JP6280770B2 - 測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、例えば照明光を標本に照射し、標本から反射および／または透過した光を受光して標本の観察を行う顕微鏡に用いられる測定装置に関するものである。

従来、医学や生物学等の分野では、細胞等の観察に、標本を照明して観察する顕微鏡が用いられている。また、工業分野においても、金属組織等の品質管理や、新素材の研究開発、電子デバイスや磁気ヘッドの検査等、種々の用途で顕微鏡が利用されている。顕微鏡による標本の観察としては、目視による観察の他、ＣＣＤイメージセンサまたはＣＭＯＳイメージセンサ等の撮像素子を用いて標本像を撮像し、撮像した画像や、光強度等の数値のモニタ表示による観察が知られている。

一般に、顕微鏡は、土台をなす本体部と、接眼レンズが取り付けられる鏡筒を有する観察部と、を備える。また、本体部には、例えば標本を載置するステージ、倍率の異なる複数の対物レンズを標本に対して交換可能に保持するレボルバ、落射照明光を出射する第１光源、透過照明光を出射する第２光源などが取り付けられる。

ここで、第１光源から出射される落射照明光を用いる場合、対物レンズを介して標本に照明光を照射し、この照明光が標本を透過もしくは標本で反射した光、または照明光によって標本が励起されて生じた蛍光または発光を、対物レンズが取り込んで観察光を取得し、この観察光を結像することで標本像を形成する。

ところで、励起光として照明光を標本に照射して、標本からの蛍光を観察する場合、励起光の強度によって、その蛍光の強度も変化する。したがって、励起光の強度が一定であれば、蛍光の強度も一定にすることができ、蛍光の強度測定時の条件の再現性をとる場合に有効である。

このような励起光の強度を制御する技術として、光源、または光源と標本との間に設けられる照射光学系の位置を調整して、照明光（励起光）の強度を制御する技術が開示されている（例えば、特許文献１を参照）。

また、標本の近傍に光を受光する受光部を設けて、標本近傍で照射される光の強度を測定する技術が開示されている（例えば、特許文献２を参照）。

また、光源と一体的に配置され、光源から出射された励起光の強度を測定する第１の光強度検出器と、観測位置において励起光の強度を測定する第２の光強度検出器と、を備え、第１および第２の光強度検出器によって測定された強度をもとに励起光の強度を制御する技術が開示されている（例えば、特許文献３を参照）。

また、光源から出射された励起光のうち、ステージ上の観察位置を通過して、コンデンサレンズによって集光された光を検出器によって検出し、この検出結果をもとに励起光の強度を制御する技術が開示されている（例えば、特許文献４を参照）。

特開２００３−１２１７５１号公報 特開２００５−３５２１４６号公報 特開２００５−９１７０１号公報 特開平１１−２５８５１２号公報

しかしながら、特許文献１〜４が開示する技術は、励起光の強度を示す数値が、計測値から得られる数値そのものであり、単位面積あたりの励起光の強度が考慮されたものではない。このため、標本に対してどのくらいの強度の励起光が照射されているかを把握することができず、例えば条件を同一にして観察（測定）する場合において、励起光の強度が、設定された強度になっていないおそれがあった。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、標本に照射する光の強度（放射照度）を正確に把握可能な測定装置を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる測定装置は、少なくとも観察対象の標本を保持する保持手段と、前記標本に照射する照明光を出射する照明手段と、前記保持手段に配設自在に設けられ、前記標本の光照射面における前記照明光の強度を検出する検出手段と、前記照明手段の光路上に設けられ、前記照明光が通過し、前記光照射面に前記照明光の像が投影される開口が形成され、該開口の像により前記光照射面における視野を絞る視野絞りと、前記視野絞りの前記開口の面積および前記検出手段によって検出された前記照明光の強度をもとに、前記光照射面における単位面積あたりの前記照明光の強度を演算する演算部と、を備え、前記照明手段は、前記照明光を出射する光源と、光学系を介して前記照明光を所定方向に導く投光管と、を有し、前記視野絞りは、前記投光管の視野絞り位置であり、かつ前記保持手段における前記標本の載置面と共役な位置に設けられ、前記投光管の光路に対して挿脱自在であることを特徴とする。

また、本発明にかかる測定装置は、上記の発明において、少なくとも前記標本からの観察光を集光する対物レンズを交換可能に保持するとともに、該対物レンズの光軸を、前記標本を通過する光路上に配置する対物レンズ保持手段を備え、前記演算部は、前記開口の面積、前記検出手段によって検出された前記照明光の強度、前記照明手段の焦点距離および前記対物レンズの焦点距離を用いて、前記光照射面における単位面積あたりの前記照明光の強度を演算することを特徴とする。

また、本発明にかかる測定装置は、上記の発明において、前記視野絞りは、前記開口の面積が変化することを特徴とする。

また、本発明にかかる測定装置は、上記の発明において、前記照明手段が出射した前記照明光のうち、所定の波長の光を反射して前記標本へ照射するとともに、該標本からの観察光に応じた波長の光を透過させる照明光学系と、前記標本からの観察光を観察像として形成する観察光学系と、を備え、前記標本は、該標本を収容する収容容器に収容され、前記検出手段は、前記標本に照射される前記所定の波長の光を受光する受光部を有し、前記保持手段は、前記収容容器および／または前記検出手段を保持した状態において、前記収容容器に収容された前記標本における前記光照射面の位置と、前記受光部の受光面の位置とをそれぞれ位置決めする位置決め手段を有することを特徴とする。

また、本発明にかかる測定装置は、上記の発明において、前記照明光の強度の測定条件を取得する取得部と、前記検出手段が検出した前記照明光の強度に基づき計測値を算出する算出部と、前記取得した測定条件に前記演算部が演算した測定値を付加して測定結果として記憶する記憶部と、を備え、前記演算部は、前記算出部が算出した計測値を、前記取得した測定条件を用いて演算することにより、前記照明光の強度の測定値を演算することを特徴とする。

また、本発明にかかる測定装置は、上記の発明において、前記測定条件は、光学系の光学特性を含み、前記演算部は、前記光学特性に基づき、前記算出部が算出した計測値を補正することを特徴とする。

本発明によれば、標本に照射する光の強度（放射照度）を正確に把握できるという効果を奏する。

図１は、本発明の実施の形態１にかかる顕微鏡システムの全体構成を模式的に示す側面図である。 図２は、本発明の実施の形態１の変形例にかかる顕微鏡システムの全体構成を模式的に示す側面図である。 図３は、本発明の実施の形態１の変形例にかかる顕微鏡システムの要部の構成を模式的に示す側面図である。 図４は、本発明の実施の形態２にかかる顕微鏡システムの全体構成を模式的に示す側面図である。 図５は、本発明の実施の形態２にかかる表示装置が表示する画像の一例を模式的に示す図である。 図６は、本発明の実施の形態２にかかる顕微鏡における像の面積の取得を説明する図である。 図７は、本発明の実施の形態２にかかる顕微鏡における像の面積の取得を説明する図である。 図８は、本発明の実施の形態３にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図９は、本発明の実施の形態３にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１０は、本発明の実施の形態３の変形例１にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１１は、本発明の実施の形態３の変形例１にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１２は、本発明の実施の形態３の変形例２にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１３は、本発明の実施の形態３の変形例２にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１４は、本発明の実施の形態４にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１５は、本発明の実施の形態４にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１６は、本発明の実施の形態４の変形例にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１７は、本発明の実施の形態５にかかるステージの構成を模式的に示す部分断面図である。 図１８は、本発明の実施の形態５にかかるステージの構成を模式的に示す斜視図である。 図１９は、本発明の実施の形態５の変形例にかかるステージの要部の構成を模式的に示す斜視図である。 図２０は、本発明の実施の形態５の変形例にかかるステージの要部の構成を模式的に示す斜視図である。 図２１は、本発明の実施の形態６にかかる顕微鏡システムの全体構成を模式的に示す側面図である。 図２２は、本発明の実施の形態６にかかる顕微鏡システムの機能を示す機能ブロック図である。 図２３は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置が実行する測定処理を表すフローチャートである。 図２４は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置が実行する設定処理を表すフローチャートである。 図２５は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置が実行する自動調整処理を表すフローチャートである。

以下、本発明を実施するための形態（以下、「実施の形態」という）を図面とともに詳細に説明する。なお、以下の実施の形態により本発明が限定されるものではない。また、以下の説明において、各図は本発明の内容を理解でき得る程度に形状、大きさ、および位置関係を概略的に示してあるに過ぎず、したがって、本発明は各図で例示された形状、大きさ、および位置関係のみに限定されるものではない。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１にかかる顕微鏡システム４００の全体構成を模式的に示す側面図である。顕微鏡システム４００は、例えば、顕微鏡１、処理装置４０、表示装置５０で構成される。同図に示す顕微鏡１は、土台をなす本体部２と、本体部２の上面に取り付けられ、少なくとも標本Ｓを載置するステージ３（保持手段）と、本体部２の上方に位置し、ステージ３に載置された標本Ｓに対して透過照明を照射する透過照明部４と、を備える。標本Ｓは、例えばディッシュ、スライドガラスまたはビーカーなどによって保持されている。また、標本Ｓは、生物組織切片などの生体試料、生体試料から分離された細胞、セルラインなどの培養細胞、生体試料から分離された細胞の培養物、および培養細胞の培養物などが挙げられる。標本Ｓは、蛍光色素により蛍光標識されており、励起光が標本Ｓに照射されることにより、標識された蛍光色素が励起されて蛍光を発する。

本体部２は、ステージ３および透過照明部４を支持する筐体部２ａと、筐体部２ａの側面のうち、接眼レンズが設けられて顕微鏡１のユーザと対向する側面である前面側（図１の右側面側）に設けられる鏡筒部２ｂと、を有する。

筐体部２ａは、少なくともステージ３上の標本Ｓからの観察光を取り込む対物レンズ５と、対物レンズ５を交換可能に保持するレボルバ６（対物レンズ保持手段）と、レボルバ６を保持するとともに、光路Ｎ１上に配置された対物レンズ５の光軸に沿って上下動可能に設けられるレボルバ保持部７と、レボルバ保持部７を上下動させることによってレボルバ６に取り付けられた対物レンズ５の焦準操作を手動、あるいは電動で行う焦準操作部８と、を有する。

ここで、本実施の形態１では、レボルバ６には、対物レンズ５として、例えば、１０倍、２０倍、５０倍の比較的倍率の高い対物レンズや、２倍、５倍の低倍率である対物レンズなどが取り付けられている。

また、筐体部２ａの背面側（図１の左側面側）には、落射照明光を発生する光源９ａを有する第１ランプハウス９が取り付けられる。筐体部２ａは、光軸が標本Ｓを通過する対物レンズ５を介して入射してくる標本Ｓの反射光もしくは透過光または第１ランプハウス９から出射された落射照明光の光路を切り換える蛍光用の落射光学系１０（照明光学系）と、落射光学系１０を保持するミラーユニット１１と、特性が異なる落射光学系１０をそれぞれ保持するミラーユニット１１を複数収容可能なミラーカセット１２と、が設けられている。ミラーカセット１２において、各ミラーユニット１１は、回転可能に配設され、この回転動作によって所望のミラーユニット１１を光路Ｎ１上に配置する。

第１ランプハウス９は、光を所定方向に導く投光管９ｂを介して光源９ａからの光をミラーユニット１１に入射する。投光管９ｂには、投光管９ｂの視野絞り位置（ステージ３の標本載置面と共役な位置）に設けられ、円形の開口を有する絞り孔９０ａが形成された計測用絞り９０（視野絞り）と、計測用絞り９０と光源９ａ側の端部との間に設けられ、光源９ａからの光の光量を調節する複数の調光フィルタ９１ａを有する調光ユニット９１と、投光管９ｂの第１ランプハウス９と異なる側の端部に設けられ、計測用絞り９０の絞り孔９０ａを通過した光を集光するレンズ９２と、が設けられている。調光ユニット９１は、後述する制御部３０の制御のもと、複数の調光フィルタ９１ａのうち、いずれかの調光フィルタ９１ａを投光管９ｂ内に配置することによって、調光制御を行う。なお、本実施の形態では、投光管９ｂに一つのレンズ９２のみを配設して光学系をなすものとして説明するが、複数のレンズからなる光学系を形成するものであってもよい。

落射光学系１０は、落射照明光（励起光）として所定の波長の光のみを透過する励起フィルタ１０ａと、励起光に応じた波長の光を反射して標本Ｓへ照射するとともに、標本Ｓからの観察光に応じた波長の光を透過するダイクロイックミラー１０ｂと、ダイクロイックミラー１０ｂを透過した観察光のうち所定の蛍光成分のみを透過する吸収フィルタ１０ｃと、を有する。

また、筐体部２ａは、ミラーユニット１１を透過した標本Ｓからの観察光（蛍光）を結像する結像レンズ１３と、結像レンズ１３が結像した光のうち、一部の光を透過するとともに、残りの光を折り曲げて分岐するハーフミラー１４と、ハーフミラー１４を透過した光を反射するミラー１５と、ミラー１５が反射した光をリレーするリレーレンズ１６と、を有する。結像レンズ１３、ハーフミラー１４、ミラー１５およびリレーレンズ１６は、観察像を形成する観察光学系を構成する。

ハーフミラー１４は、入射した光の一部を、例えば光路Ｎ１と直交する方向に光を折り曲げる。ハーフミラー１４によって折り曲げられた光は、筐体部２ａに接続され、ＣＣＤイメージセンサや、ＣＭＯＳイメージセンサからなる画像取得部（図示せず）に取り込まれる。これにより、対物レンズ５が取り込んだ標本像を画像化し、この画像に応じた画像データとして記憶することができる。

また、筐体部２ａには、顕微鏡１全体の動作を統括的に制御する制御部３０が設けられている。制御部３０は、顕微鏡１の本体部２の内部に設置されていてもよいし、顕微鏡１の本体部２の外部に別途設置され、信号ケーブルなどを介して顕微鏡１の本体部２と電気的に接続されていてもよい。

鏡筒部２ｂは、リレーレンズ１６を通過した光を結像する結像レンズ１７と、結像レンズ１７を通過した光の光路を変更するプリズム１８と、プリズム１８によって光路変更された光を集光する接眼レンズ１９と、を有する。

ステージ３は、例えば板状をなす第１部材、第２部材および第３部材が順に積層されてなる。ステージ３において、例えば、第３部材を基準（固定）とし、ステージ操作部３００によって第１部材および第２部材を第３部材の板面を平面とする面上を移動させる。このとき、標本Ｓは第１部材に載置され、第１部材および第２部材は、主面に平行な平面上で互いに直交する方向に移動する。また、第１〜第３部材には、筐体部２ａに取り付けられた際に、光路Ｎ１を含む開口が形成されている。なお、第１および第２部材に形成される開口は、第１および第２部材の移動に関わらず光路Ｎ１が含まれるような大きさに形成されている。また、ステージ操作部３００は、例えば第１および第２部材の移動量をそれぞれ入力可能なダイヤルなどにより構成される。

透過照明部４は、本体部２に取り付けられて上方へ延びる透過照明支柱２０と、透過照明支柱２０の上端から透過照明支柱２０が延びる方向と直交する方向に延びるアーム２１と、透過照明支柱２０の上端付近でアーム２１が延びる側と反対側に設けられ、透過照明光を出射する光源２２ａを有する第２ランプハウス２２と、第２ランプハウス２２から出射された透過照明光を集光して標本Ｓに結像させるコンデンサレンズ２３と、透過照明支柱２０の略中央部に取り付けられてコンデンサレンズ２３を着脱可能に保持するコンデンサホルダ２４と、透過照明支柱２０の側面に設けられてコンデンサホルダ２４を上下動させることによってコンデンサレンズ２３の焦準操作を行うコンデンサ焦準操作部２５と、を有する。

アーム２１の内部には、第２ランプハウス２２から出射された光を反射してコンデンサレンズ２３の光軸方向（光路Ｎ１方向）へ折り曲げるミラー２６が設けられている。

ここで、制御部３０は、処理装置４０と通信可能に接続されている。処理装置４０は、顕微鏡１の動作を統括的に制御する。処理装置４０は、ＣＰＵ等を用いて構成され、処理装置４０全体および処理装置４０に含まれる各部を制御するとともに、外部からの指示信号に応じて顕微鏡１の制御部３０に対し、指示信号に対応する指示情報やデータの転送等を行って顕微鏡１の動作を制御する。

処理装置４０は、後述する光強度検出部６０から入力される電気信号に応じて励起光強度の計測値を生成する計測部４１と、計測部４１が生成した計測値に基づいて、光強度検出部６０が受光した光の強度を演算する演算部４２と、顕微鏡１に実行させる各種プログラム、プログラムの実行中に使用される各種データを記憶する記憶部４３と、を有する。

計測部４１は、入力される電気信号に応じて励起光強度の計測値を生成し、生成した計測値を演算部４２に出力する。

記憶部４３は、処理装置４０の内部に固定的に設けられるフラッシュメモリおよびＲＡＭ等の半導体メモリを用いて実現される。また、記憶部４３は、処理中の情報を一時的に記憶する。なお、記憶部４３は、外部から装着されるメモリカード等を用いて構成されてもよい。

また、処理装置４０は、表示装置５０と接続し、顕微鏡１に関する情報や、上述した画像取得部が取得した画像データに応じた画像を表示装置５０に表示させる。

上述した構成を有する顕微鏡１では、透過照明観察の場合、光源２２ａからの照明光を、ミラー２６を介して標本Ｓに照射すると、標本Ｓを透過して対物レンズ５に取り込まれ、観察光として鏡筒部２ｂに入射する。このとき、ミラーユニット１１は、光路Ｎ１から離脱した状態となっている。なお、透過光観察は、明視野観察、位相差観察、微分干渉観察などを行う場合に用いられる。

また、落射照明観察の場合、光源９ａからの照明光が励起フィルタ１０ａで波長が選択され、ダイクロイックミラー１０ｂによって対物レンズ５に向けて照明光が折り曲げられる。ダイクロイックミラー１０ｂによって折り曲げられた照明光が、対物レンズ５を介して標本Ｓに照射されると、標本Ｓにおける蛍光標識が励起され蛍光を発する。標本から発せられた蛍光を像として対物レンズ５が取り込み、ダイクロイックミラー１０ｂと吸収フィルタ１０ｃとを透過して、観察光として鏡筒部２ｂに入射する。

ここで、第１ランプハウス９から出射され、ステージ３上の標本に照射される照明光（励起光）の強度を測定する場合（以下、単に励起光強度測定ともいう）、ステージ３の標本載置面には、励起光の強度を検出する検出手段として、光強度検出部６０が配置される。光強度検出部６０は、光の強度を受光する受光部６０ａを有する。受光部６０ａは、光路Ｎ１が通過し、かつステージ３の標本載置面側に光の強度を測定するセンサ等の光検出部が位置するように配置される。受光部６０ａは、対物レンズ５を介して受光した光を光電変換して、受光した光の強度に応じた電気信号を生成し、この電気信号を処理装置４０（計測部４１）に出力する。このとき、記憶部４３には、受光部６０ａが測定するためのプログラムや、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの開口の面積などが記憶されている。ここで、本実施の形態１において、受光部６０ａが測定する光の強度は、放射照度（Ｗ／ｍ^２）をさす。

処理装置４０が受光部６０ａから電気信号を取得すると、計測部４１が、入力される電気信号に応じて励起光強度の計測値を生成し、演算部４２が、この計測値に基づいて、光強度検出部６０に照射された光の強度を演算する。演算部４２は、例えば、絞り孔９０ａの開口の面積をＳ_１、投光管９ｂ（照明系）の焦点距離をｆ、対物レンズ５の焦点距離をｆ’としたときに、受光部６０ａの受光面上に投影される計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積Ｓ_２は、下記式（１）によって得られる。このとき、絞り孔９０ａの径は既知であるため、絞り孔９０ａの開口の面積を算出することが可能である。
Ｓ_２＝Ｓ_１×（ｆ’／ｆ）^２・・・（１）

また、演算部４２は、光強度検出部６０に照射された光の強度をＰ、光強度検出部６０（標本Ｓ）の光照射面における単位面積あたりの照明光（励起光）の強度Ｐｓとしたとき、下記式（２）によって、単位面積あたりの照明光（励起光）の強度Ｐｓを取得する。
Ｐｓ＝Ｐ／Ｓ_２・・・（２）

演算部４２は、得られた面積Ｓ_２の値を記憶部４３に出力する。記憶部４３は、得られた面積Ｓ_２を記憶部４３に記憶する。また、処理装置４０が、得られた面積Ｓ_２の値を表示装置５０に表示させるようにしてもよい。これにより、ユーザは、光源９ａの出力などを調整して、ステージ３上において照射される照明光（励起光）の強度を所望の強度とすることができる。なお、式（１）において、ｆ’／ｆが１となる場合には、式（２）のＳ_２をＳ_１に置き換えて、絞り孔９０ａの開口の面積と、光強度検出部６０が計測した光の強度Ｐとをもとに単位面積あたりの照明光（励起光）の強度Ｐｓを取得してもよい。

上述した本実施の形態１によれば、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの面積、投光管９ｂ（照明系）の焦点距離、対物レンズ５の焦点距離および光強度検出部６０に照射された光の強度をもとに、処理装置４０が光強度検出部６０（標本Ｓ）の光照射面における単位面積あたりの照明光（励起光）の強度Ｐｓを演算するようにしたので、標本に照射される光の強度Ｐｓを把握することができる。これにより、強度測定時の条件の再現性をとる場合であっても、各測定時の強度を一定に維持した状態で測定を行うことができる。

また、上述した本実施の形態１によれば、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの面積、投光管９ｂ（照明系）の焦点距離、対物レンズ５の焦点距離は、予め設定され、記憶されている数値を用いるため、光強度検出部６０に照射された光の強度の入力によって、簡易に強度Ｐｓを得ることができる。

なお、上述した実施の形態１では、処理装置４０の制御のもとで強度Ｐｓを演算するものとして説明したが、筐体部２ａに設けられる制御部３０のもと、筐体部２ａに記憶部および演算部を設けて強度Ｐｓを演算するようにしてもよい。

また、上述した実施の形態１では、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの開口が円形をなすものとして説明したが、面積が既知であれば開口が角形をなすものであってもよい。また、計測用絞り９０は、挿脱自在に設けられ、観察形態により選択的に配置されるようにしもよい。

また、上述した実施の形態１では、計測用絞り９０が一つの絞り孔９０ａを有する場合で説明したが、絞り孔が複数形成されているものであっても適用可能である。この場合、各絞り孔に応じた開口の径または面積を記憶部４３に予め記憶し、演算部４２が、投光管９ｂに配置されている絞り孔に応じた径または面積を用いて演算することによって、強度Ｐｓを演算する。ここで、複数の絞り孔を選択的に用いることにより、ステージ３上の標本載置面に投影される絞り孔の像も変化する。このため、例えば、照明光に強度分布がある場合であって、より中心部における正確な放射照度を取得する場合や平均的な放射照度を取得する場合などにおいて、上述したように絞り孔の面積に応じた強度Ｐｓを取得すると、一段と正確な観察（測定）を行うことが可能である。

（実施の形態１の変形例）
図２は、本発明の実施の形態１の変形例にかかる顕微鏡システム４００ａの全体構成を模式的に示す側面図である。図３は、本発明の実施の形態１の変形例にかかる顕微鏡システム４００ａの要部（ミラーユニット１１Ａ）の構成を模式的に示す側面図である。上述した実施の形態１では、ミラーカセット１２が、蛍光観察用のミラーユニット１１を複数収容しているものとして説明したが、本変形例にかかる顕微鏡１ａでは、複数のミラーユニット１１のうちの一つを明視野観察用のミラーユニット１１Ａが配置される。

ミラーユニット１１Ａは、内部に落射光学系１０Ａを保持している。落射光学系１０Ａは、第１ランプハウス９から出射された落射照明光を所定の明るさに減光するＮＤフィルタ１０ｄ（減光フィルタ）と、所定の紫外域の波長帯域の光を遮断するとともに、可視域の波長帯域の光を透過する紫外カットフィルタ１０ｅと、紫外カットフィルタ１０ｅを透過した光のうちの少なくとも一部の光を対物レンズ５の光軸方向に反射するハーフミラー１０ｆと、を有する。

以上の構成により、ミラーユニット１１Ａが光路Ｎ１上に配置されると、第１ランプハウス９から出射された落射照明光は、ミラーユニット１１Ａ内のＮＤフィルタ１０ｄで所定の明るさに減光され、さらに、紫外カットフィルタ１０ｅで紫外域の光が遮断される。紫外カットフィルタ１０ｅを透過した可視域の波長帯域の光は、ハーフミラー１０ｆで対物レンズ５の光軸方向に反射される。ハーフミラー１０ｆで反射され、対物レンズ５を通過した落射照明光は、上述した実施の形態１と同様に作用し、観察像が形成される。

