JPH05180780A - 電子部品付設検査方法および検査装置 - Google Patents
電子部品付設検査方法および検査装置Info
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- JPH05180780A JPH05180780A JP3315061A JP31506191A JPH05180780A JP H05180780 A JPH05180780 A JP H05180780A JP 3315061 A JP3315061 A JP 3315061A JP 31506191 A JP31506191 A JP 31506191A JP H05180780 A JPH05180780 A JP H05180780A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子部品のリードがプリント基板の所定のス
ルーホールに挿通されているかどうかを、容易かつ確実
に検査することができる電子部品付設検査方法および検
査装置を提供することを目的としている。 【構成】 予めプリント基板Pのスルーホールの平面的
な位置および大きさを撮像部によって撮像して暗部とし
て第１画像認識部1に画像認識しておき、次いで光源6か
ら照射された光のプリント基板裏面側における反射光を
捉えて、スルーホールの位置および該スルーホールのリ
ードを除外した部分を暗部として第２画像認識部10に画
像認識するとともに、この画像と予め認識された画像と
を比較して所定のスルーホールに所定の電子部品のリー
ドが挿通されているかどうかを判別することにより、上
記プリント基板の検査を容易かつ確実に検査を行う。
ルーホールに挿通されているかどうかを、容易かつ確実
に検査することができる電子部品付設検査方法および検
査装置を提供することを目的としている。 【構成】 予めプリント基板Pのスルーホールの平面的
な位置および大きさを撮像部によって撮像して暗部とし
て第１画像認識部1に画像認識しておき、次いで光源6か
ら照射された光のプリント基板裏面側における反射光を
捉えて、スルーホールの位置および該スルーホールのリ
ードを除外した部分を暗部として第２画像認識部10に画
像認識するとともに、この画像と予め認識された画像と
を比較して所定のスルーホールに所定の電子部品のリー
ドが挿通されているかどうかを判別することにより、上
記プリント基板の検査を容易かつ確実に検査を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板に付設
された電子部品をはんだ付けする前に、該プリント基板
に電子部品のリードが所定のスルーホールに挿通されて
いるかどうかを検査する電子部品付設検査方法および検
査装置に関する。
された電子部品をはんだ付けする前に、該プリント基板
に電子部品のリードが所定のスルーホールに挿通されて
いるかどうかを検査する電子部品付設検査方法および検
査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、電子機器等に使用されるプリン
ト基板においては、予め該プリント基板を貫通して形成
されたスルーホールに、該プリント基板上面に付設され
る電子部品のリードが挿通され、該リードの挿通部分に
プリント基板の裏面側からはんだ付けが施されている。
所定のスルーホールに、所定の電子部品のリードが確実
に挿通されていなと電子部品の作動不良等を引き起こす
ため、はんだ付け前に、リードがスルーホールに確実に
挿通されているかどうかを検査することは、製品の信頼
性、歩留まり向上のために、重要なことである。
ト基板においては、予め該プリント基板を貫通して形成
されたスルーホールに、該プリント基板上面に付設され
る電子部品のリードが挿通され、該リードの挿通部分に
プリント基板の裏面側からはんだ付けが施されている。
所定のスルーホールに、所定の電子部品のリードが確実
に挿通されていなと電子部品の作動不良等を引き起こす
ため、はんだ付け前に、リードがスルーホールに確実に
挿通されているかどうかを検査することは、製品の信頼
性、歩留まり向上のために、重要なことである。
【０００３】従来、上記検査を行う場合、プリント基板
に形成された多数のスルーホールに対応するテストピン
が立設された検査治具を用意し、この検査治具をプリン
ト基板の下方から該プリント基板に近付け、それぞれの
テストピンをスルーホールに挿通されたリードに接触さ
せることによって行っていた。
に形成された多数のスルーホールに対応するテストピン
が立設された検査治具を用意し、この検査治具をプリン
ト基板の下方から該プリント基板に近付け、それぞれの
テストピンをスルーホールに挿通されたリードに接触さ
せることによって行っていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記検査治
具による検査では、プリント基板の回路パターンを変え
た場合、当然スルーホールの位置、大きさ等も変わるの
で、これに応じてテストピンの配置、大きさ等を変更し
た検査治具を用意する必要がある。検査治具のテストピ
ンの配置、大きさについては高い寸法精度が要求される
ので、検査治具を上記変更に応じて製作するには、非常
に手間とコストがかかるとともに、このような検査治具
は近年の多品種小量生産の傾向に対してには不向きであ
り、さらには、テストピンの接触によって検査を行って
いるので、検査中にテストピンの一部が破損してしまう
という問題があった。
具による検査では、プリント基板の回路パターンを変え
た場合、当然スルーホールの位置、大きさ等も変わるの
で、これに応じてテストピンの配置、大きさ等を変更し
た検査治具を用意する必要がある。検査治具のテストピ
ンの配置、大きさについては高い寸法精度が要求される
ので、検査治具を上記変更に応じて製作するには、非常
に手間とコストがかかるとともに、このような検査治具
は近年の多品種小量生産の傾向に対してには不向きであ
り、さらには、テストピンの接触によって検査を行って
いるので、検査中にテストピンの一部が破損してしまう
という問題があった。
【０００５】この発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、プリント基板のスルーホールの位置、大きさ等が変
更されても、電子部品のリードが所定のスルーホールに
挿通されているかどうかを、容易かつ確実に検査するこ
とができる電子部品付設検査方法および検査装置を提供
することを目的としている。
で、プリント基板のスルーホールの位置、大きさ等が変
更されても、電子部品のリードが所定のスルーホールに
挿通されているかどうかを、容易かつ確実に検査するこ
とができる電子部品付設検査方法および検査装置を提供
することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の請求項１の電子部品付設検査方法は、予
めプリント基板の裏面におけるスルーホールの平面的な
位置および大きさを画像認識しておき、次いで、上記プ
リント基板の裏面側から光を照射し、該光のプリント基
板裏面側における反射光を捉えて、上記スルーホールの
位置および該スルーホールの上記リードを除外した部分
を暗部として画像認識するとともに、この画像と上記予
め認識された画像とを比較して所定のスルーホールに所
定の電子部品のリードが挿通されているかどうかを判別
するものである。
に、この発明の請求項１の電子部品付設検査方法は、予
めプリント基板の裏面におけるスルーホールの平面的な
位置および大きさを画像認識しておき、次いで、上記プ
リント基板の裏面側から光を照射し、該光のプリント基
板裏面側における反射光を捉えて、上記スルーホールの
位置および該スルーホールの上記リードを除外した部分
を暗部として画像認識するとともに、この画像と上記予
め認識された画像とを比較して所定のスルーホールに所
定の電子部品のリードが挿通されているかどうかを判別
するものである。
【０００７】また、請求項２の電子部品付設検査装置
は、予め上記プリント基板の裏面におけるスルーホール
の平面的な位置および大きさを画像認識する第１画像認
識部と、上記プリント基板の裏面に対向して設けられ
て、上記プリント基板の裏面に光を照射する光源と、上
記プリント基板の裏面の対向して設けられて、上記光源
から照射された光のプリント基板裏面側における反射光
を捉える撮像部と、この撮像部により得られた画像を、
上記スルーホールの位置および該スルーホールの上記リ
ードを除外した部分を暗部として画像認識する第２画像
認識部と、上記第１および第２の画像認識部に認識され
ているそれぞれの画像を比較して所定のスルーホールに
所定の電子部品のリードが挿通されているかどうかを判
別する判別部とからなるものである。
は、予め上記プリント基板の裏面におけるスルーホール
の平面的な位置および大きさを画像認識する第１画像認
識部と、上記プリント基板の裏面に対向して設けられ
て、上記プリント基板の裏面に光を照射する光源と、上
記プリント基板の裏面の対向して設けられて、上記光源
から照射された光のプリント基板裏面側における反射光
を捉える撮像部と、この撮像部により得られた画像を、
上記スルーホールの位置および該スルーホールの上記リ
ードを除外した部分を暗部として画像認識する第２画像
認識部と、上記第１および第２の画像認識部に認識され
