JP6414520B2 - 検査システム - Google Patents
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Description
上記電力線に対して絶縁した状態で配され、グランドに接続した導電部材と、
上記一対のスイッチよりも上記電気機器側において、個々の上記電力線と上記導電部材との間に設けられたコンデンサと、
上記主回路部のうち上記一対のスイッチよりも上記直流電源側の部位である主回路第1部分に電気接続し、交流信号を発生する信号発生部と、
上記主回路第1部分に電気接続し、上記交流信号の電圧を測定する電圧測定部と、
該電圧測定部によって得られた上記電圧の測定値に基づいて、上記直流電源が漏電しているか否か、及び上記一対のスイッチのうち少なくとも一方が短絡故障しているか否かを判断する判断部とを備え、
上記信号発生部は、上記判断部によって上記直流電源が漏電しているか否かを判断するときには、周波数が相対的に低い上記交流信号である低周波交流信号を発生し、上記判断部によって上記スイッチが短絡故障しているか否かを判断するときには、上記低周波交流信号よりも周波数が高い上記交流信号である高周波交流信号を発生するよう構成されていることを特徴とする検査システムにある。
そのため、交流信号を用いて、直流電源の漏電検査と、スイッチの短絡故障の検査とをそれぞれ行うことが可能になる。すなわち、スイッチの短絡故障の検査を行う際には、信号発生部は上記高周波交流信号を発生する。周波数が高い交流信号に対しては、上記コンデンサのインピーダンスは低下する。そのため、スイッチが短絡故障していた場合、高周波交流信号はスイッチを通り、さらにコンデンサを通ってグランドに流れる。そのため、上記測定部によって測定される、高周波交流信号の電圧の値が大きく低下する。したがって、この電圧の測定値に基づいて、スイッチが短絡故障しているか否かを判断することができる。
なお、漏電検査を行っているときに、漏電しておらず、かつスイッチが短絡故障している場合があり得る。この場合、低周波交流信号に対しては、コンデンサのインピーダンスは高くなるため、低周波交流信号はコンデンサを通過せず、グランドに殆ど流れない。そのため、スイッチが短絡故障していても、低周波交流信号の電圧の測定値は大きく低下しない。したがって、スイッチが短絡故障している場合に、直流電源が漏電していると誤って判断するおそれは少ない。
上記検査システムに係る実施例について、図1〜図11を用いて説明する。図1に示すごとく、本例の検査システム1は、主回路部4と、導電部材12と、コンデンサ5と、信号発生部6と、電圧測定部7と、判断部8とを備える。主回路部4は、直流電源10と、該直流電源10と電気機器11とを電気接続する一対の電力線2(2p,2n)と、該一対の電力線2にそれぞれ設けられた一対のスイッチ3(3p,3n)とを有する。
コンデンサ5は、一対のスイッチ3よりも電気機器11側において、個々の電力線2と導電部材12との間に設けられている。
信号発生部6は、主回路部4のうち一対のスイッチ3よりも直流電源10側の部位である主回路第1部分41に電気接続している。信号発生部6は、交流信号を発生する。
判断部8は、電圧測定部7によって得られた電圧の測定値に基づいて、直流電源10が漏電しているか否か、及び一対のスイッチ3のうち少なくとも一方が短絡故障しているか否かを判断する。
そのため、交流信号SH,SLを用いて、直流電源10の漏電検査と、スイッチ3の短絡故障検査とをそれぞれ行うことが可能になる。すなわち、スイッチ3の短絡故障検査を行う際には、信号発生部6は高周波交流信号SHを発生する。周波数が高い交流信号に対しては、コンデンサ5のインピーダンスは低下する。そのため、図7に示すごとく、スイッチ3が短絡故障していた場合、高周波交流信号SHはスイッチ3を通り、さらにコンデンサ5を通ってグランドに流れる。そのため図9に示すごとく、測定部7によって測定される、高周波交流信号SHのピーク電圧Vpが大きく低下する。したがって、このピーク電圧Vpの測定値に基づいて、スイッチ3が短絡故障しているか否かを判断することができる。すなわち、ピーク電圧Vpが第2の閾値V2以下であるときは、一対のスイッチ3p,3nのうち少なくとも一方が短絡故障していると判断することができる。
