JP6529684B2 - Surface-treated copper foil and copper-clad laminate using the same - Google Patents

Surface-treated copper foil and copper-clad laminate using the same Download PDF

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Description

本発明は高密度配線回路(ファインパターン)を有するプリント配線板に適したレーザー加工性に優れる表面処理銅箔、及びこれを用いた銅張積層板に関するものである。   The present invention relates to a surface-treated copper foil excellent in laser processability suitable for a printed wiring board having a high density wiring circuit (fine pattern), and a copper clad laminate using the same.

プリント配線板は、ガラスエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などから成る電気絶縁性の基板の表面に、表面回路形成用の薄い銅箔を置いたのち、加熱・加圧して銅張積層板を製造する。次いで、その銅張積層板に、スルーホールの穿設、スルーホールめっきを順次行ったのち、該銅張積層板の銅箔にエッチング処理を行って所望する線幅と所望する線間ピッチを備えた配線パターンを形成する。最後に、ソルダーレジスト塗布、露光、スルーホールめっきまたは電子部品の接続部のめっきを露出するため、苛性ソーダなどにより、未硬化のソルダーレジストの除去やその他の仕上げ処理が行われる。   In the printed wiring board, a thin copper foil for forming a surface circuit is placed on the surface of an electrically insulating substrate made of glass epoxy resin, polyimide resin or the like, and then heated and pressed to manufacture a copper-clad laminate. Then, after forming through holes and plating through holes in the copper-clad laminate sequentially, the copper foil of the copper-clad laminate is etched to provide a desired line width and a desired inter-line pitch. Form a wiring pattern. Finally, in order to expose solder resist application, exposure, through-hole plating or plating of the connection portion of the electronic component, removal of the uncured solder resist or other finishing treatment is performed by caustic soda or the like.

このときに用いる銅箔は、一般に、図1に示される電解析出装置を使用してドラム102に析出した銅箔101を剥離することにより得られる電解銅箔が使用される。ドラム102から剥離された電析出開始面(シャイニー面。以下、S面という)は比較的平滑であり、逆の面である電解析出終了面(マット面。以下、M面という)は一般的には凹凸を有している。通常はM面に粗化処理をすることにより、基板樹脂との接着性を向上させている。 As the copper foil used at this time, generally, an electrolytic copper foil obtained by peeling the copper foil 101 deposited on the drum 102 using the electrolytic deposition apparatus shown in FIG. 1 is used. Exfoliated electrolytic deposition starting surface from the drum 102 (shiny surface. Hereinafter, the S surface) is relatively smooth, electrolytic deposition termination surface which is opposite the surface (matte surface. Hereinafter referred to M-plane) is generally In fact, it has unevenness. Usually by a roughening treatment on the M plane, thereby improving the adhesion to the substrate resin.

最近では、銅箔の粗化面に予めエポキシ樹脂のような接着用樹脂を貼着し、該接着用樹脂を半硬化状態(Bステージ)の絶縁樹脂層とした樹脂付き銅箔を表面回路形成用の銅箔として用い、その絶縁樹脂層の側を基板(絶縁基板)に熱圧着してプリント配線基板、とりわけビルドアップ配線基板を製造することが行われている。該ビルドアップ配線基板では、各種電子部品を高度に集積化する要望がなされ、これに対応して、配線パターンも高密度化が要求され、微細な線幅や線間ピッチの配線パターン、いわゆるファインパターンのプリント配線基板が求められるようになってきている。例えば、サーバー、ルーター、通信基地局、車載搭載基板などに使用される多層基板やスマートフォン用多層基板では線幅や線間ピッチがそれぞれ15μm前後という高密度極微細配線を有するプリント配線基板が要求されている。   Recently, adhesive resin such as epoxy resin is attached in advance to the roughened surface of copper foil, and resin-coated copper foil is used as the insulating resin layer in semi-cured state (B stage) to form a surface circuit. It has been practiced to use a copper foil for the purpose of forming a printed wiring board, especially a build-up wiring board, by thermocompression bonding the insulating resin layer side to a substrate (insulating substrate). In the build-up wiring board, there is a demand for high integration of various electronic components, and correspondingly, the wiring pattern is also required to have a high density, and a wiring pattern with a fine line width and a line pitch, A printed wiring board of a pattern has come to be required. For example, multilayer boards used for servers, routers, communication base stations, in-vehicle mounting boards, etc. and multilayer boards for smart phones require printed wiring boards with high-density fine wiring with line widths and pitches of around 15 μm. ing.

このような配線基板の高密度化、微細化に伴い、サブトラクティブ工法での微細回路形成が困難になりつつあり、代わりにセミアディティブ工法(MSAP工法)が使用されるようになってきている。MSAP工法では、樹脂層上に極薄銅箔を給電層として形成し、続いて極薄銅箔上にパターン銅めっきを施す。次いで、極薄銅箔をフラッシュエッチングにより除去することで、所望の配線を形成する。   With the increase in density and miniaturization of such wiring boards, it is becoming difficult to form a minute circuit by a subtractive method, and instead, a semi-additive method (MSAP method) is being used. In the MSAP method, an ultra-thin copper foil is formed as a feed layer on a resin layer, and then pattern copper plating is applied on the ultra-thin copper foil. Next, the ultrathin copper foil is removed by flash etching to form a desired wiring.

MSAP工法には、通常、キャリア付き薄銅箔が用いられる。キャリア付き薄銅箔は、キャリアとしての銅箔(キャリア銅箔)の片面に、剥離層と薄銅箔がこの順序で形成され、該薄銅箔の表面が粗化面となっている。そして、その粗化面を樹脂基板に重ね合わせたのち全体を熱圧着し、次いでキャリア銅箔を剥離・除去し、該薄銅箔の該キャリア銅箔との接合側を表出せしめ、そこに所定の配線パターンを形成するという態様で使用される。
ビルドアップ配線基板における層間接続のために、ビアと呼ばれる孔が開けられるが、この孔開けはレーザー光の照射により行われることが多い。そして、MSAP工法においては、銅箔に直接レーザー光を照射することにより、銅箔と樹脂に一気に孔を開けるダイレクトレーザー加工と呼ばれる方法が採られる。
Usually, thin copper foil with a carrier is used for the MSAP method. In the carrier-attached thin copper foil, a release layer and a thin copper foil are formed in this order on one side of a copper foil (carrier copper foil) as a carrier, and the surface of the thin copper foil is a roughened surface. Then, the roughened surface is placed on the resin substrate, the whole is thermocompression-bonded, and then the carrier copper foil is peeled off and removed to expose the side of the thin copper foil to be bonded to the carrier copper foil. It is used in the aspect of forming a predetermined | prescribed wiring pattern.
Although holes called vias are opened for interlayer connection in the buildup wiring board, the holes are often made by laser light irradiation. Then, in the MSAP method, a direct laser processing method is used in which holes are cut at once in copper foil and resin by irradiating the copper foil with laser light directly.

MSAP工法に使用されるキャリア付銅箔は、樹脂基材への貼付け面が通常M面であり、レーザー加工面(S面)は平滑でレーザー吸収性が十分でない為に、レーザー加工の前処理としてブラウン処理(エッチング粗化処理)が必要がとされる。そこで、特許文献1では、S面のレーザー加工性を高めるために、レーザー加工面に、クロム、コバルト、ニッケル、鉄などからなるレーザー吸収層を有することにより、レーザー加工性がよい銅箔が提案されている。しかしながら、該キャリア付銅箔における薄銅箔は通常の硫酸銅浴めっき浴で製造しており、ピンホールが多発する問題がある。   The copper foil with carrier used in the MSAP method usually has M surface attached to the resin substrate, and the laser processed surface (S surface) is smooth and the laser absorptivity is not sufficient, so pretreatment for laser processing As browning process (etching roughening process) is required. Therefore, in Patent Document 1, in order to enhance the laser processability of the S surface, a copper foil having good laser processability is proposed by having a laser absorption layer made of chromium, cobalt, nickel, iron or the like on the laser processed surface. It is done. However, the thin copper foil in the copper foil with carrier is manufactured by a common copper sulfate bath plating bath, and there is a problem that pinholes occur frequently.

また、特許文献2では、中間層としてニッケル層、亜鉛層及びクロメート層を均一に形成することによりピンホールを抑制した銅箔が提案されている。しかしながら、中間層(剥離層)はキャリア箔の光沢面上に形成されるため、キャリア箔を剥離したあとのレーザーが当たる中間層は平滑でレーザーの光を吸収し難く、レーザー加工性が悪い。また、キャリア付銅箔である為にキャリア付銅箔を剥離させるのに手間を要しハンドリング性が悪いという問題がある。 Moreover, in patent document 2, the copper foil which suppressed the pinhole is proposed by forming a nickel layer, a zinc layer, and a chromate layer uniformly as an intermediate | middle layer. However, since the intermediate layer (peeling layer) is formed on the glossy surface of the carrier foil, the intermediate layer to which the laser is applied after peeling the carrier foil is smooth and hardly absorbs laser light, and the laser processability is poor. Moreover, since it is copper foil with a carrier, it takes time and effort to peel the copper foil with a carrier, and there exists a problem that handling property is bad.

