的長さTを基準として、ポールピース7の軸方向長さPと磁極間の軸方向距離Mが等しくなるようにワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置が決定され、ワイヤロープ8の前記設定区間L(磁極間の軸方向距離Mに相当する部分)を均一に磁化することができる。
また、磁極間の軸方向距離Mは、ポールピース7の軸方向長さPの奇数倍、すなわち、nを自然数として、M=(2n−1)Pとしても良い。従って、図9Aに示すように、S極に磁化した他端のポールピース7bの軸方向位置は、n=1の場合には、ストランド12g〜12aの位置、n=2の場合には、n=1の場合より軸方向左側のストランド12c〜12eの位置、n=3の場合には、n=2の場合よりさらに軸方向左側のストランド12g〜12aの位置となる。
従って、S極に磁化した他端のポールピース7bの断面は、図9Bにおいて、n=2の場合には、磁極がS極で主磁束の向きが反対の断面A−A及び断面B−B、n=3の場合には、断面C−C及び断面D−Dと同じになる。したがって、上述のとおり、一対のポールピース7a−7b間において、ストランド12に流れる主磁束10がストランド12a〜12hのいずれであっても均一となる。
次に、本発明におけるワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置関係の内、ワイヤロープ8の軸方向の長さが最短の例を挙げ、図10A及び図10Bを用いて、前記設定区間Lのストランド12に流れる主磁束10が不均一の状態になることを説明する。
図10A及び図10Bに示すように、磁化器4の一対のポールピース7a,7bの軸方向長さPを、ポールピース7aがストランド12d、12eを覆うように、すなわち図5A及び図10A及び図10Bに示すように、ワイヤロープ8の円周方向に1/8周だけ巻き付けられたストランド12のワイヤロープ8の軸方向に沿った長さとする。
この時、一対のポールピース7a,7bを、磁極間の軸方向距離Mが上記周期的長さTの1/8になるように、すなわちポールピース7aの軸方向の長さPと磁極間の軸方向距離Mが等しくなるように配置することにより、他端のポールピース7bがストランド12b、12cを覆うように配置する。
図10A及び図10Bに示すように、N極に磁化した一端のポールピース7a(又は一端の磁石6a)から流れ出る主磁束10は、図10Bの断面A−Aに矢印で示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12b、12c、12g、12hに均等に進入することができる。また、主磁束10は、図7Bの断面B−Bに示すようにワイヤロープ8を構成するストランド12a、12b、12f、12g、12hに均等に進入することができる。すなわち、主磁束10は、ワイヤロープ8を構成する“ストランド12d、12e”を除くストランド12a〜12c、12f〜12hの6本全てに均等に進入することができる。
しかしながら、図10Bの断面A−Aにおいて、ストランド12eの表面がストランド12dの表面よりもポールピース7aのU字内面から距離があり磁気抵抗がより大きくなるため、図10Bの断面B−Bでのストランド12eへの主磁束10の補填が期待されるものの、断面A−A及び断面B−Bの両方を合わせても約半分の磁束レベルしか確保できない。従って、主磁束10がストランド12eにストランド1本分に相当する磁束レベルが進入できないため、ストランド12eに進入する主磁束10が小さくなってしまう。
また、図10Bの断面B−Bにおいて、ストランド12dの表面がストランド12eの表面よりもポールピース7のU字内面から距離があり磁気抵抗がより大きくなるため、断面A−Aでのストランド12dへの主磁束10の補填が期待されるものの、断面A−A及び断面B−Bにおいて主磁束10がストランド12dにストランド1本分に相当する磁束レベルが進入できないため、ストランド12dに進入する主磁束10が小さくなってしまう。
同様に、図10Bの断面C−Cにおいて、ストランド12cからポールピース7bのU字内面に進入する主磁束10が、ストランド12bよりポールピース7bのU字内面に進入する主磁束10よりもさらに小さくなり、また、図10Bの断面D−Dにおいてストランド12bからポールピース7のU字内面に進入する主磁束10がストランド12cよりポールピース7bのU字内面に進入する主磁束10よりもさらに小さくなる。すなわち、図10Bの断面C−C及び断面D−Dに示すように、主磁束10は、ストランド12b、12cからポールピース7bのU字内面に相補的に進入することができない。
従って、ポールピース7の軸方向長さPを、ワイヤロープ8の円周方向に1/8周だけ巻き付けられたストランド12のワイヤロープ8の軸方向に沿った長さとした場合、ワイヤロープ8の設定区間Lに相当する部位を流れる磁束は、ストランド12a〜12hの配置により大小が生じ、不均一な状態となる。
上記の理由により、本発明におけるワイヤロープ探傷装置を構成する部品の配置関係の内、磁化器4の一対のポールピース7a,7bの軸方向長さPを、ワイヤロープ8の円周方向に1/4周分巻き付けられたストランド12のワイヤロープ8の軸方向に沿う長さにすることで(図6及び図7A及び図7Bの場合)、ワイヤロープ8の設定区間Lに流れる磁束を均一化させることが可能となり、ワイヤロープ8内に発生するワイヤロープ損傷部9の検出感度を損ねることなく、ワイヤロープ8の軸方向の長さが最も小さい配置関係とすることができる。
このように、本発明におけるワイヤロープ探傷装置において、ポールピース7のワイヤロープ8に対する軸方向長さPがワイヤロープ8の円周方向に1/4周分以上巻き付けられたストランド12におけるワイヤロープ8に沿った方向の長さであり、磁極間の軸方向距離Mをポールピース7の軸方向長さPの奇数倍、すなわち、M=(2n−1)Pとすればよい。
或いは、同程度の大きさ、すなわち、nを自然数として、M=(2n−1)P±(隣り合うストランド同士におけるストランド中心間のワイヤロープに沿う長さ)/2としてもよい。この「隣り合うストランド同士におけるストランド中心間のワイヤロープに沿う長さ」とは、例えば、図7Aにおけるd−e間距離、すなわち、図7Bにおけるストランド12dの中心−ストランド12eの中心間距離を示す。
このように、ポールピース7と磁石6を配置することで、ワイヤロープ8の前記設定区間Lを均一に磁化させることができる。
これにより、ワイヤロープ8の前記設定区間Lにおいて、ワイヤロープ損傷部9のワイヤロープ8内における位置に依らず、ワイヤロープ損傷部9を同程度の検出感度で検知することができる。
このように、実施の形態1のワイヤロープ探傷装置によれば、ポールピース7、磁石6、及びバックヨーク5で構成される磁化器4をワイヤロープ8に対して近接して配設させ、ポールピース7のワイヤロープ8に対する軸方向長さが、ワイヤロープ8の円周方向に1/4周分以上巻き付けられたストランド12におけるワイヤロープ8に沿った方向の長さであり、磁極間の軸方向距離Mをポールピース7の軸方向長さPの奇数倍とすればよい。
或いは、MはPの奇数倍と同程度の大きさ、すなわち、nを自然数として、M=(2n−1)P±(隣り合うストランド同士におけるストランド中心間のワイヤロープに沿う長さ)/2としてもよい。
このようにポールピース7と磁石6を配置することで、ワイヤロープ8の前記設定区間Lを均一に磁化し、ワイヤロープ損傷部9の検出範囲の拡大を図ることができる。
ここで、本実施の形態において、ワイヤロープ8の軸方向に関するポールピース7の長さが、ワイヤロープ8の円周方向にストランド12が1/4周分巻き付けられたときのワイヤロープ8の軸方向に関する長さとなる時、ポールピース7や磁石の材料の使用量が最小となり、製作コストの観点から最適となる。
また、ワイヤロープ8の軸方向に関するポールピース7の長さが、ワイヤロープ8の円周方向にストランド12が1/2周分巻き付けられたときのワイヤロープ8の軸方向に関する長さとなる時、ワイヤロープ8を構成するすべてのストランド12が2つのポールピースのそれぞれに同様に接することができるため、N極からロープに進入した磁束が、ストランド間を渡ることなくS極へと出ていくことができるので、磁気抵抗が小さくなり、ロープに効率よく磁束を通すという観点から最適となる。
一方、ワイヤロープ8の軸方向に関するポールピース7の長さが、ワイヤロープ8の円周方向にストランド12が1/2周分巻き付けられたときのワイヤロープ8の軸方向に関する長さより大きくなる時、ワイヤロープ8を構成するストランド12の周期性により、装置の構成上、冗長となる。
以上より、ポールピース7のワイヤロープ8の軸方向の長さは、ワイヤロープ8の円周方向に1/4周分以上あればよいが、好ましくは1/2周分以下巻き付けられたストランド12におけるワイヤロープ8に沿った方向の長さに設定することが、実際のワイヤロープ探傷装置の構成において最適である。
実施の形態2.