ているそれぞれの画像を比較して所定のスルーホールに
所定の電子部品のリードが挿通されているかどうかを判
別する判別部とからなるものである。
【０００８】
【作用】この発明にあっては、予め検査すべきプリント
基板のスルーホールの平面的な位置および大きさを撮像
部によって撮像して暗部として第１画像認識部に画像認
識しておき、次いで光源から照射された光のプリント基
板裏面側における反射光を捉えて、スルーホールの位置
および該スルーホールのリードを除外した部分を暗部と
して第２画像認識部に画像認識するとともに、この画像
と上記予め認識された画像とを比較して所定のスルーホ
ールに所定の電子部品のリードＬが挿通されているかど
うかを判別するようにしたので、あらゆる種類の回路パ
ターンのプリント基板の検査（所定のスルーホールに所
定の電子部品のリードが挿通されているかどうかの検
査）を容易かつ確実に検査を行うことができる。
基板のスルーホールの平面的な位置および大きさを撮像
部によって撮像して暗部として第１画像認識部に画像認
識しておき、次いで光源から照射された光のプリント基
板裏面側における反射光を捉えて、スルーホールの位置
および該スルーホールのリードを除外した部分を暗部と
して第２画像認識部に画像認識するとともに、この画像
と上記予め認識された画像とを比較して所定のスルーホ
ールに所定の電子部品のリードＬが挿通されているかど
うかを判別するようにしたので、あらゆる種類の回路パ
ターンのプリント基板の検査（所定のスルーホールに所
定の電子部品のリードが挿通されているかどうかの検
査）を容易かつ確実に検査を行うことができる。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図１はこの発明の電子部品Ｄ付設検査装置の
概略構成を示すものであり、図中符号１は、第１画像認
識部を示す。この第１画像認識部１は、予めプリント基
板Ｐの裏面におけるスルーホールＨの平面的な位置およ
び大きさを、実際のプリント基板Ｐから画像として認識
するようにしたものであり、後述する撮像部７に接続さ
れている。
説明する。図１はこの発明の電子部品Ｄ付設検査装置の
概略構成を示すものであり、図中符号１は、第１画像認
識部を示す。この第１画像認識部１は、予めプリント基
板Ｐの裏面におけるスルーホールＨの平面的な位置およ
び大きさを、実際のプリント基板Ｐから画像として認識
するようにしたものであり、後述する撮像部７に接続さ
れている。
【００１０】上記プリント基板Ｐは前工程から搬送部２
に搬送され、この搬送部２上で検査され、該搬送部２に
よって次の工程に搬送されるようになっている。この搬
送部２はプリント基板Ｐの左右縁部に係合してプリント
基板Ｐの搬送をガイドするガイド部材３，３と、このガ
イド部材３，３の内側に設けられて、プリント基板Ｐを
搬送するチェーンベルト４，４とを主体として構成され
ており、この構成の搬送部２は、該搬送部２を前後左右
に移動させる所謂ＸＹテーブル５に固定されている。こ
のＸＹテーブル５の移動は制御部５ａによって制御され
るようになっており、この制御部５ａは後述する判別部
１１に接続されている。
に搬送され、この搬送部２上で検査され、該搬送部２に
よって次の工程に搬送されるようになっている。この搬
送部２はプリント基板Ｐの左右縁部に係合してプリント
基板Ｐの搬送をガイドするガイド部材３，３と、このガ
イド部材３，３の内側に設けられて、プリント基板Ｐを
搬送するチェーンベルト４，４とを主体として構成され
ており、この構成の搬送部２は、該搬送部２を前後左右
に移動させる所謂ＸＹテーブル５に固定されている。こ
のＸＹテーブル５の移動は制御部５ａによって制御され
るようになっており、この制御部５ａは後述する判別部
１１に接続されている。
【００１１】上記ＸＹテーブル５の下方には、プリント
基板Ｐの裏面に光を照射する光源６が該プリント基板Ｐ
の裏面に対向して設けられている。この光源６はプリン
ト基板Ｐの裏面から下方に離間するにしたがって漸次縮
径する筒状の支持体６ａと、この支持体６ａの内周面全
体に亙って取り付けられた多数の発光体６ｂ…とから構
成されている。そして、上記構成の光源６ではプリント
基板Ｐが上記ＸＹテーブル５上に位置した際に、プリン
ト基板Ｐの裏面に対向して複数方向から光を照射するよ
うになっている。なお、上記発光体６ｂとしては赤色Ｌ
ＥＤ（発光ダイオード）が使用されている。
基板Ｐの裏面に光を照射する光源６が該プリント基板Ｐ
の裏面に対向して設けられている。この光源６はプリン
ト基板Ｐの裏面から下方に離間するにしたがって漸次縮
径する筒状の支持体６ａと、この支持体６ａの内周面全
体に亙って取り付けられた多数の発光体６ｂ…とから構
