JP6289980B2 - 加工方法 - Google Patents
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Description
位置ずれ検出ステップは、以下の各工程を実施することにより、撮像手段13で撮像する座標位置とレーザハイト測定手段14で高さ位置を測定する座標位置とのずれを検出する。
(1)準備工程
まず、図2に示す検出用片83を準備する。この検出用片83は、円環状のフレーム81の開口部に貼着されたテープ82に貼着されることにより、フレーム81に固定されている。検出用片83は、例えば正方形板状であり、第一方向(±x方向)に平行な辺と、第一方向に直交する第二方向(±y方向)に平行な辺とを有している。第一方向の両端には第一段差部830a、第二段差部830bがそれぞれ形成され、第二方向の両端には第一段差部831a、第二段差部831bがそれぞれ形成されている。なお、図2に示す検出用片83は一例であり、正方形板状に限らず、例えば長方形板状、菱形板状、円形板状など他の形状であってもよい。また、第一方向及び第二方向に高低差があるものであればよく、例えば第一方向及び第二方向に溝が形成された板状物を検出用片としてもよい。さらに、加工対象の被加工物の第一方向及び第二方向に高低差がある場合は、被加工物自体を検出用片としてもよい。
次に、まず、検出用片83を保持手段11の保持面111に載置して保持手段11で保持する。そして、図1に示した撮像手段13によって検出用片83を上方(+Z側)から撮影する。撮像手段13は、一回の撮影で検出用片83全体を撮影する構成でもよいし、一回の撮影で狭い範囲を撮影し、X方向移動手段16及びY方向移動手段17によって保持手段11と撮像手段13とをXY平面内で相対的に移動させることにより、検出用片83全体を走査して撮影する構成でもよい。
また、基準座標は、検出用片83の中心ではなく、任意の位置とすることができる。例えば、互いに平行な一組のエッジからの距離の比がa:bで、互いに平行なもう一組のエッジからの距離との比がc:dである点(a,b,c及びdは、正の実数。)を基準点としてもよい。その場合も、検出用片83を保持手段11で保持する向きは、斜めであってもよい。あるいは、第一の方向に延びるエッジからの距離がp、第一の方向と異なる第二の方向に延びるエッジからの距離がqである点(p及びqは、各エッジの長さよりも小さい正の実数。)を基準点としてもよい。その場合、例えば、第一の方向が±X方向と平行で、かつ、第二の方向が±Y方向と平行になる向きに、保持手段11で検出用片83を保持すればよい。
次に、撮像ステップで算出した中心35の座標とオフセット量の理論値とに基づいて、X方向移動手段16及びY方向移動手段17によって保持手段11とレーザハイト測定手段14とをXY平面内で相対的に移動させ、検出用片83の中心835(基準座標)にレーザハイト測定手段14の測定位置を位置づける。しかし、実際のオフセット量と理論値との間にずれがあるので、図4に示すように、レーザハイト測定手段14の測定位置45は、検出用片83の中心835からずれている。このときの測定位置45を、実座標位置と呼ぶ。
まず、実際のオフセット量と理論値との間の±X方向におけるずれを算出する。図5に示すように、レーザハイト測定手段14を、検出用片83の上面の高さ位置を測定しながら、レーザハイト測定手段位置づけ工程で位置づけた実座標位置から、X方向移動手段16によって保持手段11に対して相対的に+X方向に移動させ、レーザハイト測定手段14の測定位置45を検出用片83上で+X方向に移動させる。そして、レーザハイト測定手段14が、測定した高さが急激に変化する第一段差部830aの位置41を検出する。
図7に示すウェーハ90は、加工対象の被加工物の一例であり、表面91におけるストリート92によって区画された領域に複数のデバイス93が形成されている。例えば、このウェーハ90のストリート92に沿って所定深さの溝を形成する場合は、図1に示した切削ブレード20による切削時に、表面91の高さ位置を基準として切削ブレード20の切込み深さを制御する必要がある。しかしながら、表面91の高さ位置にはバラツキがあるため、ストリート92に所定深さの溝を形成するには、ストリート92に沿って表面91の高さを検出する必要がある。
領域検出ステップで検出された測定位置座標に、位置ずれ検出ステップで検出した撮像手段13が撮影する座標位置とレーザハイト測定手段14が高さ位置を測定する座標位置との間のずれを加味した位置にレーザハイト測定手段14を位置づけて、ストリート91に沿って表面91の高さを測定する。
次に、ストリート92に関して測定された高さ位置を基準として、加工手段12によってストリート92に沿って切削溝を形成する。なお、図1に示した加工手段12は、切削ブレード20による切削を行う切削手段であるが、被加工物の上面の高さを基準として被加工物を加工するものであれば、切削手段に限らず、例えばレーザビームの照射による加工を行うレーザ加工手段や、研削砥石を接触させることにより研削を行う研削手段などであってもよい。
11 保持手段、111 保持面、
12 加工手段、20 切削ブレード、21 スピンドル、
13 撮像手段、14 レーザハイト測定手段、
15 X方向移動手段,16 Y方向移動手段,17 Z方向移動手段、
51,61,71 モータ、62,72 ボールねじ、53,63,73 移動部、
54,64,74 ガイド、
30 画像、31,32,33,34 エッジ、35,835 中心、
41,42,43,44 位置、45 測定位置、
46,47 中間点、48,49 ずれ、
81 フレーム、82 テープ、
83 検出用片、830a,831a 第一段差部、830b,831b 第二段差部
90 ウェーハ、91 表面、92,92a、92b ストリート
93 デバイス、94 裏面、95 テープ 96a,96b 高さ位置分布情報
97 切削溝
Claims (1)
- 被加工物を加工する加工手段と、被加工物を撮像する撮像手段と、被加工物の高さ位置を測定する該撮像手段に対して所定の位置関係を有して配設されたレーザハイト測定手段と、を備えた加工装置を用いて被加工物を加工する加工方法であって、
撮像手段が撮像する座標位置と、レーザハイト測定手段が高さ位置を測定する座標位置との間のずれを検出する位置ずれ検出ステップと、
被加工物を該撮像手段で撮像し、撮像した画像に基づいて該レーザハイト測定手段が上面高さ位置を測定すべき位置の座標を測定位置座標として検出する領域検出ステップと、
該領域検出ステップで検出された該測定位置座標に該位置ずれ検出ステップで検出されたずれを加味した位置に該レーザハイト測定手段を位置づけて被加工物の上面高さ位置を測定する上面高さ位置測定ステップと、
該上面高さ位置測定ステップで測定された上面高さ位置を基準として被加工物に該加工手段で加工を施す加工ステップと、を備え、
該位置ずれ検出ステップは、
第一方向において第一段差部を有するとともに該第一方向に直交する第二方向において第二段差部を有する検出用片を準備する工程と、
準備した該検出用片を該撮像手段で撮像し該検出用片上の基準座標に該撮像手段を位置づける撮像手段位置づけ工程と、
該撮像手段位置づけ工程を実施した後、該撮像手段と所定の位置関係を有した該レーザハイト測定手段を該基準座標に位置づけるレーザハイト測定手段位置づけ工程と、
該レーザハイト測定手段位置づけ工程で該レーザハイト測定手段が実際に位置づけられた実座標位置から、該レーザハイト測定手段で該検出用片の上面高さ位置を検出しつつ該第一方向と該第二方向とにそれぞれ該レーザハイト測定手段を該検出用片に対して相対移動させ該第一段差部と該第二段差部とを検出して該実座標位置から該第一段差部と該第二段差部とまでの距離をそれぞれ検出することで該基準座標と該実座標との座標値のずれを算出する算出工程と、を含み、
該上面高さ位置測定ステップでは、該算出工程で算出された該ずれを加味した位置に該レーザハイト測定手段を位置づける、加工方法。
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