図11に示す本発明の実施の形態2では、上記の実施の形態1によるワイヤロープ探傷装置の各構成要素をそれぞれ2組備え、ワイヤロープ8に関して180°対向させた向きに、すなわち順次互いに逆向きになるように配設したものである。
このように、2組の磁化器4がワイヤロープ8に関し180°対向する向きに配設されることにより、ワイヤロープ8中の磁束分布の均一性が増す。
また、2組のセンサユニット1がワイヤロープ8に関し180°対向する向きに配設されることにより、それぞれのセンサユニット1が持つ低感度領域、すなわちU字断面の開口部付近をワイヤロープ損傷部が通過したときの検出感度を互いに補い合うことができる。
さらに、磁化器4がワイヤロープ8一本当たりQ個配設されたとき、磁化器4がワイヤロープ8の円周方向に関し、360/Q度の間隔で順次対向するように配設されるようにする。
このようにすると、ワイヤロープ8中の磁化の強さを均一に増大させることができ、ワイヤロープ8の円周方向に関し、いずれの部分にワイヤロープ損傷部9が発生しても均一な漏洩磁束11を得ることができる。
さらに、上記はワイヤロープ8の検査回数を低減させることにもつながり、検査員の負荷を小さくするだけでなく、検査コストを抑制することになる。

Claims (4)

  1. ストランドを有するワイヤロープの軸方向上の設定区間を含むように主磁束路を形成する磁化器と、前記設定区間内に配置され、前記磁化器により前記ワイヤロープが磁化されるとき、前記ワイヤロープの損傷部から発生する漏洩磁束を検出する磁気センサとを備えたワイヤロープ探傷装置であって、
    前記磁化器が、前記設定区間を挟んで前記ワイヤロープと接触せずに前記ワイヤロープを円周方向に略1/2周分囲うように断面がU字形状をそれぞれが有する第1及び第2のポールピースを含み、
    前記第1及び第2のポールピースそれぞれの前記ワイヤロープの軸方向の長さが互いに同じであり、且つ前記ワイヤロープの円周方向において前記ストランドが1/4周分または1/2周分で巻き付けられた前記ワイヤロープの軸方向の長さを有しており、
    前記第1及び第2のポールピース間の距離は、前記第1及び第2のポールピースそれぞれの前記ワイヤロープの軸方向の長さの奇数倍である
    ワイヤロープ探傷装置。
  2. ストランドを有するワイヤロープの軸方向上の設定区間を含むように主磁束路を形成する磁化器と、前記設定区間内に配置され、前記磁化器により前記ワイヤロープが磁化されるとき、前記ワイヤロープの損傷部から発生する漏洩磁束を検出する磁気センサとを備えたワイヤロープ探傷装置であって、
    前記磁化器が、前記設定区間を挟んで前記ワイヤロープと接触せずに前記ワイヤロープを円周方向に略1/2周分囲うように断面がU字形状をそれぞれが有する第1及び第2のポールピースを含み、
    前記第1及び第2のポールピースそれぞれの前記ワイヤロープの軸方向の長さが互いに同じであり、且つ前記ワイヤロープの円周方向において前記ストランドが1/4周分または1/2周分で巻き付けられた前記ワイヤロープの軸方向の長さを有しており、
    前記第1及び第2のポールピース間の距離をM、前記第1及び第2のポールピースそれぞれにおける前記ワイヤロープの軸方向の長さをPとしたときに、nを自然数として、M=(2n−1)P±(隣り合うストランド同士におけるストランド中心間のワイヤロープに沿う長さ)/2である
    ワイヤロープ探傷装置。
  3. 前記磁化器が、前記ワイヤロープの円周方向に関し、360/Q(ただし、Q≧2)度の間隔で順次対向するように前記ワイヤロープ1本当たりQ個配設される
    請求項1記載のワイヤロープ探傷装置。
  4. 前記磁化器が、前記第1及び第2のポールピースに加えて、
    磁性体で構成されたバックヨークと、
    一方の極性を有する一端部が前記バックヨークの一端部に接するとともに前記第1のポールピースに接する第1の磁石と、
    他方の極性を有する一端部が前記バックヨークの他端部に接するとともに前記第2のポールピースに接する第2の磁石とを備え、
    前記磁気センサが、前記ワイヤロープを通過させるために、前記第1及び第2のポールピースのU字形状に合わせて、断面がU字形状を有する
    請求項1又は3項に記載のワイヤロープ探傷装置。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11112382B2 (en) * 2018-03-21 2021-09-07 Infrastructure Preservation Corporation Robotic magnetic flux inspection system for bridge wire rope suspender cables
KR102048317B1 (ko) * 2018-04-17 2019-11-25 코렐테크놀로지(주) 배관 탐상용 자화시스템
CN108750948B (zh) * 2018-08-30 2023-12-26 洛阳泰斯特探伤技术有限公司 一种岸桥在线检测装置
