JP6294633B2 - リソグラフィ装置、決定方法及び物品の製造方法 - Google Patents
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Claims (14)
- パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持する保持面を含むステージと、
前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、
前記保持面における前記基板の保持状態に関する情報を取得する取得部と、
前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する処理を行う処理部と、を有し、
前記処理部は、前記ステージが前記保持面上における複数の位置のそれぞれで前記基板を保持したときに前記取得部によって取得される情報に基づいて、前記基板が平坦な状態で前記保持面に保持されるように、前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す前記搬送位置を決定することを特徴とするリソグラフィ装置。 - パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持する保持面を含むステージと、
前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、
前記保持面を介して前記基板を真空吸着する真空ラインと、
前記基板を真空吸着したときの前記真空ラインの内部の圧力値を検出する圧力検出部と、
前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する処理を行う処理部と、を有し、
前記処理部は、前記ステージが前記保持面上における複数の位置のそれぞれで前記基板を保持したときに前記圧力検出部によって検出される圧力値が規定値以下となる位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記複数の位置は、前記搬送位置の候補位置として前記保持面の中心から第1方向及び前記第1方向とは反対方向の第2方向に沿って配列され、
前記処理部は、前記第1方向に沿って配列された候補位置のうち、前記圧力検出部によって検出される圧力値が前記規定値以下となる1つの第1候補位置を求め、前記第2方向に沿って配列された候補位置のうち、前記圧力検出部によって検出される圧力値が前記規定値以下となる1つの第2候補位置を求め、前記第1候補位置と前記第2候補位置との間の位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とする請求項2に記載のリソグラフィ装置。 - 前記第1候補位置及び前記第2候補位置は、前記圧力検出部によって検出される圧力値が前記規定値以下となる候補位置のうち、前記保持面の中心から最も遠い位置の候補位置であることを特徴とする請求項3に記載のリソグラフィ装置。
- 前記処理部は、前記第1候補位置と前記第2候補位置との間の中間の位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とする請求項3又は4に記載のリソグラフィ装置。
- パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持する保持面を含むステージと、
前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、
前記基板を前記保持面で保持したときの前記基板の高さを検出する高さ検出部と、
前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する処理を行う処理部と、を有し、
前記処理部は、前記基板搬送系が前記保持面上における複数の位置のそれぞれで前記基板を前記ステージに渡したときに前記高さ検出部によって検出される高さが規定範囲内となる位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記高さ検出部は、前記基板を前記保持面で吸着したときの前記基板の複数箇所の高さを検出し、
前記処理部は、前記複数の位置のうち、前記高さ検出部によって検出される前記複数箇所の高さが前記規定範囲内となる箇所の数が最も多い位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とする請求項6に記載のリソグラフィ装置。 - パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持するステージと、
前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、
前記ステージにおける前記基板の保持状態に関する情報を取得する取得部と、
前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記ステージ上における搬送位置を決定する処理を行う処理部と、を有し、
前記処理部は、前記ステージ上における複数の位置のそれぞれで前記ステージが前記基板を保持したときに前記取得部によって取得される情報に基づいて、前記基板が平坦な状態で前記ステージに保持されるように、前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す前記搬送位置を決定することを特徴とするリソグラフィ装置。 - パターンを基板に形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持するステージと、
前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、
前記ステージを介して前記基板を真空吸着する真空ラインと、
前記基板を真空吸着したときの前記真空ラインの内部の圧力値を検出する圧力検出部と、
前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記ステージ上における搬送位置を決定する処理を行う処理部と、を有し、
前記処理部は、前記ステージが前記ステージ上における複数の位置のそれぞれで前記基板を保持したときに前記圧力検出部によって検出される圧力値が規定値以下となる位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記取得部は、前記基板を前記ステージで保持したときの前記基板の高さを前記情報として検出する高さ検出部を含み、
前記処理部は、前記複数の位置のそれぞれで前記基板を前記ステージに渡したときに前記高さ検出部によって検出される高さが規定範囲内となる位置を、前記搬送位置として決定することを特徴とする請求項8に記載のリソグラフィ装置。 - 基板を保持する保持面を含むステージと、前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系とを有するリソグラフィ装置において、前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する決定方法であって、
前記ステージが前記保持面上における複数の位置のそれぞれで前記基板を保持したときに、前記保持面における前記基板の保持状態に関する情報を取得する第1ステップと、
前記複数の位置のそれぞれについて前記第1ステップで取得された情報に基づいて、前記基板が平坦な状態で前記保持面に保持されるように、前記搬送位置を決定する第2ステップと、を有することを特徴とする決定方法。 - 基板を保持する保持面を含むステージと、前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系と、前記保持面を介して前記基板を真空吸着する真空ラインとを有するリソグラフィ装置において、前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する決定方法であって、
前記ステージが前記保持面上における複数の位置のそれぞれで保持したときに、前記基板を真空吸着したときの前記真空ラインの内部の圧力値を検出する第1ステップと、
前記複数の位置のそれぞれについて前記第1ステップで検出された圧力値が規定値以下となる位置を、前記搬送位置として決定する第2ステップと、を有することを特徴とする決定方法。 - 基板を保持する保持面を含むステージと、前記基板を前記ステージに渡す基板搬送系とを有するリソグラフィ装置において、前記基板搬送系が前記基板を前記ステージに渡す際の前記保持面上における搬送位置を決定する決定方法であって、
前記基板搬送系が前記保持面上における複数の位置のぞれぞれで前記基板を渡したときに、前記基板を前記保持面で保持したときの前記基板の高さを検出する第1ステップと、
前記複数の位置のそれぞれについて前記第1ステップで検出された高さが規定範囲内となる位置を、前記搬送位置として決定する第2ステップと、を有することを特徴とする決定方法。 - 請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載のリソグラフィ装置を用いてパターンを基板に形成する工程と、
前記工程で前記パターンを形成された前記基板を処理する工程と、
を有することを特徴とする物品の製造方法。
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