JPH02248845A - カード表面欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野〕 本発明は、磁気カード、ＩＣカードなどのカード類の表
面の識別マーク等の欠陥を簡易に検出する装置に関する
ものである。

［従来の技術〕 一般に物品の表面の欠陥を検出する装置としては、カメ
ラやラインセンサーで対象物をメモリー上に取り込んだ
後、画像処理プログラム等を用いて面積を計算し、予め
設定しておいた面積値と比較して、或いはメモリー上に
予め設定しておいた形状と比較して、正常、異常を判定
するものが用いられているが、こうした画像処理手段は
メモリ容量が非常に大きくなるだけでなく、画像処理に
多大な時間を要し、さらに、装置全体が非常に煩雑かつ
高価なものとなる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、最近は磁気カード、ＩＣカードなどのＩＤカ
ードの表面に美観の向上も兼ねた識別マークとしてホロ
グラムを貼合することが多い。

例えばこのホログラムの欠けや剥離、無貼合を的確に、
かつ効率的に検出することができ、しかも簡単で安価な
構造の装置は未だ開発されていない。

本発明は、上述の従来の問題点を解決しようとするもの
で、多量の画像メモリを必要とせず、これにより一定速
度で送り出されている多数枚のカードに対して１枚１枚
のカード表面の識別マーク等の欠陥を的確かつ高速で効
率よく検出することができる装置を簡単で安価な構造と
して提供することを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、カード送り出し装置と、カード位置検知セン
サーと、ビーム投光装置と、反射ビームを受光し電気信
号に変換する光電変換装置と、得られた電気信号を増幅
する増幅回路と、該増幅回路の出力信号を積分する積分
回路と、該積分回路の出力信号をサンプルホールドする
サンプルアンドホールド回路と、該サンプルアンドホー
ルド回路からの出力信号を標準値と比較する比較回路と
、前記カード位置検知センサーからの信号に基づいて前
記積分回路とサンプルアンドホールド回路を制御する制
御回路からなることを特徴とするカード表面欠陥検査装
置である。

〔作　用〕

本発明のカード表面欠陥検査装置は、カード送り出し装
置と、カード位置検知センサーと、ビーム投光装置と、
反射ビームを受光し電気信号に変換する光電変換装置と
、得られた電気信号を増幅する増幅回路と、該増幅回路
の出力信号を積分する積分回路と、該積分回路の出力信
号をサンプルホールドするサンプルアンドホールド回路
と、該サンプルアンドホールド回路からの出力信号を標
準値と比較する比較回路と、前記カード位置検知センサ
ーからの信号に基づいて前記積分回路とサンプルアンド
ホールド回路を制御する制御回路からなるので、送り出
し装置を定速で運転してカードをその表面がビーム投光
装置と光電変換装置とで規定される反射平面上を定速で
移動させる間に、即ちカードを停止させることなく、カ
ード表面の識別マーク等の検査が行われる。

特に本発明装置は、カード位置検知センサーと、サンプ
ルアンドホールド回路と制御回路を備えているので、多
数枚のカードを１列に並べて高速で送り出している場合
に好適に用いられ、その場合でも１枚１枚確実に検査さ
れる。

従ってカード表面の識別マーク等の検査を高速かつ的確
に行うことができる。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１〜６図を用いて説明すると、第
１図は装置全体の概略を示し、カードシュート４．送り
ガイド３．３およびブツシャ５からカード送り出し装置
が構成され、カード１はカードシュート４からブツシャ
５により送りガイド３．３に沿って一定速度で一定距離
一枚宛カード送り出し装置により間歇的に送り出される
。送りガイド３，３は断面コ字状に形成されている。送
りガイド３，３に直交してカード表面上には、ホログラ
ムを多数貼着したテープ７が間欠的に送り込まれるよう
になっている。カード１表面の所定個所にホログラム２
を貼着するために、ホログラム貼着ヘッド６がホログラ
ムテープ７の上方に設けられており、カードが停止して
いるときホログラムテープ７のホログラムをホログラム
貼着ヘッド６を下降させてカード１表面の所定個所に貼
着する。ホログラム貼着ヘッド６の貼着操作時を検知す
る近接センサ８が貼着ヘッド６近傍に設けられている。

この近接センサ８はカード貼着されたホログラム２の位
置を間接的に検知するもので、カード位置検知センサを
構成している。

９はビーム例えばレーザービームの投光装置で、１１１
Ｗ長さしの標準のホログラム２が所定位置に貼合された
カード１のホログラム２の前端縁に一致する位置又は若
干前方位置で、かつホログラム２の送り出し方向に直交
し、かつその中方向にカバーする長さの線状（第２図に
大破線で示す）に（或いは帯状領域を）斜め上方から投
光するように、送り出し上流側の上方に固定して設けら
れている。

投光装置９からのレーザービームの反射ビームを受光し
て光電変換する光電変換装置ｌＯは送り出し方向下流側
の上方に投光装置９と対応して固定して設けられている
。これら投光装置９と光電変換装置１０は、第１図に示
すようにホログラム貼着ヘッド６でホログラム２を貼着
するカード１の送り出し方向前方３枚目のカード１のホ
ログラム２の欠陥検出を行うように設置されている。

