JP6465347B2 - 樹脂封止型電子部品 - Google Patents

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本発明は、樹脂封止されたサーミスタ素子等の電子部品であって環境耐性に優れている樹脂封止型電子部品に関する。
従来、サーミスタ素子等の電子部品では、樹脂又は金属キャップに電子部品を入れ、熱硬化樹脂で注型したものや、樹脂で封止された電子部品が一般に知られている。例えば、特許文献1では、サーミスタ素子と、サーミスタ素子の両面に電気的に接続される電線の導体を備えた被封止部材と、被封止部材の周囲に電気絶縁性樹脂が射出成形された樹脂封止部を有した温度センサが記載されている。
この特許文献1の方法では、射出成形する際に電子部品を位置決めし、射出成形金型内に電子部品を支えるスライド機構を設け、成形途中で支持部分が硬化し始めた段階でスライドを抜き去って成形封止している。
また、特許文献2では、導線被覆材に堅く密着するプラスチック材で、多段階射出工程によりサーミスタを被覆するサーミスタと電気導線との接合体の形成方法が記載されている。この形成方法では、サーミスタを2度の射出成形により第1の射出被覆材と第2の射出被覆材とで封止して一体成形することで、特許文献1の方法よりも短時間で作製が可能である。
特開2013−149807号公報 特開平8−69904号公報
上記従来の技術には、以下の課題が残されている。
すなわち、上記従来の技術では、キャップを用いた注型を行う方法では、キャップに電子部品を入れ、熱硬化樹脂等を注ぎ込み、加熱硬化させて封止する工程が必要であるため、封止工程に時間及び工数がかかり信頼性の確保が難しいという不都合があった。また、特許文献1のように射出成形で電子部品を封止する方法では、スライド機構等を設けるために金型構造が複雑でセンシティブな成形条件を必要とする不都合があった。
さらに、特許文献2のように、サーミスタを射出成形により樹脂封止する場合、サーミスタを直接覆う射出被覆材となる溶融樹脂が射出成形時に金型に直接接触するため、急冷されて硬質化することで、応力が加わるとクラックが生じ易くなる問題があった。例えば、プレッシャークッカー試験(121℃、2気圧、50時間)等の環境試験を行うと、応力によりクラックが発生してしまう。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、環境耐性に優れ、簡便な構造で短時間にかつ安価で作製可能な樹脂封止型電子部品を提供することを目的とする。
本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、第1の発明に係る樹脂封止型電子部品は、一対の端子電極部が両端に形成されたチップ状の電子部品本体と、一対の前記端子電極部に接続された一対のリード線と、前記電子部品本体の表面を前記リード線の接続部分と共に覆う絶縁性のコーティング層と、前記コーティング層で覆われた前記電子部品本体を収納する筒状部材と、前記コーティング層と前記筒状部材との間に充填されて前記電子部品本体を封止する封止材とを備え、前記筒状部材と前記封止材とが同じ樹脂材料で形成され、前記封止材が、前記筒状部材内に前記電子部品本体を挿入した状態で前記筒状部材内に前記樹脂材料を射出成形により充填して形成されていることを特徴とする。
この樹脂封止型電子部品では、封止材が、筒状部材内に電子部品本体を挿入した状態で筒状部材内に樹脂材料を射出成形により充填して形成されているので、環境耐性に優れていると共に、比較的簡便な構造であり、短時間かつ安価に作製可能である。
特に、電子部品本体が、金型に触れずに射出成形された柔らかい封止材で覆われていることで、応力が加わっても封止材が緩和することでクラック等が発生し難い。また、筒状部材と封止材とが同じ樹脂材料で形成されているので、熱膨張や吸水率による膨張収縮に対して応力が発生し難い。さらに、電子部材本体と樹脂材料との熱膨張係数差による応力は、筒状部材と封止材との界面のせん断方向に働き、筒状部材にクラック等が生じ難く、筒状部材の破壊に至らない。なお、筒状部材の内部に射出成形される封止材は、直接金型に触れないため、柔らかく柔軟に変形し、応力は筒状部材と後成形の封止材との界面のせん断方向に働く。
また、筒状部材内への射出成形による一体成形で電子部品本体を覆うため、高い気密性及び水密性が得られると共に、比較的簡便な工法で作製でき、短時間かつ安価に作製可能である。
第2の発明に係る樹脂封止型電子部品は、第1の発明において、前記筒状部材が、外周面に露出した外周面層と、内周面に露出した内周面層と、前記外周面層と前記内周面層との間に介在している内部層とを有し、前記内部層及び前記封止材が、前記外周面層及び前記内周面層よりも柔らかいことを特徴とする。
すなわち、この樹脂封止型電子部品では、樹脂材料で予め成形された筒状部材の外周面層及び内周面層が緻密で硬く伸び難いが、内部層及び封止材が外周面層及び内周面層よりも柔らかいので、内部層及び封止材が柔軟に応力を緩和することで、クラック等の発生を抑制することができる。
第3の発明に係る樹脂封止型電子部品は、第1又は第2の発明において、前記筒状部材の両端開口部から前記封止材が露出していることを特徴とする。
すなわち、この樹脂封止型電子部品では、筒状部材の両端開口部から封止材が露出しているので、応力が筒状部材の両端開口部から開放され、よりクラック等の発生を抑制可能である。
第4の発明に係る樹脂封止型電子部品は、第1から第3の発明のいずれかにおいて、前記電子部品本体の両端に一対の端子電極部が形成され、一対の前記端子電極部に一対のリード線の一端が接続されていると共に、前記筒状部材の一方の開口部から一対の前記リード線の他端側が突出しており、前記封止材が、前記筒状部材の前記リード線の他端側が突出している開口部から前記リード線の突出方向に凸状に形成されていることを特徴とする。
すなわち、この樹脂封止型電子部品では、封止材が、筒状部材のリード線の他端側が突出している開口部からリード線の突出方向に凸状に形成されているので、筒状部材の開口部から突出するリード線を柔らかい封止材で長く覆って保護することで、突出したリード線を切れ難くすることができる。
第5の発明に係る樹脂封止型電子部品は、第1から第4の発明のいずれかにおいて、前記電子部品本体が、サーミスタ素体であることを特徴とする。
すなわち、この樹脂封止型電子部品では、電子部品本体が、サーミスタ素体であるので、環境耐性に優れ、簡便な構造で短時間にかつ安価で作製可能な温度センサとなる。
本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明に係る樹脂封止型電子部品によれば、封止材が、筒状部材内に電子部品本体を挿入した状態で筒状部材内に樹脂材料を射出成形により充填して形成されているので、膨張収縮に対して応力が発生し難く、たとえ応力が加わってもクラック等が発生し難い。したがって、過酷な温度環境変化に対しても密着性や機密性を確保できると共に、比較的簡便な工法で作製でき、短時間かつ安価に作製可能である。このように環境耐性に優れているため、高価で高強度・高靱性のエンジニアプラスチック等を使用しなくても、耐熱仕様にあった安価な汎用プラスチックを樹脂材料として採用することも可能になる。
本発明に係る樹脂封止型電子部品の一実施形態を示す軸方向の断面図である。 図1のA−A線断面図である。
以下、本発明に係る樹脂封止型電子部品の一実施形態を、図1及び図2を参照しながら説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能又は認識容易な大きさとするために縮尺を適宜変更している。
本実施形態の樹脂封止型電子部品1は、図1及び図2に示すように、チップ状の電子部品本体2と、電子部品本体2を内部に収納する筒状部材3と、電子部品本体2と筒状部材3との間に充填されて電子部品本体2を封止する封止材4とを備えている。
上記筒状部材3と封止材4とは、同じ樹脂材料で形成されている。例えば、樹脂材料としてポリプロピレン(PP)等の汎用プラスチックが採用可能である。
上記封止材4は、筒状部材3内に電子部品本体2を挿入した状態で筒状部材3内に樹脂材料を射出成形により充填して形成されている。
上記筒状部材3は、外周面に露出した外周面層3aと、内周面に露出した内周面層3bと、外周面層3aと内周面層3bとの間に介在している内部層3cとを有している。
上記内部層3c及び封止材4は、外周面層3a及び内周面層3bよりも柔らかい。すなわち、外周面層3a及び内周面層3bは、内部層3c及び封止材4よりも緻密で硬質な層である。外周面層3a及び内周面層3bは、筒状部材3を成形する際に溶融樹脂が直接金型に接触する部分であるため、急冷されて内部層3cよりも緻密で硬い層となる。
また、筒状部材3の両端開口部では、外周面層3aと内周面層3b及び内部層3cとが一体となり、緻密で硬質な層が形成される。
上記電子部品本体2の両端には、一対の端子電極部2aが形成され、一対の端子電極部2aに一対のリード線5の一端が接続されていると共に、筒状部材3の一方の開口部から一対のリード線5の他端側が突出している。なお、リード線5と端子電極部2aとは、半田材、導電性ペースト等の導電性接着剤で接続されている。また、端子電極部2aとしては、例えばAg電極等が採用される。
上記筒状部材3は、円筒状のパイプであり、筒状部材3の両端開口部から封止材4が露出している。
開口部から露出した封止材4の表面も、外周面層3a、内周面層3bと同様に、溶融樹脂が直接金型に接触する部分のため、緻密で硬い層となる。
この封止材4は、筒状部材3のリード線5の他端側が突出している開口部からリード線の突出方向に凸状に形成されている。なお、本実施形態では、筒状部材3の両方の開口部において封止材4が凸状に成形されている。
上記電子部品本体2は、サーミスタ素体である。この電子部品本体2のサーミスタ素体の材料としては、NTC型、PTC型、CTR型等のサーミスタ材料があるが、本実施形態では、例えばNTC型サーミスタを採用している。このサーミスタ材料は、Mn−Co−Cu系材料、Mn−Co−Fe系材料等のサーミスタ材料で形成されている。
特に、本実施形態のサーミスタ素体は、例えばMn−Co系複合金属酸化物(例えば、Mn−Co系複合金属酸化物)又は、Mn−Co系複合金属酸化物に、Ni、Fe、Cu、Alのうち少なくとも一種類の元素を含む複合金属酸化物(例えば、Mn−Co−Fe系複合金属酸化物)からなるスピネル系の複合金属酸化物膜を有したものである。
また、サーミスタ素体の他の例としては、ペロブスカイト型酸化物を含有する金属酸化物焼結体であって、例えば一般式:La1−yCa(Cr1−xMn)O(0.0≦x≦1.0、0.0<y≦0.7)で示される複合酸化物を含む焼結体で構成されているものでもよい。なお、この焼結体に、さらに絶縁体材料として、例えばY,ZrO,MgO,Al,CeOを添加しても構わない。
また、サーミスタ素体として、Mn,CoおよびFeの金属酸化物を含有するセラミックス焼結体、すなわちMn−Co−Fe系材料で形成されたものを採用しても構わない。
この電子部品本体2は、リード線5の接続部分と共に、ガラスペースト等によるコーティング層6で覆われている。
本実施形態の樹脂封止型電子部品1の製造方法は、まず筒状部材3を樹脂材料で成形して作製しておく。この際、筒状部材3のスキン層である外周面層3a及び内周面層3bは、コア層である内部層3cよりも緻密で硬質な層となっている。
次に、この筒状部材3内に、リード線5が接続されコーティング層6で覆われた電子部品本体2を挿入し、この状態で射出成形金型にセットし、筒状部材3と同じ樹脂材料で筒状部材3内と筒状部材3の両端開口部とを一体成形する。
この後、射出成形金型から取り出すことで、短時間で樹脂封止型電子部品1が作製される。
このように本実施形態の樹脂封止型電子部品1では、封止材4が、筒状部材3内に電子部品本体2を挿入した状態で筒状部材3内に樹脂材料を射出成形により充填して形成されているので、環境耐性に優れていると共に、比較的簡便な構造であり、短時間かつ安価に作製可能である。
特に、電子部品本体2が、金型に触れずに射出成形された柔らかい封止材4で覆われていることで、応力が加わっても封止材4が緩和することでクラック等が発生し難い。また、筒状部材3と封止材4とが同じ樹脂材料で形成されているので、熱膨張や吸水率による膨張収縮に対して応力が発生し難い。