したがって、明視野観察における落射照明光の強度を測定する際は以下のような手順になる。まず、ミラーユニット１１Ａを光路Ｎ１上に配置するとともに、光強度検出部６０をステージ３に載置して、落射明視野観察に切り換える。これにより、明視野観察における落射照明光の強度を測定することができる。その後、蛍光観察で使用する所望のミラーユニット１１を光路Ｎ１上に配置すれば、蛍光観察用の落射照明光（励起光）の強度を測定することができる。

以上のように、実施の形態１の変形例によれば、上述した実施の形態１と同様の効果を得ることができる。さらに、実施の形態１の変形例では、蛍光観察に適した光源９ａ、例えば水銀ランプなどの光源を使用した場合でも、ミラーユニット１１Ａを光路Ｎ１上に配置することで、落射明視野観察に最適な明るさ、波長の照明光をステージ３に対して照射することができる。

なお、実施の形態１の変形例では、紫外域のみを遮断する紫外カットフィルタを使用しているが、可視域の中の所定領域のみ通過させるフィルタを使用しても構わない。

（実施の形態２）
つぎに、本発明の実施の形態２について説明する。
図４は、本発明の実施の形態２にかかる顕微鏡システム４００ｂの全体構成を模式的に示す側面図である。なお、図１等で説明した構成と同一の構成要素には、同一の符号が付してある。実施の形態１では、光強度検出部６０によって光の強度を測定し、単位面積当たりの強度を取得するものとして説明したが、実施の形態２では、光強度検出部６０に代えて、スケール試料７０をステージ上に配置して、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積を取得する。

図４に示す顕微鏡システム４００ｂは、例えば、顕微鏡１ｂ、処理装置４０ａ、表示装置５０、入力装置５１および撮像部７１で構成される。顕微鏡１ｂは、ハーフミラー１４によって折り曲げられた光を取り込んで撮像し、取り込んだ光を光電変換して画像信号として出力する撮像部７１を有する。また、制御部３０に接続される処理装置４０ａは、演算部４２および記憶部４３に代えて演算部４２ａおよび記憶部４３ａが設けられ、撮像部７１が出力した画像信号に対して、表示装置５０で表示するための画像処理を施す画像処理部４４をさらに有する。入力装置５１は、顕微鏡１ｂの各部の駆動を指示する駆動指示信号の入力を受け付ける。入力装置５１は、キーボード、マウス、タッチパネル等のインタフェースを用いて実現される。

撮像部７１は、ＣＣＤイメージセンサや、ＣＭＯＳイメージセンサを用いて実現される。撮像部７１および画像処理部４４により、対物レンズ５が取り込んだ標本像やスケール試料７０上の像を画像化し、処理装置４０ａは、この画像に応じた画像データとして記憶部４３ａに記憶させるとともに、表示装置５０に画像表示を行わせる。

ここで、スケール試料７０には、絞り孔９０ａの像の距離測定用のスケール情報を表示した表示面７０ａ（反射面）が設けられている。ステージ３にスケール試料７０を載置する際、この表示面７０ａが対物レンズ５と対向するように配置される。対物レンズ５は、この表示面７０ａで反射した光を取り込む。また、表示面７０ａの配置位置は、絞り孔９０ａと共役な位置となる。

図５は、本実施の形態２にかかる表示装置が表示する画像の一例を模式的に示す図である。図６，７は、本発明の実施の形態２にかかる顕微鏡における像の面積の取得を説明する図である。図５に示す表示画像Ｗ１には、撮像部７１によって撮像され、画像処理部４４によって画像処理が施された画像であって、スケール試料７０の表示面７０ａと、表示面７０ａに投影された絞り孔９０ａの像とが表示されている。

ここで、表示面７０ａには、図５，６に示す表示画像Ｗ１，Ｗ２のように、目盛りが付与された直線状に延びる第１スケール軸Ｓ_Ｘと、目盛りが付与され、第１スケール軸Ｓ_Ｘと直交して直線状に延びる第２スケール軸Ｓ_Ｙと、がスケール情報として設けられている。なお、本実施の形態２では、図５に示すように、絞り孔９０ａの像Ｑが、表示面７０ａに投影された像であって、円形をなす像Ｑの中心が、第１スケール軸Ｓ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙの交点と一致しているものとして説明する。

また、第１スケール軸Ｓ_Ｘの目盛りは、均等に付与されている。絞り孔９０ａの像の面積を取得するうえで、まず、この目盛りの間隔をｄ_Ｘとしたとき、図６に示す表示画像Ｗ２に基づいて、この間隔ｄｘが撮像部７１（例えばＣＣＤイメージセンサ）の何画素分に相当するかを演算部４２ａが演算する。具体的には、演算部４２ａは、例えば、画像処理部４４によるパターンマッチングをもとに第１スケール軸Ｓ_Ｘの目盛りの間隔ｄ_Ｘを取得する。その後、演算部４２ａが、目盛りの間隔ｄｘの長さから、この長さが何画素分に相当するかを演算する。例えば、間隔ｄ_Ｘの長さがｍ画素分に相当すると演算された場合、演算部４２ａは、一画素あたりの長さＬ_Ｘを、Ｌ_Ｘ＝ｄ_Ｘ／ｍとして演算する。制御部４１ａは、演算部４２ａの演算によって取得された一画素あたりの長さＬ_Ｘを記憶部４３ａに記憶させる。なお、演算部４２ａは、第２スケール軸Ｓ_Ｙにおいても同様に、間隔ｄ_Ｙの長さをもとに、一画素あたりの長さＬ_Ｙを演算する。ここで、本実施の形態２においては、第１スケール軸Ｓ_Ｘの間隔ｄ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙの間隔ｄ_Ｙは、同等であるものとする。

つぎに、演算部４２ａは、絞り孔９０ａの像の面積を演算する。具体的には、例えば、図７に示すように、表示装置５０に表示された画像Ｗ３の像Ｑに対し、入力装置５１を介して像Ｑにおける外縁上の三つの点Ｒ１〜Ｒ３を指定する。演算部４２ａは、指定された点Ｒ１〜Ｒ３に基づき、画像Ｗ３における像Ｑの直径を算出して像Ｑの面積を求める。算出した像Ｑの画素に応じた直径をＤ、絞り孔９０ａの像Ｑの画素に応じた面積をＧ_ｐとすると、絞り孔９０ａの像Ｑが円形をなしているため、面積Ｇ_ｐは下記式（３）により求められる。
Ｇ_ｐ＝π（Ｄ／２）^２ ・・・（３）

また、一画素あたりの長さＬ_Ｘを用いると、直径Ｄがｎ画素に相当するものとして、実際の絞り孔９０ａの像の面積Ｇを下記式（４）により求めることができる。
Ｇ＝π（Ｄ／２）^２
＝π（ｎＬ_Ｘ／２）^２＝π（ｎｄ_Ｘ／２ｍ）^２ ・・・（４）

上述した演算処理により、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積を取得することができる。ユーザは、取得された面積を確認することによって、照射範囲の調整などを行うことにより、光をステージ上の標本に対し、所望の範囲で照射することができる。なお、絞り孔９０ａが円形以外であっても、間隔ｄ_Ｘおよび間隔ｄ_Ｙをもとに演算することが可能である。

上述した本実施の形態２によれば、第１スケール軸Ｓ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙと、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像とをもとに、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積を演算するようにしたので、標本に照射される光の面積（照射範囲）を精密に測定することが可能になり、標本に照射する光の強度Ｐｓをより正確に把握することができる。

なお、上述した本実施の形態２では、図５において、円形をなす像Ｑの中心が、第１スケール軸Ｓ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙの交点と一致しているものとして説明したが、第１スケール軸Ｓ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙに対する像の範囲を指定でき、間隔ｄ_Ｘおよび間隔ｄ_Ｙをもとに演算することが可能であれば、必ずしも一致している必要はない。

また、上述した本実施の形態２では、画像Ｗ３において像Ｑの円周上で三つの点Ｒ１〜Ｒ３を指定するものとして説明したが、画像における像Ｑの直径を算出することができれば、二点を指定するものであってもよいし、四点以上を指定するものであってもよい。

また、上述した本実施の形態２では、スケール情報を表示した表示面７０ａ（反射面）が設けられ、表示面７０ａから反射した光を対物レンズ５が取り込むものとして説明したが、光源９ａからの照射光によって励起され、蛍光を発することによってスケール情報を発生させる表示面（反射面）が設けられるものであってもよい。

（実施の形態３）
つぎに、本発明の実施の形態３について説明する。なお、上述した顕微鏡システムと同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。本実施の形態３では、ステージ３が標本Ｓを収容する収容容器１００または光強度検出部８０を載置するものとして説明する。なお、強度Ｐｓの演算については、上述した実施の形態１，２と同様である。

図８は、本実施の形態３にかかるステージ３の構成を模式的に示す部分断面図である。本実施の形態３にかかるステージ３は、図８に示すように、板状をなす第１部材３１０、第２部材３２０および第３部材３３０が順に積層されてなる。ステージ３において、例えば、第３部材３３０を基準（固定）とし、ステージ操作部３００によって第１部材３１０および第２部材３２０を第３部材３３０の板面を平面とする面上を移動させる。このとき、標本Ｓは第１部材３１０に載置され、第１部材３１０および第２部材３２０は、主面に平行な平面上で互いに直交する方向に移動する。また、第１〜第３部材３１０，３２０，３３０には、筐体部２ａに取り付けられた際に、光路Ｎ１を含む開口部３１１，３２１，３３１がそれぞれ形成されている。なお、第１部材３１０および第２部材３２０に形成される開口部３１１，３２１は、第１部材３１０および第２部材３２０の移動に関わらず光路Ｎ１が含まれるような大きさに形成されている。

また、ステージ操作部３００は、第１部材３１０および第２部材３２０の移動量をそれぞれ入力可能な入力部３０１，３０２と、入力部３０１，３０２を支持し、入力部３０１，３０２によって入力された移動量を第１部材３１０および第２部材３２０にそれぞれ伝達する支持部材３０３と、を有する。本実施の形態３において、入力部３０１，３０２は、例えばラックアンドピニオンによって実現され、自身の回転量に応じた第１部材３１０および第２部材３２０の移動量をそれぞれ入力する。

ここで、ステージ３において、第１部材３１０の開口部３１１（位置決め手段）は、第１部材３１０の上面（第２部材３２０の積層側と異なる側の面）側に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第１開口部３１２と、第１開口部３１２に連なり、第１部材３１０の下面（第２部材３２０の積層側の面）を貫通し、円柱状をなす中空空間を形成する第２開口部３１３と、を有する。第１開口部３１２の開口の径は、収容容器１００の外周の径と同等である。また、第２開口部３１３の開口の径は、第１開口部３１２の開口の径より小さい。第１開口部３１２および第２開口部３１３は、円柱状の中心軸が一致しており、この中心軸と直交する平面を切断面とする断面が、段付き形状をなしている。

ステージ３において、標本Ｓを載置する場合、例えば、第１部材３１０の第１開口部３１２には、標本Ｓを収容した収容容器１００が収容される（図８参照）。また、収容容器１００の底面は、第１開口部３１２と第２開口部３１３とがなす段部Ｓｔ１に当接している。

ここで、収容容器１００の底面の厚さ（段部Ｓｔ１から標本Ｓの対物レンズ５側の端部（標本Ｓにおける光照射面）までの距離）をｄ_１１、レボルバ６の対物レンズ５を支持する支持面から段部Ｓｔ１までの距離をｄ_２１とする。距離ｄ_２１は標本Ｓに対して合焦した状態における距離である。

図９は、本実施の形態３にかかるステージ３の要部の構成を模式的に示す部分断面図である。第１ランプハウス９から出射され、ステージ３上の標本Ｓに照射される照明光（励起光）の強度を測定する場合、第１部材３１０には、収容容器１００に代えて、光強度検出部８０が配置される。

光強度検出部８０は、円板状をなす基部８１０ａ、および円筒形状をなして基部８１０ａの主面から延出する円筒部８１０ｂを有する本体部８１と、円筒部８１０ｂの内部であって、基部８１０ａの主面に配置され、対物レンズ５を介して受光する受光面８２ａを有する受光部８２と、円筒部８１０ｂの先端側に設けられ、対物レンズ５からの光を絞る絞り孔８３ａが形成された平板状をなす絞り部材８３と、受光部８２が受光した光が入力され、該入力された光を光電変換して、受光した光の強度に応じた電気信号を生成する信号変換部８４と、受光部８２と信号変換部８４とを接続するケーブル８５と、信号変換部８４と処理装置４０とを接続するケーブル８６と、を有する。

