JP6351880B2 - 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム - Google Patents
計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6351880B2 JP6351880B2 JP2017561480A JP2017561480A JP6351880B2 JP 6351880 B2 JP6351880 B2 JP 6351880B2 JP 2017561480 A JP2017561480 A JP 2017561480A JP 2017561480 A JP2017561480 A JP 2017561480A JP 6351880 B2 JP6351880 B2 JP 6351880B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- quality
- value
- quality value
- plan generation
- correlation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 282
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 265
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 110
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 claims description 55
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 35
- 239000000047 product Substances 0.000 claims description 31
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 42
- 230000006870 function Effects 0.000 description 41
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 40
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 35
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 8
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 7
- 238000000611 regression analysis Methods 0.000 description 7
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000013439 planning Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001364 causal effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000010219 correlation analysis Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000012384 transportation and delivery Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41865—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by job scheduling, process planning, material flow
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0237—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on parallel systems, e.g. comparing signals produced at the same time by same type systems and detect faulty ones by noticing differences among their responses
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32187—Correlation between controlling parameters for influence on quality parameters
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Description
特許文献2では、実際に使用された装置経路の品質情報を蓄えて利用するため、実行されていない装置経路については情報がなく、装置経路の候補として対象にならない。よって、特許文献2では必ずしも最適な装置経路が選択されるとは限らない。
特許文献3は回帰分析を利用して製品の品質を定式化しているが、各品質指標の相関を考慮していないため、品質指標間に強い相関がある場合、導出された品質が正しくない場合がある。
複数の装置であって各装置が前記複数の工程のいずれかに属する複数の装置のうち1つの装置を第1装置とすると共に前記第1装置により加工された中間製品の品質を表す品質値を第1品質値とし、前記複数の装置のうち前記第1装置が属する工程より前の工程に属する装置を第2装置とすると共に前記第2装置により加工された中間製品の品質値を第2品質値とし、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定する相関判定部と、
前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあると判定された場合に、中間製品の品質の基準を表す品質基準値を用いて、前記第1装置と前記第2装置とが、前記第1品質値における前記品質基準値との第1誤差と前記第2品質値における前記品質基準値との第2誤差とを打ち消し合う装置の組であるか否かを判定する組判定部と、
前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定された場合に、前記装置の組を用いて、前記工程計画を生成する工程計画生成部とを備える。
***構成の説明***
図1を用いて、本実施の形態に係る計画生成装置100と生産設備400との関係について説明する。
計画生成装置100は、複数の工程50を経て生産される製品53の工程計画151を生成する。図1では、複数の工程50として、工程A50a,工程B50b,・・・,工程Z50zが存在する。
計画生成装置100は、生産計画情報300を取得し、生産計画情報300に含まれる品質規格情報及び生産量の計画値を得る。また、計画生成装置100は、データベース200から各装置の品質情報を得る。計画生成装置100は、得られた情報を用いて、適切な装置の割当を導き出し、各工程に対して工程計画151を提供する。
生産設備400は、複数の装置54を備える。複数の装置54は、各装置が複数の工程50のいずれかに属している。ここで、工程50は、加工工程あるいは製造工程ともいう。また、装置54は、加工装置あるいは製造装置ともいう。
工程B50bはB1号機である装置54b1からBm号機である装置54bmまでの装置54を備える。
工程Z50zはZ1号機である装置54z1からZf号機である装置54zfまでの装置54を備える。ここで、k,m,f,及び後述するnは任意の整数であり各工程に設置されている装置の台数を表す。
工程Aでは工程Aの加工処理を装置54a1から装置54akまでの装置により並列に処理できるようになっている。工程B、・・・、工程Zについても同様である。
工程Aにより加工された中間製品52aは、検査及び搬送工程55aにより検査され、工程Bの装置54b1から装置54bmに搬送される。工程Bについても同様である。最終工程である工程Zにより加工された中間製品52zは、検査及び搬送工程55zにより検査され、検査に合格した中間製品52zが最終製品である製品53として搬送される。
ここで、装置経路とは各工程50で使用する装置54の組合せを意味している。各工程50に同じ機能をもつ装置54が複数ある場合、実際の製造時にはどれか1つを選択することになる。すなわち、上記の例では、工程Aの装置群から装置54a1が選択され、工程Bの装置群から装置54b2が選択され、工程Zの装置群から装置54z2が選択されて1つの装置経路が生成されたことを意味する。
各装置の加工結果が全く同じであれば各工程においてどの装置を選択しても同じ品質をもつ最終の製品53が製造されるはずである。しかし、一般には各検査工程を全て合格した場合でも製品53の品質にはある程度のバラツキが発生する。
なお、図1では、図の表記上、工程Zが最終工程となり、検査及び配送工程55zによって最終検査が実施され、保管場所へ搬送される記載となっている。しかし、AからZの工程数を26に制限するものではなく複数の工程数であれば任意の工程数で構わない。
本実施の形態において、計画生成装置100は、コンピュータである。計画生成装置100は、プロセッサ901、記憶装置902、入力インタフェース903、通信装置910といったハードウェアを備える。
また、計画生成装置100は、機能構成として、品質情報取得部110と、相関判定部120と、組判定部130と、工程計画生成部140と、記憶部160とを備える。以下の説明では、計画生成装置100における品質情報取得部110と、相関判定部120と、組判定部130と、工程計画生成部140との機能を、計画生成装置100の「部」の機能という。計画生成装置100の「部」の機能は、ソフトウェアで実現される。
また、記憶部160は、記憶装置902で実現される。記憶部160には、品質情報210、相関係数情報161、組合せ情報162、品質基準値BQ164が記憶される。なお、品質基準値BQは品質情報210に含まれていてもよい。
プロセッサ901は、プロセッシングを行うIC(Integrated・Circuit)である。プロセッサ901は、具体的には、CPU(Central・Processing・Unit)である。
また、計画生成装置100は、出力インタフェースを備えていてもよい。出力インタフェースは、ディスプレイといった出力装置のケーブルが接続されるポートである。出力インタフェースは、例えば、USB端子又はHDMI(登録商標)(High・Definition・Multimedia・Interface)端子である。ディスプレイは、具体的には、LCD(Liquid・Crystal・Display)である。
なお、「部」の機能を実現する工程計画生成プログラム520は、計画生成装置100の「部」として説明している機能を実現するプログラムである。また、工程計画生成プログラムプロダクトと称されるものは、「部」として説明している機能を実現するプログラムが記録された記憶媒体及び記憶装置であり、見た目の形式に関わらず、コンピュータ読み取り可能なプログラムをロードしているものである。
図3に示すように、データベース200の品質情報210には、生産設備400の各工程50の各装置54により加工された中間製品52の品質を表す品質値が蓄積される。図3では、工程Aと、工程Bと、工程Bと最終の工程Zとの間の工程Xとが表されている。工程Xには、装置54x1から装置54xnのn台の装置が属している。
品質情報210は、データベース200に保存されている情報であり、各工程50の後の検査工程で検査された品質値及び各品質値の分布情報を含む。
本実施の形態では、品質値として、品質値Q1と品質値Q2とが記憶されるものとする。品質値Q1と品質値Q2とは、異なる種類の品質値である。具体例としては、品質値Q1は中間製品52のサイズであり、品質値Q2は中間製品52のキズの数である。品質値は他の種類の品質指標値であっても構わない。
また、工程毎品質情報211には、対応する工程50に属する複数の装置54に関する情報が含まれる。
工程Bにおける工程毎品質情報211b及び工程Xにおける工程毎品質情報211xについても上記工程毎品質情報211aの構成と同様である。
すなわち、工程Bにおける工程毎品質情報211bには、品質値Q1_b1、品質値Q1_b2、品質値Q1_b3、・・・、品質値Q1_bmが設定される。また、品質値Q2_b1、品質値Q2_b2、品質値Q2_b3、・・・、品質値Q2_bmが設定される。また、工程Xにおける工程毎品質情報211xには、品質値Q1_x1、品質値Q1_x2、品質値Q1_x3、・・・、品質値Q1_xnが設定される。また、品質値Q2_x1、品質値Q2_x2、品質値Q2_x3、・・・、品質値Q2_xnが設定される。
図4を用いて、本実施の形態に係る計画生成装置100の計画生成方法510及び計画生成プログラム520の計画生成処理S100について説明する。
品質情報取得処理S110において、品質情報取得部110は、レシーバ911を用いて、データベース200から品質情報210を受信する。品質情報取得部110は、受信した品質情報210を記憶装置902の記憶部160に記憶する。品質情報210の構成は、図3で説明した通りである。
ステップS151において、相関判定部120は、工程毎に以降の処理を実施する。まず、相関判定部120は、1つの工程50を選択し、選択した工程50に属する複数の装置54から1つの装置54を第1装置T154として選択する。第1装置T154は、処理対象の装置である。具体的には、相関判定部120は、記憶部160に記憶された品質情報210から選択した工程50の工程毎品質情報211を取得し、工程毎品質情報211に含まれる工程50に属する複数の装置54に関する情報に基づいて第1装置T154を選択する。
ステップS152において、相関判定部120は、第1装置T154により加工された中間製品52の品質値を第1品質値T1Qとして、記憶部160に記憶された品質情報210から取得する。第1品質値T1Qは、処理対象の品質値である。具体的には、相関判定部120は、品質情報210の工程毎品質情報211に含まれる第1装置T154に対応する品質値の1つを第1品質値T1Qとして選択する。
具体例として、相関判定部120は、工程Xの装置54x2を第1装置T154とし、品質値Q1_x2を第1品質値T1Qとする。
具体例として、相関判定部120は、工程Bの装置54b2を第2装置T254とし、品質値Q2_b2を第2品質値T2Qとする。
ステップS155において、相関判定部120は、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが相関関係にあるか否かを判定する。相関判定部120は、第1相関係数ST1を用いて、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが相関関係にあるか否かを判定する。
具体例として、相関判定部120は、第1品質値T1Qである品質値Q1_x2と、第2品質値T2Qである品質値Q2_b2との相関係数を第1相関係数ST1として算出する。このとき、相関判定部120は、事前に設定した有意水準に基づいて相関があるかどうかに有意差があるか否かを確認し、p値が有意水準に満たない場合には有意差がなく相関がないものと判定する。有意水準は、具体的には5%である。一例として、相関判定部120は、p値が5%以下であり、相関係数が0.2未満の第2品質値T2Qについては第1品質値T1Qとの間に相関関係がないとみなす。
ステップS155において、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが相関関係にあると判定された場合は、S156aに進む。
ステップS156aにおいて、相関判定部120は、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとの第1相関係数ST1を相関係数情報161として記憶部160に記憶する。
ステップS155において、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが相関関係にないと判定された場合は、S157に進む。
ステップS158では、相関判定部120は、第1装置T154の全ての品質値を第1品質値T1Qとして処理済みか否かを判定する。処理済みでない品質値がある場合は、ステップS152に戻り、第1品質値T1Qとして処理済みでない品質値を選択する。処理済みでない品質値がない場合は、S159に進む。
ステップS159では、相関判定部120は、生産設備400に含まれる全ての複数の装置54を第1装置T154として処理済みか否かを判定する。処理済みでない装置がある場合は、ステップS151に戻り、第1装置T154として処理済みでない装置を選択する。処理済みでない装置がない場合は、処理を終了する。
図6では、工程XのX3号機である装置54x3の品質値Q1_x3及び品質値Q2_x3に対する相関係数を示す相関係数情報161を表している。
以下では、図3に示す工程Xの工程毎品質情報211xの品質値Q1_x3を例に処理の説明をする。上述した相関判定処理S120により相関係数を算出することで、品質値Q1_x3と相関関係をもつ品質値群が抽出できる。
図6では、品質値を時系列での前から順に並べて相関係数を設定しているが、相関係数の降順に並び替えて相関係数情報161としてもよい。
相関係数情報161では、p値が5%以下であり有意差がなく、相関係数が0.2未満の品質値については相関関係がないとみなすことができる。ここで、製造される製品あるいは工程に特化した特別な理由がない限り、上記の一般的な値を閾値として利用し、相関関係を判定する。相関関係のない品質値については工程計画を生成する際に特別な考慮は必要ないため、相関係数情報161に格納しない。
しかし、相関判定部120は、第1品質値T1Qとの相関係数を算出した品質値の全てを相関係数情報161に設定してもよい。この場合、相関判定部120は、相関係数情報161に設定された品質値の中から第1品質値T1Q(具体例では、品質値Q1_x3)と相関関係がある品質値を判定する。
図6では、相関係数情報161には、装置54x3の品質値Q1_x3との相関係数を算出した品質値の全てが設定されている例を示している。
図7では、品質値Q1_x3に対する相関係数を計算したときに、Q1、Q2、Q1_a1については相関関係があるが、それ以外の品質値については相関関係がないと判断された場合の品質値関連図を示している。相関関係がある組合せには矢印でリンク212,213,215が記載されている。ただし、図7にはリンク214があり、これはQ1とQ1_a2との間に相関関係があることを示している。このような場合、Q1_x3に対するQ1_a2のリンク212に対して計算される相関係数はQ1の影響を含んだ値になる。このため、この影響を除いた偏相関係数を算出する必要がある。よって、相関判定処理S120のステップS156では、現在算出しようとしている工程の前工程に含まれる品質値間の相関関係を考慮した第1相関係数を算出している。
組判定処理S130において、組判定部130は、記憶部160に記憶された相関係数情報161を用いて処理を実行する。
装置の組540であるとは、第1品質値T1Qにおける品質基準値BQとの第1誤差31と、第2品質値T2Qにおける品質基準値との第2誤差32とを打ち消し合う装置の組を意味する。
ステップS141において、組判定部130は、品質情報210に含まれる品質値について、品質基準値BQからのブレの大きさの降順でソート処理をする。具体的には、組判定部130は、品質値のそれぞれに対して、あらかじめ設定された実行履歴回数分、もしくは予め設定された期間に製造された中間製品52の製造実績情報を入力として、各品質値について平均値を計算する。組判定部130は、算出された平均値と対応する品質基準値BQとの差を求めることで品質基準値BQからのブレを算出する。組判定部130は、上記の手順で算出したブレの絶対値の降順で各品質値をソートする。
具体的には、組判定部130は、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが負の相関関係にあり、かつ、第1誤差31と第2誤差32との正負が同じ場合に、第1装置T154と第2装置T254とが装置の組540であると判定する。組判定部130は、この装置の組540を記憶部160の組合せ情報162に格納する。また、組判定部130は、第1品質値T1Qと第2品質値T2Qとが正の相関関係にあり、かつ、第1誤差31と第2誤差32との正負が異なる場合に、第1装置T154と第2装置T254とが装置の組540であると判定する。組判定部130は、この装置の組540を記憶部160の組合せ情報162に格納する。
なお、第1誤差31と第2誤差32との正負が同じ場合とは、第1誤差31が正の数でありかつ第2誤差32も正の数の場合、あるいは、第1誤差31が負の数でありかつ第2誤差32も負の数の場合である。また、第1誤差31と第2誤差32との正負が異なる場合とは、第1誤差31が負の数でありかつ第2誤差32が正の数の場合、あるいは、第1誤差31が正の数でありかつ第2誤差32が負の数の場合である。
ステップS146において、組判定部130は、品質情報210に未処理の品質値が存在するか否かを判定し、未処理の品質値が存在しない場合は処理を終了する。組判定部130は、未処理の品質値が存在すると判定すると、ステップS142に戻る。品質値のソート結果に含まれる全ての品質値について処理が終了すると、固定的に割り当てるべき装置の組540を格納した組合せ情報162が得られる。
工程計画生成処理S140において、工程計画生成部140は、第1装置T154と第2装置T254とが組合せるべき装置の組540であると判定された場合に、装置の組540を用いて、工程計画を生成する。具体的には、工程計画生成部140は、組判定部130により生成された組合せ情報162を用いて、品質視点から最良と判定される装置経路を決定し、工程計画151を生成する。
工程計画生成部140は、記憶部160から組合せ情報162を取得する。また、工程計画生成部140は、入力装置から入力された生産計画情報300を取得する。組合せ情報162には、固定的に装置の経路とすべき装置の組540が優先順位順に格納されている。工程計画生成部140は、組合せ情報162に格納された装置の組540と生産計画情報300とに基づいて、工程計画151を生成する。
具体的には、工程計画生成部140は、まず、組合せ情報162を用いずに、生産計画情報300のみに基づいて装置経路案を作成する。
その後、工程計画生成部140は、組合せ情報162に格納された優先順位順の装置の組540の一覧を入力として、装置経路案から装置経路を生成する。工程計画生成部140は、優先順位の高い装置の組540から、装置の組540が含まれる装置経路案を装置経路として、製造指示、すなわち工程計画151を割り当てる。優先順位の高い装置の組540を含む装置経路から先に特定することで同じ生産設備400を用いた場合により製品品質が高いと想定される工程計画151を作成することが可能となる。
以下に、工程計画生成部140により製品53の最終品質を統計的に推定する方法について説明する。
工程計画生成部140は、品質情報210を用いて、最終品質の品質値を目的変数として、製造ラインに含まれるその他の品質値を説明変数とする重回帰分析を行い、最終品質を算出する。このとき、各説明変数となる品質値の間に強い相関がある場合は回帰係数が正しく算出されない。よって、工程計画生成部140は、相関係数情報161を用いて、強い相関のある品質値(具体的には相関係数の絶対値が0.7以上の品質値)については説明変数から省いてから重回帰分析を行う。この処理により、最終製品の品質値が相関関係のノイズを省いた形で算出される。また、最終製品の品質値あるいはその他の値を重回帰分析により予測する場合は、必ずしも各工程の後で実施される検査工程で検査される品質値のみではなく、各装置の設定値といった値を含む製造条件を説明変数に加えてもよい。ただし説明変数を増やす場合には、選択した他の説明変数との間に強い相関関係がないことをチェックする必要がある。
本実施の形態では、計画生成装置100の外部にデータベース200を備える構成であるが、計画生成装置100の内部にデータベース200を備えていてもよい。つまり、生産設備400の検査工程が、計画生成装置100の内部のデータベース200に直接に品質情報210を設定する構成でもよい。
図9を用いて、本実施の形態の変形例に係る計画生成装置100の構成について説明する。
図9に示すように、計画生成装置100は、処理回路909、通信装置910、入力インタフェース903といったハードウェアを備える。
上記の実施の形態の説明では、製造ラインの工程計画を提示する計画生成装置であって、工程別に選択可能な複数の装置がある場合、工程別に個々の装置を経て得られる品質情報を蓄積したデータベースを備える計画生成装置について説明した。計画生成装置は、データベースから該品質情報を取得して、前記生産装置間の製造条件、すなわち品質指標の相関関係を判定する相関関係分析機能と、相関係数情報をもとに生産装置のバラツキを打ち消す組合せを判断する品質分布推定機能とを備える。また、計画生成装置は、前記機能が提供する情報から生産される製品の品質を推測する品質推定機能と、生産装置の組合せを判定する生産装置組合せ判定機能とを備える。また、計画生成装置は、判定した生産装置の組合せに基づいて、工程別に選択可能な複数の生産装置を経て得られる装置経路を決定し、生産計画を提示する工程計画決定機能を備える。
本実施の形態に係る計画生成装置によれば、相関関係のある製造装置に関する情報がない場合でも、生産設備の試験の情報から製造装置間の相関関係を抽出し、工程計画作成時に統計的に最も品質が高くなる装置経路を推薦する機能を提供することができる。
各検査工程で検査される品質指標はそれぞれ全く独立で関係ないものばかりではなく相関関係をもつものも当然ありえるため、同じ工程を実現する装置が複数ある場合は、使用する装置の組合せを工夫することによって、品質のバラツキが互いを打ち消しあうように組合せることも可能であり、これによって、品質のバラツキを小さくすることが可能である。きわめて単純なケースでは組合せる部品のサイズが大きめのものと小さめのものを組合せれば、組み合わされた中間製品のサイズはそれぞれのバラツキの和ではなく、相殺してバラツキが小さくなるということがあり得る。
本実施の形態に係る計画生成装置によれば、上記のような現象を利用して、品質値のブレを小さくできるような装置の組を自動的に抽出し、抽出した装置の組を用いて工程計画を生成することができるので、最適な工程計画を短時間で生成することができる。
また、各製造工程で選択可能な装置の組合せを考慮することにより、同じ装置資産から製造される製品品質を高めることができる既存装置資産の最適な組合せを推薦する装置を提供することができる。
本実施の形態では、主に、実施の形態1と異なる点について説明する。
本実施の形態では、生産設備は、生産実行時に動的に次工程の装置を選択できるものとする。本実施の形態では、今動いている検査工程で検査された品質値に基づき、発生したバラツキを解消する可能性が最も高い次工程の装置を動的に推測し、推測された装置に自動的に変更する機能を有する計画生成装置100aについて説明する。
図10を用いて、本実施の形態に係る計画生成装置100aの構成について説明する。
本実施の形態において、実施の形態1と同様の機能を有する構成部には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
図11を用いて、本実施の形態に係る品質情報判定部170と装置切替部180との動作について説明する。
ステップS161において、品質情報判定部170は、複数の装置54の各装置により加工された中間製品52の品質値を含む品質情報210に基づいて、複数の装置54の各装置の品質値の平均値AQを算出する。また、品質情報判定部170は、複数の装置54の各装置の現在の品質値と平均値AQとの差分が閾値より大きいか否かを判定する。
具体的には、品質情報判定部170は、品質情報取得部110より、リアルタイムに取得された検査工程の結果である品質情報210を記憶部160から受け取る。品質情報判定部170は、受け取った品質情報210を用いて、装置54の過去の品質分布状況に基づいて装置54の品質値の平均値AQを算出する。また、品質情報判定部170は、受け取った品質情報210から装置54の現在の品質値を取得し、平均値AQとの差分を算出する。
ステップS162において、品質情報判定部170は、差分が閾値163より大きいか否かを判定する。差分が閾値163より大きい場合、品質情報判定部170は、S163に処理を進める。差分が閾値163以下の場合、品質情報判定部170は、S161に戻り、別の装置について処理を行う。
以上で、品質情報判定部170と装置切替部180との動作についての説明を終わる。
この結果、これまで測定された現工程より前の工程の品質値を最終品質の説明変数として代入し、今後の工程についてはこれまで蓄積した統計情報から平均値を採取することが可能であるため、これらの値を代入すると最終品質値が予測できることになる。
以上のように、本実施の形態に係る計画生成装置は、製造実行時に各検査工程で測定された品質値の値をリアルタイムに受け取り、過去の品質値の分布状況と比較して装置を切り替える必要があるかどうか判断する品質情報判定部を備える。また、本実施の形態に係る計画生成装置は、動的に次工程で使用する装置を切り替える装置切替部を備える。よって、本実施の形態に係る計画生成装置によれば、今動いている検査工程で検査された品質値に基づき、発生したバラツキを解消する可能性が最も高い次工程の装置を動的に推測し、推測された装置経路に自動的に変更することができる。
なお、上記の実施の形態は、本質的に好ましい例示であって、本発明、その適用物や用途の範囲を制限することを意図するものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。
Claims (7)
- 複数の工程を経て生産される製品の工程計画を生成する計画生成装置において、
複数の装置であって各装置が前記複数の工程のいずれかに属する複数の装置のうち1つの装置を第1装置とすると共に前記第1装置により加工された中間製品の品質を表す品質値を第1品質値とし、前記複数の装置のうち前記第1装置が属する工程より前の工程に属する装置を第2装置とすると共に前記第2装置により加工された中間製品の品質値を第2品質値とし、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定する相関判定部と、
前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあると判定された場合に、中間製品の品質の基準を表す品質基準値を用いて、前記第1装置と前記第2装置とが、前記第1品質値における前記品質基準値との第1誤差と前記第2品質値における前記品質基準値との第2誤差とを打ち消し合う装置の組であるか否かを判定する組判定部と、
前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定された場合に、前記装置の組を用いて、前記工程計画を生成する工程計画生成部と
を備える計画生成装置。 - 前記組判定部は、
前記第1品質値と前記第2品質値とが負の相関関係にあり、かつ、前記第1誤差と前記第2誤差との正負が同じ場合に、前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定し、前記第1品質値と前記第2品質値とが正の相関関係にあり、かつ、前記第1誤差と前記第2誤差との正負が異なる場合に、前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定する請求項1に記載の計画生成装置。 - 前記相関判定部は、
前記第1品質値と前記第2品質値との相関係数を第1相関係数として算出し、前記第1相関係数に基づいて、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定する請求項1または2に記載の計画生成装置。 - 前記相関判定部は、
前記第2装置が属する工程より前の工程に属する装置のうち、前記第2装置と相関関係にありかつ前記第1装置とも相関関係にある装置を第3装置として検出し、前記第3装置の品質値を第3品質値とし、前記第3品質値と前記第2品質値との相関係数である第2相関係数と、前記第3品質値と前記第1品質値との相関係数である第3相関係数とに基づいて、前記第1品質値と前記第2品質値との偏相関係数を算出し、算出した前記偏相関係数に基づいて、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定する請求項1に記載の計画生成装置。 - 前記計画生成装置は、さらに、
前記複数の装置の各装置により加工された中間製品の品質値を含む品質情報に基づいて、前記複数の装置の各装置の品質値の平均値を算出し、前記複数の装置の各装置の現在の品質値と前記平均値との差分が閾値より大きいか否かを判定する品質情報判定部と、
前記差分が前記閾値より大きいと判定された装置を判定装置として、前記判定装置が属する工程から前記平均値との差分が前記閾値以下の品質値を有する装置を切替装置として選択し、前記判定装置から前記切替装置に経路を切り替える装置切替部と
を備える請求項1から4のいずれか1項に記載の計画生成装置。 - 複数の工程を経て生産される製品の工程計画を生成する計画生成装置の計画生成方法において、
相関判定部が、複数の装置であって各装置が前記複数の工程のいずれかに属する複数の装置のうち1つの装置を第1装置とすると共に前記第1装置により加工された中間製品の品質を表す品質値を第1品質値とし、前記複数の装置のうち前記第1装置が属する工程より前の工程に属する装置を第2装置とすると共に前記第2装置により加工された中間製品の品質値を第2品質値とし、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定し、
組判定部が、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあると判定された場合に、中間製品の品質の基準を表す品質基準値を用いて、前記第1装置と前記第2装置とが、前記第1品質値における前記品質基準値との第1誤差と前記第2品質値における前記品質基準値との第2誤差とを打ち消し合う装置の組であるか否かを判定し、
工程計画生成部が、前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定された場合に、前記装置の組を用いて、前記工程計画を生成する計画生成方法。 - 複数の工程を経て生産される製品の工程計画を生成する計画生成装置の計画生成プログラムにおいて、
複数の装置であって各装置が前記複数の工程のいずれかに属する複数の装置のうち1つの装置を第1装置とすると共に前記第1装置により加工された中間製品の品質を表す品質値を第1品質値とし、前記複数の装置のうち前記第1装置が属する工程より前の工程に属する装置を第2装置とすると共に前記第2装置により加工された中間製品の品質値を第2品質値とし、前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあるか否かを判定する相関判定処理と、
前記第1品質値と前記第2品質値とが相関関係にあると判定された場合に、中間製品の品質の基準を表す品質基準値を用いて、前記第1装置と前記第2装置とが、前記第1品質値における前記品質基準値との第1誤差と前記第2品質値における前記品質基準値との第2誤差とを打ち消し合う装置の組であるか否かを判定する組判定処理と、
前記第1装置と前記第2装置とが前記装置の組であると判定された場合に、前記装置の組を用いて、前記工程計画を生成する工程計画生成処理とをコンピュータに実行させる計画生成プログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/051101 WO2017122340A1 (ja) | 2016-01-15 | 2016-01-15 | 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017122340A1 JPWO2017122340A1 (ja) | 2018-06-14 |
JP6351880B2 true JP6351880B2 (ja) | 2018-07-04 |
Family
ID=59310917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017561480A Expired - Fee Related JP6351880B2 (ja) | 2016-01-15 | 2016-01-15 | 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10901401B2 (ja) |
JP (1) | JP6351880B2 (ja) |
CN (1) | CN108475049B (ja) |
DE (1) | DE112016005697T5 (ja) |
TW (1) | TWI606320B (ja) |
WO (1) | WO2017122340A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6351880B2 (ja) * | 2016-01-15 | 2018-07-04 | 三菱電機株式会社 | 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム |
KR102440335B1 (ko) * | 2016-10-28 | 2022-09-02 | 삼성에스디에스 주식회사 | 이상 감지 관리 방법 및 그 장치 |
JP6457474B2 (ja) * | 2016-12-20 | 2019-01-23 | ファナック株式会社 | 検査情報とトレース情報とを使用した製造管理装置及び製造システム |
JP7021482B2 (ja) * | 2017-09-14 | 2022-02-17 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム及びプログラム |
US11592488B2 (en) * | 2018-02-28 | 2023-02-28 | Denso Corporation | Battery monitoring system |
WO2019202700A1 (ja) * | 2018-04-19 | 2019-10-24 | 三菱電機株式会社 | 異常設備を特定する装置、方法、およびコンピュータプログラム |
JP6549760B1 (ja) | 2018-06-26 | 2019-07-24 | 三菱ケミカルエンジニアリング株式会社 | 生産システム、生産方法、及び制御装置 |
JP6481916B1 (ja) | 2018-06-26 | 2019-03-13 | 三菱ケミカルエンジニアリング株式会社 | 生産システム、生産方法及び制御装置 |
JP6927171B2 (ja) * | 2018-08-09 | 2021-08-25 | 株式会社豊田中央研究所 | 評価装置、評価方法、および、コンピュータプログラム |
WO2021053782A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | オムロン株式会社 | 生産設備に生じ得る事象の解析装置 |
JP2024017963A (ja) * | 2022-07-28 | 2024-02-08 | 株式会社Sumco | 管理装置、管理方法、及びウェーハの製造システム |
Family Cites Families (58)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0616475B2 (ja) * | 1987-04-03 | 1994-03-02 | 三菱電機株式会社 | 物品の製造システム及び物品の製造方法 |
US5150289A (en) | 1990-07-30 | 1992-09-22 | The Foxboro Company | Method and apparatus for process control |
US5229948A (en) * | 1990-11-03 | 1993-07-20 | Ford Motor Company | Method of optimizing a serial manufacturing system |
JP3054049B2 (ja) * | 1995-02-14 | 2000-06-19 | 株式会社クボタ | 油圧機器の生産方法 |
JPH10163080A (ja) | 1996-11-27 | 1998-06-19 | Matsushita Electron Corp | 半導体製造システム |
JP2994321B2 (ja) | 1998-03-20 | 1999-12-27 | 九州日本電気株式会社 | 製造工程の生産管理システム |
US6728587B2 (en) * | 2000-12-27 | 2004-04-27 | Insyst Ltd. | Method for global automated process control |
JP2002202805A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Toshiba Corp | 受注組立生産システム、及び受注組立生産方法 |
JP2002251212A (ja) * | 2001-02-21 | 2002-09-06 | Toyota Motor Corp | 品質管理方法、同システム、および同プログラムを記録した記録媒体 |
JP4677679B2 (ja) * | 2001-03-27 | 2011-04-27 | 株式会社デンソー | 製品の製造プロセスにおける特性調整方法 |
US8799113B2 (en) * | 2001-12-28 | 2014-08-05 | Binforma Group Limited Liability Company | Quality management by validating a bill of materials in event-based product manufacturing |
US7357298B2 (en) * | 2001-12-28 | 2008-04-15 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Integrating event-based production information with financial and purchasing systems in product manufacturing |
US7032816B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-04-25 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Communication between machines and feed-forward control in event-based product manufacturing |
US6904330B2 (en) * | 2002-08-07 | 2005-06-07 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Manufacturing information and troubleshooting system and method |
US7171283B2 (en) * | 2002-08-07 | 2007-01-30 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Web guiding system and method |
US20050033464A1 (en) * | 2003-08-06 | 2005-02-10 | Siemens Dematic Electronics Assembly Systems, Inc. | Real time closed-loop process control system for defect prevention |
DE10342769A1 (de) * | 2003-09-16 | 2005-04-21 | Voith Paper Patent Gmbh | System zur computergestützten Messung von Qualitäts- und/oder Prozessdaten |
US7209799B2 (en) * | 2004-04-14 | 2007-04-24 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Predictive modeling of machining line variation |
JP3705296B1 (ja) * | 2004-04-30 | 2005-10-12 | オムロン株式会社 | 品質制御装置およびその制御方法、品質制御プログラム、並びに該プログラムを記録した記録媒体 |
US7221987B2 (en) * | 2004-06-15 | 2007-05-22 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Generating a reliability analysis by identifying casual relationships between events in an event-based manufacturing system |
JP4239932B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2009-03-18 | 株式会社日立製作所 | 生産管理システム |
US7176475B2 (en) * | 2004-11-16 | 2007-02-13 | Omron Corporation | Adjusting apparatus, production processing system, and method of controlling adjusting apparatus |
US7587804B2 (en) * | 2004-12-20 | 2009-09-15 | General Motors Corporation | System and method for optimization of product throughput |
JP4207915B2 (ja) * | 2005-01-24 | 2009-01-14 | オムロン株式会社 | 品質変動表示装置、品質変動表示方法、品質変動表示プログラム及び該プログラムを記録した記録媒体 |
US20060218107A1 (en) * | 2005-03-24 | 2006-09-28 | The University Of Tennessee Research Foundation | Method for controlling a product production process |
US8428761B2 (en) * | 2005-03-31 | 2013-04-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Production system and production method |
JP2006293658A (ja) | 2005-04-11 | 2006-10-26 | Hitachi Ltd | 複数の部品を組み合わせて形成される製品の製造方法、および部品の組合せ方法 |
DE102005025338B4 (de) * | 2005-05-31 | 2019-03-14 | Siemens Aktiengesellschaft | 08.Verfahren zur Bearbeitung eines Werkstückes |
US20070059838A1 (en) * | 2005-09-13 | 2007-03-15 | Pavilion Technologies, Inc. | Dynamic constrained optimization of chemical manufacturing |
US7558638B2 (en) * | 2006-02-22 | 2009-07-07 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Applying real-time control to a production system |
US7251578B1 (en) * | 2006-03-10 | 2007-07-31 | Yahoo! Inc. | Method and system of measuring data quality |
JP5067542B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2012-11-07 | オムロン株式会社 | 複合情報処理装置、複合情報処理方法、プログラム、および記録媒体 |
US7684892B2 (en) * | 2007-10-30 | 2010-03-23 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Process for generating control sequence of operations |
US7809457B2 (en) * | 2007-10-30 | 2010-10-05 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Framework for automatic generation of sequence of operations |
JP5012660B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2012-08-29 | 住友金属工業株式会社 | 製品品質予測および制御方法 |
KR20120016287A (ko) * | 2009-05-22 | 2012-02-23 | 오로라 컨트롤 테크놀로지스 인크. | 광발전 제품의 생산을 개선하는 방법 |
US20110040399A1 (en) * | 2009-08-14 | 2011-02-17 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for integrating planning, scheduling, and control for enterprise optimization |
US20110098862A1 (en) * | 2009-10-27 | 2011-04-28 | ExxonMobil Research Engineering Company Law Department | Multi-stage processes and control thereof |
JP5540659B2 (ja) * | 2009-11-16 | 2014-07-02 | 株式会社Sumco | シリコンウェーハの工程計画立案システム、工程計画立案方法及びプログラム |
US20110166683A1 (en) * | 2010-01-07 | 2011-07-07 | International Business Machines Corporation | Real Time WIP Optimizer |
JP5296025B2 (ja) | 2010-08-27 | 2013-09-25 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法及び製造装置 |
US8690057B2 (en) * | 2012-03-06 | 2014-04-08 | A-I Packaging Solutions, Inc. | Radio frequency identification system for tracking and managing materials in a manufacturing process |
US9229446B2 (en) * | 2012-05-08 | 2016-01-05 | International Business Machines Corporation | Production line quality processes |
US9536796B2 (en) * | 2013-01-02 | 2017-01-03 | Globalfoundries Inc. | Multiple manufacturing line qualification |
US9799041B2 (en) * | 2013-03-15 | 2017-10-24 | The Nielsen Company (Us), Llc | Method and apparatus for interactive evolutionary optimization of concepts |
FR3029621B1 (fr) * | 2014-12-05 | 2019-06-14 | Safran Aircraft Engines | Procede de suivi de la fabrication de pieces base sur l'analyse d'indicateurs statistiques ponderes |
FR3029624B1 (fr) * | 2014-12-05 | 2019-06-14 | Safran Aircraft Engines | Procede de suivi de la fabrication de pieces base sur l'analyse d'indicateurs statistiques en situation d'allegement de controle |
CA2974005C (en) * | 2015-01-16 | 2019-11-26 | Heat & Control, Inc. | Method of controlling a rate at which an upstream process feeds a conditioned product to a downstream process |
JP6351880B2 (ja) * | 2016-01-15 | 2018-07-04 | 三菱電機株式会社 | 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム |
KR101895193B1 (ko) * | 2016-03-28 | 2018-10-04 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 품질 관리 장치, 품질 관리 방법 및 품질 관리 프로그램을 기록하는 기록 매체 |
DE102016106522A1 (de) * | 2016-04-08 | 2017-10-12 | Windmöller & Hölscher Kg | Vorrichtung für mindestens einen industriellen automatisierten Prozess |
US20200047391A1 (en) * | 2016-10-18 | 2020-02-13 | Reifenhäuser GmbH & Co. KG Maschinenfabrik | Method for monitoring a production process, method for indirectly deducing a systematic dependency, method for adapting quality, method for starting a production process, method for producing an extrusion product and system for producing an extrusion product |
EP3339801B1 (en) * | 2016-12-20 | 2021-11-24 | Hexagon Technology Center GmbH | Self-monitoring manufacturing system, production monitoring unit and use of production monitoring unit |
EP3570125B1 (en) * | 2017-01-13 | 2021-05-26 | Fuji Corporation | Manufacturing management device |
US10386818B2 (en) * | 2017-06-09 | 2019-08-20 | Honeywell International Inc. | Quality management systems, methods, and program products for additive manufacturing supply chains |
JP6879888B2 (ja) * | 2017-11-17 | 2021-06-02 | パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカPanasonic Intellectual Property Corporation of America | 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム |
JP6988499B2 (ja) * | 2018-01-16 | 2022-01-05 | オムロン株式会社 | 検査管理システム、検査管理装置、検査管理方法 |
US10621719B2 (en) * | 2018-05-03 | 2020-04-14 | The Procter & Gamble Company | Systems and methods for inspecting and evaluating qualities of printed regions on substrates for absorbent articles |
-
2016
- 2016-01-15 JP JP2017561480A patent/JP6351880B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2016-01-15 WO PCT/JP2016/051101 patent/WO2017122340A1/ja active Application Filing
- 2016-01-15 CN CN201680078507.6A patent/CN108475049B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2016-01-15 DE DE112016005697.4T patent/DE112016005697T5/de not_active Ceased
- 2016-01-15 US US16/063,433 patent/US10901401B2/en active Active
- 2016-02-25 TW TW105105599A patent/TWI606320B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2017122340A1 (ja) | 2018-06-14 |
CN108475049A (zh) | 2018-08-31 |
US20190018397A1 (en) | 2019-01-17 |
WO2017122340A1 (ja) | 2017-07-20 |
US10901401B2 (en) | 2021-01-26 |
TW201725461A (zh) | 2017-07-16 |
CN108475049B (zh) | 2020-12-04 |
TWI606320B (zh) | 2017-11-21 |
DE112016005697T5 (de) | 2018-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6351880B2 (ja) | 計画生成装置、計画生成方法及び計画生成プログラム | |
US7542877B2 (en) | Computer system and method for controlling computer system | |
KR102258942B1 (ko) | 인라인 수율 모니터링을 위한 임계 파라메트릭 전기 테스트 파라미터의 자동 결정을 위한 시스템 및 방법 | |
US20060282189A1 (en) | Manufacturing control apparatus, manufacturing control method, and computer product | |
CN110023967B (zh) | 故障风险指标估计装置和故障风险指标估计方法 | |
KR102233812B1 (ko) | 제조 공정에 있어서 설비로부터의 데이터를 처리하는 방법 및 시스템 | |
Biswas et al. | Statistical test compaction using binary decision trees | |
JP2006319220A (ja) | 異常設備推定装置、異常設備推定方法、異常設備推定プログラム、および、記録媒体 | |
Singholi et al. | Evaluating the effect of machine and routing flexibility on flexible manufacturing system performance | |
Kakkar et al. | Reliability analysis of two unit parallel repairable industrial system | |
CN109844779B (zh) | 用于分析测量-良率相关性的方法和系统 | |
US8533635B2 (en) | Rule-based root cause and alias analysis for semiconductor manufacturing | |
Hoffman | Condition-based maintenance policy optimization using genetic algorithms and Gaussian Markov improvement algorithm | |
Kolesnikov et al. | Predicting quality attributes of software product lines using software and network measures and sampling | |
Zhao et al. | Neighborhood detection using mutual information for the identification of cellular automata | |
CN113344150B (zh) | 识别污损码点的方法、装置、介质及电子设备 | |
Mousavi | Simultaneous control of the production, maintenance, and inspection strategies for a failure-prone manufacturing system with quality-based financial penalties/incentives | |
CN113780656A (zh) | 基于聚类解耦的复杂产品多源变更传播影响力预测方法 | |
US10580082B2 (en) | Flow generating program, flow generating method, and flow generating device | |
Ungureanu et al. | Improving FMEA risk assessment through reprioritization of failures | |
CN117150225B (zh) | 一种基于贝叶斯算法的工业数据的清洗方法及系统 | |
KR20200120452A (ko) | 린6시그마에 기반한 함정 전투관리체계 아키텍처 설계 방법 | |
CN118035683B (zh) | 一种时间序列数据分析方法及系统 | |
Zhou et al. | Robust possibilistic programming-based three-way decision approach to product inspection strategy | |
Xiahou et al. | Reliability Assessment of Multi-State Systems By Multi-Source of Imprecise Reliability Data |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180219 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180219 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20180219 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20180424 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180508 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180605 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6351880 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |