JP6517664B2 - 読み出し回路 - Google Patents
読み出し回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6517664B2 JP6517664B2 JP2015211886A JP2015211886A JP6517664B2 JP 6517664 B2 JP6517664 B2 JP 6517664B2 JP 2015211886 A JP2015211886 A JP 2015211886A JP 2015211886 A JP2015211886 A JP 2015211886A JP 6517664 B2 JP6517664 B2 JP 6517664B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- current
- output
- photon counting
- photoelectric conversion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 37
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 27
- 238000010791 quenching Methods 0.000 claims description 11
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 2
- RFVFQQWKPSOBED-PSXMRANNSA-N 1-myristoyl-2-palmitoyl-sn-glycero-3-phosphocholine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(=O)O[C@@H](COP([O-])(=O)OCC[N+](C)(C)C)COC(=O)CCCCCCCCCCCCC RFVFQQWKPSOBED-PSXMRANNSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002028 premature Effects 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K23/00—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains
- H03K23/78—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains using opto-electronic devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/02016—Circuit arrangements of general character for the devices
- H01L31/02019—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02027—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for devices working in avalanche mode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/18—Measuring radiation intensity with counting-tube arrangements, e.g. with Geiger counters
Description
図8は、上記実施形態の一変形例に係る読み出し回路5Bの構成を示す図である。読み出し回路5Bと上記実施形態との相違点は、カレントミラー回路の構成である。読み出し回路5Bが有するカレントミラー回路55は、光電変換素子1Aの配線21と電気的に接続されており、複数のピクセル10からの出力電流S0を受ける。そして、カレントミラー回路55は、出力電流S0に比例する大きさのN個(Nは3以上の整数)の電流S(1)〜S(N)を出力する。出力電流S0に対するN個の電流S(1)〜S(N)の比率は互いに異なる。フォトンカウンティング回路52は、N個の電流S(1)〜S(N)のうち一の電流を第1の電流S1として選択的に入力する。積分回路53は、N個の電流S(1)〜S(N)のうち、フォトンカウンティング回路52に入力されるものとは異なる一の電流を第2の電流S2として選択的に入力する。なお、フォトンカウンティング回路52及び積分回路53とカレントミラー回路55のN個の出力端とは、互いに切り替え可能に構成されている。
Claims (3)
- アバランシェフォトダイオードをそれぞれ含む複数のピクセルにおいて発生する電流を一括して出力する光電変換素子からの出力電流を読み出す回路であって、
前記出力電流を受け、前記出力電流に比例する大きさの第1及び第2の電流を出力するカレントミラー回路と、
前記第1の電流に基づいて、前記光電変換素子に入射した光子の計数を行うフォトンカウンティング回路と、
前記第2の電流を積分して電圧信号を生成する積分回路と、
前記フォトンカウンティング回路から出力された計数結果、及び前記積分回路から出力された前記電圧信号の大きさに基づいて、前記光電変換素子に入射した光の大きさを判断する信号処理部と、
を備え、
前記カレントミラー回路は、前記出力電流に比例する大きさのN個(Nは3以上の整数)の電流を出力し、
前記フォトンカウンティング回路及び前記積分回路と前記カレントミラー回路のN個の出力端とは、互いに切り替え可能であり、
前記フォトンカウンティング回路は、前記N個の電流のうち一の電流を前記第1の電流として入力し、
前記積分回路は、前記N個の電流のうち前記フォトンカウンティング回路に入力される電流とは異なる一の電流を前記第2の電流として入力する、読み出し回路。 - 前記出力電流に対する前記N個の電流の比率が互いに異なる、請求項1に記載の読み出し回路。
- 各ピクセルの前記アバランシェフォトダイオードは、クエンチング抵抗を介して信号読出用の配線と電気的に接続されている、請求項1または2に記載の読み出し回路。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015211886A JP6517664B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 読み出し回路 |
US15/335,588 US9989657B2 (en) | 2015-10-28 | 2016-10-27 | Readout circuit |
CN201610955356.XA CN106921387B (zh) | 2015-10-28 | 2016-10-27 | 读取电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015211886A JP6517664B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 読み出し回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017083298A JP2017083298A (ja) | 2017-05-18 |
JP6517664B2 true JP6517664B2 (ja) | 2019-05-22 |
Family
ID=58637455
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015211886A Active JP6517664B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 読み出し回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9989657B2 (ja) |
JP (1) | JP6517664B2 (ja) |
CN (1) | CN106921387B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7271091B2 (ja) | 2018-05-10 | 2023-05-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 裏面入射型半導体光検出装置 |
JP7152912B2 (ja) | 2018-09-06 | 2022-10-13 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置及び撮像システム |
CN109471154B (zh) * | 2018-11-09 | 2020-03-17 | 中国核动力研究设计院 | 一种小型gm计数管宽量程监测仪表 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0718757B2 (ja) * | 1989-12-11 | 1995-03-06 | アロカ株式会社 | 光子計数測光装置 |
JP2567908Y2 (ja) * | 1992-03-24 | 1998-04-08 | 横河電機株式会社 | 光量センサ |
JP3329680B2 (ja) * | 1996-05-16 | 2002-09-30 | 株式会社デンソー | 光センサ |
JP2001027567A (ja) * | 1999-07-13 | 2001-01-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 光計測装置 |
JP2006020172A (ja) * | 2004-07-02 | 2006-01-19 | Fujitsu Ltd | ランプ波形発生回路、アナログ・デジタル変換回路、撮像装置、撮像装置の制御方法 |
WO2006037248A1 (en) * | 2004-10-05 | 2006-04-13 | Tecan Trading Ag | Combining photon counting and analog detection |
RU2411542C2 (ru) * | 2005-04-22 | 2011-02-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Цифровой кремниевый фотоумножитель для врп-пэт |
US7512210B2 (en) | 2007-03-27 | 2009-03-31 | General Electric Company | Hybrid energy discriminating charge integrating CT detector |
WO2009014155A1 (en) * | 2007-07-25 | 2009-01-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and electronic device having the same |
CN101779144B (zh) * | 2007-08-03 | 2013-09-04 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于从撞击x射线光子生成可计数脉冲的设备和方法以及对应的成像装置 |
JP2010004025A (ja) * | 2008-05-21 | 2010-01-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置、及び当該光電変換装置の駆動方法、並びに当該光電変換装置を具備する電子機器 |
JP5521721B2 (ja) * | 2009-08-28 | 2014-06-18 | ソニー株式会社 | 撮像素子およびカメラシステム |
CN101650223A (zh) * | 2009-09-10 | 2010-02-17 | 天津大学 | 数字化光电探测器读出电路 |
TWI559763B (zh) * | 2009-10-01 | 2016-11-21 | 索尼半導體解決方案公司 | 影像取得裝置及照相機系統 |
KR101982278B1 (ko) * | 2012-03-26 | 2019-08-28 | 삼성전자주식회사 | 디지털 실리콘 광전자 증배관 디텍터 셀 |
ITPI20120060A1 (it) * | 2012-05-15 | 2013-11-16 | Ronaldo Bellazzini | Sensore radiologico digitale |
WO2014055066A1 (en) * | 2012-10-02 | 2014-04-10 | Analogic Corporation | Detector array comprising energy integrating and photon counting cells |
US9405023B2 (en) * | 2013-02-12 | 2016-08-02 | General Electric Company | Method and apparatus for interfacing with an array of photodetectors |
JP5815798B2 (ja) * | 2014-06-13 | 2015-11-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 |
JP2016032635A (ja) * | 2014-07-30 | 2016-03-10 | 株式会社東芝 | フォトンカウンティング型x線ct装置 |
CN104330173B (zh) * | 2014-10-16 | 2017-04-19 | 西安工程大学 | 基于波形积分的光子数分辨方法及其采用的光子分辨系统 |
-
2015
- 2015-10-28 JP JP2015211886A patent/JP6517664B2/ja active Active
-
2016
- 2016-10-27 US US15/335,588 patent/US9989657B2/en active Active
- 2016-10-27 CN CN201610955356.XA patent/CN106921387B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106921387B (zh) | 2021-07-09 |
US20170123082A1 (en) | 2017-05-04 |
US9989657B2 (en) | 2018-06-05 |
CN106921387A (zh) | 2017-07-04 |
JP2017083298A (ja) | 2017-05-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106449669B (zh) | 光电转换器件、测距装置和信息处理系统 | |
JP6650261B2 (ja) | 光電変換素子 | |
US9040898B2 (en) | Device having a plurality of photosensitive microcells arranged in row or matrix form | |
JP6967755B2 (ja) | 光検出器 | |
JP7145454B2 (ja) | フォトセンサ、イメージセンサ及びフォトセンサの駆動方法 | |
EP2023613A1 (en) | Semiconductor imaging element | |
US20070145503A1 (en) | Pixel structure with improved charge transfer | |
US7622704B2 (en) | Optoelectronic detector with multiple readout nodes and its use thereof | |
JP6517664B2 (ja) | 読み出し回路 | |
US20190281238A1 (en) | Double source follower hdr pixel | |
JP6543565B2 (ja) | 光電変換素子及び光電変換モジュール | |
US7800667B2 (en) | Photo-detecting apparatus | |
CN112117288B (zh) | 硅光电倍增器的温度和不均匀补偿电路 | |
JP2017037938A (ja) | 光電変換素子およびそれを用いた光電変換装置、距離検出用センサ並びに情報処理システム | |
JP6734644B2 (ja) | 光電変換装置 | |
JP2018006989A (ja) | 光学装置およびシステム | |
JP2017036971A (ja) | 光電変換デバイス、測距装置および情報処理システム | |
JP2017037937A (ja) | 光電変換デバイス、測距装置および情報処理システム | |
EP1712886A1 (en) | Photodetector device | |
KR20210072003A (ko) | 광 검출 소자 및 광 검출 장치 | |
JP6700687B2 (ja) | 光電変換デバイス、測距装置および情報処理システム | |
WO2022202451A1 (ja) | 光検出器および距離測定システム | |
JP6895595B1 (ja) | 測距装置、及び測距センサの駆動方法 | |
WO2022208949A1 (ja) | 撮像素子 | |
WO2022124019A1 (ja) | フォトディテクタ、フォトディテクタアレイおよび距離測定システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181005 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181127 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190117 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190418 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6517664 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |