JPH0786355A - 測定前後のｔａｂを画像認識するｔａｂ試験装置 - Google Patents
測定前後のｔａｂを画像認識するｔａｂ試験装置Info
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- JPH0786355A JPH0786355A JP5254806A JP25480693A JPH0786355A JP H0786355 A JPH0786355 A JP H0786355A JP 5254806 A JP5254806 A JP 5254806A JP 25480693 A JP25480693 A JP 25480693A JP H0786355 A JPH0786355 A JP H0786355A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＴＡＢを測定前後に画像認識し、誤検出を防
止するＴＡＢ試験装置を提供する。 【構成】 撮像カメラ７Ｂをテープキャリア１１の測定
の前段に配置する。撮像カメラ７ＢはＴＡＢの画像を撮
像し、撮像カメラ７Ｂによる第１の画像データを画像処
理ユニット９に出力する。撮像カメラ７Ｃをパンチユニ
ット６の後段に配置する。撮像カメラ７ＣはＴＡＢの画
像を撮像し、撮像カメラ７Ｃによる第２の画像データを
画像処理ユニット９に出力する。第１の画像データをＴ
ＡＢの測定可否のデータとして制御ユニット１０に格納
する。第２の画像データを制御ユニット１０に送出し、
第１の画像データおよびパンチユニット６の打ち抜き結
果と比較照合する。
止するＴＡＢ試験装置を提供する。 【構成】 撮像カメラ７Ｂをテープキャリア１１の測定
の前段に配置する。撮像カメラ７ＢはＴＡＢの画像を撮
像し、撮像カメラ７Ｂによる第１の画像データを画像処
理ユニット９に出力する。撮像カメラ７Ｃをパンチユニ
ット６の後段に配置する。撮像カメラ７ＣはＴＡＢの画
像を撮像し、撮像カメラ７Ｃによる第２の画像データを
画像処理ユニット９に出力する。第１の画像データをＴ
ＡＢの測定可否のデータとして制御ユニット１０に格納
する。第２の画像データを制御ユニット１０に送出し、
第１の画像データおよびパンチユニット６の打ち抜き結
果と比較照合する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定前および測定・
分類後のＴＡＢの状態を画像認識するＴＡＢ試験装置に
ついてのものである。
分類後のＴＡＢの状態を画像認識するＴＡＢ試験装置に
ついてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるＴＡＢ試験装置の
構成を図４により説明する。図４の１はＴＡＢ試験装
置、２は供給リール、３は収容リール、４はプッシャ、
５Ａと５Ｂはスプロケット、６はパンチユニット、７Ａ
はカメラ、８Ａは光源、９は画像処理ユニット、１０は
制御ユニット、１１はテープキャリア、１２と１３は検
出器群である。
構成を図４により説明する。図４の１はＴＡＢ試験装
置、２は供給リール、３は収容リール、４はプッシャ、
５Ａと５Ｂはスプロケット、６はパンチユニット、７Ａ
はカメラ、８Ａは光源、９は画像処理ユニット、１０は
制御ユニット、１１はテープキャリア、１２と１３は検
出器群である。
【０００３】図４では、供給リール２はテープキャリア
１１を装着する。収容リール３は電気試験または分類識
別されたテープキャリア１１を巻き取る。プッシャ４は
テープキャリア１１を押下することによりＴＡＢをＩＣ
テスタに接触導通させる。
１１を装着する。収容リール３は電気試験または分類識
別されたテープキャリア１１を巻き取る。プッシャ４は
テープキャリア１１を押下することによりＴＡＢをＩＣ
テスタに接触導通させる。
【０００４】スプロケット５Ａとスプロケット５Ｂは同
期して回転することによりテープキャリア１１を移送す
る。パンチユニット６は電気試験の結果によりテープキ
ャリア１１のＴＡＢに識別穴をあけ、またはＩＣチップ
を打ち抜く。
期して回転することによりテープキャリア１１を移送す
る。パンチユニット６は電気試験の結果によりテープキ
ャリア１１のＴＡＢに識別穴をあけ、またはＩＣチップ
を打ち抜く。
【０００５】撮像カメラ７Ａは光源８Ａの出射光による
ＴＡＢの画像を撮像し、画像処理ユニット９は撮像カメ
ラ７Ａによる画像データを受信して画像処理し、制御ユ
ニット１０は画像処理ユニット９の前記撮像データが入
力され、測定時のＴＡＢを位置制御する。
ＴＡＢの画像を撮像し、画像処理ユニット９は撮像カメ
ラ７Ａによる画像データを受信して画像処理し、制御ユ
ニット１０は画像処理ユニット９の前記撮像データが入
力され、測定時のＴＡＢを位置制御する。
【０００６】検出器群１２は３つの検出器で構成され、
スプロケット５Ａの前段に配置される。検出器群１３は
３つの検出器で構成され、パンチユニットの後段に配置
される。なお、検出器群１２と検出器群１３は同様の構
成である。
スプロケット５Ａの前段に配置される。検出器群１３は
３つの検出器で構成され、パンチユニットの後段に配置
される。なお、検出器群１２と検出器群１３は同様の構
成である。
【０００７】図５は検出器群１２の検出器の構成図であ
る。検出体２０はコの字状に形成され、先端部の第１の
端部には投光器２１が取り付けられ、第１の端部と反対
面の第２の端部には受光器２２が取り付けられる。
る。検出体２０はコの字状に形成され、先端部の第１の
端部には投光器２１が取り付けられ、第１の端部と反対
面の第２の端部には受光器２２が取り付けられる。
【０００８】図５では、検出体２０に形成された溝にテ
ープキャリア１１が走行し、ＴＡＢを検出する。検出体
２０は移動体２３に保持され、テープキャリア１１の走
行方向に対して横切る形で前後進する。移動体２３は検
出体２０をテープキャリア１１の走行方向と平行に移動
する。検出器群１２・１３の検出器は全て図５で示され
る構成であり、ＴＡＢ試験装置の稼動に先立ち、検出位
置が調整される。
ープキャリア１１が走行し、ＴＡＢを検出する。検出体
２０は移動体２３に保持され、テープキャリア１１の走
行方向に対して横切る形で前後進する。移動体２３は検
出体２０をテープキャリア１１の走行方向と平行に移動
する。検出器群１２・１３の検出器は全て図５で示され
る構成であり、ＴＡＢ試験装置の稼動に先立ち、検出位
置が調整される。
【０００９】図６はテープキャリア１１上の検出器群１
２の配置図である。図６では、検出器１２Ａは検出光が
テストパッド１１Ａを遮光する位置に調整される。検出
器１２Ｂは検出光がＩＣチップ１１Ｂを遮光する位置に
調整される。検出器１２Ｃは検出光がマーク穴１１Ｃを
透過する位置に調整される。
２の配置図である。図６では、検出器１２Ａは検出光が
テストパッド１１Ａを遮光する位置に調整される。検出
器１２Ｂは検出光がＩＣチップ１１Ｂを遮光する位置に
調整される。検出器１２Ｃは検出光がマーク穴１１Ｃを
透過する位置に調整される。
【００１０】図６では、検出器１２Ａは検出光の有無で
テープキャリア１１がリーダテープか被測定ＴＡＢかを
確認する。検出器１２Ｂは検出光の有無でＩＣチップ１
１Ｂの有無を確認し、ＴＡＢの測定の可否を判断する。
検出器１２Ｂは検出光の有無でマーク穴１１Ｃの有無を
確認し、ＴＡＢが測定分類済みかを確認する。
テープキャリア１１がリーダテープか被測定ＴＡＢかを
確認する。検出器１２Ｂは検出光の有無でＩＣチップ１
１Ｂの有無を確認し、ＴＡＢの測定の可否を判断する。