光強度検出部８０は、信号変換部８４で生成された電気信号を、ケーブル８６を介して処理装置４０に出力する。また、信号変換部８４は、ビス８７によって本体部８１に固定されている。

本体部８１は、基部８１０ａの主面および円筒部８１０ｂの中空空間によって形成される凹部８１１を有する。また、円筒部８１０ｂの外周がなす円の径は、基部８１０ａの外縁がなす円の径より小さい。そして、本体部８１は、基部８１０ａの主面に直交する平面を切断面とする断面の外縁が、凸状をなしている。また、円筒部８１０ｂの先端面（円筒形状の中心軸と直交する方向の面）は、円筒形状の中心軸に直交する方向の平面が通過する。すなわち、円筒部８１０ｂの先端面は、平面状をなしている。

受光部８２は、例えばＳｉフォトダイオードなどの受光素子を用いることによって実現される。また、絞り孔８３ａの開口中心は、受光面８２ａの中心を通過し、かつ受光面８２ａと直交する軸を通過していることが好ましい。

絞り部材８３は、受光部８２側と異なる側の端面が、円筒部８１０ｂの先端から距離ｄ_１１だけ基部８１０ａ側に移動した位置に配置されている。したがって、収容容器１００に収容された標本Ｓにおける収容容器１００の最下部からの高さ（収容容器１００の底面部の厚み）と、円筒部８１０ｂの先端から絞り部材８３の受光部８２側と異なる側の端面までの距離とは距離ｄ_１１であり、同一の距離である。

また、絞り部材８３は、対物レンズ５から出射される照明光（励起光）により蛍光を発する。具体的には、絞り部材８３は、所定の励起波長の光によって蛍光を発するような塗料やインクの表面塗布、所定の励起波長の光によって蛍光を発するような表面処理を施した金属材料、または所定の励起波長の光によって蛍光を発する金属素材によって実現される。

光強度検出部８０は、円筒部８１０ｂの先端が段部Ｓｔ１に当接するとともに、円筒部８１０ｂの外周の径が、第１開口部３１２の側面がなす開口の径と略一致している。これにより、受光部８２と絞り部材８３とが、ステージ３に対して位置決めされた状態で配置される。このとき、絞り部材８３の受光部８２側と異なる側の端面から段部Ｓｔ１までの距離が、上述した距離ｄ_１１と一致している。すなわち、絞り部材８３の端面が、標本Ｓの照明光照射面と一致している。

また、受光面８２ａから段部Ｓｔ１までの距離をｄ_１２とすると、使用する対物レンズ５の位置を絞り部材８３にピントが合う状態（距離ｄ_２１）に調整し、ステージ３を移動させて絞り部材８３を視野外接に調整して受光面８２ａの中心を対物レンズ５の光軸付近に配置した際に、この距離ｄ_１２は、対物レンズ５から出射された照明光が、絞り部材８３を介して所定の照射範囲、および所定の入射光特性で受光面８２ａに照射される位置となるように設定されている。つまり、受光部８２の受光面８２ａは、光強度検出部８０の開口部３１１への配置により、段部Ｓｔ１からの距離が上述した距離ｄ_１２となるように位置決めされた状態となっている。

ここで、受光部８２に配設される受光素子のサイズや入射特性を考慮して適切な位置に受光面８２ａを配置することは、受光効率に影響し、適切な位置に配置することによって受光効率を高めることができる。受光面８２ａの位置が対物レンズ５に対して適切に配置されると、光強度検出部８０によって測定された照明光の強度の値が最も大きくなる。したがって、絞り部材８３を利用して受光面８２ａの位置を調整した後、照明光の強度の値が最も大きくなるように受光面８２ａの位置を微調整することで、一段と精密な照明光の強度を取得することができる。

また、光強度検出部８０は、図示しない表示部を備えており、光強度検出部８０によって検出された、所望の波長の励起光強度の測定値が表示部の表示画面上に表示される。

上述した本実施の形態３によれば、上述した実施の形態１と同様の効果を得ることができ、さらに、標本Ｓ（収容容器１００）または光強度検出部８０をステージ３上の開口部３１１に嵌め込み、嵌め込みが完了した状態において、標本Ｓの観察位置および受光部８２の受光面８２ａの位置が、設定されている配置に位置決めされるようにしたので、標本Ｓに照射される照明光の強度を正確に測定するとともに、標本Ｓの観察と、照明光の強度測定とを容易に切り替えることができる。

また、上述した本実施の形態３によれば、嵌め込みが完了した状態において、受光面８２ａが受光する照明光の照射範囲および入射光特性は、所望の照射範囲および入射光特性に設定される。これにより、標本Ｓ（収容容器１００）と光強度検出部８０とを交換した際に、交換した対象に対する焦準動作を再度行う必要がなく、操作性を向上することができる。

また、上述した本実施の形態３によれば、円筒部８１０ｂの先端を平坦な形状とすることによって、段部Ｓｔ１と当接した際の位置再現性を一段と正確に維持することができる。さらに、開口部３１１を有しないステージであっても載置することができ、汎用性に優れている。

また、上述した本実施の形態３によれば、光強度検出部８０において、受光面８２ａの中心と絞り孔８３ａの開口中心とが同一の軸上に配設され、ステージ３に配置された場合に、絞り部材８３の端面が、標本Ｓの照明光照射面の位置と一致するため、ステージ操作部３００によってステージ３（第１部材３１０および／または第２部材３２０）を移動した場合であっても、ステージ３を再度移動させて、視野外接に対して絞り孔８３ａの位置を調整すれば、照明光の照射位置に受光面８２ａを容易かつ適切に配置することができる。

また、上述した本実施の形態３によれば、絞り部材８３が、対物レンズ５から出射される照明光（励起光）により蛍光を発するようにしたので、蛍光観察の状態において絞り部材８３（絞り孔８３ａ）の像を確認することができる。このため、蛍光観察の状態のままで絞り部材８３を利用した受光面８２ａの位置合わせを容易に行うことができる。

なお、実施の形態３において、上述した実施の形態１の変形例にかかるミラーユニット１１Ａを用いてもよい。ミラーユニット１１Ａを光路Ｎ１上に配置すると、第１ランプハウス９から出射された落射照明光は、ミラーユニット１１Ａ内のＮＤフィルタ１０ｄで所定の明るさに減光され、さらに、紫外カットフィルタ１０ｅで紫外域の光が遮断される。紫外カットフィルタ１０ｅを透過した可視域の波長帯域の光は、ハーフミラー１０ｆで対物レンズ５の光軸方向に反射される。ハーフミラー１０ｆで反射され、対物レンズ５を通過した落射照明光は、絞り部材８３で反射される。絞り部材８３は、ステンレスのような金属素材で形成されている。光強度検出部８０が光路Ｎ１上の所定位置に配置されると、絞り部材８３で反射した観察光は、対物レンズ５、ハーフミラー１０ｆを通過し、上述した実施の形態３と同様に作用して、絞り部材８３の観察像が形成される。

このため、ミラーユニット１１Ａを用いれば、落射明視野観察により、明るい絞り像が容易に得られるため、絞り部材８３に蛍光を発するような表面処理を施さなくとも、絞り部材８３を容易に認識することができる。

（実施の形態３の変形例１）
図１０，１１は、本実施の形態３の変形例１にかかるステージ３ａの構成を模式的に示す部分断面図である。上述した実施の形態３では、収容容器１００の外周の径と、本体部８１の凸の先端の径が同一であるものとして説明したが、実施の形態３の変形例１では、本体部８１ａの凸の先端の径が、収容容器１００の外周の径と比して大きい光強度検出部８０ａであるものとして説明する。この場合、ステージ３ａには、第１部材３１０に代えて第１部材３１０ａが設けられる。第１部材３１０ａには、収容容器１００および本体部８１ａの凸の先端を着脱自在に保持する開口部３１１ａが形成されている。

開口部３１１ａには、第１部材３１０ａの上面（第２部材３２０の積層側と異なる側の面）側に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第１開口部３１２ａと、第１部材３１０ａの下面（第２部材３２０の積層側の面）を貫通し、円柱状をなす中空空間を形成する第２開口部３１３ａと、第１開口部３１２ａおよび第２開口部３１３ａの間に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第３開口部３１４と、を有する。第１開口部３１２ａ、第２開口部３１３ａおよび第３開口部３１４は、円柱状の中心軸が一致しており、この中心軸と直交する平面を切断面とする断面が、段付き形状をなしている。ここで、第３開口部３１４の開口の径は、収容容器１００の外周がなす円の径と同等である。第１開口部３１２ａの開口の径は、第３開口部３１４の開口の径より大きい。また、第２開口部３１３ａの開口の径は、第３開口部３１４の開口の径より小さい。第３開口部３１４の円筒の中心軸方向の長さは、上述した距離ｄ_１１と同等である。

光強度検出部８０ａは、円板状をなす基部８１０ｃ、および基部８１０ｃに連なり、円筒形状をなす円筒部８１０ｄを有する本体部８１ａと、円筒部８１０ｄの内部であって、基部８１０ｃの主面に配置され、対物レンズ５を介して受光する受光面８２ｂを有する受光部８２１と、円筒部８１０ｄの先端に設けられ、対物レンズ５からの光を絞る絞り孔８３ｂが形成された平板状をなす絞り部材８３１と、受光部８２１が受光した光が入力され、該入力された光を光電変換して、受光した光の強度に応じた電気信号を生成する信号変換部８４と、受光部８２１と信号変換部８４とを接続するケーブル８５ａと、信号変換部８４と処理装置４０とを接続するケーブル８６と、を有する。本体部８１ａは、基部８１０ｃの主面および円筒部８１０ｄの中空空間によって形成される凹部８１１ａを有する。

ここで、円筒部８１０ｄの外径は、第１開口部３１２ａの開口の径と略一致している。

開口部３１１ａに標本Ｓ（収容容器１００）を載置する場合、収容容器１００は、第２開口部３１３ａおよび第３開口部３１４がなす段部Ｓｔ２に載置され、第３開口部３１４に収容された状態となる。このとき、標本Ｓの対物レンズ５側の端面は、段部Ｓｔ２から距離ｄ_１１だけ離れて位置している（図１０参照）。

一方、開口部３１１ａに光強度検出部８０ａを載置する場合、円筒部８１０ｄが、第１開口部３１２ａおよび第３開口部３１４がなす段部Ｓｔ３に載置され、第１開口部３１２ａに収容された状態となる。このとき、絞り部材８３１の受光部８２１側と異なる側の端面は、段部Ｓｔ２から距離ｄ_１１だけ離れて位置している（図１１参照）。

これにより、受光部８２１と絞り部材８３１とが、ステージ３ａに対して位置決めされた状態で配置される。このとき、絞り部材８３１の受光部８２１側と異なる側の端面から段部Ｓｔ２までの距離が、上述した距離ｄ_１１と一致している。すなわち、絞り部材８３１の端面が、標本Ｓの照明光照射面と一致する。

上述した構成を有する本実施の形態３の変形例１では、上述した実施の形態３と同様、ステージ３ａ上に標本Ｓ（収容容器１００）または光強度検出部８０ａを適宜載置することによって、標本Ｓの観察と、ステージ３ａ上に照射される照明光の強度の測定とを、選択的に実施することができる。また、収容容器１００および本体部８１ａを開口部３１１ａに取り付けるのみで、標本Ｓおよび受光面８２ｂを適切な位置にそれぞれ配置することができる。

（実施の形態３の変形例２）
図１２，１３は、本実施の形態３の変形例２にかかるステージ３の構成を模式的に示す部分断面図である。上述した実施の形態３では、光強度検出部８０において信号処理部８４が本体部８１に固定されているものとして説明したが、信号処理部８４を本体部８１から離脱させた状態で用いるものであってもよい。

変形例２にかかる光強度検出部８０ｂは、円板状をなす基部８１０ｅ、および円筒形状をなして基部８１０ｅの主面から延出し、その外径が基部８１０ｅの外径と一致する円筒部８１０ｆを有する本体部８１ｂと、円筒部８１０ｆの内部であって、基部８１０ｅの主面に配置され、対物レンズ５を介して受光する受光面８２ａを有する受光部８２と、円筒部８１０ｆの先端側に設けられ、対物レンズ５からの光を絞る絞り孔８３ａが形成された略平板状をなす絞り部材８３と、受光部８２が受光した光が入力され、該入力された光を光電変換して、受光した光の強度に応じた電気信号を生成する信号変換部８４と、受光部８２と信号変換部８４とを接続するケーブル８５と、信号変換部８４と処理装置４０とを接続するケーブル８６と、を有する。本体部８１ｂは、基部８１０ｅの主面および円筒部８１０ｆの中空空間によって形成される凹部８１１ｂを有する。

