JP6394838B1 - ヒ化ガリウム結晶体およびヒ化ガリウム結晶基板 - Google Patents
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Abstract
Description
T. Bunger et al,“Active Carbon Control During VGF Growth of Semiinsulating GaAs”, presented at International Conference on Compound Semiconductor Mfg. (2003) 3.5(非特許文献1)に開示されたGaAs結晶の製造においては、GaAs原料融液中の酸素濃度が高く、添加したドーパント(たとえばC(炭素))と反応して、ドーパントの取り込み量が少なくなり、GaAs結晶の絶縁性または導電性の調整が効率的でないという問題点があった。また、GaAs原料融液中の酸素濃度が高いと、成長させたGaAs結晶が硬化し、加工の際に割れやすく加工歩留まりが低下するという問題点があった。
本開示によれば、絶縁性または導電性の効率的な調整が可能であり加工の際の割れが抑制されて加工歩留まりの高いヒ化ガリウム結晶体およびヒ化ガリウム結晶基板を提供できる。
最初に本発明の実施態様を列記して説明する。
<実施形態1:ヒ化ガリウム結晶体>
本実施形態のGaAs(ヒ化ガリウム)結晶体は、EPD(エッチングピット密度)が10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満である。本態様のGaAs結晶体は、EPDおよび酸素濃度が極めて低い。EPDが10個・cm-2以上10000個・cm-2以下と低いことにより、GaAs結晶体は加工の際の割れやすさが抑制され加工歩留まりが高くなる。また、酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満と極めて低いことにより、GaAs結晶の絶縁性または導電性の効率的な調整が可能となる。
EPD(エッチングピット密度)とは、結晶表面を化学薬品で処理することにより表面に発生する腐食孔(エッチングピット)の単位面積当たりの個数をいう。本実施形態のGaAs結晶体のEPDは、具体的には、25質量%のKOH(水酸化ナトリウム)水溶液により350℃で30分間処理したときに表面に発生する腐食孔の単位面積当たりの個数をいう。本実施形態のGaAs結晶体のEPDは、10個・cm-2以上10000個・cm-2以下である。GaAs結晶体の加工の際の割れやすさを抑制する観点から、10000個・cm-2以下であり、7000個・cm-2以下が好ましく、4000個・cm-2以下がより好ましい。GaAs結晶体の現在の製造技術レベルから10個・cm-2以上である。
酸素濃度は、CPAA(荷電粒子放射化分析法)により測定する。CPAAとは、高エネルギーの荷電粒子を衝撃して生成する放射性核種から放出される放射線を計測して、対象とする元素を定量する放射化分析である。GaAs結晶体の酸素濃度の定量には、荷電粒子として3Heなどが用いられる。酸素濃度の測定は、SIMS(二次イオン質量分析法)によっても可能であるが、SIMSの検出限界が1×1016原子・cm-3程度であるのに対し、CPAAの検出限界は2.0×1014原子・cm-3程度であるため、2.0×1014原子・cm-3以上7.0×1015原子・cm-3未満程度の低い酸素濃度の精密測定に好適である。
本実施形態のGaAs結晶体は、特に制限はないが、後述のようにVB(垂直ブリッヂマン)法、VGF(垂直温度傾斜凝固)法などのボート法により製造される場合が多いため、円柱状の直胴部を含み、直胴部の直径が100mm以上305nm以下であることが好ましい。かかるGaAs結晶体は、直胴部の直径が100mm以上305mm以下と大きくてもエッチングピット密度および酸素濃度が極めて低い。大型のGaAs結晶体であってもEPDおよび酸素濃度が低い観点から、100mm以上が好ましく、150mm以上がより好ましい。現在の製造技術レベルから305mm以下が好ましく、204mm以下がより好ましい。
本実施形態のGaAs結晶体は、n型導電性を有しEPDおよび酸素濃度が極めて低い観点から、n型導電性不純物濃度(GaAs結晶体にn型導電性を付与する不純物の濃度)が1.0×1015原子・cm-3以上1.0×1020原子・cm-3以下が好ましい。n型導電性不純物濃度は、GaAs結晶体にn型導電性を効果的に付与する観点から、1.0×1015原子・cm-3以上が好ましく、1.0×1017原子・cm-3以上がより好ましい。ドーパントの活性化率の低下を避ける観点から、1.0×1020原子・cm-3以下が好ましく、5.0×1018原子・cm-3以下がより好ましい。n型導電性不純物は、特に制限はないが、GaAs結晶体にn型導電性を効果的に付与する観点から、ケイ素が好ましい。ケイ素濃度は、GDMS(グロー放電質量分析法)により測定する。
本実施形態のGaAs結晶体は、半絶縁性を有しEPDおよび酸素濃度が極めて低い観点から、比抵抗が1.2×107Ω・cm以上5.0×108Ω・cm以下が好ましく、5.0×107Ω・cm以上5.0×108Ω・cm以下がより好ましい。比抵抗は、van der Pauw法によるホール測定により測定する。
本実施形態のGaAs結晶体に半絶縁性を付与する半絶縁性不純物は、特に制限はないが、GaAs結晶体に半絶縁性を効果的に付与する観点から、炭素が好ましい。GaAs結晶体に比抵抗が1.2×107Ω・cm以上5.0×108Ω・cm以下の半絶縁性を付与する観点から、炭素濃度は5.0×1014原子・cm-3以上1.5×1016原子・cm-3以下が好ましく、8.0×1014原子・cm-3以上1.3×1016原子・cm-3以下がより好ましい。GaAs結晶体の酸素濃度が低いほど炭素が効果的に添加できるため、炭素濃度を高める観点からも酸素濃度は低いほど好ましい。炭素濃度は、CPAA(荷電粒子放射化分析法)により測定する。
本実施形態のGaAs結晶体は、後述のようにVB(垂直ブリッヂマン)法、VGF(垂直温度傾斜凝固)法などの坩堝を用いたボート法により製造され、かかる坩堝は一般的にホウ素を含んでいる(坩堝は一般にPBN(熱分解窒化ホウ素)が用いられ、GaAs原料に接する内壁面には封止材としてホウ素酸化物膜が用いられる)ため、ホウ素を含んでいる。このため、本実施形態のGaAs結晶体はホウ素が含まれる。本実施形態のGaAs結晶体のホウ素濃度は、GaAs結晶体のドーパント活性化率の低下を防ぐ観点から、1.0×1019原子・cm-3以下が好ましく、8.0×1018原子・cm-3以下がより好ましい。また、現在の製造技術レベルから好ましくは5.0×1016原子・cm-3以上である。ホウ素濃度は、GDMS(グロー放電質量分析法)により測定する。
図1を参照して、本実施形態のGaAs(ヒ化ガリウム)結晶体の製造装置は、特に制限はないが、EPDが10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満であるGaAs結晶体を効率よく製造する観点から、坩堝21と、坩堝保持台22と、封止材23と、ヒータ24a,24bと、遮蔽板25と、チャンバー26と、を含むことが好ましい。
図1を参照して、本実施形態のGaAs(ヒ化ガリウム)結晶体の製造方法は、特に制限はないが、EPDおよび酸素濃度が低いGaAs結晶体を効率よく成長させる観点から、上記の製造装置20を用いて、VB(垂直ブリッヂマン)法、VGF(垂直温度傾斜凝固)法などのボート法によることが好ましい。さらに、直胴部の直径の大きなGaAs結晶体を製造する観点から、VB法がより好ましい。具体的には、本実施形態のGaAs結晶体の製造方法は、好ましくは、GaAs種結晶装入工程、GaAs原料装入工程、遮蔽板配置工程、封止材配置工程、および結晶成長工程を含む。
本実施形態のGaAs(ヒ化ガリウム)結晶基板は、EPD(エッチングピット密度)が10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、酸素濃度が1.0×1016原子・cm-3未満である。本実施形態のGaAs結晶体は、EPDおよび酸素濃度が極めて低い。EPDが10個・cm-2以上10000個・cm-2以下と低いことにより、GaAs結晶体は加工の際の割れやすさが抑制され加工歩留まりが高くなる。また、酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満と極めて低いことにより、GaAs結晶の絶縁性または導電性の効率的な調整が可能となる。
1.GaAs結晶体の作製
図1に示すような製造装置を用いて、VB法によりn型導電性不純物としてSi(ケイ素)を添加することによりケイ素濃度の異なる4つのn型導電性のGaAs結晶体を成長させた(実施例I−1〜I−5)。GaAs原料として純度99.9質量%のGaAs多結晶を用いた。遮蔽板としてPBN板を用いた。封止材としてB2O3を用いた。遮蔽板の遮蔽率およびヒータ間隙間の数は表1に示すとおりとした。結晶成長界面の結晶成長方向の温度勾配が1℃/mm以下となるように坩堝内の温度分布を調整して、GaAs結晶体を成長させた。
得られたGaAs結晶体の外周を研削し結晶成長方向に垂直な面でスライスした後、主表面を機械的研磨および化学機械的研磨(CMP)することにより、表1に示す直径で厚さが325μm以上700μm以下のGaAs結晶基板を作製した(実施例I−1〜I−5)。得られたGaAs結晶基板のEPD、酸素濃度、ケイ素濃度、ホウ素濃度、および比抵抗をそれぞれ測定した。EPDは、GaAs結晶基板を25質量%のKOH水溶液により350℃で30分間浸漬したときに表面に発生した腐食孔の単位面積当たりの個数を画像解析により測定した。酸素濃度は、CPAA(荷電粒子放射化分析法)により測定した。ケイ素濃度およびホウ素濃度は、GDMS(グロー放電質量分析法)により測定した。比抵抗は、van der Pauw法によるホール測定により測定した。結果を表1、図4および5にまとめた。ここで、図4および5は、実施例I−1〜I−5以外の実施例を含む。
