JP6474816B2 - 試験監視および修正のためのオフラインハイブリッドシステム査定の方法 - Google Patents
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Description
本願は、米国仮特許出願第61/875,665号(2013年9月9日出願)の利益を主張し、上記出願は、その全体が参照により本明細書に引用される。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
連結ハイブリッド動的システムのシミュレーションを制御するための配置であって、
初期試験駆動信号入力を試験装置に印加することによって、試験を行う期間にわたって前記試験装置上の前記システムの被試験構成要素を駆動し、試験装置応答を生成するように構成されている物理的試験装置と、
前記システムの仮想モデルで構成されているプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、前記システムの前記仮想モデルの中への前記試験装置応答のうちの少なくとも一部分を受信することであって、前記システムの前記仮想モデルは、前記被試験物理的構成要素が除かれている、ことと、前記システムのモデル応答を得ることとを行うように構成され、
前記プロセッサは、前記試験装置応答のうちの別の部分を前記モデル応答と比較することに基づいて、前記試験を行う前記期間のうちの少なくとも一部分の間の前記被試験物理的構成要素の状態を査定し、出力を記録またはレンダリングするようにさらに構成されている、
配置。
(項目2)
前記試験装置応答は、前記初期試験駆動信号入力を前記試験装置に印加した結果として、第1の構成要素と第2の構成要素とを備え、前記プロセッサは、前記試験装置応答のうちの前記第1の構成要素を受信し、前記試験を行う前記期間の間の入力として前記受信した試験装置応答の前記第1の構成要素と仮想駆動とを使用することに基づいて、前記システムの前記モデル応答を生成するように構成され、前記試験装置応答のうちの前記別の部分は、前記第2の構成要素を備え、前記プロセッサは、前記試験装置応答のうちの前記第2の構成要素を前記モデル応答と比較して差を形成するように構成され、前記出力は、前記差に基づく、項目1に記載の配置。
(項目3)
前記プロセッサは、前記試験を行う前記期間の間、断続的間隔で前記差を得るように構成されている、項目2に記載の配置。
(項目4)
前記プロセッサは、前記試験を行う前記期間の間、連続的に前記差を得るように構成されている、項目2に記載の配置。
(項目5)
前記プロセッサは、前記差に基づくパラメータが選択された閾値に達すると、前記初期試験駆動信号入力の代わりに、前記試験を行う前記期間の間に使用するための新しい駆動信号入力を生成するように構成されている、項目2〜4のいずれか1項に記載の配置。
(項目6)
前記プロセッサは、前記差に基づくパラメータが選択された閾値に達すると、前記試験を行う前記期間の間に使用するための新しい駆動信号入力を繰り返し生成するように構成されている、項目2〜5のいずれか1項に記載の配置。
(項目7)
前記パラメータは、前記試験装置応答のうちの前記第2の構成要素を前記モデル応答と比較した前記差の結果である、項目5〜6のいずれか1項に記載の配置。
(項目8)
前記パラメータは、前記差の変化率に基づく、項目5〜6のいずれか1項に記載の配置。
(項目9)
前記プロセッサは、前の駆動信号に対する新しい駆動信号の調節の程度を制限するように構成されている、項目5〜8のいずれか1項に記載の配置。
(項目10)
前記前の駆動信号は、前記初期試験駆動信号である、項目9に記載の配置。
(項目11)
被試験構成要素と仮想モデルとを備えている連結ハイブリッド動的システムのシミュレーションを制御する方法であって、前記方法は、
初期試験駆動信号入力を試験装置に印加することによって、前記試験装置上の前記システムの前記被試験物理的構成要素を駆動し、試験装置応答を生成することと、
前記システムの前記仮想モデルの中に前記試験装置応答のうちの少なくとも一部分を入力し、前記システムのモデル応答を得ることと、
前記試験装置応答のうちの別の部分を前記モデル応答と比較することに選択的に基づいて、新しい試験装置駆動信号を生成することと、
前記初期試験駆動信号入力の代わりに前記新しい試験装置駆動信号を使用することと
を含む、方法。
(項目12)
前記試験装置応答のうちの別の部分を前記モデル応答と比較することは、差を生じる、項目11に記載の方法。
(項目13)
比較することは、試験を行う期間にわたって断続的間隔で前記差を比較することを含む、項目12に記載の方法。
(項目14)
比較することは、試験を行う期間にわたって連続的に前記差を比較することを含む、項目12〜13のいずれか1項に記載の方法。
(項目15)
使用するための前記新しい駆動信号入力を生成することは、選択された閾値に達する前記差のパラメータに基づく、項目12〜14のいずれか1項に記載の方法。
(項目16)
使用するための新しい駆動信号入力を生成することは、前記差のパラメータが選択された閾値に達すると、新しい駆動信号入力を繰り返し生成することを含む、項目12〜15のいずれか1項に記載の方法。
(項目17)
前記パラメータは、前記試験装置応答のうちの前記第2の構成要素を前記モデル応答と比較した前記差の結果である、項目12〜16のいずれか1項に記載の方法。
(項目18)
前記パラメータは、前記差の変化率に基づく、項目15〜17のいずれか1項に記載の方法。
(項目19)
前記プロセッサは、前の駆動信号に対する前記新しい駆動信号の調節の程度を制限するように構成されている、項目11〜18のいずれか1項に記載の方法。
(項目20)
前記前の駆動信号は、前記初期試験駆動信号である、項目11〜18のいずれか1項に記載の方法。
(項目21)
被試験構成要素と、前記被試験物理的構成要素を除いた仮想モデルとを備えている連結ハイブリッド動的システムのシミュレーションを制御する方法であって、前記方法は、
初期試験駆動信号入力を試験装置に印加することによって、試験を行う期間にわたって前記試験装置上の前記システムの前記被試験物理的構成要素を駆動し、試験装置応答を生成することと、
前記システムの前記仮想モデルの中に前記試験装置応答のうちの少なくとも一部分を入力し、前記システムのモデル応答を得ることと、
前記試験装置応答のうちの別の部分を前記モデル応答と比較することに基づいて、前記試験を行う前記期間の少なくとも一部分の間、前記被試験物理的構成要素の状態を査定し、出力を記録またはレンダリングすることと
を含む、方法。
Claims (14)
- 連結ハイブリッド動的システムのシミュレーションを制御するための配置であって、前記配置は、
物理的試験装置であって、前記物理的試験装置は、前記物理的試験装置上の前記システムの被試験物理的構成要素を駆動するように構成されている、物理的試験装置と、
記憶デバイスと、
前記被試験物理的構成要素を除いた前記システムの仮想モデルを記憶するように前記記憶デバイスとともに動作可能なプロセッサであって、前記物理的構成要素が前記仮想モデルとインターフェースするところにインターフェースが定義されており、前記プロセッサは、試験を行う前に、
前記物理的試験装置を駆動し、試験装置応答の第1の部分および前記試験装置応答の第2の部分を前記記憶デバイスに記憶することと、
前記試験装置応答の前記第1の部分を前記仮想モデルに適用し、前記試験装置応答の前記第1の部分に対する前記仮想モデルの応答を記憶し、前記試験装置応答の前記第1の部分に対する前記仮想モデルの前記応答を前記試験装置応答の前記第2の部分と比較することにより差を形成することであって、前記差が、前記プロセッサによって使用されることにより、システム動的応答モデルが形成され、前記システム動的応答モデルが前記記憶デバイスに記憶される、ことと、
前記システム動的応答モデルの逆関数を使用して第1の試験駆動信号を生成することと
を行うように構成されている、プロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、さらに、前記試験の間に、
第1の期間にわたって前記第1の試験駆動信号で前記物理的試験装置を駆動することにより、前記物理的試験装置を制御し、前記試験の第1の試験装置応答を生成することと、
前記被試験物理的構成要素を除いた前記システムの前記仮想モデルの中への前記第1の試験装置応答の少なくとも一部分を受信することと、
受信された前記第1の試験装置応答の前記少なくとも一部分から生じる前記インターフェースにおける第1のモデル応答を取得することと、
前記物理的試験装置への前記第1の試験駆動信号の継続した印加に起因した前記インターフェースにおける前記第1の試験装置応答の別の部分を前記インターフェースにおける前記第1のモデル応答と比較することに基づいた前記試験を行う前記第1の期間の少なくとも一部分の間の前記被試験物理的構成要素の変化する状態を査定することと、
前記被試験物理的構成要素の変化した状態に対応する出力を記録またはレンダリングすることと、
前記第1の試験駆動信号および前記被試験物理的構成要素における前記査定された変化に対応するデータから新しい試験駆動信号を生成することと、
前記物理的試験装置への入力として前記新しい試験駆動信号を印加することによって前記第1の期間に続く第2の期間にわたって前記物理的試験装置を駆動することにより、第2の試験装置応答を生成することと
を行うように構成されている、配置。 - 前記第1の試験装置応答は、前記第1の試験駆動信号を前記物理的試験装置に印加した結果として、第1の構成要素と第2の構成要素とを備え、
前記プロセッサは、前記第1の試験装置応答の前記第1の構成要素を受信し、前記試験を行う前記第1の期間の間の入力として前記第1の試験装置応答の前記第1の構成要素と仮想駆動とを使用することに基づいた前記インターフェースにおける前記第1のモデル応答を生成するように構成され、
前記第1の試験装置応答の前記少なくとも一部分は、前記第1の構成要素を備え、
前記第1の試験装置応答の前記別の部分は、前記第2の構成要素を備え、
前記プロセッサは、前記第1の試験装置応答の前記第2の構成要素を前記インターフェースにおける前記第1のモデル応答と比較することにより差を形成するように構成されており、
前記出力は、前記差に基づいている、請求項1に記載の配置。 - 前記プロセッサが、前記試験を行う期間の間、断続的間隔で前記差を取得するように構成されているか、または、
前記プロセッサが、前記試験を行う前記期間の間、連続的に前記差を取得するように構成されている、請求項2に記載の配置。 - 前記プロセッサが、前記差に基づくパラメータが選択された閾値に達すると、前記第1の試験駆動信号の代わりに、前記試験を行う前記期間の間に使用するための前記新しい試験駆動信号を生成するように構成されているか、または、
前記プロセッサが、前記差に基づくパラメータが選択された閾値に達すると、前記試験を行う前記期間の間に使用するための新しい試験駆動信号を繰り返し生成するように構成されているか、または、
前記プロセッサが、前の試験駆動信号に対する後で取得される試験駆動信号の調節の程度を制限するように構成されている、請求項2〜3のいずれか1項に記載の配置。 - 前記パラメータが、前記第1の試験装置応答の前記第2の構成要素を前記第1のモデル応答と比較した前記差の結果であるか、または、
前記パラメータが、前記差の変化率に基づいている、請求項4に記載の配置。 - 前記プロセッサは、前記第1の試験駆動信号を使用して前記新しい試験駆動信号を生成するように構成されている、請求項4に記載の配置。
- 連結ハイブリッド動的システムのシミュレーションを制御する方法であって、前記システムは、物理的試験装置内の被試験物理的構成要素と、前記被試験物理的構成要素を除いた前記システムの仮想モデルとを備えており、前記方法は、
試験を行う前に、前記物理的試験装置を駆動し、前記仮想モデルからの応答および前記物理的試験装置からの応答を使用することにより、システム動的応答モデルを取得し、前記システム動的応答モデルを使用することにより、初期試験駆動信号入力を取得することと、
前記物理的構成要素の実際の試験の間の第1の期間の間に、まず、前記初期試験駆動信号入力を前記物理的試験装置に印加することによって前記物理的試験装置を駆動することにより、第1の試験装置応答を生成することと、
前記第1の期間の間に、プロセッサを介して、前記システムの前記仮想モデルの中に前記第1の試験装置応答の少なくとも一部分を入力し、前記システムの第1のモデル応答を取得することと、
前記初期試験駆動信号入力と、前記第1の試験装置応答の別の部分を前記第1のモデル応答と比較することの出力とに選択的に基づいて新しい試験装置駆動信号を生成することであって、前記比較の前記出力は、前記被試験物理的構成要素の状態の変化に対応する、ことと、
前記第1の期間に続く前記試験の第2の期間の間に、前記試験装置への入力として前記新しい試験装置駆動信号を印加することによって前記物理的試験装置を駆動することにより、前記試験の第2の試験装置応答を取得することと
を含む、方法。 - 前記第1の試験装置応答の別の部分を前記第1のモデル応答と比較することは、差を生じる、請求項7に記載の方法。
- 比較することが、前記物理的構成要素の前記実際の試験を行う期間にわたって断続的間隔で前記差を比較することを含んでいるか、または、
比較することが、前記物理的構成要素の前記実際の試験を行う前記期間にわたって連続的に前記差を比較することを含んでいる、請求項8に記載の方法。 - 使用するための前記新しい試験駆動信号入力を生成することが、選択された閾値に達する前記差のパラメータに基づいているか、または、
使用するための前記新しい試験駆動信号入力を生成することが、前記差のパラメータが選択された閾値に達すると、新しい試験駆動信号入力を繰り返し生成することを含んでいる、請求項8〜9のいずれか1項に記載の方法。 - 前記パラメータは、前記第1の試験装置応答の前記別の部分を前記第1のモデル応答と比較した前記差の結果である、請求項10に記載の方法。
- 前記パラメータは、前記差の変化率に基づいている、請求項10〜11のいずれか1項に記載の方法。
- 前記プロセッサは、前の試験駆動信号に対する前記新しい試験駆動信号の調節の程度を制限するように構成されている、請求項7〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 前記新しい試験駆動信号を生成することは、前記初期試験駆動信号入力を使用することを含む、請求項7〜12のいずれか1項に記載の方法。
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