ここで、円筒部８１０ｆの外径は、第１開口部３１２の開口の径と略一致している。

絞り部材８３は、凹部８１１ｂに設けられ、受光部８２側と異なる側の端面が、円筒部８１０ｆの先端から距離ｄ_１１だけ基部８１０ｅ側に移動した位置に配置されている。

図１２に示されるように、変形例２では、光強度検出部８０ｂをステージ３に載置して照明光の強度を測定する際、対物レンズ５から出射された照明光の強度を測定する場合、受光面８２ａが対物レンズ５と対向するように、円筒部８１０ｆの先端を段部Ｓｔ１に当接させて、円筒部８１０ｆを第１開口部３１２に収容する。このとき、段部Ｓｔ１から絞り部材８３の端面までの距離は、上述した距離ｄ_１１と一致する。これにより、受光部８２によって、対物レンズ５から出射された照明光の強度を同様に測定することができる。

一方、正立顕微鏡として用いる場合（図１３参照）、対物レンズ５ａと対向するように、基部８１０ｅの円筒部８１０ｆに連なる側と異なる側の主面を段部Ｓｔ１に当接させて、基部８１０ｅおよび円筒部８１０ｆの一部を第１開口部３１２に収容する。これにより、受光部８２によって、対物レンズ５ａから出射された照明光の強度を測定することができる。

このように、本実施の形態３の変形例２では、第１部材３１０は、受光面８２ａが光路Ｎ１（照明光学系の光軸方向）に対して直交し、かつ受光面８２ａの向きが光路Ｎ１に対して上向き、または下向きのいずれかの状態で保持可能である。

このとき、信号処理部８４は、第１部材３１０上の本体部８１ｂとは異なる位置に載置されている。また、信号処理部８４は、ビス８７によって第１部材３１０に固定されていてもよいし、ビス８７を設けずに、ステージ３上に載置されるのみであってもよい。

上述した構成を有する本実施の形態３の変形例２では、上述した実施の形態３と同様、ステージ３上に標本Ｓ（収容容器１００）または光強度検出部８０ｂを適宜載置することによって、標本Ｓの観察と、ステージ３上に照射される照明光の強度の測定とを、選択的に実施することができるとともに、ステージ３に対する対物レンズの配置によらず、ステージ３上に照射される照明光の強度を測定することができる。これにより、倒立型の顕微鏡であっても、正立型の顕微鏡であっても、光強度検出部８０ｂを用いて照明光の強度を測定することができる。

（実施の形態４）
つぎに、本発明の実施の形態４について説明する。なお、上述した顕微鏡システムと同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。

図１４，１５は、本発明の実施の形態４にかかるステージ３ｂの構成を模式的に示す部分断面図である。なお、上述した構成と同一の構成要素には、同一の符号が付してある。上述した実施の形態３では、ステージ３の第１部材３１０に一つの開口部３１１を設けて、収容容器１００および光強度検出部８０を選択的に保持するものとして説明したが、実施の形態４にかかるステージ３ｂでは、第１部材３１０ｂが、収容容器１００および光強度検出部８０をそれぞれ保持する二つの開口部３１１，３１１ｂを有する。なお、開口部３１１は、上述したように、収容容器１００および光強度検出部８０のいずれかを挿脱自在に保持する。本実施の形態４では、開口部３１１に収容容器１００が取り付けられ、開口部３１１ｂに光強度検出部８０が取り付けられているものとして説明する。

開口部３１１ｂは、上述した開口部３１１と同様の形状をなし、第１部材３１０ｂの上面（第２部材３２０の積層側と異なる側の面）側に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第１開口部３１５と、第１開口部３１５に連なり、第１部材３１０ｂの下面（第２部材３２０の積層側の面）を貫通する円柱状をなす中空空間を形成する第２開口部３１６と、を有する。第１開口部３１５の開口の径は、収容容器１００および円筒部８１０ｂのそれぞれの外周がなす円の径と同等である。また、第２開口部３１６の開口の径は、第１開口部３１５の開口の径より小さい。第１開口部３１５および第２開口部３１６は、円柱状の中心軸が一致しており、この中心軸と直交する平面を切断面とする断面が、段付き形状をなしている。

また、開口部３１１の中心軸Ｎ_１０および開口部３１１ｂの中心軸Ｎ_１１の間の距離をｄ_３１とすると、例えば、第１部材３１０ｂが、開口部３１１の中心軸Ｎ_１０と開口部３１１ｂの中心軸Ｎ_１１とを結ぶ直線と平行な方向に移動可能である場合、距離ｄ_３１は、第１部材３１０ｂの最大移動量より小さい値となる。

ステージ３ｂにおいて、開口部３１１には、標本Ｓを収容した収容容器１００が収容される。このとき、収容容器１００の底面は、第１開口部３１２と第２開口部３１３とがなす段部Ｓｔ１に当接している。

また、ステージ３ｂにおいて、開口部３１１ｂには、光強度検出部８０が収容される。このとき、光強度検出部８０の円筒部８１０ｂは、第１開口部３１５と第２開口部３１６とがなす段部Ｓｔ４に当接している。

標本Ｓの観察を行う場合は、ステージ操作部３００（入力部３０１）の操作によって、開口部３１１の中心軸Ｎ_１０が光路Ｎ１（照明光学系の光軸）と略一致する位置に第１部材３１０ｂを移動させる。これにより、標本Ｓの観察を行うことができる（図１４参照）。

一方、光強度検出部８０によって、照明光の強度を測定する場合は、ステージ操作部３００（入力部３０１）の操作によって、絞り部材８３の中心、すなわち開口部３１１ｂの中心軸Ｎ_１１が光路Ｎ１と一致する位置に第１部材３１０ｂを移動させる。これにより、照明光の強度を測定することができる（図１５参照）。

上述した本実施の形態４によれば、標本Ｓ（収容容器１００）または光強度検出部８０をステージ３ｂ上の開口部３１１，３１１ｂに嵌め込み、嵌め込みが完了した状態において、標本Ｓの観察位置および受光面の位置が、適切な高さに位置決めされ、ステージ３ｂの第１部材３１０ｂまたは第２部材３２０を移動させることで、標本Ｓの観察または光強度検出部８０による照明光の強度の測定を行えるようにしたので、標本Ｓに照射される照明光の強度を正確に測定するとともに、標本Ｓの観察と、照明光の強度測定とを容易に切り替えることができる。

なお、上述した実施の形態４では、開口部３１１に収容容器１００が取り付けられ、開口部３１１ｂに光強度検出部８０が取り付けられているものとして説明したが、開口部３１１に光強度検出部８０が取り付けられ、開口部３１１ｂに収容容器１００が取り付けられているものであってもよい。また、開口部３１１，３１１ｂに標本Ｓを収容した二つの収容容器１００をそれぞれ取り付けてもよいし、受光部８２などの特性が異なる二つの光強度検出部８０を取り付けてもよい。

（実施の形態４の変形例）
図１６は、本実施の形態４の変形例にかかるステージ３ｂの構成を模式的に示す部分断面図である。上述した実施の形態４では、ステージ操作部３００の入力部３０１，３０２によって第１部材３１０ｂおよび第２部材３２０を操作するものとして説明したが、ステージ操作部３００に代えて、第１部材３１０ｂおよび第２部材３２０を駆動するモータＭ_１，Ｍ_２を有するものであってもよい。モータＭ_１，Ｍ_２は、例えばパルスモータを用いて実現され、モータの回転力によって第１部材３１０ｂおよび第２部材３２０をそれぞれ駆動する。なお、実施の形態４の変形例１では、モータＭ_１，Ｍ_２の回転力を伝達する伝達機構（図示せず）や、モータＭ_１，Ｍ_２への電源供給部（図示せず）なども構成要素に含まれる。

モータＭ_１，Ｍ_２は、制御部３０ａの制御のもとで駆動し、第１部材３１０ｂおよび第２部材３２０をそれぞれ所定の方向（互いに直交する方向）に移動させる。制御部３０ａは、ユーザから入力された指示信号に応じてモータＭ_１，Ｍ_２を駆動する。指示信号の入力は、処理装置４０（図１参照）に設けられた入力部への入力によるものであってもよいし、筐体部２ａに設けられたボタンやタッチパネルなどへの入力によるものであってもよい。また、筐体部２ａに電気的または無線通信によって接続される入力装置によって指示信号を入力するものであってもよい。

本実施の形態４の変形例によれば、第１部材３１０ｂおよび第２部材３２０を電動で所望の位置に移動させるようにしたので、標本Ｓ（中心軸Ｎ_１０）および光強度検出部８０（中心軸Ｎ_１１）をそれぞれ対物レンズ５の観察光軸位置（光路Ｎ１）へ容易かつ確実に合わせることができる。このため、操作性や位置再現性に優れる。

（実施の形態５）
つぎに、本発明の実施の形態５について説明する。なお、上述した顕微鏡システム（ステージ）と同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。

図１７は、本発明の実施の形態５にかかるステージ３ｃの構成を模式的に示す部分断面図である。図１８は、本実施の形態５にかかるステージ３ｃの構成を模式的に示す斜視図である。なお、上述した構成と同一の構成要素には、同一の符号が付してある。上述した実施の形態４では、第１部材３１０ｂが、収容容器１００および光強度検出部８０をそれぞれ保持する二つの開口部３１１，３１１ｂを有するものとして説明したが、実施の形態５では、二つの開口部２０２，２０３を有するアダプタ２００（取付け部材）を着脱自在なステージ３ｃを備える。なお、開口部２０２，２０３は、上述した収容容器１００および光強度検出部８０のいずれかを挿脱自在に保持する。本実施の形態５では、開口部２０２に収容容器１００が取り付けられ、開口部２０３に光強度検出部８０が取り付けられているものとして説明する。

ステージ３ｃは、上述した第２部材３２０および第３部材３３０と、板状をなす第１部材３１０ｃとが積層されてなる。第１部材３１０ｃには、アダプタ２００を着脱自在に保持する開口部３１１ｃが形成されている。開口部３１１ｃは、第１部材３１０ｃの上面（第２部材３２０の積層側と異なる側の面）側に設けられ、角柱状をなす中空空間を形成する第１開口部３１２ｂと、第１開口部３１２ｂに連なり、第１部材３１０ｃの下面（第２部材３２０の積層側の面）を貫通し、角柱状をなす中空空間を形成する第２開口部３１３ｂと、を有する。

アダプタ２００は、板状をなす基部２０１ａ、および基部２０１ａに連なり、基部２０１ａの一方の主面から板状をなして突出する突出部２０１ｂを有する本体部２０１からなる。本体部２０１には、基部２０１ａおよび突出部２０１ｂの主面を貫通する開口部２０２，２０３が形成されている。ここで、基部２０１ａの外縁形状は第１開口部３１２ｂの外縁と同等であり、突出部２０１ｂの外縁形状は第２開口部３１３ｂの外縁と略同等である。すなわち、本体部２０１において、基部２０１ａの主面に直交する平面を切断面とする断面形状は、突出部２０１ｂ側で凸となる凸形状をなす。

開口部２０２は、上述した開口部３１１と同様の形状をなし、基部２０１ａ側に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第１開口部２０２ａと、第１開口部２０２ａに連なり、突出部２０１ｂを貫通し、円柱状をなす中空空間を形成する第２開口部２０２ｂと、を有する。第１開口部２０２ａの開口の径は、収容容器１００の外周の径と同等である。また、第２開口部２０２ｂの開口の径は、第１開口部２０２ａの開口の径より小さい。第１開口部２０２ａおよび第２開口部２０２ｂは、円柱状の中心軸が一致しており、この中心軸と直交する平面を切断面とする断面が、段付き形状をなしている。

開口部２０３は、上述した開口部３１１と同様の形状をなし、基部２０１ａ側に設けられ、円柱状をなす中空空間を形成する第１開口部２０３ａと、第１開口部２０３ａに連なり、突出部２０１ｂを貫通し、円柱状をなす中空空間を形成する第２開口部２０３ｂと、を有する。第１開口部２０３ａの開口の径は、収容容器１００および円筒部８１０ｂのそれぞれの外周がなす円の径と同等である。また、第２開口部２０３ｂの開口の径は、第１開口部２０３ａの開口の径より小さい。第１開口部２０３ａおよび第２開口部２０３ｂは、円柱状の中心軸が一致しており、この中心軸と直交する平面を切断面とする断面が、段付き形状をなしている。

また、開口部２０２，２０３は、開口部２０２の中心軸Ｎ_２０および開口部２０３の中心軸Ｎ_２１の間の距離が、上述した距離ｄ_３１となるように形成されている。

ステージ３ｃにおいて、アダプタ２００の開口部２０２には、例えば、標本Ｓを収容した収容容器１００が収容される。このとき、収容容器１００の底面は、第１開口部２０２ａと第２開口部２０２ｂとがなす段部Ｓｔ５に当接している。

また、ステージ３ｃにおいて、アダプタ２００の開口部２０３には、例えば、光強度検出部８０が収容される。このとき、光強度検出部８０の円筒部８１０ｂは、第１開口部２０３ａと第２開口部２０３ｂとがなす段部Ｓｔ６に当接している。

ここで、アダプタ２００は、第１部材３１０ｃの開口部３１１ｃに保持される。このとき、アダプタ２００の基部２０１ａが第１開口部３１２ｂと第２開口部３１３ｂとがなす段部Ｓｔ７に当接するとともに、突出部２０１ｂの先端は第２部材３２０の主面に対して隙間が設けられ、非接触状態となっている。また、基部２０１ａは、縁端側において挿通孔が形成され、開口部３１１ｃへの収容後、ビス２０４によって第１部材３１０ｃに固定される。

標本Ｓの観察を行う場合は、ステージ操作部３００（入力部３０１）の操作によって、開口部２０２の中心軸Ｎ_２０が光路Ｎ１（図１など参照）と略一致する位置に第１部材３１０ｃを移動させる。これにより、標本Ｓの観察を行うことができる。

一方、光強度検出部８０によって照明光の強度を測定する場合は、ステージ操作部３００（入力部３０１）の操作によって、絞り部材８３の中心、すなわち、開口部２０３の中心軸Ｎ_２１が光路Ｎ１と略一致する位置に第１部材３１０ｃを移動させる。これにより、照明光の強度を測定することができる（図１７参照）。

なお、上述した実施の形態４の変形例のように、制御部３０の制御のもと、モータＭ_１，Ｍ_２によって第１部材３１０ｃおよび第２部材３２０を移動させる構成であってもよい。

上述した本実施の形態５によれば、標本Ｓ（収容容器１００）または光強度検出部８０を保持するアダプタ２００を、ステージ３ｃ上の開口部３１１ｃに嵌め込み、嵌め込みが完了した状態において、標本Ｓの観察位置および受光面８２ａの位置が、適切な高さに位置決めされ、ステージ３ｃの第１部材３１０ｃまたは第２部材３２０を移動させることで、標本Ｓの観察または光強度検出部８０による照明光の強度の測定を行えるようにしたので、標本Ｓに照射される照明光の強度を正確に測定するとともに、標本Ｓの観察と、照明光の強度測定とを容易に切り替えることができる。

なお、上述した実施の形態５では、開口部２０２に収容容器１００が取り付けられ、開口部２０３に光強度検出部８０が取り付けられているものとして説明したが、開口部２０２に光強度検出部８０が取り付けられ、開口部２０３に収容容器１００が取り付けられているものであってもよい。また、開口部２０２，２０３に標本Ｓを収容した二つの収容容器１００をそれぞれ取り付けてもよいし、受光部８２などの特性が異なる二つの光強度検出部８０を取り付けてもよい。

（実施の形態５の変形例）
図１９，２０は、本実施の形態５の変形例にかかるステージ３ｃの要部の構成を模式的に示す斜視図である。図１９に示すアダプタ２００ａは、板状をなす基部２０１ａ、および基部２０１ａに連なり、基部２０１ａの一方の主面から板状をなして突出する突出部２０１ｂと、例えば開口部２０２または２０３の中心軸の位置を表示する表示部２０１ｃと、を有する本体部２０５からなる。本体部２０５には、上述した開口部２０２，２０３が形成されている。

ここで、ステージ３ｃには、図２０に示すように、第３部材３３０に対する第１部材３１０ｃおよび第２部材３２０の相対位置（位置情報）をそれぞれ示す位置情報表示部３４０が設けられている。位置情報表示部３４０は、第１部材３１０ｃに取り付けられ、縁端に位置情報である目盛りが表記された第１指標部３４１ａを有する第１表示部材３４１と、第３部材３３０に取り付けられ、縁端に位置情報である目盛りが表記された第２指標部３４２ａを有する第２表示部材３４２と、第２部材３２０に取り付けられ、第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りのいずれかをそれぞれ指示する指示部３４３と、を有する。

第１指標部３４１ａは、第１部材３１０ｃの移動方向に沿って目盛りおよび目盛りに応じた数値が付与されている。また、第２指標部３４２ａは、第２部材３２０の移動方向に応じて目盛りおよび目盛りに応じた数値が付与されている。第１部材３１０ｃの移動方向と第２部材３２０の移動方向とは直交するため、第１指標部３４１ａの目盛りと第２指標部３４２ａの目盛りとは、互いに直交する方向に延びる。

指示部３４３は、第１指標部３４１ａの目盛りのいずれかを指示する第１指示部３４３ａと、第２指標部３４２ａの目盛りのいずれかを指示する第２指示部３４３ｂと、を有する。第１指示部３４３ａおよび第２指示部３４３ｂは、第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りに応じて目盛りがそれぞれ設けられ、いずれかの目盛りで第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りを指示するバーニヤとして機能する。なお、第１指示部３４３ａおよび第２指示部３４３ｂは、目盛りに代えて矢印などを設けて、第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りのうちの一点を指示するものであってもよい。

図１９に示す表示部２０１ｃには、第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛り情報が表記されている。第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りを直交するＸ軸、Ｙ軸に応じたＸ方向およびＹ方向とみたとき、第１指標部３４１ａの目盛りを示すＹ指標の値（Ｙ：△△）と、第２指標部３４２ａの目盛りを示すＸ指標の値（Ｘ：○○）と、が目盛り情報として表記される。例えば、Ｘ指標、Ｙ指標として、光路Ｎ１と中心軸Ｎ_２０とが一致する位置情報が、目盛り情報として表記される。

ユーザは、第１指標部３４１ａおよび第２指標部３４２ａの目盛りを確認しながら第１部材３１０ｃおよび第２部材３２０を移動させることによって、光路Ｎ１と中心軸Ｎ_２１とを一致させることができる。

ここで、表示部２０１ｃは、光路Ｎ１と中心軸Ｎ_２１とが一致する位置情報のほか、光路Ｎ１と中心軸Ｎ_２０とが一致する位置情報も併せて表記したものであってもよい。

（実施の形態６）
つぎに、本発明の実施の形態６について説明する。なお、上述した顕微鏡システムと同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。

図２１は、本発明の実施の形態６にかかる顕微鏡システム４００ｃの全体構成を模式的に示す側面図である。図２２は、本発明の実施の形態６にかかる顕微鏡システム４００ｃの機能を示す機能ブロック図である。顕微鏡システム４００ｃは、例えば、顕微鏡１、処理装置４０ｂ、表示装置５０、入力装置５１および撮像部７１で構成される。

本実施の形態６では、制御部３０は、処理装置４０ｂと通信可能に接続されている。処理装置４０ｂは、顕微鏡１の動作を統括的に制御する。処理装置４０ｂは、表示装置５０と接続し、顕微鏡１に関する情報や、上述した撮像部７１が取得した画像データに応じた画像を表示装置５０に表示させる。

処理装置４０ｂは、ＣＰＵ等を用いて構成され、測定条件取得部（取得部）４０１、計測部（算出部）４０２、演算部４０３、記憶部４０４、画像処理部４０５、選択・取得部（選択部、抽出部）４０６、設定部４０７、および調整部４０８を含む。処理装置４０ｂは、処理装置４０ｂ全体および処理装置４０ｂに含まれる各部を制御するとともに、接続される顕微鏡１の制御部３０に対して各種の制御指示を行う。また、処理装置４０ｂには、入力装置５１が接続されており、これを用いて各種パラメータや後述する各種測定条件、測定結果の情報等が入力される。

記憶部４０４は、処理装置４０ｂの内部に固定的に設けられるフラッシュメモリおよびＲＡＭ等の半導体メモリを用いて実現される。また、記憶部４０４は、処理中の情報を一時的に記憶する。なお、記憶部４０４は、外部から装着されるメモリカード等を用いて構成されてもよい。後述する測定結果や、測定履歴、測定条件等はこの記憶部４０４に記憶される。

測定条件取得部４０１は、測定条件を取得する。測定条件は、対応するパラメータを顕微鏡１から自動的に取得することもできるし、入力装置５１を介して手動で入力することもできる。取得した測定条件は、演算部４０３に送られる。

ここで自動的にまたは手動で取得される測定条件は、例えば、顕微鏡の種類（正立顕微鏡または倒立顕微鏡のいずれか）、測定する対物レンズ５の倍率、観察法（Ｗｉｄｅ−ｆｉｅｌｄまたはＬＳＭ）、波長、照射面の面積等である。測定条件の取得を手動で行う場合には、測定条件の各項目について、所望のパラメータをリストから選択することができる。また、手入力でも入力する事が可能である。

観察法は、例えば、レーザー光源を使用したレーザー走査型顕微鏡（ＬＳＭ）もしくは広視野観察の顕微鏡を使用したＷｉｄｅ−ｆｉｅｌｄのいずれかであり、これを自動的にまたは手動入力により取得する。広視野観察の顕微鏡を使用したＷｉｄｅ−ｆｉｅｌｄの場合、後述するように励起光を測定する照射面の面積を演算部４０３にて自動で算出して、表示装置５０に表示する。ここで表示される照射面の面積の値は手動にて変更することが可能であり、より精度の高い結果を算出する事が可能である。

共焦点レーザー走査型顕微鏡の場合、対物レンズ５の倍率と、顕微鏡システム４００ｃにて実施するスキャンモードとを取得する。スキャンモードは、例えば、Ｎｏｒｍａｌ、Ｃｌｉｐ、Ｌｉｎｅ、ＴｏｒｎａｄｏおよびＰｏｉｎｔがある。スキャンモードとしてＮｏｒｍａｌが設定されている場合、スキャンエリアのＸＹ座標を取得する。また、スキャンモードとしてＣｌｉｐ、ＴｏｒｎａｄｏまたはＬｉｎｅが設定されている場合は、ピクセルサイズと総ピクセル数が取得される。なお、Ｌｉｎｅが設定されている場合には、さらにＮＡ値も取得される。スキャンモードとしてＰｏｉｎｔが設定されている場合には、取得されるべき数値はない。

ここで取得される波長は、それぞれの観察法で使用する波長である。例えば、広視野観察の顕微鏡を使用したＷｉｄｅ−ｆｉｅｌｄの場合は、顕微鏡１に搭載されたミラーユニット１１の中間波長を取得する。ＬＳＭの場合は、レーザー光源から照射されるレーザー光の波長が取得される。

なお、上記の各測定条件を手動入力により取得する場合は、波長およびＮＡの入力値をリスト内から選択できるように、以前に入力した入力値のリストを記憶させておくことが好ましい。また、測定に成功した測定条件については、次回測定時にデフォルト値として、測定条件入力画面等に表示するようにしてもよい。

励起光強度測定の開始が指示されると、光強度検出部６０は、受光部６０ａが対物レンズ５を介して受光した光を光電変換して電気信号を生成し、この電気信号を計測部４０２に出力する。計測部４０２は、入力される電気信号に応じて、励起光強度の計測値を生成し、生成した計測値を演算部４０３に出力する。

演算部４０３は、測定条件取得部４０１により取得される波長に基づき、顕微鏡１の光学特性を予め用意される参照テーブル等から取得する。光学特性を取得するための参照テーブルは、例えば、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの開口の面積などが記憶されている。

また、演算部４０３は、測定条件取得部４０１により取得される観察法および対物レンズ５の倍率に基づき励起光の照射面の面積を演算する。なお、照射面の面積が手動で入力された場合には、当該照射面の面積を用いて以降の演算を行う。

以下に、照射面の面積の演算方法の一例を説明する。上述したように、例えば、絞り孔９０ａの開口の面積をＳ_１、投光管９ｂ（照明系）の焦点距離をｆ、対物レンズ５の焦点距離をｆ’とすると、受光部６０ａの受光面上に投影される計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積Ｓ_２は、上記式（１）によって得られる。

その後、取得した光学特性に基づき、計測部４０２から入力される励起光強度の計測値を補正し、補正した計測値を演算した照射面の面積で割ることにより、単位面積当たりの照明光（励起光）の放射照度（Ｗ／ｍ^２）を算出して、測定値として、表示装置５０および記憶部４０４に出力する。また、必要に応じて測定値を調整部４０８にも出力する。なお、測定値は放射照度ではなく放射束（Ｗ）でも表示することが可能である。例えば、観察法がＬＳＭでスキャンモードがＰｏｉｎｔである場合は、放射束（Ｗ）を単位として測定値が出力される。

このようにして算出された測定値は記憶部４０４に測定結果として記憶される。算出された測定結果は、測定条件とともに測定履歴として保存することが可能である。なお、別途、測定日時やコメントを入力して、これらを測定結果の測定履歴に含めることも可能である。また、測定履歴内の測定結果を複数個選択し、対応する測定条件とともにファイルに保存することもできる。この保存したファイルは、他のアプリケーションから読み出すことも可能である。

画像処理部４０５は、撮像部７１からの画像データに所定の画像処理を行い表示装置５０に画像表示を行わせるとともに、この画像データを記憶部４０４に保存する。画像処理部４０５は、この画像データを記憶部４０４に保存する際に、撮像部７１が撮像した際の顕微鏡１の設定（たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径など）を含む測定結果を記憶部４０４から読み出して、当該画像データに付加する。これにより、測定結果と画像データの関連付けが行われる。

本実施例では、以上のように測定結果と画像データを関連付けて記憶できるとともに、測定結果が付加された画像データを選択するか、もしくは測定履歴から所望の測定結果を選択することにより、当該測定結果に含まれる測定条件を顕微鏡１の設定に反映させることができる。

選択・取得部４０６において、測定結果が付加された画像データが選択されると、当該画像データが記憶部４０４から読み出されて、付加された測定結果が抽出されて設定部４０７に出力される。測定履歴から所望の測定結果が選択された場合には、当該選択された測定結果が記憶部４０４から読み出されて設定部４０７に出力される。

設定部４０７では、選択・取得部４０６から入力される測定結果に含まれる測定条件（たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径など）を顕微鏡１の設定に反映させる。このようにして、画像データもしくは測定履歴の項目を選択することにより、当該画像データを撮像したときの測定条件や当該測定履歴が作成された時点の測定条件を簡単に復元することができる。

なお、選択・取得部４０６は、測定結果を設定部４０７に出力する代わりに、当該測定結果を単に表示装置５０に表示させるようにしてもよい。また、当該測定結果をファイルとして記録媒体に保存したり、印刷したりするようにしてもよい。

また、本実施例の顕微鏡システム４００ｃは、上述したように過去の測定結果を読み出して測定条件を顕微鏡１に設定した場合において、当該測定結果に含まれる測定値と設定した測定条件による測定値との差分が所定範囲内となるように、測定値を監視することが可能である。

この場合、設定部４０７によって設定された測定条件によって新たに測定された測定値が演算部４０３から調整部４０８に入力される。調整部４０８は新たに測定された測定値と、読み出された、設定された過去の測定結果に含まれる測定値との差分値（絶対値）が所定値を超える場合に、差分値が所定値以内となるように測定条件やその他の顕微鏡１の設定（たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径など）を変更するように設定部４０７を制御する。調整部４０８は、例えば、光源９ａなどの照度が低下している場合、顕微鏡１内にて調光フィルタ９１ａを自動補正し照度を保つような制御を行う。

設定部４０７は調整部４０８の制御により、顕微鏡１へ測定条件取得部４０１で得た撮像条件（たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径など）を設定する。なお、設定部４０７の機能として、励起光を当てながら測定している時間を計測し、ある一定時間経過した場合、光を当てすぎないよう警告メッセージを表示装置５０に表示することや、自動的に光路のシャッターを閉じるような制御を行うようにしてもよい。

図２３は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置４０ｂが実行する測定処理を表すフローチャートである。この測定処理を行うにあたっては、事前準備として計測用絞り９０を顕微鏡１に取り付けるか、または視野絞りの径を所定の大きさに絞っておく。また、ステージ３の標本載置面（標本における光照射面）に、光強度検出部６０を配置しておく。

ステップＳ１０１では、処理装置４０ｂが、励起光強度測定時における顕微鏡１の操作上の注意事項等を、表示装置５０に表示させる。例えば、計測用絞り９０が設置されていることを確認するための表示を行う。

ステップＳ１０２では、測定条件取得部４０１が測定条件を取得する。測定条件の取得は図２２を参照して説明したように、手動もしくは自動で行われる。

ステップＳ１０３では、処理装置４０ｂが、励起光強度の測定開始指示の有無を判断する。測定開始の指示は、入力装置５１を介して入力される。処理装置４０ｂが、測定開始の指示があったと判断した場合（ステップＳ１０３：Ｙｅｓ）は、ステップＳ１０４に進む。処理装置４０ｂが、測定開始の指示がないと判断した場合（ステップＳ１０３：Ｎｏ）は、ステップＳ１０２に戻る。なお、処理装置４０ｂが、測定開始の指示がないと判断した場合（ステップＳ１０３：Ｎｏ）に、ステップＳ１０２に戻らずに、単にステップＳ１０３を繰り返して開始指示の入力を待機するようにしてもよい。

ステップＳ１０４では、処理装置４０ｂが、顕微鏡１の制御部３０に対して、光強度検出部６０による励起光の計測を行うように指示する。この指示を受けて、顕微鏡１では、第１ランプハウス９から出射され、ステージ３上の標本Ｓに照射される照明光（励起光）の強度を光強度検出部６０により測定し、測定した励起光強度に対応する電気信号を計測部４０２に出力する。計測部４０２は、上述したように、入力される電気信号に応じて、励起光強度の計測値を生成し、生成した計測値を演算部４０３に出力する。

ステップＳ１０５では、演算部４０３が、ステップＳ１０２で取得した測定条件に基づき、ステップＳ１０４で取得した計測値に対して所定の演算を行い測定値として出力する。ここでの処理は、上述した演算部４０３で行う処理であり、測定値としては、放射照度（Ｗ／ｍ^２）および放射束（Ｗ）の双方またはいずれか一方である。

ステップＳ１０６では、処理装置４０ｂが、ステップＳ１０５で算出した測定値を表示装置５０に表示させる。

ステップＳ１０７では、処理装置４０ｂが、ステップＳ１０２で取得した測定条件に変更が加えられたか否かを判断する。この判断は、例えば、測定条件が自動で取得される場合は、顕微鏡１の設定状態を再度測定条件取得部４０１から対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径などを取得し、その取得した設定状態に基づく測定条件とステップＳ１０２で取得した測定条件とを比較することにより行われる。また、例えば、測定条件が手動で入力される場合は、入力装置５１からの測定条件の入力を検出することにより行われる。処理装置４０ｂが、測定条件に変更があったと判断した場合（ステップＳ１０７：Ｙｅｓ）は、ステップＳ１１２に進む。処理装置４０ｂが、測定条件に変更が無かったと判断した場合（ステップＳ１０７：Ｎｏ）は、ステップＳ１０８に進む。

ステップＳ１０８では、処理装置４０ｂが、励起光強度の測定終了指示の有無を判断する。測定終了の指示は、入力装置５１を介して入力される。処理装置４０ｂが、測定終了の指示があったと判断した場合（ステップＳ１０８：Ｙｅｓ）は、測定を終了して、ステップＳ１０９に進む。処理装置４０ｂが、測定終了の指示がないと判断した場合（ステップＳ１０８：Ｎｏ）は、ステップＳ１０４に戻り、同じ測定条件で再度励起光の計測を開始する。

ステップＳ１０９では、処理装置４０ｂが、ステップＳ１０５で算出した測定値を、ステップＳ１０２または後述するステップＳ１１２で取得した測定条件に関連付けて、測定結果として記憶部４０４に保存する。なお、測定履歴を記録したファイルがある場合には、当該測定履歴ファイルにも測定結果を追記する。なお、別途、測定日時やコメントを入力させて、測定結果に付加して保存したり、測定履歴に付加して記録したりするようにしてもよい。ここで入力するコメントとしては、標本Ｓを特定するための情報や、標本Ｓの種類（例えば、神経細胞等）が考えられる。

ステップＳ１１０では、処理装置４０ｂが、撮像部７１および画像処理部４０５に、対物レンズ５が取り込んだ標本像や光強度検出部６０上の像を画像化させ、この画像に応じた画像データを生成させることにより、標本画像を取得する。処理装置４０ｂは、取得した標本画像を表示装置５０に表示させるようにしてもよい。

ステップＳ１１１では、処理装置４０ｂが、ステップＳ１１０で取得した標本画像に、ステップＳ１０９で保存した測定結果を付加して、記憶部４０４に記憶させる。このように、標本画像に測定結果を付加することにより、標本画像を撮像したときの励起光強度を再現するための撮像条件、たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径などを顕微鏡１の設定に関する情報として提供することができる。

ステップＳ１１２では、測定条件取得部４０１が測定条件を取得する。測定条件の取得は図２２を参照して説明したように、手動もしくは自動で行われる。その後、ステップＳ１０４に進む。

なお、図２３に示す測定処理では、ステップＳ１０３での励起光測定開始後、手動で測定終了を指示して、測定結果を保存するようにしたが、所定の時間間隔を設定して、該設定した時間ごとに測定結果を自動的に保存するようにしてもよい。

また、長時間測定によるレーザー光の標本Ｓへの当て過ぎを防ぐため、ステップＳ１０３での励起光測定開始後、所定時間経過した後に自動的に処理装置４０ｂが測定を終了させるようにしてもよい。

図２４は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置４０ｂが実行する設定処理を表すフローチャートである。この設定処理は、図２３に示す測定処理において記憶部４０４に保存された測定結果や、測定履歴、測定結果が付加された標本画像等を読み出して、これらに対応する測定条件に対応する顕微鏡１の設定を自動的に行う処理である。

ステップＳ２０１では、処理装置４０ｂが、記憶部４０４に記憶されている測定結果、または測定結果が付加された標本画像または測定履歴の選択を受け付ける。これらの選択は、処理装置４０ｂが選択候補となる記憶部４０４に記憶されている測定結果、測定結果が付加された標本画像または測定履歴を表示装置５０に表示させ、ユーザがそれを参照して入力装置５１を操作して行う。

ステップＳ２０２では、処理装置４０ｂが、ステップＳ２０１で選択された測定結果、測定結果が付加された標本画像または測定履歴を記憶部４０４から読み出す。測定結果が付加された標本画像または測定履歴を読み出した場合は、付加されている測定結果を抽出して取得する。取得した測定結果は設定部４０７に出力される。

ステップＳ２０３では、設定部４０７が、ステップＳ２０２で取得した測定結果に含まれる測定条件に基づき、撮像条件（たとえば対物レンズの倍率、励起光の波長、面積で求めた視野絞りの径など）を顕微鏡１に対して設定を行う。顕微鏡１の設定を測定結果に含まれる測定条件に基づき行うことにより、当該測定結果の測定時の設定を復元することが可能となる。

図２５は、本発明の実施の形態６にかかる処理装置４０ｂが実行する自動調整処理を表すフローチャートである。この自動調整処理では、図２４に示す設定処理のように自動的に測定条件を設定した場合において、当該復元に用いた測定結果に含まれる測定値を復元するための処理である。すなわち、図２４に示す設定処理では、測定条件を復元したが、この自動調整処理では測定値を復元する。

ステップＳ３０１では、処理装置４０ｂが測定結果を取得する。ここでの処理は図２４のステップＳ２０１およびＳ２０２の処理である。ステップＳ３０２では、図２４のステップＳ２０３と同様に、処理装置４０ｂが、ステップＳ３０１で取得した取得結果に含まれる測定条件に基づき、顕微鏡１の設定を行う。

ステップＳ３０３では、処理装置４０ｂが、励起光強度の測定開始指示の有無を判断する。処理装置４０ｂが、測定開始の指示があったと判断した場合（ステップＳ３０３：Ｙｅｓ）は、ステップＳ３０４に進む。処理装置４０ｂが、測定開始の指示がないと判断した場合（ステップＳ３０３：Ｎｏ）は、ステップＳ３０３を繰り返して開始指示の入力を待機する。

ステップＳ３０４およびステップＳ３０５は、図２３のステップＳ１０４およびステップＳ１０５と同様の処理であり、処理装置４０ｂが顕微鏡１に励起光強度測定を行わせて、単位面積当たりの照明光（励起光）の放射照度（Ｗ／ｍ^２）および放射束（Ｗ）の双方またはいずれか一方を測定値として取得する。

ステップＳ３０６では、処理装置４０ｂが、ステップＳ３０５で取得した測定値と、ステップＳ３０１で取得した測定結果に含まれる測定値とを比較し、両者が実質的に等しい（両者の差分値が所定範囲内の）場合（ステップＳ３０６：Ｙｅｓ）は、ステップＳ３０７に進む。両者が実質的に異なる（両者の差分値が所定範囲を超える）場合（ステップＳ３０６：Ｎｏ）は、ステップＳ３１０に進む。

ステップＳ３０７からステップＳ３０９の処理は、図２３のステップＳ１０９からＳ１１１までの処理と同様である。

ステップＳ３１０では、調整部４０８が測定条件を調整する。調整部４０８は新たに測定された測定値と、設定された過去の測定結果に含まれる測定値との差分値（絶対値）が所定値以内となるように測定条件やその他の撮像条件（たとえば対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積などで求めた視野絞りの径など）を顕微鏡１の設定へ変更するように設定部４０７を制御する。設定部４０７は調整部４０８の制御により、顕微鏡１の対物レンズ５の倍率、励起光の波長、面積などで求めた視野絞りの径などを設定する。その後、ステップＳ３０４に進む。

上述した本実施の形態６によれば、照明光（励起光）の強度を測定するに当たり、測定条件を取得し、該取得した測定条件を用いて照明光（励起光）の強度を計測して、得られた計測値を測定条件に基づき補正することができる。さらに、測定条件に基づき照射面の面積を演算して、光照射面における単位面積あたりの照明光（励起光）の強度を測定値として出力することができる。これにより、顕微鏡の光学特性や照射面の面積を考慮した励起光の強度の測定値を得ることができる。

また、得られた測定値と測定条件を合わせて測定結果として保存することができ、当該測定値を得るための測定条件を簡単に参照することができる。また、当該測定条件による標本観察時の標本画像に測定結果を付加して保存することができるので、標本画像を撮像したときの測定条件を簡単に参照することができる。

また、複数の測定結果を測定履歴として保存することができる。この場合、それぞれの測定結果の測定日時や、標本Ｓの識別情報や種類等をあわせて記録することにより、後日測定結果を検索することが容易となる。また、同じような標本Ｓを観察する場合に以前と同じ測定条件を簡単に検索することができる。

また、上述した本実施の形態６によれば、測定結果が付加された標本画像や測定履歴の中から所望の測定結果を選択することにより、対応する測定結果を読み出すことができる。また、読み出した測定結果に含まれる測定条件を自動的に顕微鏡に設定することができる。このようにすることで、例えば、測定結果が付加された標本画像を他のユーザに渡すことにより、当該他のユーザはその標本画像を撮像したときの測定条件を知ることができるとともに、簡単にそれを顕微鏡に設定することができる。

また、上述した本実施の形態６によれば、読み出した測定結果に含まれる測定値を再現するように、顕微鏡の設定を自動的に調整することができる。このようにすることで、測定値を保存した顕微鏡とは異なる顕微鏡で測定結果を読み出した場合にも、当該測定結果を作成したときと同じ励起光強度を簡単に再現することができる。

（実施の形態６の変形例）
本発明の実施の形態６の変形例では、演算部４０３による照射面の面積の演算を実施の形態とは異なる手法で行う。実施の形態６では、光強度検出部６０によって光の強度を測定し、単位面積当たりの強度を取得するものとして説明したが、実施の形態６の変形例では、上述した実施の形態２のように、光強度検出部６０に代えて、スケール試料７０をステージ上に配置して、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積を取得する。

絞り孔９０ａの像の面積を取得するうえで、まず、図５に示す間隔ｄｘが撮像部７１（例えばＣＣＤイメージセンサ）の何画素分に相当するかを演算部４０３が演算する。具体的には、例えば、画像処理部４０５によってパターンマッチングを行って第１スケール軸Ｓ_Ｘの目盛りの間隔ｄ_Ｘを取得する。その後、演算部４０３が、間隔ｄｘの長さから、この長さが何画素分に相当するかを演算する。例えば、間隔ｄ_Ｘの長さが画素ｍ個分に相当すると演算された場合、演算部４０３は、一画素あたりの長さＬ_Ｘを、Ｌ_Ｘ＝ｄ_Ｘ／ｍとして演算する。処理装置４０ｂは、演算部４０３の演算によって取得された１画素あたりの長さＬ_Ｘを記憶部４０４に記憶させる。なお、演算部４０３は、第２スケール軸Ｓ_Ｙにおいても同様にして、間隔ｄ_Ｙの長さをもとに、一画素あたりの長さＬ_Ｙを演算する。ここで、本実施の形態６の変形例においては、第１スケール軸Ｓ_Ｘの間隔ｄ_Ｘおよび第２スケール軸Ｓ_Ｙの間隔ｄ_Ｙは、同等であるものとする。

つぎに、演算部４０３は、絞り孔９０ａの像の面積を演算する。具体的には、例えば、表示装置５０に表示された画像Ｗ１に対して、入力装置５１によって、第１スケール軸Ｓ_Ｘ上の像Ｑの両端を指定する。指定された両端の間の距離をＤ、絞り孔９０ａの像の面積をＧとすると、絞り孔９０ａの像が円形をなしているため、下記式（５）により求められる。
Ｇ＝π（Ｄ／２）^２ ・・・（５）

また、１画素あたりの長さＬ_Ｘを用いると、距離Ｄが画素ｎ個分に相当するものとして、下記式（６）により求められる。
Ｇ＝π（Ｄ／２）^２
＝π（ｎＬ_Ｘ／２）^２＝π（ｎｄ_Ｘ／２ｍ）^２ ・・・（６）

上述した演算処理により、計測用絞り９０の絞り孔９０ａの像の面積を取得することができる。ユーザは、取得された面積を確認することによって、照射範囲の調整などを行うことにより、光をステージ上の標本Ｓに対し、所望の範囲で照射することができる。なお、絞り孔９０ａが円形以外であっても、間隔ｄ_Ｘおよび間隔ｄ_Ｙをもとに演算することが可能である。

また、実施の形態６の全てあるいは一部がソフトウェアで処理が実行される場合には、処理装置４０ｂが記憶部４０４に格納された測定プログラムを読み出して実行されることで、かかるソフトウェア処理が実現される。また、記録媒体にこのような測定プログラムを記録してもよい。なお、プログラムを格納する記録媒体としては、フラッシュメモリに限定されるものではなく、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の光学記録媒体、ＭＤ等の磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカードなどの半導体メモリであってもよい。さらに、測定プログラムとしては、ネットワークを介して外部の記録媒体から入手されるもの、例えば、ホームページからダウンロードされるものも当然含まれる。

なお、上述した実施の形態１〜６では、ステージ３、第１ランプハウス９、光強度検出部（光強度検出部６０，８０およびスケール試料７０のいずれか）、計測用絞り９０および演算部（演算部４２，４２ａ，４０３のいずれか）を少なくとも備える構成が測定装置に相当する。

また、上述した実施の形態１〜６では、倒立型の顕微鏡の構成を例に説明したが、正立型の顕微鏡や、例えば、標本を拡大する対物レンズ、対物レンズを介して標本の像を撮像する撮像機能および画像を表示する表示機能を備えた撮像装置、例えば、ビデオマイクロスコープ等であっても、本発明を適用することができる。また、上述した顕微鏡において透過照明部４を有しない構成であってもよい。換言すれば、落射照明観察のみを行う顕微鏡であっても適用することができる。

以上のように、本発明にかかる測定装置は、標本に照射する光の強度Ｐｓ（放射照度）を正確に把握可能であるため、設定通りの強度（放射照度）に調整することに有用である。

１，１ａ 顕微鏡
２ 本体部
２ａ 筐体部
２ｂ 鏡筒部
３ ステージ
４ 透過照明部
５ 対物レンズ
６ レボルバ
７ レボルバ保持部
８ 焦準操作部
９ 第１ランプハウス
９ａ，２２ａ 光源
９ｂ 投光管
１０ 落射光学系
１０ａ 励起フィルタ
１０ｂ ダイクロイックミラー
１０ｃ 吸収フィルタ
１０ｄ ＮＤフィルタ
１０ｅ 紫外カットフィルタ
１０ｆ ハーフミラー
１１，１１Ａ ミラーユニット
１２ ミラーカセット
１３，１７ 結像レンズ
１４ ハーフミラー
１５，２６ ミラー
１６ リレーレンズ
１８ プリズム
１９ 接眼レンズ
２０ 透過照明支柱
２１ アーム
２２ 第２ランプハウス
２３ コンデンサレンズ
２４ コンデンサホルダ
２５ コンデンサ焦準操作部
３０ 制御部
４０，４０ａ，４０ｂ 処理装置
４１，４０２ 計測部
４２，４２ａ，４０３ 演算部
４３，４３ａ，４０４ 記憶部
４４，４０５ 画像処理部
５０ 表示装置
５１ 入力装置
６０，８０，８０ａ，８０ｂ 光強度検出部
６０ａ，８２ 受光部
７０ スケール試料
９０ 計測用絞り
９０ａ 絞り孔
９１ 調光ユニット
９１ａ 調光フィルタ
９２ レンズ
１００ 収容容器
２００ アダプタ
２０１ａ，８１０ａ，８１０ｃ，８１０ｅ 基部
２０１ｂ 突出部
２０２，２０３，３１１，３１１ａ，３１１ｂ，３１１ｃ 開口部
２０２ａ，２０３ａ，３１２，３１２ａ，３１２ｂ，３１５ 第１開口部
２０２ｂ，２０３ｂ，３１３，３１３ａ，３１３ｂ，３１６ 第２開口部
２０１ｃ 表示部
３００ ステージ操作部
３０１，３０２ 入力部
３１０，３１０ａ，３１０ｂ，３１０ｃ 第１部材
３１４ 第３開口部
３２０ 第２部材
３３０ 第３部材
３４０ 位置情報表示部
３４１ 第１表示部材
３４１ａ 第１指標部
３４２ 第２表示部材
３４２ａ 第２指標部
３４３ 指示部
３４３ａ 第１指示部
３４３ｂ 第２指示部
４００，４００ａ，４００ｂ，４００ｃ 顕微鏡システム
４０１ 測定条件取得部
４０６ 選択・取得部
４０７ 設定部

Claims (6)

1. 少なくとも観察対象の標本を保持する保持手段と、
   前記標本に照射する照明光を出射する照明手段と、
   前記保持手段に配設自在に設けられ、前記標本の光照射面における前記照明光の強度を検出する検出手段と、
   前記照明手段の光路上に設けられ、前記照明光が通過し、前記光照射面に前記照明光の像が投影される開口が形成され、該開口の像により前記光照射面における視野を絞る視野絞りと、
   前記視野絞りの前記開口の面積および前記検出手段によって検出された前記照明光の強度をもとに、前記光照射面における単位面積あたりの前記照明光の強度を演算する演算部と、
   を備え、
   前記照明手段は、
   前記照明光を出射する光源と、
   光学系を介して前記照明光を所定方向に導く投光管と、
   を有し、
   前記視野絞りは、前記投光管の視野絞り位置であり、かつ前記保持手段における前記標本の載置面と共役な位置に設けられ、前記投光管の光路に対して挿脱自在である
   ことを特徴とする測定装置。
2. 少なくとも前記標本からの観察光を集光する対物レンズを交換可能に保持するとともに、該対物レンズの光軸を、前記標本を通過する光路上に配置する対物レンズ保持手段を備え、
   前記演算部は、前記開口の面積、前記検出手段によって検出された前記照明光の強度、前記照明手段の焦点距離および前記対物レンズの焦点距離を用いて、前記光照射面における単位面積あたりの前記照明光の強度を演算することを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
3. 前記視野絞りは、前記開口の面積が変化することを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
4. 前記照明手段が出射した前記照明光のうち、所定の波長の光を反射して前記標本へ照射するとともに、該標本からの観察光に応じた波長の光を透過させる照明光学系と、
   前記標本からの観察光を観察像として形成する観察光学系と、
   を備え、
   前記標本は、該標本を収容する収容容器に収容され、
   前記検出手段は、前記標本に照射される前記所定の波長の光を受光する受光部を有し、
   前記保持手段は、前記収容容器および／または前記検出手段を保持した状態において、前記収容容器に収容された前記標本における前記光照射面の位置と、前記受光部の受光面の位置とをそれぞれ位置決めする位置決め手段を有することを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
5. 前記照明光の強度の測定条件を取得する取得部と、
   前記検出手段が検出した前記照明光の強度に基づき計測値を算出する算出部と、
   前記取得した測定条件に前記演算部が演算した測定値を付加して測定結果として記憶する記憶部と、
   を備え、
   前記演算部は、前記算出部が算出した計測値を、前記取得した測定条件を用いて演算することにより、前記照明光の強度の測定値を演算することを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
6. 前記測定条件は、光学系の光学特性を含み、
   前記演算部は、前記光学特性に基づき、前記算出部が算出した計測値を補正することを特徴とする請求項５に記載の測定装置。

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