特許文献3では、薄銅箔の中間層側の粗さのバラツキを抑えることで、レーザー加工性とエッチング性を向上させたキャリア付銅箔が提案されている。しかしながら、該キャリア付銅箔における薄銅箔は通常の硫酸銅浴めっき浴で製造しており、ピンホールが多発する問題がある。   In patent document 3, the copper foil with a carrier which improved laser processability and etching property is proposed by suppressing the dispersion | variation in the roughness by the side of the intermediate | middle layer of thin copper foil. However, the thin copper foil in the copper foil with carrier is manufactured by a common copper sulfate bath plating bath, and there is a problem that pinholes occur frequently.

特開2013−75443号公報JP, 2013-75443, A 国際公開2015/030256号International Publication 2015/030256 特開2014−208480号公報JP, 2014-208480, A

MSAP工法にはキャリア付き銅箔が使用されているが、このキャリア付き銅箔には下記の問題点がある。
・ピンホールが多く製造の歩留りを低下させている。
・キャリア箔を剥離したあとにレーザーが当たる中間層は平滑でレーザーの光を吸収し難く、レーザー加工性が悪い。そのため、レーザー加工の前処理としてブラウン処理(エッチング粗化処理)が必要とされる。
・キャリア箔の剥離工程に手間がかかり製造コストを増加させている。
このような問題があるため、キャリア付き銅箔に代わる新しい材料が要望されてきている。それらの課題に対して本発明は、常態及び加熱後の引張強度が高く、キャリア箔なしの薄箔でも皺の発生がなくMSAP工法への適用が可能であり、レーザー加工性(ダイレクトレーザー加工)、エッチング性及び薄箔ハンドリング性に優れ、かつピンホールの少ない高密度配線回路に適した表面処理銅箔を提供することを目的とする。
Although a copper foil with a carrier is used in the MSAP method, this copper foil with a carrier has the following problems.
・ There are many pinholes and the manufacturing yield is reduced.
The intermediate layer to which the laser is applied after peeling the carrier foil is smooth, hardly absorbs the laser light, and the laser processability is poor. Therefore, a browning process (etching roughening process) is required as a pretreatment for laser processing.
The process of peeling off the carrier foil takes time and increases the manufacturing cost.
Because of these problems, new materials have been required to replace copper foils with carriers. To solve these problems, the present invention has high tensile strength in normal state and after heating, and can be applied to MSAP method without generation of wrinkles even in thin foil without carrier foil, and laser processability (direct laser processing) It is an object of the present invention to provide a surface-treated copper foil which is excellent in etching properties and thin foil handling properties and is suitable for high density wiring circuits with few pinholes.

本発明者らは、鋭意研究を重ねてきた中で、“Sdrが25〜120%”の粗化処理面がダイレクトレーザー加工に適していることを見出した。また本発明の表面処理銅箔は、常態における引張強度が400〜700MPa、220℃で2時間加熱後に常温で測定した引張強度が300MPa以上であり、箔厚が7μm以下である表面処理銅箔であって、少なくとも一方の面の展開面積比(Sdr)が25〜120%であり、かつ直径30μm以上のピンホールの数が20個/m2以下とすることで、エッチング性、レーザー加工性(ダイレクトレーザー加工)及び薄箔ハンドリング性に優れ、かつピンホールが少なく高密度配線回路に適することを見出し、この知見に基づいて本発明を完成した。 The present inventors have intensively researched and found that the roughened surface having “Sdr of 25 to 120%” is suitable for direct laser processing. The surface-treated copper foil of the present invention is a surface-treated copper foil having a tensile strength of 400 to 700 MPa in a normal state and a tensile strength of 300 MPa or more measured at normal temperature after heating for 2 hours at 220 ° C. and a foil thickness of 7 μm or less. Etchability and laser processability by setting the development area ratio (Sdr) of at least one surface to 25 to 120% and setting the number of pinholes having a diameter of 30 μm or more to 20 / m 2 or less It has been found that it is excellent in direct laser processing) and thin foil handling, and has few pinholes and is suitable for high density wiring circuits, and the present invention has been completed based on this finding.

本発明において、常態とは、表面処理銅箔が熱処理等の熱履歴を受けずに室温(=およそ25℃)におかれた状態のことを意味する。常態における引張強度は、室温においてIPC-TM-650により測定できる。また、加熱後の引張強度は表面処理銅箔を220℃に加熱して2時間保持した後室温まで自然冷却し、室温において常態における引張強度と同様に測定することができる。   In the present invention, normal means that the surface-treated copper foil is placed at room temperature (= approximately 25 ° C.) without receiving a heat history such as heat treatment. The tensile strength in normal state can be measured by IPC-TM-650 at room temperature. Further, the tensile strength after heating can be measured similarly to the tensile strength in the normal state by heating the surface-treated copper foil to 220 ° C. and holding it for 2 hours and then naturally cooling to room temperature.

常態における引張強度が400〜700MPaであるとハンドリグ性とエッチング性が良好である。常態における引張強度が400MPa未満では薄箔シート品の搬送時にシワが発生することでハンドリング性が悪く、700MPaより大きいとドラムによる析出製造時に箔切れを起こし易く製造に不適切である。加熱後に常温で測定した引張強度が300MPa以上の場合、基板の積層工程で加熱した後も結晶粒が細かくエッチング性が良好である。同様の加熱後の引張強度が300MPa以下では結晶粒が大きくなりエッチングで溶け難くなる為、エッチング性が悪くなる。   When the tensile strength in the normal state is 400 to 700 MPa, the hand rigging property and the etching property are good. If the tensile strength in the normal state is less than 400 MPa, the thin foil sheet product is wrinkled during transport, resulting in poor handleability. When the tensile strength measured at normal temperature after heating is 300 MPa or more, the crystal grains are fine and the etching property is good even after heating in the substrate laminating step. If the tensile strength after heating is 300 MPa or less, the crystal grains become large and it becomes difficult to melt by etching, so the etching property is deteriorated.

表面処理銅箔の箔厚は7μm以下であり、6μm以下であってもよい。表面処理銅箔の箔厚が7μmを超えると、低エネルギーのレーザーによる開口度が悪くなる傾向にある。表面処理銅箔の箔厚が7μm以下、特に6μm以下であるとレーザー加工性、特に8W程度の低いエネルギーのレーザー照射における加工性が高くなる傾向にある。   The foil thickness of the surface-treated copper foil is 7 μm or less, and may be 6 μm or less. When the foil thickness of the surface-treated copper foil exceeds 7 μm, the degree of opening by a low energy laser tends to deteriorate. When the foil thickness of the surface-treated copper foil is 7 μm or less, particularly 6 μm or less, the laser processability tends to be high, particularly the processability in laser irradiation with a low energy of about 8 W or so.

本発明において、箔厚は電解析出により製造した銅箔を、必要に応じて、後述するレーザー吸収層の形成、粗化処理層の形成、Ni層の形成、亜鉛層の形成、クロメート処理、シランカップリングの形成等の表面処理を行った後にレーザー加工する前段階の膜厚を意味する。箔厚は、電子天秤によって、質量厚さとして測定することができる。 In the present invention, the foil thickness is a copper foil produced by electrolytic deposition, if necessary, the formation of a laser absorption layer described later, the formation of a roughened layer, the formation of a Ni layer, the formation of a zinc layer, the chromate treatment, It means the film thickness before the laser processing after surface treatment such as formation of a silane coupling layer . The foil thickness can be measured as mass thickness by means of an electronic balance.

本発明においては、少なくとも一方の面の展開面積比(Sdr)が25〜120%とすることにより、この面レーザー照射面としたときのダイレクトレーザー加工性を高めることができる。 In the present invention, by setting the spread area ratio (Sdr) of at least one surface to 25 to 120%, it is possible to improve direct laser processability when this surface is a laser irradiation surface.

展開面積比(Sdr)とは、測定領域のサイズを持つ理想面を基準として表面性状によって加わる表面積の割合を意味しており、次式で定義される。   The developed area ratio (Sdr) means the ratio of the surface area added by the surface property on the basis of the ideal surface having the size of the measurement area, and is defined by the following equation.

Figure 0006529684
Figure 0006529684

ここで、式中のx、yは、平面座標であり、zは高さ方向の座標である。z(x,y)は、ある点の座標を示し、これを微分することで、その座標点における傾きとなる。また、Aは、測定領域の平面積である。
展開面積比(Sdr)は、3次元白色干渉型顕微鏡、走査型電子顕微鏡(SEM)、電子線3次元粗さ解析装置などにより、銅箔表面の凹凸差を測定、評価して、求めることができる。一般に、Sdrは表面粗さSaの変化に関わらず、表面性状の空間的な複雑性が増すと大きくなる傾向にある。
Here, x and y in the equation are plane coordinates, and z is a coordinate in the height direction. z (x, y) indicates the coordinates of a certain point, and by differentiating this, the slope at that coordinate point is obtained. Further, A is a plane area of the measurement area.
The developed area ratio (Sdr) can be determined by measuring and evaluating the difference in unevenness of the copper foil surface with a three-dimensional white light interference microscope, a scanning electron microscope (SEM), an electron beam three-dimensional roughness analyzer, etc. it can. In general, Sdr tends to increase as the spatial complexity of the surface property increases, regardless of the change in the surface roughness Sa.

ここでダイレクトレーザー加工の原理について説明する。銅箔表面での反射率をr,吸収率をμ,透過率をτとすると次式が成り立つ。
r+μ+τ=1
ダイレクトレーザー加工では銅箔に対しτ=0となるようなレーザー光を選択しておりCO2ガスレーザーなどが一般的であり,上記式はr+μ=1となる.またレーザー光の強度が一様な分布で吸収された場合、ビーム半径をaとするとビーム中心軸(Z軸)上での温度分布は次式で示される。
Here, the principle of direct laser processing will be described. Assuming that the reflectance on the copper foil surface is r, the absorptivity is μ, and the transmittance is τ, the following equation holds.
r + μ + τ = 1
In direct laser processing, a laser beam is selected such that τ = 0 for copper foil, a CO 2 gas laser is generally used, and the above equation is r + μ = 1. When the intensity of the laser beam is absorbed with a uniform distribution, the temperature distribution on the central axis of the beam (Z axis) is represented by the following equation, where a is a beam radius.

Figure 0006529684
Figure 0006529684

ここで、式中のx、yは、平面座標であり、zは高さ方向の座標である。また、Pは、吸収されたレーザーパワー[J/s]であり、xは、熱拡散率=K/ρ・C[cm2/S]であり、Kは、熱伝導率[J/cm・s・K]であり、ρは、密度[g/cm3]であり、Cは、比熱[J/g・K]であり、tは、レーザー照射時間[s]であり、aは、ビーム半径[cm]である。
温度は時間の増加と共に上昇するが一定時間で飽和するが、その際の温度は次式の通りである。
Here, x and y in the equation are plane coordinates, and z is a coordinate in the height direction. Also, P is the absorbed laser power [J / s], x is the thermal diffusivity = K / ρ · C [cm 2 / S], and K is the thermal conductivity [J / cm ··· s · K], ρ is the density [g / cm 3], C is the specific heat [J / g · K], t is the laser irradiation time [s], a is the beam radius It is [cm].
The temperature rises with time, but saturates for a fixed time, and the temperature at that time is as follows.

Figure 0006529684
Figure 0006529684

上式の様に銅箔表面に吸収されたレーザー光のエネルギーが大きい程温度が高くなることが分る。これは吸収されたレーザー光のエネルギーにより原子振動が増幅し熱に変換されることによるものである。ダイレクトレーザー加工においてはこの熱エネルギーを利用して、レーザー照射箇所の銅箔を溶融させ穴あけ加工を行う。ダイレクトレーザー加工の精度と効率をあげる為には、上式からわかる様に銅箔表面上での反射率を下げるか、または吸収率を上げる必要がある。   It can be seen that the temperature increases as the energy of the laser beam absorbed on the copper foil surface increases, as in the above equation. This is because the energy of the absorbed laser light amplifies atomic vibrations and converts them into heat. In the direct laser processing, the heat energy is used to melt the copper foil at the laser-irradiated portion and perform drilling processing. In order to increase the accuracy and efficiency of direct laser processing, it is necessary to lower the reflectance on the copper foil surface or to increase the absorptivity as understood from the above equation.

従来のMSAP工法においてはキャリア箔剥離後の銅の表面の吸収率が低いため、ブラウン処理で表面を粗し吸収率を増加させることでダイレクトレーザー加工に対応しているが、ブラウン処理工程は手間がかかる為製造コストの観点から問題である。そこで鋭意研究を重ねた結果、銅箔の少なくとも一方の面の展開面積比(Sdr)を25〜120%とすることにより、この面レーザー照射面としたときのダイレクトレーザー加工性を高めることができることを見出した。Sdrが25〜120%となる様な表面にすると1μm以下で複雑性の高い凹凸形状が形成される。このような形状を有する銅箔にレーザーを照射すると乱反射が増加することでレーザー光の吸収率が増加する。また複雑性の高い表面凹凸形状により銅箔の表面層が活性化され酸化膜が形成されることで反射率が減少し且つ酸化膜層表面積の増加により熱電伝導率が低下し、従来よりもレーザー光照射部の温度が上昇したことでダイレクトレーザー加工性が高まったと考えられる。レーザー加工面のSdrが25%未満の場合は、反射率が高くレーザー光の吸収率が悪い為レーザーの吸収性が悪くなる傾向にある。またSdrが120%より大きい場合は、溶融した銅が再度穴埋めてしまう不具合がおきやすくレーザー加工性が悪化する。 In the conventional MSAP method, since the absorptivity of the surface of copper after carrier foil peeling is low, the surface is roughened by browning to cope with direct laser processing by increasing the absorptivity. Is a problem in terms of manufacturing cost. Then, as a result of repeating earnest research, the direct laser processability at the time of making this surface into a laser irradiation surface can be improved by making the developed area ratio (Sdr) of at least one surface of copper foil into 25 to 120%. I found out what I could do. When the surface has an Sdr of 25 to 120%, a highly complicated uneven shape of 1 μm or less is formed. When a copper foil having such a shape is irradiated with a laser, irregular reflection is increased to increase the absorptivity of the laser light. Further, the outermost surface layer of the copper foil is activated to form an oxide film due to the highly complicated surface asperity shape, whereby the reflectance decreases, and the surface area of the oxide film layer increases, so that the thermoelectric conductivity decreases. It is considered that the direct laser processability is enhanced by the temperature rise of the laser beam irradiated portion. If the Sdr of the laser-processed surface is less than 25%, the absorptivity of the laser tends to deteriorate because the reflectance is high and the absorptivity of the laser beam is poor. If Sdr is more than 120%, the problem of molten copper filling again tends to occur, and the laser processability is deteriorated.

また、銅箔を薄箔にする場合、ピンホールが発生すると回路基板の性能を低下させることが知られているが、本発明では直径30μm以上のピンホールが20個/m2以下である銅箔が得られ、回路基板の性能低下を抑制できる。 Moreover, when making copper foil thin foil, when a pinhole generate | occur | produces is known to reduce the performance of a circuit board, but in this invention, the copper whose diameter is 30 micrometers or more is 20 pieces / m < 2 > or less. A foil is obtained, and performance degradation of the circuit board can be suppressed.

ピンホールの個数は、銅箔を適宜の大きさ、例えば200mm×200mmに切断し、例えば、光透過法でピンホールをマーキングしたあと、光学顕微鏡で直径を確認し30μm以上の穴をカウントする。得られたピンホールの数に基づいて単位面積(m2)当たりのピンホールの数(個/m2)を算出することができる。 As for the number of pinholes, a copper foil is cut into an appropriate size, for example, 200 mm × 200 mm, for example, after marking the pinholes by a light transmission method, the diameter is confirmed by an optical microscope and holes of 30 μm or more are counted. The number of pinholes per unit area (m 2 ) can be calculated based on the number of pinholes obtained.

本発明によれば、エッチング性、レーザー加工性、薄箔ハンドリグ性、耐ピンホール性に優れる銅箔を提供することができる。また、常態および加熱後の引張強度が高いためキャリア銅箔なしでもMSAP工法に適用できる表面処理銅箔を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the copper foil which is excellent in etching property, laser processability, thin foil hand rig property, and pinhole resistance can be provided. In addition, since the tensile strength in normal conditions and after heating is high, it is possible to provide a surface-treated copper foil that can be applied to the MSAP method without using a carrier copper foil.

従来の電解銅箔の析出装置を示す図である。It is a figure which shows the deposition apparatus of the conventional electrolytic copper foil. カソード還元工程を有する電解銅箔の析出装置を示す図である。It is a figure which shows the deposition apparatus of the electrolytic copper foil which has a cathode reduction process. 実施例と比較例におけるレーザー開口数とピンホール数の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship of the laser numerical aperture and pinhole number in an Example and a comparative example. 実施例と比較例における態の引張強度とシワ不良数の関係を示す図である。Is a diagram showing the tensile strength and wrinkling defects relationship between the number of normal condition in Examples and Comparative Examples.

本発明の表面処理銅箔は、展開面積比(Sdr)が25〜120%であるが、展開面積比(Sdr)が30〜80%であれば、よりレーザー加工性が高まる傾向にある。また、表面処理銅箔の箔厚が7μm以下、特に6μm以下の場合においても、展開面積比(Sdr)は30〜80%であり、直径30μm以上のピンホールが10個/m2以下であることが好ましい。直径30μm以上のピンホールが10個/m2を超えるようになると回路基板に適用した際の性能が低下する傾向にある。 The surface treated copper foil of the present invention has a spread area ratio (Sdr) of 25 to 120%, but if the spread area ratio (Sdr) is 30 to 80%, laser processability tends to be further enhanced. Moreover, even when the foil thickness of the surface-treated copper foil is 7 μm or less, particularly 6 μm or less, the development area ratio (Sdr) is 30 to 80%, and the number of pinholes of 30 μm or more in diameter is 10 pieces / m 2 or less. Is preferred. If the number of pinholes having a diameter of 30 μm or more exceeds 10 / m 2 , the performance when applied to a circuit board tends to decrease.

本発明の表面処理銅箔は、レーザー加工面がYxy表色系でYが25.0〜65.5%、xが0.30〜0.48、yが0.28〜0.41%となることが望ましい。表面処理銅箔のレーザー加工面が上記の展開面積比(Sdr)を満たしたうえで、さらに同加工面がYxy表色系でYが25.0〜65.5%、xが0.30〜0.48、yが0.28〜0.41の範囲にあるときレーザー吸収性がさらに良好となりレーザー加工性が非常に良い。 In the surface-treated copper foil of the present invention, it is desirable that the laser-worked surface has a Yxy color system, Y is 25.0 to 65.5%, x is 0.30 to 0.48 % , and y is 0.28 to 0.41%. After the laser-processed surface of the surface-treated copper foil satisfies the above-mentioned expanded area ratio (Sdr), the processed surface is Yxy color system and Y is 25.0% to 65.5%, x is 0.30 to 0.48 % , y is 0.28. When it is in the range of -0.41 %, the laser absorptivity is further improved and the laser processability is very good.

Yxy表色系は、例えば、JIS Z 8722に準拠してカラーメータなどの装置用いて測定することができる。   The Yxy color system can be measured, for example, using a device such as a color meter in accordance with JIS Z 8722.

前述したように、MSAP工法に使用される銅箔は、樹脂基材への貼付け面がM面であり、レーザー加工面は平滑でレーザー吸収性が十分でない為に、レーザー加工の前処理としてブラウン処理(エッチング粗化処理)が行われる。本発明では、ブラウン処理を行わなくてもレーザー加工性を高めることを可能にする。   As described above, the copper foil used in the MSAP method has an M-surface to be attached to a resin substrate, and the laser-processed surface is smooth and laser absorption is not sufficient. A process (etching roughening process) is performed. The present invention makes it possible to enhance laser processability without performing browning.

以下に、本発明の表面処理銅箔を製造するための条件、方法について説明する。
(1)電解銅箔の製造
本発明における銅箔は、例えば、硫酸−硫酸銅水溶液を電解液とし、白金族元素又はその酸化物元素で被覆したチタンからなる不溶性アノードと、該アノードに対向させて設けられたチタン製カソードドラムとの間に該電解液を供給し、カソードドラムを一定速度で回転させながら、両極間に直流電流を通電することによりカソードドラム表面上に銅を析出させ、析出した銅をカソードドラム表面から引き剥がし、連続的に巻き取る方法により製造される。
Below, the conditions for manufacturing the surface-treated copper foil of this invention and a method are demonstrated.
(1) Production of Electrolyzed Copper Foil The copper foil in the present invention is, for example, a sulfuric acid-copper sulfate aqueous solution as an electrolyte, and an insoluble anode made of titanium coated with a platinum group element or its oxide element, and the anode facing the anode. The electrolytic solution is supplied between the titanium cathode drum and the cathode drum provided, and while the cathode drum is rotated at a constant speed, copper is deposited on the surface of the cathode drum by applying a direct current between both electrodes. The copper is separated from the surface of the cathode drum and continuously wound.

本発明においては、陰極ドラム表面内における銅の析出電位がバラつかず均一となるように電解銅箔を製箔することが好ましい。そのためには、例えば、チタンドラム表面に酸化膜が存在しない状態で製箔する方法が挙げられる。一例として、カソード還元工程を採用してもよい。図1に示されるように、従来の電解銅箔の製造装置においては、カソードとなる電解ドラム102をバフ103により研磨することで、ドラム表面に生じる酸化膜を除去している。これに対し、カソード還元工程は、例えば、図1の電解銅箔の析出装置のバフ103に替えて、図2電解銅箔の析出装置に示されるようにカソード還元装置105の電解液(希硫酸)106により酸化膜を除去する工程をいう。ドラム102とカソード還元装置105により、酸化膜が除去されることで、銅の初期析出がチタンドラム表面に均一に生じピンホールが減少することが期待される。図1に示される従来のチタンドラムによる銅箔の製造では、チタンドラム表面のチタン酸化被膜の膜厚にムラがあることで銅の析出電位がドラム表面内でバラついており、薄箔にするとピンホールが生じやすかった。カソード還元工程を採用し、カソード還元電流密度を増加することでピンホールを減少させることができる。カソード還元電流密度の増加によりチタン酸化物の還元がより進行し、チタンドラム表面における銅の析出電位の分布にムラが無くなり、ピンホールが抑制できると考えられるからである。   In the present invention, it is preferable to form the electrodeposited copper foil so that the deposition potential of copper in the surface of the cathode drum does not vary and becomes uniform. For that purpose, for example, there is a method of forming a foil in the absence of an oxide film on the surface of a titanium drum. As an example, a cathode reduction step may be employed. As shown in FIG. 1, in the conventional electrolytic copper foil manufacturing apparatus, the electrolytic drum 102 to be a cathode is polished with a buff 103 to remove the oxide film formed on the drum surface. On the other hand, in the cathode reduction step, for example, instead of the buff 103 of the electrolytic copper foil deposition apparatus of FIG. 1, the electrolytic solution of the cathode reduction apparatus 105 (dilute sulfuric acid as shown in FIG. Step 106) to remove the oxide film. Since the oxide film is removed by the drum 102 and the cathode reduction device 105, it is expected that initial deposition of copper will be uniformly generated on the surface of the titanium drum, and the number of pinholes will be reduced. In the manufacture of copper foil by the conventional titanium drum shown in FIG. 1, the deposition potential of copper is dispersed within the drum surface due to unevenness in the film thickness of the titanium oxide film on the surface of the titanium drum. It was easy for a hole to occur. A cathode reduction step can be employed to reduce pinholes by increasing the cathode reduction current density. It is thought that reduction of the titanium oxide proceeds more as the cathode reduction current density increases, and the distribution of the deposition potential of copper on the surface of the titanium drum disappears, and pinholes can be suppressed.

電解銅箔の製造においては、電解液への添加剤として、エチレンチオ尿素、ポリエチレングリコール、テトラメチルチオ尿素、ポリアクリルアミド等を添加するとよい。エチレンチオ尿素、テトラメチルチオ尿素の添加量を増加することにより、常態における引張強度及び加熱後の引張強度を増加させることができる。常態における引張強度が400〜700MPaであるとハンドリング性とエッチング性が良好である。常態における引張強度が400MPa未満ではハンドリング性が悪く、700MPaより大きいと箔切れを起こし易く製造に不適切である。また、220℃で2時間加熱後に常温で測定した引張強度が300MPa以上の場合基板の積層で加熱した後も結晶粒が細かくエッチング性が良好である。同様に測定した加熱後の引張強度が300MPa以下では結晶粒が大きくなりエッチングで溶け難くなる為、エッチング性が悪くなる。   In the production of the electrodeposited copper foil, ethylenethiourea, polyethylene glycol, tetramethylthiourea, polyacrylamide or the like may be added as an additive to the electrolytic solution. The tensile strength in the normal state and the tensile strength after heating can be increased by increasing the addition amounts of ethylenethiourea and tetramethylthiourea. When the tensile strength in the normal state is 400 to 700 MPa, the handling property and the etching property are good. If the tensile strength in the normal state is less than 400 MPa, the handling property is poor, and if it is more than 700 MPa, foil breakage is likely to occur, which is unsuitable for production. In addition, when the tensile strength measured at normal temperature after heating at 220 ° C. for 2 hours is 300 MPa or more, crystal grains are fine and the etching property is good even after heating with lamination of substrates. Similarly, if the tensile strength after heating measured in the same manner is 300 MPa or less, the crystal grains become large and it becomes difficult to melt by etching, so the etching property is deteriorated.

