JP6344639B2 - 窒化処理方法及び窒化処理装置 - Google Patents

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Description

関連出願の相互参照
本国際出願は、2011年5月9日に日本国特許庁に出願された日本国特許出願第2011−104515号に基づく優先権を主張するものであり、日本国特許出願第2011−104515の全内容を参照により本国際出願に援用する。
本発明は、金属等に窒化処理を行う窒化処理方法及び窒化処理装置に関する。
我国の基幹産業である自動車・航空機等の分野では、喫緊の課題である地球温暖化抑制や省エネルギー対応のため、金型や工具における表面改質・硬質膜コーティングを高度化することへの要求が強い。
表面改質・硬質膜コーティングとして、窒化処理がある。現在、実用化されている窒化処理方法は、活性なアンモニアガスや窒素分子のイオンを、電位差を印加することで加速して、鋼材等の処理対象物の表面に衝突させる方法である。この窒化処理方法においては、窒素分子が鋼材の表面に衝突したとき、窒素分子が解離して窒素原子が生成され、その窒素原子により窒化処理が行われる(特許文献1参照)。
特開2007−131933号公報
上述した窒化処理方法では、窒素原子が鋼材と化学的に反応して、鋼材表面に厚い鉄窒化物層を形成するため、鋼材表面の曇り、表面粗さの増加、摩擦係数の上昇、離型性の低下(鋼材を金型として使用する場合)等の問題が生じる。また、窒素分子イオンは隙間に侵入し難いため、例えば、狭いスリット内面の窒化ができないという問題もある。
本発明の一側面においては、処理対象物の表面に化合物層を形成し難く、狭いスリット内面の窒化処理を可能にする窒化処理方法及び窒化処理装置を提供することが望ましい。
本発明の窒化処理方法は、窒素原子を含むプラズマを用いて、処理対象物の窒化処理をすることを特徴とする。本発明の窒化処理方法によれば、処理対象物の表面に化合物層(例えば、処理対象物が鋼材である場合は鉄の窒化物層)が形成され難い。その結果、処理対象物に、表面の曇り、表面粗さの増加、摩擦係数の上昇、離型性の低下等の問題が生じ難い。
また、窒素原子は中性であり処理対象物の表面においてよく反射するため、狭いスリットの間へ容易に侵入できる。このため、本発明の窒化処理方法によれば、狭いスリットの内面における窒化が可能となる。さらに、本発明の窒化処理方法を鋼材に適用すると、従来法と同等以上の表面硬度を得ることができる。
本発明において、窒化とは、窒素原子を処理対象物の表面から侵入・拡散させることである。本発明の窒化処理方法においては、十分に高濃度の窒素原子(アトム)を含むプラズマを用い、処理対象物を500℃前後の高温に保つことが好ましい。
前記プラズマは、例えば、窒素を含むガス(例えば、窒素のみのガス、又は窒素を主成分とし水素等を含むガス)に電子ビーム又はマイクロ波を照射して生成することができる。上記のプラズマ発生方法(電子ビーム励起プラズマ法、又はマイクロ波励起プラズマ法)を用いることにより、プラズマ中で高濃度の窒素原子を発生させることができる。
前記プラズマの電位と処理対象物の電位との電位差(処理対象物の方がプラズマよりも低電位)は、50V以下であることが好ましい。電位差が50V以下であることにより、処理対象物の表面に化合物層が一層形成され難くなる。また、電位差は、5〜10Vの範囲内であることが好ましい。この範囲内であることにより、プラズマ中に含まれる電子の処理対象物への流入を抑制できる。
本発明の窒化処理方法においては、プラズマ中の窒素原子の濃度を高めると、窒化処理を短時間で行うことができる。プラズマ中の窒素原子の濃度を高めると、プラズマ中の電子密度も高くなる。この場合、もし、プラズマの電位と処理対象物との電位差が小さいと、処理対象物へ流入する電子電流が増大し、処理対象物が加熱される。そのため、本発明の窒化処理方法では、プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制することが好ましい。プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制することにより、処理対象物の温度上昇を抑制することができる。プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制する方法としては、例えば、処理対象物の付近に印加した磁場を用いる方法がある。この磁場の方向は、処理対象物の表面と平行な方向が好ましい。
本発明の窒化処理装置は、窒素を含むガスに電子ビーム又はマイクロ波を照射して窒素原子を含むプラズマを生成するプラズマ生成部と、前記プラズマを用いて処理対象物の窒化処理をする窒化処理部とを備える。
本発明の窒化処理装置を用いれば、処理対象物の表面に化合物層(例えば、処理対象物が鋼材である場合は鉄の窒化物層)が形成され難い。その結果、処理対象物に、表面の曇り、表面粗さの増加、摩擦係数の上昇、離型性の低下等の問題が生じ難い。
また、窒素原子は中性であり処理対象物の表面においてよく反射するため、狭いスリットの間へ容易に侵入できる。このため、本発明の窒化処理装置を用いれば、狭いスリットの内面における窒化が可能となる。さらに、本発明の窒化処理装置を用いて鋼材の表面を窒化処理すると、従来法と同等以上の表面硬度を得ることができる。
本発明の窒化処理装置は、プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制する抑制部を備えることが望ましい。プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制することにより、処理対象物の温度上昇を抑制することができる。プラズマ中の電子が処理対象物へ流入することを抑制する抑制部としては、例えば、処理対象物の付近に磁場を印加し、その磁場により電子の流入を抑制する手段がある。この磁場の方向は、処理対象物の表面と平行な方向が好ましい。
窒化処理装置1の構成を表す説明図である。 窒化処理を行った処理対象物の断面を表す写真であって、図2Aは処理対象物Xの写真であり、図2Bは処理対象物Yの写真である。 処理対象物について、X線回折の測定結果を表すグラフである。 処理対象物100の構成を表す説明図であって、図4Aは長手方向の側面から見た側面図であり、図4Bは短手方向の側面から見た側面図であり、図4Cは斜視図である。 処理対象物100について、エッジからの距離とビッカース硬度との関係を表すグラフである。 窒化処理装置201の構成を表す説明図である。
1、201・・・窒化処理装置、3、203・・・チャンバー、5・・・カソード、7・・・予備アノード、9・・・アノード、11・・・加速電極、13・・・アルゴン導入口、15、211・・・窒素導入口、17、213・・・真空排気口、19・・・初期放電形成領域、21、215・・・反応室、23、100・・・処理対象物、25・・・導線、27・・・アルゴンプラズマ、29・・・電子ビーム、31・・・プラズマ、101、103・・・板状部材、105、107・・・スペーサ、109、111、113・・・カバー部材、115・・・スリット、117・・・側面、205・・・石英ガラス窓、207・・・処理対象物ホルダー、209・・・導波路
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
<第1の実施形態>
1.窒化処理装置1の構成
窒化処理装置1の構成を、図1に基づいて説明する。窒化処理装置1は、チャンバー3内に、カソード5、予備アノード7、アノード9、及び加速電極11を備えている。また、チャンバー3には、アルゴン導入口13、窒素導入口15、真空排気口17が設けられている。チャンバー3内において、カソード5と予備アノード7とに挟まれ、アルゴン導入口13に面している領域は、初期放電形成領域19である。また、チャンバー3内において、加速電極11よりも右側の部分であって、窒素導入口15、及び真空排気口17に面している部分は、反応室21である。
ここで、文言の対応関係を説明する。カソード5、予備アノード7、アノード9、加速電極11、アルゴン導入口13、及び窒素導入口15がプラズマ生成部の一例に相当する。また、反応室21が窒化処理部の一例に相当する。
2.窒化処理装置1を用いた窒化処理方法
窒化処理装置1を用いた窒化処理方法を、図1に基づいて説明する。まず、処理対象物23を反応室21内に設置する。反応室21内には、窒素導入口15から窒素ガスを導入する。処理対象物23の周囲には、コイル状に導線25を巻いておく。このとき、導線25は処理対象物23の表面に接触しないようにする。導線25の両端は、図示しない電源に接続されており、導線25に電流を流すことができる。導線25に電流が流れた場合、処理対象物23の表面に沿う方向(図1中の矢印Aの方向)の磁場が発生する。この磁場により、処理対象物23と後述するプラズマ31との電位差が小さくても、プラズマ31中の電子が処理対象物23へ流入することを抑制することができる。
次に、アルゴン導入口13から、初期放電形成領域19にアルゴンガスを導入し、カソード5と予備アノード7間で放電を発生させる。その後、カソード5とアノード9間に放電を移行し、安定したアルゴンプラズマ27を生成する。このアルゴンプラズマ27から、加速電極11によって電子のみを加速することで電子ビーム29を生成し、その電子ビーム29を反応室21へ引き出す。
反応室21では、窒素ガスに電子ビーム29が照射され、窒素ガスが効率良く解離・電離して、窒素原子密度が高いプラズマ31が生成する。処理対象物23は、プラズマ31の中に含まれる。プラズマ31により、処理対象物23の表面が窒化処理される。
なお、反応室21の温度は、窒化処理装置1が備える図示しないヒータにより、適切な温度(400〜600℃)に制御される。また、電子ビーム29のエネルギーは、加速電極11に印加する電圧により、任意に設定可能である。
3.窒化処理装置1を用いた窒化処理方法が奏する効果
窒化処理装置1を用いた窒化処理方法が奏する効果を確かめるために実施した試験について説明する。
(1)第1の試験
次の条件下、窒化処理装置1を用い、上述した窒化処理方法を実施した。
処理対象物23:熱間工具鋼のSKD61
チャンバー3内の圧力:0.2Pa
電子ビーム29の加速電圧:80V
電子ビーム29の電流:8A
反応室21の温度:500℃
窒化処理の時間:5時間
バイアス電圧(プラズマ31の電位を基準とする、処理対象物23の電位):−50V又は−5V
導線25の電流:ON又はOFF
バイアス電圧が−50Vであり、導線25の電流をOFFとした条件で窒化処理を行った処理対象物(以下、処理対象物Xとする)と、バイアス電圧が−5Vであり、導線25の電流をONとした条件で窒化処理を行った処理対象物(以下、処理対象物Yとする)について、切断し、断面をナイタール液で腐食させて観察した。図2A,2Bに、その観察における断面写真を示す。図2Aの写真は、処理対象物X(バイアス電圧:−50V、導線25の電流:OFF)の写真であり、図2Bの写真は、処理対象物Y(バイアス電圧:−5V、導線25の電流:ON)の写真である。
処理対象物Xにおいては、表面に白層と呼ばれる化合物層がわずかではあるが形成されており、その下部に黒く変色した、窒素が拡散している拡散層が形成されている。なお、処理対象物Xにおける白層の厚みは、従来の窒化処理方法で形成される白層の厚みと比べると、顕著に薄い。
一方、処理対象物Yにおいては、表面に白層は認められず、黒く変色した拡散層のみが形成されている。拡散層の厚さは、バイアス電圧が異なっていても、処理対象物Xと処理対象物Yとで違いはなかった。
また、処理対象物X、処理対象物Y、及び未処理のSKD61(以下、未処理品とする)について、X線回折を行った。その結果を図3に示す。
未処理品(図3では「Untreated」と表記)では、鉄のピークのみが確認されるのに対して、処理対象物X(図3では「バイアス電圧:−50V」と表記)では、鉄と窒素の化合物であるFe3N及びFe4Nのピークが確認される。処理対象物Y(図3では「バイアス電圧:−5V」と表記)では、鉄と窒素の化合物のピークは認められず、α鉄のピークが広がりをもっている。これは、鉄の格子間に窒素が拡散したために、ピークの幅が拡がったものである。以上のことより、バイアス電圧が低いほど(イオンの衝突エネルギーが低いほど)、化合物層の形成を抑制できることが確認できた。
(2)第2の試験
基本的には前記第1の試験と同様にして、窒化処理方法を実施した。ただし、本第2の試験では、処理対象物として、図4A、図4B、図4Cに示す処理対象物100を用いた。図4Aは、処理対象物100を長手方向の側面から見た側面図であり、図4Bは、処理対象物100を短手方向の側面から見た側面図であり、図4Cは、処理対象物100の斜視図である。
処理対象物100は、ともにSKD61から成る一対の板状部材101、103を、間にスペーサ105、107を介して固定し、3側面を、銅から成るカバー部材109、111、113で覆ったものである。一対の板状部材101、103の間には、スペーサ105、107の厚みに対応する幅のスリット115が形成されており、そのスリット115は、カバー部材109、111、113で覆われていない側面117において露出している。処理対象物100の各部の寸法は図4A、図4Bに記載したとおりであり、スリット115の幅は1mmである。
窒化処理方法を実施した後の処理対象物100について、スリット115内部のビッカース硬度を測定した。なお、窒化処理は、バイアス電圧が−50Vの条件で行い、電子ビーム29の方向は、図4Cで示すように、側面117に直交する方向であって、外からスリット115内に入り込む方向とした。また、窒化処理は、処理時間が5時間の場合、10時間の場合、20時間の場合のそれぞれにおいて実施した。また、硬度の測定は、スリット115の開口部(エッジ)115aからの距離が異なる複数の点で行った。
ビッカース硬度の測定結果を図5に示す。図5には、窒化処理を行っていない処理対象物100(図5では「未処理」と表示)の結果も示す。この図5から明らかなように、スリット115内の奥の方まで窒化処理が行われ、硬度が上昇している。
スリット115内の奥の方まで硬度が上昇した原因は、プラズマ31中に多く含まれる窒素原子の影響である。窒素原子は、他の窒素原子と再結合して分子に戻るまでの平均時間が長く、再結合するまで処理対象物100(スリット115の内部も含む)の表面に何度も衝突と反射を繰り返す。その結果、窒素原子は、狭いスリット115内の奥まで到達できる。
なお、処理対象物100の電位がプラズマ31の電位より低いため、プラズマ31中に含まれるイオンは、スリット115の入口に近い材料表面に引き寄せられ、そこで再結合する。そのため、イオンは、スリット115内に深く侵入することは出来ない。
図5に示されているように、窒化処理時間が20時間と長い条件では、5時間の場合と比べて、スリット115内の硬度がより上昇している。さらに長い時間窒化処理を行うことで、スリット115内全てにおいて均一な硬さを得ることも可能である。
従来の窒化処理方法と大きく異なるこの実験結果は、本発明の窒化処理方法では、高濃度の窒素原子が窒化処理において重要な役割を果たしていることを明確に示している。
以上の結果から、窒化処理装置1を用いた窒化処理方法によれば、工具や金型などの金属表面に鉄等の窒素化合物層を形成することなく、また、表面の粗さを増加させることなく、表面付近の硬度を高める窒化処理が可能となる。また、スリット(微細な構造)を持つ工具や金型においても、狭いスリットの内面を均一に窒化処理することが可能になる。
<第2の実施形態>
1.窒化処理装置201の構成
窒化処理装置201の構成を、図6に基づいて説明する。窒化処理装置201は、チャンバー203内に、複数のスリット202を備えた金属板204、その金属板204と接する石英ガラス窓205、及び処理対象物ホルダー207を備えている。処理対象物ホルダー207は、その上面に、処理対象物23を保持することができる。また、処理対象物ホルダー207は、図示しないヒータを内蔵しており、処理対象物23を加熱することができる。さらに、チャンバー203には、マイクロ波を送り込むための導波路209、窒素導入口211、及び真空排気口213が設けられている。チャンバー203の内部は、反応室215である。
ここで、文言の対応関係を説明する。窒素導入口211、後述するマイクロ波、金属板204及び石英ガラス窓205がプラズマ生成部の一例に相当する。また、反応室215が窒化処理部の一例に相当する。
2.窒化処理装置201を用いた窒化処理方法
窒化処理装置201を用いた窒化処理方法を説明する。まず、処理対象物23を処理対象物ホルダー207に取り付け、反応室215内に設置する。処理対象物23を500℃まで加熱し、次に、窒素導入口211から反応室215内に窒素ガスを導入する。次に、導波路209からマイクロ波を導入する。マイクロ波は、複数のスリット202を備えた金属板204及び石英ガラス窓205を透過し、その下側表面で表面波プラズマを発生させる。その表面波プラズマが反応室215内の窒素ガスに作用して、反応室215内で、高濃度の窒素原子を含むプラズマが発生する。この高濃度の窒素原子を含むプラズマにより、処理対象物23の表面が窒化処理される。
なお、窒化処理装置201を用いて、処理対象物23の表面をクリーニングすることもできる。クリーニングは、処理対象物23を500℃に加熱しているとき、アルゴンガスや水素ガスを反応室215内に導入し、表面波プラズマを発生させることにより行う。
3.窒化処理装置201を用いた窒化処理方法が奏する効果
窒化処理装置201を用いた窒化処理方法によっても、工具や金型などの金属表面に鉄等の窒素化合物層を形成することなく、また、表面の粗さを増加させることなく、表面付近の硬度を高める窒化処理が可能となる。また、スリット(微細な構造)を持つ工具や金型においても、狭いスリットの内面を均一に窒化処理することが可能になる。

Claims (3)

  1. 窒素原子を含むプラズマを用いて、金属から成る処理対象物の窒化処理をする窒化処理方法であって、
    前記処理対象物の電位が前記プラズマの電位より低く、
    前記プラズマの電位と前記処理対象物の電位との電位差が50V以下であり、
    前記処理対象物の付近に印加した磁場により、前記プラズマ中の電子が前記処理対象物へ流入することを抑制することを特徴とする窒化処理方法。
  2. 前記プラズマは、窒素を含むガスに電子ビーム又はマイクロ波を照射して生成したものであることを特徴とする請求項1記載の窒化処理方法。
  3. 窒素を含むガスに電子ビーム又はマイクロ波を照射して窒素原子を含むプラズマを生成するプラズマ生成部と、
    前記プラズマを用いて金属から成る処理対象物の窒化処理をする窒化処理部と、
    前記処理対象物の電位を、前記プラズマの電位より低く、前記プラズマの電位との電位差が50V以下となるように設定する電位設定部と、
    前記処理対象物の付近に印加した磁場により、前記プラズマ中の電子が前記処理対象物へ流入することを抑制する抑制部と、
    を備える窒化処理装置。
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