検出器１２Ｂは検出光の有無でマーク穴１１Ｃの有無を
確認し、ＴＡＢが測定分類済みかを確認する。
【００１１】なお、ＴＡＢ上のマーク穴１１ＣはＴＡＢ
の様々な検査工程の関係で、マーク穴１１Ｃがあけられ
たＴＡＢを再試験する場合や、マーク穴１１Ｃを試験終
了後パンチユニットで良品・不良品として識別穴を設け
る場合など、様々である。
の様々な検査工程の関係で、マーク穴１１Ｃがあけられ
たＴＡＢを再試験する場合や、マーク穴１１Ｃを試験終
了後パンチユニットで良品・不良品として識別穴を設け
る場合など、様々である。
【００１２】次に、図４の動作を説明する。検出器群１
２で検出されたＴＡＢのデータは制御ユニット１０に格
納される。前記検出されたＴＡＢがプッシャ４下に移動
したとき、前記ＴＡＢのデータが制御ユニット１０から
読み込まれ、制御ユニット１０はＴＡＢの測定の可否を
装置に指令する。
２で検出されたＴＡＢのデータは制御ユニット１０に格
納される。前記検出されたＴＡＢがプッシャ４下に移動
したとき、前記ＴＡＢのデータが制御ユニット１０から
読み込まれ、制御ユニット１０はＴＡＢの測定の可否を
装置に指令する。
【００１３】制御ユニット１０が測定を指令したＴＡＢ
は、ＩＣテスタに接続する電極（図示せず）に位置決め
され、電気試験される。測定終了したＴＡＢはパンチユ
ニット６に移動し、パンチユニット６はＴＡＢに識別用
のマーク１１Ｃをあける。または、ＩＣチップ１１Ｂを
打ち抜く。
は、ＩＣテスタに接続する電極（図示せず）に位置決め
され、電気試験される。測定終了したＴＡＢはパンチユ
ニット６に移動し、パンチユニット６はＴＡＢに識別用
のマーク１１Ｃをあける。または、ＩＣチップ１１Ｂを
打ち抜く。
【００１４】次に、ＴＡＢが検出器群１３に移動する
と、検出器群１２の格納データとパンチユニット６での
分類結果が検出器群１３の検出データと比較照合され、
照合結果一致すると収容リール３へテープキャリア１１
を収容する。検出器群１３で、テープキャリア１１の巻
き終わりのリーダーテープを検出した場合は、テープエ
ンドと判断し、一連の動作を終了する。
と、検出器群１２の格納データとパンチユニット６での
分類結果が検出器群１３の検出データと比較照合され、
照合結果一致すると収容リール３へテープキャリア１１
を収容する。検出器群１３で、テープキャリア１１の巻
き終わりのリーダーテープを検出した場合は、テープエ
ンドと判断し、一連の動作を終了する。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】ＴＡＢは、検査工程の
関係から、図４のＴＡＢ試験装置で試験される前工程で
バーンイン装置で検査される場合がある。バーンイン装
置でＴＡＢを検査するときには、テープキャリア１１は
所定の長さに寸断される。したがって、ＴＡＢ試験装置
で試験される工程では図６に示されるようにＴＡＢ１１
ＤとＴＡＢ１１Ｅを接着テープで連結してテープキャリ
ア１１を移送する。
関係から、図４のＴＡＢ試験装置で試験される前工程で
バーンイン装置で検査される場合がある。バーンイン装
置でＴＡＢを検査するときには、テープキャリア１１は
所定の長さに寸断される。したがって、ＴＡＢ試験装置
で試験される工程では図６に示されるようにＴＡＢ１１
ＤとＴＡＢ１１Ｅを接着テープで連結してテープキャリ
ア１１を移送する。
【００１６】図４のＴＡＢ試験装置では、図６のように
テープキャリア１１に継ぎ目があった場合に、各センサ
ユニットの設置位置にＴＡＢ上が精度良く搬送されない
ために誤検出することがある。また、近年では、ＩＣチ
ップの幅が１mm程度のものも出現し、図６の検出手段で
はＩＣチップが無いと装置が判断し、ＴＡＢを測定しな