さらに、電子部品本体2と樹脂材料との熱膨張係数差による応力は、筒状部材3と封止材4との界面のせん断方向に働き、筒状部材3にクラック等が生じ難く、筒状部材3の破壊に至らない。なお、筒状部材3の内部に射出成形される封止材4は、直接金型に触れないため、柔らかく柔軟に変形し、応力は筒状部材3と後成形の封止材4との界面のせん断方向に働く。例えば、図1及び図2に示すように、コーティング層6が熱膨張して応力が発生した場合、柔軟な封止材4が筒状部材3の軸方向に変形することで、応力を緩和することができる。
また、筒状部材3内への射出成形による一体成形で電子部品本体2を覆うため、高い気密性及び水密性が得られると共に、比較的簡便な工法で作製でき、短時間かつ安価に作製可能である。
また、樹脂材料で予め成形された筒状部材3の外周面層3a及び内周面層3bが緻密で硬く伸び難いが、内部層3c及び封止材4が外周面層3a及び内周面層3bよりも柔らかいので、内部層3c及び封止材4が柔軟に応力を緩和することで、クラック等の発生を抑制することができる。
また、筒状部材3の両端開口部から封止材4が露出しているので、応力が筒状部材3の両端開口部から開放され、よりクラック等の発生を抑制可能である。
さらに、封止材4が、筒状部材3のリード線5の他端側が突出している開口部からリード線5の突出方向に凸状に形成されているので、筒状部材3の開口部から突出するリード線5を柔らかい封止材4で長く覆って保護することで、突出したリード線5を切れ難くすることができる。
したがって、本実施形態の樹脂封止型電子部品1は、電子部品本体2をサーミスタ素体とすることで、環境耐性に優れ、簡便な構造で短時間にかつ安価で作製可能な温度センサが得られる。
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態では、電子部品本体にサーミスタ素体を採用したサーミスタ素子に適用したが、他の電子部品本体としてICチップ、チップ状のRFID、抵抗やコンデンサを採用した抵抗部品やコンデンサ部品等としても構わない。
1…樹脂封止型電子部品、2…電子部品本体、2a…端子電極部、3…筒状部材、3a…外周面層、3b…内周面層、3c…内部層、4…封止材、5…リード線、6…コーティング層

Claims (4)

  1. チップ状の電子部品本体と、
    前記電子部品本体を内部に収納する筒状部材と、
    前記電子部品本体と前記筒状部材との間に充填されて前記電子部品本体を封止する封止材とを備え、
    前記筒状部材と前記封止材とが同じ樹脂材料で形成され、
    前記封止材が、前記筒状部材内に前記電子部品本体を挿入した状態で前記筒状部材内に前記樹脂材料を射出成形により充填して形成され
    前記筒状部材が、外周面に露出した外周面層と、内周面に露出した内周面層と、前記外周面層と前記内周面層との間に介在している内部層とを有し、
    前記内部層及び前記封止材が、前記外周面層及び前記内周面層よりも柔らかいことを特徴とする樹脂封止型電子部品。
  2. 請求項に記載の樹脂封止型電子部品において、
    前記筒状部材の両端開口部から前記封止材が露出していることを特徴とする樹脂封止型電子部品。
  3. 請求項1又は2に記載の樹脂封止型電子部品において、
    前記電子部品本体の両端に一対の端子電極部が形成され、
    一対の前記端子電極部に一対のリード線の一端が接続されていると共に、前記筒状部材の一方の開口部から一対の前記リード線の他端側が突出しており、
    前記封止材が、前記筒状部材の前記リード線の他端側が突出している開口部から前記リード線の突出方向に凸状に形成されていることを特徴とする樹脂封止型電子部品。
  4. 請求項1からのいずれか一項に記載の樹脂封止型電子部品において、
    前記電子部品本体が、サーミスタ素体であることを特徴とする樹脂封止型電子部品。
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