JP6295765B2 - 箔転写不良検査システム - Google Patents

Description

本発明は，紙などの基材に金箔やホログラム箔を箔転写させる際に発生する箔転写不良を検査する技術に関する。

紙などの基材に金箔やホログラム箔を箔転写させる箔押し機では、箔を箔転写する際の温度や箔の搬送位置が変動することによって箔転写不良が発生するため，何らかの手法で箔転写不良を検査することが必要になる。

箔転写不良を検査する手法としては，大きく分けて２つの手法があり，その一つは，目視によって箔転写不良を検査する手法で，もう一つは，カメラを用いて箔転写不良を検査する手法である。カメラを用いて箔転写不良を検査する手法も大きく分けて２つの手法があり，その一つは，基材に転写した箔をカメラで撮影して箔転写不良を検査する手法（例えば，特許文献１），箔転写した後の残箔をカメラで撮影して箔転写不良を検査する手法（例えば，特許文献２）がある。

目視によって箔転写不良を検出する手法は，人件費が膨大にかかる点と、不良品とする箔転写不良の度合いを定量化できない点で問題がある。

また，基材に転写した箔をカメラで撮影して箔転写不良を検出する手法では，転写する箔のサイズや基材のサイズによって高機能なカメラが必要になる問題がある。また、箔に印字された絵柄に同調させて箔押しする場合、反射率の高い箔と箔上に印字された絵柄の２つを同時に撮影しなければならず、照明等の撮影条件が難しくなる問題もある。

箔転写した後の残箔をカメラで撮影して箔転写不良を検査する手法では，このような問題を解決できる可能性があるが、カメラを用いて箔転写不良を検査する場合，カメラを設置するスペースが箔押し機に無く，インラインで箔転写不良を検査できないことがあった。

特開２００７−２４８３７６号公報 特開２００２−３９７２９号公報

このような問題を鑑みて，本発明は，カメラを用いることなく，箔押し機上で箔転写不良を自動で検査できるシステムを提供することを目的とする。

上述した課題を解決する第１の発明は，透過型の光学センサを用いた第１の光学センサと，前記第１の光学センサと接続し，前記第１の光学センサの信号を利用して箔転写不良を検査する検査装置を含むように構成されたシステムであって，箔押しで用いる箔原反は，透明なフィルム基材層，剥離層，箔層および接着層が積層された原反で，前記第１の光学センサは，箔転写後の箔原反に発生する透明な箔抜け部分が通過する位置にライン状の光を投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力し，前記検査装置は，前記透明な箔抜け部分が前記ライン状の光を通過する間に前記第１の光学センサが出力する信号を監視し，前記透明な箔抜け部分が前記ライン状の光を通過する間に前記第１の光学センサが出力する信号の値を積分することで，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化から前記透明な箔抜け部分の大きさを示す箔抜け検査値を演算し，前記箔抜け検査値が許容範囲外の場合，箔が正常に転写されていない箔転写不良が発生したと判定することを特徴とする箔転写不良検査システムである。第１の発明によれば，前記第１の光学センサが出力する信号は，前記ライン状の光上にある前記箔抜け部分の大きさに応じて時系列変化するため，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化から前記箔抜け検査値を演算できる。箔転写不良が発生すると，前記箔抜け部分の大きさが変化し前記箔抜け検査値も変化するため，前記箔抜け検査値の許容範囲を求め，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化から実際に演算した前記箔抜け検査値と比較することで，カメラを用いずとも箔転写不良を自動で検査できるようになる。第１の発明は，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化から演算する前記箔抜け検査値をこの信号の積分値とし，前記第１の光学センサが出力する信号の積分値は，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化の面積が反映された数値になる。

更に，第２の発明は，第１の発明に記載の箔転写不良検査システムにおいて，前記第１の光学センサおよび前記検査装置に加えて，反射型の光学センサを用いた第２の光学センサを含むように構成され，前記箔原反には、箔押しする個所内に視認用の絵柄が印刷され，更に，箔押しする個所外に前記絵柄の位置を示すレジスタマークが印刷されており，前記第２の光学センサは，前記レジスタマークが通過する位置に合わせて，転写後の箔原反上にスポット状の光を投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力し，前記検査装置は，前記レジスタマークが前記スポット状の光を通過する間に前記第２の光学センサが出力する信号を監視し，前記レジスタマークを検出したことを示す信号が出力されなかった場合，箔転写後の前記絵柄の位置が正常でない蛇行不良が発生したと判定することを特徴とする。第２の発明によれば，箔原反が蛇行すると，前記レジスタマークは前記スポット状の光を通過しないため，箔押しする際の前記絵柄の位置が正常でない蛇行不良が発生したと判定できる。

このように，上述した本発明によれば，カメラを用いることなく，箔押し機上で箔転写不良を自動で検査できるシステムを提供できる。

本実施形態にかかる箔転写不良検査システムの構成を説明する図。 実施形態にかかる箔転写不良検査システムのブロック図。 本実施形態にかかる箔原反等を説明する図。 第１の光学センサの設置状態を説明する図。 第２の光学センサの設置状態を説明する図。 検査装置が箔転写不良を検出する動作を説明する図。 第１の光学センサの信号を説明する図。 検査装置が蛇行不良を検出する動作を説明する図。 第２の光学センサの信号を説明する図。

ここから，本発明の好適な実施形態を記載する。なお，以下の記載は本発明の範囲を束縛するものでなく，理解を助けるために記述するものである。

図１は，本実施形態にかかる箔転写不良検査システム１の構成を説明する図，図２は，本実施形態にかかる箔転写不良検査システム１のブロック図，図３は，本実施形態にかかる箔原反２等を説明する図，図４は，第１の光学センサ１１の設置状態を説明する図，図５は，第２の光学センサ１２の設置状態を説明する図，図６は，検査装置１０が箔転写不良を検出する動作を説明する図，図７は，第１の光学センサ１１の信号を説明する図，図８は，検査装置１０が蛇行不良を検出する動作を説明する図，図９は，第２の光学センサ１２の信号を説明する図である。

まず，図１を参照しながら，箔押しの原理について簡単に説明する。図１では，箔を転写する基材となる用紙３は，箔を転写する際，間欠送りまたは連続送りされて，ロール状の用紙３を取り付ける用紙給紙部６ｃら金型７へ供給され，箔転写後の用紙３は用紙排紙部６ｄで巻き取られる。

また，用紙３に転写する箔の原反となる箔原反２は，箔を転写する際，間欠送りまたは連続送りされて，ロール状の箔原反２を取り付ける箔原反給紙部６ａから金型７に供給され，箔転写後の箔原反２は箔原反排紙部６ｂで巻き取られる。

本実施形態において，金型７は上型７ａと下型７ｂで構成され，金型７の上型７ａは上下に可動で，金型７の下型７ｂは固定になっている。金型７の上型７ａには，転写する箔の形状に合わせた凸状の転写部材７ｃが少なくとも一つ設けられ，この転写部材７ｃは，箔転写に適した温度に加熱されている。用紙３および箔原反２が金型７に供給されると，金型７の上型７ａが下方向に移動し，金型７の上型７ａに設けられた転写部材７ｃの形状の箔が用紙３に転写される。

ここから，図３を参照しながら，箔原反２について説明する。図３（ａ）は，箔原反２を説明する図である。箔原反２は，フィルム基材層，剥離層，箔層（例えば，金属箔やホログラム箔）および接着層（例えば，ヒートシール層）が積層された原反である。本実施形態の箔原反２には，箔押しする間隔を合わせて絵柄２ｂ（ここでは，「ａｂｃ」）が印刷され，更に，絵柄２ｂの左横には，絵柄２ｂが印刷されている位置を示すレジスタマーク２ａが印刷されている。箔原反２に印刷する絵柄２ｂは品目の仕様で決定されることになるが，レジスタマーク２ａの形状や色は品目の仕様に係わらないため任意に決定できる。

図３（ｂ）は，用紙３に転写される箔を説明する図である。金型７の上型７ａに設けられた転写部材７ｃが下降して箔原反２と接し，転写部材７ｃと接した個所が加熱されると，この個所の接着層が熱で溶けて用紙３と接融着する。この後，箔原反２と用紙３を間欠送りまたは連続送りすると，熱融着した個所の剥離層が剥離し，転写部材７ｃの形状（ここでは，楕円形）に沿った箔２ｃが用紙３に転写される。なお，本実施形態では，箔原反２のエッジ位置の変動がない場合，箔原反２に印刷された絵柄２ｂは，用紙３に転写された箔２ｃの中央に配置される。

図３（ｃ）は，転写後の箔原反２を説明する図である。転写部材７ｃの形状に沿った箔２ｃが用紙３に転写されることで，転写後の箔原反２には，箔が抜けた状態の箔抜け部分２ｄが発生することになる。箔抜け部分２ｄの形状は，箔転写不良が発生していない状態では，金型７の転写部材７ｃの形状に一致する。なお，レジスタマーク２ａを印刷した個所は，金型７によって転写されないため，転写後の箔原反２においても，レジスタマーク２ａは箔原反２上に残っている。

本実施形態にかかる箔転写不良検査システム１は，用紙３に箔を転写した際に発生する箔転写不良と蛇行不良をインラインで検出できるように設けられるシステムである。

ここから，図１および２を参照しながら，箔転写不良検査システム１の構成について説明する。図２に図示したように，本実施形態にかかる箔転写不良検査システム１は，箔転写後の箔原反２に発生する箔抜け部分２ｄが通過する位置にライン状の光１１ｃを投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力する第１の光学センサ１１と，レジスタマーク２ａが通過する位置に合わせて，転写後の箔原反２上にスポット状の光１２ａを投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力する第２の光学センサ１２と，第１の光学センサ１１の信号を利用して箔転写不良を検査し，更に，第２の光学センサ１２の信号を利用して蛇行不良を検査する検査装置１０を含むように構成される。図１では，第１の光学センサ１１は，箔原反２の流れ方向において金型７の下流に配置され，更に，第２の光学センサ１２は，第１の光学センサ１１の後に配置されている。

図１および２において，検査装置１０は，第１の光学センサ１１と第２の光学センサ１２と接続し，更に，箔押し機の制御装置４とＰＣ５（Personal Computer）と接続している。箔押し機の制御装置４は，少なくとも第１の光学センサ１１の信号を有効にする間隔を示すパルス状のゲート信号の生成に用いる基準信号を検査装置１０へ入力する。検査装置１０は，箔転写不良および蛇行不良の検査結果を箔押し機の制御装置４へ入力し，箔押し機の制御装置４には，箔転写不良または蛇行不良の少なくとも一つが発生した時に作動する装置として，箔転写不良や蛇行不良が発生した個所を示す警告紙を箔転写後の用紙３に挿入するテープインサーター４ａと，箔転写不良や蛇行不良の発生を音や光で知らせるためのブザー４ｂが接続されている。

また，検査装置１０と接続するＰＣ５には，箔転写不良検査システム１の操作側の装置となるタッチパネル５ａと，箔転写不良検査システム１の出力側の装置となるジャーナルプリンタ５ｂが接続されている。検査装置１０は，箔転写不良と蛇行不良の検査結果をＰＣ５へ送信し，ＰＣ５は，タッチパネル５ａを用いて設定された箔転写不良と蛇行不良の検査に必要な様々な情報を検査装置１０へ送信する。

ここから，図４を参照しながら，本実施形態にかかる第１の光学センサ１１について説明する。第１の光学センサ１１は，転写後の箔原反２に発生する箔抜け部分２ｄの検出に用いるセンサである。光センサには反射型と透過型があるが，一般的に箔原反２のフィルム基材のほとんどは透明で，箔抜け部分２ｄは透明になるため，第１の光学センサ１１としては透過型の光学センサを用いることが望ましい。

本実施形態において，第１の光学センサ１１は，ライン状の光１１ｃ（例えば，レーザ光）を投光する投光器１１ａと投光器１１ａが発した光を受光素子で受光する受光器１１ｂを含む透過型の光学センサとしている。投光器１１ａが投光するライン状の光１１ｃの向きは箔原反２の進行方向に対して垂直で，ライン状の光１１ｃの位置は，箔抜け部分２ｄが通過する位置に合わせている。また，ライン状の光１１ｃの長さは，箔転写不良がない状態の箔抜け部分２ｄの長径より長くしている。

本実施形態では，箔原反２のフィルム基材の色を透明とし，図４に図示したように，第１の光学センサ１１の投光器１１ａが投光したライン状の光１１ｃのうち，箔抜け部分２ｄに投光される光は通過して受光器１１ｂに到達するが，箔抜け部分２ｄでない個所，すなわち，箔が存在する個所に投光される光は箔によって遮光され受光器１１ｂに到達しないことになる。よって，第１の光学センサ１１の受光器１１ｂは，箔抜け部分２ｄに投光される光のみを受光することになる。