このようにすると、漏電検査用コンデンサ13の静電容量を大きくしてあるため、漏電検査をする際に発生した低周波交流信号SLが漏電検査用コンデンサ13を通過しやすくなる。そのため、漏電が発生したときに、低周波交流信号SLが漏電検査用コンデンサ13を通過し、さらに第1抵抗R1を通ってグランドに流れやすくなる。したがって、低周波交流信号SLの電圧が低下しやすくなり、直流電源10が漏電しているか否かを判断しやすくなる。
そのため、短絡検査用コンデンサ14を、主回路第1部分41のどの位置にも接続でき、検査システム1の設計自由度を高めることが可能になる。すなわち、仮に図15に示すごとく、短絡検査用コンデンサ14を電解コンデンサによって構成し、かつ正側バスバー2pに接続したとすると、短絡検査用コンデンサ14に加わる電圧が逆になる場合が生じ得るため、短絡検査用コンデンサ14が劣化するおそれがある。つまり、短絡検査用コンデンサ14の2つの端子141,142のうち、接続点Bとは反対側の端子141は、その電位がグランドに近い値をとる。また、接続点Bの電位は通常、グランドよりも高い。そのため、図15に示すごとく、端子141をマイナス側にした状態で、短絡検査用コンデンサ14(電解コンデンサ)は取り付けられる。図15の状態において、直流電源10の電圧が例えば200Vであり、回生時にこれよりも高い電圧、例えば600Vの電圧が直流電源10に加わる場合を考える。非回生時には、接続点Bの電位は100Vになり、接続点Aの電位は−100Vになるため、検出用コンデンサ62には正常な向きに電圧が加わる。しかしながら、回生時に、接続点Cと導電部材12との間が漏電することがある。この場合、接続点Cの電位は略0Vになる。また、三相交流モータ19(発電機)によって600Vの電圧が発生しているため、接続点Aの電位は接続点Cよりも600V低くなり、−600Vになる。また、接続点Bの電位は、接続点Aよりも200V高いため、−400Vになる。したがって、この場合、短絡検査用コンデンサ14に逆向きに電圧が加わることになる。そのため、短絡検査用コンデンサ14を電解コンデンサによって構成すると、劣化する可能性がある。
そのため、2つの検査用コンデンサ13,14を同じ位置に接続することができ、検査システム1の製造工程を簡素化することができる。
なお、本例では、漏電検査用コンデンサ13を電解コンデンサによって構成しているが、直流電源10の負電極102と電位が等しい部位(接続点A)であれば、漏電検査用コンデンサ13に加わる電圧は逆にならない。つまり、漏電検査用コンデンサ13の2つの端子131,132のうち、接続点Aとは反対側の端子131は、その電位がグランドに近い値をとる。また、接続点Aの電位は、グランドより低い。そのため、端子132をマイナス側にした状態で、漏電検査用コンデンサ13(電解コンデンサ)は取り付けられる。例えば、非回生時は、接続点Aの電位は、上述したように−100Vになるため、漏電検査用コンデンサ13には正常な向きに電圧が加わる。また、回生時に接続点Cが漏電した場合、上述したように接続点Aの電位は−600Vになる。そのため、この場合でも、漏電検査用コンデンサ13には正常な向きに電圧が加わる。したがって、漏電検査用コンデンサ13(電解コンデンサ)が劣化するおそれは少ない。そのため、接続点Aに接続するのであれば、漏電検査用コンデンサ13を電解コンデンサによって構成することができる。
以下の実施例においては、図面に用いた符号のうち、実施例1において用いた符号と同一のものは、特に示さない限り、実施例1と同様の構成要素等を表す。
その他、実施例1と同様の構成および作用効果を備える。
本例は、検査システム1の回路構成を変更した例である。図13に示すごとく、本例では、直流電源10の正電極101と負電極102との間に、2個の短絡検査用コンデンサ14を直列に接続してある。この2個の短絡検査用コンデンサ14の接続点145に、短絡用測定部72を接続してある。
本例は、検査システム1の回路構成を変更した例である。図14に示すごとく、本例では、短絡検査用コンデンサ14を直流電源10内における、正電極101と負電極102との中間の電位をとる位置(接続点E)に接続してある。
その他、実施例1と同様の構成および作用効果を備える。
10 直流電源
11 電気機器
12 導電部材
2 電力線
3 スイッチ
4 主回路部
41 主回路第1部分
5 コンデンサ
6 信号発生部
7 電圧測定部
8 判断部
Claims (5)
- 直流電源(10)と、該直流電源(10)と電気機器(11)とを電気接続する一対の電力線(2)と、該一対の電力線(2)にそれぞれ設けられた一対のスイッチ(3)とを有する主回路部(4)と、
上記電力線(2)に対して絶縁した状態で配され、グランドに接続した導電部材(12)と、
上記一対のスイッチ(3)よりも上記電気機器(11)側において、個々の上記電力線(2)と上記導電部材(12)との間に設けられたコンデンサ(5)と、
上記主回路部(4)のうち上記一対のスイッチ(3)よりも上記直流電源(10)側の部位である主回路第1部分(41)に電気接続し、交流信号を発生する信号発生部(6)と、
上記主回路第1部分(41)に電気接続し、上記交流信号の電圧を測定する電圧測定部(7)と、
該電圧測定部(7)によって得られた上記電圧の測定値に基づいて、上記直流電源(10)が漏電しているか否か、及び上記一対のスイッチ(3)のうち少なくとも一方が短絡故障しているか否かを判断する判断部(8)とを備え、
上記信号発生部(6)は、上記判断部(8)によって上記直流電源(10)が漏電しているか否かを判断するときには、周波数が相対的に低い上記交流信号である低周波交流信号(SL)を発生し、上記判断部(8)によって上記スイッチ(3)が短絡故障しているか否かを判断するときには、上記低周波交流信号(SL)よりも周波数が高い上記交流信号である高周波交流信号(SH)を発生するよう構成されていることを特徴とする検査システム(1)。 - 上記電圧測定部(7)は、上記低周波交流信号(SL)の電圧を測定する漏電用測定部(71)と、上記高周波交流信号(SH)の電圧を測定する短絡用測定部(72)とを備え、上記漏電用測定部(71)と上記主回路第1部分(41)との間に、これらを絶縁すると共に上記低周波交流信号(SL)が通過可能な漏電検査用コンデンサ(13)が介在し、上記短絡用測定部(72)と上記主回路第1部分(41)との間に、これらを絶縁すると共に上記高周波交流信号(SH)が通過可能な短絡検査用コンデンサ(14)が介在し、上記漏電検査用コンデンサ(13)は上記短絡検査用コンデンサ(14)よりも静電容量が大きいことを特徴とする請求項1に記載の検査システム(1)。
- 上記短絡検査用コンデンサ(14)は、端子間に加える電圧を逆にすることが可能な無極性コンデンサによって構成されていることを特徴とする請求項2に記載の検査システム(1)。
- 上記漏電検査用コンデンサ(13)及び上記短絡検査用コンデンサ(14)は、上記主回路第1部分(41)のうち上記直流電源(10)の負電極(102)と電位が等しい部位に接続していることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の検査システム(1)。
- 上記直流電源(10)の正電極(101)と負電極(102)との間に、2個の上記短絡検査用コンデンサ(14)が直列に接続しており、該2個の短絡検査用コンデンサ(14)の接続点(145)に、上記短絡用測定部(72)が接続していることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の検査システム(1)。
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