JP6409604B2 - 光子又は荷電粒子の計数装置 - Google Patents
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Description
a)光子又は荷電粒子を検出する検出器と、
b)前記検出器からの出力信号上に現れるパルスの数を計数するパルス計数手段と、
c)前記パルスの幅を計測するパルス幅計測手段と、
d)前記パルスの幅が予め定められた値を超えた場合に、前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定する判定手段と、
を有することを特徴としている。
e)前記判定手段により前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定された場合に、その旨をユーザに通知する通知手段、
を更に備えたものとすることが望ましい。
f)前記判定手段により前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定された場合に、前記検出器に印加する駆動電圧を低減する駆動電圧低減手段、
を更に備えたものとしてもよい。
120、220…励起側分光部
130、230…試料載置部
131、231…試料
140、240…蛍光側分光部
150、250…蛍光検出基板
151、251…PMT
152、252…I/V変換回路
153、253…パルス弁別回路
154、254…高電圧電源回路
160、260…制御回路
161、261…パルス数カウント部
162…パルス幅計測部
163…判定部
170、270…データ処理部
180…入力部
190…表示部
255…平滑回路
Claims (4)
- 光子又は荷電粒子を検出する検出器と、
前記検出器からの出力信号上に現れるパルスの数を計数するパルス計数手段と、
前記パルスの幅を計測するパルス幅計測手段と、
前記パルスの幅が予め定められた値を超えた場合に、前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定する判定手段と、
前記判定手段により前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定された場合に、前記検出器に印加する駆動電圧を低減する駆動電圧低減手段と、
を有することを特徴とする光子又は荷電粒子の計数装置。 - 前記判定手段により前記検出器への前記光子又は前記荷電粒子の入射量が過大であると判定された場合に、その旨をユーザに通知する通知手段、
を更に有することを特徴とする請求項1に記載の光子又は荷電粒子の計数装置。 - 前記検出器が光電子増倍管であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光子又は荷電粒子の計数装置。
- 前記検出器が電子増倍管であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光子又は荷電粒子の計数装置。
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