ここから，図５を参照しながら，本実施形態にかかる第２の光学センサ１２について説明する。第２の光学センサ１２は，箔原反２に印刷されたレジスタマーク２ａの検出に用いる光学センサである。レジスタマーク２ａが印刷された個所は用紙３に転写されないため，箔原反２に印刷されたレジスタマーク２ａの検出に用いる第２の光学センサ１２はスポット系が小さくて済む反射型の光学センサ（例えば，ＣＯＭＳレーザセンサ）が好適で，第２の光学センサ１２が投光するスポット状の光１２ａは，蛇行不良が発生していない時，レジスタマーク２ａが通過する位置に合せられる。

なお，本実施形態では，図３に図示しているように，箔押しする列を一列としているため，第１の光学センサ１１と第２の光学センサ１２をそれぞれ一台としている。箔押しする列が複数列になる場合，第１の光学センサ１１と第２の光学センサ１２を箔押しする列毎に設けることが必要になる。

ここから，図６，７を参照しながら，第１の光学センサ１１の信号に基づき，検査装置１０が箔転写不良を検査する内容について説明する。図６は，検査装置１０が箔転写不良を検出する動作を説明する図である。

本実施形態にかかる検査装置１０は，箔押し機の制御装置４から基準信号が入力されると，この基準信号を利用して，箔押しした個所がライン状の光１１ｃを通過するタイミングと同期するパルス状のゲート信号を生成し（Ｓ１），ゲート信号がＯＮの区間内における第１の光学センサ１１の信号を監視し（Ｓ２），第１の光学センサ１１が出力する信号の時系列変化から箔抜け部分２ｄの大きさを示す箔抜け検査値を演算する（Ｓ３）。次に，検査装置１０は，箔抜け検査値とこの許容範囲を比較し（Ｓ４），箔抜け検査値が許容範囲内の場合，箔転写不良はないと判定して，この手順は終了する。また，検査装置１０は，箔抜け検査値が許容範囲外の場合，箔が正常に抜けていないと判断し，箔転写不良が発生したことを示す箔転写不良検出信号を出力して（Ｓ５），この手順を終了する。

図７（ａ）は，箔転写不良が発生していないときの第１の光学センサ１１の信号を説明する図で，図７（ａ）において，ゲート信号の幅は，箔転写不良が発生していない箔抜け部分２ｄが，第１の光学センサ１１の投光器１１ａが投光するライン状の光１１ｃを通過する時間間隔よりも若干長く設定されている。なお，本実施形態にかかる検査装置１０に接続されているＰＣ５にはタッチパネル５ａが接続されているため，このタッチパネル５ａを利用してゲート信号がＯＮになるタイミングとその間隔を設定できるようにするとよい。

上述しているように，第１の光学センサ１１の投光器１１ａが投光するライン状の光１１ｃは，箔抜け部分２ｄに投光された光のみが通過して受光器１１ｂに到達するため，図７（ａ）では，第１の光学センサ１１が出力する信号の波形は，楕円形状である箔抜け部分２ｄの長径が，ライン状の光１１ｃを通過するときにピークとなる略山形になる。

第１の光学センサ１１の信号から，箔抜け部分２ｄの大きさを示す箔抜け検査値を演算する手法は様々考えられる。例えば，第１の光学センサ１１が出力する信号の波形形状を箔抜け検査値とすることもできるが，ゲート信号がＯＮの区間における第１の光学センサ１１の信号を積分して得られた積分値は，箔抜け部分２ｄの面積に対応するため，箔抜け部分２ｄの大きさを示す箔抜け検査値を，ゲート信号がＯＮの区間における第１の光学センサ１１の信号の積分値とすることが好適である。ゲート信号がＯＮの区間における第１の光学センサ１１の信号の積分値を箔抜け検査値として利用する際，第１の光学センサ１１の信号の積分値の許容範囲を予め設定しておき，検査装置１０は，ゲート信号がＯＮの区間における第１の光学センサ１１の信号の積分値が許容範囲外であれば，箔転写不良が発生したと判定する。なお，本実施形態にかかる検査装置１０に接続されているＰＣ５にはタッチパネル５ａが接続されているため，このタッチパネル５ａを利用して許容範囲を設定できるようにするとよい。

図７（ｂ）は，箔転写不良が発生したときの第１の光学センサ１１の信号を説明する図で，図７（ｂ）では，本来は箔抜け部分２ｄとなる一部の箔が直線状で抜けておらず，この直線状の箔がライン状の光１１ｃを通過する際，ライン状の光１１ｃは遮断されるため，第１の光学センサ１１の信号は極端に小さくなる。よって，ゲート信号がＯＮの区間における第１の光学センサ１１の信号の積分値を箔抜け検査値として利用する際，図７（ｂ）の状態から得られる積分値は許容範囲よりも小さくなり，箔抜けが正常に抜けていない箔転写不良が発生したと検査装置１０側で判定できる。