1.GaAs結晶体の作製
図1に示すような製造装置を用いて、VB法により半絶縁性不純物としてC(炭素)を添加することにより炭素濃度および比抵抗の異なる5つの半絶縁性のGaAs結晶体を成長させた(実施例II−1〜II−5)。GaAs原料として純度99.9質量%のGaAs多結晶を用いた。遮蔽板としてPBN板を用いた。封止材としてB2O3を用いた。遮蔽板の遮蔽率およびヒータ間隙間の数は表2に示すとおりとした。結晶成長界面の結晶成長方向の温度勾配が1℃/mm以下となるように坩堝内の温度分布を調整して、GaAs結晶体を成長させた。
得られたGaAs結晶体の外周を研削し結晶成長方向に垂直な面でスライスした後、主表面を機械的研磨および化学機械的研磨(CMP)することにより、表2に示す直径で厚さが325μm以上700μm以下のGaAs結晶基板を作製した(実施例II−1〜II−5)。得られたGaAs結晶基板のEPD、酸素濃度、炭素濃度、ホウ素濃度、および比抵抗をそれぞれ測定した。EPDは、GaAs結晶基板を25質量%のKOH水溶液により350℃で30分間浸漬したときに表面に発生した腐食孔の単位面積当たりの個数を画像解析により測定した。酸素濃度および炭素濃度は、CPAA(荷電粒子放射化分析法)により測定した。ホウ素濃度は、GDMS(グロー放電質量分析法)により測定した。比抵抗は、van der Pauw法によるホール測定により測定した。結果を表2、図4および5にまとめた。ここで、図4および5は、実施例II−1〜II−5以外の実施例を含む。
上記実施例IおよびIIとの対比のため、表3に示す製造方法および製造条件以外は、実施例I(n型導電性の場合)または実施例II(半絶縁性の場合)と同様にして、GaAs結晶体およびGaAs結晶基板を作製した(比較例RI−1〜RI−3およびRII−1〜RII−3)。なお、比較例RI−1および比較例RII−1は、LEC(液体封止型チョクラルスキー)法により製造したものであり、上記実施例IおよびIIと同様に、原料には純度99.9質量%のGaAs多結晶、半絶縁性不純物にはC(炭素)、n型導電性不純物にはSi(ケイ素)を用いた。得られたGaAs結晶基板のEPD、酸素濃度、ケイ素濃度もしくは炭素濃度、ホウ素濃度、および比抵抗をそれぞれ実施例Iまたは実施例IIと同様にして測定した。結果を表1、図4および5にまとめた。ここで、図4は、比較例RI−1〜RI−3およびRII−1〜RII−3以外の比較例を含む。
Claims (7)
- エッチングピット密度が10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、
酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満であり、
比抵抗が1.2×10 7 Ω・cm以上5.0×10 8 Ω・cm以下であり、
円柱状の直胴部を含み、前記直胴部の直径が100mm以上305mm以下であるヒ化ガリウム結晶体。 - 前記酸素濃度が2.0×1014原子・cm-3以上5.0×1015原子・cm-3以下である請求項1に記載のヒ化ガリウム結晶体。
- ホウ素濃度が1.0×1019原子・cm-3以下である請求項1または請求項2に記載のヒ化ガリウム結晶体。
- エッチングピット密度が10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、
酸素濃度が7.0×1015原子・cm-3未満であり、
比抵抗が1.2×10 7 Ω・cm以上5.0×10 8 Ω・cm以下であり、
直径が100mm以上305mm以下であるヒ化ガリウム結晶基板。 - 前記酸素濃度が2.0×1014原子・cm-3以上5.0×1015原子・cm-3以下である請求項4に記載のヒ化ガリウム結晶基板。
- ホウ素濃度が1.0×1019原子・cm-3以下である請求項4または請求項5に記載のヒ化ガリウム結晶基板。
- エッチングピット密度が10個・cm-2以上10000個・cm-2以下であり、
酸素濃度が2.0×1014原子・cm-3以上5.0×1015原子・cm-3以下であり、
ホウ素濃度が1.0×1019原子・cm-3以下であり、
比抵抗が1.2×10 7 Ω・cm以上5.0×10 8 Ω・cm以下であり、
直径が100mm以上305mm以下であるヒ化ガリウム結晶基板。
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CN113213971A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-08-06 | 广东先导微电子科技有限公司 | 一种pbn坩埚氧化预处理装置、方法及其应用 |
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5912638A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | インピ−ダンス合成形ライン回路 |
JPH01239089A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 化合物半導体単結晶の製造方法及び製造装置 |
JPH02157198A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Nec Corp | ガリウム砒素化合物半導体単結晶 |
JPH0616493A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Mitsubishi Materials Corp | ガリウム砒素単結晶の成長方法 |
JPH06219900A (ja) * | 1993-01-28 | 1994-08-09 | Dowa Mining Co Ltd | Siドープn型ガリウム砒素単結晶の製造方法 |
WO2010079826A1 (ja) * | 2009-01-09 | 2010-07-15 | 住友電気工業株式会社 | 単結晶製造装置、単結晶の製造方法および単結晶 |
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---|---|---|---|---|
US3596148A (en) * | 1970-01-19 | 1971-07-27 | Monsanto Co | Double-doped gallium arsenide and method of preparation |
JPS5912638B2 (ja) * | 1974-01-25 | 1984-03-24 | 同和鉱業 (株) | 揮発性成分を含む金属間化合物の直接合成方法 |
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JPS60137899A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 砒化ガリウム単結晶とその製造方法 |
JPH02145499A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-06-04 | Tsuaitowan Faaren Gonie Jishu Ienjiou Yuen | 砒化ガリウム単結晶の成長方法 |
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DE112006000771B4 (de) * | 2005-03-31 | 2012-05-31 | Dowa Electronics Materials Co., Ltd. | Si-dotierter GaAs-Einkristallingot und Verfahren zur Herstellung desselbigen, und Si-dotierter GaAs-Einkristallwafer, der aus Si-dotiertem GaAs-Einkristallingot hergestellt wird |
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EP1739210B1 (de) * | 2005-07-01 | 2012-03-07 | Freiberger Compound Materials GmbH | Verfahren zur Herstellung von dotierten Halbleiter-Einkristallen, und III-V-Halbleiter-Einkristall |
US8361225B2 (en) * | 2007-05-09 | 2013-01-29 | Axt, Inc. | Low etch pit density (EPD) semi-insulating III-V wafers |
US7566641B2 (en) * | 2007-05-09 | 2009-07-28 | Axt, Inc. | Low etch pit density (EPD) semi-insulating GaAs wafers |