成されている。そして、上記構成の光源６ではプリント
基板Ｐが上記ＸＹテーブル５上に位置した際に、プリン
ト基板Ｐの裏面に対向して複数方向から光を照射するよ
うになっている。なお、上記発光体６ｂとしては赤色Ｌ
ＥＤ（発光ダイオード）が使用されている。
【００１２】また、上記光源６の下方には、該光源６か
ら照射された光のプリント基板Ｐ裏面側における反射光
を捉えるＣＣＤカメラ（撮像部）７がプリント基板Ｐの
裏面に対向して設けられている。なお、上記撮像部７お
よび光源６は筒状の外套部材８内に設置されており、該
外套部８によって、外部からの光を遮蔽するようになっ
ている。
ら照射された光のプリント基板Ｐ裏面側における反射光
を捉えるＣＣＤカメラ（撮像部）７がプリント基板Ｐの
裏面に対向して設けられている。なお、上記撮像部７お
よび光源６は筒状の外套部材８内に設置されており、該
外套部８によって、外部からの光を遮蔽するようになっ
ている。
【００１３】上記撮像部７には、第２画像認識部１０が
接続されている。この第２画像認識部１０では、上記撮
像部７により得られた画像を、プリント基板Ｐのスルー
ホールＨの位置および該スルーホールＨの電子部品Ｄの
リードＬを除外した部分を暗部として画像認識するとと
もに、その他のプリント基板Ｐの裏面を明部として画像
認識するようになっている。つまり、図２（ｂ）に示す
ように、例えばスルーホールＨにリードＬが挿通されて
いなければスルーホールＨを円状の暗部Ａとして現し、
リードＬが挿通されていればスルーホールＨ内のリード
Ｌの部分を明部Ｂ、該リードＬとスルーホールＨの内周
面との間の隙間を暗部Ａとして現すようになっている。
また、プリント基板Ｐの裏面は明部Ｂとして現され、該
プリント基板Ｐの外側は暗部Ａとして現されるので、プ
リント基板Ｐの外周縁が明部Ｂと暗部Ａとの境界Ｓとし
て現され、この境界Ｓと上記スルーホールＨの暗部Ａと
の距離を求めることによって該スルーホールＨの位置が
解かるようになっている。
接続されている。この第２画像認識部１０では、上記撮
像部７により得られた画像を、プリント基板Ｐのスルー
ホールＨの位置および該スルーホールＨの電子部品Ｄの
リードＬを除外した部分を暗部として画像認識するとと
もに、その他のプリント基板Ｐの裏面を明部として画像
認識するようになっている。つまり、図２（ｂ）に示す
ように、例えばスルーホールＨにリードＬが挿通されて
いなければスルーホールＨを円状の暗部Ａとして現し、
リードＬが挿通されていればスルーホールＨ内のリード
Ｌの部分を明部Ｂ、該リードＬとスルーホールＨの内周
面との間の隙間を暗部Ａとして現すようになっている。
また、プリント基板Ｐの裏面は明部Ｂとして現され、該
プリント基板Ｐの外側は暗部Ａとして現されるので、プ
リント基板Ｐの外周縁が明部Ｂと暗部Ａとの境界Ｓとし
て現され、この境界Ｓと上記スルーホールＨの暗部Ａと
の距離を求めることによって該スルーホールＨの位置が
解かるようになっている。
【００１４】さらに、上記第１画像認識部１と第２画像
認識部１０とはそれぞれ判別部１１に接続されている。
そしてこの判別部１１では、上記第１および第２の画像
認識部１，１０に認識されているそれぞれの画像を比較
して所定のスルーホールＨに所定の電子部品Ｄのリード
Ｌが挿通されているかどうかを判別するようになってい
る。
認識部１０とはそれぞれ判別部１１に接続されている。
そしてこの判別部１１では、上記第１および第２の画像
認識部１，１０に認識されているそれぞれの画像を比較
して所定のスルーホールＨに所定の電子部品Ｄのリード
Ｌが挿通されているかどうかを判別するようになってい
る。
【００１５】次に、上記構成の電子部品Ｄ付設検査装置
による検査方法について説明する。まず、検査を行う前
に、予め、検査すべきプリント基板Ｐと同一パターンの
プリント基板Ｐについて、その裏面におけるスルーホー
ルＨの平面的な位置および大きさを画像認識しておく。
これは、例えば、プリント基板Ｐを後に検査するときと
同様にして、搬送部２上のプリント基板Ｐをその回路に
応じてＸＹテーブル５を作動させつつ上記撮像部７によ
って撮像し、スルーホールＨの各位置とその面積を、上
記第１画像認識部１に画像認識させ、判別部１１に数量
化信号として記憶しておくが、実際には、図２（ａ）に
示すように、撮像されて暗部Ａとして認識された円状の
スルーホールＨを該スルーホールＨに外接する正方形Ｋ
1で囲みこの正方形Ｋ1の面積と、該正方形Ｋ1の中心位
置を上記判別部１１に数量化信号として記憶しておく。
による検査方法について説明する。まず、検査を行う前
に、予め、検査すべきプリント基板Ｐと同一パターンの
プリント基板Ｐについて、その裏面におけるスルーホー
ルＨの平面的な位置および大きさを画像認識しておく。
これは、例えば、プリント基板Ｐを後に検査するときと
同様にして、搬送部２上のプリント基板Ｐをその回路に
応じてＸＹテーブル５を作動させつつ上記撮像部７によ
って撮像し、スルーホールＨの各位置とその面積を、上
記第１画像認識部１に画像認識させ、判別部１１に数量
化信号として記憶しておくが、実際には、図２（ａ）に
示すように、撮像されて暗部Ａとして認識された円状の
スルーホールＨを該スルーホールＨに外接する正方形Ｋ
1で囲みこの正方形Ｋ1の面積と、該正方形Ｋ1の中心位
置を上記判別部１１に数量化信号として記憶しておく。
【００１６】次いで、実際に電子部品Ｄが付設されて、
上記搬送部２上に搬送されてきたプリント基板Ｐの裏面
に上記光源６から光を照射する。そして、先に記憶した
位置情報に基いて、上記制御部５ａによりＸＹテーブル
５を前後左右に移動させ、プリント基板Ｐのスルーホー
ルＨを順次撮像する。上記第２画像認識部１０に画像認
識させる。
上記搬送部２上に搬送されてきたプリント基板Ｐの裏面
に上記光源６から光を照射する。そして、先に記憶した
位置情報に基いて、上記制御部５ａによりＸＹテーブル
５を前後左右に移動させ、プリント基板Ｐのスルーホー
ルＨを順次撮像する。上記第２画像認識部１０に画像認
識させる。
【００１７】この際、スルーホールＨに電子部品Ｄのリ
ードＬが挿通されていたとすると、スルーホールＨ内の
一部が上記リードＬによって占有されるので、図２
（ｂ）に示すように、この部分が明部Ｂとして認識さ
れ、リードＬを除外したスルーホールＨの部分が暗部Ａ
として認識される。そして暗部Ａとして認識されたスル
ーホールＨを該スルーホールＨに外接する正方形Ｋ2で
囲み、この正方形Ｋ2から上記リードＬの部分を減じた
面積と、該正方形Ｋ2の中心位置を上記判別部１１に数
量化信号として記憶する。
ードＬが挿通されていたとすると、スルーホールＨ内の
一部が上記リードＬによって占有されるので、図２
（ｂ）に示すように、この部分が明部Ｂとして認識さ
れ、リードＬを除外したスルーホールＨの部分が暗部Ａ
として認識される。そして暗部Ａとして認識されたスル
ーホールＨを該スルーホールＨに外接する正方形Ｋ2で
囲み、この正方形Ｋ2から上記リードＬの部分を減じた
面積と、該正方形Ｋ2の中心位置を上記判別部１１に数
量化信号として記憶する。
【００１８】次いで、この判別部１１において、上記予
め記憶させた情報（正方形の面積およびその位置）と実
際の検査によって得られた情報とを比較して所定のスル
ーホールＨにリードＬが挿通されているかどうかを判別
する。この判別は、上記正方形Ｋ1，Ｋ2によってスルー
ホールＨの位置を特定するとともに、予め記憶させた正
方形Ｋ1の面積に対する正方形Ｋ2から上記リードＬの部
分を減じた面積の比を求め、この値が一定値以下であれ
ばスルーホールＨにリードＬが挿通されていると判別す
る。なお、スルーホールＨにリードＬが挿通されていな
い場合、上記比は１となり、挿通が不完全になるにした
がって上記比が１に近づく。そして、上記のような検査
をプリント基板Ｐの全てのスルーホールＨに対して行っ
て該プリント基板Ｐの検査を終了し、１穴でもスルーホ
ールＨにリードＬが挿通されていない場合、または挿通
不良の場合は不良として判別して排出し、良品のみを上
記搬送部２によって次の工程に搬送する。
め記憶させた情報（正方形の面積およびその位置）と実
際の検査によって得られた情報とを比較して所定のスル
ーホールＨにリードＬが挿通されているかどうかを判別
する。この判別は、上記正方形Ｋ1，Ｋ2によってスルー
ホールＨの位置を特定するとともに、予め記憶させた正
方形Ｋ1の面積に対する正方形Ｋ2から上記リードＬの部
分を減じた面積の比を求め、この値が一定値以下であれ
ばスルーホールＨにリードＬが挿通されていると判別す
る。なお、スルーホールＨにリードＬが挿通されていな
い場合、上記比は１となり、挿通が不完全になるにした
がって上記比が１に近づく。そして、上記のような検査
をプリント基板Ｐの全てのスルーホールＨに対して行っ
て該プリント基板Ｐの検査を終了し、１穴でもスルーホ
ールＨにリードＬが挿通されていない場合、または挿通
不良の場合は不良として判別して排出し、良品のみを上
記搬送部２によって次の工程に搬送する。
【００１９】しかして、上記電子部品付設検査装置によ
る検査によれば、予め検査すべきプリント基板Ｐのスル
ーホールＨの平面的な位置および大きさを撮像部７によ
って撮像して暗部として第１画像認識部に画像認識して
おき、次いで光源７から照射された光のプリント基板Ｐ
裏面側における反射光を捉えて、スルーホールＨの位置
および該スルーホールＨのリードＬを除外した部分を暗
部として第２画像認識部に画像認識するとともに、この
画像と上記予め認識された画像とを比較して所定のスル
ーホールＨに所定の電子部品ＤのリードＬが挿通されて
いるかどうかを判別するようにしたので、プリント基板
Ｐの回路パターンを変更しても、何ら新たに治具等を製
作する必要がなく、一定の動作によって容易かつ確実に
検査を行うことができる。
る検査によれば、予め検査すべきプリント基板Ｐのスル
ーホールＨの平面的な位置および大きさを撮像部７によ
って撮像して暗部として第１画像認識部に画像認識して
おき、次いで光源７から照射された光のプリント基板Ｐ
裏面側における反射光を捉えて、スルーホールＨの位置
および該スルーホールＨのリードＬを除外した部分を暗
部として第２画像認識部に画像認識するとともに、この
画像と上記予め認識された画像とを比較して所定のスル
ーホールＨに所定の電子部品ＤのリードＬが挿通されて
いるかどうかを判別するようにしたので、プリント基板
Ｐの回路パターンを変更しても、何ら新たに治具等を製
作する必要がなく、一定の動作によって容易かつ確実に
検査を行うことができる。
【００２０】また、従来のようなテストピンの接触によ
るものでなく、画像処理を用いた非接触で行う検査であ
るため、製品（プリント基板Ｐ）に傷を付けることもな
い。さらに、撮像部７をプリント基板Ｐの裏面に対向し
て設けたので、プリント基板Ｐを裏返すことなく検査を
行うことができ、よってプリント基板の製造ラインに容
易に組み込むことができる。
るものでなく、画像処理を用いた非接触で行う検査であ
るため、製品（プリント基板Ｐ）に傷を付けることもな
い。さらに、撮像部７をプリント基板Ｐの裏面に対向し
て設けたので、プリント基板Ｐを裏返すことなく検査を
行うことができ、よってプリント基板の製造ラインに容
易に組み込むことができる。
【００２１】加えて、光源６をプリント基板Ｐの裏面か
ら下方に離間するにしたがって漸次縮径する筒状の支持
体６ａと、この支持体６ａの内周面全体に亙って取り付
けられた多数の発光体６ｂ…とから構成したので、プリ
ント基板Ｐの裏面に多数の方向から光を照射してスルー
ホールＨおよびスルーホールＨのリードＬを除外した部
分のみを暗部として確実に検出することができ、よって
精度の高い検査を行うことができる。
ら下方に離間するにしたがって漸次縮径する筒状の支持
体６ａと、この支持体６ａの内周面全体に亙って取り付
けられた多数の発光体６ｂ…とから構成したので、プリ
ント基板Ｐの裏面に多数の方向から光を照射してスルー
ホールＨおよびスルーホールＨのリードＬを除外した部
分のみを暗部として確実に検出することができ、よって
精度の高い検査を行うことができる。
【００２２】なお、上記実施例では、予めプリント基板
Ｐの裏面におけるスルーホールＨの平面的な位置および
大きさを、実際のプリント基板Ｐから画像として認識す
るようにしたが、設計図面から画像認識するようにして
もよい。この場合、スルーホールＨの部分を黒塗りにす
るとともに、実際の製品（プリント基板Ｐ）との縮尺を
考慮すればよい。また、設計図面から数値データとして
上記判別部１１に直接入力してもよい。
Ｐの裏面におけるスルーホールＨの平面的な位置および
大きさを、実際のプリント基板Ｐから画像として認識す
るようにしたが、設計図面から画像認識するようにして
もよい。この場合、スルーホールＨの部分を黒塗りにす
るとともに、実際の製品（プリント基板Ｐ）との縮尺を
考慮すればよい。また、設計図面から数値データとして
上記判別部１１に直接入力してもよい。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、予め検査すべきプリント基板のスルーホールの平面
的な位置および大きさを撮像部によって撮像して暗部と
して第１画像認識部に画像認識しておき、次いで光源か
ら照射された光のプリント基板裏面側における反射光を
捉えて、スルーホールの位置および該スルーホールのリ
ードを除外した部分を暗部として第２画像認識部に画像
認識するとともに、この画像と上記予め認識された画像
とを比較して所定のスルーホールに所定の電子部品のリ
ードが挿通されているかどうかを判別するようにしたの
で、プリント基板の回路パターンを変更しても、何ら新
たに治具等を製作する必要がなく、一定の動作によって
容易かつ確実に検査を行うことができ、近年の多品種小
量生産の傾向に対して非常に有効である。
ば、予め検査すべきプリント基板のスルーホールの平面
的な位置および大きさを撮像部によって撮像して暗部と
して第１画像認識部に画像認識しておき、次いで光源か
ら照射された光のプリント基板裏面側における反射光を
