JP6545351B1 - 粉体及び化粧料 - Google Patents

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Abstract

【課題】塗布感触が良好な粉体及び化粧料の提供。【解決手段】平均円形度が0.77以上であり、平均凹凸度が0.95以上であり、平均アスペクト比が15〜300である、ケイ酸塩及び無水ケイ酸のうちの少なくとも一方を含む、粉体。【選択図】図1

Description

本開示は、粉体に関する。また、本開示は、当該粉体を含有する化粧料に関する。
化粧料等の、皮膚に適用する皮膚外用剤に配合可能な粉体として、ケイ酸塩、無水ケイ酸等が知られている。例えば、特許文献1には、合成雲母粉体を化粧料に配合することが開示されている。
特許文献2には、隠蔽力及び彩度を高くすることを目的とした、フレーク状基材に基づく効果顔料が開示されている。特許文献2に記載の効果顔料においては、1.2〜2の円形係数((周囲長/円に標準化された面積)/4π)を有する該基材が、屈折率n≧1.8である少なくとも1つの高屈折率層によりコーティングされている。
特開昭63−241072号公報 特開2013−129831号公報
粉体を含有する皮膚外用剤を肌に塗布するときの粉体に基づく感触は、粉体中の粒子の形状に依存する。例えば、マイカ(雲母)等のケイ酸塩の粒子は、板状形状(鱗片状、フレーク形状)を有しているものが多い。このような板状粒子を配合した化粧料を肌に塗布すると、その平滑性により、良好な肌触りや塗布感触を得ることができる。
しかしながら、ケイ酸塩のような鉱物系粉体は、通常、粉砕処理を最終工程として作製される。このため、鉱物系粉体における板状粒子の角張った部分が必然的に形成されてしまう。すなわち、鉱物系粉体における板状粒子の板状面の投影形状は、通常、いびつな形状を有することになる。このようないびつな形状は塗布時の肌触りを低下させていると考えられる。また、板状粒子のいびつな形状は、塗布時に粒子同士が引っ掛かり合う要因となり、塗布感触を低下させていると考えられる。
そこで、板状粒子を含む粉体には、肌触りや使用感触についてさらなる改善の余地が残されていると考えられる。
本開示の第1視点によれば、合成マイカ、天然マイカ、カオリン、セリサイト、及びタルクのうちの少なくとも1つを含むケイ酸塩粉体であり、平均円形度が0.77以上であり、平均凹凸度が0.95以上であり、平均アスペクト比が15〜300であり、平均粒子径が1μm〜300μmである、皮膚外用剤に配合するためのケイ酸塩粉体が提供される。
本開示の第2視点によれば、第1視点に係るケイ酸塩粉体を2質量%〜30質量%含有する化粧料が提供される。
本開示の粉体によれば、肌への塗布時に、改善された良好な感触を得ることができる。
端部処理後の合成金マイカ粉末の電子顕微鏡写真。 端部処理前の合成金マイカ粉末の電子顕微鏡写真。 端部処理後における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における合成金マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後における天然マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前における天然マイカ粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後におけるタルク粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前におけるタルク粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後におけるセリサイトA粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前におけるセリサイトA粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理後におけるセリサイトB粒子の電子顕微鏡写真。 端部処理前におけるセリサイトB粒子の電子顕微鏡写真。 試験例10における端部処理の処理時間と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフ。 試験例11におけるコロイドミルの回転数と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフ。 試験例12における端部処理するスラリー中の粉体濃度と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフ。
上記各視点の好ましい形態を以下に記載する。
上記第1視点の好ましい形態によれば、内部摩擦係数が0.14以上0.55以下である。
上記第1視点の好ましい形態によれば、内部摩擦係数が0.36以上0.55以下である。
上記第1視点の好ましい形態によれば、皮膚外用剤が化粧料である。
以下の説明において、図面参照符号は発明の理解のために付記しているものであり、図示の態様に限定することを意図するものではない。また、図面は、本開示のケイ酸塩被覆体についての理解を助けるためのものであって、図示の形状、寸法、縮尺等図面の形態にケイ酸塩被覆体を限定することを意図するものではない。各実施形態において、同じ要素には同じ符号を付してある。
本開示の第1実施形態に係る粉体について説明する。本開示において使用される用語「粉体」は「粉末」と同義である。粉体は、化粧料用途等、一般に用い得るものであれば特に限定されるものではない。特に、粉体は、人体に対して安全性の高いものであると好ましい。
粉体の平均アスペクト比は、15以上、20以上、30以上、50以上、又は70以上とすることができる。粉体の平均アスペクト比は、300以下、200以下、150以下、100以下、又は90以下とすることができる。平均アスペクト比を高めると塗布感触を高めることができる。
本開示において、アスペクト比は、メジアン粒子径を短手方向の平均長さ(例えば、平均厚さ)で除した値(メジアン粒子径/短手方向の平均長さ)である。メジアン粒子径はレーザー回折式粒度分布計にて測定することができる。短手方向の平均長さは、電子顕微鏡の傾斜観察によって任意の個数の粒子の短手方向の長さ(例えば、厚さ)を測定することによって算出することができる。
粉体を構成する粒子は、主として、板状形状(鱗片形状、フレーク形状)を有する粒子(以下、「板状粒子」と称する)とすることができる。粉体は、粉体の質量に対して、板状粒子を50質量%以上、60質量%以上、70質量%以上、80質量%以上、90質量%以上、又は100質量%含むことができる。板状粒子の割合を高めると、粉体を塗布した際の光沢を高めることができる。
板状粒子は、0.05μm以上、0.1μm以上、又は0.3μm以上の平均厚さ(短手方向の平均長さ)を有することができる。板状粒子は、2μm以下、1μm以下、0.5μm以下、又は0.3μm以下の平均厚さを有することができる。平均厚さの測定方法は、特に限定されないが、例えば、電子顕微鏡の傾斜観察によって任意の個数の粒子の厚みを測定し、それらの平均値として算出することができる。
板状粒子は、1μm以上、2μm以上、3μm以上、又は5μm以上のメジアン粒子径(粒子径の中央値)を有することができる。板状粒子は、10mm以下、1mm以下、500μm以下、300μm以下、200μm以下、100μm以下、60μm以下、50μm以下、40μm以下、又は30μm以下のメジアン粒子径を有することができる。メジアン粒子径は、例えば、レーザー回折式粒度分布測定によって測定することができる。
本開示における粉体中の粒子の平面投影形状(輪郭)は、丸みを帯びている。例えば、板状粒子の場合、板状粒子の板状面の投影形状(粒子の投影形状のうち最も面積の広い形状)は、丸みを帯びている。例えば、本開示の粉体がマイカ粉末である場合、本開示の粉体中の板状粒子は、粉砕処理後に他の加工処理をしていない天然マイカ及び/又は合成マイカ中の板状粒子に比べて、丸みを帯びた平面投影形状を有する。投影形状が丸みを帯びることによって、粉体を含有する組成物が肌に塗布されたときに、粒子の角部が肌に触れることを低減するので、肌触りを高めることができる。また、粒子の角部の被塗布面(例えば肌)への引っ掛かりや粒子同士の引っ掛かり合いが低減するので、粉体の塗布感触を高めることができる。
本開示の粉体の平均円形度は、0.77以上、0.78以上、0.80以上、0.82以上、0.84以上、0.85以上、0.86以上、0.87以上、0.88以上、0.89以上、0.90以上、0.92以上、0.94以上、又は0.96以上とすることができる。平均円形度は1以下、0.99以下、又は0.98以下とすることができる。肌触りを良くしたり、引っ掛かりを抑制したりするためには、平均円形度は1により近い方が好ましい。
本開示における円形度は、以下の式より算出することができる。以下の式において、「投影面積」とは、1つの粒子の投影形状のうち、最も面積が広い投影形状(以下「最大投影形状」という。)の面積をいう。例えば、板状粒子の場合、板状面の投影形状の面積をいう。「周囲長」とは、最大投影形状の周長である。例えば、板状粒子の場合、板状面の投影形状の周長をいう。円形度は、電子顕微鏡で撮影された粒子の画像を基にして、画像解析ソフトを使用して算出することができる。平均円形度は、電子顕微鏡の視野から任意に取り出した100個の粒子の円形度の平均値とすることができる。
円形度=(4π×投影面積)/(周囲長)
本開示の粉体の平均凹凸度は、0.95以上、0.96以上、0.97以上、又は0.98以上とすることができる。平均凹凸度は、1以下、0.99以下、又は0.98以下とすることができる。肌触りを良くしたり、引っ掛かりを抑制したりするためには、平均凹凸度は1により近い方が好ましい。
本開示における凹凸度は、以下の式より算出することができる。以下の式において、「投影面積」は上記意義と同じである。「包絡面積」とは、最大投影形状における凸部の頂点を結んだ直線、並びに凸部の頂点を結べない部分においては最大投影形状を構成する直線及び曲線によって形成された形状の面積である。凹凸度は、電子顕微鏡で撮影された粒子の画像を基にして、画像解析ソフトを使用して算出することができる。平均凹凸度は、電子顕微鏡の視野から任意に取り出した100個の粒子の凹凸度の平均値とすることができる。
凹凸度=投影面積/包絡面積
1つの粒子についての円形度及び凹凸度は、同一の投影形状に基づいて測定する。
本開示の粉体の内部摩擦係数は、0.14以上、0.2以上、0.25以上、0.30以上、0.33以上、0.35以上、又は0.36以上とすることができる。本開示の粉体の内部摩擦係数は、0.55以下、0.51以下、0.44以下、0.42以下、又は0.4以下とすることができる。内部摩擦係数を低くすると、粉体の滑り性を高めることができる。内部摩擦係数は、例えば、ナノシーズ社製粉体層せん断力測定装置NS−S500型を使用して測定することができる。
本開示の粉体は、例えば、上記円形度及び凹凸度を有するケイ酸塩及び無水ケイ酸(シリカ)のうちの少なくとも一方を含むことができる。ケイ酸塩としては、例えば、層状ケイ酸塩を選択することができる。層状ケイ酸塩としては、例えば、合成マイカ(雲母)、天然マイカ、カオリン、セリサイト、タルク等のうちの少なくとも1つを挙げることができる。
マイカは、天然マイカ及び/又は合成マイカとすることができる。化学的安定性、不純物の少なさ及び平面の平滑性の観点からは合成マイカを使用すると好ましい。合成マイカとしては、例えば、カリウム金マイカ[KMg(AlSi10)F]、カリ四ケイ素マイカ[KMg 1/2(Si10)F]、カリウムテニオライト[KMgLi(Si10)F]、ナトリウム金マイカ[NaMg(AlSi10)F]、ナトリウムテニオライト[NaMgLi(Si10)F]、ナトリウム四ケイ素マイカ[NaMg 1/2(Si10)F]、ナトリウムヘクトライト[Na1/3Mg 2/3Li1/3(Si10)F]等が挙げられる。
合成マイカとしては、溶融法、水熱法、固体間反応法など何れの製法で得られたものでも使用できる。例えば、合成マイカ粉体は、カリウム、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、フッ素等を含有する化合物を一定の割合で混合し、これを溶融、晶出、冷却後、機械的粉砕を行い、熱処理、水洗、乾燥することにより得ることができる。例えば、合成フッ素金マイカ(カリウム金マイカ)の場合、無水ケイ酸、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム及びケイフッ化カリウムを上記組成になる様に秤量し混合した後、1,400〜1,500℃で溶融し、室温まで冷却して合成フッ素金マイカを得ることができる。得られた合成フッ素金マイカの鉱塊を粉砕し、必要とすれば分級して合成マイカ粉体を得ることができる。
本開示の粉体は、上記円形度及び凹凸度を有するケイ酸塩及び無水ケイ酸を、粉体の質量に対して、70質量%以上、80質量%以上、90質量%以上、又は95質量%以上含むことができる。
粉体中の粒子は、表面に被覆を有してしてもよい。被覆としては、酸化チタン、酸化鉄等の金属酸化膜、シリコーン樹脂等が挙げられる。
本開示の粉体は、被塗布対象物に塗布した時に、粒子の対象物への引っ掛かり、及び粒子同士の引っ掛かりが抑制されているので、良好な塗布感触を得ることができる。特に、本開示の粉体を肌に塗布した時に、粒子の角部が肌に引っ掛かることが低減するので、良好な感触を得ることができる。したがって、本開示の粉体は、例えば、化粧料等の皮膚外用剤に配合することができる。
本開示の第2実施形態として、第1実施形態に係る粉体の製造方法について説明する。以下に説明する方法は一形態であって、本開示の粉体の製造方法は、以下の製造方法に限定されるものではない。
平均アスペクト比が15〜300である端部処理前粉体を準備する。端部処理前粉体は、例えば、ハンマーミル、ボールミル等による乾式粉砕及び/又は湿式粉砕、並びに分級処理によって平均アスペクト比及び平均粒子径を制御することができる。例えば、粉砕処理及び分級処理によって、平均粒子径300μm以下まで粉砕処理を施されたケイ酸塩及び/又は無水ケイ酸等の板状粒子を主とする粉体を準備することができる。粉砕処理して形成された板状粒子の側部には、通常、角部が形成されている。端部処理前粉体の平均円形度は、例えば、0.75以下である。また、端部処理前粉体の平均凹凸度は、例えば、0.94以下である。
次に、端部処理前粉体に、端部処理前粉体の円形度及び凹凸度を高める端部処理を施す。端部処理は、端部処理前粉体の角部にせん断力が掛かるようにして、角部を丸くする(角部を除去する)処理をいう。端部処理は、例えば、コロイドミルを用いて、高回転数(例えば、5,000rpm〜15,000rpm)による湿式粉砕で行うことができる。回転数は、例えば、7,500rpm、10,000rpm、10,500rpm、11,000rpm、11,500rpm、12,000rpm、12,500rpm、13,000rpm、13,500rpm、又は14,000rpmを選択することができる。
端部処理を湿式処理で行う場合、スラリー中の端部処理前粉体の濃度は、目的とする円形度及び凹凸度に応じて適宜設定することができる。スラリー中の端部処理前粉体の濃度が低いほうが円形度及び凹凸度が高まる傾向がある。スラリー中の端部処理前粉体の濃度は、分散媒と端部処理前粉体の合計質量に対して、例えば、50質量%以下、40質量%以下、30質量%以下、20質量%以下、又は10質量%以下とすることができる。スラリー中の端部処理前粉体の濃度は、分散媒と端部処理前粉体の合計質量に対して、例えば、5質量%以上、又は10質量%以上とすることができる。
スラリーの分散媒体は、例えば、水、低級アルコール、これらの混合物等を用いることができる。
端部処理の時間は、目的とする円形度及び凹凸度に応じて適宜設定することができる。端部処理の時間は長いほうが円形度及び凹凸度が高まる傾向がある。端部処理の時間は、例えば、2分以上、5分以上、10分以上、20分以上、30分以上、又は40分以上とすることができる。端部処理の時間は、例えば60分以下、又は30分以下とすることができる。
コロイドミルにおいて、ロータとステータのクリアランスは、平均粒子径が大幅に小さくならないように、例えば、処理中に粒子が割れないように、設定すると好ましい。例えば、クリアランスは、1mm以上、1.5mm以上、2mm以上、3mm以上、又は4mm以上とすることができる。ロータとステータのクリアランスは、例えば、5mm以下、又は4mm以下とすることができる。
次に、端部処理を施した粉体に分級処理を施してもよい。分級処理としては、例えば、遠心分離処理、沈降処理等が挙げられる。
端部処理を施した粉体中の粒子の表面処理を施してもよい。表面処理としては、例えば、酸化チタン、酸化鉄等の金属酸化物の被覆;シリコーン樹脂の被覆等が挙げられる。
平均円形度、平均凹凸度及び平均アスペクト比が所望の範囲を満たす限り、端部処理を施した粉体に、別の粉体を混合してもよい。
本開示の第3実施形態として、化粧料について説明する。化粧料は、第1実施形態に係る粉体を含有する。化粧料は、例えば、化粧料の質量に対して、第1実施形態に係る粉体を2質量%以上、5質量%以上、10質量%以上、又は15質量%以上含むことができる。化粧料は、例えば、化粧料の質量に対して、第1実施形態に係る粉体を30質量%以下、25質量%以下、20質量%以下、15質量%以下、又は10質量%以下含むことができる。
第3実施形態に係る化粧料は、その他の成分を含有することができる。
第3実施形態に係る化粧料によれば、使用者は良好な塗布感触を感じることができる。
本開示の粉体及び化粧料がその組成、構造、特性等によって直接特定することが困難であるか、又はおよそ実際的ではない場合がある。このような場合には、その製造方法によって本開示の粉体及び化粧料を特定することが許されるべきものである。
以下に、本開示の粉体及びその製造方法について、例を挙げて説明する。しかしながら、粉体及びその製造方法は、以下の例に限定されるものではない。
[試験例1〜5]
合成金マイカ(KMgAlSi10)1kgを平均粒径が約10μmとなるまで粉砕して板状粒子の集合体となる端部処理前粉体を作製した。試験例1及び4においては、ボールミルによる湿式粉砕で端部処理前粉体を作製した。この粉体の平均アスペクト比は60であった。試験例3及び5においては、ハンマーミルによる乾式粉砕で端部処理前粉体を作製した。この粉体の平均アスペクト比は20であった。次に、試験例1及び3に係る端部処理前粉体を10質量%となるように脱イオン水と混合した。この混合物を12,500rpmのコロイドミルで30分間湿式粉砕して端部処理した。コロイドミルにおけるステータとロータの間隙は4mmに設定した。次に、粉砕後の粉末を分級処理し、平均粒径が約10μmの粉体を得た。表3に、各試験例に係る粉末の平均粒子径、平均アスペクト比、平均円形度、及び平均凹凸度を示す。試験例1及び3の粉体は、端部処理を施した粉体である。試験例4及び5の粉体は、端部処理を施していない粉体である。試験例2の粉体は、試験例1の粉体と試験例4の粉体を1:1の質量割合で混合した粉体である。
端部処理を施していない試験例4及び5に係る合成マイカ粉体は平均円形度0.75〜0.76であり、平均凹凸度0.92〜0.93であった。一方、端部処理を施した粉体を含む試験例1〜3に係る合成マイカ粉体は、平均円形度0.81〜0.84であり、平均凹凸度0.95〜0.96であり、平均円形度も平均凹凸度も、端部処理を施していない粉末よりも高くすることができた。
端部処理後の合成金マイカ粉末の電子顕微鏡写真を図1に示す。端部処理前の合成金マイカ粉末の電子顕微鏡写真を図2に示す。図3〜図7に、端部処理後における粉体中の粒子の電子顕微鏡写真を示す。表1に、図3〜図7に示す粒子の円形度及び凹凸度を示す。図8〜図13に、端部処理前における粉体中の粒子の電子顕微鏡写真を示す。表2に、図8〜図13に示す粒子の円形度及び凹凸度を示す。表1及び表2に示す円形度及び凹凸度は、図3〜図13に示す画像から上述の最大投影形状を導いて算出した。
端部処理前の図2及び図8〜図13に示す粒子は、総じて角張っている。円形度は高いものでも0.74であった。凹凸度は、0.80〜0.94であった。一方、端部処理を施した図1及び図3〜図7に示す粒子は全体として丸みを帯びている。円形度は、低いものでは0.85であり、高いものでは0.98であった。また、凹凸度も0.96以上と全体として高かった。これより、端部処理によって、角部が丸められた粒子の集合体である粉末が得られることが分かった。
端部処理前の粉砕方法が湿式粉砕及び乾式粉砕のいずれでも円形度及び凹凸度を高めることができた。これより、端部処理前の粉砕方法は、湿式粉砕及び乾式粉砕のいずれも用いることができることが分かった。
次に、試験例1〜5の粉体について内部摩擦係数を測定した。内部摩擦係数は、ナノシーズ社製粉体層せん断力測定装置NS−S500型を使用して測定した。まず、各粉体を剪断セル(φ=15mm)内に2.50g充填した。次に、粉体層上面を平坦にした後、目標荷重になるまで荷重をかけた。目標荷重に達成した後、押し込みを停止し、横滑りを開始させた(横滑り速度:10μm/秒)。せん断応力及び垂直応力を測定した結果から、破壊包絡線を導出し、内部摩擦係数を算出した。測定結果を表3に示す。
アスペクト比が同じ60である試験例1、2及び4の粉体について内部摩擦係数を比較すると、試験例4よりも平均円形度及び平均凹凸度がより高い試験例1及び2のほうが内部摩擦係数が低くなった。アスペクト比が同じ40である試験例3及び5の粉体について内部摩擦係数を比較すると、試験例5よりも平均円形度及び平均凹凸度がより高い試験例3のほうが内部摩擦係数が低くなった。内部摩擦係数が低いほど粉体の滑り性が高いことを意味している。これより、平均円形度及び平均凹凸度の高い粉体のほうが滑り性が高いことが客観的に確認することができた。
次に、端部処理を施した粉体を人の肌に塗布して塗布感触を評価した。5名に試験粉体1gを前腕内側に塗布してもらい、さらさら感、なめらかさ、やわらかさ及び肌なじみについて評価した。対照として、端部処理を施していない粉体についても同様に評価した。以下に、塗布感触の判断基準を示す。表3に、評価結果を示す。
[さらさら感]
評価5:非常にさらさらしている;
評価4:ややさらさらしている;
評価3:さらさらでも、べとつきでもない;
評価2:ややべとついている;
評価1:非常にべとついている。
[なめらかさ]
評価5:非常になめらかである;
評価4:ややなめらかである;
評価3:なめらかでもないし、ひっかかりもない;
評価2:ややひっかかりがある;
評価1:非常にひっかかりがある。
[やわらかさ]
評価5:非常にやわらかい;
評価4:やややわらかい;
評価3:やわらかくもかたくもない;
評価2:ややかたい;
評価1:非常にかたい。
[肌なじみ]
評価5:非常に肌なじみがよい;
評価4:やや肌なじみがよい;
評価3:肌なじみが良くも悪くもない;
評価2:やや肌なじみが悪い(粉っぽい);
評価1:非常に肌なじみが悪い。
端部処理を施していない試験例4及び5に係る粉体は、ほぼ評価3以下となったのに対し、端部処理を施した粉体を含む試験例1〜3に係る粉体は、ほぼ評価4以上とすることができた。これより、平均円形度及び平均凹凸度を高めることによって、肌への塗布感触を高めることができることが分かった。
平均アスペクト比が60である試験例1及び2の粉末の評価平均は4.25以上であったのに対し、平均アスペクト比が20の試験例3の粉末の評価平均は3.75であった。これより、アスペクト比が高いほうが塗布感触を改善することができると考えられる。ただし、試験例3の粉末においても十分に良好な塗布感触が得られている。
[試験例6〜9]
合成マイカ粉体以外の天然マイカ粉体、セリサイト粉体、及びタルク粉体についても、円形度及び凹凸度を高めることができるかを試験した。端部処理の方法は、試験例1〜5と同様である。
図14に、天然マイカの端部処理後の粒子(試験例6−1)の電子顕微鏡写真を示す。図15に、天然マイカの端部処理前の粒子(試験例6−2)の電子顕微鏡写真を示す。図16に、タルクの端部処理後の粒子(試験例7−1)の電子顕微鏡写真を示す。図17に、タルクの端部処理前の粒子(試験例7−2)の電子顕微鏡写真を示す。表4に、図14〜図17に示す粒子の円形度、凹凸度及びアスペクト比を示す。
図18に、セリサイトAの端部処理後の粒子(試験例8−1)の電子顕微鏡写真を示す。図19に、セリサイトAの端部処理前の粒子(試験例8−2)の電子顕微鏡写真を示す。図20に、セリサイトBの端部処理後の粒子(試験例9−1)の電子顕微鏡写真を示す。図21に、セリサイトBの端部処理前の粒子(試験例9−2)の電子顕微鏡写真を示す。表5に、図18〜図21に示す粒子の円形度、凹凸度及びアスペクト比を示す。セリサイトAとセリサイトBとは、産地が異なるマイカである。
天然マイカ、セリサイト及びタルクのいずれも円形度及び凹凸度を高めることができた。これより、少なくとも、板状粒子となる層状ケイ酸塩については、端部処理によって円形度及び凹凸度を高めることができると考えられる。
[試験例10]
端部処理における処理時間が平均円形度及び平均凹凸度に及ぼす影響について調べた。端部処理前粉体は、試験例1〜5と同様にして作製した。端部処理するスラリーにおける粉体濃度は、スラリーの質量に対して30質量%とした。端部処理におけるコロイドミルの回転数は12,500rpmとした。コロイドミルにおけるロータとステータとの間隔は4mmとした。表6に、試験結果を示す。図22に、処理時間と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフを示す。試験例10−1は端部処理前粉体である。
図22をみると、処理時間が長くなるにつれて平均円形度及び平均凹凸度の両方が高まることが分かった。すなわち、平均円形度及び平均凹凸度は、端部処理の処理時間に依存することが分かった。これより、平均円形度及び平均凹凸度をより高めるためには、処理時間は2分以上であると好ましく、5分以上であるとより好ましく、10分以上であるとより好ましく、20分以上であるとより好ましく、30分以上であるとさらに好ましいと考えられる。
[試験例11]
端部処理におけるコロイドミルの回転数が平均円形度及び平均凹凸度に及ぼす影響について調べた。端部処理前粉体は試験例10−1と同じである。端部処理するスラリーにおける粉体濃度は、スラリーの質量に対して30質量%とした。端部処理の処理時間は2.5分とした。コロイドミルにおけるロータとステータとの間隔は4mmとした。表7に、試験結果を示す。図23に、回転数と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフを示す。
図23をみると、コロイドミルの回転数が高くなるにつれて平均円形度及び平均凹凸度の両方が高まることが分かった。すなわち、平均円形度及び平均凹凸度は、回転数に依存することが分かった。特に、回転数が10,000rpm以上になると平均円形度及び平均凹凸度が急激に高まった。これより、平均円形度及び平均凹凸度をより高めるためには、回転数は7,000rpm以上であると好ましく、8,000rpm以上であるとより好ましく、10,000rpm以上であるとより好ましく、11,000rpm以上であるとより好ましく、12,000rpm以上であるとさらに好ましいと考えられる。
[試験例12]
端部処理におけるスラリー中のスラリー質量に対する粉体濃度が平均円形度及び平均凹凸度に及ぼす影響について調べた。端部処理前粉体は試験例10−1と同じである。端部処理におけるコロイドミルの回転数は12,500rpmとした。端部処理の処理時間は10分とした。コロイドミルにおけるロータとステータとの間隔は4mmとした。表8に、試験結果を示す。図24に、回転数と平均円形度及び平均凹凸度の相関を示すグラフを示す。
図24をみると、スラリー中の粉体濃度が低くなるにつれて平均円形度及び平均凹凸度の両方が高まることが分かった。すなわち、平均円形度及び平均凹凸度は、粉体濃度に依存することが分かった。これより、平均円形度及び平均凹凸度をより高めるためには、粉体濃度は50質量%以下であると好ましく、40質量%以下であるとより好ましく、30質量%以下であるとより好ましく、20質量%以下であるとより好ましく、10質量%以下であるとさらに好ましいと考えられる。
[試験例13]
コロイドミルが乳化処理、分散処理等において用いられている一般的な条件で端部処理を行ってみた。端部処理前粉体は試験例10−1と同じである。一般的条件として、端部処理におけるコロイドミルの回転数は5,000rpmとした。端部処理の処理時間は2分とした。端部処理するスラリーにおける粉体濃度は、スラリーの質量に対して5質量%及び30質量%とした。なお、乳化処理及び分散処理用の一般的条件においては、コロイドミルにおけるロータとステータとの間隔は通常0.5mm未満であるが、試験例13においては4mmとした。表9に、試験結果を示す。
試験例13−1及び13−2のいずれにおいても平均円形度は0.77未満、平均凹凸度は0.95未満となった。処理前の試験例10−1の粉体と比較しても、平均円形度及び平均凹凸度の大きな改善は見られなかった。これより、コロイドミルの一般的な使用条件では、平均円形度及び平均凹凸度を高めることができないことが分かった。
本発明の粉体及び化粧料並びにこれらの製造方法は、上記実施形態及び実施例に基づいて説明されているが、上記実施形態及び実施例に限定されることなく、本発明の範囲内において、かつ本発明の基本的技術思想に基づいて、各開示要素(請求の範囲、明細書及び図面に記載の要素を含む)に対し種々の変形、変更及び改良を含むことができる。また、本発明の請求の範囲の範囲内において、各開示要素の多様な組み合わせ・置換ないし選択が可能である。
本発明のさらなる課題、目的及び形態(変更形態含む)は、請求の範囲を含む本発明の全開示事項からも明らかにされる。
本書に記載した数値範囲については、別段の記載のない場合であっても、当該範囲内に含まれる任意の数値ないし範囲が本書に具体的に記載されているものと解釈されるべきである。
上記実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下の記載には限定されない。
[付記1]
平均アスペクト比15〜300を有する処理前粉体を準備する工程と、
前記処理前粉体をコロイドミルで湿式処理する工程と、を含み、
前記コロイドミルの回転数は7,500rpm以上である、粉体の製造方法。
[付記2]
前記湿式処理を施すスラリーにおける前記処理前粉体の割合は、スラリーの質量に対して、50質量%以下である、付記に記載の製造方法。
[付記3]
前記湿式処理を2分以上行う、付記に記載の製造方法。
[付記4]
前記湿式処理において、ロータとステータとのクリアランスは1mm以上である、付記に記載の製造方法。
本開示の粉体は、例えば、化粧料、塗料、金属イオン吸着剤、フィルム、ナノコンポジット材等に適用することができる。

Claims (5)

  1. 合成マイカ、天然マイカ、カオリン、セリサイト、及びタルクのうちの少なくとも1つを含むケイ酸塩粉体であり、
    平均円形度が0.77以上であり、
    平均凹凸度が0.95以上であり、
    平均アスペクト比が15〜300であり、
    平均粒子径が1μm〜300μmである、皮膚外用剤に配合するためのケイ酸塩粉体
  2. 内部摩擦係数が0.14以上0.55以下である、請求項1に記載の粉体。
  3. 内部摩擦係数が0.36以上0.55以下である、請求項1又は2に記載の粉体。
  4. 前記皮膚外用剤が化粧料である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の粉体。
  5. 請求項1〜のいずれか一項に記載のケイ酸塩粉体を2質量%〜30質量%含有する、化粧料。
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