US20220260529A1 (en) * 2019-03-21 2022-08-18 Infrastructure Preservation Corporation Robotic magnetic flux inspection system for broadcast tower support cables
CN111830228B (zh) * 2020-06-01 2022-07-08 大器物联科技(广州)有限公司 一种钢丝绳损伤位置的动态定位方法及设备
KR102403602B1 (ko) * 2020-08-19 2022-05-31 (주)엔키아 배터리팩을 이용하여 체결 가능한 와이어로프 진단 장치
US20230273155A1 (en) * 2020-09-10 2023-08-31 Shimadzu Corporation Wire rope inspection device and wire rope inspection system
CN113562596B (zh) * 2021-07-22 2022-03-29 江苏亚力吊装设备有限公司 一种起重机用回转式吊具
CN115184296A (zh) * 2022-09-14 2022-10-14 武汉驷界互联网服务有限责任公司 一种通用智能红外探伤仪

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3538863A (en) 1969-12-24 1970-11-10 Howard Displays Inc Rotatable display,storage and merchandise distribution cabinet
JPS5182713A (ja) 1975-01-16 1976-07-20 Kawaken Fine Chemicals Co Kurorohidorokishiaruminiumuarantoineetono seizohoho
JPS56148052A (en) * 1980-04-21 1981-11-17 Hitachi Elevator Eng & Serv Co Ltd Electromagnetic flaw detector for continuous magnetic material
JPH0518939A (ja) 1991-07-08 1993-01-26 Hitachi Building Syst Eng & Service Co Ltd ワイヤーロープの磁気探傷装置
JPH11230945A (ja) * 1998-02-09 1999-08-27 Hitachi Building Systems Co Ltd ワイヤーロープの磁気探傷装置
JP2005154042A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Toshiba Elevator Co Ltd エレベータ用ワイヤロープ探傷装置
JP2005195472A (ja) * 2004-01-07 2005-07-21 Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd ロープテスタ
JP4968859B2 (ja) * 2007-01-31 2012-07-04 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
JP5026440B2 (ja) 2007-01-31 2012-09-12 三菱電機株式会社 ワイヤロープ探傷装置
JP5031528B2 (ja) * 2007-11-19 2012-09-19 株式会社日立製作所 ワイヤーロープの探傷装置
JP5035729B2 (ja) * 2008-04-28 2012-09-26 国立大学法人京都大学 張力測定装置
KR101419629B1 (ko) * 2010-05-25 2014-07-15 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치
JP5420497B2 (ja) 2010-07-30 2014-02-19 東芝エレベータ株式会社 ロープテスター装置
KR101547049B1 (ko) * 2011-06-07 2015-08-24 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치
JPWO2014016978A1 (ja) * 2012-07-27 2016-07-07 東京製綱株式会社 損傷検出装置
CA2885498C (en) * 2012-10-04 2017-03-28 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Minister Of Natural Resources Canada Measurement of lay length of wire rope

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