JP2014119282A - 直線性補償用ブリーダ回路および放射線検出器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】シンチレーション光の光量に応じた光電子を放出する陰極K、複数のダイノードDY[1],・・・,DY[i],・・・,DY[n]により二次電子を増倍する電子増倍部DY、増倍された二次電子を収集する陽極Pを有する光電子増倍管20に接続される直線性補償用ブリーダ回路30であり、n段までのダイノードにより増幅された出力を低線量率入力時の電圧パルスとして電圧パルス出力部Voutから出力し、また、i段までのダイノードによる増幅された出力を高線量率入力時の電流として電流出力部Aoutから出力する直線性補償用ブリーダ回路30とした。またこの直線性補償用ブリーダ回路30を搭載する放射線検出器1とした。
【選択図】図2
Description
また、光電子増倍管200自体の感度は一定ではなくばらつきが大きい部品であるため、同じ型番であっても個々の光電子増倍管に応じて調整する必要もあり、この点でも調整が容易ではないという問題があった。
低線量率時や高線量率時に拘わらず、光電子増倍管の出力の直線性を確保したいという要請があった。
入射するシンチレーション光の光量に応じた光電子を放出する陰極、複数(1,2,・・・,i,i+1,・・・,n)のダイノードを有しており第1段のダイノードで光電子から生成した二次電子を後段のダイノードで増倍する電子増倍部、および、電子増倍部によって増倍された二次電子を収集する陽極をそれぞれ有する光電子増倍管に接続されて、光電子増倍管の陰極、複数のダイノードおよび陽極に所定の電位勾配を与える直線性補償用ブリーダ回路であって、
n段までのダイノードにより増幅された出力を低線量率入力時の電圧パルスとして出力し、また、i段までのダイノードにより増幅された出力を高線量率入力時の電流として出力することを特徴とする。
入射するシンチレーション光の光量に応じた光電子を放出する陰極、複数(1,2,・・・,i,i+1,・・・n)のダイノードを有しており第1段のダイノードで光電子から生成した二次電子を後段のダイノードで増倍する電子増倍部、および、電子増倍部によって増倍された二次電子を収集する陽極をそれぞれ有する光電子増倍管と、
光電子増倍管の陰極、複数のダイノードおよび陽極に所定の電位勾配を与え、n段までのダイノードにより増幅された出力を電圧パルスとして出力し、また、i段までのダイノードにより増幅された出力を電流として出力する直線性補償用ブリーダ回路と、
低線量率で入力された場合にn段までのダイノードにより増幅された出力である電圧パルスを入力して計測を行い、また、高線量率で入力された場合にi段までのダイノードにより増幅された出力である電流を入力して計測を行う信号処理部と、
を備えることを特徴とする。
加えて、この直線性補償用ブリーダ回路を搭載することで調整が容易であり、また、検出精度も向上させた放射線検出器を提供することができる。
シンチレータ10は、例えば、微量のタリウム(Tl)を含むヨウ化ナトリウム(NaI)の結晶からなるNaI(Tl)シンチレータである。シンチレータは円柱状に形成されている。このシンチレータ10は、入射する放射線(γ線)に応じて数μsの時定数でパルス状のシンチレーション光を放出する。
直線性補償用ブリーダ回路30は、分割抵抗Ra,分割抵抗R[1],R[2],・・・,R[i],R[i+1],R[i+2],・・・,R[n],分割抵抗Rb、負荷抵抗RL、デカップリングコンデンサC[i+2],・・・,C[n],Cb、電圧パルス出力部Vout、電流出力部Aout、高電圧電源V1,V2をそれぞれ備えている。
10:シンチレータ
20:光電子増倍管
W:入射窓
K:陰極(カソード)
F:集束電極
DY:電子増倍部
DY[1],DY[2],・・・,DY[i−1],DY[i],DY[i+1],DY[i+2],・・・,DY[n],:ダイノード
P:陽極(アノード)
CA:容器
S:ステムピン
30:直線性補償用ブリーダ回路
Ra,R[1],R[2],・・・,R[i],R[i+1],R[i+2],・・・,R[n],Rb:分割抵抗
RL:負荷抵抗
C[i+2],・・・,C[n],Cb:デカップリングコンデンサ
Vout:電圧パルス出力部
Aout:電流出力部
V1,V2:高電圧電源
40:信号処理部
41:電圧入力調整部
42:電流入力調整部
43:中央処理部
Claims (2)
- 入射するシンチレーション光の光量に応じた光電子を放出する陰極、複数(1,2,・・・,i,i+1,・・・n)のダイノードを有しており第1段のダイノードで光電子から生成した二次電子を後段のダイノードで増倍する電子増倍部、および、電子増倍部によって増倍された二次電子を収集する陽極をそれぞれ有する光電子増倍管に接続されて、光電子増倍管の陰極、複数のダイノードおよび陽極に所定の電位勾配を与える直線性補償用ブリーダ回路であって、
n段までのダイノードにより増幅された出力を低線量率入力時の電圧パルスとして出力し、また、i段までのダイノードにより増幅された出力を高線量率入力時の電流として出力することを特徴とする直線性補償用ブリーダ回路。 - 入射するシンチレーション光の光量に応じた光電子を放出する陰極、複数(1,2,・・・,i,i+1,・・・n)のダイノードを有しており第1段のダイノードで光電子から生成した二次電子を後段のダイノードで増倍する電子増倍部、および、電子増倍部によって増倍された二次電子を収集する陽極をそれぞれ有する光電子増倍管と、
光電子増倍管の陰極、複数のダイノードおよび陽極に所定の電位勾配を与え、n段までのダイノードにより増幅された出力を電圧パルスとして出力し、また、i段までのダイノードにより増幅された出力を電流として出力する直線性補償用ブリーダ回路と、
低線量率で入力された場合にn段までのダイノードにより増幅された出力である電圧パルスを入力して計測を行い、また、高線量率で入力された場合にi段までのダイノードにより増幅された出力である電流を入力して計測を行う信号処理部と、
を備えることを特徴とする放射線検出器。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017203708A (ja) * | 2016-05-12 | 2017-11-16 | 日本信号株式会社 | 光測距装置 |
WO2024204729A1 (ja) * | 2023-03-30 | 2024-10-03 | 積水メディカル株式会社 | 自動分析方法、光検量線の作成方法及び自動分析装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56101581A (en) * | 1980-01-18 | 1981-08-14 | Jeol Ltd | Detection device provided with secondary electron multiplier |
JP2005207955A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出用回路及び光検出器 |
JP2005276488A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Chube Univ | 光電子増倍管信号処理装置及びそれを用いたイメージングプレート信号処理装置 |
WO2007011630A2 (en) * | 2005-07-14 | 2007-01-25 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Systems, circuits and methods for reducing thermal damage and extending the detection range of an inspection system by avoiding detector and circuit saturation |
WO2010150301A1 (ja) * | 2009-06-22 | 2010-12-29 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
-
2012
- 2012-12-13 JP JP2012272628A patent/JP2014119282A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56101581A (en) * | 1980-01-18 | 1981-08-14 | Jeol Ltd | Detection device provided with secondary electron multiplier |
JP2005207955A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出用回路及び光検出器 |
JP2005276488A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Chube Univ | 光電子増倍管信号処理装置及びそれを用いたイメージングプレート信号処理装置 |
WO2007011630A2 (en) * | 2005-07-14 | 2007-01-25 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Systems, circuits and methods for reducing thermal damage and extending the detection range of an inspection system by avoiding detector and circuit saturation |
WO2010150301A1 (ja) * | 2009-06-22 | 2010-12-29 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017203708A (ja) * | 2016-05-12 | 2017-11-16 | 日本信号株式会社 | 光測距装置 |
WO2024204729A1 (ja) * | 2023-03-30 | 2024-10-03 | 積水メディカル株式会社 | 自動分析方法、光検量線の作成方法及び自動分析装置 |
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