JP4706064B2 - Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 - Google Patents
Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4706064B2 JP4706064B2 JP2006025194A JP2006025194A JP4706064B2 JP 4706064 B2 JP4706064 B2 JP 4706064B2 JP 2006025194 A JP2006025194 A JP 2006025194A JP 2006025194 A JP2006025194 A JP 2006025194A JP 4706064 B2 JP4706064 B2 JP 4706064B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- foil
- inspection
- unit
- ovd
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
OVDを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、OVDが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査装置であって、再巻箔に対して光を照射する光源部と、光源部からの照射による透過光より得られる光情報を取り込むタイミングを指示するトリガ部と、光情報を取り込み、取り込んだ光情報を後工程に送信する情報収集部と、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部から構成されることを特徴とする。
また2値化処理結果、エッジ間測定値及び比較検査結果を検査条件にフィードバックし、必要情報を記憶することで常に最適な検査条件を維持する。
本発明におけるOVD箔検査装置は、搬送方向2へ搬送されている再巻箔1について箔押し状態を検査するために再巻箔1に対して光を照射する光源部3、その再巻箔1から得られる透過光4、再巻箔1のレジスタマークを読み取って光情報を撮像するタイミングを指示するトリガ部6、トリガ部6の信号により光情報を撮像する情報収集部5、撮像した画像を解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部7とで構成される。
給紙部13からグリッパ21により運搬される枚葉紙15及び検査箔開巻部18から送り出されるOVD箔は、箔押し機により同期しながら箔押し部に搬送され、刻印板16と圧胴板17で枚葉紙15の定位置にOVDが箔押しされて、枚葉紙15は排紙部14に排出、OVD箔はキャリアフィルムのみの状態となり再巻箔1として箔再巻取部19にて再び巻き取られる。
OVD箔において箔押し後キャリアフィルムのみとなった再巻箔に対して常に光を照射する。搬送される再巻箔のレジスタマークを検知し、箔抜けの光情報を撮像する(この際に箔押し位置を検出するためにレジスタマークの読取位置を基準とし、取込画像の画素を座標と想定し、開始点P0(A0,B0)より分岐点P1(A1,B1)、P2(A2,B2)、P3(A3,B3)を通過し、P0まで到達する長方形を取込画像に描画する(図8参照)。これを以下「基準枠Z」という)。撮像した画像に対して2値化処理し、基準値と比較して箔押しが確実に行われたかどうか判定し箔残り検査する。同時に箔押し位置制御についても行うが図6(d)、図7(d)のように、取込画像に対して搬送位置を測定するための基準枠Zを設定し、幅方向は箔抜けと再巻箔のエッジ距離X1、搬送方向は箔抜けと基準枠のエッジ距離Y1を測定し、それぞれの基準距離X0、Y0と比較することで箔押し位置を検査する。比較検査結果より箔押し状態を判定して正常判定であれば再び検査に復帰し、不良判定なら箔押し機を停止させる。
部分蒸着箔は図5(a)のように、蒸着部となる金属層が蒸着された図柄模様部Aと、レジスタマークB及び非蒸着部となるキャリアフィルムD1から構成されており、刻印がCのような楕円形状であった場合に箔押しするとCの範囲内が基材に転移することとなる。
部分蒸着箔は図5(b)のように、蒸着部となる金属層が蒸着された図柄模様部Aと、レジスタマークB、キャリアフィルムD2から構成されており、刻印がCのような楕円形状であった場合に箔押しするとCの範囲内が基材に転移することとなる。
2 搬送方向
3 光源
4 透過光
5 情報収集部
6 トリガ部
7 情報解析部
7a 記憶部
7b 演算部
7c 計数部
7d 判定部
7e 制御部
8 用紙検知部
9 操作部
10 表示部
11 データ集積部
12 警告部
13 給紙部
14 排紙部
15 基材(枚葉紙)
16 刻印板
17 圧胴板
18 箔開巻部
19 箔巻取部
20 箔搬送部
21 グリッパ
A 図柄模様部(蒸着部)
B レジスタマーク
C 箔押し部
D1 キャリアフィルム(非蒸着部)
D2 キャリアフィルム(蒸着部)
E 箔残り
F 検査範囲
X0 基準距離(幅方向)
X1 測定距離(幅方向)
Y0 基準距離(搬送方向)
Y1 測定距離(搬送方向)
Z 基準枠
Claims (8)
- OVDを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、前記OVDが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査装置であって、
前記再巻箔に対して光を照射する光源部と、
前記光源部からの照射による透過光より得られる光情報を取り込むタイミングを指示するトリガ部と、
前記光情報を取り込み、取り込んだ前記光情報を後工程に送信する情報収集部と、
前記光情報に対して2値化処理及びエッジ間測定の画像としての解析を行い、前記2値化処理結果及び前記エッジ間測定結果とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部から構成されることを特徴とするOVD箔検査装置。 - 前記情報解析部は、前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存する記憶部と、
前記情報収集部から送信される前記光情報から得られる画像に対しての2値化処理及びエッジ間測定を行い、前記2値化処理結果と前記エッジ間測定値と前記比較検査結果とを前記記憶部へフィードバックする演算部と、
前記トリガ部の信号によって前記OVDの計数を行う計数部と、
前記演算部の前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、前記比較検査結果より良否判定を行う判定部と、
前記比較検査のための指示信号と前記比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御する制御部から成る請求項1記載のOVD箔検査装置。 - 前記演算部における前記検査条件の設定を行う操作部を備える請求項2記載のOVD箔検査装置。
- 製品用紙とそれ以外の用紙(機械調整用紙など)の判別及び用紙通過の有無検知を行う用紙検知部及び/又は前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と前記計数部での計数結果と前記判定部での判定結果を保存するデータ集積部を備える請求項1乃至3のいずれか1項に記載のOVD箔検査装置。
- 前記情報解析部において、前記OVDが用紙に確実に箔押しされているかどうか検査した前記判定結果が不良であると判定された際にその旨を作業者に報知する警告部を備える請求項1乃至4のいずれか1項に記載のOVD箔検査装置。
- OVDを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、前記OVDが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査方法であって、
前記再巻箔に対して光を照射し、そこで得られる光情報を取り込むタイミングを指示し、
前記タイミングに基づき前記光情報を取り込み、
前記光情報に対して2値化処理及びエッジ間測定の画像としての解析を行い、前記2値化処理結果及びエッジ間測定結果と予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定するOVD箔検査方法。 - 前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存し、
前記光情報から得られる画像に対しての2値化処理及びエッジ間の測定を行い、前記2値化処理結果と前記エッジ間測定値と前記比較検査結果とを前記記憶部へフィードバックし、
前記OVDの個数の計数を行い、
前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、
前記比較検査結果により良否の判定を行い、
前記比較検査のための指示信号と前記比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御する請求項6記載のOVD箔検査方法。 - 前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査及び前記検査後に次の検査のためにフィードバックする検査条件を設定することが可能な請求項6又は7記載のOVD箔検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006025194A JP4706064B2 (ja) | 2006-02-02 | 2006-02-02 | Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006025194A JP4706064B2 (ja) | 2006-02-02 | 2006-02-02 | Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007205890A JP2007205890A (ja) | 2007-08-16 |
JP4706064B2 true JP4706064B2 (ja) | 2011-06-22 |
Family
ID=38485482
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006025194A Expired - Fee Related JP4706064B2 (ja) | 2006-02-02 | 2006-02-02 | Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4706064B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4924286B2 (ja) * | 2007-08-23 | 2012-04-25 | 大同特殊鋼株式会社 | 外観検査装置及び外観検査方法 |
CN103175847B (zh) * | 2013-03-19 | 2016-08-10 | 哈尔滨理工大学 | 光栅表面缺陷检测装置 |
JP6295765B2 (ja) * | 2014-03-25 | 2018-03-20 | 大日本印刷株式会社 | 箔転写不良検査システム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004035014A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-02-05 | National Printing Bureau | 箔押し機 |
-
2006
- 2006-02-02 JP JP2006025194A patent/JP4706064B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004035014A (ja) * | 2002-07-01 | 2004-02-05 | National Printing Bureau | 箔押し機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007205890A (ja) | 2007-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4753181B2 (ja) | Ovd検査方法及び検査装置 | |
JP5471818B2 (ja) | 帯状材料の周期性欠陥検査方法および装置 | |
US20120279410A1 (en) | Method for determining setting errors in a sheet-fed printing press | |
JP4706064B2 (ja) | Ovd箔検査装置及びovd箔検査方法 | |
JP5396660B2 (ja) | 印刷物の品質検査装置 | |
JP2007163340A (ja) | 板長さ測定装置及び板長さ測定方法 | |
JP4437188B2 (ja) | 断裁システム及び断裁位置検出方法 | |
US8324558B2 (en) | Device and method for counting and detecting flat products | |
JPH09269296A (ja) | シートのコーティング欠陥検査装置 | |
JP2007333732A (ja) | 表面検査システム及び表面検査システムの検査性能の診断方法 | |
JP2007333731A (ja) | 表面検査システム及び表面検査システムの検査性能の診断方法 | |
JPH11319943A (ja) | 欠陥マーキング方法及び装置並びに欠陥マーキングしたコイルの作業方法 | |
US7184584B2 (en) | Method for qualitatively evaluating material | |
JP5702990B2 (ja) | 板材検査方法及び板材検査装置 | |
JP7411441B2 (ja) | 複合シートの製造方法 | |
JP7115919B2 (ja) | 磁気検出装置及び磁気検出方法 | |
JP2011247805A (ja) | 箔押し検査機 | |
JP2015081838A (ja) | 凹み缶・座屈缶検査装置 | |
JP2009270888A (ja) | 走行シートの凹凸不良検査装置 | |
JP2006277590A (ja) | Ovd画像検査方法及び画像検査装置並びに検査ビューア | |
JP2013134136A (ja) | 表面欠陥検査システム | |
WO2021166729A1 (ja) | 複合シートの製造方法及び製造装置 | |
JPS6072730A (ja) | 印刷物の検査方法及びその装置 | |
JP3870313B2 (ja) | 欠陥マーキングされたコイルの作業方法 | |
JP2005106498A (ja) | 欠陥除去方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080728 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110124 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110223 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110223 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |