JP6316647B2 - 過電流保護回路、半導体装置、及びボルテージレギュレータ - Google Patents

過電流保護回路、半導体装置、及びボルテージレギュレータ Download PDF

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Description

本発明は、過電流保護回路、その過電流保護回路を備えた半導体装置及びボルテージレギュレータに関する。
従来の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータについて説明する。図4は、従来の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータを示す回路図である。従来のボルテージレギュレータは、基準電圧回路401と、NMOSトランジスタ403、404、405と、PMOSトランジスタ402、406、110と、抵抗204、205と、電源端子101と、グラウンド端子100と、出力端子102を備えている。
基準電圧回路401の基準電圧Vrefが出力端子102の出力電圧Voutを抵抗204、205で分圧した分圧電圧Vfbよりも大きい時、NMOSトランジスタ403、404、405と、PMOSトランジスタ402、406で構成される誤差増幅回路の出力であるPMOSトランジスタ110のゲートの電位は低くなりPMOSトランジスタ110のオン抵抗を低くさせる。そして、出力電圧Voutを上昇させ、分圧電圧Vfbと基準電圧Vrefとが等しくなるように動作する。基準電圧Vrefが分圧電圧Vfbよりも小さい時は、誤差増幅回路の出力であるPMOSトランジスタ110のゲートの電位は高くなりPMOSトランジスタ110のオン抵抗を高くさせる。そして、出力電圧Voutを低下させ、分圧電圧Vfbと基準電圧Vrefとが等しくなるように動作する。
ボルテージレギュレータは、常に、分圧電圧Vfbと基準電圧Vrefを等しく保つことで、一定の出力電圧Voutを発生している(例えば、特許文献1図2参照)。
特開平4−195613号公報
しかしながら、従来のボルテージレギュレータでは、出力端子に過大な電流が流れ続けるとPMOSトランジスタ110が発熱し破壊されるという課題があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、出力端子に長時間過大な電流が流れることを防止する過電流保護回路、および過電流保護回路を備えた半導体装置及びボルテージレギュレータを提供する。
従来の課題を解決するために、本発明の過電流保護回路、および過電流保護回路を備えた半導体装置及びボルテージレギュレータは以下のような構成とした。
出力トランジスタに流れる出力電流に比例した電流を流す第一のトランジスタと、基準電流を流す定電流回路と、第一のトランジスタに流れる電流と基準電流を比較する比較回路と、比較回路から出力される信号によって出力トランジスタのゲートを制御する制御回路と、を備える構成とした。
駆動回路の制御に支障をきたすことなく、出力端子に過電流が流れた時、出力トランジスタが破壊されることを防止できる。
本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置の回路図である。 本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータの回路図である。 本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータの他の例を示す回路図である。 従来のボルテージレギュレータ回路の回路図である。
<第一の実施形態>
図1は、本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置の回路図である。
本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置は、駆動回路103と、定電流回路104と、NMOSトランジスタ105、106と、PMOSトランジスタ107、108、109、110と、電源端子101と、グラウンド端子100と、出力端子102を備えている。
本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置の接続について説明する。駆動回路103の出力はPMOSトランジスタ108のドレインとPMOSトランジスタ109のゲートとPMOSトランジスタ110のゲートに接続される。PMOSトランジスタ108は、ゲートはPMOSトランジスタ107のゲート及びドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ107のソースは電源端子101に接続される。定電流回路104は、一方の端子は電源端子101に接続され、もう一方の端子はPMOSトランジスタ107のゲート及びドレインに接続される。NMOSトランジスタ105は、ゲートはNMOSトランジスタ106のゲート及びドレインに接続され、ドレインはPMOSトランジスタ107のゲート及びドレインに接続され、ソースはグラウンド端子100に接続される。NMOSトランジスタ106のソースはグラウンド端子100に接続される。PMOSトランジスタ109は、ドレインはNMOSトランジスタ106のゲート及びドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。PMOSトランジスタ110は、ドレインは出力端子102に接続され、ソースは電源端子101に接続される。
次に、本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置の動作について説明する。電源端子101に電源電圧VDDが入力されると、駆動回路103が動作し駆動回路103の出力で出力トランジスタとして動作するPMOSトランジスタ110の動作を制御する。駆動回路103の出力によりPMOSトランジスタ110が動作すると出力端子102に出力電圧Voutが発生する。
PMOSトランジスタ110が動作しているとき、出力端子102に負荷が接続されるとPMOSトランジスタ109はPMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流Imonを流す。NMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105はカレントミラーを構成し、電流Imonを任意の倍率でコピーした電流Imon1を発生させる。定電流回路104は基準電流Iaを流し、NMOSトランジスタ105の出力電流Imon1と比較される。
Imon1>Iaの時、PMOSトランジスタ107はImon1−Iaの電流を流す。そして、この電流はPMOSトランジスタ107と108で構成されるカレントミラーにて任意の倍率に増幅され、PMOSトランジスタ108に電流を流し、PMOSトランジスタ110をオフさせるように動作する。なお、Imon1とIaの差が大きいほどPMOSトランジスタ110のゲートを充電する電流が増えるためPMOSトランジスタ110は素早くオフされ、Imon1とIaの差が小さいとPMOSトランジスタ110はゆっくりとオフされる。Imon1<Iaの時は、PMOSトランジスタ107に電流は流れない。このため、PMOSトランジスタ110がオフすることはない。
こうして、出力端子102に負荷が接続されPMOSトランジスタ110に過電流が流れた時、PMOSトランジスタ110をオフさせてPMOSトランジスタ110が破壊されることを防止することができる。PMOSトランジスタ110をオフする速さはPMOSトランジスタ108に流れる電流の大きさで決まり、この電流は急激には増えないため、駆動回路103によってPMOSトランジスタ110に流れる電流が瞬間的に増加する制御をされたとしても、PMOSトランジスタ110を直ちにオフさせることはない。このため、この点に関して、駆動回路103の制御に支障をきたすことは起こらない。
なお、電流Imon1と基準電流Iaを比較する回路としてNMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105で構成されるカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流Imon1と基準電流Iaを比較できる回路であればどのような比較回路であっても良い。また、PMOSトランジスタ107に流れる電流を任意の倍率でコピーする回路としてカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流を任意の倍率でコピーする回路であればどのような電流増幅回路であっても良い。例えば、PMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流が抵抗に流れることによって発生した電圧と、基準電流が抵抗に流れることによって発生した基準電圧とを比較する電圧比較器と、その出力信号によってPMOSトランジスタ110のゲートを制御する制御回路を用いても良い。
以上記載したように、本発明の過電流保護回路を備えた半導体装置は、駆動回路の制御に支障をきたすことなく、出力端子に過電流が流れた時出力トランジスタが破壊されることを防止できる。
<第二の実施形態>
図2は、本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータの回路図である。図1との違いは駆動回路103を削除し、基準電圧回路201、抵抗204、205、誤差増幅回路202を追加した点である。接続については、誤差増幅回路202は、反転入力端子は基準電圧回路201の正極に接続され、非反転入力端子は抵抗204と205の接続点に接続され、出力はPMOSトランジスタ108のドレインとPMOSトランジスタ109のゲートとPMOSトランジスタ110のゲートに接続される。基準電圧回路201の負極はグラウンド端子100に接続され、抵抗204のもう一方の端子は出力端子102に接続され、抵抗205のもう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。他は図1と同様である。
本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータの動作について説明する。電源端子101に電源電圧VDDが入力されると、ボルテージレギュレータは、出力端子102から出力電圧Voutを出力する。抵抗204と205は、出力電圧Voutを分圧し、分圧電圧Vfbを出力する。誤差増幅回路202は、基準電圧回路201の基準電圧Vrefと分圧電圧Vfbとを比較し、出力電圧Voutが一定になるよう出力トランジスタとして動作するPMOSトランジスタ110のゲート電圧を制御する。
出力電圧Voutが所定電圧よりも高いと、分圧電圧Vfbが基準電圧Vrefよりも高くなる。従って、誤差増幅回路202の出力信号(PMOSトランジスタ110のゲートの電位)が高くなり、PMOSトランジスタ110がオフしていくので出力電圧Voutは低くなる。また、出力電圧Voutが所定電圧よりも低いと、上記と逆の動作をして、出力電圧Voutは高くなる。この様にして、ボルテージレギュレータは、出力電圧Voutが一定になるように動作する。
出力端子102に負荷が接続され過電流が流れた時を考える。PMOSトランジスタ109はPMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流Imonを流す。NMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105はカレントミラーを構成し、電流Imonを任意の倍率でコピーした電流Imon1を発生させる。定電流回路104は基準電流Iaを流し、NMOSトランジスタ105の出力電流Imon1と比較される。
Imon1>Iaの時、PMOSトランジスタ107はImon1−Iaの電流を流す。そして、この電流はPMOSトランジスタ107と108で構成されるカレントミラーにて任意の倍率に増幅され、PMOSトランジスタ108に電流を流し、PMOSトランジスタ110をオフさせるように動作する。なお、Imon1とIaの差が大きいほどPMOSトランジスタ110のゲートを充電する電流が増えるためPMOSトランジスタ110は素早くオフされ、Imon1とIaの差が小さいとPMOSトランジスタ110はゆっくりとオフされる。Imon1<Iaの時は、PMOSトランジスタ107に電流は流れない。このため、PMOSトランジスタ110がオフすることはない。
こうして、出力端子102に負荷が接続されPMOSトランジスタ110に過電流が流れた時、PMOSトランジスタ110をオフさせてPMOSトランジスタ110が破壊されることを防止することができる。PMOSトランジスタ110をオフする速さはPMOSトランジスタ108に流れる電流の大きさで決まり、この電流は急激には増えないため、誤差増幅回路202によってPMOSトランジスタ110に流れる電流が瞬間的に増加する制御をされたとしても、PMOSトランジスタ110を直ちにオフさせることはない。例えば、出力端子の負荷が軽負荷から重負荷に変化すると、PMOSトランジスタ110に大きな電流が流れるように誤差増幅回路202が制御するが、この点に関してこの制御に支障をきたすことは起こらない。
なお、電流Imon1と基準電流Iaを比較する回路としてNMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105で構成されるカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流Imon1と基準電流Iaを比較できる回路であればどのような比較回路であっても良い。また、PMOSトランジスタ107に流れる電流を任意の倍率でコピーする回路としてカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流を任意の倍率でコピーする回路であればどのような電流増幅回路であっても良い。例えば、PMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流が抵抗に流れることによって発生した電圧と、基準電流が抵抗に流れることによって発生した基準電圧とを比較する電圧比較器と、その出力信号によってPMOSトランジスタ110のゲートを制御する制御回路を用いても良い。
以上記載したように、本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータは、誤差増幅回路の制御に支障をきたすことなく、出力端子に過電流が流れた時出力トランジスタが破壊されることを防止できる。
図3は、本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータの他の例を示す回路図である。図2との違いはPMOSトランジスタ108のドレインを誤差増幅回路202のバイアス電流を増やせるように接続した点である。
図3のボルテージレギュレータの動作について説明する。通常の動作は、図2のボルテージレギュレータと同様である。出力端子102に負荷が接続され過電流が流れた時、PMOSトランジスタ109はPMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流Imonを流す。NMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105はカレントミラーを構成し、電流Imonを任意の倍率でコピーした電流Imon1を発生させる。定電流回路104は基準電流Iaを流し、NMOSトランジスタ105の出力電流Imon1と比較される。
Imon1>Iaの時、PMOSトランジスタ107はImon1−Iaの電流を流す。そして、この電流はPMOSトランジスタ107と108で構成されるカレントミラーにて任意の倍率に増幅され、PMOSトランジスタ108に電流を流し、誤差増幅回路202のバイアス電流を増加させる。そして、誤差増幅回路202の応答性を向上させ誤差増幅回路202の制御によってPMOSトランジスタ110をオフさせように動作する。なお、Imon1とIaの差が大きいほど誤差増幅回路202のバイアス電流が増えるため、誤差増幅回路202の応答性はさらに向上しPMOSトランジスタ110をオフさせる制御が速くなる。また、Imon1とIaの差が小さいと誤差増幅回路202のバイアス電流の増加は僅かになるため、誤差増幅回路202の応答性は僅かに増し、PMOSトランジスタ110をオフさせる制御が誤差増幅回路202のバイアス電流が増加していない時と比べ僅かに速く行われる。Imon1<Iaの時は、PMOSトランジスタ107に電流は流れない。このため、誤差増幅回路202のバイアス電流が増加することはない。
こうして、出力端子102に負荷が接続されPMOSトランジスタ110に過電流が流れた時、誤差増幅回路202のバイアス電流を増加させ、誤差増幅回路202の制御によってPMOSトランジスタ110をオフさせ、PMOSトランジスタ110が破壊されることを防止することができる。PMOSトランジスタ110をオフする速さはPMOSトランジスタ108に流れる電流の大きさで決まり、この電流は急激には増えずに段階的に増えるため、誤差増幅回路202のバイアス電流も急激には増えずに段階的に増えるから、誤差増幅回路202の発振余裕度視点での安定動作を直ちに過度に妨げることなく、なおかつバイアス電流増による応答性の向上の両立が図られ、本願の課題を達成することが可能となる。より具体的には、例えばPMOSトランジスタ110に過電流が流れたとき、PMOSトランジスタ110が過大な負荷を供給するために上昇する出力電圧Voutに基づいて、PMOSトランジスタ110のゲートの電位を高くしようとする誤差増幅回路202の安定動作と、応答速度との両立が図られ、出力トランジスタ110に長時間過大な電流が流れることを防止することが可能となる。
なお、電流Imon1と基準電流Iaを比較する回路としてNMOSトランジスタ106とNMOSトランジスタ105で構成されるカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流Imon1と基準電流Iaを比較できる回路であればどのような比較回路であっても良い。また、PMOSトランジスタ107に流れる電流を任意の倍率でコピーする回路としてカレントミラーを用いているが、この構成に限らず電流を任意の倍率でコピーする回路であればどのような電流増幅回路でも良い。例えば、PMOSトランジスタ110に流れる電流に比例した電流が抵抗に流れることによって発生した電圧と、基準電流が抵抗に流れることによって発生した基準電圧とを比較する電圧比較器と、その出力信号によって誤差増幅回路202のバイアス電流を制御する制御回路を用いても良い。
以上記載したように、本発明の過電流保護回路を備えたボルテージレギュレータは、誤差増幅回路の制御に支障をきたすことなく出力端子に過電流が流れた時出力トランジスタが破壊されることを防止できる。
100 グラウンド端子
101 電源端子
102 出力端子
103 駆動回路
104 定電流回路
201 基準電圧回路
202 誤差増幅回路
401 基準電圧回路

Claims (8)

  1. 出力トランジスタに流れる出力電流に比例した電流を流す第一のトランジスタと、
    基準電流を流す定電流回路と、
    前記第一のトランジスタに流れる電流と前記基準電流を比較する比較回路と、
    前記比較回路から出力される電流に応じた電流によって、前記出力トランジスタのゲートを制御する電流増幅回路である制御回路と、を備えることを特徴とする過電流保護回路。
  2. 前記比較回路は、
    ゲートとドレインが前記第一のトランジスタのドレインに接続された第二のトランジスタと、
    ゲートが前記第二のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記定電流回路に接続された第三のトランジスタと、を備えカレントミラーを構成し、
    前記基準電流と前記第三のトランジスタの電流を比較することを特徴とする請求項1に記載の過電流保護回路。
  3. 前記制御回路は、
    ゲートとドレインが前記定電流回路に接続された第四のトランジスタと、
    ゲートが前記第四のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記出力トランジスタのゲートに接続された第五のトランジスタと、を備えカレントミラーを構成する前記電流増幅回路であることを特徴とする請求項1または2に記載の過電流保護回路。
  4. 入力電圧を出力端子に出力する出力トランジスタと、
    前記出力トランジスタの動作を制御する駆動回路と、
    請求項1から3のいずれかに記載の過電流保護回路と、を備えたことを特徴とする半導体装置。
  5. 所定の出力電圧を出力端子に出力する出力トランジスタと、
    前記出力電圧を分圧した分圧電圧と基準電圧の差を増幅して出力し、前記出力トランジスタのゲートを制御する誤差増幅回路と、
    請求項1から3のいずれかに記載の過電流保護回路と、を備えたことを特徴とするボルテージレギュレータ。
  6. 所定の出力電圧を出力端子に出力する出力トランジスタと、
    前記出力電圧を分圧した分圧電圧と基準電圧の差を増幅して出力し、前記出力トランジスタのゲートを制御する誤差増幅回路と、
    過電流保護回路と、を備えたボルテージレギュレータであって、
    過電流保護回路は、
    前記出力トランジスタに流れる出力電流に比例した電流を流す第一のトランジスタと、
    基準電流を流す定電流回路と、
    前記第一のトランジスタに流れる電流と前記基準電流を比較する比較回路と、
    前記比較回路から出力される電流に応じた電流によって前記誤差増幅回路のバイアス電流を制御する電流増幅回路である制御回路と、を備えることを特徴とするボルテージレギュレータ。
  7. 前記比較回路は、
    ゲートとドレインが前記第一のトランジスタのドレインに接続された第二のトランジスタと、
    ゲートが前記第二のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記定電流回路に接続された第三のトランジスタと、を備えカレントミラーを構成し、
    前記基準電流と前記第三のトランジスタの電流を比較することを特徴とする請求項6に記載のボルテージレギュレータ。
  8. 前記制御回路は、
    ゲートとドレインが前記定電流回路に接続された第四のトランジスタと、
    ゲートが前記第四のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記誤差増幅回路に接続された第五のトランジスタと、を備えカレントミラーを構成する前記電流増幅回路であることを特徴とする請求項6または7に記載のボルテージレギュレータ。
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