(2)銅箔の表面処理
<レーザー吸収層形成処理>
次に、上で得られた銅箔に対し、レーザー吸収層を形成するための表面処理を行う。本発明では、パルス電流により銅箔の一方の面に凹凸形状のめっき層を形成する。この面が、銅箔を用いてMSAP工法により回路を作製する際のレーザー加工面となる。レーザー吸収層の形成面は、電解銅箔製造工程における析出開始面(S面)であっても析出終了面(M面)でもよい。一般的には、樹脂基板との接着面(粗化処理面)をM面としレーザー加工面をS面とすることが多いが、本発明においては、樹脂基板との接着面をS面が粗化処理された面とし、レーザー加工面をM面としてもよい。すなわち、粗化処理層が電解銅箔の製造過程における電解析出開始面(S面)に形成されていてもよい。
(2) Surface treatment of copper foil <laser absorption layer formation treatment>
Next, surface treatment for forming a laser absorption layer is performed on the copper foil obtained above. In the present invention, the uneven plating layer is formed on one surface of the copper foil by a pulse current. This surface becomes a laser processing surface when producing a circuit by MSAP method using copper foil. The surface on which the laser absorption layer is formed may be a deposition start surface (S surface) or a deposition end surface (M surface) in the electrolytic copper foil manufacturing process. Generally, the adhesion surface (roughened surface) with the resin substrate is M surface and the laser processing surface is S surface in many cases, but in the present invention, the S surface with the resin substrate is rough The laser processing surface may be an M surface. That is, the roughening treatment layer may be formed on the electrolytic deposition start surface (S surface) in the process of manufacturing the electrolytic copper foil.

本発明においては、レーザー加工面となるM面またはS面の展開面積比Sdrが25〜120%となるように適度な表面積を持たせることで、ブラウン処理なしでダイレクトレーザー加工が可能となることを見出した。また、粗化処理層を電解銅箔の製造過程における電解析出開始面に形成することによって、エッチングファクタも向上することができる。   In the present invention, by providing an appropriate surface area such that the spread area ratio Sdr of the M surface or the S surface to be a laser-processed surface is 25 to 120%, direct laser processing without browning becomes possible. Found out. In addition, the etching factor can be improved by forming the roughened layer on the electrolytic deposition initiation surface in the process of manufacturing the electrodeposited copper foil.

レーザー吸収層形成のためのめっき浴組成としては、硫酸銅5水和物、硫酸、ヒドロキシエチセルロース(HEC)、ポリエチレングリコール(PEG)、チオ尿素などを添加することができる。電流値の異なるプラスのパルス電流を2段階で加えることにより、対応する2段階の析出電位に応じて作用する添加物が変化し、複雑な凹凸形状を形成することできる。これによって、レーザー吸収性にすぐれる析出面が得られる。具体的には、1段階の電流値(Ion1)>2段階の電流値(Ion2)となる階段状のパルス電流において、1段階の電流値(Ion1)または1段階の時間(ton1)を増加させると、M面のSdrが増加する傾向にある。このような2段階のパルス電流を一定の時間間隔(toff)で加えることにより、レーザー加工性のよいSdr値を有する表面形状を得ることができる。 The plating bath composition for laser absorption layer formation, may be added copper sulfate pentahydrate, sulfuric acid, hydroxyethyl Le cellulose (HEC), polyethylene glycol (PEG), such as thiourea. By applying positive pulse currents having different current values in two steps, the additives acting in response to the corresponding two steps of the deposition potential can be changed to form a complicated uneven shape. This provides a deposition surface with excellent laser absorptivity. Specifically, one step current value (Ion1) or one step time (ton1) is increased in the step-like pulse current in which one step current value (Ion1)> two step current value (Ion2) And, there is a tendency for Sdr of M surface to increase. By applying such a two-step pulse current at a constant time interval (toff), it is possible to obtain a surface shape having a good laser processability Sdr value.

Sdrが25〜120%の範囲であるときにレーザー加工性が向上する。この様な箔は表面処理銅箔表面に約2μm以下の微細な凹凸形状を有し、レーザー光の吸収性が増加する。Sdrが25%未満ではレーザー光の吸収が悪くレーザー加工性が悪い。Sdrが120%より大きいとCO2レーザーの波長の光の吸収率が低下しレーザー加工性が低下する。また、パルス電流の時間間隔(toff)を増加すると、Yxy表色系においてYが減少する。Sdrが25〜120%の範囲であり、かつYxy表色系において、Yが15.0〜85.0%の範囲であるとレーザー加工性が良好となる。Yが15%未満である、または85%より大きいとレーザー加工性が低下する傾向にある。Sdrが増加するとレーザー開口数が増加する傾向にあり、Y値が減少することでレーザー開口数が増加する傾向にある。レーザー照射面はSdrが25〜120%の範囲であり、かつYxy表色系においてYが25.0〜65.5%、xが0.30〜0.48%、yが0.28〜0.41%であるとレーザー加工性が特によい。   When Sdr is in the range of 25 to 120%, laser processability is improved. Such a foil has a fine uneven shape of about 2 μm or less on the surface-treated copper foil surface, and the absorbability of laser light is increased. If the Sdr is less than 25%, the absorption of laser light is poor and the laser processability is poor. When the Sdr is greater than 120%, the absorptivity of the light of the wavelength of the CO 2 laser is reduced and the laser processability is reduced. In addition, when the time interval (toff) of the pulse current is increased, Y decreases in the Yxy color system. When the Sdr is in the range of 25 to 120% and the Y in the Yxy color system is in the range of 15.0 to 85.0%, the laser processability is good. If Y is less than 15% or more than 85%, laser processability tends to be reduced. As Sdr increases, the laser numerical aperture tends to increase, and as the Y value decreases, the laser numerical aperture tends to increase. The laser irradiation surface has an Sdr in the range of 25 to 120%, and in the Yxy color system, the laser processability is particularly good when Y is 25.0 to 65.5%, x is 0.30 to 0.48%, and y is 0.28 to 0.41%. .

<粗化処理層の形成>
銅箔のレーザー加工面と反対側の面上に、微細な銅粒子の電析により、微細凹凸表面をもつ粗化処理層を形成する。粗化処理層は電気メッキにより形成するが、メッキ浴にキレート剤を添加することが好ましく、キレート剤の濃度は0.1〜5g/Lが適当である。キレート剤としてはDL-りんご酸、EDTAナトリウム溶液、グルコン酸ナトリウム、ジエチレントリアミン五酢酸五ナトリウム(DTPA)などのキレート剤などが挙げられる。
<Formation of roughened layer>
On the surface of the copper foil opposite to the laser-processed surface, a roughened layer having a fine uneven surface is formed by electrodeposition of fine copper particles. The roughened layer is formed by electroplating, but it is preferable to add a chelating agent to the plating bath, and the concentration of the chelating agent is preferably 0.1 to 5 g / L. The chelating agent may, for example, be a chelating agent such as DL-malic acid, sodium EDTA solution, sodium gluconate or disodiumtriaminepentaacetic acid pentasodium (DTPA).

電解浴には、硫酸銅、硫酸およびモリブデンを添加してもよい。モリブデンを添加することでエッチング性を高めることができる。通常、銅濃度として13〜72g/L、硫酸濃度として26〜133g/L、液温として18〜67℃、電流密度として3〜67A/dm2、処理時間として1秒〜1分55秒の条件で電析が行われる。 Copper sulfate, sulfuric acid and molybdenum may be added to the electrolytic bath. The etchability can be enhanced by adding molybdenum. Usually, conditions of 13 to 72 g / L as copper concentration, 26 to 133 g / L as sulfuric acid concentration, 18 to 67 ° C. as liquid temperature, 3 to 67 A / dm 2 as current density, 1 second to 1 minute 55 seconds as treatment time Electrodeposition is performed.

<ニッケル層、亜鉛層、クロメート処理層の形成>
本発明では、粗化処理面の上に更にニッケル層、亜鉛層をこの順で形成することが好ましい。この亜鉛層は、薄銅箔と樹脂基板を熱圧着したときに、薄銅箔基板樹脂との反応による該基板樹脂の劣化や薄銅箔の表面酸化を防止して基板との接合強度を高める働きをする。またニッケル層は、樹脂基板への熱圧着時に該亜鉛層の亜鉛が銅箔(電解銅めっき層)側へ熱拡散することを防止し、もって亜鉛層の上記機能を有効に発揮させるための亜鉛層の下地層としての働きをする。
なお、これらのニッケル層や亜鉛層は、公知の電解めっき法や無電解めっき法を適用して形成することができる。また、該ニッケル層は純ニッケルで形成してもよいし、含リンニッケル合金で形成してもよい。
<Formation of nickel layer, zinc layer, chromate treated layer>
In the present invention, it is preferable to further form a nickel layer and a zinc layer in this order on the roughened surface. When the thin copper foil and the resin substrate are thermocompression-bonded, this zinc layer prevents the deterioration of the substrate resin due to the reaction with the thin copper foil substrate resin and the surface oxidation of the thin copper foil, thereby enhancing the bonding strength with the substrate. To work. In addition, the nickel layer prevents the zinc of the zinc layer from being thermally diffused to the copper foil (electrolytic copper plating layer) side at the time of thermocompression bonding to a resin substrate, thereby effectively exhibiting the above function of the zinc layer. Acts as a base layer for the layer.
The nickel layer and the zinc layer can be formed by applying a known electrolytic plating method or electroless plating method. In addition, the nickel layer may be formed of pure nickel or may be formed of a phosphorus-containing nickel alloy.

また、亜鉛層の表面に更にクロメート処理を行うと、該表面に酸化防止層が形成されるので好ましい。適用するクロメート処理としては、公知の方法に従えばよく、例えば、特開昭60−86894号公報に開示されている方法をあげることができる。クロム量に換算して0.01〜0.3mg/dm2程度のクロム酸化物とその水和物などを付着させることにより、銅箔に優れた防錆能を付与することができる。 Further, if the surface of the zinc layer is further subjected to chromate treatment, an antioxidant layer is preferably formed on the surface. The chromate treatment to be applied may be according to a known method, for example, the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-86894. By attaching about 0.01 to 0.3 mg / dm 2 of chromium oxide and its hydrate or the like in terms of chromium amount, it is possible to impart an excellent antirust ability to the copper foil.

<シラン処理>
また、前記のクロメート処理した表面に対し更にシランカップリング剤を用いた表面処理を行うと、銅箔表面(基板との接合側の表面)には接着剤との親和力の強い官能基が付与されるので、該銅箔と基板との接合強度は一層向上し、銅箔の防錆性,吸湿耐熱性を更に向上するので好適である。
<Silane treatment>
In addition, when the surface treated with a silane coupling agent is further applied to the above-mentioned chromate-treated surface, a functional group having a strong affinity with the adhesive is given to the copper foil surface (surface on the bonding side with the substrate). Therefore, the bonding strength between the copper foil and the substrate is further improved, and the corrosion resistance and moisture absorption heat resistance of the copper foil are further improved, which is preferable.

シランカップリング剤としては、ビニル系シラン、エポキシ系シラン、スチリル系シラン、メタクリロキシ系シラン、アクリロキシ系シラン、アミノ系シラン、ウレイド系シラン、クロロプロピル系シラン、メルカプト系シラン、スルフィド系シラン、イソシアネート系シランなどをあげることができる。これらのシランカップリング剤は通常0.001〜5%の水溶液にし、これを銅箔の表面に塗布したのちそのまま加熱乾燥すればよい。なお、シランカップリング剤に代えて、チタネート系,ジルコネート系などのカップリング剤を用いても同様の効果を得ることができる。    As a silane coupling agent, vinyl based silane, epoxy based silane, styryl based silane, methacryloxy based silane, acryloxy based silane, amino based silane, ureido based silane, chloropropyl based silane, mercapto based silane, sulfide based silane, isocyanate based Silane etc. can be mentioned. These silane coupling agents are usually made into an aqueous solution of 0.001 to 5%, which may be coated on the surface of a copper foil and then dried by heating as it is. The same effect can be obtained by using a titanate-based or zirconate-based coupling agent instead of the silane coupling agent.

(3)銅張積層板の製造
最初にガラスエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などから成る電気絶縁性の基板の表面に、薄銅箔の銅箔面(粗化処理層面)を重ねて置き、加熱・加圧してキャリア付きまたはキャリア無しの銅張積層板を製造する。本発明の表面処理銅箔は常態および加熱後の引張強度が高いためキャリア無しでも十分対応することができる。次いで、銅張積層板の表面処理銅箔表面にCO2ガスレーザーを照射して穴あけを行う。すなわち、表面処理銅箔のレーザー吸収層が形成されている面からCO2ガスレーザーを照射して、表面処理銅箔及び樹脂基板を貫通する穴あけ加工を行う。
(3) Production of copper-clad laminate First, the copper foil surface (roughened layer surface) of thin copper foil is superimposed on the surface of an electrically insulating substrate made of glass epoxy resin, polyimide resin, etc., and heated and heated. The carrier is pressed to produce a copper clad laminate with or without carrier. The surface-treated copper foil of the present invention has a high tensile strength in the normal state and after heating and can sufficiently cope with no carrier. Next, the surface treated copper foil surface of the copper clad laminate is irradiated with CO 2 gas laser to make holes. That is, CO2 gas laser is irradiated from the surface in which the laser absorption layer of surface-treated copper foil is formed, and the drilling process which penetrates surface-treated copper foil and a resin substrate is performed.

以下実施例により本発明を詳細に説明する。
(1)銅箔の製造とレーザー吸収層の形成
表1に示される電解液、電流密度、浴温のカソード還元工程と表2に示される電解条件による電解析出工程により実施例1〜21及び比較例1〜9の電解銅箔を製造した。これらの電解銅箔をそれぞれ表3に示す組成を有するめっき浴、処理面及び電解条件(パルス電圧のパルス幅、電流密度、時間、浴温)において、電解めっき処理によりレーザー吸収層を形成した。また実施例22では交流電流によりレーザー吸収層を形成し、実施例23ではメックエッチボンドCZ−8000処理でレーザー吸収層を形成した。なお、表3中の電解条件において、Ion1は、1段階目のパルス電流密度を表し、Ion2は、2段階目のパルス電流密度を表し、ton1は、1段階目のパルス電流印加時間を表し、ton2は、2段階目のパルス電流印加時間を表し、toffは、2段階のパルス電流と1段階目のパルス電流の間の電流を0とする時間を表している。また、レーザー吸収層の形成面は表4に示される粗化処理面と反対側の面であり、実施例1〜19、22~23及び比較例4、6~8ではM面にレーザー吸収層を形成(S面に粗化処理を行う)し、実施例20および21、比較例9ではS面にレーザー吸収層を形成(M面に粗化処理を行う)した。比較例1〜3及び5は、レーザー吸収層を形成しなかった。
The present invention will be explained in detail by the following examples.
(1) Production of copper foil and formation of laser absorption layer Examples 1-21 were carried out according to the electrolytic solution shown in Table 1, the current density, the cathode reduction process of the bath temperature and the electrolytic deposition process under the electrolytic conditions shown in Table 2. The electrolytic copper foils of Comparative Examples 1 to 9 were produced. A laser absorption layer was formed by electrolytic plating in a plating bath, a treated surface and electrolytic conditions (pulse width of pulse voltage, current density, time, bath temperature) having the composition shown in Table 3 for each of these electrolytic copper foils. In Example 22, a laser absorption layer was formed by alternating current, and in Example 23, a laser absorption layer was formed by MEC etch bond CZ-8000 treatment. Under the electrolysis conditions in Table 3, Ion1 represents the pulse current density in the first stage, Ion2 represents the pulse current density in the second stage, and ton1 represents the pulse current application time in the first stage, ton2 denotes the second stage of the pulse current application time, toff is the current between the second stage of the pulse current and the first stage of the pulse current represents the time to zero. The surface on which the laser absorption layer is formed is the surface opposite to the roughened surface shown in Table 4, and in Examples 1 to 19 and 22 to 23 and Comparative Examples 4 and 6 to the laser absorption layer on the M surface (S surface is roughened), and in Examples 20 and 21 and Comparative Example 9, a laser absorbing layer is formed on S surface (M surface is roughened). Comparative Examples 1 to 3 and 5 did not form a laser absorption layer.

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(2)粗化処理
次に、レーザー吸収層の反対側の面(表4に示される粗化処理面)に粗化粒子の電析により、微細凹凸表面をもつ粗化処理層を形成した。全ての実施例及び比較例において下記に示す粗面化めっき処理の手順で行い、粗化処理層を形成した。
(粗面化めっき処理)
硫酸銅:銅濃度として13〜72g/L
硫酸濃度:26〜133g/L
DL-りんご酸:0.1〜5.0g/L
液温:18〜67℃
電流密度:3〜67A/dm2
処理時間:1秒〜1分55秒
(2) Roughening treatment Next, a roughening treatment layer having a fine uneven surface was formed by electrodeposition of roughening particles on the opposite surface of the laser absorption layer (roughening treatment surface shown in Table 4). The roughening treatment layer was formed by the procedure of the roughening plating treatment described below in all the examples and comparative examples.
(Roughened plating treatment)
Copper sulfate: 13 to 72 g / L as copper concentration
Sulfuric acid concentration: 26 to 133 g / L
DL-malic acid: 0.1 to 5.0 g / L
Liquid temperature: 18 to 67 ° C
Current density: 3 to 67 A / dm 2
Processing time: 1 second to 1 minute 55 seconds

(3)Niを含有する下地層の形成
全ての実施例1〜23及び比較例1〜9について、上記粗化処理層の形成後、粗化処理層上に、下記に示すNiめっき条件で電解めっきすることにより下地層(Niの付着量0.06mg/dm2)を形成した。
<Niめっき条件>
硫酸ニッケル: ニッケル金属として5.0g/L
過硫酸アンモニウム40.0g/L
ほう酸28.5g/L
電流密度1.5A/dm2
pH 3.8
温度28.5℃
時間1秒〜2分
(3) Formation of Ni-Containing Base Layer In all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9, after the formation of the roughening treatment layer, electrolysis is performed on the roughening treatment layer under the Ni plating conditions shown below. A base layer (the adhesion amount of Ni: 0.06 mg / dm 2 ) was formed by plating.
<Ni plating conditions>
Nickel sulfate: 5.0 g / L as nickel metal
Ammonium persulfate 40.0 g / L
Boric acid 28.5 g / L
Current density 1.5A / dm 2
pH 3.8
Temperature 28.5 ° C
1 second to 2 minutes

