JP6408322B2 - 可変光減衰器 - Google Patents
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Description
光減衰量設定値の変更直前まで保持されていた前記光減衰量設定値の滞在時間情報に基づいて制御電圧を補正することで、前記光減衰量設定値の変更時に発生する光減衰量のオーバーシュートまたはアンダーシュートの少なくともいずれかを補正する補正手段を設けたことを特徴とする可変光減衰器である。
前記補正手段は、前記オーバーシュートまたはアンダーシュートの振幅を打ち消す補正電圧波形を生成出力することを特徴とする。
前記補正手段は、前記光減衰量設定値の変更時に前記光減衰量が指数関数的に変化するものとして補正処理することを特徴とする。
オーバーシュートまたはアンダーシュートの振幅は、制御電圧Vの設定を変えたときの電圧変化量に比例する。
ここで、kは時間的変化の割合を特徴づける時定数で、可変光減衰器個々に異なる。
Vn=Vtarget+(Vn-1−Vtarget )exp(−kΔt) (3)
Vnは現在の制御ループ時刻のみなし電圧、Vn-1は前回の制御ループ時刻のみなし電圧、Vtargetは最終的に到達させる電圧、Δtは制御ループの時間間隔、kは可変光減衰器個々に特徴付けられる時定数である。
7 光減衰量設定値履歴格納部
8 光減衰量設定値保持時間格納部
9 光減衰量設定値補正演算部
Claims (3)
- 光減衰量設定値の変更直前まで保持されていた前記光減衰量設定値の滞在時間情報に基づいて制御電圧を補正することで、前記光減衰量設定値の変更時に発生する光減衰量のオーバーシュートまたはアンダーシュートの少なくともいずれかを補正する補正手段を設けたことを特徴とする可変光減衰器。
- 前記補正手段は、前記オーバーシュートまたはアンダーシュートの振幅を打ち消す補正電圧波形を生成出力することを特徴とする請求項1に記載の可変光減衰器。
- 前記補正手段は、前記光減衰量設定値の変更時に前記光減衰量が指数関数的に変化するものとして補正処理することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の可変光減衰器。
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