JP6400422B2 - 金属−セラミックス回路基板およびその製造方法 - Google Patents
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Description
図1A〜図1Bに示すように、セラミックス基板10の両面にペースト状の活性金属含有ろう材12をスクリーン印刷し、その活性金属含有ろう材12上に金属板14を配置し、実質的に真空または非酸化性雰囲気中において加熱した後に冷却することにより、セラミックス基板10の両面に金属板14を接合する。この接合により、活性金属含有ろう材12は、図1Bに示すように、主に活性金属含有ろう材12の活性金属とセラミックス基板10のセラミックスとの反応生成物によって形成された層(反応生成物層)12aと、主に活性金属含有ろう材12の活性金属以外の金属によって形成された層(金属層)12bになる。反応生成物層12aは、活性金属以外の金属の含有量が低い層であり、金属層12bは、活性金属以外の金属の含有量が高い層である。なお、活性金属含有ろう材12が反応生成物層12aと金属層12bになることは、電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)などにより、容易に確認することができる。
図2A〜図2Bに示すように、セラミックス基板10の両面の(図2D〜図2Gに示す)所望の回路パターンの金属板14に対応する位置に、この回路パターンの金属板14と略同一の形状で且つその回路パターンの金属板14より少し大きいペースト状の活性金属含有ろう材12を、この活性金属含有ろう材12の上面の周縁部がその所望の回路パターンの金属板14から露出するようにスクリーン印刷し、その活性金属含有ろう材12を介してセラミックス基板10の両面にそれぞれ1枚の金属板14を配置し、実質的に真空または非酸化性雰囲気中において加熱した後に冷却することにより、セラミックス基板10の両面に金属板14を接合する。この接合により、活性金属含有ろう材12は、図2Bに示すように、主に活性金属含有ろう材12の活性金属とセラミックス基板10のセラミックスとの反応生成物によって形成された層(反応生成物層)12aと、主に活性金属含有ろう材12の活性金属以外の金属によって形成された層(金属層)12bになる。
本発明による金属−セラミックス回路基板の製造方法の第1の実施の形態において、図1A〜図1Jに示す工程を行った後、図3Aに示すように、金属板14の上面の周縁部が露出するように金属板14より小さいレジスト22を金属板14上に塗布し、図3Bに示すように、塩化第2銅エッチング液や塩化鉄エッチング液などにより金属板14の不要な部分(金属板14の周縁部)をエッチング除去して金属層12bを金属板14の側面部からはみ出させ、その後、図3Cに示すように、レジスト22を除去する。その後、図3Dに示すように、金属板14および活性金属含有ろう材12上にめっき皮膜20を形成して、(所定の幅の反応生成物層12aとその反応生成物層12aより短い金属層12bからなる)フィレット(反応生成物層12aと金属層12bがセラミックス基板10の両面の各々に沿って延びて金属板14の側面からはみ出た部分)が形成された金属−セラミックス回路基板を得る。
32mm×22mm×0.6mmの大きさの窒化アルミニウム基板の両面に、活性金属成分として2重量%のチタンを含む活性金属含有ろう材(Ag:Cu:Ti=70:28:2)をスクリーン印刷し、その上に厚さ0.3mmの銅板を配置し、真空中で850℃に加熱して窒化アルミニウム基板の両面に銅板を接合した。
活性金属成分として2重量%のチタンを含む活性金属含有ろう材(Ag:Cu:Ti:Sn=50:43:2:5)を使用した以外は、実施例1と同様の方法により、金属−セラミックス回路基板を得た。
活性金属含有ろう材を銅板の側面部からはみ出させた後に活性金属含有ろう材の金属層(主にAgとCuによって形成された層)の不要な部分を除去しなかった以外は、実施例1と同様の方法により、金属−セラミックス回路基板を得た。
活性金属含有ろう材を銅板の側面部からはみ出させなかった以外は、実施例1と同様の方法により、金属−セラミックス回路基板を得た。
12 活性金属含有ろう材
12a 反応生成物層
12b 金属層
14 金属板
16 レジスト
18 レジスト
20 めっき皮膜
22 レジスト
Claims (17)
- セラミックス基板の少なくとも一方の面に活性金属含有ろう材を介して金属板を接合する金属−セラミックス回路基板の製造方法において、セラミックス基板の少なくとも一方の面に主に活性金属含有ろう材の活性金属とセラミックス基板のセラミックスとの反応生成物からなる反応生成物層を形成するとともに、この反応生成物層と金属板との間に主に活性金属含有ろう材の活性金属以外の金属からなる金属層を形成して、セラミックス基板の少なくとも一方に反応生成物層と金属層を介して金属板を接合した後、反応生成物層と金属層が金属板の側面部からはみ出すように金属板の不要部分を除去し、その後、反応生成物層が金属層の側面部からはみ出すように金属層の不要な部分を除去して反応生成物層からなるフィレットを形成し、金属層と反応生成物層の露出面にめっき皮膜を形成することを特徴とする、金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記反応生成物層が前記金属層の側面部からはみ出すように前記金属層の不要な部分を除去した後に、前記金属層が前記金属板の側面部からはみ出すように前記金属板の不要な部分を除去して、前記フィレットを前記金属層と前記反応生成物層からなるフィレットとして形成することを特徴とする、請求項1に記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記金属板が銅または銅合金からなることを特徴とする、請求項1または2に記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記セラミックス基板が窒化物または酸化物からなることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記活性金属含有ろう材が活性金属と銀と銅からなるろう材であることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記活性金属含有ろう材が錫を含むことを特徴とする、請求項5に記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記活性金属含有ろう材中の銀の含有量が30質量%以上であることを特徴とする、請求項5または6に記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- 前記めっき皮膜が無電解Ni合金めっきにより形成されることを特徴とする、請求項1乃至7のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板の製造方法。
- セラミックス基板の少なくとも一方の面に活性金属含有ろう材を介して金属板が接合した金属−セラミックス回路基板において、主に活性金属含有ろう材の活性金属とセラミックス基板のセラミックスとの反応生成物からなる反応生成物層がセラミックス基板上に形成され、主に活性金属含有ろう材の活性金属以外の金属からなる金属層が反応生成物と金属板との間に形成され、反応生成物層が金属層の側面からはみ出してフィレットを形成し、金属層と反応生成物層の露出面にめっき皮膜が形成されていることを特徴とする、金属−セラミックス回路基板。
- 前記金属層の平面形状およびその大きさが前記金属板と略同一であることを特徴とする、請求項9に記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記金属層が前記金属板の側面からはみ出して前記反応生成物とともに前記フィレットを形成していることを特徴とする、請求項9に記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記金属板が銅または銅合金からなることを特徴とする、請求項9乃至11のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記セラミックス基板が窒化物または酸化物からなることを特徴とする、請求項9乃至12のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記活性金属含有ろう材が活性金属と銀と銅からなるろう材であることを特徴とする、請求項9乃至13のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記活性金属含有ろう材が錫を含むことを特徴とする、請求項14に記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記活性金属含有ろう材中の銀の含有量が30質量%以上であることを特徴とする、請求項14または15に記載の金属−セラミックス回路基板。
- 前記めっき皮膜がNi合金めっきからなることを特徴とする、請求項9乃至16のいずれかに記載の金属−セラミックス回路基板。
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