JP2009126723A (ja) * | 2007-11-20 | 2009-06-11 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Iii族窒化物半導体結晶の成長方法、iii族窒化物半導体結晶基板の製造方法およびiii族窒化物半導体結晶基板 |
JP5110026B2 (ja) * | 2009-04-03 | 2012-12-26 | 住友電気工業株式会社 | Iii−v族化合物半導体結晶の製造方法 |
CN101724886B (zh) * | 2009-12-24 | 2011-11-23 | 中科晶电信息材料(北京)有限公司 | 砷化镓或锗单晶生长方法 |
CN102859050B (zh) * | 2010-03-29 | 2015-07-15 | 住友电气工业株式会社 | 制造半导体单晶的方法 |
JP6070548B2 (ja) * | 2011-05-18 | 2017-02-01 | 住友電気工業株式会社 | 化合物半導体基板 |
WO2013143018A1 (zh) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | 北京通美晶体技术有限公司 | 一种iiiα-va族半导体单晶衬底及其制备方法 |
WO2014153734A1 (en) * | 2013-03-27 | 2014-10-02 | Beijing Tongmei Xtal Technology Co., Ltd. | Controllable oxygen concentration in semiconductor substrate |
CN103526279A (zh) * | 2013-10-25 | 2014-01-22 | 北京华进创威电子有限公司 | 一种用于GaAs晶体生长的套筒式石墨加热器 |
CN106319630B (zh) * | 2015-07-02 | 2018-07-06 | 广东先导先进材料股份有限公司 | 砷化镓单晶的生长方法 |
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Patent Citations (7)
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---|---|---|---|---|
JPS5912638A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | インピ−ダンス合成形ライン回路 |
JPH01239089A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 化合物半導体単結晶の製造方法及び製造装置 |
JPH02157198A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Nec Corp | ガリウム砒素化合物半導体単結晶 |
JPH0616493A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Mitsubishi Materials Corp | ガリウム砒素単結晶の成長方法 |
JPH06219900A (ja) * | 1993-01-28 | 1994-08-09 | Dowa Mining Co Ltd | Siドープn型ガリウム砒素単結晶の製造方法 |
WO2010079826A1 (ja) * | 2009-01-09 | 2010-07-15 | 住友電気工業株式会社 | 単結晶製造装置、単結晶の製造方法および単結晶 |
JP2012246156A (ja) * | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Dowa Electronics Materials Co Ltd | GaAs単結晶の製造方法およびGaAs単結晶ウェハ |
Non-Patent Citations (1)
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---|
P. RUDOLPH ET AL.: "Growth and characterization of GaAs crystals Produced by the VCz method without boric oxide encapsul", JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, vol. 292, JPN6017034554, 2006, pages 532 - 537, XP028016493, ISSN: 0003793853, DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2006.04.066 * |
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