ここから，図８，９を参照しながら，第２の光学センサ１２の信号に基づき検査装置１０が箔転写不良を検査する内容について説明する。図８は，検査装置１０が蛇行不良を検出する動作を説明する図である。

第２の光学センサ１２の信号に基づき箔転写不良を検査する際，本実施形態にかかる検査装置１０は，箔押し機の制御装置４から基準信号が入力されると，この基準信号を利用して，レジスタマーク２ａがスポット状の光１２ａを通過するタイミングと同期するパルス状のゲート信号を生成し（Ｓ１０），ゲート信号がＯＮの区間内における第２の光学センサ１２の信号を監視する（Ｓ１１）。次に，検査装置１０は，ゲート信号がＯＮの区間内において第２の光学センサ１２が出力した信号に，レジスタマーク２ａを検出したことを示す信号が含まれるか否かを確認し（Ｓ１２），レジスタマーク２ａを検出したことを示す信号が含まれる場合，レジスタマーク２ａの通過位置は正常で蛇行不良は発生していないと判定して，この手順は終了する。また，検査装置１０は，ゲート信号がＯＮの区間内において第２の光学センサ１２が出力した信号に，レジスタマーク２ａを検出したことを示す信号が含まれない場合，レジスタマーク２ａの通過位置は異常で蛇行不良が発生したと判断し，蛇行不良が発生したことを示す蛇行不良検出信号を出力して（Ｓ１３），この手順を終了する。

図９（ａ）は，蛇行不良が発生していない時に第２の光学センサ１２が出力する信号を説明する図で，図９（ａ）において，ゲート信号の間隔は，箔原反２に印刷されたレジスタマーク２ａが，第２の光学センサ１２が投光するスポット状の光１２ａを通過する時間間隔よりも若干長く設定されている。

第２の光学センサ１２が投光するスポット状の光１２ａ（図９では白丸）は，蛇行不良が発生していない場合，箔原反２に印刷されたレジスタマーク２ａが通過する位置に設定され，ゲート信号がＯＮの区間内における第２の光学センサ１２の信号には，レジスタマーク２ａを検出したことを示すパルス信号が含まれる。図９（ａ）では，金型７の上型７ａに設けられた転写部材７ｃと接する領域を白色の点線で示し，この場合，箔原反２に印刷された絵柄２ｂの位置は，転写された箔の中央になる。

図９（ｂ）は，蛇行不良が発生した時に第２の光学センサ１２が出力する信号を説明する図である。箔原反２が蛇行することで箔原反２のエッジ位置がシフトし，第２の光学センサ１２が投光するスポット状の光１２ａをレジスタマーク２ａが通過しない場合，ゲート信号がＯＮの区間内における第２の光学センサ１２の信号には，レジスタマーク２ａを検出したことを示すパルス信号が含まれず，蛇行不良が発生したと検査装置１０側で判定できる。図９（ａ）では，金型７の上型７ａに設けられた転写部材７ｃと接する領域を白色の点線で示し，この場合，箔原反２に印刷された絵柄２ｂの位置は，転写された箔の右側にずれてしまう。

このように，本実施形態では，レジスタマーク２ａの検出の有無により，用紙３に転写された箔における絵柄２ｂの位置が正常でない蛇行不良を判定するため，レジスタマーク２ａの幅方向の長さは，絵柄２ｂの位置ズレの許容値に基づいて決定されることになる。

なお，検査装置１０が，箔転写不良等を検出する具体的な動作については，箔原反２の搬送方式によって異なる。

箔原反２が間欠送りの場合，箔原反２が停止している間に複数個の箔が一度に転写されることがあるため，検査装置１０は，箔原反２が間欠送りされている間に，転写される箔毎に箔転写不良等を検査することが必要になる。この場合，検査装置１０は，箔原反２を間欠送り開始することを示す基準信号から，第１の光学センサ１１用のゲート信号と第２の光学センサ１２用のゲート信号を転写される箔毎に生成し，ゲート信号毎に，上述した内容で箔転写不良等を検査する。

箔原反２が連続送りの場合，所定間隔で箔は連続して転写されるため，検査装置１０は，箔原反２の連続送りに用いるローラに設置されたエンコーダから得られる基準信号を利用して，第１の光学センサ１１用のゲート信号と第２の光学センサ１２用のゲート信号を生成し，所定間隔毎に，上述した内容で箔転写不良を検査する。

ここから，箔転写不良等を検出した時の検査装置１０について説明する。検査装置１０は，箔転写不良等を検出すると，不良を検出したことを示す不良検出信号（ここでは，箔転写不良検出信号と蛇行不良検出信号）を箔押し機の制御装置４に入力し，箔押し機の制御装置４は，検査装置１０から入力された不良検出信号に基づく動作を行う。本実施形態では，テープインサーター４ａが箔押し機の制御装置４に接続されているため，箔押し機の制御装置４は，不良検出信号が入力されると，テープインサーター４ａを作動させて警戒紙を箔転写後の箔原反２に挿入させることができる。

また，箔押し機の制御装置４は，検査装置１０から入力された不良検出信号の種別毎に動作を変更するようにしてもよい。箔抜けが正常に抜けていない箔転写不良は単発的に発生するため，検査装置１０が入力した不良検出信号が箔転写不良検出信号の場合，箔押し機の制御装置４は，テープインサーター４ａを作動させるとよい。また，用紙３に転写された箔における絵柄２ｂの位置が正常でない蛇行不良は連続的に発生するため，検査装置１０が入力した不良検出信号が蛇行不良検出信号の場合，箔押し機の制御装置４は，ブザー４ｂを作動させた後，箔押し機を停止させるとよい。

更に，箔押し機の制御装置４は，検査装置１０から入力された不良検出信号の間隔に応じて動作を変更するようにしてもよい。例えば，検査装置１０から不良検出信号が連続して入力されると，箔押し機を停止させるようにしてもよい。

また，本実施形態では，検査装置１０と接続しているＰＣ５にジャーナルプリンタ５ｂが接続されているため，検査装置１０は，不良検出信号をＰＣ５に入力し，不良検出信号のログをジャーナルプリンタ５ｂに印字させることもできる。

１ 箔転写不良検査システム
１０ 検査装置
１１ 第１の光学センサ
１１ａ （第１の光学センサの）投光器
１１ｂ （第１の光学センサの）受光器
１１ｃ ライン状の光
１２ 第２の光学センサ
１２ａ スポット状の光
２ 箔原反
２ａ レジスタマーク
２ｂ 絵柄
２ｄ 箔抜け部分
３ 用紙
４ 箔押し機の制御装置
５ ＰＣ
７ 金型
７ａ 上型
７ｂ 下型
７ｃ 転写部材

Claims (2)

1. 透過型の光学センサを用いた第１の光学センサと，前記第１の光学センサと接続し，前記第１の光学センサの信号を利用して箔転写不良を検査する検査装置を含むように構成されたシステムであって，
   箔押しで用いる箔原反は，透明なフィルム基材層，剥離層，箔層および接着層が積層された原反で，
   前記第１の光学センサは，箔転写後の箔原反に発生する透明な箔抜け部分が通過する位置にライン状の光を投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力し，
   前記検査装置は，前記透明な箔抜け部分が前記ライン状の光を通過する間に前記第１の光学センサが出力する信号を監視し，前記透明な箔抜け部分が前記ライン状の光を通過する間に前記第１の光学センサが出力する信号の値を積分することで，前記第１の光学センサが出力する信号の時系列変化から前記透明な箔抜け部分の大きさを示す箔抜け検査値を演算し，前記箔抜け検査値が許容範囲外の場合，箔が正常に転写されていない箔転写不良が発生したと判定する，
   ことを特徴とする箔転写不良検査システム。
2. 前記第１の光学センサおよび前記検査装置に加えて，反射型の光学センサを用いた第２の光学センサを含むように構成され，
   前記箔原反には、箔押しする個所内に視認用の絵柄が印刷され，更に，箔押しする個所外に前記絵柄の位置を示すレジスタマークが印刷されており，
   前記第２の光学センサは，前記レジスタマークが通過する位置に合わせて，転写後の箔原反上にスポット状の光を投光し，受光素子で受光した光量に応じた信号を出力し，
   前記検査装置は，前記レジスタマークが前記スポット状の光を通過する間に前記第２の光学センサが出力する信号を監視し，前記レジスタマークを検出したことを示す信号が出力されなかった場合，箔転写後の前記絵柄の位置が正常でない蛇行不良が発生したと判定する，
   ことを特徴とする請求項１に記載の箔転写不良検査システム。