なお、投光装置９と光電変換装置１０は送り出し方向、
上下流間で逆に設置してもよい。

光電変換装置１０及びカード位置検知センサー（８）に
接続される回路のブロック図を第４図に、回路図を第５
図に示す。積分回路１２及びサンプルアンドホールド回
路１３は制御回路１５により制御されるスイッチＳＷＩ
、ＳＷ２を備えていて、積分回路１２のセント　リセッ
ト、サンプルアンドホールド回路１３のコンデンサＣ２
へのサンプルアンドホールド及びサンプルアンドホール
ド回路１３のコンデンサＣ２のサンプルの比較回路１４
への出力を行うようにしである。比較回路１４には標準
値が入力されており、カード１．１・・・毎に間欠的に
入力されるサンプル値を標準値と比較して正常、異常の
判定を出力するようになっている。

次に動作について第１．　２．　４．　５図に従って説
明すると、カード位置検知センサー（近接セン８）がホ
ログラム貼着ヘッドの下降動作を検知すると積分回路１
２のスイッチＳＷＩが開き同時にサンプルアンドホール
ド回路１３のスイッチＳＷ２は第５図において左に振れ
る。

ビーム投光位置を３枚目のカード上のホログラム２が通
過するのに要する時間はカード送り出し装置が一定速度
で運転されるので予め計算し、制御回路１５にタイマ設
定して所定時間後にスイッチＳＷＩが閉じ同時にスイッ
チＳＷ２が右に振れるようにしておく。

スイッチＳＷ２が右に振れるとホログラム２のサンプル
値は比較回路１４へ出ノＪされ、標準値と比較されて、
ホログラム２の正常、異常が判定され、判定信号が出力
される。この比較回路１４でホログラム２について比較
２判定を行っている間に積分回路１２はリセットされ、
次の２枚目のカードｌに備えられる０次のカードに対す
るホログラム貼着ヘッドの下降動作をカード位置検知セ
ンサー（近接センサ８）で検知されるとスイッチＳＷ１
が開きスイッチＳＷ２が左に振れて積分回路１２は再び
セントされ、上述と同じように２枚目のカード１のホロ
グラム２が検出される。

第６図はホログラム２の形状と判定結果に至る過程を図
式化したものである。この例では、正常のホログラム２
ｆａｌ、欠けた不良のホログラム２ｆｂｌ。

（ｅ）、　Ｔｄ）を示しているが、この他にも無貼合、
所定位置を許容値以上ずれて貼合された欠けのないホロ
グラム２なども検出できる。

なお、本発明実施例では、カード送り出し装置にホログ
ラム貼着機を並設し、貼着されたホログラムの欠陥を検
査するものを示したが、このカード送り出し装置を使用
してホログラム貼着機を作動させないで既にホログラム
を貼着したカードまたは一定期間使用後のホログラム貼
着カードの欠陥検査を行うことが可能であり、この場合
、カード位置検知センサは例えば光電管装置等を用いて
カードの位置検知を行うようにすればよい。

〔発明の効果〕

本発明のカード表面の識別マーク等の欠陥検査装置は、
カードの送り出し装置と、カード位置検知センサーと、
ビーム投光装置と、反射ビームを受光し電気信号に変換
する光Ｎ、変換装置と、得られた電気信号を増幅する増
幅回路と、該増幅回路の出力信号を積分する積分回路と
、３ｔｉ積分回路の出力信号をサンプルホールドするサ
ンプルアンドホールド回路と、該サンプルアンドホール
ド回路からの出力信号を標準値と比較する比較回路と、
前記カード位置検知センサーからの信号に基づいて前記
積分回路とサンプルアンドホールド回路を制御する制御
回路からなるので、一定速度で送り出されている多数枚
のカードに対して１枚１枚のカードの表面の識別マーク
等の欠陥を的確かつ高速で効率よく検出することができ
る装置を簡単で安価な措造として提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明装置の一実施例の概略を示す斜面図、第
２図は送り出されるカードの平面図、第３図は第２図１
−Ｉｌ断面図、第４図はブロック図、第５図は回路図、
第６図（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｃＬ　（ｄ）は作用
の説明図である。 ｌ・・・カード、２・・・ホログラム、３・・・送り出
しガイド、４・・・カードシュート、５・・・ブツシャ
、６・・・ホログラム貼着ヘッド、７・・・ホログラム
貼着テープ、８・・・近接センサ、９・・・投光装置、
１０・・・光電変換装置、１１・・・項中回路、１２・
・・積分回路、１３・・・サンプルアンドホールド回路
、】４・・・比較回路、１５・・・制御回路。 特許出願人　　　　共同印刷株式会社 代理人　弁理士　　　薬　　師　　　　　稔代理人　弁
理士　　　依　１）　孝　次　部代理人　弁理士　　　
高　　木　　正　　行カード筬れ方向 ２（Ｃ） ２（ｄ） 囲 匡口

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）カード送り出し装置と、カード位置検知センサー
   と、ビーム投光装置と、反射ビームを受光し電気信号に
   変換する光電変換装置と、得られた電気信号を増幅する
   増幅回路と、該増幅回路の出力信号を積分する積分回路
   と、該積分回路の出力信号をサンプルホールドするサン
   プルアンドホールド回路と、該サンプルアンドホールド
   回路からの出力信号を標準値と比較する比較回路と、前
   記カード位置検知センサーからの信号に基づいて前記積
   分回路とサンプルアンドホールド回路を制御する制御回
   路からなることを特徴とするカード表面欠陥検査装置。