JP4171864B2 - パターン印刷テープの不良検出方法 - Google Patents

パターン印刷テープの不良検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4171864B2
JP4171864B2 JP2000365089A JP2000365089A JP4171864B2 JP 4171864 B2 JP4171864 B2 JP 4171864B2 JP 2000365089 A JP2000365089 A JP 2000365089A JP 2000365089 A JP2000365089 A JP 2000365089A JP 4171864 B2 JP4171864 B2 JP 4171864B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape
mark
pattern
defect
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000365089A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002170907A (ja
Inventor
茂示 坂下
Original Assignee
国際技術開発株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 国際技術開発株式会社 filed Critical 国際技術開発株式会社
Priority to JP2000365089A priority Critical patent/JP4171864B2/ja
Publication of JP2002170907A publication Critical patent/JP2002170907A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4171864B2 publication Critical patent/JP4171864B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はパターン印刷テープの不良検出方法に係り、特に、配線パターンなどのパターンが表面に形成されたテープを検査し、欠陥パターン部分を特定するマーキングを施すパターン印刷テープの不良検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体装置の小型化の要求により、半導体装置の外形寸法をほぼ半導体素子の外形寸法にまで小型化したチップサイズパッケージ(以後、CSPと称す。)の半導体装置が用いられるに至っている。
【0003】
この種のCSPの半導体装置としては、例えば、半導体素子の外形寸法よりも若干大きい外形寸法の基板上に半導体素子を接着剤などでボンディングし、半導体素子の周縁部に形成された電極と基板の周縁部に形成された電極とを金線などで電気的に接続した構成のものや、半導体素子の外形寸法程度に形成され表面にアレイ状の電極を備えた基板と、半導体素子の裏面側にアレイ状に形成された半田ボールとを融着して電気的に接続する構成など、様々な構成のCSPの半導体装置が知られている。
【0004】
このようなCSPの半導体装置の製造においては、1チップに対応して形成される配線、電極、ビームリード及びスルーホールなどのパターンが複数繰り返してパターンニングされたテープ(以下、CSPテープと称する。)を用いて一度に大量のパッケージを製造する方法が採用される。
【0005】
このCSPテープは、ポリイミド基材等の基材の表面に蒸着などにより銅箔などの導電膜を形成した後、通常のエッチング技術を用いてCSP用の配線、電極、ビームリード及びスルーホールなどのパターンを複数繰り返してパターンニングした長尺状のテープである。
【0006】
しかしながら、上記CSPテープ等のテープ状の基板に回路パターン等を形成する場合、例えば、1チップに対応するパターン領域が欠けてしまったり、断線が生じるなどのパターン欠陥がある場合に、品質管理上、これを的確に検出する必要がある。そのため、複数のパターンが形成されたテープについて、テープ上に形成された複数のパターンのうち、欠陥のあるパターンを検出し、欠陥のないパターンと区別できるようにする欠陥検査装置が用いられている。
【0007】
これは一般的には、複数のパターンが形成されたテープを間欠的に搬送し、各パターンを撮像して得られた画像信号を処理して欠陥のあるパターンを検出するするようにし、欠陥が検出されたパターンに対して欠陥マークを形成するマーキング手段を備えた構成となっている。これによって、搬送手段によりテープを搬送しながら、撮影手段によりテープに形成されたパターンを撮影して画像信号として出力し、欠陥検出手段が撮影手段から出力された画像信号を処理してパターンの欠陥の有無を判断し、欠陥検出手段によって欠陥があると判断したパターンに対してマーキング手段により欠陥マークを形成する。
【0008】
欠陥マークは、欠陥があると判断されたパターンに対して形成するマークであり、欠陥の無いパターンと区別することができればよい。したがって、ペンなどのマーカによって丸や四角やバツなどの印を付けたものとしたり、テープ自体に形成した孔とすることができる。また、このような欠陥マークの形成位置は、パターン上としてもよいし、パターンを形成するときに使用したアライメントマーク等のようにパターンに対して予め定めた位置とすることができる。
【0009】
これにより、欠陥の有るパターンには、必ず欠陥マークが形成されることとなるので、欠陥の有るパターンと欠陥の無いパターンを、その後の処理工程において明確に区別できる。したがって、1チップに対応する領域毎に切り離した後に、欠陥品の判別が容易であり、欠陥を検知できずに出荷するという不具合をなくすことができる。
【0010】
従来のCSPテープの欠陥検査は、出荷直前の最終工程で行われており、同じ検査装置に付けられたマーキング装置によって検査直後にマークされていた。フィルム上には印刷パターンの絶対位置を示す情報が印刷されていないので、検査によって欠陥が発見された時に不良個所を特定するには、テープ送り用にテープ側縁に明けられた穴(パーフォレーション)の数をカウントして決めていた。すなわち、CSPテープにスタートホールを穿設するとともに、そのセンサをCCDカメラ位置とマーキング手段の位置とに配置し、スタートホールからの欠陥検出されるまでのパーフォレーションの数をカウントし、このカウント数によってCCDカメラによる検出欠陥パターンをマーキング手段が該当欠陥パターンの特定をするように構成されていた。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、最終工程ではなく、中間工程での検査でマークした場合、次工程(例えばレジスト塗布工程)でマークが消える場合があり、中間工程での検査に支障が出る場合があった。さらに、最終工程での検査にて、異種の検査項目、例えば回路のオープン/ショート系のパターン検査、メッキ系の明るさ検査などがある場合、従来は検査装置毎にマークを施していた。
【0012】
ところで、CSPテープを作製する前処理の過程でエッチング不良などの欠陥が発見された場合などには、欠陥部分を切断除去することが行われ、これをスプライステープによって繋ぎ合わせることがよくなされている。このような繋ぎ合わせ箇所は100m程度のテープ長さの途中に何カ所も存在することがある。
【0013】
このような繋ぎ合わせたCSPテープを上述した検査装置にかけると、画像認識がスプライステープ部分でできなくなり、検査装置が停止してしまう。このような場合には、リールを一定量戻した上で再度スタートホールを穿設し、最初と同様な手順をとって再開する必要があった。また、再開したとき、テープを繋ぎ合わせた接合点以後のテープ上における回路パターンの位置は最初から決めた位置とは異なってきて、正確な位置を特定することができなかった。このため、再度スタートホールを穿設するなどの対策を採らなければならず、検査作業が煩雑になってしまう問題があった。
【0014】
本発明は、CSPテープの印刷パターンを検査する場合などにおいて、テープ送りを再開する際の印刷パターンの位置特定が簡単にできるようにしたパターン印刷テープの不良検出方法を提供することを目的とする。また、継ぎ目が存在している場合に、その継ぎ目か否かを明確に判別することができて画像処理において停止操作に入らずに検査継続処理ができるようにしたCSPテープを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明は、レジスト塗布前工程のような中間工程での検査を可能とするためには、検査直後にマークせず、マーク情報をファイルなどの電子情報として持ち、その後工程で当該電子情報をもとにマークすることによって可能となるという知見を得て、上記目的を達成するようにしたものである。このとき、現物のテープと電子情報との同期を得るために、各パターン毎に絶対番地を持たせるような非現実的なことを行わず、テープ上の複数の連続したパターンを1ユニットとして扱い、このユニット単位で情報を記録するようにしつつ、テープ途中でスプライスなどによる、いわゆる同期ずれが行った場合の回復ができるようにスプライス部分にもスタートマークを施すようにすればよい。
【0016】
すなわち、本発明に係るパターン印刷テープの不良検出方法は、複数の印刷パターンを設けてなるテープを搬送しつつパターン検査をなすことにより不良印刷パターンを特定するマークをテープに付ける不良検出方法において、複数の印刷パターンを1ユニットとする各ユニット始端部にスタートマークを施しておき、不良検査直後に各スタートマークを起点として特定される不良箇所マーク情報を電子情報として保持することを複数の検査工程で実施し、その後の工程でテープと前記複数の検査結果を重ねた電子情報とを前記スタートマークを起点として同期をとってテープに不良個所特定マーキングを施すことを特徴とするものである。
【0017】
この場合において、前記スタートマークはテープ途中をカットして再接続したスプライス部の始端部にも形成するようにする。また、前記スタートマーク以後の各ユニット領域にリールIDなどの管理情報マークを施せばよい。前記各マークは数字、2進コード、バーコードまたはこれらの組み合わせ記号を穴明けによって設ければよい。テープ上のパターン印刷部分に、そのテープ上の印刷パターンに対応するマークを設けるようにしてもよい。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下に本発明に係るパターン印刷テープの不良検出方法の具体的実施形態につき、図面を参照して詳細に説明する。
まず、実施形態に係るパターン印刷テープの不良検出方法の実現をなす欠陥検査装置を説明する。欠陥検査装置は、大別して、供給側リールハンドラー20と、CSPテープ搬送用ローラ群と、スペーサテープ搬送用ローラ34、36と、巻取側リールハンドラー32とを有している。そして、テープ搬送経路の途中に、照明装置と、撮影手段としてのCCDカメラ40と、欠陥検出手段としてのコンピュータ42とを備え、これらを統括制御する制御部46とを備えている。ここでは、後述するセンサ部18、コンピュータ42及び制御部46とで移動制御部を構成している。
【0019】
CSPテープ搬送用ローラ群は、第1〜第5のローラ22、24、26、28、30から構成されており、供給側リールハンドラー20にセットされたCSPロール10aから引き出したCSPテープ12の搬送経路を形成する。なお、スペーサテープ搬送用ローラ34、36はCSPテープ12と共に引き出されたスペーサテープ14をCSPテープ12とは別の搬送経路で搬送する。
【0020】
照明装置は、光源50からの光を搬送中のCSPテープ12に向かうように導く照明光学系52を備え、搬送中のCSPテープ12に対して光を照明する。CCDカメラ40は、照明装置により照明された位置のCSPテープ12の印刷パターンを撮影し、画像信号としてコンピュータ42に出力する。
【0021】
巻取側リールハンドラー32は、他の搬送経路で搬送されたスペーサテープ14と共に検査終了後のCSPテープ12を巻き取ってロール状の検査済CSPロール10bとする。
【0022】
このような構成の欠陥検査装置では、CSPテープ12は、第2のローラ24と第3のローラ26及び第4のローラ28とによって平坦な状態で間欠的に搬送される。第2のローラ24と第3のローラ26との間に配置されているCCDカメラ40が印刷パターンを撮影し、画像データとしてコンピュータ42に出力する。コンピュータ42は、予めプログラムされた演算により入力された画像データが正常なパッケージパターンを読み取ったものか、欠陥のあるパッケージパターンを読み取ったものかを判断する。その後、第5のローラ30を介して巻取側リールハンドラー32により別の搬送経路で搬送されたスペーサテープ14と対となって巻き取られ、ロール状にされる。
【0023】
このようにして、欠陥検査装置では、特定の印刷パターンが欠陥であることを認識することができるが、本実施形態では、この欠陥パターンを電子情報として記憶し、複数の後工程が会った場合でも、またスプライス処理を行ってテープを部分的に切断除去した後に再度接続したような場合でも、現物のテープと電子情報との同期を取って最終工程でマークとしての孔を適正な欠陥パターンを生成することができるようにしている。
【0024】
上述した欠陥検査が行われる本実施形態に係るパターン印刷テープの不良検出方法は、複数の印刷パターンを1ユニットとする各ユニット始端部にスタートマークを施しておき、不良検査直後に各スタートマークを起点として特定される不良箇所マーク情報を電子情報として保持し、その後の工程でテープと電子情報とを前記スタートマークを起点として同期をとってテープに不良個所特定マーキングを施すようにしたものである。
【0025】
すなわち、CSPテープ12は、図2に示しているように、テープ12上に複数の印刷パターン70を設けているが(図示の例ではテープ幅方向に3個を長手方向にN個をマトリックス状に連続して形成している。このような印刷パターン70を例えばテープ長さ10mあるいは印刷パターン300個などというように決められたテープ長さにある複数の印刷パターン群を1ユニットとして設定し、各ユニットの始端部領域にスタートマーク72を形成する。これを欠陥検査装置ではこのスタートマーク72を開始点として、テープ送り用にテープ側縁に明けられたパーフォレーション74の数をエンコーダなどによりカウントして決める。すなわち、CSPテープ12に一定間隔にスタートマーク72を形成するとともに、スタートマーク72からの欠陥検出されるまでのパーフォレーション74の数をカウントし、このカウント数によってCCDカメラによる検出欠陥パターンを特定する。このマーキングが電子情報としてコンピュータ42に記憶保持されるようになっている。
【0026】
したがって、最終工程ではなく、中間工程での検査を行ったとしても、実際のマーキングをテープ上に付していないため、検査後の工程の例えばマークを消す可能性のあるレジスト塗布工程でもマークが消えることがない。
【0027】
また、実施形態では、図3に示すように、各ユニット領域には、上述したスタートマーク72以外にリールIDなどの管理情報データマーク76を設けるようにしている。この管理情報データマーク76は、印刷パターンのユニット単位の自他識別情報である。したがって、例えばリールIDをデータとして持たせることにより、他のリールの印刷パターンとの峻別ができる。また、テープ搬送方向と直行する方向をX、搬送方向をYとした場合、Xはパーフォレーション74からの距離、Yはスタートマークからの印刷パターンのフレーム数として表示するデータを持つようにすることもできる。このデータマーク72は数字、2進コード、バーコードまたはこれらの組み合わせ記号として形成し、テープの製造時に初めから入れておいたり、検査直前に入れるようにすればよい。CSPテープ12の現物にマークを形成するには、図3に示すようなテープサイドに形成する他、CCDカメラ40が撮影できるような画面内収まるように、あるいはエッチングパターンとして埋め込むようにすればよい。このマークはパンチ穴、インクジェット、レーザなどを利用して形成すればよく、後工程の例えばエッチング工程で消えるようなマーキングでなければよい。
【0028】
また、この実施形態では、CSPテープ12の継ぎ目に設けられている場合には、このスプライステープに継ぎ目部分を新たなスタート位置としてスタートマーク72を形成するようにしている。図2に示すように、No.3ユニットの途中で不良多発領域が発生した場合には、その領域(図中A)を切断除去する。詳細を図4に示す。同図(1)は切断前、(2)は切断の後に接続した状態を示している。黒星印が欠陥パターンである。欠陥が多発している場合には、その領域をカットし、スプライステープにて接続する。このようなスプライス部76が発生した場合には、ここから再度スタートするようにスプライス部76の直後にスタートマーク72を自動的に形成させる。これによってNo.3領域は短くなり、電子データとしては存在しているが、この情報が最終工程でテープに欠陥としてマーキングされることはない。
【0029】
さらに、CSPテープ12上の印刷パターンそのものに、そのテープ上の印刷パターンユニットのスタートマークや情報管理データマークを設けるようにしてもよい。この場合は、配線パターンを印刷するときに、同時にマークを印刷してパターン内に取り込んでしまうようにする。このように構成すれば、CCDカメラ40の撮像範囲を拡大することなく直接画像情報として取り込むことができ、別途にセンサで取得するようなことは不要となる。
【0030】
このようなスタートマーク72や情報管理データマーク76をもつCSPテープ12を検査装置にて検査する場合、CCDカメラ40による撮影によって印刷パターンともにマーク情報を情報として取り込み、画像データならびにIDマークもコンピュータ42が入力する。コンピュータ42は、予めプログラムされた演算により入力された画像データを解析し、印刷パターンについて正常なパッケージパターンを読み取ったものか、欠陥のあるパッケージパターンを読み取ったものかを判断すると同時に、スタートマーク72からのパーフォレーション74のカウントデータを対応づけてメモリ上に記憶させておく。検査の途中で欠陥パターンが頻発する場合にはテープ12を部分的に切断して再接続するが、このとき同時にスタートマーク72をスプライス部74に形成させ、これを起点として同様に欠陥パターン検出とスタートマーク72からのパーフォレーション74のカウントデータを対応づけてメモリ上に記憶させておく。
【0031】
さらに、上述の異種の検査項目、例えば回路のオープン/ショート系のパターン検査、メッキ系の明るさ検査などがある場合、前述のスタートマーク72を起点として重ねて欠陥を検出した場合に、同期をとってマーキングデータを電子情報としてメモリ上に格納保持できる。
【0032】
このような欠陥検出工程が終了した後、後工程で例えばエッチング工程が存在していたとしても、検出欠陥データがコンピュータ42内に格納されており、テープ12自体には直接マーキングが施されていない。それ故、CSPテープ12に検査後の後工程があったとしても、検査データを消滅させるようなこともない。したがって、最終工程で、CSPテープ12に対し、コンピュータ42に格納されている欠陥検査データを読み出し、テープ12のスタートマーク72を起点として欠陥として検出された印刷パターンを特定することができる。したがって、欠陥検査で特定された印刷パターンと正確に同期させることができるため、出荷直前に個々の印刷パターンに対して良否判定マークを付すことができるものとなっている。
【0033】
このような方法では、スプライス部が存在しても、あるいは複数の検査工程が存在しても、さらには中間工程で欠陥検査を行っても、検出された欠陥パターンにマーク付ける際の同期を正確にとることができる。
【0034】
このようなことから、本実施形態に係る方法によれば、設定されたユニット毎に設定されているスタートマーク72を基準として印刷パターンの検査結果を特定することができるので、膨大な印刷パターンの個々の絶対座標データを持たせなくても欠陥パターンの位置特定が可能であり、スプライス部の存在があっても、また別の検査工程が存在しても、同一のデータに重ねて結果を乗せることができるため、リール単位の欠陥電子情報と実際のテープ不良個所との同期が可能となるとともに、電子情報を編集することで、複数の検査結果をマージして、最終工程でまとめてマークすることができる。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るパターン印刷テープの不良検出方法は、複数の印刷パターンを設けてなるテープを搬送しつつパターン検査をなすことにより不良印刷パターンを特定するマークをテープに付ける不良検出方法において、複数の印刷パターンを1ユニットとする各ユニット始端部にスタートマークを施しておき、不良検査直後に各スタートマークを起点として特定される不良箇所マーク情報を電子情報として保持することを複数の検査工程で実施し、その後の工程でテープと前記複数の検査結果を重ねた電子情報とを前記スタートマークを起点として同期をとってテープに不良個所特定マーキングを施す構成としたので、CSPテープの印刷パターンを検査する場合に、マークを消してしまうような工程の前の中間工程での検査が可能となり、また複数の検査結果を同一のデータ上に反映させ、まとめて最終工程でテープにマーキングを施すことができる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】欠陥検査装置の概略構成図である。
【図2】CSPテープにマーク設定するための説明図である。
【図3】CSPテープの平面図である。
【図4】CSPテープのスプライス部の説明図である。
【符号の説明】
12………CSPテープ、16………パンチユニット、
40………CCDカメラ、42………コンピュータ、70………印刷パターン、72………スタートマーク、74………印刷パターン、
76………管理情報データマーク