(4)Znを含有する耐熱処理層の形成
全ての実施例1〜23及び比較例1〜9について、上記下地層の形成後、この下地層上に、下記に示すZnめっき条件で電解めっきすることにより耐熱処理層(Znの付着量:0.05mg/dm2)を形成した。
<Znめっき条件>
硫酸亜鉛7水和物1〜30g/L
水酸化ナトリウム10〜300g/L
電流密度0.1〜10A/dm2
温度5〜60℃
時間1秒〜2分
(4) Formation of heat-resistant treated layer containing Zn In all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9, after the formation of the above-mentioned underlayer, electrolytic plating is performed on this underlayer under the following Zn plating conditions Thus, a heat-resistant layer (the adhesion amount of Zn: 0.05 mg / dm 2 ) was formed.
<Zn plating conditions>
Zinc sulfate heptahydrate 1 to 30 g / L
Sodium hydroxide 10 to 300 g / L
Current density 0.1 to 10 A / dm 2
Temperature 5-60 ° C
1 second to 2 minutes

(5)Crを含有する防錆処理層の形成
全ての実施例1〜23及び比較例1〜9について、上記耐熱処理層の形成後、この耐熱処理層上に、下記に示すクロムめっき処理条件で処理することにより防錆処理層(Crの付着量:0.02mg/dm2)を形成した。
<クロムめっき条件>
(クロムめっき浴)
無水クロム酸CrO3 2.5g/L
pH 2.5
電流密度0.5A/dm2
温度15〜45℃
時間1秒〜2分
(5) Formation of Anticorrosion Treatment Layer Containing Cr For all the Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9, after the formation of the heat resistance treatment layer, the chromium plating treatment conditions shown below on this heat resistance treatment layer The rustproofing treatment layer (Cr adhesion amount: 0.02 mg / dm 2 ) was formed by treatment with
<Chromium plating conditions>
(Chrome plating bath)
Chromic anhydride CrO3 2.5 g / L
pH 2.5
Current density 0.5A / dm 2
Temperature 15-45 ° C
1 second to 2 minutes

(6)シランカップリング剤層の形成
全ての実施例1〜23及び比較例1〜9について、防錆処理層の形成後、この防錆処理層上に、シランカップリング剤水溶液にメタノールまたはエタノールを添加し、所定のpHに調整した処理液を塗布した。その後、所定の時間保持してから温風で乾燥させることにより、シランカップリング剤層を形成した。
(6) Formation of Silane Coupling Agent Layer For all Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9, after formation of the rustproofing layer, methanol or ethanol in a silane coupling agent aqueous solution is formed on the rustproofing layer. Was applied, and the treatment liquid adjusted to a predetermined pH was applied. Thereafter, the silane coupling agent layer was formed by holding for a predetermined time and then drying with warm air.

(7)評価方法
<箔厚>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔の厚みを電子天秤により質量厚さとして測定した。結果を表1に示した。
(7) Evaluation method <foil thickness>
The thickness of the surface-treated copper foils of all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5) was measured as a mass thickness by an electronic balance. The results are shown in Table 1.

<引張強度>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔を12.7×130mmの大きさに切り出し、室温においてインストロン社の1122型引張試験機試験装置により常態における銅箔の引張強度を測定した。また、12.7×130mmに切り出した銅箔を220℃で2時間加熱した後に常温まで自然冷却した後、同様に加熱後の引張強度を測定した。測定はIPC−TM−650に準拠した。結果を表4に示した。
<Tensile strength>
The surface-treated copper foils of all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5) are cut into a size of 12.7 × 130 mm and The tensile strength of the copper foil in the normal state was measured by an 1122 tensile tester. Moreover, after heating the copper foil cut out to 12.7x130 mm at 220 degreeC for 2 hours and naturally cooling to normal temperature, the tensile strength after heating was similarly measured. The measurement conformed to IPC-TM-650. The results are shown in Table 4.

<展開面積比>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔について、BRUKER社のWykoContourGT−Kを用いて表面形状を測定し、形状解析を行い、展開面積比(Sdr)を求めた。形状解析はVSI測定方式でハイレゾCCDカメラを使用し、光源が白色光、測定倍率が10倍、測定範囲が477μm×357.8μm、LateralSamplingが0.38μm、speedが1、Backscanが5μm、Lengthが5μm、Thresholdが5%の条件により行い、TermsRemovalのフィルタ処理をしたあとデータ処理を行なった。結果を表4に示した。
<Expansion area ratio>
The surface shape of each of the surface-treated copper foils of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5) was measured using WykoContour GT-K manufactured by BRUKER, and shape analysis was performed. And the developed area ratio (Sdr) was determined. Shape analysis uses a high resolution CCD camera with VSI measurement method, the light source is white light, measurement magnification is 10 times, measurement range is 477 μm × 357.8 μm, Lateral Sampling is 0.38 μm, speed is 1, Backscan is 5 μm, Length is It was performed under the conditions of 5 μm and Threshold of 5%, and data processing was performed after filtering processing of TermsRemoval. The results are shown in Table 4.

<Yxy表色系>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の銅箔のYxy表色系においてY,x、yをカラーメータSM-T45(スガ試験機株式会社)によって45°照明0°受光、光源C光2度視野(ハロゲンランプ)を用いて測定することができる。結果を表4に示した。
<Yxy color system>
In the Yxy color system of the copper foils of all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5), Y, x, y were measured using a color meter SM-T 45 (Suga Test Instruments Can be measured using a 45.degree. Illumination 0.degree. Light reception, a light source C light double field of view (halogen lamp). The results are shown in Table 4.

<ピンホール>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔を200mm×200mmの大きさに切断し、光透過法でピンホールをマーキングした。200mm×200mmサイズの表面処理銅箔を5枚(計0.2m2)について、光学顕微鏡で直径を確認し30μm以上の穴をピンホールとしてカウントした。光学顕微鏡で観察されるピンホールは円形のものや不定形のものがあるが、いずれもピンホールの長径(ピンホールの外周上で最も離れた2点間の距離)を直径として測定した。得られたピンホールの数に基づいて単位面積(m2)当たりのピンホールの数(個/m2)を算出した結果を表4に示した。
<Pinhole>
The surface-treated copper foils of all Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5) are cut into a size of 200 mm × 200 mm, and pinholes are marked by a light transmission method. did. The diameter of five surface-treated copper foils (total 0.2 m 2 ) of 200 mm × 200 mm size was confirmed with an optical microscope, and holes of 30 μm or more were counted as pinholes. The pinholes observed by an optical microscope are either circular or irregular, and in each case, the major diameter of the pinhole (the distance between two points farthest apart on the outer periphery of the pinhole) was measured as the diameter. The result of calculating the number (pieces / m 2) of pinholes per unit area (m 2) based on the number of the resulting pinhole shown in Table 4.

Figure 0006529684
Figure 0006529684

<エッチングファクタ>
次に、上記処理(1)〜(6)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔にドライレジストフィルムを使用してドライエッチングによりL&S=100μm/200μmの線/間隔のレジストパターンを形成した。エッチング液として塩化銅と塩酸を使用して配線パターンのエッチングを行った後、エッチングファクタを測定した。エッチングファクター(Ef)とは、表面処理銅箔の箔厚をH、形成された配線パターンのボトム幅をB.形成された配線パターンのトップ幅をTとするときに、次式で示される値をいう。
Ef=2H/(B−T)
<Etching factor>
Next, a dry resist film is used for the surface-treated copper foils of all of Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (6), and dry etching is used to obtain L & S = 100 μm / 200 μm. A resist pattern of lines / spaces of After etching the wiring pattern using copper chloride and hydrochloric acid as an etching solution, the etching factor was measured. The etching factor (Ef) is a value represented by the following equation when the foil thickness of the surface treated copper foil is H, the bottom width of the formed wiring pattern is B. and the top width of the formed wiring pattern is T. Say
Ef = 2H / (B-T)

エッチングファクタ―が小さいと、配線パターンにおける側壁の垂直性が崩れ、線幅が狭い微細な配線パターンの場合に断線に結び付く危険性がある。本実施例ではジャストエッチ(レジスト端部と銅箔パターンのボトムがそろう)位置となったときのパターンについて、マイクロースコープでボトム幅とトップ幅を測定しエッチングファクタを算出した。結果を表4に示した。   If the etching factor is small, the verticality of the side walls in the wiring pattern is broken, and in the case of a fine wiring pattern having a narrow line width, there is a risk of disconnection. In this example, the bottom width and the top width were measured with a microscope to calculate the etching factor with respect to the pattern at the just-etched position (the resist end and the bottom of the copper foil pattern are aligned). The results are shown in Table 4.

<レーザー開口数>
上記処理により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔2枚を基板FR4両面に加熱、加圧接合してCCL(銅張積層板)を作製した。次に、CO2レーザー穴あけ加工機により、100ショットのレーザー穴あけ加工を行い開口した数をカウントした。照射エネルギーが50Wの場合と、8Wの場合についてそれぞれの一定の照射時間10msec照射することにより開口した数を表4に示した。照射エネルギーが低い8Wの場合においても、開口数の減少が少ないものは高いレーザー加工性を有するものとして評価することができる。
<Laser numerical aperture>
Heating all of the surface-treated copper foil two Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1-9 obtained by the above process on both sides of the substrate FR4, to prepare a CCL (copper clad laminate) by bonding under pressure. Next, 100 shots of laser drilling were performed with a CO 2 laser drilling machine, and the number of holes opened was counted. Table 4 shows the number of openings for irradiation with a constant irradiation time of 10 msec for the cases of the irradiation energy of 50 W and 8 W. Even in the case of 8 W where the irradiation energy is low, those with a small decrease in the numerical aperture can be evaluated as having high laser processability.

<ハンドリング性:シワ不良数>
上記処理(1)〜(5)により得られた全ての実施例1〜23及び比較例1〜9の表面処理銅箔を200mm×200mmの大きさに切断し、表面処理銅箔と基板FR4を170℃、1.5MPa(圧力)で1時間加熱、加圧接合し、30枚の基板を作製し、目視でシワを確認して、シワのあった基板をシワ不良数1枚としてカウントすることによりシワ不良は発生した数を表4に示した。これにより表面処理銅箔のハンドリング性を評価した。
<Handling property: number of wrinkles defects>
The surface-treated copper foils of all Examples 1 to 23 and Comparative Examples 1 to 9 obtained by the above treatments (1) to (5) are cut into a size of 200 mm × 200 mm, and the surface-treated copper foil and the substrate FR4 Heat and pressure bond at 170 ° C and 1.5MPa (pressure) for 1 hour, prepare 30 substrates, check the wrinkles visually and count the wrinkled substrates as 1 wrinkle defect Table 4 shows the number of wrinkle defects that occurred. This evaluated the handling property of surface-treated copper foil.

表4からわかるように、実施例1〜23は全て引張強度が400〜700MPaであり、220℃で2時間加熱後の引張強度が300MPa以上であり、箔厚が7μm以下であり、レーザー照射面の展開面積比(Sdr)が25〜120%を満たしており、評価結果に示されるように、ピンホール数が20以下、Efが2.0以上、8Wでのレーザー開口数が90以上、シワ不良数3以下であり、ピンホールが少なく、レーザー加工性に優れ、ハンドリング性にも優れることがわかる。   As can be seen from Table 4, all Examples 1 to 23 have a tensile strength of 400 to 700 MPa, a tensile strength of 300 MPa or more after heating at 220 ° C. for 2 hours, a foil thickness of 7 μm or less, and a laser irradiated surface The development area ratio (Sdr) of the glass satisfies 25 to 120%, and as shown in the evaluation results, the number of pinholes is 20 or less, Ef is 2.0 or more, laser numerical aperture at 8 W is 90 or more, wrinkles It is understood that the number of defects is 3 or less, the number of pinholes is small, the laser processability is excellent, and the handleability is also excellent.

これに対して、比較例1〜9は、引張強度が400〜700MPa、220℃で2時間加熱後の引張強度が300MPa以上を満たしているが、比較例2,3,5〜7,9はレーザー照射面の展開面積比(Sdr)が25〜120%を満たしていないために、全て8Wでのレーザー開口数が90未満でありレーザー開口性が良くないことがわかる。また、比較例1および4は表面処理銅箔の製造条件によりピンホールの発生が20を超えており、比較例8は箔厚が9μmのためレーザー開口性が良くないことがわかる。   On the other hand, in Comparative Examples 1 to 9, the tensile strength is 400 to 700 MPa and the tensile strength after heating at 220 ° C. for 2 hours satisfies 300 MPa or more, but Comparative Examples 2, 3, 5 to 7 and 9 are It can be seen that the laser numerical aperture at all at 8 W is less than 90 and the laser aperture property is not good because the spread area ratio (Sdr) of the laser irradiation surface does not satisfy 25 to 120%. Further, Comparative Examples 1 and 4 show that the occurrence of pinholes exceeds 20 depending on the manufacturing conditions of the surface-treated copper foil, and Comparative Example 8 has a poor foil thickness of 9 μm and therefore the laser aperture property is not good.

上記の評価結果に基づいて、実施例1〜21及び比較例1〜9の表面処理銅箔について、照射エネルギーが8Wの場合の開口数とピンホールの発生数の関係を図3のグラフに示した。図3から明確にわかるように、実施例の表面処理銅箔は開口数が多く、ピンホールの発生が少なくレーザー加工性に優れているのに対して、比較例の表面処理銅箔では、開口数が少ないか、またはピンホールの発生が多く、レーザー加工性が劣ることがわかる。   Based on the above evaluation results, for the surface-treated copper foils of Examples 1 to 21 and Comparative Examples 1 to 9, the relationship between the numerical aperture and the number of pinholes generated when the irradiation energy is 8 W is shown in the graph of FIG. The As clearly shown in FIG. 3, the surface-treated copper foil of the example has a large numerical aperture, is less likely to generate pinholes, and is excellent in laser processability, whereas the surface-treated copper foil of the comparative example has an opening. It can be seen that the number is small or the occurrence of pinholes is large and the laser processability is inferior.

また、上記の評価結果に基づいて、実施例1〜21及び比較例1〜9の表面処理銅箔について、常態における引張強度とピンホールの発生数の関係を図3のグラフに示した。図3から明確にわかるように、実施例の表面処理銅箔は開口数が多く、ピンホールの発生が少なくレーザー加工性に優れているのに対して、比較例の表面処理銅箔では、開口数が少ないか、またはピンホールの発生が多く、レーザー加工性が劣ることがわかる。   Moreover, based on said evaluation result, the graph of FIG. 3 showed the relationship between the tensile strength in the normal state, and the generation number of a pinhole about the surface-treated copper foil of Examples 1-21 and Comparative Examples 1-9. As clearly shown in FIG. 3, the surface-treated copper foil of the example has a large numerical aperture, is less likely to generate pinholes, and is excellent in laser processability, whereas the surface-treated copper foil of the comparative example has an opening. It can be seen that the number is small or the occurrence of pinholes is large and the laser processability is inferior.

本発明によれば、引張強度が高く、線間や線幅が微細化され、エッチング性、レーザー加工性及び薄箔ハンドリング性に優れ、かつピンホールの少ない表面処理銅箔を提供することができ、産業上の利用可能性が高い。 According to the present invention, high tensile strength, the line and the line width is fine, etching resistance, excellent laser processability and Usuhaku handling properties, and to provide a small yet front surface treated copper foil of the pinhole The potential for industrial use is high.

101 析出銅箔
102 ドラム
103 バフ装置
105 カソード還元装置
106 電解液
101 Deposited copper foil 102 drum 103 buff apparatus 105 cathode reduction apparatus 106 electrolyte

Claims (4)

ダイレクトレーザー加工により加工される回路用表面処理銅箔であって、常態における引張強度が400〜700MPaであり、220℃で2時間加熱後に常温で測定した引張強度が300MPa以上であり、箔厚が7μm以下であり、少なくとも一方の面の展開面積比(Sdr)が25〜120%であり、かつレーザー照射面がYxy表色系においてYが25.0〜65.5%、xが0.30〜0.48%、yが0.28〜0.41%を有する回路用表面処理銅箔。   A surface-treated copper foil for circuits processed by direct laser processing, which has a tensile strength of 400 to 700 MPa in a normal state, a tensile strength of 300 MPa or more measured at normal temperature after heating at 220 ° C. for 2 hours, and a foil thickness 7 μm or less, developed area ratio (Sdr) of at least one surface is 25 to 120%, and Y is 25.0 to 65.5%, x is 0.30 to 0.48% in the Yxy color system for the laser irradiated surface Surface treated copper foil for circuits having 0.28 to 0.41%. 直径30μm以上のピンホールの数が20個/m2以下である請求項に記載の回路用表面処理銅箔。 The surface-treated copper foil for a circuit according to claim 1 , wherein the number of pinholes having a diameter of 30 μm or more is 20 or less per m 2 . 直径30μm以上のピンホールの数が10個/m2以下である請求項に記載の回路用表面処理銅箔。 The surface-treated copper foil for a circuit according to claim 1 , wherein the number of pinholes having a diameter of 30 μm or more is 10 / m 2 or less. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の回路用表面処理銅箔を含み、該表面処理銅箔の粗化処理層側の面に、絶縁基板を有する銅張積層板。 The copper clad laminated board which has a surface-treated copper foil for circuits of any one of Claims 1-3 , and has an insulating substrate in the surface at the side of the roughening process layer of this surface-treated copper foil.
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