いという可能性もある。
テープキャリア１１に継ぎ目があった場合に、各センサ
ユニットの設置位置にＴＡＢ上が精度良く搬送されない
ために誤検出することがある。また、近年では、ＩＣチ
ップの幅が１mm程度のものも出現し、図６の検出手段で
はＩＣチップが無いと装置が判断し、ＴＡＢを測定しな
いという可能性もある。
【００１７】この発明は、第１の撮像カメラをＴＡＢ測
定の前段に配置し、第２の撮像カメラをパンチユニット
の後段に配置し、第１の撮像カメラによりＴＡＢの測定
可否を判断し、第２の撮像カメラにより第１の撮像カメ
ラによるＴＡＢの撮像とパンチユニットの打ち抜き結果
を比較照合するＴＡＢ試験装置の提供を目的とする。
定の前段に配置し、第２の撮像カメラをパンチユニット
の後段に配置し、第１の撮像カメラによりＴＡＢの測定
可否を判断し、第２の撮像カメラにより第１の撮像カメ
ラによるＴＡＢの撮像とパンチユニットの打ち抜き結果
を比較照合するＴＡＢ試験装置の提供を目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成させるた
め、この発明は、供給リール２はテープキャリア１１を
装着し、収容リール３は電気試験または分類識別された
テープキャリア１１を巻き取り、プッシャ４はテープキ
ャリア１１を押下することによりＴＡＢをＩＣテスタに
接触導通させ、スプロケット５Ａとスプロケット５Ｂは
同期して回転することによりテープキャリア１１を移送
し、パンチユニット６は電気試験の結果によりテープキ
ャリア１１のＴＡＢに識別穴をあけ、またはＩＣチップ
を打ち抜き、撮像カメラ７Ａは光源８Ａの出射光による
ＴＡＢの画像を撮像し、画像処理ユニット９は撮像カメ
ラ７Ａによる画像データを受信して画像処理し、制御ユ
ニット１０は画像処理ユニット９の前記撮像データが入
力され、測定時のＴＡＢを位置制御するＴＡＢ試験装置
において、撮像カメラ７Ｂをテープキャリア１１の測定
の前段に配置し、撮像カメラ７ＢはＴＡＢの画像を撮像
し、撮像カメラ７Ｂによる第１の画像データを画像処理
ユニット９に出力し、撮像カメラ７Ｃをパンチユニット
６の後段に配置し、撮像カメラ７ＣはＴＡＢの画像を撮
像し、撮像カメラ７Ｃによる第２の画像データを画像処
理ユニット９に出力し、第１の画像データをＴＡＢの測
定可否のデータとして制御ユニット１０に格納し、第２
の画像データを制御ユニット１０に送出し、第１の画像
データおよびパンチユニット６の打ち抜き結果と比較照
合する。
め、この発明は、供給リール２はテープキャリア１１を
装着し、収容リール３は電気試験または分類識別された
テープキャリア１１を巻き取り、プッシャ４はテープキ
ャリア１１を押下することによりＴＡＢをＩＣテスタに
接触導通させ、スプロケット５Ａとスプロケット５Ｂは
同期して回転することによりテープキャリア１１を移送
し、パンチユニット６は電気試験の結果によりテープキ
ャリア１１のＴＡＢに識別穴をあけ、またはＩＣチップ
を打ち抜き、撮像カメラ７Ａは光源８Ａの出射光による
ＴＡＢの画像を撮像し、画像処理ユニット９は撮像カメ
ラ７Ａによる画像データを受信して画像処理し、制御ユ
ニット１０は画像処理ユニット９の前記撮像データが入
力され、測定時のＴＡＢを位置制御するＴＡＢ試験装置
において、撮像カメラ７Ｂをテープキャリア１１の測定
の前段に配置し、撮像カメラ７ＢはＴＡＢの画像を撮像
し、撮像カメラ７Ｂによる第１の画像データを画像処理
ユニット９に出力し、撮像カメラ７Ｃをパンチユニット
６の後段に配置し、撮像カメラ７ＣはＴＡＢの画像を撮
像し、撮像カメラ７Ｃによる第２の画像データを画像処
理ユニット９に出力し、第１の画像データをＴＡＢの測
定可否のデータとして制御ユニット１０に格納し、第２
の画像データを制御ユニット１０に送出し、第１の画像
データおよびパンチユニット６の打ち抜き結果と比較照
合する。
【００１９】
【作用】検出器群１２の位置に撮像カメラ７Ｂを配置
し、検出器群１３の位置に撮像カメラ７Ｃを配置する。
撮像カメラ７Ｂ・７Ｃは画像認識によりＴＡＢの有無、
ＩＣチップの有無、マーク穴の有無を精度よく検出す
る。撮像カメラ７Ｂによる撮像データは制御ユニット１
０に格納され、ＴＡＢの測定時に測定の実行または不実
行を指令する。撮像カメラ７Ｃによる撮像データは撮像
カメラ７Ｂによる撮像データと比較照合またはパンチユ
ニット６の打ち抜き指令と比較照合する。
し、検出器群１３の位置に撮像カメラ７Ｃを配置する。
撮像カメラ７Ｂ・７Ｃは画像認識によりＴＡＢの有無、
ＩＣチップの有無、マーク穴の有無を精度よく検出す
る。撮像カメラ７Ｂによる撮像データは制御ユニット１
０に格納され、ＴＡＢの測定時に測定の実行または不実
行を指令する。撮像カメラ７Ｃによる撮像データは撮像
カメラ７Ｂによる撮像データと比較照合またはパンチユ
ニット６の打ち抜き指令と比較照合する。
【００２０】
【実施例】次に、この発明によるＴＡＢ試験装置の実施
例を図１により説明する。図１の７Ｂと７Ｃは撮像カメ
ラ、８Ｂと８Ｃは光源であり、その他は図４と同じもの
である。すなわち、図１は図４の検出器群１２・１３の
代わりに撮像カメラ７Ｂ・７Ｃを配置している。また、
撮像カメラ７Ｂ・７Ｃは画像処理ユニット９と接続する
構成となる。
例を図１により説明する。図１の７Ｂと７Ｃは撮像カメ
ラ、８Ｂと８Ｃは光源であり、その他は図４と同じもの
である。すなわち、図１は図４の検出器群１２・１３の
代わりに撮像カメラ７Ｂ・７Ｃを配置している。また、
撮像カメラ７Ｂ・７Ｃは画像処理ユニット９と接続する
構成となる。
【００２１】撮像カメラ７Ｂで撮像したた第１の画像は
画像処理ユニット９に送出され、第１の画像データに変
換され、制御ユニット１０に送出され格納される。撮像
カメラ７Ｃで撮像したた第２の画像は画像処理ユニット
９に送出され、第２の画像データに変換され、制御ユニ
ット１０に送出される。
画像処理ユニット９に送出され、第１の画像データに変
換され、制御ユニット１０に送出され格納される。撮像
カメラ７Ｃで撮像したた第２の画像は画像処理ユニット
９に送出され、第２の画像データに変換され、制御ユニ
ット１０に送出される。
【００２２】図２は図１の光源８Ｂの詳細図である。光
源８Ｂと光源８Ｃは構成が同じであるので、光源８Ｂの
詳細を説明する。図２の８１Ｂは発光面、８２Ｂは光源
ボックスである。発光面８１ＢはＴＡＢ試験装置１で測
定するＴＡＢの最大形状70mm×76mmより若干大きくし、
約80mm×80mmとする。すなわち、図１では光源８Ｂ・８
ＣはＴＡＢの全域にわたり光を出射し、撮像カメラ７Ｂ
・７ＣはＴＡＢの透過画像を撮像する。
源８Ｂと光源８Ｃは構成が同じであるので、光源８Ｂの
詳細を説明する。図２の８１Ｂは発光面、８２Ｂは光源
ボックスである。発光面８１ＢはＴＡＢ試験装置１で測
定するＴＡＢの最大形状70mm×76mmより若干大きくし、
約80mm×80mmとする。すなわち、図１では光源８Ｂ・８
ＣはＴＡＢの全域にわたり光を出射し、撮像カメラ７Ｂ
・７ＣはＴＡＢの透過画像を撮像する。
【００２３】なお、実施例では光源を使用したが、ＴＡ
Ｂ試験装置の使用環境が満足されるのであれば、光源は
不要となり、撮像カメラ７Ｂ・７ＣでＴＡＢを撮像する
だけでよい。
Ｂ試験装置の使用環境が満足されるのであれば、光源は
不要となり、撮像カメラ７Ｂ・７ＣでＴＡＢを撮像する
だけでよい。
【００２４】図３は撮像カメラ７Ｂでテープキャリア１
１を撮像したときのＴＶモニタ（図示せず）上の映像で
ある。図６では、検出器を機械的に移動していたのに対
