JP6551620B1 - 磁壁移動型磁気記録素子及び磁気記録アレイ - Google Patents

磁壁移動型磁気記録素子及び磁気記録アレイ Download PDF

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Abstract

この磁壁移動型磁気記録素子は、強磁性体を含む第1強磁性層と、前記第1強磁性層の積層方向と交差する第1の方向に延在し、磁壁を含む磁気記録層と、前記第1強磁性層と前記磁気記録層との間に挟まれた非磁性層と、を備え、前記磁気記録層は、磁壁をトラップする凹部又は凸部を側面に有し、前記積層方向から平面視した際の前記第1の方向と直交する第2の方向において、前記第1強磁性層の幅が前記磁気記録層の最短幅より狭い。

Description

本発明は、磁壁移動型磁気記録素子及び磁気記録アレイに関する。
微細化に限界が見えてきたフラッシュメモリ等に代わる次世代の不揮発性メモリとして、抵抗変化型素子を利用してデータを記憶する抵抗変化型の磁気記録装置に注目が集まっている。磁気記録装置の一例としては、MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)、ReRAM(Resistance Randome Access Memory)、PCRAM(Phase Change Random Access Memory)等がある。
メモリの高密度化(大容量化)の方法としては、メモリを構成する素子自体を小さくする方法のほかに、メモリを構成する素子一つあたりの記録ビットを多値化する方法がある。
特許文献1には、磁気記録層内における磁壁を移動させることで、多値のデータを記録することができる磁壁移動型磁気記録素子が記載されている。
国際公開第2009/101827号
特許文献1に記載の磁壁移動型磁気記録素子は、磁壁のトラップサイトとして磁性体の側面に凹凸を設けることで磁壁の位置を制御している。しかしながら、磁性体の側面に凹凸等の不均一な形状を設けると、磁壁移動型磁気記録素子から読み出されるデータ(磁壁移動型磁気記録素子の抵抗値)にノイズが生じる場合があった。
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、データの安定化を図ることができる磁壁移動型磁気記録素子及び磁気記録アレイを提供することを目的とする。
(1)第1の態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子は、強磁性体を含む第1強磁性層と、前記第1強磁性層の積層方向と交差する第1の方向に延在し、磁壁を含む磁気記録層と、前記第1強磁性層と前記磁気記録層との間に挟まれた非磁性層と、を備え、前記磁気記録層は、磁壁をトラップする凹部又は凸部を側面に有し、前記積層方向から平面視した際の前記第1の方向と直交する第2の方向において、前記第1強磁性層の幅が前記磁気記録層の最短幅より狭い。
(2)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記第1強磁性層を前記積層方向から平面視した平面視形状が長方形であってもよい。
(3)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記第1強磁性層が凹部又は凸部を側面に有してもよい。
(4)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記第1の方向における前記磁気記録層における凹部又は凸部の位置と、前記第1の方向における前記第1強磁性層における凹部又は凸部の位置と、が一致してもよい。
(5)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記積層方向からの平面視において、前記磁気記録層の前記第1の方向に沿う第1辺と、前記第1辺と最近接する前記第1強磁性層の前記第1の方向に沿う第2辺と、が平行であってもよい。
(6)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記積層方向からの平面視で前記磁気記録層の前記第1強磁性層と重畳しない第1部分が、前記第2の方向における幅が最短となる位置における前記磁気記録層の前記積層方向の厚みより厚みの薄い薄肉部を有し、前記薄肉部が、前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最長となる位置にある構成でもよい。
(7)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記積層方向からの平面視で前記磁気記録層の前記第1強磁性層と重畳しない第1部分において、前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最短となる位置における前記積層方向の厚みd1が、前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最長となる位置における前記積層方向の厚みd2より厚くてもよい。
(8)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記第1強磁性層及び前記磁気記録層の磁化容易軸が前記積層方向であってもよい。
(9)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記第1強磁性層及び前記磁気記録層の磁化容易軸が前記積層方向と直交する面内方向であってもよい。
(10)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記磁気記録層の側面における凹部又は凸部の数が10個以上であってもよい。
(11)上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子において、前記磁気記録層と前記非磁性層との間に、前記磁気記録層の磁化状態を反映する第2強磁性層を備えてもよい。
(12)第2の態様にかかる磁気記録アレイは、上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子を複数備える。
上記態様にかかる磁壁移動型磁気記録素子によれば、使用できる磁気抵抗の範囲を最大にすることができ、一つ一つのアナログ値を大きくすることができる。これにより、読み出されるデータを安定化できる。
第1実施形態に係る磁壁移動型磁気記録素子を模式的に示した斜視図である。 第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子を模式的に示した平面図である。 第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子を模式的に示した平面図である 磁壁の位置に対する磁壁移動型磁気記録素子の抵抗値変化を模式的に示した図である。 磁壁の位置に対する図2に示す磁壁移動型磁気記録素子の抵抗値変化を模式的に示した図である。 第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子を模式的に示した平面図である。 第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102をy方向に沿って切断した断面図である。 第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子の別の例をy方向に沿って切断した断面図である。 第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子の別の例をy方向に沿って切断した断面図である。 第4実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子の斜視模式図である。 第1強磁性層及び磁気記録層の磁化容易軸がz方向と直交する面内方向である磁壁移動型磁気記録素子を模式的に示した斜視図である。 第5実施形態にかかる磁気記録アレイの平面図である。
以下、本実施形態について、図を適宜参照しながら詳細に説明する。以下の説明で用いる図面は、本発明の特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などは実際とは異なっていることがある。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではなく、本発明の効果を奏する範囲で適宜変更して実施することが可能である。
(磁壁移動型磁気記録素子)
「第1実施形態」
図1は、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100を模式的に示した斜視図である。図2は、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100を模式的に示した平面図である。磁壁移動型磁気記録素子100は、第1強磁性層10と磁気記録層20と非磁性層30とを備える。図1に示す磁壁移動型磁気記録素子100は、平面視で第1強磁性層10を挟む位置に、第1電極41と第2電極42とを備える。
以下、磁気記録層20が延在する第1の方向をx方向、磁気記録層20が延在する面内でx方向と直交する第2の方向をy方向、x方向及びy方向と直交する方向をz方向とする。図1に示す磁壁移動型磁気記録素子100の積層方向は、z方向と一致している。

<第1強磁性層> 図1に示す第1強磁性層10は、z方向から平面視した平面視形状が長方形であり、厚み方向の幅及び長さが一定の直方体である。

第1強磁性層10は、強磁性体を含む。第1強磁性層10を構成する強磁性材料としては、例えば、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、これらの金属を1種以上含む合金、これらの金属とB、C、及びNの少なくとも1種以上の元素とが含まれる合金等を用いることができる。具体的には、Co−Fe、Co−Fe−B、Ni−Feが挙げられる。
また第1強磁性層10を構成する材料は、ホイスラー合金でもよい。ホイスラー合金はハーフメタルであり、高いスピン分極率を有する。ホイスラー合金は、XYZの化学組成をもつ金属間化合物であり、Xは周期表上でCo、Fe、Ni、あるいはCu族の遷移金属元素または貴金属元素であり、YはMn、V、CrあるいはTi族の遷移金属又はXの元素種であり、ZはIII族からV族の典型元素である。ホイスラー合金として例えば、CoFeSi、CoFeGe、CoFeGa、CoMnSi、CoMn1−aFeAlSi1−b、CoFeGe1−cGa等が挙げられる。

第1強磁性層10の膜厚は、第1強磁性層10の磁化容易軸をz方向とする(垂直磁化膜にする)場合は、1.5nm以下とすることが好ましく、1.0nm以下とすることがより好ましい。第1強磁性層10の膜厚を薄くすると、第1強磁性層10と他の層(非磁性層30)との界面で、第1強磁性層10に垂直磁気異方性(界面垂直磁気異方性)を付加できる。すなわち、第1強磁性層10の磁化の向きをz方向にできる。
<磁気記録層>
磁気記録層20は、x方向に延在している。磁気記録層20は、内部に磁壁21を有する。磁壁21は、互いに反対方向の磁化を有する第1の磁区22と第2の磁区23との境界である。図1に示す磁壁移動型磁気記録素子100は、第1の磁区22が−z方向に配向した磁化を有し、第2の磁区23が+z方向に配向した磁化を有する。
磁壁移動型磁気記録素子100は、磁気記録層20の磁壁21の位置によって、データを多値で記録する。磁気記録層20に記録されたデータは、第1強磁性層10及び磁気記録層20の積層方向の抵抗値変化として読み出される。磁壁21が移動すると、磁気記録層20における第1の磁区22と第2の磁区23との比率が変化する。第1強磁性層10の磁化は、第1の磁区22の磁化と反対方向(反平行)であり、第2の磁区23の磁化と同方向(平行)である。磁壁21がx方向に移動し、z方向から見て第1強磁性層10と重畳する部分における第1の磁区22の面積が広くなると、磁壁移動型磁気記録素子100の抵抗値は高くなる。反対に、磁壁21が−x方向に移動し、z方向から見て第1強磁性層10と重畳する部分における第2の磁区23の面積が広くなると、磁壁移動型磁気記録素子100の抵抗値は低くなる。
磁壁21は、磁気記録層20の延在方向に電流を流す、又は、外部磁場を印加することによって移動する。例えば、第1電極41から第2電極42に電流パルスを印加すると、第1の磁区22は第2の磁区23の方向へ広がり、磁壁21が第2の磁区23の方向へ移動する。つまり、第1電極41及び第2電極42に流す電流の方向、強度を設定することで、磁壁21の位置が制御され、磁壁移動型磁気記録素子100にデータが書き込まれる。
磁気記録層20は、側面に凹部又は凸部を有する。磁気記録層の側面における凹部又は凸部の数は10個以上であることが好ましい。凹部又は凸部の数が10個以上であれば、1つの磁壁移動型磁気記録素子100で多数の情報(10進法以上)を記録できる。
図2に示す磁壁移動型磁気記録素子100の磁気記録層20は、基準面Bに対して凹む複数の凹部20Aを有する。図2では、基準面Bを磁気記録層20の±y方向の端部を通り、x方向に平行な面とした。基準面Bの取り方によっては、磁気記録層20は基準面Bに対して突出する複数の凸部を有するとも言える。磁気記録層20が側面に凹部を有する場合と凸部を有する場合とで磁壁をトラップする原理は変わらないため、以下、磁気記録層20が凹部20Aを有する場合を例に説明する。
図2において、複数の凹部20Aは、磁壁21をトラップする。磁壁21は、磁気記録層20内で磁壁21が感じるポテンシャル分布が低い場所で安定的に留まる。凹部20Aは、磁気記録層20内の磁気的なポテンシャル分布の違いを生み出す。
磁壁移動型磁気記録素子100からデータを読み出す際は、第1強磁性層10から第1電極41又は第2電極42のいずれかに向けて読み出し電流を流す。この読出し電流は、磁気記録層20内において磁壁21と垂直な方向に流れ、磁壁21を移動してしまう場合がある。読出し電流により磁壁21の位置が変化すると、データを正確に抽出できない。磁壁21を凹部20Aでトラップすると、読出し電流により磁壁21の位置が変化する(データが書き換わる)ことを抑制できる。
第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100における磁気記録層20の最短幅w20は、第1強磁性層10の幅w10より広い。すなわち、第1強磁性層10の幅w10は、磁気記録層20の最短幅w20より狭い。ここで、幅w10及び最短幅w20は、z方向に投影した投影図における幅及び最短幅を意味する。例えば、yz平面で切断した際の断面が下底の長さが上底の長さより長い台形の場合、台形の下面における幅を意味する。
磁気記録層20の最短幅w20が第1強磁性層10の幅w10より広いと、凹部20Aと第1強磁性層10とがz方向から平面視で重畳しない。磁壁移動型磁気記録素子100のMR比は、非磁性層30を挟む2つの磁性体(第1強磁性層10と磁気記録層20)の磁化状態の変化により生じる。つまり、磁気記録層20のz方向からの平面視で第1強磁性層10と重畳する部分の磁化状態が安定であると、大きなMR比を得ることができる。
磁気記録層20の凹部20A近傍の磁化は界面(側面)の効果を受け、磁化状態が乱れる。凹部20Aと第1強磁性層10とがz方向からの平面視で重畳すると、凹部20Aにより乱れた磁化状態がノイズとなり、磁壁移動型磁気記録素子100のMR比を低下させる。これに対し、凹部20Aと第1強磁性層10とがz方向から平面視で重畳しないと、磁化状態の乱れた凹部20Aは、磁壁移動型磁気記録素子100のMR比に影響を及ぼさない。
磁気記録層20は、磁性体により構成される。磁気記録層20を構成する磁性体は、第1強磁性層10と同様のものを用いることができる。また磁気記録層20は、Co、Ni、Pt、Pd、Gd、Tb、Mn、Ge、Gaからなる群から選択される少なくとも一つの元素を有することが好ましい。例えば、CoとNiの積層膜、CoとPtの積層膜、CoとPdの積層膜、MnGa系材料、GdCo系材料、TbCo系材料が挙げられる。MnGa系材料、GdCo系材料、TbCo系材料等のフェリ磁性体は飽和磁化が小さく、磁壁を移動するために必要な閾値電流を下げることができる。またCoとNiの積層膜、CoとPtの積層膜、CoとPdの積層膜は、保磁力が大きく、磁壁の移動速度を抑えることができる。
<非磁性層>

非磁性層30には、公知の材料を用いることができる。例えば、非磁性層30が絶縁体からなる場合(トンネルバリア層である場合)、その材料としては、Al、SiO、MgO、及び、MgAl等を用いることができる。また、これらの他にも、Al、Si、Mgの一部が、Zn、Be等に置換された材料等も用いることができる。これらの中でも、MgOやMgAlはコヒーレントトンネルが実現できる材料であるため、スピンを効率よく注入できる。非磁性層30が金属からなる場合、その材料としては、Cu、Au、Ag等を用いることができる。さらに、非磁性層30が半導体からなる場合、その材料としては、Si、Ge、CuInSe、CuGaSe、Cu(In,Ga)Se等を用いることができる。
上述のように、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100は、y方向において、第1強磁性層10の幅w10が磁気記録層20の最短幅w20より狭い。そのため、磁化状態の乱れる凹部20A近傍の磁化が、磁壁移動型磁気記録素子100の抵抗値変化(MR比)に与える影響を抑制できる。つまり、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100は、ノイズの発生を抑制することができる。
「第2実施形態」
図3に示す第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子101は、第1強磁性層11がy方向の側面に複数の凹部11Aを有する。基準面をどの位置にするかによっては、第1強磁性層11が複数の凸部を有するとみなしてもよい。第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子101は、複数の凹部11Aを有する点が第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と異なり、同様の構成については同様の符号を付し、説明を省く。
図3に示す第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子101においても、z方向から平面視した際のy方向において、第1強磁性層11の幅w11は、いずれの位置においても磁気記録層20の最短幅w20より狭い。すなわち、第1強磁性層11の最大幅は、磁気記録層20の最短幅w20より狭い。
図4は、磁壁21の位置に対する磁壁移動型磁気記録素子101の抵抗値変化を模式的に示した図である。図4に示すグラフの縦軸は第1強磁性層11と磁気記録層20との間の積層方向の抵抗値を示し、グラフの横軸は第1電極41から第2電極42に向けてパルス電流を印加した回数である。第1電極41から第2電極42に向けてパルス電流を印加した回数が増える程、磁壁21は第2の磁区23側に移動する。
図4に示すように磁気記録層20が凹部20Aを有すると、磁壁移動型磁気記録素子101の抵抗値変化が階段状になる。凹部20Aが磁壁21のトラップサイトとして機能し、磁壁21の移動が段階的になるためである。
図3及び図4に示すように、第1強磁性層11の凹部11Aのx方向における位置は、磁気記録層20の凹部20Aのx方向における位置と一致していることが好ましい。凹部11Aと凹部20Aのx方向の位置が一致すると、階段状に変化する抵抗値の変化量が一定になる(図4における各段差の高さ変化が一定になる)。また計測される抵抗値は、磁壁21が凹部20Aに移動した際の抵抗値となる。そのため、図4に示すように、計測される抵抗値変化量が一定となり、多値のデータを安定的に読み出すことができる。
またz方向からの平面視において、磁気記録層20のx方向に沿う第1辺20aと、第1辺20aと最近接する第1強磁性層11のx方向に沿う第2辺11aと、が平行であることが好ましい。この関係を満たすと、計測される抵抗値変化量がより一定となり、多値のデータをより安定的に読み出すことができる。
一方で図2に示す磁壁移動型磁気記録素子100のように、平面視形状が長方形の第1強磁性層10は、より連続的(アナログ的)な応答(抵抗値変化)が求められる際に好適である。図5は、磁壁21の位置に対する図2に示す磁壁移動型磁気記録素子100の抵抗値変化を模式的に示した図である。図5に示すグラフの縦軸は第1強磁性層10と磁気記録層20との間の積層方向の抵抗値を示し、グラフの横軸は第1電極41から第2電極42に向けてパルス電流を印加した回数である。
図5に示すように、隣接する凹部20Aの間隔が狭い場合は、磁壁21がy方向に対して傾斜して形成される場合がある。この場合、磁壁21の移動は、凹部20Aがない場合よりは段階的だが、凹部20Aの間隔が充分離れている場合よりは連続的になる。第1強磁性層10の平面視形状が長方形であれば、第1強磁性層10の面積率の変化を考慮する必要が無く、安定的にデータを読み出すことができる。
上述のように、第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子101は、y方向において、第1強磁性層10の幅w10が磁気記録層20の最短幅w20より狭い。そのため、第2実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子101は、ノイズの発生を抑制することができる。また第1強磁性層11が磁気記録層20と対応する凹部11Aを有することで、段階的に変化する抵抗値を安定的に読み出すことができる。
「第3実施形態」
図6に示す第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102は、z方向から平面視した形状は、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と同一であるが、y方向に沿う所定の面で切断した磁気記録層25の断面形状が第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と異なる。第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と異なり、同様の構成については同様の符号を付し、説明を省く。
図6に示す第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102は、第1強磁性層10と磁気記録層25と非磁性層30とを備える。磁気記録層25は側面に複数の凹部25Aを有する。またz方向から平面視した際のy方向において、第1強磁性層10の幅w10は、いずれの位置においても磁気記録層25の最短幅w25より狭い。
図7は、第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102をy方向に沿って切断した断面図である。図7(a)は、A−A面に沿って切断した断面であり、図7(b)は、B−B面に沿って切断した断面である。A−A面は磁気記録層25のy方向の幅が最短幅w25となる位置のyz平面であり、B−B面は磁気記録層25のy方向の幅が最長幅となる位置のyz平面である。
図7(a)に示すA−Aに示すように、z方向からの平面視で磁気記録層25の第1強磁性層10と重畳しない第1部分25aの形状は、切断面によって異なる。A−A面の切断面における第1部分25aの幅w1(最近接の第1強磁性層10と磁気記録層25との端部間距離、図7(a)参照)は、B−B面の切断面における第1部分25aの幅w2(図7(b)参照)より短い。
これに対し、A−A面の切断面における第1部分25aの厚みd1は、B−B面の切断面における第1部分25aの厚みd2より厚い。当該構成にすると、切断面毎の第1部分25aの面積差(|w1×d1−w2×d2|)を小さくすることができ、磁気記録層25に流れる電流の電流密度を均一にすることができる。磁気記録層25に流れる電流の電流密度を均一にすると、磁壁移動型磁気記録素子102の動作が安定する。
図7では、切断面における第1部分25aの厚みを変化させることで、切断面毎の第1部分25aの面積差を抑制したが、切断面毎の第1部分25aの面積差を抑制することができれば当該構成に限られない。
図8は、第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子の別の例をy方向に沿って切断した断面図である。図8(a)は、A−A面に沿って切断した断面であり、図8(b)は、B−B面に沿って切断した断面である。A−A面は磁気記録層25のy方向の幅が最短幅w25となる位置のyz平面であり、B−B面は磁気記録層25のy方向の幅が最長幅となる位置のyz平面である。
図8に示す磁壁移動型磁気記録素子103は、磁気記録層25のy方向における幅が最長となる位置における第1部分25aに、薄肉部25bを有する。第1部分25aに薄肉部25bを有すると、切断面毎の第1部分25aの面積差を小さくすることができ、磁気記録層25に流れる電流の電流密度の不均一を抑制することができる。
また図9は、第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子の別の例をy方向に沿って切断した断面図である。図9(a)は、A−A面に沿って切断した断面であり、図9(b)は、B−B面に沿って切断した断面である。A−A面は磁気記録層25のy方向の幅が最短幅w25となる位置のyz平面であり、B−B面は磁気記録層25のy方向の幅が最長幅となる位置のyz平面である。
図9に示す磁壁移動型磁気記録素子104は、第1部分25aの上面が傾斜面となっている。A−A面で切断した断面における第1部分25aのy方向端部の高さh1は、B−B面で切断した断面における第1部分25aのy方向端部の高さh2より高い。そのため各切断面における第1部分25aの面積の面積差が小さい。当該構成でも、磁気記録層25に流れる電流の電流密度の不均一を抑制することができる。
上述のように、第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102、103、104は、y方向において、第1強磁性層10の幅w10が磁気記録層25の最短幅w25より狭い。そのため、第3実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子102、103、104においても、ノイズの発生を抑制することができる。また切断面毎の第1部分25aの面積差を小さくすることができ、磁気記録層25に流れる電流の電流密度の不均一を抑制することができる。
「第4実施形態」
図10は、第4実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子105の斜視模式図である。図10に示す磁壁移動型磁気記録素子105は、磁気記録層20と非磁性層30との間に、第2強磁性層50を備える点が、第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と異なる。第1実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子100と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省く。
第2強磁性層50は、磁性体を含む。第2強磁性層50を構成する磁性体は、第1強磁性層10と同様のものを用いることができる。
第2強磁性層50は、磁気記録層20と隣接している。第2強磁性層50の磁化は、磁気記録層20の磁化と磁気結合している。そのため、第2強磁性層50は、磁気記録層20の磁気状態を反映する。第2強磁性層50と磁気記録層20とが強磁性カップリングする場合は第2強磁性層50の磁気状態は磁気記録層20の磁気状態と同一になり、第2強磁性層50と磁気記録層20とが反強磁性カップリングする場合は第2強磁性層50の磁気状態は磁気記録層20の磁気状態と反対になる。
磁気記録層20と非磁性層30との間に第2強磁性層50を挿入すると、第2強磁性層50と磁気記録層20とが、磁壁移動型磁気記録素子105内で示す機能を分けることができる。磁壁移動型磁気記録素子105のMR比は、非磁性層30を挟む2つの磁性体(第1強磁性層10と第2強磁性層50)の磁化状態の変化により生じる。そのため、第2強磁性層50にMR比の向上する機能を主として担わせ、磁気記録層20に磁壁21を移動させる機能を主として担わせることができる。
第2強磁性層50と磁気記録層20の機能を分けると、それぞれを構成する磁性体の自由度が高まる。第2強磁性層50に第1強磁性層10とのコヒーレントトンネル効果を得られる材料を選択することができ、磁気記録層20に磁壁の移動速度が遅くなる材料を選択することができる。
上述のように、第4実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子105においても、y方向における第1強磁性層10の幅w10は、磁気記録層20の最短幅w25より狭い。そのため、第4実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子105においても、ノイズの発生を抑制することができる。また第2強磁性層50を挿入することで、これらの層に用いる材料選択の自由度を高めることができる。また材料選択の自由度が高まることで、磁壁移動型磁気記録素子105のMR比をより高めることができる。
以上、第1実施形態から第4実施形態にかかる磁壁移動型磁気記録素子について図面を参照して詳述したが、各実施形態における各構成及びそれらの組み合わせ等は一例であり、本発明の趣旨から逸脱しない範囲内で、構成の付加、省略、置換、及びその他の変更が可能である。
例えば、上述の実施形態においては、第1強磁性層及び磁気記録層の磁化容易軸がz方向である垂直磁化膜の場合を例に説明したが、図11に示す磁壁移動型磁気記録素子106のように、第1強磁性層10及び磁気記録層20の磁化容易軸がz方向と直交する面内方向である面内磁化膜でもよい。
また例えば、上述の実施形態においては、第1強磁性層、非磁性層、第2強磁性層及び磁気記録層のy方向の幅を厚み方向で一定としたが、これらの幅は一定で無くてもよい。例えば、yz平面で切断した切断面が台形形状でもよい。
「第5実施形態」
図12は、第5実施形態にかかる磁気記録アレイ200の平面図である。図12に示す磁気記録アレイ200は、磁壁移動型磁気記録素子100が3×3のマトリックス配置をしている。図12は、磁気記録アレイの一例であり、磁壁移動型磁気記録素子100の種類、数及び配置は任意である。

磁壁移動型磁気記録素子100には、それぞれ1本のワードラインWL1〜3と、1本のソースラインSL1〜3、1本のリードラインRL1〜3が接続されている。

電流を印加するワードラインWL1〜3及びソースラインSL1〜3を選択することで、任意の磁壁移動型磁気記録素子100の磁気記録層20にパルス電流を流し、書き込み動作を行う。また電流を印加するリードラインRL1〜3及びソースラインSL1〜3を選択することで、任意の磁壁移動型磁気記録素子100の積層方向に電流を流し、読み込み動作を行う。電流を印加するワードラインWL1〜3、ソースラインSL1〜3、及びリードラインRL1〜3はトランジスタ等により選択できる。それぞれが多値で情報を記録できる複数の磁壁移動型磁気記録素子100にデータを記録することで、磁気記録アレイの高容量化を実現できる。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は特定の実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲内に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10、11 第1強磁性層
20、25 磁気記録層
11A、20A、25A 凹部
25a 第1部分
25b 薄肉部
21 磁壁
22 第1の磁区
23 第2の磁区
30 非磁性層
41 第1電極
42 第2電極
50 第2強磁性層
100、101、102、103、104、105 磁壁移動型磁気記録素子
200 磁気記録アレイ

Claims (10)

  1. 強磁性体を含み、凹部又は凸部を側面に有する第1強磁性層と、
    前記第1強磁性層の積層方向と交差する第1の方向に延在し、磁壁を含む磁気記録層と、
    前記第1強磁性層と前記磁気記録層との間に挟まれた非磁性層と、を備え、
    前記磁気記録層は、磁壁をトラップする凹部又は凸部を側面に有し、
    前記積層方向から平面視した際の前記第1の方向と直交する第2の方向において、前記第1強磁性層の幅が前記磁気記録層の最短幅より狭い、磁壁移動型磁気記録素子。
  2. 前記第1の方向における前記磁気記録層における凹部又は凸部の位置と、前記第1の方向における前記第1強磁性層における凹部又は凸部の位置と、が一致する、請求項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  3. 前記積層方向からの平面視において、前記磁気記録層の前記第1の方向に沿う第1辺と、前記第1辺と最近接する前記第1強磁性層の前記第1の方向に沿う第2辺と、が平行である、請求項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  4. 前記積層方向からの平面視で前記磁気記録層の前記第1強磁性層と重畳しない第1部分が、前記第2の方向における幅が最短となる位置における前記磁気記録層の前記積層方向の厚みより厚みの薄い薄肉部を有し、
    前記薄肉部が、前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最長となる位置にある、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  5. 前記積層方向からの平面視で前記磁気記録層の前記第1強磁性層と重畳しない第1部分において、
    前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最短となる位置における前記積層方向の厚みd1が、前記磁気記録層の前記第2の方向における幅が最長となる位置における前記積層方向の厚みd2より厚い、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  6. 前記第1強磁性層及び前記磁気記録層の磁化容易軸が、前記積層方向である、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  7. 前記第1強磁性層及び前記磁気記録層の磁化容易軸が、前記積層方向と直交する面内方向である、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  8. 前記磁気記録層の側面における凹部又は凸部の数が10個以上である、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  9. 前記磁気記録層と前記非磁性層との間に、前記磁気記録層の磁化状態を反映する第2強磁性層を備える、請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子。
  10. 請求項1〜のいずれか一項に記載の磁壁移動型磁気記録素子を複数備える、磁気記録アレイ。
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