捉えて、スルーホールの位置および該スルーホールのリ
ードを除外した部分を暗部として第２画像認識部に画像
認識するとともに、この画像と上記予め認識された画像
とを比較して所定のスルーホールに所定の電子部品のリ
ードが挿通されているかどうかを判別するようにしたの
で、プリント基板の回路パターンを変更しても、何ら新
たに治具等を製作する必要がなく、一定の動作によって
容易かつ確実に検査を行うことができ、近年の多品種小
量生産の傾向に対して非常に有効である。
【００２４】また、従来のようなテストピンの接触によ
るものでなく、画像処理を用いた非接触で行う検査であ
るため、製品（プリント基板）に傷を付けることもな
い。
るものでなく、画像処理を用いた非接触で行う検査であ
るため、製品（プリント基板）に傷を付けることもな
い。
【００２５】さらに、撮像部をプリント基板の裏面に対
向して設けたので、プリント基板を裏返すことなく検査
を行うことができ、よってプリント基板の製造ラインに
容易に組み込むことができる。
向して設けたので、プリント基板を裏返すことなく検査
を行うことができ、よってプリント基板の製造ラインに
容易に組み込むことができる。
【図１】本発明の電子部品付設検査装置の一実施例を示
す概略構成図である。
す概略構成図である。
【図２】スルーホールにリードが挿入されているかどう
かを検査する方法を説明するための図である。
かを検査する方法を説明するための図である。
１ 第１画像認識部 ６ 光源 ７ ＣＣＤカメラ（撮像部） １０ 第２画像認識部 １１ 判別部 Ｐ プリント基板 Ｈ スルーホール Ｌ リード Ａ 暗部 Ｂ 明部
Claims (2)
- 【請求項１】 プリント基板に貫通して形成されたスル
ーホールに、上記プリント基板の表面に付設された電子
部品のリードが挿通されているかどうかを検査する電子
部品付設検査方法であって、 予め上記プリント基板の裏面におけるスルーホールの平
面的な位置および大きさを画像認識しておき、 次いで、上記プリント基板の裏面側から光を照射し、該
光のプリント基板裏面側における反射光を捉えて、上記
スルーホールの位置および該スルーホールの上記リード
を除外した部分を暗部として画像認識するとともに、こ
の画像と上記予め認識された画像とを比較して所定のス
ルーホールに所定の電子部品のリードが挿通されている
かどうかを判別することを特徴とする電子部品付設検査
方法。 - 【請求項２】 プリント基板に貫通して形成されたスル
ーホールに、上記プリント基板の表面に付設された電子
部品のリードが挿通されているかどうかを検査する電子
部品付設検査装置であって、 予め上記プリント基板の裏面におけるスルーホールの平
面的な位置および大きさを画像認識する第１画像認識部
と、 上記プリント基板の裏面に対向して設けられて、上記プ
リント基板の裏面に光を照射する光源と、 上記プリント基板の裏面の対向して設けられて、上記光
源から照射された光のプリント基板裏面側における反射
光を捉える撮像部と、 この撮像部により得られた画像を、上記スルーホールの
位置および該スルーホールの上記リードを除外した部分
を暗部として画像認識する第２画像認識部と、 上記第１および第２の画像認識部に認識されているそれ
ぞれの画像を比較して所定のスルーホールに所定の電子
部品のリードが挿通されているかどうかを判別する判別
部とからなることを特徴とする電子部品付設検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315061A JPH05180780A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 電子部品付設検査方法および検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315061A JPH05180780A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 電子部品付設検査方法および検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05180780A true JPH05180780A (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=18060966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3315061A Pending JPH05180780A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 電子部品付設検査方法および検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05180780A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105910536A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-08-31 | 王越 | 一种插件电子元件视觉定位中的图像采集方法 |
| JP2018137379A (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 富士ゼロックス株式会社 | 検査装置、及び検査方法 |
| WO2019132599A1 (ko) * | 2017-12-28 | 2019-07-04 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판에 삽입된 복수의 핀의 삽입 상태를 검사하는 방법 및 기판 검사 장치 |
| WO2021186666A1 (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-23 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 対基板作業機 |
| US11360159B2 (en) | 2017-12-28 | 2022-06-14 | Koh Young Technology Inc. | Method for inspecting insertion states of pins inserted into substrate, and substrate inspection apparatus |
| US11547033B2 (en) * | 2017-12-28 | 2023-01-03 | Koh Young Technology Inc. | Method for inspecting insertion states of plurality of pins included in connector inserted into substrate, and substrate inspection apparatus |
-
1991
- 1991-11-28 JP JP3315061A patent/JPH05180780A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105910536A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-08-31 | 王越 | 一种插件电子元件视觉定位中的图像采集方法 |
| JP2018137379A (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 富士ゼロックス株式会社 | 検査装置、及び検査方法 |
| WO2019132599A1 (ko) * | 2017-12-28 | 2019-07-04 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판에 삽입된 복수의 핀의 삽입 상태를 검사하는 방법 및 기판 검사 장치 |
| US11360159B2 (en) | 2017-12-28 | 2022-06-14 | Koh Young Technology Inc. | Method for inspecting insertion states of pins inserted into substrate, and substrate inspection apparatus |
| US11547033B2 (en) * | 2017-12-28 | 2023-01-03 | Koh Young Technology Inc. | Method for inspecting insertion states of plurality of pins included in connector inserted into substrate, and substrate inspection apparatus |
| WO2021186666A1 (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-23 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 対基板作業機 |
| JPWO2021186666A1 (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20001121 |