Claims (5)

  1. 複数の印刷パターンを設けてなるテープを搬送しつつパターン検査をなすことにより不良印刷パターンを特定するマークをテープに付ける不良検出方法において、
    複数の印刷パターンを1ユニットとする各ユニット始端部にスタートマークを施しておき、不良検査直後に各スタートマークを起点として特定される不良箇所マーク情報を電子情報として保持することを複数の検査工程で実施し、その後の工程でテープと前記複数の検査結果を重ねた電子情報とを前記スタートマークを起点として同期をとってテープに不良個所特定マーキングを施すことを特徴とするパターン印刷テープの不良検出方法。
  2. 前記スタートマークはテープ途中をカットして再接続したスプライス部の始端部にも形成することを特徴とする請求項1に記載のパターン印刷テープの不良検出方法。
  3. 前記スタートマーク以後の各ユニット領域にリールIDなどの管理情報マークを施してなることを特徴とする請求項1または2のいずれか1に記載のパターン印刷テープの不良検出方法。
  4. 前記各マークは数字、2進コード、バーコードまたはこれらの組み合わせ記号を穴明けによって設けたことを特徴とする請求項1または3のいずれか1に記載のパターン印刷テープの不良検出方法。
  5. テープ上のパターン印刷部分に、そのテープ上の印刷パターンに対応するマークを設けてなることを特徴とする請求項1または3のいずれか1に記載のパターン印刷テープの不良検出方法。
JP2000365089A 2000-11-30 2000-11-30 パターン印刷テープの不良検出方法 Expired - Fee Related JP4171864B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365089A JP4171864B2 (ja) 2000-11-30 2000-11-30 パターン印刷テープの不良検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000365089A JP4171864B2 (ja) 2000-11-30 2000-11-30 パターン印刷テープの不良検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002170907A JP2002170907A (ja) 2002-06-14
JP4171864B2 true JP4171864B2 (ja) 2008-10-29