し、この発明では、ＴＶモニタ上で撮像領域を指定す
る。
１を撮像したときのＴＶモニタ（図示せず）上の映像で
ある。図６では、検出器を機械的に移動していたのに対
し、この発明では、ＴＶモニタ上で撮像領域を指定す
る。
【００２５】図３では、ＴＶモニタ上に矩形の指定枠を
出現させ、方向キーで指定枠を移動し、撮像領域を指定
する。図３はテストパッド１１Ａの一定領域を指定枠で
囲み、テープ検出領域として制御ユニット１０に登録す
る。同様に、ＩＣチップ１１Ｂの一定領域を指定枠で囲
み、ＩＣチップ検出領域として制御ユニット１０に登録
する。さらに、マーク穴１１Ｃはマーク検出領域として
登録する。
出現させ、方向キーで指定枠を移動し、撮像領域を指定
する。図３はテストパッド１１Ａの一定領域を指定枠で
囲み、テープ検出領域として制御ユニット１０に登録す
る。同様に、ＩＣチップ１１Ｂの一定領域を指定枠で囲
み、ＩＣチップ検出領域として制御ユニット１０に登録
する。さらに、マーク穴１１Ｃはマーク検出領域として
登録する。
【００２６】次に、撮像カメラ７Ｃ側の各領域を登録す
るが、撮像カメラ７Ｃ側では撮像カメラ７Ｂで登録した
データを応用することにより個々に設定する必要はな
い。すなわち、前記の３つの領域を一括して移動させる
ことができる。
るが、撮像カメラ７Ｃ側では撮像カメラ７Ｂで登録した
データを応用することにより個々に設定する必要はな
い。すなわち、前記の３つの領域を一括して移動させる
ことができる。
【００２７】
【発明の効果】この発明は、ＴＡＢの測定前後に画像認
識によりＴＡＢのマーク穴とＩＣチップとテープキャリ
アの有無を検出するのでテープの継ぎ目があっても誤検
出を防止できる。ＴＡＢの検出する初期設定はＴＶモニ
タ上で操作できるので従来より設定時間を短縮できる。
また、一度、登録すれば登録データを他のロット品を測
定するときにも使用することが可能となるため、次ロッ
トからは初期設定を省略できる。
識によりＴＡＢのマーク穴とＩＣチップとテープキャリ
アの有無を検出するのでテープの継ぎ目があっても誤検
出を防止できる。ＴＡＢの検出する初期設定はＴＶモニ
タ上で操作できるので従来より設定時間を短縮できる。
また、一度、登録すれば登録データを他のロット品を測
定するときにも使用することが可能となるため、次ロッ
トからは初期設定を省略できる。
【図１】この発明によるＴＡＢ試験装置の実施例による
構成図である。
構成図である。
【図２】図１の光源８Ｂの詳細図である。
【図３】テープキャリア１１のＴＶモニタ上に映像図で
ある。
ある。
【図４】従来技術によるＴＡＢ試験装置の構成図であ
る。
る。
【図５】図４の検出器群１２の検出器の構成図である。
【図６】テープキャリア１１上の検出器群１２の配置図
である。
である。
１ ＴＡＢ試験装置 ２ 供給リール ３ 収容リール ４ プッシャ ５Ａ スプロケット ５Ｂ スプロケット ６ パンチユニット ７Ａ 撮像カメラ ７Ｂ 撮像カメラ ７Ｃ 撮像カメラ ８Ａ 光源 ８Ｂ 光源 ８Ｃ 光源 ９ 画像処理ユニット １０ 制御ユニット １１ テープキャリア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北嶋 康久 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 ＴＡＢ試験装置(1) は供給リール(2)
と、収容リール(3) と、プッシャ(4) と、第１のスプロ
ケット(5A)と、第２のスプロケット(5B)と、パンチユニ
ット(6) と、第１の撮像カメラ(7A)と、第１の光源(8A)
と、画像処理ユニット(9) と、制御ユニット(10)とで構
成され、 供給リール(2) はテープキャリア(11)を装着し、 収容リール(3) は電気試験または分類識別されたテープ
キャリア(11)を巻き取り、 プッシャ(4) はテープキャリア(11)を押下することによ
りＴＡＢをＩＣテスタに接触導通させ、 第１のスプロケット(5A)と第２のスプロケット(5B)は同
期して回転することによりテープキャリア(11)を移送
し、 パンチユニット(6) は電気試験の結果によりテープキャ
リア(11)のＴＡＢに識別穴をあけ、またはＩＣチップを
打ち抜き、 第１の撮像カメラ(7A)は第１の光源(8A)の出射光による
ＴＡＢの画像を撮像し、 画像処理ユニット(9) は第１の撮像カメラ(7A)による画
像データを受信して画像処理し、 制御ユニット(10)は画像処理ユニット(9) の前記撮像デ
ータが入力され、測定時のＴＡＢを位置制御するＴＡＢ
試験装置において、 第２の撮像カメラ(7B)をテープキャリア(11)の測定の前
段に配置し、 第２の撮像カメラ(7B)はＴＡＢの第１の画像を撮像し、
前記第１の画像データを画像処理ユニット(9) に出力
し、 第３の撮像カメラ(7C)をパンチユニット(6) の後段に配
置し、 第３の撮像カメラ(7C)はＴＡＢの第２の画像を撮像し、
前記第２の画像データを画像処理ユニット(9) に出力
し、 前記第１の画像データをＴＡＢの測定可否のデータとし
て制御ユニット(10)に格納し、 前記第２の画像データを制御ユニット(10)に送出し、前
記第１の画像データおよびパンチユニット(6) の打ち抜
き結果と比較照合することを特徴とする測定前後のＴＡ
Ｂを画像認識するＴＡＢ試験装置。 - 【請求項２】 ＴＡＢの全域にわたり光を出射する第２
の光源(8B)を第２の撮像カメラ(7B)下に配置し、ＴＡＢ
の全域にわたり光を出射する第３の光源(8C)を第３の撮
像カメラ(7C)下に配置し、第２の光源(8B)によるＴＡＢ
の第１の透過画像を撮像して、前記第１の撮像データを
画像処理ユニット(9) に出力し、第３の光源(8C)による
ＴＡＢの第２の透過画像を撮像し、前記第２の撮像デー
タを画像処理ユニット(9) に出力することを特徴とする
請求項１記載の測定前後のＴＡＢを画像認識するＴＡＢ
試験装置。
Priority Applications (2)
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|---|---|---|---|
| JP5254806A JP2998515B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 測定前後のｔａｂを画像認識するｔａｂ試験装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5254806A JP2998515B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 測定前後のｔａｂを画像認識するｔａｂ試験装置 |
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|---|---|
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| JP2998515B2 JP2998515B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=17270153
Family Applications (1)
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1994
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