JP6380652B2 - R−t−b系焼結磁石の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明はR−T−B系焼結磁石の製造方法に関する。
R−T−B系焼結磁石(Rは希土類元素うちの少なくとも一種であり、Ndを必ず含む。TはFe又はFeとCoであり、Bは硼素である)は永久磁石の中で最も高性能な磁石として知られており、ハードディスクドライブのボイスコイルモータ(VCM)、電気自動車用(EV、HV、PHVなど)モータ、産業機器用モータなどの各種モータや家電製品などに使用されている。
R−T−B系焼結磁石は、主としてR214B化合物からなる主相と、この主相の粒界部分に位置する粒界相とから構成されている。主相であるR214B化合物は高い飽和磁化と異方性磁界を持つ強磁性材料であり、R−T−B系焼結磁石の特性の根幹をなしている。
高温では、R−T−B系焼結磁石の保磁力HcJ(以下、単に「HcJ」という場合がある)が低下するため、不可逆熱減磁が起こる。そのため、特に電気自動車用モータに使用されるR−T−B系焼結磁石では、高いHcJを有することが要求されている。
R−T−B系焼結磁石において、R214B化合物中のRに含まれる軽希土類元素RL(例えば、NdやPr)の一部を重希土類元素RH(例えば、DyやTb)で置換すると、HcJが向上することが知られている。RHの置換量の増加に伴い、HcJは向上する。
しかし、R214B化合物中のRLをRHで置換すると、R−T−B系焼結磁石のHcJが向上する一方、残留磁束密度Br(以下、単に「Br」という場合がある)が低下する。また、特にDyなどのRHは、資源存在量が少ないうえ、産出地が限定されているなどの理由から、供給が安定しておらず、価格が大きく変動するなどの問題を有している。そのため、近年、RHをできるだけ使用することなく、HcJを向上させることが求められている。
特許文献1には、Dyの含有量を抑制しつつ保磁力の高いR−T−B系希土類焼結磁石が開示されている。この焼結磁石の組成は、一般に用いられてきたR−T−B系合金に比べてB量が相対的に少ない特定の範囲に限定され、かつ、Al、Ga、Cuのうちから選ばれる1種以上の金属元素Mを含有している。その結果、粒界にR217相が生成され、このR217相から粒界に形成される遷移金属リッチ相(R613M)の体積比率が増加することにより、HcJが向上する。
国際公開第2013/008756号
特許文献1に開示されているR−T−B系希土類焼結磁石では、Dyの含有量を低減しつつ高いHcJが得られるものの、Brが大幅に低下するという問題があった。また、近年、電気自動車用モータ等の用途において更に高いHcJを有するR−T−B系焼結磁石が求められている。
本発明の様々な実施形態は、RHの含有量を低減しつつ、高いBrと高いHcJを有するR−T−B系焼結磁石の製造方法を提供する。
本開示のR−T−B系焼結磁石の製造方法は、R:27.5〜35.0質量%(Rは希土類元素うちの少なくとも一種であり、Ndを必ず含む)、
B:0.80〜0.99質量%、
Ga:0〜0.8質量%、
M:0〜2質量%(MはCu、Al、Nb、Zrの少なくとも一種)、
を含有し、
残部T(TはFe又はFeとCo)及び不可避的不純物からなり、且つ、下記不等式(1)を満足する組成を有するR−T−B系焼結磁石素材を準備する工程と、
[T]/55.85>14[B]/10.8 (1)
([T]は質量%で示すTの含有量であり、[B]は質量%で示すBの含有量である)
Pr−Ga(PrがPr−Ga合金全体の65〜97質量%であり、Prの20質量%以下をNdで置換することができ、Prの30質量%以下をDy及び/又はTbで置換することができる。GaはPr−Ga合金全体の3質量%〜35質量%であり、Gaの50質量%以下をCuで置換することができる。不可避的不純物を含むんでいても良い。)合金を準備する工程と、
前記R−T−B系焼結磁石素材表面の少なくとも一部に、前記Pr−Ga合金の少なくとも一部を接触させ、真空又は不活性ガス雰囲気中、600℃超950℃以下の温度で第一の熱処理を実施する工程と、
前記第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して、真空又は不活性ガス雰囲気中、前記第一の熱処理を実施する工程で実施した温度よりも低い温度で且つ、450℃以上750℃以下の温度で第二の熱処理を実施する工程と、
を含む、R−T−B系焼結磁石の製造方法。
ある実施形態において、前記R−T−B系焼結磁石素材のGa量が0〜0.5質量%である。
ある実施形態において、前記Pr−Ga合金のNd含有量は不可避的不純物含有量以下である。
ある実施形態において、前記第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石を前記第一の熱処理を実施した温度から5℃/分以上の冷却速度で300℃まで冷却する。
ある実施形態において、前記冷却速度が15℃/分以上である。
本開示の実施形態によると、R−T−B系焼結磁石素材がPr−Ga合金と接触しながら熱処理を受けることにより、Pr及びGaを主相にはほとんど拡散させずに粒界を通じて拡散させることができる。Prの存在が粒界拡散を促進する結果、磁石内部の奥深くまでPrとGaを拡散させることができる。これにより、RHの含有量を低減しつつ、高いBrと高いHcJを得ることができる。
本開示によるR−T−B系焼結磁石の製造方法における工程の例を示すフローチャートである。 R−T−B系焼結磁石の一部を拡大して模試的に示す断面図である。 図2Aの破線矩形領域内を更に拡大して模式的に示す断面図である。
本開示によるR−T−B系焼結磁石の製造方法は、図1に示すように、R−T−B系焼結磁石素材を準備する工程S10と、Pr−Ga合金を準備する工程S20とを含む。R−T−B系焼結磁石素材を準備する工程S10とPr−Ga合金を準備する工程S20との順序は任意であり、それぞれ、異なる場所で製造されたR−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金を用いてもよい。
R−T−B系焼結磁石素材は、
R:27.5〜35.0質量%(Rは希土類元素うちの少なくとも一種であり、Ndを必ず含む)、
B:0.80〜0.99質量%、
Ga:0〜0.8質量%、
M:0〜2質量%(MはCu、Al、Nb、Zrの少なくとも一種)、
を含有し、
残部T(TはFe又はFeとCo)、及び
不可避的不純物からなる。
このR−T−B系焼結磁石素材は、Tの含有量(質量%)を[T]、Bの含有量(質量%)を[B]とするとき、下記の不等式(1)を満足する。
[T]/55.85>14[B]/10.8 (1)
この不等式を満足するということは、Bの含有量がR214B化合物の化学量論組成比よりも少ない、すなわち、主相(R214B化合物)形成に使われるT量に対して相対的にB量が少ないことを意味している。
Pr−Ga合金は、65〜97質量のPr及び3質量%〜35質量%のGaの合金である。ただし、Prの20質量%以下をNdで置換することができる。また、Prの30質量%以下をDy及び/又はTbで置換してもよい。更に、Gaの50質量%以下をCuで置換することができる。Pr−Ga合金は、不可避的不純物を含んでいても良い。
本開示によるR−T−B系焼結磁石の製造方法は、図1に示すように、更に、R−T−B系焼結磁石素材表面の少なくとも一部にPr−Ga合金の少なくとも一部を接触させ、真空又は不活性ガス雰囲気中、600℃超950℃以下の温度で第一の熱処理を実施する工程S30と、この第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して、真空又は不活性ガス雰囲気中、前記第一の熱処理を実施する工程で実施した温度よりも低い温度で且つ、450℃以上750℃以下の温度で第二の熱処理を実施する工程S40とを含む。第一の熱処理を実施する工程S30は、第二の熱処理を実施する工程S40の前に実行される。第一の熱処理を実施する工程S30と、第二の熱処理を実施する工程S40との間に、他の工程、例えば冷却工程、Pr−Ga合金とR−T−B系焼結磁石素材とが混合した状態からR−T−B系焼結磁石素材を取り出す工程などが実行され得る。
1.メカニズム
R−T−B系焼結磁石は、原料合金の粉末粒子が焼結によって結合した構造を有しており、主としてR214B化合物からなる主相と、この主相の粒界部分に位置する粒界相とから構成されている。
図2Aは、R−T−B系焼結磁石の一部を拡大して模試的に示す断面図であり、図2Bは図2Aの破線矩形領域内を更に拡大して模式的に示す断面図である。図2Aには、一例として長さ5μmの矢印が大きさを示す基準の長さとして参考のために記載されている。図2A及び図2Bに示されるように、R−T−B系焼結磁石は、主としてR214B化合物からなる主相12と、主相12の粒界部分に位置する粒界相14とから構成されている。また、粒界相14は、図2Bに示されるように、2つのR214B化合物粒子(グレイン)が隣接する二粒子粒界相14aと、3つのR214B化合物粒子が隣接する粒界三重点14bとを含む。
主相12であるR214B化合物は高い飽和磁化と異方性磁界を持つ強磁性材料である。したがって、R−T−B系焼結磁石では、主相12であるR214B化合物の存在比率を高めることによってBrを向上させることができる。R214B化合物の存在比率を高めるためには、原料合金中のR量、T量、B量を、R214B化合物の化学量論比(R量:T量:B量=2:14:1)に近づければよい。R214B化合物を形成するためのB量又はR量が化学量論比を下回ると、粒界相14にFe相又はR217相等の磁性体が生成し、HcJが急激に低下する。しかし、磁石組成にGaが含有されていると、例えばB量が化学量論比を下回っても、Fe相及びR217相の代わりにR−T−Ga相が粒界に生成され、HcJの低下を抑制することができると考えられてきた。
しかし、本発明者らの検討の結果、Gaを原料合金中に添加した場合、又は原料合金の粉砕によって形成される原料合金粉末に添加した場合、Gaの一部が粒界相14だけでなく主相12中にも含有されることによって主相12の磁化が低下し、それによりBrが低下する場合のあることが分かった。したがって、高いBrを得るには、Gaの添加量を抑制する必要がある。一方、Gaの添加量が少なすぎると、Fe相及びR217相が粒界相14に残存し、それによりHcJが低下してしまう。すなわち、Gaを原料合金段階及び/又は原料合金粉末の段階で添加する場合、高いBrと高いHcJの両方を得ることが困難であることが分かった。
上記の問題を解決するため、更に検討した結果、前述した特定組成のR−T−B系焼結磁石素材表面の少なくとも一部に、Pr−Ga合金の少なくとも一部を接触させて特定の熱処理を行うことによってGaをR−T−B系焼結磁石素材に導入すると、Gaの一部が主相12中に含有することを抑制することができることがわかった。さらに、Gaを粒界相14に拡散させるためには、Prを主成分とするGaを含む合金を用いてGa及びPrを焼結磁石素材表面から内部に拡散させることが重要であることがわかった。
後述する実施例について示すように、Prの代わりにNdを用いた場合はPrを用いた場合と比べて高いBrと高いHcJを得ることができない。これは、本発明の特定組成においては、PrがNdに比べて粒界相14に拡散され易いからだと考えられる。言い換えると、PrはNdに比べて粒界相14中への浸透力が大きいと考えられる。Ndは主相12中にも浸透しやすいため、Nd−Ga合金を用いた場合はGaの一部が主相12中にも拡散されると考えられる。この場合、合金段階や合金粉末の段階でGaを添加する場合に比べて、主相12に拡散されるGaの量は少ない。
本発明によれば、Pr−Ga合金を使用することにより、Pr及びGaを主相にはほとんど拡散させずに粒界を通じて拡散させることができる。また、Prの存在が粒界拡散を促進する結果、磁石内部の奥深くまでGaを拡散させることができる。これにより、高いBrと高いHcJを得ることができると考えられる。
2.用語の規定
(R−T−B系焼結磁石素材とR−T−B系焼結磁石)
本発明において、第一の熱処理前及び第一の熱処理中のR−T−B系焼結磁石を「R−T−B系焼結磁石素材」と称し、第一の熱処理後、第二の熱処理前及び第二の熱処理中のR−T−B系焼結磁石を「第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材」と称し、第二の熱処理後のR−T−B系焼結磁石を単に「R−T−B系焼結磁石」と称する。
(R−T−Ga相)
R−T−Ga相とは、R、T、及びGaを含む化合物であり、その典型例は、R613Ga化合物である。また、R613Ga化合物は、La6Co11Ga3型結晶構造を有する。R613Ga化合物は、R613-δGa1+δ化合物の状態にある場合があり得る。R−T−B系焼結磁石中にCu、Al及びSiが含有される場合、R−T−Ga相はR613-δ(Ga1-x-y-zCuxAlySiz1+δであり得る。
3.組成等の限定理由について
(R)
Rの含有量は27.5〜35.0質量%である。Rは希土類元素うちの少なくとも一種であり、Ndを必ず含む。Rが27.5質量%未満では焼結過程で液相が十分に生成せず、焼結体を充分に緻密化することが困難になる。一方、Rが35.0質量%を超えても本発明の効果を得ることができるが、焼結体の製造工程中における合金粉末が非常に活性になり、合金粉末の著しい酸化や発火などが生じる可能性があるため、35質量%以下が好ましい。Rは28質量%〜33質量%以下であることがより好ましく、29質量%〜33質量%以下であることがさらに好ましい。RHの含有量は、R−T−B系焼結磁石全体の5質量%以下が好ましい。本発明はRHを使用しなくても高いBrと高いHcJを得ることができるため、より高いHcJを求められる場合でもRHの添加量を削減できる。
(B)
Bの含有量は、0.80〜0.99質量%である。不等式(1)を満たした上で、Bの含有量を0.80〜0.99質量%含有させたR−T−B系焼結磁石素材に対して、後述するPr−Ga合金を拡散させることにより、R−T−Ga相を生成させることができる。Bの含有量が0.80質量%未満であるとBrが低下する可能性があり、0.99質量%を超えるとR−T−Ga相の生成量が少なすぎてHcJが低下する可能性がある。また、Bの一部はCで置換できる。
(Ga)
Pr−Ga合金からGaを拡散する前のR−T−B系焼結磁石素材におけるGaの含有量は、0〜0.8質量%である。本発明は、Pr−Ga合金をR−T−B系焼結磁石素材に拡散させることによりGaを導入するため、R−T−B系焼結磁石素材のGa量は比較的少ない量(又はGaを含有しない)にする。Gaの含有量が0.8質量%を超えると、上述したように主相中にGaが含有することで主相の磁化が低下し、高いBrを得ることができない可能性がある。好ましくはGaの含有量は、0.5質量%以下である。より高いBrを得ることができる。
(M)
Mの含有量は、0〜2質量%である。MはCu、Al、Nb、Zrの少なくとも一種であり、0質量%であっても本発明の効果を奏することができるが、Cu、Al、Nb、Zrの合計で2質量%以下含有することができる。Cu、Alを含有することによりHcJを向上させることができる。Cu、Alは積極的に添加してもよいし、使用原料や合金粉末の製造過程において不可避的に導入されるものを活用してもよい(不純物としてCu、Alを含有する原料を使用してもよい)。また、Nb、Zrを含有することにより焼結時における結晶粒の異常粒成長を抑制することができる。Mは好ましくは、Cuを必ず含み、Cuを0.05〜0.30質量%含有する。Cuを0.05〜0.30質量%含有することにより、よりHcJを向上させることができるからである。
(残部T)
残部はT(TはFe又はFeとCo)であり、Tは、不等式(1)を満足する。質量比でTの90%以上がFeであることが好ましい。Feの一部をCoで置換することができる。但し、Coの置換量が、質量比でT全体の10%を超えるとBrが低下するため好ましくない。さらに、本発明のR−T−B系焼結磁石素材は、ジジム合金(Nd−Pr)、電解鉄、フェロボロンなどの合金中及び製造工程中に通常含有される不可避的不純物並びに少量の上記以外の元素(上記R、B、Ga、M、T以外の元素)を含有してもよい。例えば、Ti、V、Cr、Mn、Ni、Si、La、Ce、Sm、Ca、Mg、O(酸素)、N(炭素)、C(窒素)、Mo、Hf、Ta、Wなどをそれぞれ含有してもよい。
(不等式(1))
不等式(1)を満足することにより、Bの含有量が一般的なR−T−B系焼結磁石よりも少なくなる。一般的なR−T−B系焼結磁石は、主相であるR214B相以外にFe相やR217相が生成しないよう[T]/55.85(Feの原子量)が14[B]/10.8(Bの原子量)よりも少ない組成となっている([T]は質量%で示すTの含有量であり、[B]は質量%で示すBの含有量である)。本発明のR−T−B系焼結磁石は、一般的なR−T−B系焼結磁石と異なり、[T]/55.85(Feの原子量)が14[B]/10.8(Bの原子量)よりも多くなるように不等式(1)で規定する。なお、本発明のR−T−B系焼結磁石におけるTはFeが主成分であるためFeの原子量を用いた。
(Pr−Ga合金)
Pr−Ga合金は、PrがPr−Ga合金全体の65〜97質量%であり、Prの20質量%以下をNdで置換することができ、Prの30質量%以下をDy及び/又はTbで置換することができる。GaはPr−Ga合金全体の3質量%〜35質量%であり、Gaの50質量%以下をCuで置換することができる。不可避的不純物を含んでいても良い。なお、本発明における「Prの20%以下をNdで置換することができ」とは、Pr−Ga合金中のPrの含有量(質量%)を100%とし、そのうち20%をNdで置換できることを意味する。例えば、Pr−Ga合金中のPrが65質量%(Gaが35質量%)であれば、Ndを13質量%まで置換することができる。すなわち、Prが52質量%、Ndが13質量%となる。Dy、Tb、Cuの場合も同様である。Pr及びGaを上記範囲内としたPr−Ga合金を本発明の組成範囲のR−T−B系焼結磁石素材に対して後述する第一の熱処理を行うことにより、Gaを、粒界を通じて磁石内部の奥深くまで拡散させることができる。本発明は、Prを主成分とするGaを含む合金を用いることを特徴とする。Prは、Nd、Dy及び/又はTbと置換することができるが、それぞれの置換量が上記範囲を超えるとPrが少なすぎるため、高いBrと高いHcJを得ることができない。好ましくは、前記Pr−Ga合金のNd含有量は不可避的不純物含有量以下(およそ1質量%以下)である。Gaは、50%以下をCuで置換することができるが、Cuの置換量が50%を超えるとHcJが低下する可能性がある。
Pr−Ga合金の形状及びサイズは、特に限定されず、任意である。Pr−Ga合金は、フィルム、箔、粉末、ブロック、粒子などの形状をとり得る。
4.準備工程
(R−T−B系焼結磁石素材を準備する工程)
R−T−B系焼結磁石素材は、Nd−Fe−B系焼結磁石に代表される一般的なR−T−B系焼結磁石の製造方法を用いて準備することができる。一例を挙げると、ストリップキャスト法等で作製された原料合金を、ジェットミルなどを用いて1μm以上10μm以下に粉砕した後、磁界中で成形し、900℃以上1100℃以下の温度で焼結することにより準備することができる。
原料合金の粉砕粒径(気流分散式レーザー回折法による測定で得られる体積中心値=D50)が1μm未満では粉砕粉を作製するのが非常に困難であり、生産効率が大幅に低下するため好ましくない。一方、粉砕粒径が10μmを超えると最終的に得られるR−T−B系焼結磁石素材の結晶粒径が大きくなり過ぎ、高いHcJを得ることが困難となるため好ましくない。R−T−B系焼結磁石素材は、前記の各条件を満たしていれば、一種類の原料合金(単一原料合金)から作製してもよいし、二種類以上の原料合金を用いてそれらを混合する方法(ブレンド法)によって作製してもよい。また、R−T−B系焼結磁石素材は、O(酸素)、N(窒素)、C(炭素)など、原料合金に存在したり、製造工程で導入される不可避的不純物を含んでいてもよい。
(Pr−Ga合金を準備する工程)
Pr−Ga合金は、一般的なR−T−B系焼結磁石の製造方法において採用されている原料合金の作製方法、例えば、金型鋳造法やストリップキャスト法や単ロール超急冷法(メルトスピニング法)やアトマイズ法などを用いて準備することができる。また、Pr−Ga合金は、前記によって得られた合金をピンミルなどの公知の粉砕手段によって粉砕されたものであってもよい。
5.熱処理工程
(第一の熱処理を実施する工程)
前記によって準備したR−T−B系焼結磁石素材表面の少なくとも一部に、前記Pr−Ga合金の少なくとも一部を接触させ、真空又は不活性ガス雰囲気中、600℃超950℃以下の温度で熱処理をする。本発明においてこの熱処理を第一の熱処理という。これにより、Pr−Ga合金からPrやGaを含む液相が生成し、その液相がR−T−B系焼結磁石素材中の粒界を経由して焼結素材表面から内部に拡散導入される。これにより、Prと共にGaを、粒界を通じてR−T−B系焼結磁石素材の奥深くまで拡散させることができる。第一の熱処理温度が600℃以下であると、PrやGaを含む液相量が少なすぎて高いHcJを得ることが出来ない可能性があり、950℃を超えるとHcJが低下する可能性がある。また、好ましくは、第一の熱処理(600℃超940℃以下)が実施されたR−T−B系焼結磁石素材を前記第一の熱処理を実施した温度から5℃/分以上の冷却速度で300℃まで冷却した方が好ましい。より高いHcJを得ることができる。さらに好ましくは、300℃までの冷却速度は15℃/分以上である。
第一の熱処理は、R−T−B系焼結磁石素材表面に、任意形状のPr−Ga合金を配置し、公知の熱処理装置を用いて行うことができる。例えば、R−T−B系焼結磁石素材表面をPr−Ga合金の粉末層で覆い、第一の熱処理を行うことができる。例えば、Pr−Ga合金を分散媒中に分散させたスラリーをR−T−B系焼結磁石素材表面に塗布した後、分散媒を蒸発させてPr−Ga合金とR−T−B系焼結磁石素材とを接触させてもよい。なお、分散媒として、アルコール(エタノール等)、アルデヒド及びケトンを例示できる。
(第二の熱処理を実施する工程)
第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して、真空又は不活性ガス雰囲気中、前記第一の熱処理を実施する工程で実施した温度よりも低い温度で且つ、450℃以上750℃以下の温度で熱処理を行う。本発明においてこの熱処理を第二の熱処理という。第二の熱処理を行うことにより、R−T−Ga相が生成され、高いHcJを得ることができる。第二の熱処理が第一の熱処理よりも高い温度であったり、第二の熱処理の温度が450℃未満及び750℃を超える場合は、R−T−Ga相の生成量が少なすぎて高いHcJを得ることができない。
実施例1
[R−T−B系焼結磁石素材の準備]
表1のNo.A−1及びA−2に示す合金組成となるように各元素の原料を秤量し、ストリップキャスティング法により合金を作製した。得られた各合金を水素粉砕法により粗粉砕し粗粉砕粉を得た。次に、得られた粗粉砕粉に、潤滑剤としてステアリン酸亜鉛を粗粉砕粉100質量%に対して0.04質量%添加、混合した後、気流式粉砕機(ジェットミル装置)を用いて、窒素気流中で乾式粉砕し、粒径D50が4μmの微粉砕粉(合金粉末)を得た。前記微粉砕粉に、潤滑剤としてステアリン酸亜鉛を微粉砕粉100質量%に対して0.05質量%添加、混合した後磁界中で成形し成形体を得た。なお、成形装置には、磁界印加方向と加圧方向とが直交するいわゆる直角磁界成形装置(横磁界成形装置)を用いた。得られた成形体を、真空中、1060℃以上1090℃以下(サンプル毎に焼結による緻密化が十分起こる温度を選定)で4時間焼結し、R−T−B系焼結磁石素材を得た。得られたR−T−B系焼結磁石素材の密度は7.5Mg/m3 以上であった。得られたR−T−B系焼結磁石素材の成分の結果を表1に示す。なお、表1における各成分は、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析法(ICP−OES)を使用して測定した。また、本発明の不等式(1)を満足する場合は「○」と、満足しない場合は「×」と記載した。以下、表5、9、13、17も同様である。尚、表1の各組成を合計しても100質量%にはならない。これは、表1に挙げた成分以外の成分(例えばO(酸素)やN(窒素)など)が存在するためである。以下、表5、9、13、17も同様である。
Figure 0006380652
[Pr−Ga合金の準備]
表2のNo.a―1に示す合金組成となるように各元素の原料を秤量しそれらの原料を溶解して、単ロール超急冷法(メルトスピニング法)によりリボンまたはフレーク状の合金を得た。得られた合金を、乳鉢を用いてアルゴン雰囲気中で粉砕した後、目開き425μmの篩を通過させ、Pr−Ga合金を準備した。得られたPr−Ga合金の組成を表2に示す。
Figure 0006380652
[熱処理]
表1のNo.A−1及びA−2のR−T−B系焼結磁石素材を切断、研削加工し、7.4mm×7.4mm×7.4mmの立方体とした。次に、No.A−1のR−T−B系焼結磁石素材において、配向方向に垂直な面(二面)にR−T−B系焼結磁石素材の100質量部に対してPr−Ga合金(No.a−1)を0.25質量部(一面あたり0.125質量部)散布した。その後、50Paに制御した減圧アルゴン中で、表3に示す温度で第一の熱処理を行った後室温まで冷却を行い、第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材を得た。更に、当該第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材及びNo.A−2(第一の熱処理を行わなかったR−T−B系焼結磁石素材)に対して、50Paに制御した減圧アルゴン中で、表3に示す温度で第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.1及び2)を作製した。尚、前記冷却(前記第一の熱処理を行った後室温まで冷却)は、炉内にアルゴンガスを導入することにより、熱処理した温度(900℃)から300℃までの平均冷却速度を25℃/分の冷却速度で行った。平均冷却速度(25℃/分)における冷却速度ばらつき(冷却速度の最高値と最低値の差)は、3℃/分以内であった。また、No.1のR−T−B系焼結磁石(Pr−Ga合金を用いてPrやGaを拡散させたサンプル)の組成を、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析法(ICP−OES)を使用して測定したところ、No.2(No.2は、Pr−Ga合金を用いていないため、No.A−2と同じ組成)の組成と同等であった。No.1及びNo.2に対して、表面研削盤を用いて各サンプルの全面を0.2mmずつ切削加工し、7.0mm×7.0mm×7.0mmの立方体状のサンプルを得た。
Figure 0006380652
[サンプル評価]
得られたサンプルを、超伝導コイルを備えた振動試料型磁力計(VSM:東英工業製VSM−5SC−10HF)にセットし、4MA/mまで磁界を付与した後、−4MA/mまで磁界を掃引しながら、焼結体の配向方向の磁気ヒステリシス曲線を測定した。得られたヒステリシス曲線から求めたBr及びHcJの値を表4に示す。
Figure 0006380652
上述したようにNo.1と2はほぼ同じ組成にも係らず、表4に示す通り本発明の実施形態(No.1)の方が高いBr及び高いHcJが得られている。尚、後述する実施例も含め、本発明例はいずれもBr≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られている。
実施例2
R−T−B系焼結磁石素材の組成が表5のNo.B−1に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でR−T−B系焼結磁石素材を作製した。
Figure 0006380652
Pr−Ga合金の組成が表6のNo.b−1及びb−2に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でPr−Ga合金を作製した。
Figure 0006380652
R−T−B系焼結磁石素材(No.B−1)を実施例1と同様に加工した後、実施例1のNo.1と同様にR−T−B系焼結磁石素材にPr−Ga合金を散布し、第一の熱処理を行い、更に第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.3及び4)を作製した。作製条件(R−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金の種類並びに第一の熱処理及び第二の熱処理の温度)を表7に示す。なお、第一の熱処理を行った後の室温までの冷却条件は実施例1と同様である。
Figure 0006380652
得られたサンプルを実施例1と同様に加工し、同様な方法により測定し、Br及びHcJを求めた。その結果を表8に示す。
Figure 0006380652
表8に示す通り、Nd−Ga合金(No.b−2)を用いたNo.4と比べてPr−Ga合金(No.b−1)を用いた本発明の実施形態であるNo.3の方が高いHcJが得られている。
実施例3
R−T−B系焼結磁石素材の組成が表9のNo.C−1〜C−4に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でR−T−B系焼結磁石素材を作製した。
Figure 0006380652
Pr−Ga合金の組成が表10のNo.c−1〜c−20に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でPr−Ga合金を作製した。
Figure 0006380652
R−T−B系焼結磁石素材(No.C−1〜C−4)を実施例1と同様に加工した後、実施例1のNo.1と同様にR−T−B系焼結磁石素材にPr−Ga合金を散布し、第一の熱処理を行い、更に第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.5〜25)を作製した。作製条件(R−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金の種類並びに第一の熱処理及び第二の熱処理の温度)を表11に示す。なお、第一の熱処理を行った後の室温までの冷却条件は実施例1と同様である。
Figure 0006380652
得られたサンプルを実施例1と同様に加工し、同様な方法により測定し、Br及びHcJを求めた。その結果を表12に示す。
Figure 0006380652
表12に示す通り、本発明の実施形態であるNo.6〜9、11〜13、No.15〜19、No.22〜24は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られている。これに対し、Pr−Ga合金におけるGaの含有量が本発明の範囲外であるNo.5及び10やPr−Ga合金のPrにおけるNd及びDyの置換量が本発明の範囲外であるNo.14、20、21やPr−Ga合金のGaにおけるCuの置換量が本発明の範囲外であるNo.25は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られていない。
実施例4
R−T−B系焼結磁石素材の組成が表13のNo.D−1〜D−16に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でR−T−B系焼結磁石素材を作製した。
Figure 0006380652
Pr−Ga合金の組成が表14のd−1に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でPr−Ga合金を作製した。
Figure 0006380652
R−T−B系焼結磁石素材(No.D−1〜D−16)を実施例1と同様に加工した後、実施例1のNo.1と同様にR−T−B系焼結磁石素材にPr−Ga合金を散布し、第一の熱処理を行い、更に第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.26〜41)を作製した。作製条件(R−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金の種類並びに第一の熱処理及び第二の熱処理の温度)を表15に示す。なお、第一の熱処理を行った後の室温までの冷却条件は実施例1と同様である。
Figure 0006380652
得られたサンプルを実施例1と同様に加工し、同様な方法により測定し、Br及びHcJを求めた。その結果を表16に示す。
Figure 0006380652
表16に示す通り、本発明の実施形態であるNo.27〜38、No.40、41は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られている。これに対し、R−T−B系焼結磁石素材の組成が本発明の不等式(1)を満たしていないNo.26及びR−T−B系焼結磁石素材におけるGaの含有量が本発明の範囲外であるNo.39は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られていない。また、No.34〜38(R−T−B系焼結磁石素材におけるGaの含有量が0質量%〜0.8質量%)から明らかな様に、R−T−B系焼結磁石素材におけるGaの含有量は0.5質量%以下が好ましく、より高いHcJ(HcJ≧1680kA/m)が得られている。
実施例5
R−T−B系焼結磁石素材の組成が表17のNo.E−1に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でR−T−B系焼結磁石素材を作製した。
Figure 0006380652
Pr−Ga合金の組成が表18のe−1及びe−2に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でPr−Ga合金を作製した。
Figure 0006380652
R−T−B系焼結磁石素材(No.E−1)を実施例1と同様に加工した後、実施例1のNo.1と同様にR−T−B系焼結磁石素材にPr−Ga合金を散布し、第一の熱処理を行い、更に第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.42〜51)を作製した。作製条件(R−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金の種類並びに第一の熱処理及び第二の熱処理の温度)を表19に示す。なお、第一の熱処理を行った後の室温までの冷却条件は実施例1と同様である。
Figure 0006380652
得られたサンプルを実施例1と同様に加工し、同様な方法により測定し、Br及びHcJを求めた。その結果を表20に示す。
Figure 0006380652
表20に示す通り、本発明の実施形態であるNo.42〜45、No.47、48、50は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られている。これに対し、第一の熱処理が本発明の範囲外であるNo.46及び第二の熱処理が本発明の範囲外であるNo.49、51は、Br≧1.30T且つHcJ≧1490kA/mの高い磁気特性が得られていない。
実施例6
R−T−B系焼結磁石素材の組成が表21のNo.F−1及びF−2に示す組成となるように配合する以外は実施例1と同様の方法でR−T−B系焼結磁石素材を作製した。
Figure 0006380652
Pr−Ga合金の組成が表22のf−1に示す組成となるように配合し、実施例1と同様の方法でPr−Ga合金を作製した。
Figure 0006380652
R−T−B系焼結磁石素材(No.F−1及びF−2)を実施例1と同様に加工した後、実施例1のNo.1と同様にR−T−B系焼結磁石素材にPr−Ga合金を散布し、第一の熱処理を行い、更に第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して第二の熱処理を行いR−T−B系焼結磁石(No.52及び53)を作製した。作製条件(R−T−B系焼結磁石素材及びPr−Ga合金の種類並びに第一の熱処理及び第二の熱処理の温度)を表23に示す。なお、前記第一の熱処理を行った後室温まで冷却は、炉内にアルゴンガスを導入することにより、熱処理した温度(900℃)から300℃までの平均冷却速度を10℃/分の冷却速度で行った。平均冷却速度(10℃/分)における冷却速度ばらつき(冷却速度の最高値と最低値の差)は、3℃/分以内であった。
Figure 0006380652
得られたサンプルを実施例1と同様に加工し、同様な方法により測定し、Br及びHcJを求めた。その結果を表24に示す。
Figure 0006380652
表24に示す通り、R−T−B系焼結磁石素材に比較的多くTb及びDyを含有(4%)した場合においても、本発明の実施形態であるNo.52及び53は高い磁気特性が得られている。
本発明によれば、高残留磁束密度、高保磁力のR−T−B系焼結磁石を作製することができる。本発明の焼結磁石は、高温下に晒されるハイブリッド車搭載用モータ等の各種モータや家電製品等に好適である。
12 R214B化合物からなる主相
14 粒界相
14a 二粒子粒界相
14b 粒界三重点

Claims (5)

  1. R:27.5〜35.0質量%(Rは希土類元素うちの少なくとも一種であり、Ndを必ず含む)、
    B:0.80〜0.99質量%、
    Ga:0〜0.8質量%、
    M:0〜2質量%(MはCu、Al、Nb、Zrの少なくとも一種)、
    を含有し、
    残部T(TはFe又はFeとCo)及び不可避的不純物からなり、且つ、下記不等式(1)を満足する組成を有するR−T−B系焼結磁石素材を準備する工程と、
    [T]/55.85>14[B]/10.8 (1)
    ([T]は質量%で示すTの含有量であり、[B]は質量%で示すBの含有量である)
    Pr−Ga(PrがPr−Ga合金全体の65〜97質量%であり、Prの20質量%以下をNdで置換することができ、Prの30質量%以下をDy及び/又はTbで置換することができる。GaはPr−Ga合金全体の3質量%〜35質量%であり、Gaの50質量%以下をCuで置換することができる。不可避的不純物を含むんでいても良い。)合金を準備する工程と、
    前記R−T−B系焼結磁石素材表面の少なくとも一部に、前記Pr−Ga合金の少なくとも一部を接触させ、真空又は不活性ガス雰囲気中、600℃超950℃以下の温度で第一の熱処理を実施する工程と、
    前記第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石素材に対して、真空又は不活性ガス雰囲気中、前記第一の熱処理を実施する工程で実施した温度よりも低い温度で且つ、450℃以上750℃以下の温度で第二の熱処理を実施する工程と、
    を含む、R−T−B系焼結磁石の製造方法。
  2. 前記R−T−B系焼結磁石素材のGa量が0〜0.5質量%である請求項1に記載のR−T−B系焼結磁石の製造方法。
  3. 前記Pr−Ga合金のNd含有量は不可避的不純物含有量以下である、請求項1又は2に記載のR−T−B系焼結磁石の製造方法。
  4. 前記第一の熱処理が実施されたR−T−B系焼結磁石を前記第一の熱処理を実施した温度から5℃/分以上の冷却速度で300℃まで冷却する、請求項1〜3のいずれかに記載のR−T−B系焼結磁石の製造方法。
  5. 前記冷却速度が15℃/分以上である、請求項4に記載のR−T−B系焼結磁石の製造方法。
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