Family

ID=18835921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000365089A Expired - Fee Related JP4171864B2 (ja) 2000-11-30 2000-11-30 パターン印刷テープの不良検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4171864B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007067272A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Nitto Denko Corp Tab用テープキャリアおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002170907A (ja) 2002-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101227298B1 (ko) 물질 웹에 결함을 자동 마킹하기 위한 장치 및 방법
JP4871234B2 (ja) 部品実装装置の異常検出方法及び装置
TWI322080B (ja)
JPH11224892A (ja) テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP4171864B2 (ja) パターン印刷テープの不良検出方法
JP2008068434A (ja) 印刷物検査装置、印刷物欠陥除去装置、印刷物検査方法、印刷物欠陥除去方法、印刷物検査システム
KR100729030B1 (ko) 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프 및 이 필름 캐리어테이프의 최종 불량 마킹 방법
JP6119188B2 (ja) 印刷物生産管理システム及び巻き替え機及びスリッター機
JP2000182061A (ja) 欠陥検査装置
JP4842793B2 (ja) Tcp試験装置及びtcp試験装置の段取方法
JP4138944B2 (ja) Tabテープ用検査機能付きパンチングマシン
KR20010055922A (ko) 반도체 패키지의 불량 표시 장치 및 방법
JP2005134284A (ja) 半導体装置用テープキャリアの外観検査方法および外観検査装置
JP4705813B2 (ja) Tabの検査装置
JP3663449B2 (ja) テープ状物の処理装置およびテープ状物の処理方法
JP2004153170A (ja) 電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法およびそのための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置
JP3801248B2 (ja) 部品実装装置
KR20090115567A (ko) 다열 인쇄회로기판의 열간 편차 대응형 리드 결함 검사방법 및 다열 인쇄회로기판의 광학 검사 장치
JPH0694323B2 (ja) 帯状体の自動検査装置
JP2006086281A (ja) プリント回路基板の製造方法および製造装置
JP2007116024A (ja) 電子部品実装用テープキャリアのレビュー装置
JP4118904B2 (ja) 部品実装装置
JP4359722B2 (ja) 搬送装置
JPH0337555A (ja) 帯状体の自動検査装置
JP2009276107A (ja) Tabハンドラー

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060131

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070604

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070801

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080722

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080729

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130822

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees